JPH07200541A - ベクトル情報処理装置 - Google Patents

ベクトル情報処理装置

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JPH07200541A
JPH07200541A JP33664293A JP33664293A JPH07200541A JP H07200541 A JPH07200541 A JP H07200541A JP 33664293 A JP33664293 A JP 33664293A JP 33664293 A JP33664293 A JP 33664293A JP H07200541 A JPH07200541 A JP H07200541A
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JP
Japan
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vector
mask
data
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instruction
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JP33664293A
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Inventor
Takeshi Nishikawa
岳 西川
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】条件付きデータ処理の条件に合った処理すべき
データの圧縮の際、ある条件下でのベクトルデータ処理
を高速化する。 【構成】第1の命令で指定されたベクトルデータの各々
の要素が命令で指定された条件を満足するか否かを判定
するベクトルデータ条件判定部10と、該条件判定部1
0からの条件判定結果にしたがってベクトルデータの各
々の要素の有効性を前記ベクトルマスクレジスタに格納
するマスク情報設定部8と、複数のベクトルマスクレジ
スタのうち、第二の命令で指定されたベクトルマスクレ
ジスタからマスク情報を読出すためのベクトルマスク情
報読出部と、読出されたマスク情報の各要素が真に対応
するか否かを判断するベクトルマスク判定部11と、該
判定部からの判定結果に従って真のデータの個数を係数
する要素数カウンタ12とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はベクトル情報処理装置に
関し、特にある条件下での処理を効率よく実行すための
条件付データ処理機構を持つベクトル情報処理装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来この種のベクトル情報処理装置にお
ける条件付きデータ処理機構が特開昭64−78369
号公報に開示されている。この技術では、1ビット*ベ
クトルデータ要素数から構成されるベクトルマスクレジ
スタ(図1の21)と呼ばれるデータ有効性を示すレジ
スタを備えている。一般にある条件下で条件に適合する
ベクトルデータに対して演算処理を実行する場合、まず
演算処理に先立ちベクトルレジスタに格納されたベクト
ルデータに対して条件判定を行い、条件を満たすデータ
に対応する前記マスクレジスタ21のビットに“1”を
セットする(マスク生成処理:GMSK)。次に処理す
べきデータについて該マスクレジスタ21の各ビットが
“1”になっている要素のみをベクトルレジスタ20に
圧縮して格納する(ベクトルコンプレス処理:VC
P)。次に圧縮したデータの要素数、すなわち条件を満
たし処理すべきデータの個数を前記生成したマスク情報
からカウントし、その値を処理すべき要素数を格納する
ベクトル長レジスタにセットする(ポップカウント処
理:VPCNT)。最後にこうして作成したデータ及び
ベクトル長レジスタを使って目的の演算処理を実行す
る。
【0003】次に例を使って従来装置での条件付きベク
トルデータの処理の概要を図2を参照して説明する。 例)IF A>0 THEN C=A+B 1)ベクトルデータAが格納されているベクトルレジス
タV0に対して条件>0でGMSK命令を実行して、ベ
クトルデータAのデータが>0である要素に対応するマ
スクレジスタのビットに“1”をセットする(図2
(A)参照)。 2)1)で生成したマスク情報を使ってベクトルデータ
AおよびBが格納されているベクトルレジスタV0,V
1のデータを圧縮し、ベクトルレジスタV0,V1に格
納する(図2(B)参照)。 3)1)で生成したマスク情報の1がセットされたビッ
ト数を計数し、条件(>0)に適合した要素数を算出
し、ベクトル長レジスタにセットする。(図2(C)参
照)。
【0004】4)3)で算出した要素数分だけベクトル
レジスタV0,V1に格納されたデータに対して、加算
を実行する(図2(D)参照)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来の情報処理装置で
は上述したように、マスク生成処理、データ圧縮処理、
およびマスクカウント処理という3つの処理を順次個別
の命令で実行した後、該圧縮されたデータに対しプログ
ラムに記述された処理を行なっており処理効率が悪かっ
た。またif〜条件〜then−処理A−else−処
理B−という構造の処理をする場合は処理Aおよび処理
B各々に対して上記3つの処理を行なっていたためにさ
ら処理効率の低下を招いていた。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の情報処理装置
は、ベクトルデータを格納する複数のベクトルレジスタ
と、これらベクトルレジスタに格納されたベクトルデー
タ或いはベクトル処理各々の要素の有効性を格納する複
数のベクトルマスクレジスタと、第1の命令で指定され
たベクトルデータの各々の要素が第1の命令で指定され
た条件を満足するか否かを判定するベクトルデータ条件
判定部と、このベクトルデータ該条件判定部からの条件
判定結果にしたがってベークトルデータの各々の要素の
有効性をマスク情報として前記ベクトルマスクレジスタ
に格納するマスク情報設定部とを備え、第1の条件付デ
ータ処理機構は、前記複数のベクトルマスクレジスタの
うち、第2の命令で指定されたベクトルマスクレジスタ
からマスク情報を読出すためのベクトルマスク情報読出
部と、このベクトルマスク情報読出部から読出されたマ
スク情報を各要素が真に対応するか否かを判断するベク
トルマスク判定部と、このベクトルマスク判定部からの
判定結果に従って真のデータの個数を計数する要素数カ
ウンタ部と、前記第2の命令で指定されたベクトルレジ
スタに格納されたベクトルデータを読出し、前記ベクト
ルマスク判定部からの情報に従って真に対応するデータ
を第2の命令で指定されたベクトルレジスタに前詰めで
格納するベクトルレジスタ書込制御部とを含む。
【0007】本発明の第2の条件付データ処理機構は、
前記複数のベクトルマスクレジスタのうち、第2の命令
で指定されたベクトルマスクレジスタからマスク情報を
読出すためのベクトルマスク情報読出部と、このベクト
ルマスク情報読出部から読出されたマスク情報の各要素
が真に対応するか否かを判断するベクトルマスク判定部
と、このベクトルマスク判定部からの判定結果に従って
真とデータの個数を及び偽のデータの個数を計数する2
個のカウンタを有する要素数のカウンタ部と、前記第2
の命令で指定されたベクトルレジスタに格納されたベク
トル情報を読出し、前記ベクトルマスク判定部からの情
報にしたがって、真に対応するデータおよび偽に対応す
るデータを第2の命令で指定された2つのベクトルレジ
スタに各々前詰めで格納するベクトルレジスタ書込制御
部とを含む。
【0008】
【実施例】次に本発明の一実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。図1を参照すると本発明の第1の実
施例であるベクトル処理装置は、命令制御部(図示せ
ず)から命令を受け、ベクトル処理部に必要な制御情報
を作成するベクトル命令制御部1と、ベクトルデータを
格納するベクトルレジスタ2−0、2−1、…2−n
と、前記ベクトル命令制御部1からの制御情報で前記ベ
クトルレジスタ2−0〜2−nの内容を読出す制御を行
うベクトルレジスタ読出制御部3と、該ベクトルレジス
タ読出制御部3からの制御により、前記複数のベクトル
レジスタ読出クロスバ部4と、ベクトル命令制御部1か
らの制御情報でベクトルレジスタ2−0〜2−nへ書込
制御を行うベクトルレジスタ書込制御部5と、該ベクト
ルレジスタ書込み制御部5からの制御により前記複数の
ベクトルレジスタ2−0〜2−nの内、命令によって指
定されたベクトルレジスタ2−0〜2−nへの書込パス
を設定するベクトルレジスタ書込クロスバ部6と、ベク
トルマスク情報を格納する複数のベクトルマスクレジス
タ7−0、7−1、…、7−nと、ベクトル命令制御部
1からの指示で命令によって制定されたベクトルマスク
レジスタにマスク情報を書込むベクトルマスク情報設定
部8と、ベクトル命令制御部1からの制御で複数のベク
トルマスクレジスタ7−0〜7−nの内の第2の命令に
よって指定されたベクトルマスク情報を読出すベクトル
マスク読出クロスバ部9と、ベクトルレジスタ2−0〜
2−nから読出したデータについて第1の命令によって
指定された条件を満たすか否かを判定するベクトルデー
タ条件判定部10と、前記複数のベクトルマスクレジス
タ7−1〜7−nから読出されたベクトルマスク情報の
各、ビットの真偽を判定するベクトルマスク判定部1
と、このベクトルマスク判定部11からの判定結果によ
ってマスク情報の真および偽の数を各々係数する要素数
カウンタ部12を含む。ベクトルレジスタ書込制御部5
はベクトルマスク判定部11からの情報に従って真に対
応するデータを第2の命令で設定されたベクトルレジス
タに前詰めで格納する。
【0009】次に本発明の第1の実施例1の動作につい
て図面を参照して説明する。前述の例と同じ例を以下に
示し、この例にそって説明する。 例)IF THEN A<0 C=A+B まずベクトルデータAが格納されているベクトルレジス
タV0にたいしてマスク生成命令(GMSK命令)が実
行され、A>0の条件を満たすベクトルデータの要素に
対応するベクトルマスクレジスタ7−0〜7−nのうち
の1つに“1”がセットされている。(ここでは生成さ
れたベクトルマスク情報がベクトルレジスタ0(VMR
0)に格納されるものとする。)次に本発明の複合命令
で動作対象データの圧縮、および演算要素数の係数とベ
クトル長レジスタへの演算要素数のセットを実行する。
以下に本発明の複合命令の動作を説明する。 1)命令制御部(図示せず)から該複合命令を受信する
とベクトル命令制御1はベクトルマスクレジスタ0(7
−0)のベクトルマスク情報をベクトルマスク読出クロ
スパ9を経由してベクトルマスク判定部11に読出す。 2)ベクトルマスク判定部11では読出されたベクトル
マスク情報の各ビットの真偽が判定され、真に相当する
ビット情報の検出に対応して要素数カウンタ部12に対
してカウントアップ信号が送り出され、またすべてのマ
スク情報の判定が終了すると同要素数カウンタ12に対
して、カウント終了信号が送信される。 3)要素数カウンタ部は前記カウントアップ信号を受信
すると、要素数カウンタを+1更新し、同様にカウント
終了信号を検出すると係数結果をベクトル長レジスタ
(図示せず)に送出する。 4)上記2)および3)の動作と並行してベクトルマス
ク判定部1はベクトルマスク情報判定結果をベクトルレ
ジスタ書込制御部5にも送出する。 5)ベクトル命令制御部1は命令制御部から送られてき
た命令情報から圧縮すべきベクトルデータが格納されて
いるベクトルレジスタ番号を解読し、ベクトルレジスタ
読出制御部3に対して読出しレジスタ番号情報(本例で
はVR0)を送出する。 6)ベクトルレジスタ読出制御部3は、ベクトル命令制
御部1からの読出レジスタ番号(VR0)を受信する
と、ベクトルデータ読出クロスバ部4のクロスバを制御
し、ベクトルレジスタVR0の情報を順次読出す。 7)さらにベクトル命令制御部1は命令制御部から送ら
れてきた命令情報から圧縮したベクトルデータを格納す
るベクトルレジスタ番号を解読し、ベクトルレジスタ書
込制御部らに対して書込レジスタ番号情報(本例ではV
R0)を送出する。 8)ベクトルレジスタ書込制御部5は前記ベクトル命令
制御部1からのベクトルデータ格納ベクトルレジスタ番
号を受信し、該情報に基づいてベクトルレジスタ書込ク
ロスバ6を制御し、前記ベクトルレジスタ読出クロスバ
から送出されるベクトルデータを書込むべきベクトルレ
ジスタ(VR0)に振り向ける。 9)さらにベクトルレジスタ書込制御部5は、前記ベク
トルマスク判定部11からのベクトルマスク判定情報を
受信し、前記ベクトルレジスタ読出クロスバ4からのベ
クトルデータの内の前記ベクトルマスク判定情報が真で
あると判定された要素についてのみ、前記ベクトル命令
制御部で指示されるベクトルレジスタに書込むよう制御
する。以上の一連の動作により演算すべきデータの圧縮
と、演算すべきデータ数のカウントが並行して実現され
る。
【0010】次に本発明の第2の実施例について図面を
参照して詳細に説明する。
【0011】本発明の第2の実施例の特徴は、第1の実
施例のうち前記要素数カウンタ部12は、ベクトルマス
ク判定部11からの判定結果に従って真のデータの個数
および偽のデータの個数を計数する2個のカウンタを有
し、前記ベクトルレジスタ書込制御部5は、第2の命令
で指定されたベクトルレジスタに格納されたベクトル情
報を読出し、ベクトルマスク判定部11からの情報にし
たがって、真に対応するデータ及び偽に対応するデータ
を第2の命令で指定された2つのベクトルレジスタにお
のおの前詰めで格納する。
【0012】
【発明の効果】本発明のベクトル情報処理装置における
条件付データ処理機構では、前記データ圧縮、マスクカ
ウントの処理を一つの命令で実現し、各処理を並行して
実行することにより、実行時間を短縮することができ、
ベクトルデータ圧縮による条件付ベクトルデータ処理を
高速に実行することを可能としており、さらに条件の真
・偽各々に対する前記データ圧縮、マスクカウントの処
理を並行に実行するようにすることにより、さらなる高
速化がはかれる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す図。
【図2】従来技術の動作を説明するための図。
【符号の説明】
1 ベクトル命令魚部 2−0、2−1、…2−n ベクトルレジスタ 3 ベクトルレジスタ読出クロスバ 4 ベクトルレジスタ読出制御部 5 ベクトルレジスタ書込制御部 6 ベクトルレジスタ書込クロスバ 7−0、7−1、…7−n ベクトルマスクレジスタ 8 ベクトルマスク設定部 9 ベクトルマスク読出クロスバ 10 ベクトルデータ条件判定部 11 ベクトルマスク判定部 12 要素数カウンタ部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ベクトルデータを格納する複数のベクト
    ルレジスタと、 これらベクトルレジスタに格納されたベクトルデータの
    有効性を格納する複数のベクトルマスクレジスタと、 第1の命令で指定されたベクトルデータの各々の要素が
    第1の命令で指定された条件を満足するか否かを判定す
    るベクトルデータ条件判定部と、 このベクトルデータ該条件判定部からの条件判定結果に
    したがってベクトルデータの各々の要素の有効性をマス
    ク情報として前記ベクトルマスクレジスタに格納するマ
    スク情報設定部と、 前記複数のベクトルマスクレジスタのうち、第2の命令
    で指定されたベクトルマスクレジスタからマスク情報を
    読出すためのベクトルマスク情報読出部とこのベクトル
    マスク情報読出部から読出されたマスク情報を各要素が
    真に対応するか否かを判断するベクトルマスク判定部
    と、 このベクトルマスク判定部からの判定結果に従って間の
    データの個数を係数する要素数カウンタと、 前記第2の命令で指定されたベクトルレジスタに格納さ
    れたベクトルデータを読出し、前記ベクトルマスク判定
    部からの情報に従って真に対応するデータを第2の命令
    で指定されたベクトルレジスタに前詰めで格納するベク
    トルレジスタ書込制御部を含むことを特徴とするベクト
    ル情報処理装置。
  2. 【請求項2】 前記複数のベクトルマスクレジスタのう
    ち、第2の命令で指定されたベクトルマスクレジスタか
    らマスク情報を読出すためのベクトルマスク情報読出部
    と、 このベクトルマスク情報読出部で読出されたマスク情報
    の各要素が真に対応するか否かを判断するベクトルマス
    ク判定部と、 このベクトルマスク判定部からの判定結果に従って真と
    データの個数を及び偽のデータの個数を計数する2個の
    カウンタを有する要素数のカウンタ部と、 前記第2の命令で指定されたベクトルレジスタに格納さ
    れたベクトル情報を読出し、前記ベクトルマスク判定部
    からの情報にしたがって、真に対応するデータおよび偽
    に対応するデータを第2の命令で指定された2つのベク
    トルレジスタに各々前詰めで格納するベクトルレジスタ
    書込制御部とを含むことを特徴とする請求項1記載のベ
    クトル情報処理装置。
JP33664293A 1993-12-28 1993-12-28 ベクトル情報処理装置 Pending JPH07200541A (ja)

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JPH07200541A true JPH07200541A (ja) 1995-08-04

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59188779A (ja) * 1983-04-11 1984-10-26 Fujitsu Ltd ベクトル処理装置
JPS63284674A (ja) * 1987-05-15 1988-11-21 Nec Corp ベクトルデ−タ処理装置
JPH01284971A (ja) * 1988-05-11 1989-11-16 Nec Corp ベクトル処理装置

Patent Citations (3)

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19971224