JPH07174519A - 基板の電子部品実装状態検査装置における撮像カメラ制御装置 - Google Patents
基板の電子部品実装状態検査装置における撮像カメラ制御装置Info
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- JPH07174519A JPH07174519A JP5322817A JP32281793A JPH07174519A JP H07174519 A JPH07174519 A JP H07174519A JP 5322817 A JP5322817 A JP 5322817A JP 32281793 A JP32281793 A JP 32281793A JP H07174519 A JPH07174519 A JP H07174519A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 検査を確実に行いつつ検査時間の短縮を図
る。 【構成】 カメラにより電子部品実装基板の表面を複数
の区間に分けて撮像し、その撮像結果から電子部品の実
装状態を認識するものであって、複数の撮像カメラが撮
像方向に沿って並設され、この各撮像カメラが基板に対
し相対移動し得るようになっている。基板に対する各カ
メラの視野のうち撮像方向に沿う辺の長さに対し、同じ
く撮像方向に沿う各視野間の間隔が同一か又は小さくな
るように設定されている。各区間毎に複数のカメラによ
る撮像をほぼ同時に並列的に行うように制御している。
各区間毎の撮像後に各カメラをその並設方向に沿って前
記各視野間の間隔だけ移動させて各区間毎の視野間の境
界で交差部ができるように制御している。従って、両カ
メラは撮像と画像処理において同時進行し、かつ撮像漏
れも防止する。
る。 【構成】 カメラにより電子部品実装基板の表面を複数
の区間に分けて撮像し、その撮像結果から電子部品の実
装状態を認識するものであって、複数の撮像カメラが撮
像方向に沿って並設され、この各撮像カメラが基板に対
し相対移動し得るようになっている。基板に対する各カ
メラの視野のうち撮像方向に沿う辺の長さに対し、同じ
く撮像方向に沿う各視野間の間隔が同一か又は小さくな
るように設定されている。各区間毎に複数のカメラによ
る撮像をほぼ同時に並列的に行うように制御している。
各区間毎の撮像後に各カメラをその並設方向に沿って前
記各視野間の間隔だけ移動させて各区間毎の視野間の境
界で交差部ができるように制御している。従って、両カ
メラは撮像と画像処理において同時進行し、かつ撮像漏
れも防止する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はカメラにより電子部品
実装基板の表面を複数の区間に分けて撮像し、その撮像
結果から電子部品の実装状態を認識する検査装置におい
て、カメラによる撮像とその撮像結果の画像処理とカメ
ラの移動とを制御する装置に関するものである。
実装基板の表面を複数の区間に分けて撮像し、その撮像
結果から電子部品の実装状態を認識する検査装置におい
て、カメラによる撮像とその撮像結果の画像処理とカメ
ラの移動とを制御する装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の検査装置においては、カ
メラと基板とが相対移動して撮像が行われ、その後にそ
の撮像結果が画像処理されるとともに、カメラが次の撮
像区間に移動する。例えば、図４（ａ）に示すように、
１台のカメラを利用する場合には、各区間Ａ，Ｂ毎に撮
像と画像処理とカメラ移動とが行われる。その場合、各
区間Ａ，Ｂ毎の検査時間はＴとなり、両区間Ａ，Ｂを検
査するのに必要な合計時間は２Ｔとなる。
メラと基板とが相対移動して撮像が行われ、その後にそ
の撮像結果が画像処理されるとともに、カメラが次の撮
像区間に移動する。例えば、図４（ａ）に示すように、
１台のカメラを利用する場合には、各区間Ａ，Ｂ毎に撮
像と画像処理とカメラ移動とが行われる。その場合、各
区間Ａ，Ｂ毎の検査時間はＴとなり、両区間Ａ，Ｂを検
査するのに必要な合計時間は２Ｔとなる。
【０００３】一方、２台のカメラを利用すれば、この検
査時間を短縮することができる。例えば、次のようにし
て撮像カメラを制御することが考えられる。図４（ｂ）
に示すように、第一カメラによる区間Ａの撮像、第一カ
メラの画像処理、第二カメラによる区間Ｂの撮像を順次
行った後に、第二カメラの画像処理を行うとともに、両
カメラを移動させる。この場合、両区間Ａ，Ｂの検査時
間は、前記図４（ａ）の場合と比較して、ｔ1 だけ短縮
される。
査時間を短縮することができる。例えば、次のようにし
て撮像カメラを制御することが考えられる。図４（ｂ）
に示すように、第一カメラによる区間Ａの撮像、第一カ
メラの画像処理、第二カメラによる区間Ｂの撮像を順次
行った後に、第二カメラの画像処理を行うとともに、両
カメラを移動させる。この場合、両区間Ａ，Ｂの検査時
間は、前記図４（ａ）の場合と比較して、ｔ1 だけ短縮
される。
【０００４】図４（ｃ）に示すように、第一カメラによ
る区間Ａの撮像、第二カメラによる区間Ｂの撮像、第一
カメラの画像処理、第二カメラの画像処理を順次行い、
両カメラの画像処理中に両カメラを移動させる。この場
合、両区間Ａ，Ｂの検査時間は、図４（ｂ）の場合と比
較して、更にｔ2 だけ短縮される。
る区間Ａの撮像、第二カメラによる区間Ｂの撮像、第一
カメラの画像処理、第二カメラの画像処理を順次行い、
両カメラの画像処理中に両カメラを移動させる。この場
合、両区間Ａ，Ｂの検査時間は、図４（ｂ）の場合と比
較して、更にｔ2 だけ短縮される。
【０００５】このようにして２台のカメラを制御すれ
ば、検査時間をかなり短縮できるが、本発明は更にカメ
ラの制御手法を改良して、検査を確実に行いつつより一
層検査時間の短縮を図ることを目的としている。
ば、検査時間をかなり短縮できるが、本発明は更にカメ
ラの制御手法を改良して、検査を確実に行いつつより一
層検査時間の短縮を図ることを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に係る基板の電子
部品実装状態検査装置は、カメラにより電子部品実装基
板の表面を複数の区間に分けて撮像し、その撮像結果か
ら電子部品の実装状態を認識するものであって、複数の
撮像カメラが撮像方向に沿って並設され、この各撮像カ
メラが基板に対し駆動手段により相対移動し得るように
なっている。この検査装置は下記の特徴を有している。
部品実装状態検査装置は、カメラにより電子部品実装基
板の表面を複数の区間に分けて撮像し、その撮像結果か
ら電子部品の実装状態を認識するものであって、複数の
撮像カメラが撮像方向に沿って並設され、この各撮像カ
メラが基板に対し駆動手段により相対移動し得るように
なっている。この検査装置は下記の特徴を有している。
【０００７】第一に、基板に対する各カメラの視野のう
ち撮像方向に沿う辺の長さに対し、同じく撮像方向に沿
う各視野間の間隔が同一か又は小さくなるように設定さ
れている。
ち撮像方向に沿う辺の長さに対し、同じく撮像方向に沿
う各視野間の間隔が同一か又は小さくなるように設定さ
れている。
【０００８】第二に、各区間毎に複数のカメラによる撮
像をほぼ同時に並列的に行うとともに、各カメラによる
撮像結果の画像処理をほぼ同時に並列的に行うように制
御している。
像をほぼ同時に並列的に行うとともに、各カメラによる
撮像結果の画像処理をほぼ同時に並列的に行うように制
御している。
【０００９】第三に、各区間毎の撮像後に各カメラをそ
の並設方向に沿って前記各視野間の間隔だけ移動させて
各区間毎の視野間の境界で交差部ができるように前記駆
動手段を制御している。
の並設方向に沿って前記各視野間の間隔だけ移動させて
各区間毎の視野間の境界で交差部ができるように前記駆
動手段を制御している。
【００１０】
【作用】従って、両カメラは撮像と画像処理において同
時進行し、かつ撮像漏れも防止する。
時進行し、かつ撮像漏れも防止する。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の一実施例にかかる基板の電子
部品実装状態検査装置を図面を参照して説明する。
部品実装状態検査装置を図面を参照して説明する。
【００１２】図１に概略的に示すＸＹテーブル１はＸ軸
とＹ軸とを有し、位置決めされた基板２の表面に沿って
Ｘ軸がＸ方向へ移動するとともに、このＸ軸上でＹ軸が
Ｘ方向に対し直交するＹ方向へ基板２の表面に沿って移
動するようになっている。このＹ軸上に第一のカメラ３
と第二のカメラ４とが並設されている。このＸＹテーブ
ル１は制御部５からの指令に基づき駆動し、両カメラ
３，４が基板２に対しＸＹ方向へ順次移動して基板２の
表面を複数の区間に分けて撮像し得るようになってい
る。両カメラ３，４からの入力信号は画像処理部６に取
り込まれる。図２に示すように、この画像処理部６にお
いて、両カメラ３，４から入力された映像信号は、Ａ／
Ｄコンバータ７，８によりデジタル画像に変換され、画
像メモリ９，１０に記憶される。記憶された画像情報は
制御部１１からの指令により、画像メモリ９，１０から
パターンマッチング部１２に取り出される。また、モデ
ルデータも、制御部１１からの指令により、モデルデー
タ部１３からパターンマッチング部１２に取り出され
る。そして、パターンマッチング部１２において、正規
化相関演算により相関値を求め位置を検出する。判定部
１４は、制御部１１からの指令により、各電子部品の相
関値情報と位置情報とに基づき、電子部品の有無や表裏
や極性不良の判定及び位置ずれ不良の判定を行う。
とＹ軸とを有し、位置決めされた基板２の表面に沿って
Ｘ軸がＸ方向へ移動するとともに、このＸ軸上でＹ軸が
Ｘ方向に対し直交するＹ方向へ基板２の表面に沿って移
動するようになっている。このＹ軸上に第一のカメラ３
と第二のカメラ４とが並設されている。このＸＹテーブ
ル１は制御部５からの指令に基づき駆動し、両カメラ
３，４が基板２に対しＸＹ方向へ順次移動して基板２の
表面を複数の区間に分けて撮像し得るようになってい
る。両カメラ３，４からの入力信号は画像処理部６に取
り込まれる。図２に示すように、この画像処理部６にお
いて、両カメラ３，４から入力された映像信号は、Ａ／
Ｄコンバータ７，８によりデジタル画像に変換され、画
像メモリ９，１０に記憶される。記憶された画像情報は
制御部１１からの指令により、画像メモリ９，１０から
パターンマッチング部１２に取り出される。また、モデ
ルデータも、制御部１１からの指令により、モデルデー
タ部１３からパターンマッチング部１２に取り出され
る。そして、パターンマッチング部１２において、正規
化相関演算により相関値を求め位置を検出する。判定部
１４は、制御部１１からの指令により、各電子部品の相
関値情報と位置情報とに基づき、電子部品の有無や表裏
や極性不良の判定及び位置ずれ不良の判定を行う。
【００１３】前記第一カメラ３と第二カメラ４とは次の
ような位置関係になっている。図３（ａ）に示すよう
に、基板２の表面に対する第一カメラ３の正方形視野を
Ａ1 〜Ａ4 、基板２の表面に対する第二カメラ４の正方
形視野をＢ1 〜Ｂ4 、撮像方向Ｄに沿うこれらの視野Ａ
1 〜Ａ4 ，Ｂ1 〜Ｂ4 の辺長さをＬ、第一カメラ３の視
野Ａ1 〜Ａ4 と第二カメラ４の視野Ｂ1 〜Ｂ4 との間の
間隔をＰとした場合、各辺長さＬが同一になっていると
ともに、間隔Ｐが辺長さＬに対し同一か又は若干小さく
なっている。
ような位置関係になっている。図３（ａ）に示すよう
に、基板２の表面に対する第一カメラ３の正方形視野を
Ａ1 〜Ａ4 、基板２の表面に対する第二カメラ４の正方
形視野をＢ1 〜Ｂ4 、撮像方向Ｄに沿うこれらの視野Ａ
1 〜Ａ4 ，Ｂ1 〜Ｂ4 の辺長さをＬ、第一カメラ３の視
野Ａ1 〜Ａ4 と第二カメラ４の視野Ｂ1 〜Ｂ4 との間の
間隔をＰとした場合、各辺長さＬが同一になっていると
ともに、間隔Ｐが辺長さＬに対し同一か又は若干小さく
なっている。
【００１４】図４（ｄ）に示すように、本実施例では、
第一カメラ３による視野Ａ1 の撮像と第二カメラ４によ
る視野Ｂ1 の撮像とを並列的に同時に行っているととも
に、第一カメラ３の画像処理と第二カメラ４の画像処理
とを並列的に同時に行っている点で、図４（ａ）（ｂ）
（ｃ）の場合と比較して大きく異なる。また、撮像方向
Ｄへの両カメラ３，４の移動は両カメラ３，４の画像処
理と並列的に行っている。従って、本実施例における視
野Ａ1 ，Ｂ2 の検査時間は図４（ｃ）の場合と比較し
て、更にｔ3 だけ短縮される。結局、図４（ａ）の場合
と比較すると、検査時間が半減されてＴだけとなる。
第一カメラ３による視野Ａ1 の撮像と第二カメラ４によ
る視野Ｂ1 の撮像とを並列的に同時に行っているととも
に、第一カメラ３の画像処理と第二カメラ４の画像処理
とを並列的に同時に行っている点で、図４（ａ）（ｂ）
（ｃ）の場合と比較して大きく異なる。また、撮像方向
Ｄへの両カメラ３，４の移動は両カメラ３，４の画像処
理と並列的に行っている。従って、本実施例における視
野Ａ1 ，Ｂ2 の検査時間は図４（ｃ）の場合と比較し
て、更にｔ3 だけ短縮される。結局、図４（ａ）の場合
と比較すると、検査時間が半減されてＴだけとなる。
【００１５】両カメラ３，４は視野Ａ1 ，Ｂ1 を撮像し
た後に視野Ａ2 〜Ａ4 ，Ｂ2 〜Ｂ4を順次撮像するが、
各視野Ａ1 〜Ａ4 ，Ｂ1 〜Ｂ4 の境界で交差部Ｃができ
るようにして撮像漏れを防いで検査を確実に行う必要が
ある。この交差部Ｃはできるだけ小さい方が検査上効率
的である。そのため、両カメラ３，４の位置関係、すな
わち間隔Ｐと辺長さＬとの間の関係を前述したように設
定したのである。
た後に視野Ａ2 〜Ａ4 ，Ｂ2 〜Ｂ4を順次撮像するが、
各視野Ａ1 〜Ａ4 ，Ｂ1 〜Ｂ4 の境界で交差部Ｃができ
るようにして撮像漏れを防いで検査を確実に行う必要が
ある。この交差部Ｃはできるだけ小さい方が検査上効率
的である。そのため、両カメラ３，４の位置関係、すな
わち間隔Ｐと辺長さＬとの間の関係を前述したように設
定したのである。
【００１６】図３（ｂ）に示す他の実施例においては、
４台のカメラを利用し、各カメラの視野の辺長さＬが互
いに同一になっているとともに、各カメラの視野間の間
隔Ｐも互いに同一になっている。この間隔Ｐは辺長さＬ
に対し若干小さいかまたは同一になっている。これらの
視野の変化も、基本的には図３（ａ）に示す場合と同様
である。
４台のカメラを利用し、各カメラの視野の辺長さＬが互
いに同一になっているとともに、各カメラの視野間の間
隔Ｐも互いに同一になっている。この間隔Ｐは辺長さＬ
に対し若干小さいかまたは同一になっている。これらの
視野の変化も、基本的には図３（ａ）に示す場合と同様
である。
【００１７】なお、カメラの台数や配置については、前
述した実施例以外にも、種々変更可能であるが、各カメ
ラの位置関係については、少なくとも各視野間の交差部
ができるように、各視野の辺長さと各視野間の間隔とを
設定する必要がある。
述した実施例以外にも、種々変更可能であるが、各カメ
ラの位置関係については、少なくとも各視野間の交差部
ができるように、各視野の辺長さと各視野間の間隔とを
設定する必要がある。
【００１８】
【発明の効果】本発明にかかる基板の電子部品実装状態
検査装置によれば、複数のカメラの位置関係と制御手順
とを改良したので、検査を確実に行いつつ検査時間を短
縮することができる。
検査装置によれば、複数のカメラの位置関係と制御手順
とを改良したので、検査を確実に行いつつ検査時間を短
縮することができる。
【図１】本実施例にかかる基板の電子部品実装状態検査
装置においてその概略構成図である。
装置においてその概略構成図である。
【図２】図１で示した画像処理部をより詳細に表した電
気ブロック回路図である。
気ブロック回路図である。
【図３】（ａ）は２台のカメラを利用した場合において
その撮像時の視野変化を示す作用説明図であり、（ｂ）
は４台のカメラを利用した場合においてその撮像時の視
野変化を示す作用説明図である。
その撮像時の視野変化を示す作用説明図であり、（ｂ）
は４台のカメラを利用した場合においてその撮像時の視
野変化を示す作用説明図である。
【図４】（ａ）は１台のカメラを利用した従来の検査装
置においてそのカメラ制御方法を示すタイムチャートで
あり、（ｂ）及び（ｃ）は２台のカメラを利用した制御
方法の改良案のタイムチャートであり、（ｄ）は（ｂ）
及び（ｃ）に示す改良案を更に発展させた本実施例に係
る制御方法を示すタイムチャートである。
置においてそのカメラ制御方法を示すタイムチャートで
あり、（ｂ）及び（ｃ）は２台のカメラを利用した制御
方法の改良案のタイムチャートであり、（ｄ）は（ｂ）
及び（ｃ）に示す改良案を更に発展させた本実施例に係
る制御方法を示すタイムチャートである。
１…駆動手段としてのＸＹテーブル、２…基板、３…第
一のカメラ、４…第二のカメラ、５…制御手段としての
ＸＹテーブル制御部、６…制御手段としての画像処理
部、Ａ1 〜Ａ4 …視野、Ｂ1 〜Ｂ4 …視野、Ｃ…交差
部、Ｄ…撮像方向、Ｌ…辺長さ、Ｐ…間隔、Ｔ…検査時
間。
一のカメラ、４…第二のカメラ、５…制御手段としての
ＸＹテーブル制御部、６…制御手段としての画像処理
部、Ａ1 〜Ａ4 …視野、Ｂ1 〜Ｂ4 …視野、Ｃ…交差
部、Ｄ…撮像方向、Ｌ…辺長さ、Ｐ…間隔、Ｔ…検査時
間。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｔ 1/00
Claims (1)
- 【請求項１】 カメラにより電子部品実装基板の表面を
複数の区間に分けて撮像し、その撮像結果から電子部品
の実装状態を認識する検査装置において、 撮像方向に沿って並設した複数の撮像カメラと、 基板に対する各カメラの視野のうち撮像方向に沿う辺の
長さに対し、同じく撮像方向に沿う各視野間の間隔を同
一か又は小さくするように設定する手段と、 各撮像カメラと基板とを相対移動させる駆動手段と、 各区間毎に複数のカメラによる撮像をほぼ同時に並列的
に行うとともに、各カメラによる撮像結果の画像処理を
ほぼ同時に並列的に行う制御手段と、 各区間毎の撮像後に各カメラをその並設方向に沿って前
記各視野間の間隔だけ移動させて各区間毎の視野間の境
界で交差部ができるように前記駆動手段を制御する制御
手段とを備えたことを特徴とする基板の電子部品実装状
態検査装置における撮像カメラ制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5322817A JPH07174519A (ja) | 1993-12-21 | 1993-12-21 | 基板の電子部品実装状態検査装置における撮像カメラ制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5322817A JPH07174519A (ja) | 1993-12-21 | 1993-12-21 | 基板の電子部品実装状態検査装置における撮像カメラ制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07174519A true JPH07174519A (ja) | 1995-07-14 |
Family
ID=18147952
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5322817A Pending JPH07174519A (ja) | 1993-12-21 | 1993-12-21 | 基板の電子部品実装状態検査装置における撮像カメラ制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07174519A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006078303A (ja) * | 2004-09-09 | 2006-03-23 | Sokkia Co Ltd | 測定装置の制御方法 |
-
1993
- 1993-12-21 JP JP5322817A patent/JPH07174519A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006078303A (ja) * | 2004-09-09 | 2006-03-23 | Sokkia Co Ltd | 測定装置の制御方法 |
| JP4551164B2 (ja) * | 2004-09-09 | 2010-09-22 | 株式会社 ソキア・トプコン | 測定装置 |
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