JP2006120642A - マルチモード・イオン化モード分離器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】マルチモード・イオン源は、荷電エアゾルを供給するためのエレクトロスプレー・イオン源(8、9、11)と、その下流にあって、荷電エアゾルをさらにイオン化するための大気圧イオン源(14、24)と、大気圧イオン源に隣接し、荷電エアゾルからイオンを受け取るためのオリフィスを有しており、中心軸を備える導管(20)とを含む。荷電エアゾルの一部を分離して、その一部下流の大気圧イオン源にさらされるのを阻止するように配置されたマスク(40)が設けられる。
【選択図】図2
Description
9 荷電電極
11 逆転電極
14 コロナ・ニードル
15 密閉空間
20 導管
40、50 マスク
Claims (19)
- 荷電エアゾルを供給するためのエレクトロスプレー・イオン源と、
該エレクトロスプレー・イオン源から下流にあって、前記荷電エアゾルをさらにイオン化するための大気圧イオン源と、
前記荷電エアゾルの一部を分離して、その一部が前記下流の大気圧イオン源にさらされるのを阻止するように配置されたマスクと、
前記下流の大気圧イオン源に隣接し、前記荷電エアゾルからイオンを受け取るためのオリフィスを有しており、中心軸を備える導管と
を備えることを特徴とするマルチモード・イオン源。 - 前記大気圧イオン源が大気圧化学イオン源であることを特徴とする、請求項1に記載のマルチモード・イオン源。
- 前記大気圧イオン源が大気圧光イオン源であることを特徴とする、請求項1に記載のマルチモード・イオン源。
- 前記マスクに、前記導管の中心軸に対して平行な配向が施されていることを特徴とする、請求項1に記載のマルチモード・イオン源。
- 前記マスクに、前記導管の中心軸に対して垂直な配向が施されていることを特徴とする、請求項1に記載のマルチモード・イオン源。
- 前記マスクに複数の分離器が含まれることを特徴とする、請求項1に記載のマルチモード・イオン源。
- 前記マスクに、前記導管の中心軸に対してある角度をなす配向が施されていることを特徴とする、請求項1に記載のマルチモード・イオン源。
- さらに、
第2の導管が含まれることと、
前記第2の導管が、荷電エアゾルの分離された部分だけを受け入れるように配置されていることを特徴とする、
請求項1に記載のマルチモード・イオン源。 - 前記マスクに、少なくとも1つの金属板が含まれることを特徴とする、請求項1に記載のマルチモード・イオン源。
- 前記荷電エアゾルの一部に、前記エレクトロスプレー・イオン源によって発生する前記荷電エアゾルの少なくとも10容量パーセントが含まれることを特徴とする、請求項1に記載のマルチモード・イオン源。
- イオン化検体分子を発生する方法であって、
前記検体分子にエレクトロスプレー・イオン化を受けさせることによって、荷電エアゾルを生じさせるステップと、
前記荷電エアゾルを第1の流れと第2の流れに分離するステップと、
前記荷電エアゾルの第1の流れに二次プロセスの大気圧イオン化を受けさせて、前記荷電エアゾルをさらにイオン化するステップと、
前記第2の流れが前記二次プロセスの大気圧イオン化にさらされないようにするステップと、
中心軸を備える導管に少なくとも第1の流れを受け入れるステップとを有することを特徴とする、
方法。 - 前記二次プロセスの大気圧イオン化が、大気圧化学イオン化に相当することを特徴とする、請求項11に記載の方法。
- 前記二次プロセスの大気圧イオン化が、大気圧光イオン化に相当することを特徴とする、請求項11に記載の方法。
- 前記荷電エアゾルがマスクを利用して分離されることを特徴とする、請求項11に記載の方法。
- 前記マスクに、前記導管の中心オリフィスに対して平行な配向が施されていることを特徴とする、請求項11に記載の方法。
- 前記マスクに、前記導管の中心オリフィスに対して垂直な配向が施されていることを特徴とする、請求項11に記載の方法。
- さらに、前記第2の流れを前記導管に受け入れるステップを有することを特徴とする、請求項11に記載の方法。
- さらに、前記第2の流れを第2の導管に受け入れるステップを有することを特徴とする、請求項11に記載の方法。
- 前記マスクに、前記導管の前記中心軸に対してある角度をなす配向が施されていることを特徴とする、請求項14に記載の方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6106864B1 (ja) * | 2016-09-21 | 2017-04-05 | ヒューマン・メタボローム・テクノロジーズ株式会社 | イオン源アダプタ |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6653626B2 (en) * | 1994-07-11 | 2003-11-25 | Agilent Technologies, Inc. | Ion sampling for APPI mass spectrometry |
JP5073168B2 (ja) * | 2002-05-31 | 2012-11-14 | ウオーターズ・テクノロジーズ・コーポレイシヨン | 質量分析計用の高速組合せマルチモードイオン源 |
US7078681B2 (en) * | 2002-09-18 | 2006-07-18 | Agilent Technologies, Inc. | Multimode ionization source |
US7034291B1 (en) * | 2004-10-22 | 2006-04-25 | Agilent Technologies, Inc. | Multimode ionization mode separator |
US20060255261A1 (en) | 2005-04-04 | 2006-11-16 | Craig Whitehouse | Atmospheric pressure ion source for mass spectrometry |
US20070023677A1 (en) * | 2005-06-29 | 2007-02-01 | Perkins Patrick D | Multimode ionization source and method for screening molecules |
US20070283951A1 (en) * | 2006-06-12 | 2007-12-13 | Marc Alan Burk | Mask-nebulizer assembly |
US7709790B2 (en) * | 2008-04-01 | 2010-05-04 | Thermo Finnigan Llc | Removable ion source that does not require venting of the vacuum chamber |
US7982185B2 (en) | 2008-05-30 | 2011-07-19 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Single and multiple operating mode ion sources with atmospheric pressure chemical ionization |
EP2428796B1 (de) * | 2010-09-09 | 2015-03-18 | Airsense Analytics GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Ionisierung und Identifizierung von Gasen mittels UV-Strahlung und Elektronen |
EP3582251B1 (en) | 2011-04-20 | 2020-12-16 | Micromass UK Limited | Atmospheric pressure ion source by interacting high velocity spray with a target |
CA2886655A1 (en) | 2012-10-25 | 2014-05-01 | Micromass Uk Limited | Improved reproducibility of impact-based ionization source for low and high organic mobile phase compositions using a mesh target |
EP2912678A1 (en) | 2012-10-25 | 2015-09-02 | Micromass UK Limited | Piezo-electric vibration on an in-source surface ionization structure to aid secondary droplet reduction |
JP5893756B2 (ja) * | 2012-11-29 | 2016-03-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | ハイブリッドイオン源、質量分析計及びイオンモビリティ装置 |
TWI488216B (zh) * | 2013-04-18 | 2015-06-11 | Univ Nat Sun Yat Sen | 多游離源的質譜游離裝置及質譜分析系統 |
JP6091620B2 (ja) * | 2013-08-02 | 2017-03-08 | 株式会社島津製作所 | イオン化装置及び質量分析装置 |
CN104851774B (zh) * | 2015-05-22 | 2017-02-01 | 华中师范大学 | 一种基于微流控三维聚焦技术的氮气吹扫型高分辨质谱电喷雾电离源及质谱检测方法 |
GB2563194B (en) * | 2016-04-21 | 2020-08-05 | Waters Technologies Corp | Dual mode ionization device |
CN108074793B (zh) * | 2016-11-17 | 2019-11-12 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种多组分样品分析的多模式质谱电离源 |
CN112309823A (zh) * | 2020-11-13 | 2021-02-02 | 广州禾信仪器股份有限公司 | 质谱检测系统及离子源装置 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02176459A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-09 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ・質量分析装置 |
JPH07159377A (ja) * | 1993-12-09 | 1995-06-23 | Hitachi Ltd | 液体クロマトグラフと質量分析計の直結方法およびその装置、液体クロマトグラフ−質量分析方法、並びに液体クロマトグラフ結合型質量分析装置 |
JPH08145950A (ja) * | 1994-11-28 | 1996-06-07 | Hitachi Ltd | 質量分析計 |
JP2001043826A (ja) * | 1999-07-28 | 2001-02-16 | Shimadzu Corp | 質量分析装置における大気圧化学イオン化方法 |
JP2003215101A (ja) * | 2002-01-23 | 2003-07-30 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析計 |
WO2004026448A1 (en) * | 2002-09-18 | 2004-04-01 | Agilent Technologies, Inc. | Multimode ionization source |
JP2004146219A (ja) * | 2002-10-25 | 2004-05-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置及び質量分析方法 |
JP2004185886A (ja) * | 2002-12-02 | 2004-07-02 | Shimadzu Corp | 大気圧イオン化質量分析装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4960991A (en) * | 1989-10-17 | 1990-10-02 | Hewlett-Packard Company | Multimode ionization source |
CA2275140C (en) * | 1998-06-18 | 2008-04-29 | Micromass Limited | Multi-inlet mass spectrometer |
US6646987B1 (en) * | 1998-10-05 | 2003-11-11 | Nortel Networks Limited | Method and system for transmission control protocol (TCP) packet loss recovery over a wireless link |
JP3694598B2 (ja) * | 1998-10-14 | 2005-09-14 | 株式会社日立製作所 | 大気圧イオン化質量分析装置 |
JP5073168B2 (ja) * | 2002-05-31 | 2012-11-14 | ウオーターズ・テクノロジーズ・コーポレイシヨン | 質量分析計用の高速組合せマルチモードイオン源 |
US20030224529A1 (en) * | 2002-05-31 | 2003-12-04 | Romaine Maiefski | Dual ion source assembly |
US7078681B2 (en) * | 2002-09-18 | 2006-07-18 | Agilent Technologies, Inc. | Multimode ionization source |
US7091483B2 (en) * | 2002-09-18 | 2006-08-15 | Agilent Technologies, Inc. | Apparatus and method for sensor control and feedback |
US6943346B2 (en) * | 2003-08-13 | 2005-09-13 | Science & Engineering Services, Inc. | Method and apparatus for mass spectrometry analysis of aerosol particles at atmospheric pressure |
US7034291B1 (en) * | 2004-10-22 | 2006-04-25 | Agilent Technologies, Inc. | Multimode ionization mode separator |
-
2004
- 2004-10-22 US US10/971,658 patent/US7034291B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2005
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2006
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02176459A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-09 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ・質量分析装置 |
JPH07159377A (ja) * | 1993-12-09 | 1995-06-23 | Hitachi Ltd | 液体クロマトグラフと質量分析計の直結方法およびその装置、液体クロマトグラフ−質量分析方法、並びに液体クロマトグラフ結合型質量分析装置 |
JPH08145950A (ja) * | 1994-11-28 | 1996-06-07 | Hitachi Ltd | 質量分析計 |
JP2001043826A (ja) * | 1999-07-28 | 2001-02-16 | Shimadzu Corp | 質量分析装置における大気圧化学イオン化方法 |
JP2003215101A (ja) * | 2002-01-23 | 2003-07-30 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析計 |
WO2004026448A1 (en) * | 2002-09-18 | 2004-04-01 | Agilent Technologies, Inc. | Multimode ionization source |
JP2005539358A (ja) * | 2002-09-18 | 2005-12-22 | アジレント・テクノロジーズ・インク | 多モードイオン化源 |
JP2004146219A (ja) * | 2002-10-25 | 2004-05-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置及び質量分析方法 |
JP2004185886A (ja) * | 2002-12-02 | 2004-07-02 | Shimadzu Corp | 大気圧イオン化質量分析装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6106864B1 (ja) * | 2016-09-21 | 2017-04-05 | ヒューマン・メタボローム・テクノロジーズ株式会社 | イオン源アダプタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7223968B2 (en) | 2007-05-29 |
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US7034291B1 (en) | 2006-04-25 |
CN100517555C (zh) | 2009-07-22 |
EP1650784A3 (en) | 2006-09-13 |
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