JPH07159377A - 液体クロマトグラフと質量分析計の直結方法およびその装置、液体クロマトグラフ−質量分析方法、並びに液体クロマトグラフ結合型質量分析装置 - Google Patents

液体クロマトグラフと質量分析計の直結方法およびその装置、液体クロマトグラフ−質量分析方法、並びに液体クロマトグラフ結合型質量分析装置

Info

Publication number
JPH07159377A
JPH07159377A JP5308875A JP30887593A JPH07159377A JP H07159377 A JPH07159377 A JP H07159377A JP 5308875 A JP5308875 A JP 5308875A JP 30887593 A JP30887593 A JP 30887593A JP H07159377 A JPH07159377 A JP H07159377A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mass spectrometer
liquid chromatograph
mist
atmospheric pressure
under atmospheric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5308875A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3087548B2 (ja
Inventor
Yoshiaki Kato
義昭 加藤
Tadao Mimura
忠男 三村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP05308875A priority Critical patent/JP3087548B2/ja
Priority to US08/355,223 priority patent/US5581081A/en
Publication of JPH07159377A publication Critical patent/JPH07159377A/ja
Priority to US08/707,578 priority patent/US5859432A/en
Priority to US09/440,474 priority patent/US6339218B1/en
Priority to US09/499,318 priority patent/US6236042B1/en
Priority to JP2000113215A priority patent/JP3379510B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3087548B2 publication Critical patent/JP3087548B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns
    • H01J49/14Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
    • H01J49/145Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers using chemical ionisation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/62Detectors specially adapted therefor
    • G01N30/72Mass spectrometers
    • G01N30/7233Mass spectrometers interfaced to liquid or supercritical fluid chromatograph
    • G01N30/724Nebulising, aerosol formation or ionisation
    • G01N30/7246Nebulising, aerosol formation or ionisation by pneumatic means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/62Detectors specially adapted therefor
    • G01N30/72Mass spectrometers
    • G01N30/7233Mass spectrometers interfaced to liquid or supercritical fluid chromatograph
    • G01N30/7273Desolvation chambers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0431Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
    • H01J49/0445Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for introducing as a spray, a jet or an aerosol
    • H01J49/045Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for introducing as a spray, a jet or an aerosol with means for using a nebulising gas, i.e. pneumatically assisted
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0468Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components with means for heating or cooling the sample
    • H01J49/049Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components with means for heating or cooling the sample with means for applying heat to desorb the sample; Evaporation

Abstract

(57)【要約】 【目的】大気圧化学イオン化LC/MSにおいてクラス
ターイオンに由来する化学ノイズを減らし高感度測定を
行う。 【構成】噴霧流を機械的に撹拌,混合することにより霧
の均一化と微細化を行う。この結果、粒径の揃った微細
な液滴イオン化し、中間圧力部のイオン加速衝突により
効率良く脱溶媒することができる。 【効果】これによりクラスターイオンによる化学ノイズ
を大幅に低減でき、試料の高感度測定を達成できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液体クロマトグラフと
質量分析計を結合する結合装置及び結合方法、液体クロ
マトグラフ−質量分析方法、並びに液体クロマトグラフ
結合型質量分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】質量分析計(Mass Spectro meter,以下
MSと略す。)は、有機化合物の分子量や構造に関する
情報を与えてくれる高感度分析装置である。そのため、
有機化学,薬学及び生化学等の分野では欠くことができ
ない分析装置となっているかしかしながら、MSは混合
物の構成成分を分離識別することができず、混合物が分
析対象となっている場合は分析が困難であった。そこ
で、混合物の分離識別に優れている液体クロマトグラフ
(Liquid Chromatograph、以下LCと略す。)を用い、
溶媒に可溶であれば不揮発性物質,熱不安定物質,無機
化合物,有機化合物,低分子物質及び高分子物質等が容
易に分析可能である点を利用し、これらを結合分析する
液体クロマトグラフ直結質量分析装置(以下、LC/M
Sと略す。)が考えつかれた。
【0003】LCは分析対象となる試料を溶媒に混ぜ、
大気圧下でこの混合物を分離する装置である。一方、M
Sは高真空下でイオン化された試料を分析する装置であ
る。したがって、これらを結合するためには、LCの流
出液から溶媒を除き(脱溶媒)、さらに、脱溶媒されて残
った試料をイオン化し、高真空下の質量分析計に供給し
なければならない。LCとMSを結合するための技術
は、例えば、特公昭58−43692 号公報に記載されてい
る。この技術によれば、LCからの流出液を霧化し、こ
の霧を脱溶媒及びイオン化し、このイオン化された試料
(脱溶媒した流出液)を質量分析している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】液体クロマトグラフか
らの流出液が霧化されると、噴射流はスプレー状に広が
っていくが、この中心部付近は比較的に大きな液滴の霧
が集まり、また、周辺部付近は比較的に小さな液滴の霧
が集まる。これらの霧が移動するにつれて、中心部付近
の大きな液滴の霧は質量が大きく運動エネルギーが大き
いので、空気等の影響をあまり受けない。そのため、あ
まり気化せず、液滴径はあまり小さくならない。一方、
周辺部付近の小さな液滴の霧は質量が小さく運動エネル
ギーが小さいので、空気等の影響をまともに受ける。そ
のため、流体抵抗及び他の液滴等との衝突の繰り返しに
より、徐々に液滴径を小さくしていく。このように液滴
径が小さくなると、空気等の影響を大きく受けると共
に、移動速度が遅くなるので、影響を受ける時間が長く
なる。結果として、周辺部付近の小さな液滴はますます
気化が促進され液滴径を小さくする。
【0005】このように、液体クロマトグラフからの流
出液が霧化されるときに、移動に伴い、中心付近の大き
な液滴の霧はあまり液滴径を変えることなく、一方、周
辺付近の小さな液滴の霧はますます液滴径を小さくす
る。したがって、全体として、液滴径のばらつきは大き
くなっていく。
【0006】また、霧化されたクロマトグラフからの流
出液(試料と溶媒,混合液)をさらに微細化し、これを
脱溶媒する技術も知られている。液滴の微細化には構造
が簡単である加熱方式が良く使われている。すなわち、
気化器により液滴を加熱するものである。気化器はヒー
タを内蔵した金属ブロックなどで作られ、ほぼ均一に加
熱できるようにしてある。例えば、気化器は石英管にヒ
ータ線を巻きつけたような物である。噴出した噴霧流
(クロマトグラフからの流出液)は気化器に囲まれた気
化空間を通過中に気化器からの放射熱により加熱を受け
る。噴霧流の周辺流は中心流に比して壁面との摩擦によ
り移動速度が遅く、また気化器の壁面から近いためより
多くの熱の供給を受けることができる。すなわち、周辺
部の液滴は周囲の壁面から放出される赤外線を吸収し、
液滴の表面からの液体の気化が大いに促進され液滴の微
細化が促進される。赤外線の大半は周辺流の霧の微細化
に消費され霧の中心部に到達せず、中心部の液滴は十分
に加熱できない。そのため、噴霧,拡散により周辺部の
霧は液滴の径がもともと小さい上に、より多くの放射熱
の吸収により、周辺部の液滴の径は急速に減少する。逆
に、中心部により径の大きい液滴が集中する。そのた
め、噴霧流内の液滴径の分布幅は、霧の生成時点より気
化空間を移動する間に大きくなる。すなわち、加熱方式
により微細化するものにおいても周辺部は微細な霧が集
まり、中心部は大きな径の霧がより多く存在することと
なり、むしろ、液滴径の分布のばらつきは大きくなって
いる。
【0007】さて、霧化された流出液は、さらに、脱溶
媒される。例えば、熱を与えることにより、試料と溶媒
の混合液から、試料のみを抽出する。ところで、液滴径
の分布範囲(ばらつき)が広いと問題が生じる。特に、
巨大液滴が問題となる。すなわち、大きな液滴径のもの
を脱溶媒するために過酷な条件(過熱,高エネルギーよ
りイオンの加速衝突)で脱溶媒をおこなうと、確かに、
大きな液滴径の混合液から試料を抽出できるが、小さな
液滴径の混合液は脱溶媒を通り越して熱分解やフラグメ
ントイオン(断片イオン)となってしまい、分析できな
くなってしまう。一方、小さな液滴径のものが熱分解等
されないように緩和な条件(微熱,低エネルギーによる
イオンの加速衝突)で脱溶媒をおこなうと、今度は、大
きな液滴径の混合液の脱溶媒が不充分となり、これがM
Sに導入されるとノイズとして検出されることとなり、
分析感度が低下する。
【0008】本発明の目的の一つは、熱分解等の試料の
損傷を避けつつも、高感度の質量分析を得ることにあ
る。
【0009】ここで、LC/MSインターフェイスの中
で大気圧イオン化(Atmospheric Pressure Ionization
以下APIと略する。)が広く用いられるようになって
きた。このAPIについて説明する。APIでは、液体
クロマトグラフからの流出液を、エレクトロスプレイ
(Electrospray以下ESIと略す。)等の手法により、
大気圧下でイオン化する。生成したイオンは中間圧力室
と呼ばれる室に導びかれる。中間圧力室は真空ポンプで
排気されている大気圧から真空に圧力変化があると、中
間圧力室に導入されたイオンは圧力の急激な低下により
断熱膨張され急激に冷却される。これによりイオンは水
等の極性分子が付加したクラスターイオンを作る。この
クラスターイオンは質量分析をおこなうため脱溶媒され
る。例えば、クラスターイオンにイオンドリフト電圧を
かけ、これにより、加速し中性分子と衝突を繰り返すよ
うにして、この衝突のエネルギーを内部に取り込み、付
加した極性分子を取り除くのである(衝突解離による誤
溶媒)。
【0010】クラスターイオンを充分に脱溶媒しないと
化学ノイズが発生する。この化学ノイズについて説明す
る。
【0011】一般に、マススペクトルを座標にとると、
マススペクトルの横軸は質量対電価比(m/z)であ
り、縦軸はイオン電流値になる。マススペクトル上にP
1からP6まで等間隔にピークが出現することがある。
このピークがクラスターイオンによる化学ノイズであ
る。組成Mに水が付加したもの、すなわち、クラスター
イオンは(M+nH2O)で示される。水を移動相に用
いた場合MはH3Om/z19である。そのためマスス
ペクトル上19,37,55,73、のようにm/z18
ごとに水のクラスターイオンによるノイズが強度高く多
数出現する。試料の分子イオンにも水分子が付加しノイ
ズが出現することがある。この場合一つのイオン種がい
くつかのイオン種に分散されるため、本来の検出対象で
あるはずの分子イオンのイオン電流値は低くなる。これ
らイオンの他、広い質量範囲に渡り連続的にイオンが検
出される。これは、クラスターイオンが中間圧力室や質
量分析部などを飛行している間に付加分子の蒸発等が行
われ正確な質量分析が行われずに検出器に到達したクラ
スターイオンと考えられる。試料の分子イオンを除きこ
れらイオンは分析に悪影響を及ぼし、分子イオンの識別
を妨げるのである。これらを総称して化学ノイズと呼
ぶ。これらクラスターイオンの出現を押さえるために
は、イオン化に霧の加熱を徹底的に行い試料や溶媒の気
化を完全にしたり、インターフェイス全体を加熱すれば
良い。現在大気圧化学イオン化等のシステムで用いられ
ているガス噴霧,加熱噴霧,超音波噴霧などの噴霧手段
では霧の液滴の径は、例えば、100μmから1μm程
度のように広く分布する。そのため、このような条件の
もとでは、大きな径の液滴まで全て加熱により気化させ
ようとすると、小さな径の液滴は気化後長時間熱を受け
続けることになる。この過剰な加熱は試料分子の熱分解
を招き、試料の分子量,構造情報がすべて欠落にしな
い、検出対象である試料を質量分析できなくなり、LC
/MSとして分析ができなくなってしまう事になる。
【0012】前述のごとく、クラスターイオンは分子量
の把握を妨げたり、化学ノイズを増加させるなど分析の
妨げとなる。しかし反面、分子又はイオンに付加した多
数の水等の分子は周囲からの熱の影響を分子、またはイ
オンに直接伝わるのを防ぎ、熱分解を防ぐ効果がある。
加えられた熱はクラスターイオンや液滴からの付加分子
の気化に消費され、分子またはイオンの温度上昇を妨げ
熱分解を防ぐことになる。霧は液滴と気体の混合物であ
る。そのため、霧を加熱しても熱は液滴表面からの溶媒
の気化に消費され霧の温度は上昇しない。これにより、
LCから送られてきた熱不安定物質も霧の状態で安定に
大気圧イオン源に送りこめる。この理由からも、霧の過
剰な加熱はできない。
【0013】クラスターイオンによる化学ノイズを減ら
し、かつ試料分子の熱分解を防ぐために、加熱部の精密
な温度制御が試みられたが、測定対象ごとに最良点探す
操作が必要になり、測定の煩わしさを著しく増大させる
ことになる。液体クロマトグラフィーにおいては種々の
方式が用いられ、使用する溶媒も水100%から有機溶
媒100%までと幅が広い。また、溶媒に塩や酸を入れ
たり、バッファ溶液を移動相に用いることは頻繁に行わ
れている。このような場合、気化器の温度制御も移動相
ごと、移動相の組成毎に制御することは困難で、LC/
MSの応用を大幅に制限することになる。
【0014】また、クラスターイオンや中性の液滴など
の大きさがまちまちとなり、時に巨大液滴が入り込んだ
りすると、加熱やイオンの加熱衝突などによる中間圧力
室における脱溶媒も不十分になる。ここで過酷な条件
(過熱,高エネルギーによるイオンの加速衝突)で脱溶
媒を行えば、大きなクラスターは脱溶媒が十分となる
が、小さいクラスターは熱分解や、フラグメントイオン
(断片イオン)となってしまう。緩和な条件で脱溶媒を
行えば、大きなクラスターや液滴は脱溶媒不十分とな
る。結局、全体として測定は不安定になる。また、電荷
を持った大きな液滴や中性の液滴はMSに導入される
と、中間圧力室や質量分析部を飛行する間に気化が絶え
ず行われ検出器に前述の化学ノイズとして検出される。
また、大量のクラスターイオンが広範な質量領域に出現
し本来の試料成分のイオンをマスクしてしまう。この結
果ノイズレベルが大幅に持ち上がり、もはや高感度分析
は不可能になる。
【0015】本発明の目的は、試料分子の高温加熱を避
け熱分解を防ぎ良質なマススペクトルを与えるととも
に、クラスターイオンの出現を押さえ安定かつ高感度L
C/MS測定を可能にすることにある。
【0016】ここで、LC/MSインターフェイスで応
用面の広さ及び安定性等の点から、大気圧イオン化の中
でも、特に、大気圧化学イオン化(Atmespheric Pressu
reChemical Ionization、以下APCI と略す。)が注
目され、広く用いられるようになってきた。APCIに
ついては、例えば、アナリティカル ケミストリー(An
alytical Chemistry )、Vol.62,No.13(199
0)P713A− P725A及びジャーナル オブ
クロマトグラフィク サイエンス(Journal ofChromato
graphic Science).Vol.29(1891)P357〜3
66に記載されている。APCIでは、液体クロマトグ
ラフからの流出液(試料と溶媒の混合液)を大気圧下で霧
化し、さらに、この霧を3〜5kV程度の高電圧のコロ
ナ放電(コロナ放電用針電極)のもとにさらす。これに
より、まず、溶媒分子がイオン化される。生成したイオ
ンは、次に、試料分子とイオン分子反応を繰り返し、最
終的に、試料分子がイオン化される。なお、イオン化さ
れた試料は高真空下の質量分析計に導かれ、質量分析さ
れる。
【0017】液体クロマトグラフからの流出液は霧化さ
れてコロナ放電用針電極近傍に供給されるが、上述のよ
うにこの霧の液滴径に大きなばらつきがあると、複雑な
流れを作る。このために、コロナ放電用針電極周辺の霧
の流れが絶えず変化する。これにより、イオン分子反応
が不安定になり、イオン化された試料を質量分析計に安
定的に供給できなくなる。
【0018】また、APCIにおいても、液体クロマト
グラフの流出液の霧を加熱し微細化することは、その後
のイオン分子反応の促進に有効である。しかし、この場
合には、上述のように、噴霧流に大きな密度差(液滴の
径のばらつき)と共に温度差が生じる。この温度差をも
った噴出流がコロナ放電用針電極近傍に供給されると、
コロナ放電用針電極の周囲の温度が絶えず変化し、やは
り、イオン分子反応が不安定になる。このため、イオン
化された試料を安定的に質量分析計に供給できなくな
り、高感度は分析が不可能となる。
【0019】本発明の目的の一つは、液体クロマトグラ
フからコロナ放電用針電極に供給する流出液の霧を安定
させ、これにより、試料と溶媒のイオン分子反応を安定
させて、高感度のLC/MS測定を可能とすることにあ
る。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、液体クロマトグラフからの流出液を霧
化し、この霧を脱溶媒及びイオン化し、これを導いて質
量分析するものにおいて、さらに、霧を混合するように
した(第1の構成)。
【0021】上記目的を達成するために、本発明では、
液体クロマトグラフからの流出液を大気圧下で霧化及び
イオン化し、これを脱溶媒し、高真空下で質量分析する
ものにおいて、霧を混合するようにした(第2の構
成)。
【0022】上記目的を達成するために、本発明では、
液体クロマトグラフからの流出液を霧化し、この霧を脱
溶媒及びイオン化し、これを導いて質量分析するものに
おいて、さらに、霧の一部を選択するようにして脱溶媒
又はイオン化するようにした(第3の構成)。
【0023】上記目的を達成するために、本発明では、
液体クロマトグラフからの流出液を霧化し、この霧を加
熱し、加熱した霧を脱溶媒及びイオン化し、これを導い
て質量分析するものにおいて、加熱の熱源の熱を伝導し
て霧をさらに加熱する手段を有するようにした(第4の
構成)。
【0024】上記目的を達成するために、本発明では、
液体クロマトグラフからの流出液を大気圧下で霧化し、
この霧をコロナ放電によりイオン化し、さらに脱溶媒
し、高真空下で質量分析するものにおいて、霧を混合す
るようにした(第5の構成)。
【0025】
【作用】本発明、特に第1及び第2の構成によれば、例
えば、霧の流れの方向を機械的に変えることにより、霧
を混合させ中心部の大きな液滴の気化を促進し、微細化
を図る。これは、特に、周囲流が高温であれば、より促
進される。この時、また周囲流と中心流が機械的に入れ
替わり周囲の加熱壁面から放射される赤外線を霧全体で
均一に、かつ効率良く吸収し霧の微細化が行われる。
【0026】また、噴霧流の中に置いた物体の後方に発
生する乱流により霧の混合をより効果的に行うことがで
きる。これは、霧の撹拌のほか乱流の機械的力による液
滴の微細化が促進される。
【0027】また、霧を一度分け、再度混合すること
で、霧の温度の均一化,微細化ができる。
【0028】均一,微細な液滴をイオン化した後にMS
へ導入することにより、中間圧力部における加速衝突解
離によるクラスターイオンの脱溶媒が効率良く行われ
る。これにより、クラスターイオンに由来す化学ノイズ
を大幅に低減できる。以上の結果、安定で、かつ高感度
LC/MS分析を可能にする。
【0029】また、特に、第3の構成によれば、微細な
液滴の存在比の高く温度の高い噴霧流の周辺流を選択的
に例えば大気圧イオン源に取り込み、イオン化する。ま
た、生成したイオン(クラスターイオンを含む)は中間
圧力部に取り込まれイオンドリフト電圧による加速衝突
解離により効率良く脱溶媒が行われる。
【0030】温度が少しでも高いことは断熱膨張による
冷却を緩和し、脱溶媒を効果的にする。その結果クラス
ターイオンに由来する化学ノイズを大幅に低減でき高感
度分布が可能となる。またグラジェント分析などにより
溶媒の組成が時々刻々変化しても溶液が微細化された周
辺部のみをイオン化し取り込んでいるため、中間圧力室
における脱溶媒が効率良く行われる。
【0031】また、特に第4の構成によれば、例えば、
噴霧流を機械的に細分化するとともに加熱壁面の面積を
大幅にふやすことにより、加熱壁面からの放出される赤
外線が噴霧流内部まで効率良く吸収されるようにするこ
とができる。この結果、霧の液滴の微細化,均一化、ま
た温度の均一化が達成できる。
【0032】これにより、特に、中間圧力部における加
速衝突解離が効率良く行われ、クラスターイオンに由来
する化学ノイズを大幅に低減できる。その結果、安定で
高感度分析を可能にすると共に、溶媒組成が常に変化す
るグラジェント分析の際も安定な測定を提供できるよう
になる。
【0033】また、第5の構成によれば、例えば、霧の
流れを機械的に変えることにより、霧を混合させ中心部
の液滴の気化を促進し、微細化を図る。このため、コロ
ナ放電用針電極に供給される霧の流れが安定し、試料と
溶媒の化学イオン化が安定する。これにより、質量分析
計に安定時にイオン化された試料を供給でき、結果とし
て、感度が向上する。
【0034】
【実施例】以下に本発明の各実施例を図を用いて説明す
る。
【0035】〔実施例1〕図1は本発明の一実施例に係
わるLC/MS(含インターフェイス)を示す説明図で
ある。図2は噴霧器,気化器部分の拡大図を示してい
る。図1及び図2において、1は試料成分を分離するた
めの移動相、2はポンプ、3は試料溶液を注入する試料
注入口、4は分析カラム、6は噴霧器、7は大気圧の噴
霧空間、8は気化器、81はヒータ、82は螺旋状挿入
棒、9は気化空間、10は高電圧が印加されたコロナ放
電用針電極、11は大気圧化学イオン源部、14はイオ
ンサンプリングのための第一細孔、15は中間圧力部、
16は第二細孔、17は中間圧力部を排気する真空ポン
プ、18は質量分析部、19は検出器、20は直流増幅
器、21はデータ処理部、22は質量分析部を排気する
真空ポンプ、30は噴霧流の中心軸、31は噴霧流の周
辺流を各々示している。
【0036】図1において、移動相槽に蓄えられた移動
相1(溶媒)はポンプ2で送り出される。試料溶液はマ
イクロシリンジなどにより試料注入口3から注入され、
連続的に流れる移動相1により分析カラム4に送られ
る。送りこまれた試料は、分析カラム4で成分毎に分離
され溶出してくる。溶出した成分は配管を経由し噴霧器
6に送られる。
【0037】噴霧器には種々のものがある。ここでは図
2(a)に熱噴霧例を示す。噴霧器6は内径0.1mm 程
度の金属キャピラリー61とこれを取り囲むヒートブロ
ック62とヒータ63及び温度センサー64などで構成
される。噴霧器6の金属キャピラリー61は、ヒータ6
3と温度センサー64によって加熱制御されたヒートブ
ロック62を通して、加熱される。溶出液は金属キャピ
ラリー61に送られ一気に200℃程度に加熱され、金
属キャピラリー61の先端から大気圧の噴霧空間7に霧
として噴出される。この噴霧流は噴霧空間7を経て次第
に拡散しながら加熱された気化器8の気化空間9に侵入
する。この拡散のときに周囲からの加熱により周辺部3
1には微細な液滴が集まり、中心部30には大きな径の
液滴がより多く存在することとなる。なお、この現象の
詳細は後述する。再び、図1に戻り、気化器8を通過し
た霧は大気圧イオン源部11に入る。ここで3から5k
V程度の高電圧が印加されたコロナ放電用針電極の先端
部から発生するコロナ放電により溶媒分子が先ずイオン
化される。生成したイオンはその後試料とイオン分子反
応を繰返し、最終的に試料分子をイオン化する。イオン
は第一細孔14から中間圧力部15に導入される。この
ときに、大気圧から中真空に圧力が変化し、イオンは冷
却され、クラスターイオンが生じる。ここで第一隔壁1
41と第二隔壁161に印加されたドリフト電圧Vによ
りクラスターイオンは加速され、中性分子に衝突する。
この衝突を多数回繰返し、この衝突のエネルギーの一部
を取り込みイオンは加熱され付加した分子を脱離させる
(衝突解離による脱溶媒)。均一かつ微細な液滴(クラ
スターイオン)はここで効率良く脱溶媒される。脱溶媒
された裸のイオンは第二細孔16から質量分析部18に
入る。ここで、質量分散を受け検出器19により検出さ
れ、直流増幅器20を経てデータ処理器21によりマス
スペクトルを与える。
【0038】ここでAPCIのLC/MSインターフェ
イス部の基本的に構成について説明する。
【0039】APCIのLC/MSインターフェイス部
は主に(1)噴霧手段,(2)霧の微細化手段,(3)
イオン化手段,(4)クラスターイオンの脱溶媒手段,
(5)イオンのMS部への取り込み手段などで構成され
る。
【0040】(1)噴霧 溶液(クロマトグラフからの
流出液/試料及び溶媒の混合液)は噴霧器6においてガ
ス流,加熱や超音波振動などの助けにより大気圧の噴霧
空間7に噴霧される。噴霧は液体中に存在する多くの熱
不安定物質を安定に気相に移す良い手段である。霧は気
体と液体が混在したものである。霧を加熱しても霧が完
全に気化し気体になるまで熱は溶媒の気化熱に消費され
るため、霧の温度は上がらない。そのため、熱不安定物
質を安定に気相に移すことができるという利点がある。
分析カラム4からの溶出液は金属キャピラリー61に送
られ一気に200℃程度に加熱され、金属キャピラリー
61の先端から大気圧の噴霧空間7に霧として噴出され
る。この霧は噴霧空間7を経て次第に拡散しながら加熱
された気化器8の気化空間9に侵入する。一般に、金属
キャピラリー61から噴出する霧の液滴径は100μm
から1μmまで広く分布している。気化した分子や微小
液滴の拡散速度は比較的大きな液滴のそれに比して大き
いため、結果として、それら微小液滴は噴霧流の周辺部
31に多く存在する。逆に噴霧流の中心部30付近は大
きな液滴が存在することとなる。この様子は図2(a)
に示される。
【0041】(2)霧の微細化 100μm程度の巨大
な液滴はイオン化を妨げ、その後の過程で化学ノイズの
原因となる。そのため、大きな液滴はイオン化の前まで
に十分微細化されている必要がある。液滴の微細化には
例えば構造が簡単である加熱方式が良く使われている。
また、この加熱は中間圧力室15における断熱膨張によ
る冷却度合いを未然に減らす効果がある。図2に示すよ
うに、気化器8はヒータ81を内蔵した金属ブロックな
どで作られ、例えば直径5mm,長さ50mm程に穿った気
化空間9をほぼ均一に加熱できるようにしてある。ま
た、気化器8は図3に示すように、長さ50mm,内径5
mm程度の石英管50にヒータ線49を巻きつけたような
物でも良い。気化空間9は霧がスムーズに大気圧イオン
源11に到着するよう直線的に作られる。金属キャピラ
リー61から噴出した噴霧流は気化空間9の通過中に気
化器8からの放射熱により加熱を受ける。ここで、噴霧
流の周辺流31は中心流30に比して壁面との摩擦によ
り移動速度が遅く、また気化器9の壁面から近いためよ
り多くの熱の供給を受ける。すなわち、周辺部31の液
滴は周囲の壁面から放出される赤外線を吸収し、液滴の
表面からの液体の気化が多いに促進され液滴の微細化が
促進される。一方、中心部30については、赤外線の大
半は周辺流の霧の微細化に消費され霧の中心部に到達せ
ず、中心部30の液滴は十分に加熱されない。
【0042】このように、噴霧,拡散により周辺部の霧
は液滴の径がもともと小さい上に、より多くの放射熱の
吸収により、周辺部31の液滴の径は急速に減少する。
逆に、中心部30にはより径の大きい液滴が集中する。
そのため、噴霧流内の液滴径の分布幅(ばらつき)は、
霧の生成時点から気化空間9を移動するにつれて大きく
なる。すなわち、周辺部31は温度が高くかつ微細な霧
が集まり、中心部30は温度が低く、大きな径の霧がよ
り多く存在するようになる。この様子は図2(a)及び
図2(b)に示されている。
【0043】(3)イオン化 気化器8を通過した微細
な霧と気化した溶媒分子は混合状態で大気圧イオン源部
11に入る。ここで3から5kVの高電圧が印加された
コロナ放電用針電極10の先端部から発生するコロナ放
電により溶媒分子が先ずイオン化される。生成したイオ
ンはその後試料分子とイオン分子反応を繰返し、最終的
に試料分子をイオン化する。
【0044】(4)クラスターイオンの脱溶媒 生成し
たイオンは、大気圧イオン源11の一壁面を構成し気化
器8の反対面に設けられた隔壁141の中央付近に開け
られた第一細孔14から、真空ポンプ17で排気された
中間圧力部15に導入される。導入されたイオンは圧力
の急激な低下による断熱膨張によって急激に冷却され、
水などの極性分子が付加したクラスターイオンを作る。
このクラスターイオンは隔壁141と161の間に印加
されたイオンドリフト電圧Vにより加速され中性分子と
衝突を繰り返す。この衝突のエネルギーの一部が内部に
取り込まれクラスターイオンは加熱され、付加した分子
を取り除かれる。これを衝突解離による脱溶媒とよぶ。
なお、中間圧力室15に侵入した分子量の小さな分子は
拡散し真空ポンプ17で排気される。
【0045】(5)イオンのMS部への取り込み 脱溶
媒されたイオンは次に隔壁161の中央付近にあけられ
た第二細孔16から質量分析部18に入る。ここで、質
量分散を受け検出器19により検出され、直流増幅器2
0を経てデータ処理器21によりマススペクトルを与え
る。
【0046】次に、クラスターイオン及び化学ノイズに
ついて説明する。
【0047】マススペクトル上に、試料に基づくイオン
以外に化学ノイズが現れることがある。図4にマススペ
クトル上に出現する化学ノイズの例を示す。一般に、マ
ススペクトルの横軸は質量対電価比(m/z)であり、
縦軸はイオン電流値である。マススペクトル上にP1か
らP6まで等間隔に出現しているピークはクラスターイ
オンである。P1のイオンの組成がMとしまた水が付加
したものとすると、P2からP6のクラスターイオンは
(M+nH2O)で示される。水を移動相に用いた場合M
はH3O m/z19である。そのためマススペクトル上
19,37,55,73、のようにm/z18ごとに水
のクラスターイオンが強度高く多数出現することがあ
る。試料の分子イオンPm1にも水分子が付加しPm
2,Pm3が出現することがある。
【0048】この場合一つのイオン種Pm1がいくつか
のイオン種に分散されるため、本来の分子イオンPm1
のイオン電流値は低くなる。これらイオンの他、広い質
量範囲に渡り連続的にイオンが検出される。これは、ク
ラスターイオンが中間圧力室15や質量分析部18など
を飛行している間に付加分子の蒸発等が行われ正確な質
量分析が行われずに検出器に到達したクラスターイオン
と考えられる。試料の分子イオンPm1を除きこれらイ
オンは分析に悪影響を及ぼし、分子イオンPm1の識別を
妨げる。これらを総称して化学ノイズと呼ぶ。
【0049】これらクラスターイオンの出現を押さえる
ためには、イオン化に霧の加熱を徹底的に行い試料や溶
媒の気化を完全にしたり、インターフェイス全体を加熱
すれば良い。現在大気圧化学イオン化等に用いられてい
るガス噴霧,加熱噴霧,超音波噴霧などの噴霧手段では
霧の液滴の径は例えば100μmから1μm程度に広く
分布する。そのため、大きな径の液滴まで全く加熱によ
り気化させようとすると、小さな径の液滴は気化後長時
間熱を受け続けることになる。この過剰な加熱は試料分
子の熱分解を招き、試料の分子量,構造情報がすべて欠
落してしまい、事実上、LC/MSとして分析ができな
くなってしまう。
【0050】このように、クラスターイオンは分子量の
把握を妨げたり、化学ノイズを増加させるなど分析の妨
げとなる。しかし反面、分子又はイオンに付加した多数
の水等の分子は周囲からの熱の影響を分子、またはイオ
ンに直接伝わるのを防ぎ、熱分解を防ぐ効果がある。ま
た、加えられた熱はクラスターイオンや液滴からの付加
分子の気化に消費され、分子またはイオンの温度上昇を
妨げ熱分解を防ぐ。霧は液滴と気体の混合物である。そ
のため、霧を加熱しても熱は液滴表面からの溶媒の気化
に消費され霧の温度は上昇しない。これにより、LCか
ら送られてきた熱不安定物質も霧の状態で安定に大気圧
イオン源に送りこめる。この理由からも、霧の過剰な加
熱はできない。
【0051】また、クラスターイオンによる化学ノイズ
を減らし、かつ試料分子の熱分解を防ぐために、加熱部
の精密な温度制御が試みられたが、測定対象ごとに最良
点探す操作が必要となり、測定の煩わしさを著しく増大
させることになる。液体クロマトグラフィーにおいては
種々の方式が用いられ、使用する溶媒も例えば水100%
から有機溶媒100%までと幅が広い。また、溶媒に塩
や酸を入れたり、バッファ溶液を移動相に用いることは
頻繁に行われている。このような場合、気化器の温度制
御も移動相ごと、移動相の組成毎に制御することは困難
で、LC/MSの応用を大幅に制限することになる。
【0052】ところで、霧を均一化するためには噴霧流
の方向を機械的に変え、高温の周囲流と比較的低温な中
心流を混合し液滴の気化の促進を図れば良い。また噴霧
流の方向を機械的に変えることにより、中心流と周辺流
が入れ替わり、気化空間壁面から放出される赤外線を噴
霧流内部まで届くようにできる。この点については、後
に詳細に説明する。
【0053】次に気化器8の詳細を説明する。
【0054】図1において、気化器8の中心に穿たれた
円筒上の気化空間9に流体のガイドとなる螺旋状の挿入
棒82に挿入する。これにより、気化空間9は螺旋状に
形作られる。まず、噴霧器6から噴霧された霧(クロマ
トグラフから流出液)はこの加熱された螺旋状の気化空
間9に侵入する。霧は螺旋上の挿入棒に沿って絶えずそ
の流れの方向を変える。霧の流れはもはや層流とならず
霧を構成する流れが絶えず加熱された壁面に接近し加熱
される。また、絶えず霧が撹拌,混合されるため、霧の
液滴の微細化が行われる。このように、加熱は十分に行
われるため気化器8の設定温度は低くできる。これによ
り、熱不安定物質の熱分解を防ぐことができる。
【0055】この螺旋上の気化空間9の採用により均一
でより微細な霧を作ることができる。このように微細な
イオン化の霧を第一細孔14,第二細孔16からイオン
を質量分析部に導入することにより、中間圧力室内でイ
オンの加速衝突により効率良く付加分子の脱溶媒が効率
よく行われる。また、径の大きな液滴が質量分析部に導
入されることを防ぐことができるため、化学ノイズを大
幅に低減できる。その結果図5に示すようにマススペク
トルを得ることができる。この図が容易に理解できるよ
うに水など移動相に由来するクラスターイオン(図4の
P1からP6)及び化学ノイズは消滅する。一方分子イ
オンはクラスターイオンの脱溶媒が進むので、付加分子
を剥ぎ取ることによりそのイオン電流値を増やすことが
できる。すなわち、図4のピークPm1からPm3まで
のイオン電流値をピークPm1に集約することができ
る。結果として分子イオンを高感度に識別できるように
なる。
【0056】加熱空間9はステンレススチール製のヒー
トブロック8にドリルなどで加工して作ることができ
る。これに、ステンレススチール製の螺旋状挿入棒を挿
入すれば良い。螺旋は、一重でも二重でもそれ以上のも
のでも良い。螺旋棒の代わりに気化空間9の内周より僅
かに小さな丸棒にネジを切ったものを挿入棒として使う
こともできる。挿入棒は霧が凝縮することを防ぐために
熱伝導性の材料を作られることが好ましい。さらに、こ
の挿入棒に小形のヒータを内蔵すれば霧を内部から加熱
でき、霧の微細化が加速される。また、自由に取り出し
掃除ができるようにすれば汚染などを未然に防ぐことが
できる。
【0057】〔実施例2〕次に、本発明の他の実施例に
係るLC/MSを説明する。
【0058】図6(a)及び(b)はこの実施例に係る
LC/MSの気化器8部分の説明図である。なお、他の
部分は実施例2と同様であるので、説明を省略する。ま
た、以下、他の実施例についても同様の部分は説明を省
略する。本実施例において試料溶液の噴霧及び気化器8
への導入、また大気圧化学イオン源11におけるイオン
化の後MS部18への導入は前記実施例と同じである。
図6(a)は気化器8の断面図である。実施例1では噴
霧流のガイドのため、螺旋状の挿入棒を気化空間9全体
に挿入した。本実施例では、図6(b)に示すように気
化空間9の一部に置く流体ガイドを示す。この図におい
て、気化器8の中心部に作られた気化空間9のなかに流
体ガイド83を置く。この流体ガイド83は互いに捻じ
れたプロペラ状の複数のフィン85とそれら固定する筒
84等で作られる。噴霧6から噴霧された霧はフィン8
5により気化空間9内に螺旋状の流れを作る。これによ
り、加熱の均一化,霧の微細化が行われる。流体ガイド
83を二個以上気化空間9内に置くこともできる。
【0059】〔実施例3〕次に、本発明の他の実施例に
係るLC/MSを説明する。
【0060】図7(a)及び(b)はこの実施例に係る
LC/MSの気化器8部分の説明図である。図7(a)
は気化器8の断面図である。本実施例において試料溶液
の噴霧及び気化器8導入、また大気圧化学イオン源11
におけるイオン化の後MS部18への導入は前記実施例
と同じである。図7(b)に示されるように、気化空間
9に混合器86を置く。混合器86はその中心に混合部
88の穴があけられている。複数の導入穴87が混合器
の外周から混合部88の穴に向け通じている。噴霧6か
ら噴霧された霧は気化空間9に入り加熱される。良く加
熱された霧の外周部はすぐに混合器86の外周に開けら
れた導入穴87を通り混合部88に達する。霧の中心流
は混合器86の壁面に沿って移動し導入穴87を通り混
合部88に達する。このように、中心流は気化器8の内
周部近傍を通り温度の低い中心流ゆっくりと移動して加
熱を受けることができる。さらに、混合器88に置ける
混合により加熱の均一化,霧の微細化進行する。混合器
86の構造はこの図以外に自由に作ることができる。周
辺流と中心流を別々に取り込み一ケ所で混合すれば他の
形状でも良い。
【0061】この混合器86は外部から気化空間9に挿
入,排除ができるようにすれば、クリーニングが簡単に
できる。
【0062】〔実施例4〕次に、本発明の他の実施例に
係るLC/MSを説明する。
【0063】図8はこの実施例に係るLC/MSの気化
器8部分の説明図である。本実施例において試料溶液の
噴霧及び気化器8導入、また大気圧化学イオン源11に
おけるイオン化の後MS部18への導入は前記実施例と
同じである。図8は気化器8の断面図である。この実施
例では、気化器8の内部に流路が曲がった気化空間9を
形成する。噴霧器6から噴霧された霧はこの加熱された
気化空間9に侵入する。霧は曲がった気化空間9に沿っ
てその流れの方向を変える。霧は進行方向とは異なる方
向に力を受け、霧を構成する周辺流と中心流が入れ替わ
り加熱された壁面に接近し加熱される。これにより、霧
の均一な加熱ができ、霧の微細化が達成できる。
【0064】図8の場合気化空間は90°に描かれてい
るが、その他の角度でも構わない。図9のように気化器
8に直交した気化空間9を形成して用いても良い。ま
た、曲がった気化空間を複数組み合わせても良い。ま
た、湾曲した気化空間9は、図10に示すように金属性
の管を湾曲させ、気化器8のブロックに穿たれた穴に挿
入した後銀臘92などで溶接して作ることもできる。
【0065】また、図11のように気化器8に軸の違っ
た二つの穴を穿ち気化器ブロック内で連結させても良
い。また穴の穿たれた二つ以上の気化器ブロックを穴の
軸がずれるようにして組み上げて作ることもできる。
【0066】〔実施例5〕図12は本発明の一実施例に
係るLC/MS(含インターフェイス)を示す説明図で
ある。図13は乱流発生板を示している。本実施例にお
いて試料溶液の噴霧,気化器8導入、また大気圧化学イ
オン源11におけるイオン化の後MS部18への導入は
前記実施例と同じである。
【0067】まず、乱流発生板の基本的機能を説明す
る。図14に示すように、流体の中に物体46を置く
と、物体46の後に負圧が生じる。これを補うため流体
は廻り込み渦32を作る。物体46の後方の両側に次々
に渦32は作られる。これは“カルマン渦”として知ら
れている。この渦を利用して霧の混合,微細化を行うこ
とができる。
【0068】すなわち、図12,図15のように気化空
間9内に乱流発生板40を置く。この乱流発生板40は
図13に示すような構造をしている。加熱空間9の中心
点42からある円周上に複数の小さい貫通孔が設けられ
ている。乱流発生板40は厚み1から5mml 程度のステ
ンレススチールなどの円盤などでつくることがある。乱
流発生板40を設置すると、例えば、図15のように霧
は加熱空間9内に設置された乱流発生板40に妨げられ
た後、複数の貫通孔を通過し下流方向に乱流32を形作
る。噴霧器6に供給される溶液の流量は、例えば1ml/
min 程度であり、気化した場合、例えば、1000ml/
min となる。これだけ大流量のガス(霧)を例えば、内
径数mm、長さ50mm程度の気化空間9を通過するため、
微細な液滴は気化した溶媒の流れに乗り乱流発生板40
に衝突せず貫通孔41を通過する。貫通孔41を通過し
た流れは乱流発生板40の下流に乱流(渦)32を作
る。この乱流32により、温度が高く微細な液滴の集ま
った周辺流31と、より温度の低く大きな液滴が集まっ
た中心流30が、機械的に撹拌される。これにより噴霧
流の温度の均一化が図れ、大きな液滴の気化が促進され
る。また、複雑な気体の流れにより大きな液滴が機械的
に引き裂かれ、また、微細化が促進される。このよう
に、乱流発生板40の通過により、霧は一気に微細化,
均一化される。さらに、気化器8を通過し微細化された
霧は大気圧イオン源部11に入りイオン化される。
【0069】加熱空間9はステンレススチール製のヒー
トブロック8に直径5mm,長さ50mm程度の丸孔穿って
簡単に作ることができる。乱流発生板40は加熱空間9
の入り口から40mm程度のところに設ければ良い。汚れ
を防ぐため、この乱流発生板40は熱伝導度の良い材料
で作成され気化器8とほぼ同じ温度に保てるようにす
る。また乱流発生板40は、図15に示したように固定
ネジ43で気化器8に固定し、測定を繰返し汚れた場合
取外し洗浄できるようにすれば良い。
【0070】〔実施例6〕次に、本発明の他の実施例に
係るLC/MSを説明する。
【0071】図16は本発明の他の実施例に係るLC/
MSの気化器8部分の説明図である。本実施例において
試料溶液の噴霧,気化器8導入、また大気圧化学イオン
源11におけるイオン化MS部への導入は前記実施例と
同じである。
【0072】本実施例では、気化空間9の下流部の気化
器8に孔を穿ちネジ48を挿入する。ネジ48は充分な
長さを持ち気化空間9の下の壁面に達することができる
ようにしてある。またネジ43の径は気化空間9の径よ
り小さくネジ43を完全に締め付けても、気化空間9に
十分隙間ができるようにする。霧は気化空間9に侵入し
気化器8の壁面からの赤外線により加熱される。霧はネ
ジ48を迂回しネジ48の下流に乱流(渦)を作る。乱
流の形成の原理については図14に示されている。これ
により実施例5と同様に霧の微細化,均一化を図れる。
ネジ48は熱伝導性の良い物で作成し、溶媒や試料の凝
縮を防ぐようにする。また、外部からドライバー等によ
りネジ48は簡単に位置決めができ、霧の流れを自由に
制御できる。これにより、最も霧の微細化がすすむ点を
簡単に見つけだすことができる。ネジ48は汚れた場
合、簡単に取り外しクリーニングを行うことができる。
【0073】〔実施例7〕次に、本発明の他の実施例に
係るLC/MSを説明する。
【0074】図17は本発明の他の実施例に係るLC/
MSの気化器8部分の説明図である。本実施例において
試料溶液の噴霧,気化器8導入、また大気圧化学イオン
源11におけるイオン化MS部への導入は実施例1と同
じである。
【0075】本実施例では、気化器8の中央部に作られ
た筒状の気化空間9の壁面に複数の突起部45を設け
る。この突起部45を迂回した霧は突起部45の後に乱
流(渦)を多数発生させる。この乱流により霧の微細化,
均一化が図れる。筒状の気化空間9の壁面に直接突起部
45を作るのではなく気化空間9に挿入できる別の円筒
管44を用意しこの円筒管44内に突起部45を作るこ
ともできる。円筒管44が汚れた場合取外し洗浄でき
る。以上のように、実施例1から実施例7によれば、気
化空間で霧の微細化,均一化が行われ、大気圧イオン源
部へ液滴の径が不揃いな霧を乱雑に導入されるのを防ぐ
とともに、微細な液滴の径そろえたものをイオン化しM
S部に送りこめ効率良く脱溶媒を行うことができる。こ
れにより、化学ノイズを最小限にし、高感度分析を達成
できる。広範な組成の溶媒の導入をも可能にする。
【0076】〔実施例8〕次に他の実施例に係るLC/
MSを説明する。
【0077】図18において、霧を均一化するためには
噴霧流を機械的に分け噴霧流を細くし、気化空間壁面か
ら放出される赤外線を噴霧流内部まで届くようにしてや
れば良いが、実施例8では、図18に示されるように、
気化器8の中心部から霧の広がりの範囲内に複数の細管
82などによる複数の気化空間9を設ける。霧は分けら
れてこの加熱された複数の細管182の中を別々に通る
こととなる。当然霧の径は細管182の直径以下に制限
される。細管の表面積が増加したので、細管182の壁
面から放出される赤外線にはそれだけ増加し容易に、各
々の霧の中心部まで加熱される。これにより霧の微細化
がすすむ。また、霧の流速の径が大きい場合は、なかな
か中心部まで熱がとどかず、霧の中心部まで加熱するた
めに、気化器8の温度を高く設定されねばならないが、
本実施例の場合、加熱は十分に行われるため気化器8の
設定温度は低くできる。これにより、熱不安定物質の熱
分解を防ぐことができる。複数の細管182を通過した
霧は大気圧イオン源部11に入り、ここで3から5kV
の高電圧が印加されたコロナ放電用針電極の先端部から
発生するコロナ放電により溶媒分子が先ずイオン化され
る。生成したイオンはその後イオン分子反応を繰返し、
最終的に試料分子をイオン化する。イオンは第一細孔1
4から中間圧力部15に導入される。これについては前
実施例と同様である。
【0078】このように、複数の気化空間9の採用によ
り微細な霧を作ることができ、これをイオン化し第一細
孔14,第二細孔16経てイオンを質量分析部18に導
入することができる。これによりこの微細な液滴は中間
圧力室内でイオンの加速衝突を受け、付加分子の脱溶媒
が効率よく行われる。また、径の大きな液滴やクラスタ
ーイオンが質量分析部に導入されることを防ぐことがで
きるため、化学ノイズを大幅に低減できる。また、水な
ど移動相に由来するクラスターイオン及び化学ノイズは
低く抑えられる。一方分子イオンは付加分子を剥ぎ取る
ことによりそのイオン電流値を増やすことができる。結
果として分子イオンを高感度に識別できるようになる。
また、加熱空間9はステンレススチール製のヒートブロ
ック8にドリルなどで加工して作ることができる。
【0079】〔実施例9〕次に、本発明の他の実施例に
係るLC/MSを説明する。
【0080】図20は本発明の他の実施例に係るLC/
MSの気化器8部分の説明図である。本実施例において
試料溶液の噴霧,気化器8の導入、また大気圧化学イオ
ン源11におけるイオン化の後MS部18への導入は前
記実施例と同じである。図20は気化器8の断面図であ
る。気化器8の中心に直径5mm,長さ50mm程度の孔を
穿ち、この中に棒状の仕切り板83を挿入する。図20
の場合十字形の仕切り板を示したが、仕切り板83の形
は自由に選ぶことができる。仕切り板の挿入により気化
空間9が複数の気化空間に分離され、各々の気化空間を
霧が移動できるようにすれば良い。本実施例により、実
施例8と同様に、霧の流束の細分化と加熱壁面の増加が
図られる。その結果、霧の液滴の気化が促進され、霧は
微細化される。仕切り板83は熱伝導性の良い材料で作
られることにより霧の加熱が良く行われ、試料の凝縮な
どを防ぐことができる。さらに、仕切り板83内に小形
のヒータを内蔵すれば霧を内部から加熱でき、霧の微細
化が加速される。またこの仕切り板83は外部に取り出
せるようにしておけば、掃除が簡単に行える。
【0081】〔実施例10〕次に、本発明の他の実施例
に係るLC/MSを説明する。
【0082】図21は本発明の他の実施例に係るLC/
MSの気化器8部分の説明図である。本実施例において
試料溶液の噴霧,気化器8の導入、また大気圧化学イオ
ン源11におけるイオン化の後MS部18への導入は前
記実施例と同じである。図21は気化器8の断面図であ
る。気化器8の中心に例えば直径5mm,長さ50mm程度
の孔を穿ち、この中に複数の突起部184を外周に付け
た挿入棒185を挿入する。これにより気化空間9は挿
入棒185の外周と気化器8の穴の内周の隙間に形作ら
れる。気化空間9の厚みは挿入棒の径により自由に選ぶ
ことができる。気化空間9を1mm程度の薄さにすれば霧
を充分に加熱することができる。挿入棒185は外部に
取り出せるようにしておけば、掃除が簡単に行える。ま
た、挿入棒185の中に小形ヒータ186を封入し霧を
内部から加熱すれば霧の微細化が一段と促進される。
【0083】〔実施例11〕次に、本発明の他の実施例
に係るLC/MSを説明する。
【0084】図22は本発明の他の実施例に係るLC/
MSの気化器8部分の説明図である。本実施例において
試料溶液の噴霧,気化器8の導入、また大気圧化学イオ
ン源11におけるイオン化の後MS部18への導入は前
記実施例と同じである。図22は気化器8の噴霧方向に
沿った断面図である。気化器8の中心に例えば直径5m
m,長さ50mm程度の孔を穿ち、これを気化空間9とす
る。この気化空間9の中に石英ウールやステンレススチ
ールウールなどの詰物187を置く。気化空間9に流入
した霧は石英ウールやステンレススチールウールなどの
詰物187のところに来て複数の流れとなり、気化器9
の壁面からの加熱を受ける。これにより、霧の微細化が
一段と促進される。
【0085】以上のように、実施例8から実施例11に
よれば、大気圧イオン源部11へ液滴の径が不揃いな霧
を乱雑に導入されるのを防ぎ、温度の均一化で微細で液
滴の径が揃ったものをイオン化し、MS部に送りこめ
る。このため、イオンドリフト電圧Vにより効率良く脱
溶媒を行うことができる。これにより、化学ノイズを最
小にし、高感度分析を達成できる。更に、気化器の温度
設定を低く押さえることができ熱不安定物質の熱分解を
防ぐことができる。
【0086】以下に本発明の各実施例を図1ないし図1
0を参考にして説明する。
【0087】〔実施例12〕図23は、本発明の他の実
施例に係るLC/MS(含インターフェイス)を示す説
明図である。図24は噴霧器,気化器部分の拡大図であ
る。
【0088】図23及び図24において、イオンサンプ
リング軸13を噴霧周辺流31付近になるようにしてい
る。これにより、微細な霧を主としてイオン化し第一細
孔14,第二細孔16から質量分析部18に導入するこ
とができる。すなわち、噴出された霧の周辺部に微細な
霧が多く集まっているので、これを特性的に選択して、
中間圧力室15に導くのである。さらに微細な液滴は中
間圧力室内で隔壁141と161との間に印加されたイ
オンドリフト電圧Vによるイオンの加速衝突を繰り返
し、効率良く付加分子の脱溶媒が行われる。また、噴霧
流の中心部の径の大きな液滴が質量分析部に導入される
ことを防ぐことができるため、化学ノイズを大幅に低減
できる。このため、水など移動相に由来するクラスター
イオンや化学ノイズは抑えられる。一方分子イオンは付
加分子を剥ぎ取ることによりそのイオン電流値を増やす
ことができる。結果として分子イオンを高感度に識別で
きるようになる。
【0089】〔実施例13〕次に、本発明の他の実施例
に係るLC/MSを説明する。
【0090】図24は本発明の他の実施例に係るLC/
MSの説明図である。図中、図22,図23と同一符号
は、同等部分であるので説明を省略する。新しい符号の
み説明する。
【0091】図24において、123は隔壁、124は
噴霧流サンプリング孔、25は第一排気口、26は第二
排気口である。本実施例において試料溶液の噴霧,気化
器8導入までは前記実施例と同じである。気化空間9の
下流でかつ大気圧イオン源11の前に孔124付の隔壁
123を置く。隔壁123により気化空間9と大気圧イ
オン源部11は隔離される。この細孔124は噴霧流の
中心軸30からずれた周辺流31付近に設置されてい
る。中心部と比べる周辺部に微細な霧が集中している
が、これにより、噴霧流の周辺部の霧を選択的に大気圧
イオン源部11に導入しイオン化ができる。なお、噴霧
流の内大気圧イオン源部11に導入されないものは第一
排気口25から外部に排出される。また、大気圧イオン
源部11に導入され、イオン化に関与しなかった気体は
大気圧イオン源部11の第二排出口26から外部に排出
される。前記実施例1の場合大気圧イオン源部11内の
乱流により、径の大きさの異なる液滴が混ざり、質量分
析部に導入される危険がある。しかし、本実施例2によ
れば噴霧流の周辺部の霧のみを積極的にサンプリングす
るため、粒径の整った微細な霧を選択的にイオン化する
ことができる。粒径が揃った微細なイオンは中間圧力室
内においてイオンドリフト電圧Vにより加速衝突を受
け、その結果脱溶媒が効率良く行われる。
【0092】また、本実施例において、孔124付の隔
壁123を装置内に固定して説明したが、噴霧流に直角
方向から外部より調整可能にすることもできる。これに
より噴霧流を自由にサンプリングできるようになり、希
望の径の液滴をサンプリングし、イオン化できるように
なる。外部からの調整により、感度最大、ノイズ最少な
どの最良点を探すことができるようになる。
【0093】尚、実施例12,13において、大気圧下
で生成したイオンをサンプリングする方式を細孔で説明
した。これは、生成したイオンをMS部に圧力差を保っ
たまま導入できるものであれば良く、スリット,キャピ
ラリーなどで細孔に換えることもできる。また、質量分
析計はQMSに限らない。磁場形MS,イオントラップ
MSや他の原理を異にするMSでも良い。
【0094】以上のように、実施例12及び実施例13
によれば、大気圧イオン源部へ液滴の径が不揃いな霧を
乱雑に導入されるのを防ぎ、液滴の径そろえたものをイ
オン化し、MS部に送りこめ効率良く脱溶媒を行うこと
ができる。これにより、化学ノイズを最小限にし、高感
度分析を達成できる。
【0095】〔実験〕本発明の効果を実証するため以下
の実験を行った。
【0096】(1)装置 図12に示す構成のLC/MSを用いた。ただし、分析
カラム4は取外し試料注入口3と噴霧器6は直結した。
乱流発生板40を装着した場合と取り外した場合の比較
を行った。
【0097】移動相1は純水を用いた。水は最も脱溶媒
が困難で大きなクラスターイオンを作る。気化器温度は
400℃に固定し、噴霧器6の温度,水の流量を変化さ
せクラスターイオンの出現の具合を観察した。コロナ放
電電圧HVは3kV、衝突解離用のドリフト電圧Vは5
0V、そのほかパラメータは実験の間、固定した。噴霧
器6の温度、水の流量を変化させながら質量分析計18
を掃引しマススペクトルを繰返し収集した。一マススペ
クトル上のクラスターイオンは積算され全イオン電流値
(Total Ion Current,TIC)として出力される。TI
Cが大きいことはクラスターイオンが多数出現している
ことを示す。ここではTICと化学ノイズは同義語とい
える。
【0098】(2)結果,考察 図25,図26に実験結果を示す。図25な噴霧器6の
温度,水の流量を変化させクラスターイオンの出現の具
合を観察した結果を示す。横軸が噴霧器の温度、縦軸が
TICである。×,○は乱流発生板40を取り外した場
合、□は乱流発生板40を装着した場合のTICを示
す。×が移動相の流量1ml/min 、○は0.5ml/minの
場合のTICを示す。□は流量1ml/min の結果であ
る。乱流発生板40を装着しない場合、×,○は200
℃の測定結果が無い。これは、噴霧器6の温度を250
℃以下にすると、水のクラスターイオンが急激に増大し
TICは極めて不安定となり測定不可能になったためであ
る。噴霧器6の温度を250℃に設定した場合1ml/mi
n の流量ではTICは2×107 となる。流量を半分
0.5ml/minにするとTICも半分1×107 となる。
噴霧器6の温度を高く設定すればTIC(化学ノイズ)
は減少する。しかし、流量0.5ml/min、噴霧器6の温
度350℃でも8×106 以下にはならない。これ以上
の加熱は試料の熱分解を避けるためできない。
【0099】乱流発生板40を装着するとTIC(化学
ノイズ)は1×106 以下となり、乱流発生板40を装
着しない場合に比較して噴霧器6の温度を300℃以上
の時、一桁以上、噴霧器6の温度を250℃以下の場合
2桁と劇的に減少する。しかも、200℃から350℃
までTICに大きな変化は無い。乱流発生板40が無い
場合、200℃はノイズが多く使用不可であった。乱流
発生板40を装着すると測定可能となる。このように2
50℃以下の条件が使用可能となることは、試料の熱分
解を避けられるため極めて有効なことである。この乱流
発生板40により、霧の微細化,均一化が達成された結
果である。
【0100】図26に乱流発生板40有無の際のマスス
ペクトルを示す。図26の上段が乱流発生板40が無い
場合、下段が乱流発生板40が有る場合のマススペクト
ルである。両マススペクトル取得の条件は同じである。
移動相流量は1ml/min 、噴霧器6の温度は250℃、
気化器温度は400℃である。乱流発生板40が無い場
合、m/z100から1000まで前領域に渡り帰属不
明のイオンが強度100,000から50,000 で出現している。
乱流発生板40が有る場合、m/z200から強度10,0
00以上のピークは出現していない。多くのクラスターイ
オンが乱流発生板40により消滅したことになる。
【0101】ノイズが少なく、噴霧器の温度に依存しな
いことは以下の利点が生じる。異なった組成の移動相に
も噴霧器の温度を変える必要がない。これはグラジェン
ト測定にとり極めて有効なことである。噴霧器の温度は
ほぼ250℃に設定しておけば良く、操作性を著しく高
めることができる。また噴霧器の温度がほぼ250℃で
あれば熱不安定物質も熱分解等防げ安定に測定できる。
【0102】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
質量分析の精度を向上することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】LC/MSの全体図である。
【図2】熱噴霧及び気化器を示す図である。
【図3】気化器の詳細を示す図である。
【図4】マススペクトルにおける化学ノイズの説明図で
ある。
【図5】本発明によって得られるマススペクトルを示す
図である。
【図6】実施例2における気化器の詳細を示す図であ
る。
【図7】実施例3における気化器の詳細を示す図であ
る。
【図8】実施例4のLC/MSの詳細を示す図である。
【図9】実施例4における気化器の詳細を示す図であ
る。
【図10】実施例4における気化器の詳細を示す図であ
る。
【図11】実施例4における気化器の詳細を示す図であ
る。
【図12】実施例5における気化器の詳細を示す図であ
る。
【図13】実施例5における乱流発生板の詳細を示す図
である。
【図14】実施例5におけるカルマン渦発生の説明図で
ある。
【図15】実施例6における霧化の詳細を示す図であ
る。
【図16】実施例7における気化器の詳細を示す図であ
る。
【図17】実施例7における気化器の詳細を示す図であ
る。
【図18】実施例8におけるLC/MSの全体図であ
る。
【図19】実施例8における気化器の詳細を示す図であ
る。
【図20】実施例9における気化器の詳細を示す図であ
る。
【図21】実施例10における気化器の詳細を示す図で
ある。
【図22】実施例11における気化器の詳細を示す図で
ある。
【図23】実施例12におけるLC/MSの全体図であ
る。
【図24】実施例13におけるLC/MSの全体図であ
る。
【図25】TICと噴霧器温度の関係を示す図である。
【図26】マススペクトルである。
【符号の説明】
1…移動相、4…分析カラム、6…噴霧器、8…気化
器、10…コロナ放電用針電極、11…大気圧化学イオ
ン源部、14…第一細孔、16…第二細孔、17…真空
ポンプ、18…質量分析部、82…螺旋状の挿入棒。

Claims (42)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】液体クロマトグラフと、前記液体クロマト
    グラフからの流出液を霧化する第1の手段と、前記霧を
    脱溶媒及びイオン化する第2の手段と、それを導いて質
    量分析する質量分析計を有した液体クロマトグラフ結合
    型質量分析装置において、霧を混合する第3の手段を有
    したことを特徴とする液体クロマトグラフ結合型質量分
    析装置。
  2. 【請求項2】液体クロマトグラフからの流出液を霧化
    し、この霧を脱溶媒及びイオン化し、さらに、質量分析
    する液体クロマトグラフ−質量分析方法において、霧を
    混合することを特徴とする液体クロマトグラフ−質量分
    析方法。
  3. 【請求項3】請求項2において、前記霧を加熱すること
    を特徴とする液体クロマトグラフ−質量分析方法。
  4. 【請求項4】液体クロマトグラフと、前記液体クロマト
    グラフからの流出液を霧化する第1の手段と、前記霧を
    加熱する第2の手段と、前記加熱した霧を脱溶媒及びイ
    オン化する第3の手段と、それを導いて質量分析する質
    量分析計を有した液体クロマトグラフ結合型質量分析装
    置において、前記加熱手段の熱を伝導して霧を加熱する
    第4の手段を有することを特徴とする液体クロマトグラ
    フ結合型質量分析装置。
  5. 【請求項5】液体クロマトグラフと、前記液体クロマト
    グラフからの流出液を霧化する第1の手段と、前記霧を
    加熱する第2の手段と、前記加熱された霧を脱溶媒及び
    イオン化する第3の手段と、それを導いて質量分析する
    質量分析計を有した液体クロマトグラフ結合型質量分析
    装置において、前記霧の加熱途中に霧を混合する手段を
    有したことを特徴とする液体クロマトグラフ結合型質量
    分析装置。
  6. 【請求項6】液体クロマトグラフと、前記液体クロマト
    グラフからの流出液を霧化する第1の手段と、前記霧を
    脱溶媒及びイオン化する第2の手段と、それを導いて質
    量分析する質量分析計を有した液体クロマトグラフ結合
    型質量分析型において、霧の一部を選択して導く第3の
    手段を有したことを特徴とする液体クロマトグラフ結合
    型質量分析計。
  7. 【請求項7】液体クロマトグラフと、前記液体クロマト
    グラフからの流出液を大気圧下で霧化しイオン化する第
    1の手段と、前記イオン化された霧を脱溶媒する第2の
    手段と、それを導いて高真空下で質量分析する質量分析
    計を有した液体クロマトグラフ結合型質量分析装置にお
    いて、霧を混合する第3の手段を有したことを特徴とす
    る液体クロマトグラフ結合型質量分析装置。
  8. 【請求項8】液体クロマトグラフと、前記液体クロマト
    グラフからの流出液を大気圧下で霧化する第1の手段
    と、前記霧を電極に導いてコロナ放電によりイオン化す
    る第2の手段と、前記イオン化された霧を脱溶媒する第
    3の手段と、それを導いて高真空下で質量分析する質量
    分析計を有した質量分析装置において、霧を混合する第
    4の手段を有したことを特徴とする液体クロマトグラフ
    結合型質量分析装置。
  9. 【請求項9】請求項8において、前記霧の加熱手段を有
    したことを特徴とする液体クロマトグラフ結合型質量分
    析装置。
  10. 【請求項10】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    導入する手段とを備え、当該加熱空間が直線的に作られ
    ていないことを特徴とする液体クロマトグラフと質量分
    析計の直結方法。
  11. 【請求項11】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させねインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    導入する手段とを備え、当該加熱空間に霧の流れの方向
    を変えることのできる流体ガイドを挿入したことを特徴
    とする液体クロマトグラフと質量分析計の直結方法。
  12. 【請求項12】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    導入する手段とを備え、当該加熱空間が直線的に作られ
    ていないことを特徴とする液体クロマトグラフと質量分
    析計の直結装置。
  13. 【請求項13】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    導入する手段とを備え、当該加熱空間に霧の流れの方向
    を変えることのできる流体ガイドを挿入したことを特徴
    とする液体クロマトグラフと質量分析計の直結装置。
  14. 【請求項14】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段とを備え、当該加熱空間の途中または後
    にかつ当該イオン化手段の前に、霧の流れを乱す物体を
    置くようにしたことを特徴とする液体クロマトグラフと
    質量分析計の直結方法。
  15. 【請求項15】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段を備え、当該加熱空間の途中または後に
    かつ当該イオン化手段の前に、一つ以上の貫通孔を持っ
    た板を置くようにしたことを特徴とする液体クロマトグ
    ラフと質量分析計の直結方法。
  16. 【請求項16】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオン化を質量分析計
    への導入する手段とを備え、当該加熱空間の途中または
    後にかつ当該イオン化手段の前に、霧の流れの周辺部か
    ら中心部へ向け流れを乱す棒状の物体を挿入することを
    特徴とする液体クロマトグラフと質量分析計の直結方
    法。
  17. 【請求項17】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれを準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段とを備え、当該霧が通過する加熱空間の
    壁面に複数の突起部を設けたことを特徴とする液体クロ
    マトグラフと質量分析計の直結方法。
  18. 【請求項18】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段とを備え、当該霧が通過する加熱空間の
    中に取付け,取外し可能な壁面に複数の突起部を設けた
    筒状の物体を挿入することを特徴とする液体クロマトグ
    ラフと質量分析計の直結方法。
  19. 【請求項19】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段とを備え、当該霧が通過する加熱空間の
    入口,出口の中心軸が一致しないことを特徴とする高速
    液体クロマトグラフと質量分析計の直結方法。
  20. 【請求項20】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段とを備え、当該加熱空間の途中または後
    にかつ当該イオン化手段の前に、霧の流れを乱す物体を
    置くようにしたことを特徴とする液体クロマトグラフと
    質量分析計の直結装置。
  21. 【請求項21】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段とを備え、当該加熱空間の途中または後
    にかつ当該イオン化手段の前に、一つ以上の貫通孔を持
    った板を置くようにしたことを特徴とする液体クロマト
    グラフと質量分析計の直結装置。
  22. 【請求項22】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段とを備え、当該加熱空間の途中または後
    にかつ当該イオン化手段の前に、霧の流れの周辺部から
    中心部へ向け流れを乱す棒状の物体を挿入するようにし
    たことを特徴とする液体クロマトグラフと質量分析計の
    直結装置。
  23. 【請求項23】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段とを備え、当該霧が通過する加熱空間の
    壁面に複数の突起部を設けたことを特徴とする液体クロ
    マトグラフと質量分析計の直結装置。
  24. 【請求項24】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段とを備え、当該霧が通過する加熱空間の
    中に取付け,取外し可能な壁面に複数の突起部を設けた
    筒状の物体を挿入することを特徴とする液体クロマトグ
    ラフと質量分析計の直結装置。
  25. 【請求項25】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段とを備え、当該霧が通過する加熱空間の
    入口,出口の中心軸が一致しないことを特徴とする液体
    クロマトグラフと質量分析計の直結装置。
  26. 【請求項26】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段とを備え、当該霧が通過する加熱空間の
    中に霧の流れを一度分けまた再度混合することのできる
    部品を置くことを特徴とする液体クロマトグラフと質量
    分析計の直結方法。
  27. 【請求項27】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    の導入する手段とを備え、当該霧が通過する加熱空間の
    中に霧の流れを一度分けまた再度混合することのできる
    部品を置くことを特徴とする液体クロマトグラフと質量
    分析計の直結装置。
  28. 【請求項28】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    導入する手段とを備え、当該加熱空間が複数の細管より
    構成されていることを特徴とする液体クロマトグラフと
    質量分析計の直結方法。
  29. 【請求項29】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    導入する手段とを備え、当該加熱空間に仕切り板を挿入
    し当該加熱空間が複数の加熱空間となるようにしたこと
    を特徴とする液体クロマトグラフと質量分析計の直結方
    法。
  30. 【請求項30】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    導入する手段とを備え、当該加熱空間に挿入棒を挿入し
    加熱空間が両者の隙間となることを特徴とする液体クロ
    マトグラフと質量分析計の直結方法。
  31. 【請求項31】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    導入する手段とを備え、当該加熱空間が複数の細管より
    構成されていることを特徴とする液体クロマトグラフと
    質量分析計の直結装置。
  32. 【請求項32】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    導入する手段とを備え、当該加熱空間に仕切り板を挿入
    し当該加熱空間が複数の加熱空間となるようにしたこと
    を特徴とする液体クロマトグラフと質量分析計の直結装
    置。
  33. 【請求項33】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    導入する手段とを備え、当該加熱空間に挿入棒を挿入し
    加熱空間が両者の隙間となることを特徴とする液体クロ
    マトグラフと質量分析計の直結装置。
  34. 【請求項34】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を噴霧する手段と、その霧を加熱さ
    れた材料で囲われた空間に導き加熱する手段と、大気圧
    またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反応によ
    りイオン化する手段と、生成したイオンを質量分析計へ
    導入する手段とを備え、当該加熱空間内に霧の流れが分
    かれ通過できる詰めものを置くことを特徴とする液体ク
    ロマトグラフと質量分析計の直結装置。
  35. 【請求項35】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を霧化する手段と、その霧化した試
    料を大気圧またはこれに準じた圧力下においてイオン分
    子反応によりイオン化する手段と、生成したイオンを質
    量分析計へ導入する手段を備え、当該イオン化手段と生
    成したイオンの質量分析計への取り込み細孔は当該霧化
    手段からの噴霧流の中心軸上からずれた位置に置かれる
    ことを特徴とする液体クロマトグラフと質量分析計の直
    結方法。
  36. 【請求項36】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を霧化する手段と、その霧化した試
    料を大気圧またはこれに準じた圧力下においてイオン分
    子反応によりイオン化する手段と、生成したイオンを質
    量分析計へ導入する手段を備え、当該イオン化手段は当
    該霧化手段からの噴霧流の周辺流の試料をイオン化する
    ことを特徴とする液体クロマトグラフと質量分析計の直
    結方法。
  37. 【請求項37】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を霧化する手段と、その霧化した試
    料を大気圧またはこれに準じた圧力下においてイオン分
    子反応によりイオン化する手段と、生成したイオンを質
    量分析計へ導入する手段を備え、当該イオン化手段は当
    該霧化手段から孔付の隔壁で隔離され、かつ噴霧流の中
    心軸と当該孔の中心軸がずれていることを特徴とする液
    体クロマトグラフと質量分析計の直結方法。
  38. 【請求項38】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を霧化する手段と、その霧化した試
    料を大気圧またはこれに準じた圧力下においてイオン分
    子反応によりイオン化する手段と、生成したイオンを質
    量分析計へ導入する手段を備え、当該イオン化手段は当
    該霧化手段から孔付の隔壁で隔離され、当該孔付の隔壁
    が外部より調整,移動可能であることを特徴とする液体
    クロマトグラフと質量分析計の直結方法。
  39. 【請求項39】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を霧化する手段と、その霧化した試
    料を大気圧またはこれに準じた圧力下においてイオン分
    子反応によりイオン化する手段と、生成したイオンを質
    量分析計へ導入する手段を備え、当該イオン化手段と生
    成したイオンの質量分析計への取り込み細孔は当該霧化
    手段からの噴霧流の中心軸上からずれた位置に置かれる
    ことを特徴とする液体クロマトグラフと質量分析計の直
    結装置。
  40. 【請求項40】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を霧化する手段と、その霧化した試
    料を大気圧またはこれに準じた圧力下においてイオン分
    子反応によりイオン化する手段と、生成したイオンを質
    量分析計へ導入する手段を備え、当該イオン化手段は当
    該霧化手段からの噴霧流の周辺流の試料をイオン化する
    ことを特徴とする液体クロマトグラフと質量分析計の直
    結装置。
  41. 【請求項41】高速液体クロマトグラフと、質量分析計
    と、両者を結合させるインターフェイス部とを有し、当
    該インターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力
    下において試料溶液を霧化する手段と、その霧化した試
    料を大気圧またはこれに準じた圧力下においてイオン分
    子反応によりイオン化する手段と、生成したイオンを質
    量分析計へ導入する手段を備え、当該イオン化手段は当
    該霧化手段から孔付の隔壁で隔離され、かつ噴霧流の中
    心軸と当該孔の中心軸がずれていることを特徴とする液
    体クロマトグラフと質量分析計の直結装置。
  42. 【請求項42】液体クロマトグラフと、質量分析計と、
    両者を結合されるインターフェイス部とを有し、当該イ
    ンターフェイス部が大気圧またはこれに準じた圧力下に
    おいて試料溶液を霧化する手段と、その霧化した試料を
    大気圧またはこれに準じた圧力下においてイオン分子反
    応によりイオン化する手段と、生成したイオンを質量分
    析計へ導入する手段を備え、当該イオン化手段は当該霧
    化手段から孔付の隔壁で隔離され、当該孔付の隔壁が外
    部より調節,移動可能であることを特徴とする液体クロ
    マトグラフと質量分析計の直結装置。
JP05308875A 1993-12-09 1993-12-09 液体クロマトグラフ結合型質量分析装置 Expired - Lifetime JP3087548B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP05308875A JP3087548B2 (ja) 1993-12-09 1993-12-09 液体クロマトグラフ結合型質量分析装置
US08/355,223 US5581081A (en) 1993-12-09 1994-12-09 Method and apparatus for direct coupling of liquid chromatograph and mass spectrometer, liquid chromatograph-mass spectrometry, and liquid chromatograph mass spectrometer
US08/707,578 US5859432A (en) 1993-12-09 1996-09-05 Method and apparatus for direct coupling of liquid chromatograph and mass spectrometer liquid, chromatography--mass spectrometry, and liquid chromatograph--mass spectrometer
US09/440,474 US6339218B1 (en) 1993-12-09 1999-11-15 Method and apparatus for direct coupling of liquid chromatograph and mass spectrometer, liquid chromatography—mass spectrometry, and liquid chromatograph mass spectrometer
US09/499,318 US6236042B1 (en) 1993-12-09 2000-02-07 Method and apparatus for direct coupling of liquid chromatograph and mass spectrometer, liquid chromatography-mass spectrometry, and liquid chromatograph-mass spectrometer
JP2000113215A JP3379510B2 (ja) 1993-12-09 2000-04-10 液体クロマトグラフ結合型質量分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP05308875A JP3087548B2 (ja) 1993-12-09 1993-12-09 液体クロマトグラフ結合型質量分析装置

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000113215A Division JP3379510B2 (ja) 1993-12-09 2000-04-10 液体クロマトグラフ結合型質量分析装置
JP2000113214A Division JP3307384B2 (ja) 1993-12-09 2000-04-10 液体クロマトグラフ結合型質量分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07159377A true JPH07159377A (ja) 1995-06-23
JP3087548B2 JP3087548B2 (ja) 2000-09-11

Family

ID=17986318

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP05308875A Expired - Lifetime JP3087548B2 (ja) 1993-12-09 1993-12-09 液体クロマトグラフ結合型質量分析装置

Country Status (2)

Country Link
US (4) US5581081A (ja)
JP (1) JP3087548B2 (ja)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5986259A (en) * 1996-04-23 1999-11-16 Hitachi, Ltd. Mass spectrometer
JP2002526892A (ja) * 1998-09-28 2002-08-20 ヴァリアン インコーポレーテッド 電気スプレー質量分析のための渦状ガス流インターフェース
JP2005300288A (ja) * 2004-04-09 2005-10-27 Nippon Api Corp ガス分析方法、ガス分析装置及びこれを用いた検査装置
JP2006120642A (ja) * 2004-10-22 2006-05-11 Agilent Technol Inc マルチモード・イオン化モード分離器
JP2009025260A (ja) * 2007-07-24 2009-02-05 Hitachi High-Technologies Corp 液体クロマトグラフ質量分析装置
JP2010512514A (ja) * 2006-12-06 2010-04-22 ザ・キュレイターズ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・ミズーリ 液体クロマトグラフィー検出器およびそのためのフローコントローラ
JP2010512513A (ja) * 2006-12-06 2010-04-22 ザ・キュレイターズ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・ミズーリ 液体クロマトグラフィー検出器、及び液体クロマトグラフィー検出器用流れ制御装置
WO2012176534A1 (ja) * 2011-06-24 2012-12-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 液体クロマトグラフ質量分析装置
US8822915B2 (en) 2010-06-24 2014-09-02 Shimadzu Corporation Atmospheric pressure ionization mass spectrometer
JP5601370B2 (ja) * 2010-06-24 2014-10-08 株式会社島津製作所 大気圧イオン化質量分析装置
CN105431921A (zh) * 2013-08-02 2016-03-23 株式会社岛津制作所 电离装置及质谱仪
CN111480074A (zh) * 2017-10-13 2020-07-31 阿基尔·卡皮耶洛 结合电子电离质谱法与液相色谱法的化学分析仪

Families Citing this family (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3087548B2 (ja) 1993-12-09 2000-09-11 株式会社日立製作所 液体クロマトグラフ結合型質量分析装置
JP3415682B2 (ja) * 1994-08-10 2003-06-09 株式会社日立製作所 キャピラリー電気泳動・質量分析計
JP3274302B2 (ja) * 1994-11-28 2002-04-15 株式会社日立製作所 質量分析計
US6278111B1 (en) 1995-08-21 2001-08-21 Waters Investments Limited Electrospray for chemical analysis
US5969351A (en) * 1996-02-07 1999-10-19 Hitachi, Ltd. Mass spectrometer
US5800576A (en) * 1996-11-13 1998-09-01 Quantum Energy Technologies Corporation Water clusters and uses therefor
US5997590A (en) * 1996-11-13 1999-12-07 Quantum Energy Technologies Corp. Stabilized water nanocluster-fuel emulsions designed through quantum chemistry
US5828062A (en) * 1997-03-03 1998-10-27 Waters Investments Limited Ionization electrospray apparatus for mass spectrometry
US6248999B1 (en) * 1998-09-24 2001-06-19 Finnigan Corporation Assembly for coupling an ion source to a mass analyzer
JP3578041B2 (ja) * 2000-03-23 2004-10-20 株式会社島津製作所 液体クロマトグラフ質量分析装置
US7375319B1 (en) 2000-06-09 2008-05-20 Willoughby Ross C Laser desorption ion source
US6744041B2 (en) * 2000-06-09 2004-06-01 Edward W Sheehan Apparatus and method for focusing ions and charged particles at atmospheric pressure
US6586732B2 (en) * 2001-02-20 2003-07-01 Brigham Young University Atmospheric pressure ionization ion mobility spectrometry
US6902937B2 (en) * 2001-07-13 2005-06-07 Air Liquide America, L.P. Method for the determination of low-concentration anions in the presence of an excess of another anion
US6610976B2 (en) * 2001-08-28 2003-08-26 The Rockefeller University Method and apparatus for improved signal-to-noise ratio in mass spectrometry
JP2003215101A (ja) * 2002-01-23 2003-07-30 Shimadzu Corp 液体クロマトグラフ質量分析計
US6870155B2 (en) * 2002-02-15 2005-03-22 Implant Sciences Corporation Modified vortex for an ion mobility spectrometer
US6861646B2 (en) * 2002-02-15 2005-03-01 Implant Sciences Corporation Cyclone sampling nozzle for an ion mobility spectrometer
US6818888B2 (en) * 2002-04-04 2004-11-16 Varian, Inc. Vortex flow atmospheric pressure chemical ionization source for mass spectrometry
JP5073168B2 (ja) * 2002-05-31 2012-11-14 ウオーターズ・テクノロジーズ・コーポレイシヨン 質量分析計用の高速組合せマルチモードイオン源
US7095019B1 (en) 2003-05-30 2006-08-22 Chem-Space Associates, Inc. Remote reagent chemical ionization source
US7091483B2 (en) * 2002-09-18 2006-08-15 Agilent Technologies, Inc. Apparatus and method for sensor control and feedback
US6646257B1 (en) 2002-09-18 2003-11-11 Agilent Technologies, Inc. Multimode ionization source
US7078681B2 (en) * 2002-09-18 2006-07-18 Agilent Technologies, Inc. Multimode ionization source
DE60328511D1 (de) * 2002-10-30 2009-09-03 Varian Inc Verwendung von temperatur- und strömungsprofilen bei analytischen prozessen auf gradientenelutionsbasis
JP4505460B2 (ja) * 2003-02-14 2010-07-21 エムディーエス インコーポレイテッド 質量分析のための大気圧荷電粒子選別器
US7332347B2 (en) * 2003-04-14 2008-02-19 Liang Li Apparatus and method for concentrating and collecting analytes from a flowing liquid stream
US7015466B2 (en) * 2003-07-24 2006-03-21 Purdue Research Foundation Electrosonic spray ionization method and device for the atmospheric ionization of molecules
US7138626B1 (en) 2005-05-05 2006-11-21 Eai Corporation Method and device for non-contact sampling and detection
US7568401B1 (en) 2005-06-20 2009-08-04 Science Applications International Corporation Sample tube holder
JP4581958B2 (ja) * 2005-10-18 2010-11-17 株式会社島津製作所 質量分析装置
US7576322B2 (en) 2005-11-08 2009-08-18 Science Applications International Corporation Non-contact detector system with plasma ion source
WO2007078573A2 (en) * 2005-12-22 2007-07-12 Thermo Finnigan Llc Apparatus and method for pumping in an ion optical device
WO2007139956A2 (en) 2006-05-26 2007-12-06 Laboratory Corporation Of America Holdings Methods and systems for the quantitative analysis of biomarkers
US8665778B2 (en) * 2006-11-30 2014-03-04 Motorola Mobility Llc Monitoring and control of transmit power in a multi-modem wireless communication device
US8695813B2 (en) * 2006-12-08 2014-04-15 Spectra Analysis Instruments, Incorporated Method and apparatus for desolvating flowing liquid
US8232521B2 (en) * 2007-02-02 2012-07-31 Waters Technologies Corporation Device and method for analyzing a sample
US8123396B1 (en) 2007-05-16 2012-02-28 Science Applications International Corporation Method and means for precision mixing
US9091695B2 (en) * 2007-06-01 2015-07-28 Laboratory Corporation Of America Holdings Methods and systems for quantification of peptides and other analytes
GB0712362D0 (en) * 2007-06-26 2007-08-01 Smiths Group Plc Detectors and nozzles
US8008617B1 (en) 2007-12-28 2011-08-30 Science Applications International Corporation Ion transfer device
WO2009152321A1 (en) * 2008-06-11 2009-12-17 The Curators Of The University Of Missouri Liquid chromatography detector and flow controller therefor
US8071957B1 (en) 2009-03-10 2011-12-06 Science Applications International Corporation Soft chemical ionization source
WO2011041416A2 (en) 2009-09-29 2011-04-07 Chan, Chang-Ching Analyte ionization by charge exchange for sample analysis under ambient conditions
GB201216412D0 (en) * 2012-09-14 2012-10-31 Shimadzu Corp Apparatus for providing gaseous sample ions/molecules and a corresponding method
US9480769B2 (en) 2013-04-01 2016-11-01 Earl Vaughn Sevy Atomization separating and silencing apparatus and method
US10806817B2 (en) 2015-12-10 2020-10-20 Earl Vaughn Sevy Annular separator apparatus and method
US9895464B2 (en) 2013-04-01 2018-02-20 Earl Vaughn Sevy Axial, triple-separation, diffusion apparatus and method
US10507258B2 (en) 2013-04-01 2019-12-17 Earl Vaughn Sevy Compact, mobile, modular, integrated diffuser apparatus and method
KR101768127B1 (ko) * 2015-11-25 2017-08-16 한국표준과학연구원 이온화 질량분석법 및 이를 이용한 질량분석장치
US11065358B2 (en) 2016-02-11 2021-07-20 Earl Vaughn Sevy Air-blade, silencer and separator apparatus and method
EP3669395A4 (en) * 2017-08-17 2021-04-21 DH Technologies Development Pte. Ltd. APCI ION SOURCE WITH ASYMMETRIC SPRAY DEVICE
CN110416059B (zh) * 2018-04-27 2020-09-11 岛津分析技术研发(上海)有限公司 样本解吸及电离装置以及应用该装置的质谱仪及分析方法
EP3922989A4 (en) * 2019-02-04 2022-10-26 Hitachi High-Tech Corporation LIQUID CHROMATOGRAPH MASS SPECTROMETER
CN109887825B (zh) * 2019-04-10 2024-03-05 哈尔滨工业大学(威海) 一种化学反应中间体质谱检测方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4791291A (en) 1986-07-14 1988-12-13 The Dow Chemical Company Mass spectrometer sampling system for a liquid stream
US4991291A (en) * 1989-12-29 1991-02-12 Isotronics, Inc. Method for fabricating a fold-up frame
JP2633974B2 (ja) * 1990-04-18 1997-07-23 株式会社日立製作所 試料のイオン化および質量分析のための装置
US5266192A (en) * 1991-09-12 1993-11-30 General Electric Company Apparatus for interfacing liquid chromatograph with magnetic sector spectrometer
US5235186A (en) * 1992-01-24 1993-08-10 Finnigan Mat, Inc. Probe-based electrospray adapter for thermospray equipped quadrupole based LC/MS systems
US5304798A (en) * 1992-04-10 1994-04-19 Millipore Corporation Housing for converting an electrospray to an ion stream
US5352892A (en) * 1992-05-29 1994-10-04 Cornell Research Foundation, Inc. Atmospheric pressure ion interface for a mass analyzer
US5504327A (en) * 1993-11-04 1996-04-02 Hv Ops, Inc. (H-Nu) Electrospray ionization source and method for mass spectrometric analysis
JP3087548B2 (ja) 1993-12-09 2000-09-11 株式会社日立製作所 液体クロマトグラフ結合型質量分析装置
US5412208A (en) * 1994-01-13 1995-05-02 Mds Health Group Limited Ion spray with intersecting flow

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5986259A (en) * 1996-04-23 1999-11-16 Hitachi, Ltd. Mass spectrometer
JP2002526892A (ja) * 1998-09-28 2002-08-20 ヴァリアン インコーポレーテッド 電気スプレー質量分析のための渦状ガス流インターフェース
JP4657451B2 (ja) * 1998-09-28 2011-03-23 バリアン・インコーポレイテッド 電気スプレー質量分析のための渦状ガス流インターフェース
JP2005300288A (ja) * 2004-04-09 2005-10-27 Nippon Api Corp ガス分析方法、ガス分析装置及びこれを用いた検査装置
JP4515135B2 (ja) * 2004-04-09 2010-07-28 株式会社日本エイピーアイ ガス分析方法、ガス分析装置及びこれを用いた検査装置
JP2006120642A (ja) * 2004-10-22 2006-05-11 Agilent Technol Inc マルチモード・イオン化モード分離器
US8397553B2 (en) 2006-12-06 2013-03-19 The Curators Of The University Of Missouri Liquid chromatography detector and flow controller therefor
JP2010512514A (ja) * 2006-12-06 2010-04-22 ザ・キュレイターズ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・ミズーリ 液体クロマトグラフィー検出器およびそのためのフローコントローラ
JP2010512513A (ja) * 2006-12-06 2010-04-22 ザ・キュレイターズ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・ミズーリ 液体クロマトグラフィー検出器、及び液体クロマトグラフィー検出器用流れ制御装置
JP2009025260A (ja) * 2007-07-24 2009-02-05 Hitachi High-Technologies Corp 液体クロマトグラフ質量分析装置
US8822915B2 (en) 2010-06-24 2014-09-02 Shimadzu Corporation Atmospheric pressure ionization mass spectrometer
JP5601370B2 (ja) * 2010-06-24 2014-10-08 株式会社島津製作所 大気圧イオン化質量分析装置
JP2013007639A (ja) * 2011-06-24 2013-01-10 Hitachi High-Technologies Corp 液体クロマトグラフ質量分析装置
WO2012176534A1 (ja) * 2011-06-24 2012-12-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 液体クロマトグラフ質量分析装置
CN105431921A (zh) * 2013-08-02 2016-03-23 株式会社岛津制作所 电离装置及质谱仪
CN105431921B (zh) * 2013-08-02 2017-08-25 株式会社岛津制作所 电离装置及质谱仪
CN111480074A (zh) * 2017-10-13 2020-07-31 阿基尔·卡皮耶洛 结合电子电离质谱法与液相色谱法的化学分析仪
CN111480074B (zh) * 2017-10-13 2022-12-27 阿基尔·卡皮耶洛 结合电子电离质谱法与液相色谱法的化学分析仪

Also Published As

Publication number Publication date
US5581081A (en) 1996-12-03
US5859432A (en) 1999-01-12
JP3087548B2 (ja) 2000-09-11
US6339218B1 (en) 2002-01-15
US6236042B1 (en) 2001-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3087548B2 (ja) 液体クロマトグラフ結合型質量分析装置
US4999493A (en) Electrospray ionization interface and method for mass spectrometry
Covey et al. Atmospheric pressure ion sources
EP2297769B1 (en) Single and multiple operating mode ion sources with atmospheric pressure chemical ionization
US7091477B2 (en) Mass spectrometer interface
Manisali et al. Electrospray ionization source geometry for mass spectrometry: past, present, and future
EP1377822B1 (en) A method of and apparatus for ionizing an analyte and ion source probe for use therewith
CA2181040C (en) Ion spray with intersecting flow
US5304798A (en) Housing for converting an electrospray to an ion stream
JP4657451B2 (ja) 電気スプレー質量分析のための渦状ガス流インターフェース
US20030189170A1 (en) Method of and apparatus for ionizing an analyte and ion source probe for use therewith
JP2000162188A (ja) 溶液中のサンプルを分析する質量分析法及び装置
CN111052302B (zh) 具有不对称喷雾的apci离子源
JP3379510B2 (ja) 液体クロマトグラフ結合型質量分析装置
JP3307384B2 (ja) 液体クロマトグラフ結合型質量分析装置
JP3379989B2 (ja) 電気噴霧をイオン流に変換するためのハウジング
JP3147654B2 (ja) イオン源
JP2003222612A (ja) 大気圧イオン化質量分析装置および分析方法
US20230400439A1 (en) Interface Between Liquid Chromatography, Ionization Device, and Mass Spectrometer, and Sample Analysis Method Using the Same
CN116457656A (zh) 在液相色谱、电离装置和质谱仪之间的接口以及使用其的样品分析方法
KR20230014074A (ko) 액체 크로마토그래피, 이온화 장치 그리고 질량 분석기의 인터페이스 및 이를 이용한 시료 분석 방법
JP2001041930A (ja) 試料溶液のイオン化方法
JPH11108896A (ja) イオン源及びこれを用いる質量分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070714

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080714

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080714

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090714

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090714

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100714

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100714

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110714

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110714

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120714

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130714

Year of fee payment: 13

EXPY Cancellation because of completion of term