JPH07235496A - 半導体製造装置 - Google Patents

半導体製造装置

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Publication number
JPH07235496A
JPH07235496A JP2255094A JP2255094A JPH07235496A JP H07235496 A JPH07235496 A JP H07235496A JP 2255094 A JP2255094 A JP 2255094A JP 2255094 A JP2255094 A JP 2255094A JP H07235496 A JPH07235496 A JP H07235496A
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JP
Japan
Prior art keywords
data
film formation
operation data
substrate
holding
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP2255094A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiko Toki
雅彦 土岐
Hironori Nagatomo
宏憲 長友
Haruhiko Ikegami
春彦 池上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd, Fujitsu Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP2255094A priority Critical patent/JPH07235496A/ja
Publication of JPH07235496A publication Critical patent/JPH07235496A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/30Computing systems specially adapted for manufacturing

Abstract

(57)【要約】 【目的】 成膜材料の成膜パラメータが基板毎に少しず
つ異なる場合の処理を簡略化し、オペレータの負担を軽
減する。 【構成】 1枚の基板の成膜中に、オペレータが次の基
板の成膜で使用する運転データに上書きするデータを、
作成手段4により保持手段3に保持する。1枚の基板の
成膜終了を検出手段5で検出したら、転送手段6によっ
て記憶手段1から運転データを読み出し、保持手段2に
転送する。書込手段7は、必要に応じ保持手段2に転送
されたデータに対し、保持手段3に保持されたデータを
上書きし、この上書きされた保持手段2の内容にもとづ
き次回の成膜を行なう。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、基板毎の成膜材料の
成膜を、予め作成した運転データにもとづき自動的かつ
連続的に行なうことが可能な半導体製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、連続して成膜を行なう場合は、運
転データを最初に読み込み、全ての基板の成膜が終了す
るまで、そのデータを保持するようにするか、または各
基板毎に運転データを用意しておき、1つの基板の成膜
が終了する毎に新しいデータを読み込むようにしている
ものが多い。また、自動運転時のオペレータによる運転
データのパラメータ変更は、運転に反映させることが必
要とされるため、成膜する基板毎に少しずつパラメータ
を変更しようとすると、 (1)各基板ごとに、少しずつ異なるパラメータを定義
した運転データを作成する。 (2)自動運転中、基板が変わる毎にオペレータが或る
定まったタイミングでパラメータの変更操作を行なう。 のいずれかの手当てをする必要がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記
(1)項については、似たような運転データを大量に作
成しなければならないため作業が煩雑であるだけでな
く、その後に、運転データを選択しようとしてもその選
択が難しい、また、(2)項については変更のタイミン
グが正確でなければならないが、これをオペレータの操
作に委ねるには負担が大きくなる、などの問題がある。
したがって、この発明の課題はオペレータの負担を増大
させることなく、パラメータを容易に変更し得るように
することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るため、第1の発明では、成膜材料の成膜を基板毎に予
め作成した運転データにもとづき自動的かつ連続的に行
なう半導体製造装置において、前記運転データを格納す
る記憶手段と、自動運転の際に参照する運転データを保
持する第1の保持手段と、自動運転中に次回の成膜に使
用する運転データを上書きするためのデータを作成する
作成手段と、この作成手段により作成されたデータを保
持する第2の保持手段と、1枚の基板の成膜が終了した
ことを検出する検出手段と、その成膜終了を検出する度
に前記運転データを前記記憶手段から第1の保持手段へ
と転送する転送手段と、この転送手段にて第1の保持手
段へと転送された運転データに前記第2の保持手段のデ
ータを上書きする書込手段とを設けたことを特徴として
いる。。
【0005】第2の発明では、成膜材料の成膜を基板毎
に予め作成した運転データにもとづき自動的かつ連続的
に行なう半導体製造装置において、前記運転データを格
納する記憶手段と、自動運転の際に参照する運転データ
を保持する保持手段と、1枚の基板の成膜が終了したこ
とを検出する検出手段と、その成膜終了を検出する度に
前記運転データを前記記憶手段から前記保持手段へと転
送する転送手段と、自動運転中に前記記憶手段の運転デ
ータを書き換える書込手段とを設けたことを特徴として
いる。
【0006】
【作用】
(1)1枚の基板の成膜中に、オペレータが次の基板の
成膜で使用する運転データに上書きするデータを設定す
る。基板の成膜が終了すると、オペレータの設定したデ
ータが運転データに上書きされ、次の基板の成膜は上書
きされたデータにもとづき行なわれる。そのため、パラ
メータの異なる運転データを基板の枚数分用意する必要
がなくなり、書き換えのタイミング許容範囲が拡大され
る。 (2)1枚の基板の成膜中に、オペレータが記憶手段に
ある運転データを書き換える。基板の成膜が終了する
と、書き換えられた運転データが保持手段へ転送され、
次の基板の成膜は書き換えられた運転データにもとづき
行なわれる。このため、パラメータの異なる運転データ
を基板の枚数分用意する必要もなくなり、書き換えのタ
イミング許容範囲も広がる。
【0007】
【実施例】図1はこの発明の概念を示すブロック図で、
記憶手段1、保持手段2,3、作成手段4、検出手段
5、転送手段6および書込手段7などから構成される。
図2は図1をマルチタスク・リアルタイムOSを備え
た、パーソナルコンピュータ(以下、パソコンとも略称
する)を用いて実現した具体例を示す構成図である。同
図では、記憶手段1を補助記憶で、保持手段2,3をメ
インメモリでそれぞれ実現し、また、作成手段(上書き
データの作成手段)4、検出手段(1つの基板の成膜終
了検出手段)5、転送手段(運転データの読み込み手
段)6および書込手段(運転データの上書き手段)7な
どは、並行動作が可能なプログラムによりそれぞれ実現
している。
【0008】この発明の要件ではないが、自動運転のた
めの制御部も並行動作が可能なプログラムにより実現し
ている。記憶手段1には運転データ(D1)が、保持手
段2には参照データ(D2)が、また、保持手段3には
上書きデータ(D3)がそれぞれ記憶または保持されて
いる。
【0009】運転データD1と参照データD2の構成は
同じとし、例えば図3のように、運転時の機器に対する
指示のブロック(ステップ)が、時間的に並んだ形とな
っている。ただし、この構成は単なる1例にすぎず、時
間順序を示すデータと操作を示すデータとに分け、両者
をポインタでつなぐ形式も考えられる。また、個々の機
器には識別のための番号が割り振られており、機器番号
(a)と操作内容(b)がペアとなっている。
【0010】さらに、各ステップにはその継続時間
(秒)を示すデータがある。ここでは、簡単のため機器
番号(a),操作内容(b)および継続時間(c)が整
数値として表わされ、機器の個数を10個としている。
したがって、整数の長さを1ワードとすると、1ステッ
プのデータ長Lは、 L=1+10×2=21(ワード) となる。
【0011】自動運転では装置の状態を、参照データD
2にある各ステップの継続時間単位で、参照データD2
にあるその時刻に有効なステップで示された状態となる
ように制御する。その運転方法は本題とは関係ないので
詳述しないが、一般的には、定周期で装置に制御信号を
送る、または外部機器の要求があったときに制御信号を
送る、といった方法が知られている。
【0012】自動運転データを書き換えるため、自動運
転の制御部と次の2つのデータを共有している。運転デ
ータの使用可/不可を示すフラグF1と、自動運転中か
否かを示すフラグF2である。両フラグとも整数値であ
り、F1は「1」で使用可、「0」で使用不可を示し、
F2は「1」で自動運転中、「0」で非自動運転中とす
る。
【0013】上書きデータD3は例えば図4のように、
次回に上書きを行なう必要があるかどうかを示す全体判
定データ(d)と、運転データと同じ構造,内容のダミ
ーデータ(e)と、各データの上書きをするかしないか
を判定する個別判定データ(f)とからなっている。上
記全体判定データ(d)も、簡単のため整数値として表
わされていて、「0」なら上書きせず、「1」ならば上
書きすることを示すものとする。
【0014】次に、上書きデータの作成プログラムにつ
いて、図5を参照して説明する。オペレータから上書き
データを作成する旨の指示が与えられると、まず、自動
運転中かどうかを判断する(ステップS1)。この判断
は、フラグF2を見て行なう。自動運転中でなければ、
何もせずに指示待ちに戻る。自動運転中ならば、どのス
テップを上書きするのかオペレータの入力を待つ。ステ
ップ番号が入力されたら(ステップS2)、それが
「0」または存在しないステップ番号でないことを確認
した後(ステップS3)、運転データを上書きする機器
の番号入力を待つ。
【0015】機器の番号が入力されたなら、機器の種類
にしたがって上書きデータを受け取りダミーデータeに
記録する(ステップS4)。このとき、全体/個別判定
データd,fも上書きすることを示すように、変更する
ものとする。なお、ここでは機器番号を「0」として継
続時間cも変更できるようにしている。
【0016】例えば、ステップ1で番号2のバルブに対
し、「1」(開を示す操作内容)なる信号を受け取った
場合(ステップS5)、上書きデータのステップ1,機
器番号2の操作内容に当たるダミーデータeを図6のよ
うに「1」とし、これと対応する個別判定データfを
「1」、同様に全体判定データdも「1」とする(ステ
ップS8)。なお、指定された機器のダミーデータeと
個別判定データfのメモリ上の位置は、次式により求め
る(ステップS6,S7)。 ダミーデータeの位置 :(ステップ番号−1)×21
+機器番号+1 個別判定データfの位置:(ステップ番号−1)×11
+機器番号 その後は、再びオペレータのステップ番号入力待ちとな
り、ここでゼロまたは存在しないステップ番号が入力さ
れたら、このプログラムを終了する。
【0017】成膜終了検出プログラムについて、図7を
参照して説明する。成膜の終了は様々な手法で検出可能
であるが、ここでは成膜の終了時に自動運転のプログラ
ムから当該プログラムが起動されるような形式としてい
る。その他の方法としては、(イ)終了を示すデータを
用意しておいてこれを監視する、(ロ)自動運転のプロ
グラムからメールのようなプログラム間通信手段より連
絡を受ける、などが考えられる。いずれにしても、成膜
の終了を検出して運転データの読み込みプログラムを起
動して終了することになる(ステップS1)。
【0018】運転データの読み込みプログラムについ
て、図8を参照して説明する。このプログラムは起動さ
れると、図2に示す補助記憶から運転データD1を読み
込み(読み出し)、参照データD2の領域に上書きし
(ステップS1)、しかる後に運転データの上書きプロ
グラムを起動し、終了する(ステップS2)。
【0019】運転データの上書きプログラムについて、
図9を参照して説明する。このプログラムは起動される
と、まず、上書きを行なうべきかどうか全体判定データ
dを検査する(ステップS1)。ここで、全体判定デー
タがゼロならば、運転データの使用が可能になったこと
を自動運転の制御部に通知するため、自動運転の制御部
において「0」とされていたフラグF2を、自動運転中
を示す「1」として、終了する(ステップS2)。
【0020】一方、全体判定データdが「1」ならば、
個別判定データfの先頭から調べてゆき、上書きを行な
うデータがあったならば、そのダミーデータを参照デー
タの対応する位置にコピーする(ステップS3,S4,
S5)。そして、上書きデータD3を検査し終わった
ら、全体判定データdと全ての個別判定データfをクリ
アし、運転データの使用が可能になったことを自動運転
の制御部に通知するため、フラグF2に「1」を設定し
て終了する(ステップS8,S9,S10)。例えば、
先の図6にも示すように、ステップ1,機器番号2のバ
ルブを開くようにダミーデータが設定されている場合
は、以下の手順で参照データD2を上書きする。
【0021】まず、個別判定データfの先頭から1つず
つ、「1」かどうか比較する。「0」の場合は、次の個
別判定データの比較に移る。「1」ならば上書きするデ
ータの格納位置を次の式から求める。 n mod 11が0の場合 :int(n/11)
×21 n mod 11が0でない場合:int(n/11)
×21+n×2 ここに、nは「1」であった個別判定データの先頭から
の位置を示している。そして、上式で求めた格納位置に
あるダミーデータeのデータを、上式で求めた格納位置
の参照データD2にコピーする。
【0022】図10はこの発明の別の概念を示すブロッ
ク図で、記憶手段8、保持手段9、検出手段10、転送
手段11および書込手段12などから構成される。図1
1は図10をマルチタスク・リアルタイムOSを備えた
パソコンを用いて実現した具体例を示す構成図である。
同図では、記憶手段8を補助記憶で、保持手段9をメイ
ンメモリでそれぞれ実現し、また、検出手段(1つの基
板の成膜終了検出手段)10、転送手段(運転データの
読み込み手段)11および書込手段(運転データの上書
き手段)12などは図2と同様、並行動作が可能なプロ
グラムとしてそれぞれ実現している。また、この発明の
要件ではないが、自動運転のための制御部も並行動作が
可能なプログラムとして実現している。さらに、記憶手
段8には運転データ(D4)が、保持手段9には参照デ
ータ(D5)がそれぞれ記憶または保持されている。
【0023】同様に、運転データD4と参照データD5
の構成は同じとし、例えば図12のように、運転時の機
器に対する指示のブロック(ステップ)が、時間的に並
んだ形となっている。ただし、この構成は単なる1例に
すぎず、時間順序を示すデータと操作を示すデータとに
分け、両者をポインタでつなぐ形式も考えられる。ま
た、個々の機器には識別のための番号が割り振られてお
り、機器番号(g)と操作内容(h)がペアとなってい
る。
【0024】さらに、各ステップにはその継続時間
(秒)を示すデータがあるのも同様である。ここでは、
簡単のため機器番号(g),操作内容(h)および継続
時間(i)が整数値として表わされ、機器の個数を10
個としている。したがって、整数の長さを1ワードとす
ると、1ステップのデータ長L’は、 L’=1+10×2=21(ワード) となる。
【0025】自動運転では装置の状態を、参照データD
5にある各ステップの継続時間単位で、参照データD5
にあるその時刻に有効なステップで示された状態となる
ように制御する。その運転方法は本題とは関係ないので
詳述しないが、一般的には、定周期で装置に制御信号を
送る、または外部機器の要求があったときに制御信号を
送る、といった方法が知られている。
【0026】さらに、自動運転データを書き換えるた
め、自動運転の制御部と次の2つのデータを共有してい
るのも同じである。つまり、運転データの使用可/不可
を示すフラグF3と、自動運転中か否かを示すフラグF
4である。両フラグとも整数値であり、F3は「1」で
使用可、「0」で使用不可を示し、F4は「1」で自動
運転中、「0」で非自動運転中とする。
【0027】成膜終了検出プログラムを図13に示す。
これは、先の例(図7)と同じである。すなわち、成膜
の終了は様々な手法で検出可能であるが、ここでは成膜
の終了時に自動運転のプログラムから当該プログラムが
起動されるような形式としている。その他の方法として
は、(イ)終了を示すデータを用意しておいてこれを監
視する、(ロ)自動運転のプログラムからメールのよう
なプログラム間通信手段より連絡を受ける、などが考え
られる。いずれにしても、成膜の終了を検出して運転デ
ータの読み込みプログラムを起動して終了する(ステッ
プS1)。
【0028】運転データの読み込みプログラムを図14
に示す。これも先の例(図8)と同じく、起動されると
図11に示す補助記憶から運転データD4を読み込み
(読み出し)、参照データD5の領域に上書きする(ス
テップS1)。そして、運転データの使用が可能になっ
たことを自動運転の制御部に知らせるため、自動運転の
制御部において0とされていたフラグF3を1として終
了する所が(ステップS2)、図8と若干異なってい
る。
【0029】運転データの読み込みプログラムについ
て、図15を参照して説明する。オペレータによって運
転データを書き込む旨の指示があると、まず、ステップ
S1で自動運転中かどうかを判断する。判定は、自動運
転中かどうかを示すフラグF4を見て行なう。その結
果、自動運転中でなければ何もせずに指示待ちに戻り、
自動運転中ならば図11の補助記憶から運転データD4
を所定の書き込み作業域Rに読み込む(ステップS
2)。この書き込み作業域Rは例えば図16のように、
運転データと同様に「継続時間」,「機器番号」および
「作業内容」などの各領域から構成されている。この状
態で、次にどのステップに書き込むかオペレータの入力
待ちとなる。
【0030】そして、ステップ値が入力されたら(ステ
ップS3)、運転データを書き込むべき機器の番号入力
を待つ。機器の番号が入力されたら(ステップS5)、
機器の種類に従って書き込むデータを受け取り、書き込
み作業域Rに書き込む。例えば、ステップ1で番号2の
バルブに対し1(開を示す)を受け取ったとすると、書
き込み作業域Rのステップ1、機器番号2の操作内容に
当たるデータを図17のように「1」とする。指定され
た機器のデータの位置は、以下のようにして求める。 データの位置:(ステップ番号−1)×21+機器番号
+1
【0031】その後は、再びオペレータのステップ番号
入力待ちとなる。ここで、0または存在しないステップ
番号を入力されると、書き込み作業域Rの内容を運転デ
ータとして補助記憶に書き出して終了する。
【0032】「基板」は半導体基板、すなわちシリコン
基板やガリウム砒素基板,あるいはこれらの表面に別の
化合物半導体層やシリコン,別の絶縁膜,導電膜等を被
着形成したものであってもよく、また絶縁基板であって
もよい。絶縁基板の例としては、石英等のガラス基板の
他,耐熱性の樹脂例えばポリイミド樹脂等であってもよ
い。また、成膜材料は、半導体(シリコンやガリウム砒
素,インジウムガリウム砒素リンその他の化合物半導
体,ゲルマニウム,シリコンゲルマニウム)である他に
も、導電材料すなわちアルミニウム,銅,金や、タング
ステン,チタン,タンタル,コバルト,プラチナ等の高
融点金属,および高融点金属シリサイド,高融点金属ナ
イトライド,チタンタングステン等であってもよく、絶
縁材料例えば酸化膜,窒化膜等であってもよいものであ
る。
【0033】
【発明の効果】この発明によれば、次回の運転データに
上書きするデータの作成手段、または自動運転中に運転
データを書き込む手段のいずれかを設けるようにしたの
で、少しずつ異なるパラメータを持つ運転データを全て
作成する必要がなくなり、オペレータの負担を増大させ
ることなく、パラメータの変更に容易に対処することが
可能となる利点が得られる。また、パラメータの書き換
えは現ウエハの成膜中に行なえば良いので、オペレータ
による書き換えタイミングの許容範囲を広げることが可
能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の概念を示すブロック図である。
【図2】図1を実現するための具体例を示す構成図であ
る。
【図3】運転データ,参照データの内容を示す構成図で
ある。
【図4】上書きデータを説明するための説明図である。
【図5】上書きデータの作成手順を説明するためのフロ
ーチャートである。
【図6】上書きデータの書き込み例を説明するための説
明図である。
【図7】成膜終了の検出手順を説明するためのフローチ
ャートである。
【図8】運転データ読み込み手順を説明するためのフロ
ーチャートである。
【図9】運転データの上書き手順を説明するためのフロ
ーチャートである。
【図10】この発明の他の概念を示すブロック図であ
る。
【図11】図10を実現するための具体例を示す構成図
である。
【図12】運転データ,参照データの内容を示す構成図
である。
【図13】成膜終了の検出手順を説明するためのフロー
チャートである。
【図14】運転データ読み込み手順を説明するためのフ
ローチャートである。
【図15】運転データ書き込み手順を説明するためのフ
ローチャートである。
【図16】書き込み作業域の構造を示す構成図である。
【図17】書き込み動作を具体的に説明するための説明
図である。
【符号の説明】
1,8…記憶手段、2,3,9…保持手段、4…作成手
段、5,10…検出手段、6,11…転送手段、7,1
2…書込手段。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 池上 春彦 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 富士電機株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 成膜材料の成膜を基板毎に予め作成した
    運転データにもとづき自動的かつ連続的に行なう半導体
    製造装置において、 前記運転データを格納する記憶手段と、自動運転の際に
    参照する運転データを保持する第1の保持手段と、自動
    運転中に次回の成膜に使用する運転データを上書きする
    ためのデータを作成する作成手段と、この作成手段によ
    り作成されたデータを保持する第2の保持手段と、1枚
    の基板の成膜が終了したことを検出する検出手段と、そ
    の成膜終了を検出する度に前記運転データを前記記憶手
    段から第1の保持手段へと転送する転送手段と、この転
    送手段にて第1の保持手段へと転送された運転データに
    前記第2の保持手段のデータを上書きする書込手段とを
    設けたことを特徴とする半導体製造装置。
  2. 【請求項2】 成膜材料の成膜を基板毎に予め作成した
    運転データにもとづき自動的かつ連続的に行なう半導体
    製造装置において、 前記運転データを格納する記憶手段と、自動運転の際に
    参照する運転データを保持する保持手段と、1枚の基板
    の成膜が終了したことを検出する検出手段と、その成膜
    終了を検出する度に前記運転データを前記記憶手段から
    前記保持手段へと転送する転送手段と、自動運転中に前
    記記憶手段の運転データを書き換える書込手段とを設け
    たことを特徴とする半導体製造装置。
JP2255094A 1994-02-21 1994-02-21 半導体製造装置 Withdrawn JPH07235496A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006070291A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Hoya Corp レンズ製造方法及びプログラム
KR100628618B1 (ko) * 1997-05-06 2007-01-31 동경 엘렉트론 주식회사 제어장치,제어방법및반도체제조장치

Cited By (2)

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KR100628618B1 (ko) * 1997-05-06 2007-01-31 동경 엘렉트론 주식회사 제어장치,제어방법및반도체제조장치
JP2006070291A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Hoya Corp レンズ製造方法及びプログラム

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