JPH07229931A - インパルス検出回路 - Google Patents
インパルス検出回路Info
- Publication number
- JPH07229931A JPH07229931A JP1968794A JP1968794A JPH07229931A JP H07229931 A JPH07229931 A JP H07229931A JP 1968794 A JP1968794 A JP 1968794A JP 1968794 A JP1968794 A JP 1968794A JP H07229931 A JPH07229931 A JP H07229931A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- impulse
- measurement target
- component
- wave form
- waveform
- Prior art date
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- Pending
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】比較的広い周波数範囲の測定対象波形について
インパルス検出が行えるインパルス検出回路を実現する
ことにある。 【構成】測定対象波形をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ
変換器と、Ａ／Ｄ変換器の出力データから測定対象波形
の基本波成分を抽出するデジタルフィルタと、このデジ
タルフィルタで抽出された測定対象波形の基本波成分と
前記Ａ／Ｄ変換器の出力データとを減算処理して測定対
象波形に含まれているインパルス成分を検出する演算処
理部、とで構成されたことを特徴とするもの
インパルス検出が行えるインパルス検出回路を実現する
ことにある。 【構成】測定対象波形をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ
変換器と、Ａ／Ｄ変換器の出力データから測定対象波形
の基本波成分を抽出するデジタルフィルタと、このデジ
タルフィルタで抽出された測定対象波形の基本波成分と
前記Ａ／Ｄ変換器の出力データとを減算処理して測定対
象波形に含まれているインパルス成分を検出する演算処
理部、とで構成されたことを特徴とするもの
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はインパルス検出回路に関
するものであり、詳しくは、デジタルデータ処理技術を
用いた回路の改良に関するものである。
するものであり、詳しくは、デジタルデータ処理技術を
用いた回路の改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】コンピュータやロボットなどのデジタル
機器は、瞬間的な電源電圧の低下や遮断，インパルスの
混入などによる影響を受けて誤動作しやすく、電源電圧
として高い品質が求められている。また、各種の電子機
器から発生する高調波による他の設備に対する影響も無
視できない。これらの電源ラインの異常変化がいつ発生
するか予測することは困難であるが、電源ラインの異常
変化を目にみえる形で記録しておくことは各種の解析に
も有益である。
機器は、瞬間的な電源電圧の低下や遮断，インパルスの
混入などによる影響を受けて誤動作しやすく、電源電圧
として高い品質が求められている。また、各種の電子機
器から発生する高調波による他の設備に対する影響も無
視できない。これらの電源ラインの異常変化がいつ発生
するか予測することは困難であるが、電源ラインの異常
変化を目にみえる形で記録しておくことは各種の解析に
も有益である。
【０００３】従来、電源ラインの異常変化の一種として
混入するインパルスの検出にあたっては、例えば図４に
示すように各サンプルデータ間の変化量を求めることが
行われている。すなわち、図４の例では、測定対象波形
の１サイクルを測定対象波形の周波数とは無関係に一定
の複数ブロックに分割するとともに各ブロック中のサン
プリングデータ数も測定対象波形の周波数とは無関係に
一定数にし、先行するブロック中の複数のサンプリング
データの最大値max.と最小値min.を検出してメモリに記
憶する。次に続くブロック中の複数のサンプリングデー
タの最大値MAX.と最小値MIN.を検出する。そして、これ
ら最大値MAX.,最小値MIN.と先行する直前のブロック中
の最大値max.,最小値min.とを比較し、 ＋インパルス＝MAX.−max. −インパルス＝MIN.−min. でそれぞれのインパルスを検出する。
混入するインパルスの検出にあたっては、例えば図４に
示すように各サンプルデータ間の変化量を求めることが
行われている。すなわち、図４の例では、測定対象波形
の１サイクルを測定対象波形の周波数とは無関係に一定
の複数ブロックに分割するとともに各ブロック中のサン
プリングデータ数も測定対象波形の周波数とは無関係に
一定数にし、先行するブロック中の複数のサンプリング
データの最大値max.と最小値min.を検出してメモリに記
憶する。次に続くブロック中の複数のサンプリングデー
タの最大値MAX.と最小値MIN.を検出する。そして、これ
ら最大値MAX.,最小値MIN.と先行する直前のブロック中
の最大値max.,最小値min.とを比較し、 ＋インパルス＝MAX.−max. −インパルス＝MIN.−min. でそれぞれのインパルスを検出する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の検出方法によれば、測定対象波形の周波数とは無関
係にブロック数およびブロック内のサンプリングデータ
数が所定数に固定されているので、測定対象波形の周波
数に応じてサンプリング周期を変化させてサンプリング
データ数が所定数になるように調整する必要がある。具
体的には、所定のブロック数およびサンプリングデータ
数になるようにサンプリング周期に合わせて測定対象波
形の周波数を予め調整するか、測定対象波形の周波数を
自動的に測定してサンプリング周期を自動調整しなけれ
ばならず、測定対象波形の周波数範囲が制限されてしま
うという問題がある。
来の検出方法によれば、測定対象波形の周波数とは無関
係にブロック数およびブロック内のサンプリングデータ
数が所定数に固定されているので、測定対象波形の周波
数に応じてサンプリング周期を変化させてサンプリング
データ数が所定数になるように調整する必要がある。具
体的には、所定のブロック数およびサンプリングデータ
数になるようにサンプリング周期に合わせて測定対象波
形の周波数を予め調整するか、測定対象波形の周波数を
自動的に測定してサンプリング周期を自動調整しなけれ
ばならず、測定対象波形の周波数範囲が制限されてしま
うという問題がある。
【０００５】本発明は、これらの従来の問題点を解決す
るものであって、その目的は、比較的広い周波数範囲の
測定対象波形についてインパルス検出が行えるインパル
ス検出回路を実現することにある。
るものであって、その目的は、比較的広い周波数範囲の
測定対象波形についてインパルス検出が行えるインパル
ス検出回路を実現することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のインパルス検出
回路は、測定対象波形をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ
変換器と、Ａ／Ｄ変換器の出力データから測定対象波形
の基本波成分を抽出するデジタルフィルタと、このデジ
タルフィルタで抽出された測定対象波形の基本波成分と
前記Ａ／Ｄ変換器の出力データとを減算処理して測定対
象波形に含まれているインパルス成分を検出する演算処
理部、とで構成されたことを特徴とする。
回路は、測定対象波形をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ
変換器と、Ａ／Ｄ変換器の出力データから測定対象波形
の基本波成分を抽出するデジタルフィルタと、このデジ
タルフィルタで抽出された測定対象波形の基本波成分と
前記Ａ／Ｄ変換器の出力データとを減算処理して測定対
象波形に含まれているインパルス成分を検出する演算処
理部、とで構成されたことを特徴とする。
【０００７】
【作用】測定対象波形の基本波成分は、デジタルフィル
タでＡ／Ｄ変換器の出力データからインパルス成分を除
去することにより抽出される。そして、測定対象波形に
含まれるインパルス成分は、測定対象波形の基本波成分
とＡ／Ｄ変換器の出力データとを減算することにより検
出される。
タでＡ／Ｄ変換器の出力データからインパルス成分を除
去することにより抽出される。そして、測定対象波形に
含まれるインパルス成分は、測定対象波形の基本波成分
とＡ／Ｄ変換器の出力データとを減算することにより検
出される。
【０００８】これにより、従来のような測定対象波形に
対するブロック数およびブロック内のサンプリングデー
タ数の制限を受けることはなく、比較的広い周波数範囲
の測定対象波形についてインパルス検出が行える。
対するブロック数およびブロック内のサンプリングデー
タ数の制限を受けることはなく、比較的広い周波数範囲
の測定対象波形についてインパルス検出が行える。
【０００９】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図１は本発明の一実施例を示すブロック図である。
図において、１はＡ／Ｄ変換器であり、時系列的に入力
される例えば商用電源のような測定対象波形を測定対象
波形に比べて十分高い周波数（例えば１００ｋＨｚ）の
サンプリングクロックに従ってデジタル信号に変換して
演算ブロック２に出力する。演算ブロック２はデジタル
フィルタ３と比較演算処理部４とで構成されている。デ
ジタルフィルタ３はローパスフィルタとして機能するも
のであり、Ａ／Ｄ変換器１の出力データから測定対象波
形の基本波成分を抽出して比較演算処理部４に出力す
る。比較演算処理部４は、デジタルフィルタ３で抽出さ
れた測定対象波形の基本波成分とインパルス成分を含む
Ａ／Ｄ変換器１の出力データとを減算処理して測定対象
波形に含まれているインパルス成分を検出し、検出した
インパルス成分の値を外部から入力されるインパルス設
定値と比較してその結果をインパルス検出信号として出
力する。
る。図１は本発明の一実施例を示すブロック図である。
図において、１はＡ／Ｄ変換器であり、時系列的に入力
される例えば商用電源のような測定対象波形を測定対象
波形に比べて十分高い周波数（例えば１００ｋＨｚ）の
サンプリングクロックに従ってデジタル信号に変換して
演算ブロック２に出力する。演算ブロック２はデジタル
フィルタ３と比較演算処理部４とで構成されている。デ
ジタルフィルタ３はローパスフィルタとして機能するも
のであり、Ａ／Ｄ変換器１の出力データから測定対象波
形の基本波成分を抽出して比較演算処理部４に出力す
る。比較演算処理部４は、デジタルフィルタ３で抽出さ
れた測定対象波形の基本波成分とインパルス成分を含む
Ａ／Ｄ変換器１の出力データとを減算処理して測定対象
波形に含まれているインパルス成分を検出し、検出した
インパルス成分の値を外部から入力されるインパルス設
定値と比較してその結果をインパルス検出信号として出
力する。
【００１０】図１の動作を図２の波形図および図３のフ
ローチャートを用いて説明する。図２において、実線は
Ａ／Ｄ変換器１から変換出力されるインパルス成分を含
む測定対象波形を示し、１点鎖線はデジタルフィルタ３
から出力される測定対象波形の基本波成分波形を示し、
点線はインパルス成分検出のための設定値を示してい
る。
ローチャートを用いて説明する。図２において、実線は
Ａ／Ｄ変換器１から変換出力されるインパルス成分を含
む測定対象波形を示し、１点鎖線はデジタルフィルタ３
から出力される測定対象波形の基本波成分波形を示し、
点線はインパルス成分検出のための設定値を示してい
る。
【００１１】図３において、ステップはデジタルフィ
ルタ３による移動平均処理を示していて、５サンプルの
例を示している。このデジタルフィルタの出力データを
Ｙ[n ]とする。ステップではインパルス成分を含む測
定対象波形のサンプリングデータＸ[n]とデジタルフィ
ルタの出力データＹ[n]との差を演算してインパルス成
分のデータＺ[n]を求める。そして、ステップにおい
て、インパルス成分のデータＺ[n]とインパルスの設定
値ＶINPとを比較し、Ｚ[n]の絶対値がＶINPと等しいか
大きい場合にはインパルス成分有りと判断して検出信号
を出力する。
ルタ３による移動平均処理を示していて、５サンプルの
例を示している。このデジタルフィルタの出力データを
Ｙ[n ]とする。ステップではインパルス成分を含む測
定対象波形のサンプリングデータＸ[n]とデジタルフィ
ルタの出力データＹ[n]との差を演算してインパルス成
分のデータＺ[n]を求める。そして、ステップにおい
て、インパルス成分のデータＺ[n]とインパルスの設定
値ＶINPとを比較し、Ｚ[n]の絶対値がＶINPと等しいか
大きい場合にはインパルス成分有りと判断して検出信号
を出力する。
【００１２】このようにして出力されるインパルス検出
信号を例えば波形観測装置のトリガ信号として用いるこ
とにより、異常状態の波形を確実に捕捉して観測でき
る。このように構成することにより、従来のような測定
対象波形に対するブロック数およびブロック内のサンプ
リングデータ数の割り当ては不要になることからこれら
の制限を受けることはなく、従来の方法に比べて比較的
広い周波数範囲の測定対象波形についてインパルス検出
が行える。
信号を例えば波形観測装置のトリガ信号として用いるこ
とにより、異常状態の波形を確実に捕捉して観測でき
る。このように構成することにより、従来のような測定
対象波形に対するブロック数およびブロック内のサンプ
リングデータ数の割り当ては不要になることからこれら
の制限を受けることはなく、従来の方法に比べて比較的
広い周波数範囲の測定対象波形についてインパルス検出
が行える。
【００１３】また、演算ブロック２としてデジタルシグ
ナルプロセッサ（ＤＳＰ）などの高速演算処理が可能な
専用ＬＳＩを用いることにより、実質的にリアルタイム
でインパルスの検出が可能な回路が実現できる。
ナルプロセッサ（ＤＳＰ）などの高速演算処理が可能な
専用ＬＳＩを用いることにより、実質的にリアルタイム
でインパルスの検出が可能な回路が実現できる。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
比較的広い周波数範囲の測定対象波形についてインパル
ス検出が行えるインパルス検出回路を実現できる。
比較的広い周波数範囲の測定対象波形についてインパル
ス検出が行えるインパルス検出回路を実現できる。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１の動作を説明する波形図である。
【図３】図１の動作を説明するタイミングチャートであ
る。
る。
【図４】従来のインパルス検出方法の一例を示す説明図
である。
である。
１ Ａ／Ｄ変換器 ２ 演算ブロック ３ デジタルフィルタ ４ 比較演算処理部
Claims (1)
- 【請求項１】測定対象波形をデジタル信号に変換するＡ
／Ｄ変換器と、 Ａ／Ｄ変換器の出力データから測定対象波形の基本波成
分を抽出するデジタルフィルタと、 このデジタルフィルタで抽出された測定対象波形の基本
波成分と前記Ａ／Ｄ変換器の出力データとを減算処理し
て測定対象波形に含まれているインパルス成分を検出す
る演算処理部、とで構成されたことを特徴とするインパ
ルス検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1968794A JPH07229931A (ja) | 1994-02-16 | 1994-02-16 | インパルス検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1968794A JPH07229931A (ja) | 1994-02-16 | 1994-02-16 | インパルス検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07229931A true JPH07229931A (ja) | 1995-08-29 |
Family
ID=12006160
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1968794A Pending JPH07229931A (ja) | 1994-02-16 | 1994-02-16 | インパルス検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07229931A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006234763A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Hioki Ee Corp | 波形測定装置 |
| JP2010288391A (ja) * | 2009-06-12 | 2010-12-24 | Nissan Motor Co Ltd | リチウムイオンバッテリの充電制御方法 |
-
1994
- 1994-02-16 JP JP1968794A patent/JPH07229931A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006234763A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Hioki Ee Corp | 波形測定装置 |
| JP2010288391A (ja) * | 2009-06-12 | 2010-12-24 | Nissan Motor Co Ltd | リチウムイオンバッテリの充電制御方法 |
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