JP2005024503A - 表示用パネルの検査方法及び装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 ソフトウエアによることなく、モアレ縞の発生を低減することにある。
【解決手段】 表示用パネルの検査方法及び装置は、表示用パネルからの光を表示画素の配列方向に複数のセンサ素子を配列したセンサに受光させつつ、表示パネルとセンサとをセンサ素子の配列方向に相対的に移動させてセンサによる撮影範囲をセンサ素子の少なくとも1配列ピッチ分移動させ、その後センサの信号を処理装置に取り込むことを特徴とする。
【選択図】 図4

Description

本発明は、液晶表示パネルのような表示用パネルを検査(すなわち、試験)する方法及び装置に関し、特に表示用パネルを点灯検査する方法及び装置に関する。
液晶表示パネルのような表示用パネルは、パネルを点灯させて、その良否の検査をされる。この検査には、点灯された表示用パネルを作業者の目視により検査する目視検査と、点灯された表示用パネルをラインセンサやエリアセンサのようなセンサで撮影して得られた電気信号を処理(画像処理)するいわゆる自動検査とがある。
自動検査装置は、一般に、CCDカメラのように、受光素子(センサ素子)をライン状又はマトリクス状に配置したセンサにより撮影し、センサの出力信号を処理回路において画像処理し、それにより表示用パネルの良否を判定する。
しかし、自動検査においては、表示用パネルの規則的に配置された表示画素をセンサの規則的に配置されたセンサ素子で標本化するから、すなわち表示用パネル及びセンサがいずれも規則的な格子パターンとされているから、両パターンの位相ずれに相当する周期のモアレ縞がセンサの出力信号を基にして得た画像に生じる。
モアレ縞は大きな濃淡差を有するため、モアレ縞を含む画像からでは、表示用パネルの良否を正確に判定することはできない。したがって、自動検査においては、センサの出力信号を基にして得た画像中に発生するモアレ縞を低減する必要がある。
モアレ縞の発生を低減する技術の1つとして、表示パネルとセンサとを微小ピッチで相対的に移動させつつ、その相対的移動のたびに表示用パネルをセンサで撮影して、センサの出力信号を相対的移動のたびに処理回路に取り込み、取り込んだ信号による画像を合成するものがある(特許文献1,2)。
しかし、この従来技術では、複数の画像に対応する複数の画像信号群をソフトウエアで合成処理することにより、モアレ縞を低減させるものであるから、合成処理用の複雑で高価なソフトウエアを必要とする。
特開2000−338000号公報 特開2002−148210号公報
本発明の目的は、ソフトウエアによることなく、モアレ縞の発生を低減することにある。
本発明に係る、表示用パネルの検査方法は、複数の表示画素を配列した表示用パネルからの光を前記表示画素の配列方向に複数のセンサ素子を配列したセンサに入射させつつ、前記センサによる撮影範囲を前記センサ素子の少なくとも1配列ピッチ分移動させるべく前記表示パネルと前記センサとを前記センサ素子の配列方向に相対的に移動させ、その後前記センサの信号を処理装置に取り込むことを含む。
本発明に係る、表示用パネルの検査装置は、複数の表示画素を配列した表示用パネルを受けるパネル受けと、受けられた表示パネルを撮影するセンサであって前記表示画素の配列方向に複数のセンサ素子を配列したセンサと、前記表示用パネルからの光を前記センサに入射させつつ、前記センサによる撮影範囲を前記センサ素子の少なくとも1配列ピッチ分移動させるべく前記表示パネルと前記センサとを前記センサ素子の配列方向に相対的に移動させ、その後前記センサの信号を取り込む制御装置とを含む。
表示用パネルからの光をセンサに入射させつつ、センサによる撮影範囲をセンサ素子の少なくとも1配列ピッチ分移動させると、その間表示パネルからの光の情報が各センサ素子に蓄積されて、光情報が光学的に積分される。その結果、その後にセンサの信号を処理装置に取り込むと、取り込んだ信号による画像に発生するモアレ縞がこれを無視することができる程度に著しく低減される。
前記センサ素子は、電荷結合素子(CCD)のように、前記光に対応する情報を蓄積可能の素子を含むことができる。
前記撮影を、1以上の前記センサ素子を各表示画素に割り当てて行ってもよいし、小数点以下の端数を1以上の整数に加えた数の前記センサ素子を各表示画素に割り当てて行ってもよい。
図1〜図3を参照するに、検査装置10は、液晶表示パネルのように、多数の表示画素をマトリクス状(X及びY方向)に配置した矩形の表示用パネル12の自動点灯検査に用いられる。図示の例では、パネル12は、複数の電極を隣り合う2つの辺のそれぞれに有している。
以下の説明においては、検査装置10の検査位置に配置された表示用パネル12と平行の面内における直交する2方向(矩形のパネル12の隣り合う縁部(矩形の辺)の方向)をX方向及びY方向といい、そのパネル12に垂直な方向をZ方向という。
検査装置10は、図示しないフレームに水平方向へ移動可能に配置されたパネルステージ14を含む。このぱねるステージ14は、パネル12を受けるチャックトップと、受けたパネル12をその背後から照明するバックライトユニットとを備えた検査ステージである。
このため、パネルステージ14は、受けたパネル12を、パネル12と平行なX及びY方向へ二次元的に移動させることができると共に、パネル12に垂直なZ方向に移動させることができ、さらにパネル12をこれに垂直なZ軸線の周りに角度的に回転させることができる。パネル12は、そのようなパネルステージ14の二次元的移動及び角度的回転により、プローブユニット20、ひいてはプローブの針先に対しアライメントをされる。
パネルステージ14は、搬送ロボットのようなパネル受け渡し装置に対してパネル12の受け渡しをする受け渡し位置と、パネル12の点灯検査を行う検査位置とに移動可能である。
パネルステージ14の上方には、基板16がフレームに水平に取り付けられている。基板16は、検査位置に移動されているパネルステージ14を上方から見ることができる矩形の穴18を有している。穴18はパネル12より大きい平面寸法を有している。
基板16には、プローブユニット20が矩形の穴18に対応する箇所に配置されている。プローブユニット20は、パネル12の電極に個々に押圧される複数のプローブをブロックに配置した既知の複数のプローブブロック22を板状のプローブベース24に取り付けて、プローブベース24を基板16の下面に取り付けている。
プローブベース24は、基板16の穴18より小さくかつパネル12より大きい矩形の穴26を有しており、穴26が穴18と同軸となるように、基板16に取り付けられている。
プローブブロック22は、矩形の隣り合う2つの辺に個々に対応する2つのブロック群に分けられている。各ブロック群のプローブブロック22は、プローブの先端(針先)が整列するように、対応するプローブベース24に取り付けられている。
検査装置10は、また、パネル12を面状に撮影すべく基板16の上方に配置されたエリアセンサ28を含む。
エリアセンサ28は、CCDテレビカメラのように光情報(電荷)を蓄積可能の複数のセンサ素子をマトリクス状に配置した既知のセンサであり、カメラステージ30によりパネルステージ14に対しX,Y,Zの3方向へ移動される。
カメラステージ30は、エリアセンサ28をZ方向へ移動させるように図示しないフレームに取り付けられたZステージ32と、エリアセンサ28をY方向へ移動させるようにZステージ32に取り付けられたYステージ34と、エリアセンサ28をX方向へ移動させるようにYステージ34に取り付けられたXステージ36とを含む。
Zステージ32は、Z方向に長い一対の固定子領域(リニアレール)を有する固定子40と、固定子40の固定子領域にZ方向へ移動可能に個々に組み付けられた一対の可動子領域(リニアガイド)を有する可動子42とを有するリニアガイド装置を用いており、固定子40においてフレームに取り付けられている。
Yステージ34も、Y方向に長い一対の固定子領域(リニアレール)を有する固定子44と、固定子44の固定子領域にY方向へ移動可能に個々に組み付けられた一対の可動子領域を有する可動子46とを有するリニアガイド装置を用いており、固定子44においてZステ−ジの可動子42に取り付けられている。
Xステージ36も、X方向に長い一対の固定子領域(リニアレール)を有する固定子48と、固定子48の固定子領域にX方向へ移動可能に個々に組み付けられた一対の可動子領域を有する可動子50とを有するリニアガイド装置を用いており、固定子48においてYZステ−ジの可動子46に取り付けられている。
上記した各リニアガイド装置は、リニアモータテーブル等の名称で市販されている既知のステージ(駆動機構)である。そのようなステージは、一般に、リニアモータのように、複数のコイルを一方向に配列した固定子と、該固定子に前記一方向に移動可能に組み付けられた1以上の可動子とを含み、可動子に交流電力を供給することにより、可動子を固定子に対し、移動させることができるし、所定の位置に維持することができる。固定子は、可動子の移動方向を規制するガイドを有している。
エリアセンサ28は、その光入射側をステージ14上のパネル12に向けた状態に、Xステージ36の可動子50に支持されている。
プローブユニット20のプローブ、ステージ14,32,34,36及びエリアセンサ28は、図4に示す処理装置52により制御される。
図4を参照するに、処理装置52は、主制御装置として作用するコンピュータ54と、エリアセンサ28による受光の制御及びエリアセンサ28から画像信号を取り込みの制御を行う画像取り込み回路56と、パネルステージ14及びカメラステージ30を駆動させるメカ駆動回路58と、パネル12を点灯させる表示信号をパネル12に供給する表示信号発生器60とを含む。
画像取り込み回路56、メカ駆動回路58及び表示信号発生器60は、コンピュータ54により制御されて、対応する機器を制御して駆動させる。
以下に、検査装置10の動作、特に処理装置52の動作について説明する。
検査時、パネル12がパネルステージ14に載せられて、動作開始指令スイッチが押下されると、処理装置52は、先ず、アライメントを行うべくメカ駆動回路58を制御して、パネルステージ14を駆動させる。
次いで処理装置52は、パネル12を上昇させて、パネル12の電極をプローブの針先に押圧する。これにより、パネル12は、表示信号発生器60で発生される表示信号を受けて、所定のパターンに点灯可能の状態におかれる。
次いで、処理装置52は、エリアセンサ28による撮影範囲を定めるべくメカ駆動回路58を制御して、カメラステージ30を駆動させる。
次いで、処理装置52は、バックライトを点灯させた状態で、パネル12を所定のパターンに点灯させるべく表示信号発生器60を制御して、表示信号をパネルに供給させる。
次いで、処理装置52は、パネル12を撮影すべく画像取り込み回路56を制御することによりパネル12からの光62をエリアセンサ28に入射させて、エリアセンサ28の各センサ素子に受光させつつ、メカ駆動回路58を制御することによりカメラステージ30を駆動させて、エリアセンサ28による撮影範囲をセンサ素子の少なくとも1配列ピッチ分だけX及びY方向に二次元的に移動させる。
各センサ素子での受光とカメラステージ30の駆動とは、図5(A)及び(B)に示すように、同期して同時に行われる。これにより、エリアセンサ28は、パネル12からの光62を各センサ素子で受光しつつ、移動される。その結果、光情報(電荷)が各センサ素子に蓄積される。
次いで、処理装置52は、各センサ素子での受光とエリアセンサ28の移動とを中止した後、エリアセンサ28の信号(各センサ素子の電荷)を取り込むべく画像取り込み回路56を制御する。
その後、処理装置52は、取り込んだ信号による画像を処理して、欠陥の有無を判定する。
次に、図6を参照して、検査装置10により得られる作用効果について説明する。
図6は、表示画素62,66,68は正常画素であるが、表示画素64は暗欠陥画素である例を示す。
図6は、また、(B)に示す表示用パネル12の各表示画素22を(C)に示すように複数のセンサ素子70を割り当てるように、すなわち1つの表示画素を複数のセンサ素子70で撮影するように、エリアセンサ28を設定し、(C)及び(D)に示すように表示画素の1配列ピッチ分連続的に移動させる例を示す。
各表示画素に割り当てるセンサ素子数は、1以上の整数、例えば図示の例のように3であってもよいし、小数点以下の端数を1以上の整数に加えた数、例えば2.5や3.5であってもよい。
図6に示す例の場合、表示用パネル12の濃淡は、(A)に示すように、表示画素の中央が最も明るく、隣り合う表示画素の間が最も暗い。このため、センサ素子信号は(E)に示すように大きく異なり、それによりセンサ素子からの信号により得られる画像にモアレ縞が発生する。モアレ縞は、表示画素62〜68とセンサ素子70との位相ずれに対応する周期となる。
しかし、検査装置10においては、エリアセンサ28を図6(C)に示す位置から図6(D)に示す位置まで、表示画素の1配列ピッチ分だけ連続的に移動させると共に、その移動の間各センサ素子70に連続的に受光させる。これにより、その移動の間、表示画素の濃淡に対応する光情報(電荷)が各センサ素子に蓄積(すなわち、積分)される。
すなわち、エリアセンサ28が図6(C)に示す位置にあるときの各センサ素子70の受光量(電荷)は図6(E)のようになるのに対し、エリアセンサ28が図6(D)に示す位置にあるときの各センサ素子70の受光量は図6(F)のようになる。
上記のような各センサ素子70の受光量(電荷)は、エリアセンサ28の移動にともなって各センサ素子70において光学的に積分されて、移動終了時点においては図6(G)のようになる。
上記のことから、検査装置10は、エリアセンサ28の撮影範囲を所定量移動させた後、各センサ素子780への入射光を遮断すると共に、各センサ素子70の信号を画像取り込み回路56に取り込未、取り込んだ信号による画像処理を行ってパネル12の良否を判定する。
上記のように、検査装置10においては、表示画素情報が各センサ素子70において光学的に積分されることにより、図6(G)に示すようにモアレ縞の発生が著しく低減される。
また、図6(G)に示すように、正常な表示画素62,66,68に対応するセンサ素子70の受光量はほぼ同じになるが、暗欠陥の表示画素64に対応するセンサ素子70の受光量は他のセンサ素子70の受光量より少ない。このため、表示画素64を暗欠陥画素として識別することができる。
本発明は、液晶表示パネルのみならず、プラスマ表示パネル、有機EL表示パネル等、他の表示用パネルの検査にも適用することができる。
上記実施例では、エリアセンサ28を移動させているが、その代わりに、表示用パネル12をパネルステージ14により移動させてもよいし、表示用パネル12及びエリアセンサ28の両者を移動させてもよい。また、エリアセンサのか有りにラインセンサを用いてもよい。
本発明は、上記実施例に限定されず、その趣旨を逸脱しない限り、種々変更することができる。
本発明に係る検査装置の一実施例を示す図である。 図1に示す検査装置で用いるカメラステージの一実施例を示す図である。 図2に示すカメラステージの左側面図である。 図1に示す検査装置の電気回路の一実施例を示す図である。 エリアセンサの露光とカメラステージの移動のタイミングを示す図である。 検査装置の動作を説明するための図である。
符号の説明
10 検査装置
12 表示用パネル
14 パネルステージ
16 基板
20 プローブユニット
22 プローブブロック
24 プローブベース
28 エリアセンサ
30 カメラステージ
32 Zステージ
34 Yステージ
36 Xステージ
62〜68 表示画素
70 センサ素子

Claims (6)

  1. 複数の表示画素を配列した表示用パネルからの光を前記表示画素の配列方向に複数のセンサ素子を配列したセンサに入射させつつ、前記センサによる撮影範囲を前記センサ素子の少なくとも1配列ピッチ分移動させるべく前記表示パネルと前記センサとを前記センサ素子の配列方向に相対的に移動させ、その後前記センサの信号を処理装置に取り込むことを含む、表示用パネルの検査方法。
  2. 前記センサ素子は、前記光に対応する情報を蓄積可能の素子を含む、請求項1に記載の検査方法。
  3. 前記撮影は、1以上の前記センサ素子を各表示画素に割り当てて行われる、請求項1又は2に記載の検査方法。
  4. 前記撮影は、小数点以下の端数を1以上の整数に加えた数の前記センサ素子を各表示画素に割り当てて行う、請求項1又は2に記載の検査方法。
  5. 複数の表示画素を配列した表示用パネルを受けるパネル受けと、
    受けられた表示パネルを撮影するセンサであって前記表示画素の配列方向に複数のセンサ素子を配列したセンサと、
    前記表示用パネルからの光を前記センサに入射させつつ、前記センサによる撮影範囲を前記センサ素子の少なくとも1配列ピッチ分移動させるべく前記表示パネルと前記センサとを前記センサ素子の配列方向に相対的に移動させ、その後前記センサの信号を取り込む制御装置とを含む、表示用パネルの検査装置。
  6. 前記センサ素子は、前記光に対応する情報を蓄積可能の素子を含む、請求項5に記載の検査装置。
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