JPH07161784A - クリーニング装置及びこの装置を用いたプローブ装置 - Google Patents

クリーニング装置及びこの装置を用いたプローブ装置

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JPH07161784A
JPH07161784A JP5341383A JP34138393A JPH07161784A JP H07161784 A JPH07161784 A JP H07161784A JP 5341383 A JP5341383 A JP 5341383A JP 34138393 A JP34138393 A JP 34138393A JP H07161784 A JPH07161784 A JP H07161784A
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probe card
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    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
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Abstract

(57)【要約】 【目的】プロ−ブ針のガイド部材の底面に付着した付着
物をプロ−ブ針を破損させずに除去してプロ−ブカ−ド
を延命させる。 【構成】プロ−ブカ−ド10に設けられたプロ−ブ針3
と対向して設けられたブラシ5と、このブラシ5に断続
的にエア−を噴射してブラシ5を振動させる振動機構1
9とを備え、振動したブラシ5とエア−によりブロ−ブ
カ−ド10の付着物を除去することを特徴としている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はプロ−ブカ−ドのクリ
−ニング装置および、この装置を用いたプロ−ブ装置に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】プロ−ブカ−ドには傾斜形プロ−ブカ−
ドと垂直型プロ−ブカ−ドがある。前者は基板(積層
板)に放射状で且つほぼ7度に傾斜してプロ−ブ針が配
置されたプロ−ブカ−ドである。後者は基板(積層板)
にガイド板を平行に設け、プロ−ブ針をウエハ面に直交
するように配置しプロ−ブカ−ドである。傾斜形プロ−
ブカ−ド、または垂直型プロ−ブカ−ド双方とも、プロ
−ビングすると、ウエハから剥離された粉塵、例えば、
アルミ粉塵がプロ−ブ針の周りに浮遊する。垂直型プロ
−ブカ−ドでは剥離した粉塵がプロ−ブ針をガイドして
いる絶縁性のガイド板の底面(ウエハ上面の対向面に該
当する)に付着する。この付着物がプロ−ビングを重ね
る度に堆積する。この堆積した粉塵、即ち付着物は、プ
ロ−ブ針に電気的の絶縁不良等の不具合点を引きを起こ
す。それを回避する為、従来、堆積した付着物はエア−
の吹き付けによる風圧で除去していた。このエア−を吹
き付ける傾斜形プロ−ブカ−ドは、実開平63−750
41号公報に記載されている。
【0003】一方、カメラ業界ではレンズクリ−ニング
ブラシ50が知られている。このクリ−ニングブラシ
は、図8(a)に示すように、ハケ51の中に設けられ
たノズル52からエア−を噴射させてレンズ53に付着
した塵54を除去する構成である。上記レンズクリ−ニ
グブラシ50を、垂直型プロ−ブカ−ドに使用する場合
を考えると、垂直型プロ−ブカ−ドではプロ−ブ針が太
いところで直径70ミクロン、針先で直径20ミクロ
ン、及びプロ−ブ針軸間距離100ミクロンの微細な構
造であり、微小な力でもプロ−ブ針を破損させてしまう
が、もし、このレンズクリ−ニングブラシを自動的に用
いると、メカ機構55でハケ51の先端を左右に−θ、
+θ揺動運動させ、上述したガイド基板底面の付着物を
剥離し粉塵54を除去するとができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、垂直型
プロ−ブカ−ドにおけるガイド板56に付着した付着物
を除去する際に、ハケ51の先端をメカ的に揺動運動さ
せて、ガイド板56の底面に付着した付着物を除去する
と、ハケ51の先端が絡まって機械的に揺動運動させる
と、絡まった部分でプロ−ブ針5が引っかかり、さらに
揺動運動を続行するのでプロ−ブ針3を曲げてしまう問
題があった。
【0005】そこで、本発明者は例えば合成繊維を数百
乃至数千本束ね、合成繊維の一端を結束してブラシの遊
端を高圧エア−の噴射で振動させ、ガイド板の底面に付
着した付着物及びプロ−ブ針に付着した付着物を除去す
る研究を行った。従って、
【0006】この発明第1の目的は、プロ−ブ針のガイ
ド部材の底面に付着した付着物を、プロ−ブ針を破損さ
せず、振動したブラシで擦り付着物を除去し、剥離され
た粉塵をエア−で除去し、プロ−ブカ−ドを延命させる
クリ−ニング装置を提供することにある。
【0007】この発明第2の目的は、プロ−ブ針軸間距
離が微細に配置されており、軸間の空隙が僅かなもので
も、ガイド部材の底面にブラシの先端が容易に到達でき
るように、ブラシの長手方向とプロ−ブ針の長手方向と
を同方向に配置したことにより、ブラシの曲がり、ブラ
シ破損等を少なくし、クリ−ニング装置の寿命を向上さ
せたクリ−ニグ装置を提供することにある。
【0008】この発明第3の目的は、プロ−ブカ−ドの
位置にクリ−ニング装置を搬送してクリ−ニングするこ
とにより、メンテナンス性の向上を実現したプロ−ブ装
置を提供することにある。
【0009】この発明第4の目的は、収納庫からプロ−
ブカ−ドを取り出し、測定部まで搬送し、測定部に取り
付けて測定する装置において、この搬送路内にクリ−ニ
ング装置を設け、プロ−ブカ−ド移動時に一時停止させ
てクリ−ニングすることによりスル−プットを向上させ
たプロ−ブ装置を提供することにある。
【0010】この発明第5の目的は、複数の測定部とこ
の測定部のそれぞれに被測定体を導くロ−デイング機構
を有するプロ−ブ装置において、単一のクリ−ニング装
置でそれぞれのプロ−ブカ−ドをクリ−ニングすること
により、小型化が可能なプロ−ブ装置を提供することに
ある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
【手段1】プロ−ブカ−ドに設けられたプロ−ブ針と対
向して設けられたブラシと、このブラシに断続的にエア
−を噴射して上記ブラシを振動させる振動機構とを備
え、振動した上記ブラシと上記エア−により上記ブロ−
ブカ−ドの付着物を除去することを特徴としている。
【0012】
【手段2】請求項1項記載のクリ−ニング装置におい
て、上記ブラシの長手方向と上記プロ−ブ針の長手方向
とを同方向に配置したことを特徴としている。
【0013】
【手段3】プロ−ブカ−ドを測定位置に配置し、プロ−
ブ針を被測定体の電極に接触させて電気的特性を検査す
るプロ−ブ装置において、所定位置から請求項1項記載
のクリ−ニング装置を上記測定位置まで移動させる移動
手段を設け、上記プロ−ブカ−ドをクリ−ニングするこ
とを特徴としている。
【0014】
【手段4】プロ−ブカ−ド収納部から選択されたプロ−
ブカ−ドを取り出し、測定位置に配置し、電気的特性を
検査する装置において、請求項1項記載のクリ−ニング
装置を上記収納部と上記測定位置との間の搬送路に設
け、プロ−ブカ−ド搬送時にクリ−ニングすることを特
徴としている。
【0015】
【手段5】被測定体を測定する複数の測定部と、この測
定部のそれぞれに被測定体を導くロ−デイング機構とを
有するプロ−ブ装置において、上記測定部のそれぞれの
プロ−ブカ−ドに請求項1項記載のクリ−ニング装置を
単一のハンドリングア−ム機構で導き、この導かれたク
リ−ニング装置でそれぞれのプロ−ブカ−ドをクリ−ニ
ングすることを特徴としている。
【0016】
【作用1】断続エア−をブラシの方向に噴射してブラシ
先端を振動させ、この振動した先端はガイド部材の底面
に接触し、ブラシ振動により付着物を物理的に擦るの
で、付着物が剥離され、ガイド部材から浮き上がる。こ
の浮き上がった付着物は粉塵となり、この粉塵はエア−
で外部に除去することができる。この除去によって、プ
ロ−ブ針軸間の空隙に堆積した導電性付着物による短絡
等が解消でき、プロ−ブカ−ドの寿命の延長が可能であ
る。即ち、プロ−ビング回数は、例えば4倍から6倍ま
で延びることが実証されている。この寿命の延長により
プロ−ブカ−ド交換の回数が激減し、メンテナンス時間
が短縮され生産性の効率が向上する。ちなみに、半導体
製造ラインにおいて、プロ−ブカ−ドが破損すると、こ
のプロ−ブカ−ドを交換するに止まらず、交換後のプロ
−ブ針と電極パッドの位置合せをする作業時間等の余分
な時間が必要であり、この時間も解消される。また、プ
ロ−ブ針の付着物も同時に除去される。
【0017】
【作用2】垂直型プロ−ブカ−ドでは、プロ−ブ針間の
空隙が微細であり、ブラシの長手方向とプロ−ブ針の長
手方向とを同方向に配置した後、ガイド部材の底面にブ
ラシの遊端が到達するように移動するに際し、同方向に
配置しているので、ブラシがプロ−ブ針に絡みにくくな
り、また効率的なクリ−ニングが可能となり、更にクリ
−ニング装置が延命される。
【0018】
【作用3】格納された位置から、プロ−ブカ−ドが配置
された測定部まで、クリ−ニング装置を移動し、ガイド
部材のクリ−ニングを行うので、従来のようにプロ−ブ
カ−ドをヘッドプレ−トから外し、クリ−ニングする際
の着脱時間を短縮させることができて作業性が向上す
る。
【0019】
【作用4】プロ−ブカ−ド収納部から選択されたプロ−
ブカ−ドを取り出し、測定位置に配置し、電気的特性を
検査する装置において、クリ−ニング装置を収納庫と測
定部との搬送路内に設けているので、ウエハの種類に対
応してプロ−ブカ−ドを自動交換する時、プロ−ブカ−
ドを上記搬送路内にあるクリ−ニング装置でクリ−ニン
グした後、測定位置に装着するのでクリ−ニング後のプ
ロ−ブカ−ドで常に測定することができ、安定した測定
が可能となる。
【0020】
【作用5】複数の測定部のそれぞれのプロ−ブカ−ドを
単一のクリ−ニング装置でクリ−ニングすることによ
り、プロ−ブ装置の小型化が可能になる。
【0021】
【実施例】この発明のクリ−ニング装置をウエハプロ−
バに適用した実施例について、図面を参照しながら説明
する。本実施例のウエハプロ−バに設けられるプロ−ブ
針の先端は、半導体ウエハの上面に対して垂直に接続す
るように形成されており、上記プロ−ブ針の接触部分は
ウエハ面に対して垂直、即ち直線状に形成されている。
従って、説明の中で「プロ−ブ針の長手方向」とはこの
直線方向を意味し、「ブラシの長手方向」も同様に定義
して説明する。
【0022】図1(a),(b)に示すように、上記ウ
エハプロ−バは、ウエハ1の電極パッド2にプロ−ブ針
3を接触させて検査する測定部4と、被測定体のウエハ
1を支持する載置台11を有し、ウエハ1を測定部4ま
で搬送する搬送部と、プロ−ブ針3に付着した付着物を
ブラシ5を振動させて除去するクリ−ニング装置6とを
備えている。そして、ダミ−ウエハ(図示せず)を用い
てプロ−ブ針3と電極パッド2の位置合わせをし、載置
台11上のウエハ1の電極パッド2にプロ−ブ針3を接
触させ、チップを順次プロ−ビングし、所定回数のプロ
−ビング終了後、クリ−ニング装置6によりプロ−ブ針
3を自動的にクリ−ニングし、終了後再度プロ−ビング
を開始するように構成されている。
【0023】上記ウエハプロ−バの測定部4には、ウエ
ハプロ−バの基台7から立設された支柱を介して基台7
と平行に配置されたヘッドプレ−ト8が設けられ、この
ヘッドプレ−ト8の中央に開口部があり、この開口部に
リングインサ−ト部材9を介して垂直型のプロ−ブカ−
ド10が装着され、このプロ−ブカ−ド10のプロ−ブ
針3の先端がウエハ1面に直交するように配設されてい
る。また、ウエハ1が載置された載置台11はXYイン
デックス機構を有するXYステ−ジ12に搭載され、移
載位置においてロ−ダ13側からウエハ1を受け取り、
測定部4まで移動可能に構成されている。
【0024】上記ウエハプロ−バの搬送部(図示せず)
は特公平5−29143号、特開昭62−169341
号公報等多数の文献に開示され周知なので簡単に説明す
る。まず、図1(a)で2点鎖線で示す移載位置で上記
ウエハプロ−バの基台7の右側に設けられたハンドリン
グア−ム(図示せず)でウエハカセット(図示せず)か
らウエハ1を取り出し、ウエハ1を載置台11上に受け
取り、XYステ−ジ12の駆動で測定部4まで搬送す
る。
【0025】搬送後に測定部4では、プロ−ブ針3とウ
エハ1の電極パッド2との位置合わせを行ない、載置台
11を昇降機構14で上昇させ、順次プロ−ビングを行
なう。ここで、例えば4万回のプロ−ビング毎に自動的
にクリ−ニングを実施するように制御される。図1
(b)(c)に示すようにクリ−ニングの際には、載置
台11を測定部4から退避させ、次に基台7の左側にあ
るクリ−ニング用のハンドリングア−ム15を駆動させ
て、クリ−ニング装置6をプロ−ブ針3の下に到達さ
せ、クリ−ニング装置6でクリ−ニングした後に元の位
置に戻り、再びプロ−ビングを開始するようになってい
る。
【0026】上記ハンドリングア−ム15の駆動機構に
は制御部16が接続され、この制御部16の指令によ
り、ハンドリングア−ム15がクリ−ニング装置6を測
定部4のプロ−ブ針3の下に移動させ、昇降機構17に
よってクリ−ニング装置6を長手方向に移動させてブラ
シ5の先端をプロ−ブ針列に干渉させてクリ−ニングす
るようになっている。
【0027】次に、上記クリ−ニング装置の構成につい
て説明する。図1(c)に示すように、基台7には支柱
15dが立設されており、この支柱15dにはハンドリ
ングア−ム15の一端が回転自在に固定されている。こ
こで、ハンドリングア−ム15は主ア−ム15aと従ア
−ム15bとから構成されており、従ア−ム15bの自
由端には昇降機構17が設けられている。この昇降機構
17には周調整機構17aが固定されており、周調整機
構17aに上記クリ−ニング装置6が装着されている。
そして、支柱15dの近傍で待機していたクリ−ニング
装置6を測定部4に配置されているプロ−ブカ−ド10
の中心位置まで移動するようになっている。
【0028】図2(a)に示すように、上記クリ−ニン
グ装置6は、大別すると振動機構19と移動機構である
昇降機構17とから構成されており、振動機構19はブ
ラシ機構18とエア−供給機構25とで構成されてい
る。
【0029】上記ブラシ機構18は、ハンドリングア−
ム15の自由端に固定されたクリ−ニング基台20に設
けられている。そして、このブラシ機構18にはプロ−
ブ針3の長手方向と同方向に整列した繊維束5aが設け
られ、繊維束5aの基端部は固定金具21によって結束
されている。この繊維束5aは、例えばナイロン系繊維
を2つ折りにして断面が長方形状になるように束ねられ
ている。例えば、長さ35ミリの繊維で6×4ミリ長方
形の繊維束5aの遊端を上記プロ−ブ針3の先端と対向
するように配置し、その基端を固定金具21で固定して
いる。そして、図2(d)に示すように、繊維束5aの
遊端5bをプロ−ブ針3の列方向に集束させるガイド部
材22がクリ−ニング基台20に固定されている。
【0030】上記ガイド部材22は、断面が長方形状、
例えばt=0.5、幅8×高さ6ミリのアルミ材で形成
され、また、風洞23がプロ−ブ針3の長手方向と直交
方向でガイド部材22に固定されている。この風洞23
の長手方向の中心付近には、ブラシ5の繊維束5aが挿
着される長方形の開口部23aが余裕を持って開口され
ている。この開口部23aは繊維束5aの遊端5bがエ
ア−により振動、正確には遊端5bが搖動運動するに際
し、必要な領域(別名、搖動運動しろ、とも言う)で開
口されているのは言うまでもない。
【0031】また、上記風洞23の長手方向の一方から
他方に向けてエア−を断続的に噴射するエア−ガン24
が設けられている。このエア−ガン24はエア−供給機
構25に連結されている。そして、エア−供給機構25
で調節されたエア−が断続的にエア−ガン24を介して
風洞23に噴射されるようになっている。図3(b)に
示すように上記エア−供給機構25は、高圧発生器25
aと、エア−フイルタ25f(例えば約0,5ミクロン
のフイルタ、必要に応じてエア−ドライヤ付加)と、圧
力調整器25b(例えば入力3乃至10kg、出力0乃
至3kg/0.5kg)と、流量調整器25c(ニ−ド
ルバルブ)と、タイミングコントロ−ラ25d(ソレノ
イドバルブを用いて、0.2乃至2sec/周期、デウ
テイ−比20乃至80%可変)とから構成され、エア−
を断続的にブラシに噴射するようになっている。
【0032】図3(c)に示すように、断続エア−はタ
イミングコントロ−ラ25dにパルスを入力し、電磁弁
25eを駆動することにより発生し、この断続的に設定
されたエア−をブラシの一種である繊維束5aに噴射す
るように構成されている。ここで、エア−ガン24から
噴射されたエア−は繊維束5aと直交するように配置さ
れている、また、到達したクリ−ニング装置の繊維束5
aの遊端5bが適正な位置に補正できるように上記周調
整機構17aが配置されている。上記エア−ガン24の
内部は、図2(c)に示すように円形の配管から断面が
長方形に形成されているので乱流が発生する。そこで、
この乱流を層流に近づける整流羽29が複数配置されて
いる。
【0033】ここで、整流羽29を用いる例について説
明したが用いなくても良い。また、図2(a)に示す別
系統で設けられたエア−ノズル28には、エア−がプロ
−ブ針3の先端付近に噴射するように方向を調整する調
整機構が設けられている。上記ハンドリングア−ム15
には、図4に示すように支柱15dと主ア−ム15aと
従ア−ム15bとからなる2軸のア−ム機構が採用され
ている。支柱15dにはパルスモ−タ(図示せず)が内
臓され、ウエハプロ−バの基台7から立設された支柱1
5dの頂面から突出したパルスモ−タの軸に主ア−ム1
5aの一端が連結されており、制御部の指令により回転
駆動するように構成されている。
【0034】上記昇降機構17は、プロ−ブ針3にブラ
ジ5が触れるまでクリ−ニング基台20を上昇するよう
に予めプログラムされている。また、測定部4の両側に
は、クリ−ニング時に発生する塵埃を除去するエアブロ
−噴射口26と吸引口27とが設けられ、図示しないエ
ア−供給源と吸引源に各々接続されている。上記クリ−
ニング装置6は、主ア−ム15aと従ア−ム15bが一
直線となる周角度θ1の時、測定部4の中心にクリ−ニ
ング装置6の中心が位置するように予め設定されてい
る。ここで、片持型のハンドリングア−ム15を用いる
長所は、駆動時に粉塵の発生が他の搬送装置より押さえ
られることである。なお、このハンドリングア−ム15
の代わりに後述する平行移動装置31を使用してもよ
い。
【0035】次に、上記ハンドリングア−ム15に代わ
って両持型の平行移動装置31の構成について説明す
る。図4(d)〜(g)に示すように上記平行移動装置
31は、ヘッドプレ−ト8の下方において測定部4を中
心として、その両側に平行に設けられた一対のガイドレ
−ル32と、このガイドレ−ル32に沿って移動するH
形の移動部材33とからなり、この移動部材33の中央
には昇降機構17が設けられ、この昇降機構17の上面
にはクリ−ニング基台20が設けられている。そして、
予め設定された位置(図では左側)に格納されていた平
行移動装置31を駆動させてクリ−ニング装置6の中心
を測定部4の中心まで移動させ、昇降機構17でブラシ
5がプロ−ブ針3に干渉するまで上昇するように構成さ
れている。
【0036】図3(b)に示すように上記制御部16
は、予め記憶されているプログラムまたはキ−ボ−ド3
4で入力可能になっている。上記制御部16ではクリ−
ニング指令を受けると、測定部4に載置台11が有るか
否かを確認し、測定部4に載置台11がない場合にはハ
ンドリングア−ムを駆動して測定部4にクリ−ニング基
台20を移動させる。次に、クリ−ニング基台20を上
昇させ、エア−の流量、圧力及び振動等が適正値に制御
される。
【0037】次に、上記プロ−ブ装置及びクリ−ニング
装置の動作について説明する。まず、ダミ−ウエハを用
いてプロ−ブ針3と電極パッド2の位置合わせを行う。
その後、ウエハカセット(図示せず)からウエハ1を取
り出し、粗位置合わせを行う。そして、図1に示すよう
に載置台11に載置してXYステ−ジ12で測定部4ま
で移動し、この移動したウエハ1のチップの電極パッド
2と、予め測定部4の上方に配置された垂直型プロ−ブ
カ−ド10のプロ−ブ針3とを合致させ、ウエハ1が載
置された載置台11の上昇で、チップの電極パッド2に
プロ−ブ針3を接触させる。更にオ−バ−ドライブを加
えて、例えば4万回プロ−ビングし、各チップの電気回
路の良否を検査する。
【0038】予め決められた条件、例えば4万回プロ−
ビングした後にクリ−ニングを実行するようにプログラ
ムしてあれば、この条件に従って、制御部16の指令に
より所定位置に格納されていたハンドリングア−ム15
はクリ−ニング装置6を測定部4の位置まで移動させ
る。図2に示すように、測定部4に到達したクリ−ニン
グ装置6は昇降機構17で所定の高さ、即ちガイド部材
10aの底面にブラシ5の先端が接触するまで上昇する
と停止する。この位置を保った状態で、図3(d)に示
すようにエア−ガン24のから断続的にエア−を噴射さ
せ、ブラシ5を振動させてブラシ5の先端5bの振動で
ガイド部材10aに付着した付着物を物理的に擦って剥
がし、粉塵54として浮かび上がらせる。また、2次的
効果としてプロ−ブ針3に付着した付着物も物理的に擦
ってプロ−ブ針3から付着物を剥がして、粉塵54とし
て浮かび上がらせる。
【0039】これらの浮き上がった粉塵54は、別系統
のエア−ノズル28からの高圧エア−で吹き飛ばす。こ
の動作を1〜2分継続すると、十分に付着物をプロ−ブ
針3から除去することができる。この動作時間は予め設
定しておく。ここで別系統のエア−ノズル28からの高
圧エア−で吹き飛ばすと述べたが、同系統の高圧エア−
で吹き飛ばすようにしても良い。
【0040】上記プロ−ブカ−ドのクリ−ニング終了
後、クリ−ニング装置6を昇降機構17の駆動で降下さ
せて元の位置に戻す。その後、載置台11を測定位置に
戻して再びウエハをプロ−ビングする。上記第1の実施
例では、クリ−ニング装置6を用いないウエハプロ−バ
と比べて、垂直型プロ−ブカ−ド10の寿命、通常プロ
−ビング回数4万回を3倍乃至6倍まで延長することが
できる。
【0041】次に、本発明の第2の実施例について説明
する。本発明のクリ−ニング装置をプロ−ブカ−ド自動
交換ウエハプロ−バに適用した一実施例について図5を
参照しながら説明する。図5に示すように、このウエハ
プロ−バは多品種に対応させるために複数のプロ−ブカ
−ド10を専用カセット35に収納し、このカセット3
5から対応するプロ−ブカ−ド10を取り出し、測定部
4のヘッドプレ−ト8に取付け、ウエハ1を検査する装
置である。この装置も測定部4と、搬送部(図示せず)
と、クリ−ニング装置6とから構成されている。
【0042】上記測定部4にはウエハプロ−バの基台7
から立設された支柱(図示せず)を介してヘッドプレ−
ト8が配設されている。このヘッドプレ−ト8の中心に
開口された中空部8aに垂直型プロ−ブカ−ド10がリ
ングインサ−ト部材9を介して装着される。この垂直型
プロ−ブカ−ド10は、上記カセット35内においてプ
ロ−ブ針3の長手方向の先端(ウエハと接触する先端)
を下にして、更にプロ−ブ針3のXY方向(平面方向)
を規制し、Z方向(上下方向)に移動可能に収納されて
いる。
【0043】上記クリ−ニング装置6は、測定部4とプ
ロ−ブカ−ド10の専用カセット35との間の搬送路3
6内に設けられ、昇降手段17により昇降するようにな
っている。
【0044】次に動作について説明する。ウエハの種類
に応じたプロ−ブカ−ド10を専用カセット35から選
択し、この選択した垂直型プロ−ブカ−ド10を取出機
構(図示せず)で取り出し、測定部4のヘッドプレ−ト
8まで搬送する途中にクリ−ニング装置6の上方位置で
一時停止させる。その後、到達した垂直型プロ−ブカ−
ド10をクリ−ニング装置6でクリ−ニングし、終了
後、垂直型プロ−ブカ−ド10をヘッドプレ−ト8の中
空部に装着し、ウエハ1の検査を行う。上記第2の実施
例では、プロ−ブカ−ドを測定部まで搬送する際に、途
中のクリ−ニング装置でプロ−ブ針をクリ−ニングして
から測定部に装着し、プロ−ビングする。そのため、プ
ロ−ビング開始時に必ずクリ−ニング済なので安定した
検査が可能となり、作業の効率を向上させることができ
る。
【0045】次に、本発明の第3の実施例について説明
する。この第3の実施例は、図6に示すように複数の検
査ステ−ジ4a,4bを設け、各検査ステ−ジの垂直型
プロ−ブカ−ド10a,10bにクリ−ニング装置6を
導くハンドリング機構を設けたものである。つまり、単
一のクリ−ニング装置6で複数のプロ−ブカ−ドをクリ
−ニングできるウエハプロ−バを示している。
【0046】図6に示すように、上記ウエハプロ−バの
2箇所の測定部4a,4bに各々垂直型プロ−ブカ−ド
10a、10bが配設されている。この測定部4a、4
bにウエハ1をロ−デングする搬送機37が測定部4
a、4bに挟まれるように配置されている。さらに、ク
リ−ニング装置6を各垂直型プロ−ブカ−ド10a、1
0bまで移動させるハンドリングア−ム15の支柱15
dが搬送機37内に立設されている。この支柱15dを
軸にして、各垂直型プロ−ブカ−ド10a、10bの各
中心位置にクリ−ニング装置6を移動するように構成さ
れている。
【0047】この第3の実施例では、ハンドリングア−
ム15に設けられたクリ−ニング装置6は、制御部の指
令により各垂直型プロ−ブカ−ド10a,10bのうち
クリ−ニングが必要なものをクリ−ニングするようにな
っている。この第3の実施例では、単一のハンドリング
ア−ム15で複数のプロ−ブカ−ドをクリ−ニングでき
るので、複数の検査ステ−ジを有するウエハプロ−バを
小型化及び軽量化することができる。
【0048】次に、上記クリ−ニング装置の変形例につ
いて説明する。図7に示すようにこのクリ−ニング装置
は、プロ−ブ針を上にして載置される置台38と、クリ
−ニング装置6をXYZ方向に移動させる移動機構39
と、小筆のように直線状に固定されたブラシ40と、こ
のブラシの長手方向にエア−を直交または斜めに噴射す
るノズル41とで構成されている。そして、直線方向に
移動するエア−の噴射を制御するための手動弁42が設
けられている。
【0049】この変形例では、エア−を断続的に噴射す
る機構は第1の実施例と同じであるため説明を省略す
る。また、マイクロスコ−プ45を設けることによりプ
ロ−ブ針3のクリ−ニング状態を把握することができ
る。なお、本発明は上記実施例及び変形例に限定される
ことなく様々な態様で実施できることは当然のことであ
る。
【0050】
【発明の効果】以上詳細に説明したように請求項1に記
載の発明では、プロ−ブ針等の付着物を振動したブラシ
で擦り付着物を除去するので、プロ−ブカ−ドの耐久性
が5倍乃至6倍延びて効率的な検査が可能となる。しか
も検査の信頼性を向上させることができる。請求項2に
記載の発明では、上記ブラシの長手方向の遊端をプロ−
ブ針先端と対向して配置し、上記ブラシの長手方向と同
方向に配置したので、ブラシの振動はプロ−ブ針の周面
及びこのプロ−ブ針を支えているガイド部材の付着物を
均等に除去することができる。
【0051】請求項3に記載の発明では、ハンドリング
ア−ムでクリ−ニング装置をプロ−ブ針の位置まで移動
させクリ−ニングするので、作業性を向上させることが
できる。請求項4に記載の発明では、プロ−ブカ−ドが
収納される収納庫と測定部とが離れ、収納庫と測定部と
のプロ−ブカ−ドの搬送路内にクリ−ニング装置を設
け、プロ−ブカ−ド移動時にクリ−ニングするので、安
定したプロ−ビングが可能となる。
【0052】請求項5に記載の発明では、複数のステ−
ジ機構とこのステ−ジ機構のそれぞれに被測定体を導く
ロ−デイング機構を有するプロ−ブ装置において、単一
のクリ−ニング装置で複数のプロ−ブカ−ド機構をクリ
−ニングするので、プロ−ブ装置の小型化及びスル−プ
ットを向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1実施例に係わるクリ−ニング装
置を適用したウエハプロ−バの部分断面図。
【図2】図1に示すクリ−ニング装置の説明図。
【図3】図1に示すクリ−ニング装置の説明図。
【図4】(a)〜(c)は図1に示すクリ−ニング装置
の動作を示す説明図、(d)〜(g)は他の実施例の動
作を示す説明図。
【図5】本発明の第2の実施例に係わるクリ−ニング装
置の側面図。
【図6】本発明の第3の実施例に係わるクリ−ニング装
置の説明図。
【図7】本発明の第4の実施例に係わるクリ−ニング装
置の説明図。
【図8】従来のレンズクリ−ニング装置を示す説明図で
ある。
【符号の説明】
1…ウエハ 2…電極パッド 3…プロ−ブ針 4…測定部 5…ブラシ 5a…繊維束 5b…遊端 6…クリ−ニング装置 7…基台 8…ヘッドプレ−ト 10…垂直型プロ−ブカ−ド 11…載置台 12…XYステ−ジ 13…ロ−ダ 14…昇降機構 15…ハンドリングア−ム(移動手段) 16…制御部 17…昇降機構 17a…周調整機構 18…ブラシ機構 19…振動機構 20…クリ−ニング基台 21…固定金具 22…ガイド部材 23…風洞 24…エア−ガン 25…エア−供給機構 26…噴射口 27…吸引口 28…補助ノズル 29…整流羽 31…平行移動装置 32…ガイドレ−ル 33…移動部材 34…キ−ボ−ド 35…専用カセット 36…搬送路 37…搬送機 38…載置台 39…移動機構 40…ブラシ 41…ノズル 42…手動弁

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プロ−ブカ−ドに設けられたプロ−ブ針
    と対向して設けられたブラシと、このブラシに断続的に
    エア−を噴射して上記ブラシを振動させる振動機構とを
    備え、振動した上記ブラシと上記エア−により上記ブロ
    −ブカ−ドの付着物を除去することを特徴としたプロ−
    ブカ−ドのクリ−ニング装置。
  2. 【請求項2】 請求項1項記載のクリ−ニング装置にお
    いて、 上記ブラシの長手方向と上記プロ−ブ針の長手方向とを
    同方向に配置したことを特徴としたプロ−ブカ−ドのク
    リ−ニング装置。
  3. 【請求項3】 プロ−ブカ−ドを測定位置に配置し、プ
    ロ−ブ針を被測定体の電極に接触させて電気的特性を検
    査するプロ−ブ装置において、所定位置から請求項1項
    記載のクリ−ニング装置を上記測定位置まで移動させる
    移動手段を設け、上記プロ−ブカ−ドをクリ−ニングす
    ることを特徴としたプロ−プ装置。
  4. 【請求項4】 プロ−ブカ−ド収納部から選択されたプ
    ロ−ブカ−ドを取り出し、測定位置に配置し、電気的特
    性を検査する装置において、請求項1項記載のクリ−ニ
    ング装置を上記収納部と上記測定位置との間の搬送路に
    設け、プロ−ブカ−ド搬送時にクリ−ニングすることを
    特徴としたプロ−プ装置。
  5. 【請求項5】 被測定体を測定する複数の測定部と、こ
    の測定部のそれぞれに被測定体を導くロ−デイング機構
    とを有するプロ−ブ装置において、上記測定部のそれぞ
    れのプロ−ブカ−ドに請求項1項記載のクリ−ニング装
    置を単一のハンドリングア−ム機構で導き、この導かれ
    たクリ−ニング装置でそれぞれのプロ−ブカ−ドをクリ
    −ニングすることを特徴としたプロ−ブ装置。
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