JPH07218539A - 接点付コンタクトピン - Google Patents
接点付コンタクトピンInfo
- Publication number
- JPH07218539A JPH07218539A JP1147694A JP1147694A JPH07218539A JP H07218539 A JPH07218539 A JP H07218539A JP 1147694 A JP1147694 A JP 1147694A JP 1147694 A JP1147694 A JP 1147694A JP H07218539 A JPH07218539 A JP H07218539A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- pin
- shaft
- component
- touches
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】プリント基板に搭載された部品の有無、及び基
板裏面の部品リードの有無をインサーキットテスターに
て検出するためのコンタクトピンに於いて、シャフトの
一軸上に接点を設けることにより芯ブレを少なくし、検
出精度を向上させることを目的とする。 【構成】接点付コンタクトピンは、図２のシャフト２の
一軸上にピンヘッド１，上部スプリング９，下スプリン
グ５，可動接点１１，固定接点１２，接点端子１３，ス
トッパー１４を設け、ピン動作時可動接点１１と固定端
子１２の接触により、ａ接点回路を、又固定接点１２と
接点端子１３が外れることにより、ｂ接点回路が構成さ
れる。
板裏面の部品リードの有無をインサーキットテスターに
て検出するためのコンタクトピンに於いて、シャフトの
一軸上に接点を設けることにより芯ブレを少なくし、検
出精度を向上させることを目的とする。 【構成】接点付コンタクトピンは、図２のシャフト２の
一軸上にピンヘッド１，上部スプリング９，下スプリン
グ５，可動接点１１，固定接点１２，接点端子１３，ス
トッパー１４を設け、ピン動作時可動接点１１と固定端
子１２の接触により、ａ接点回路を、又固定接点１２と
接点端子１３が外れることにより、ｂ接点回路が構成さ
れる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、コンタクトピンの接点
を利用することにより、プリント基板に搭載された部品
の有り，無し，位置，高さ等の検出をインサーキットテ
スターにより、電気的に判定させる。又、自動化設備の
位置検出，ストローク検出を小スペースに設置し検出さ
せることを目的とした接点付コンタクトピンに関する。
を利用することにより、プリント基板に搭載された部品
の有り，無し，位置，高さ等の検出をインサーキットテ
スターにより、電気的に判定させる。又、自動化設備の
位置検出，ストローク検出を小スペースに設置し検出さ
せることを目的とした接点付コンタクトピンに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の接点付コンタクトピンは、スリー
ブ内で上，下，のピンが接触する構造であるため、上部
シャフトの芯ブレ、接点の接触不良が多く、インサーキ
ットテスターでの誤判定が多く、検出精度を上げること
が出来なかった。
ブ内で上，下，のピンが接触する構造であるため、上部
シャフトの芯ブレ、接点の接触不良が多く、インサーキ
ットテスターでの誤判定が多く、検出精度を上げること
が出来なかった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の接点付コンタク
トピンは、ピンシャフトの芯ブレのため部品との接触が
悪くなり、インサーキットテスターでの誤判定が多く インサーキットテスターの誤判定により、ラインアウ
トの基板が増加し、ライントラブルの原因となる。
トピンは、ピンシャフトの芯ブレのため部品との接触が
悪くなり、インサーキットテスターでの誤判定が多く インサーキットテスターの誤判定により、ラインアウ
トの基板が増加し、ライントラブルの原因となる。
【０００４】接触不良の判定は、良品，不良品の判定
が出来ず、目視判断をしなければならず、ラインへのタ
ッチアップが必要となる。
が出来ず、目視判断をしなければならず、ラインへのタ
ッチアップが必要となる。
【０００５】接触抵抗のバラツキが多く、小さな抵抗
値を測定することがむつかしい。
値を測定することがむつかしい。
【０００６】ピンシャフトが中央で接触する構造のた
め、上部の芯ブレが多く基板パターンへの接触が悪い。
め、上部の芯ブレが多く基板パターンへの接触が悪い。
【０００７】等の問題が発生し、不都合が生じていた。
【０００８】
【課題を解決するための手段】従来の接点付コンタクト
ピンと同一寸法，同一外形でコンタクトピンのシャフト
の一軸上に接点（ａ）接点（ｂ）を設けたもので、シャ
フトが一軸であるため芯ブレ，接触不良も低減出来、安
定した動作を得ることが出来、問題を解決することが出
来る。又、治具の回路使用に合わせ、接点(ａ)，接
点（ｂ），接点無しピンと同様に配線の方法により、
使い分けが出来る。
ピンと同一寸法，同一外形でコンタクトピンのシャフト
の一軸上に接点（ａ）接点（ｂ）を設けたもので、シャ
フトが一軸であるため芯ブレ，接触不良も低減出来、安
定した動作を得ることが出来、問題を解決することが出
来る。又、治具の回路使用に合わせ、接点(ａ)，接
点（ｂ），接点無しピンと同様に配線の方法により、
使い分けが出来る。
【０００９】ＯＦＦ → ＯＮ → ＯＦＦ ＯＮ → ＯＦＦ → ＯＮ ＯＮ → ＯＮ
【００１０】
【作用】従来の接点付コンタクトピンは、ピンの中央部
分で接触する構造となっているため、ピンのシャフト部
に芯ブレが生じ、部品リードやパターン面への接触不良
が発生しインサーキットテスターでの誤判定が多く、検
出精度を上げることが出来なかった。
分で接触する構造となっているため、ピンのシャフト部
に芯ブレが生じ、部品リードやパターン面への接触不良
が発生しインサーキットテスターでの誤判定が多く、検
出精度を上げることが出来なかった。
【００１１】本発明では、コンタクトピンのシャフトを
一軸とし、スリーブ内部に接点を取付けてあるため、ピ
ン動作は安定した動作となり、芯ブレ，接点の接触不具
合を解決し、インサーキットテスターの検出精度の向上
を図る様にした。
一軸とし、スリーブ内部に接点を取付けてあるため、ピ
ン動作は安定した動作となり、芯ブレ，接点の接触不具
合を解決し、インサーキットテスターの検出精度の向上
を図る様にした。
【００１２】
【実施例】図１には、従来使用の接点付コンタクトピン
の外観図（ａ）と断面図（ｂ）を示す。
の外観図（ａ）と断面図（ｂ）を示す。
【００１３】図２には、本発明の接点付コンタクトピン
の外観図（ａ）と、断面図（ｂ）を示す。
の外観図（ａ）と、断面図（ｂ）を示す。
【００１４】本発明の接点付コンタクトピンは図２−
（ｂ）に示す様な構造でシャフト２には、ピンヘッド
１，スプリングロック１０，接点端子（ｂ接点）１３，
ストッパー１４が固定されている。（イ）は接点ストロ
ークでピン作成時ストロークの変更は可能。
（ｂ）に示す様な構造でシャフト２には、ピンヘッド
１，スプリングロック１０，接点端子（ｂ接点）１３，
ストッパー１４が固定されている。（イ）は接点ストロ
ークでピン作成時ストロークの変更は可能。
【００１５】（１）ピンヘッド１が測定物（部品等）に
当ることで、スプリング９，５が押し下げられる。下降
開始と同時にスリーブ中点３と接点端子（ｂ接点）１３
が外れインサーキットテスターへの電気回路はＯＮ→Ｏ
ＦＦとなる。
当ることで、スプリング９，５が押し下げられる。下降
開始と同時にスリーブ中点３と接点端子（ｂ接点）１３
が外れインサーキットテスターへの電気回路はＯＮ→Ｏ
ＦＦとなる。
【００１６】（２）ピンヘッド１が測定物（部品等）に
当ることでスプリング９，５が押し下げられ、内スプリ
ング５と共に可動接点端子（ａ接点）１１が下降し、固
定接点１２（スリーブ（中央）３′に固定されてい
る。）に接触し、シャフト２とスリーブ（中点）３′で
接点（ａ）が出来る。インサーキットテスターへの電気
回路はＯＦＦ→ＯＮとなる。
当ることでスプリング９，５が押し下げられ、内スプリ
ング５と共に可動接点端子（ａ接点）１１が下降し、固
定接点１２（スリーブ（中央）３′に固定されてい
る。）に接触し、シャフト２とスリーブ（中点）３′で
接点（ａ）が出来る。インサーキットテスターへの電気
回路はＯＦＦ→ＯＮとなる。
【００１７】（３）ピンヘッド１が測定物（部品等）に
当ることでプリント基板の部品リードやパターンを介
し、他の部品→コンタクトピンを介して電気回路が構成
され部品容量を測定する従来品と同じ使い方が出来る。
当ることでプリント基板の部品リードやパターンを介
し、他の部品→コンタクトピンを介して電気回路が構成
され部品容量を測定する従来品と同じ使い方が出来る。
【００１８】（４）接点付コンタクトピンを自動化設備
に取付け、接点（ａ）（ｂ）を使用目的に合わせ配線
し、ワークの位置検出やストローク検出等マイクロＳＷ
やリミットＳＷの代替としても使用が可能である。
に取付け、接点（ａ）（ｂ）を使用目的に合わせ配線
し、ワークの位置検出やストローク検出等マイクロＳＷ
やリミットＳＷの代替としても使用が可能である。
【００１９】
【発明の効果】本発明の効果は、コンタクトピンシャフ
トの一軸上に接点を設けたことでピンの動作を安定させ
ることができ シャフトの芯ブレを減少させることが出来た。
トの一軸上に接点を設けたことでピンの動作を安定させ
ることができ シャフトの芯ブレを減少させることが出来た。
【００２０】接点の接触不良，接触抵抗の低減が出来
た。 インサーキットテスターとの配線を、コンタクトピン
の配線位置の変更により、接点（ａ），接点（ｂ），従
来の接点なし、の３種類の使いわけが可能となった。
た。 インサーキットテスターとの配線を、コンタクトピン
の配線位置の変更により、接点（ａ），接点（ｂ），従
来の接点なし、の３種類の使いわけが可能となった。
【００２１】自動化対応設備のメカ位置，ワーク検出
等、従来のリミットＳＷやマイクロＳＷの代替えとして
小スペースに取付が可能。
等、従来のリミットＳＷやマイクロＳＷの代替えとして
小スペースに取付が可能。
【００２２】従来の接点付ピンの約１／２の単価とす
ることが出来た。
ることが出来た。
【００２３】＠ １，２００／本→６００／本 上記に示すように従来の接点付ピンに比べ大きな効果が
得られる。
得られる。
【図１】従来使用の接点付コンタクトピンの外観（ａ）
および断面（ｂ）を示す図である。
および断面（ｂ）を示す図である。
【図２】本発明の接点付コンタクトピンの外観（ａ）お
よび断面（ｂ）を示す図である。
よび断面（ｂ）を示す図である。
１…ピンヘッド、２…シャフト、３…スリーブ、３′…
スリーブ（中点）、４…絶縁材、５…内スプリング、６
…接点シャフト、７…接点戻しスプリング、８…接続端
子（固定）、９…上スプリング、１０…スプリングロッ
ク、１１…可動接点端子（ａ接点）、１２…固定接点、
１３…接点端子（ｂ接点）、１０…ストッパー。
スリーブ（中点）、４…絶縁材、５…内スプリング、６
…接点シャフト、７…接点戻しスプリング、８…接続端
子（固定）、９…上スプリング、１０…スプリングロッ
ク、１１…可動接点端子（ａ接点）、１２…固定接点、
１３…接点端子（ｂ接点）、１０…ストッパー。
Claims (1)
- 【請求項１】プリント基板に搭載された部品の有無、及
び基板裏面の部品リードの有無をインサーキットテスタ
ーにて検出するためのコンタクトピンに於いて、シャフ
トの一軸上に接点（ａ），接点（ｂ）を設けることを特
徴とした接点付コンタクトピン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1147694A JPH07218539A (ja) | 1994-02-03 | 1994-02-03 | 接点付コンタクトピン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1147694A JPH07218539A (ja) | 1994-02-03 | 1994-02-03 | 接点付コンタクトピン |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07218539A true JPH07218539A (ja) | 1995-08-18 |
Family
ID=11779125
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1147694A Pending JPH07218539A (ja) | 1994-02-03 | 1994-02-03 | 接点付コンタクトピン |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07218539A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100752778B1 (ko) * | 2006-06-29 | 2007-08-29 | 한국단자공업 주식회사 | 리워크용 지그 및 이를 사용한 리워크 방법 |
-
1994
- 1994-02-03 JP JP1147694A patent/JPH07218539A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100752778B1 (ko) * | 2006-06-29 | 2007-08-29 | 한국단자공업 주식회사 | 리워크용 지그 및 이를 사용한 리워크 방법 |
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