JPH07153642A - 金属化フィルムコンデンサ - Google Patents

金属化フィルムコンデンサ

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Publication number
JPH07153642A
JPH07153642A JP29716293A JP29716293A JPH07153642A JP H07153642 A JPH07153642 A JP H07153642A JP 29716293 A JP29716293 A JP 29716293A JP 29716293 A JP29716293 A JP 29716293A JP H07153642 A JPH07153642 A JP H07153642A
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JP
Japan
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film
metallized
resistance
metallized film
resistance value
Prior art date
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Pending
Application number
JP29716293A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Okuno
茂男 奥野
Toshiyuki Nishimori
敏幸 西森
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP29716293A priority Critical patent/JPH07153642A/ja
Publication of JPH07153642A publication Critical patent/JPH07153642A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 各用途に用いられる金属化フィルムコンデン
サにおける耐電圧、耐用性、保安性などの特性面の向上
並びに蒸着ロスの低減を目的とする。 【構成】 ヒューズ加工が施された亜鉛またはアルミニ
ウム−亜鉛の合金である蒸着電極において、電極導出部
となる金属溶射部5と接続する端部側の蒸着膜抵抗値が
8〜12Ω/□である低抵抗膜部3と、その低抵抗膜部
3以外の前記金属化層4の抵抗値が12〜30Ω/□の
高抵抗膜部2とし、この金属化フィルムを巻回して構成
される金属化フィルムコンデンサ素子中心部に温度ヒュ
ーズを具備した構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は力率改善用の電力用コン
デンサ、電気機器用のコンデンサ、各種電源回路用のコ
ンデンサ、および通信機器などに使用されるコンデンサ
に適用される保安機構付の金属化フィルムコンデンサに
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、金属化フィルムコンデンサにおい
て、蒸着金属の膜抵抗値に差異を設けたヘビーエッジ形
状により、金属化フィルムの電位傾度を上げ小型化して
きた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の蒸着
金属の膜抵抗値は金属溶射部側で2〜7Ω/□、それ以
外は12〜25Ω/□であったが、この抵抗値によって
各種の問題が生じていた。
【0004】すなわち上記抵抗値のヒューズ加工が施さ
れている金属化フィルムコンデンサでは、高電圧印加時
に低抵抗部の自己回復作用(以下SHという)のエネル
ギーが大きく、ヒューズ溶断電流が大となりヒューズが
はずれやすく、容量減少が起きやすいといった課題があ
った。
【0005】また製造工程上、蒸着金属の膜抵抗値差異
が大きいために、蒸着時の膜厚バラツキが大きく、抵抗
値コントロールが困難であった。しかもコンデンサとし
た場合、規定した抵抗値を低めに外れるとSH性の低下
による誘電体破壊、高めに外れると発熱による熱破壊を
引き起こすといった課題があった。
【0006】本発明は前記従来の課題に留意し、耐電圧
耐用性、保安性などの特性面の向上ならびに蒸着ロスの
低減ができる金属化フィルムコンデンサを提供すること
を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
本発明の金属化フィルムコンデンサは、亜鉛またはアル
ミニウム−亜鉛の合金である蒸着電極が表面に設けられ
た金属化フィルムと、前記蒸着電極が複数個に分割して
設けられ、かつヒューズ加工が施された金属化フィルム
とを巻回し、その金属化層が電極導出部となる金属溶射
部と接続する端部側の蒸着膜抵抗値が8〜12Ω/□で
ある低抵抗膜部と、その低抵抗膜部以外の前記金属化層
の抵抗値が12〜30Ω/□の高抵抗膜部とからなり、
そのコンデンサ素子中心部に温度ヒューズを具備した構
成とする。
【0008】
【作用】本発明は前記の構成において、金属溶射部側の
膜厚を従来より薄くした蒸着金属低抵抗部でSHエネル
ギーを抑制し、ヒューズ溶断電流を小とすることによっ
て高電圧印加時の容量減少を改善する。さらに製造工程
中の蒸着時においても膜抵抗値差異が小さいために抵抗
値コントロールが容易で安定した品質を保つことを可能
とする。また異常使用あるいは特殊な要因によって万一
誘電体破壊等が発生した場合でも、温度ヒューズによっ
て発火前には回路から開放でき、保安機構とともに二重
安全がはかれることとなる。
【0009】
【実施例】以下本発明の実施例を説明する。図1に本発
明の一実施例の金属化フィルムコンデンサの誘電体構造
を示し、図中の1はプラスチックフィルムであり、その
表面に主要部が高抵抗膜部2、端部が厚みの大きい低抵
抗膜部3としてなる金属化層4を形成し、この金属化フ
ィルムを巻回するとともに端部に金属溶射部5を形成し
ている。
【0010】なお、比較のために従来の金属化フィルム
コンデンサの誘電体構造を図2に示す。ここで、前記図
1と同符号部分は同一構成部を示している。前記図1、
図2より明らかなように両者は、金属溶射部5側の蒸着
膜厚の違いが重要なポイントである。
【0011】また、図3は前記誘電体構造をもつ本発明
の一実施例の金属化フィルムコンデンサを示し、前記誘
電体構造をもち、かつ巻回されたコンデンサ素子6はケ
ース7に挿入され、巻回中心に温度ヒューズ8が配置さ
れる。そしてケース7に充填樹脂9が充填され、コンデ
ンサ素子6の両端の金属溶射部10より引出端子11が
導出される。
【0012】図4は前記図3に示すコンデンサ素子を複
数個集合させて構成した金属化フィルムコンデンサを示
している。ここで図1に示す本発明の実施例の金属化フ
ィルムコンデンサにおけるコンデンサ素子は、ポリプロ
ピレンフィルムを誘電体とした厚み6μmの亜鉛蒸着フ
ィルムからなる保安機構付とし、その容量は12μFで
ある。図2に示すように金属溶射部側の蒸着膜厚を異ら
せた従来の比較用のコンデンサを作製し、本発明の実施
例のものと従来品のサンプル抵抗値を表1に示す。
【0013】
【表1】
【0014】図5は1.75Eの耐電圧試験の結果であ
るが表1における従来例の容量減少のバラツキが大き
い。これは低抵抗部膜抵抗値が低いため、SHエネルギ
ーが大きくヒューズ溶断電流が大となったために自己保
安機能が働きやすい状態になり容量減少を引き起こした
ものである。また従来例および本発明例は非常に安定
しているが、これは従来例とは反対に低抵抗部膜抵抗
値が高いことによってSHエネルギーを抑制し、ヒュー
ズ溶断電流が小となったために保安機能が動作しにくく
なったためだと考えられる。
【0015】次に表2はJIS C4908に基ずく保
安性試験の結果であるが、従来例で不具合な結果とな
った。
【0016】
【表2】
【0017】この表2より明らかなように従来例は高
抵抗部膜抵抗値が高すぎるためにSHエネルギーが小さ
く保安機構の動作性が著しく低下し、本来の保安機構の
役割を果たさず、誘電体の劣化によって発熱が大きくな
り、熱破壊に至ったと考えられる。
【0018】さらに図6の連続耐用性試験でも従来例
は熱破壊し、従来例は破壊は無いものの容量減少のバ
ラツキが大きい結果となった。この結果も耐電圧試験や
保安性試験と同様の考え方ができる。つまり、保安機構
の動作性が敏感すぎると容量減少、鈍感すぎると破壊に
至るためヒューズ寸法の選定が非常に重要であり、また
困難な課題でもあった。そこで保安機構の動作性の最大
要因であるSH性について焦点をしぼり、従来例と従
来例の利点の交わりをとり、低抵抗膜部抵抗値を従来
例より若干高くしSHエネルギーを抑え、高抵抗膜部抵
抗値は従来例と同じくしてSH性が良く発熱も少ない
本発明の抵抗値とすることで耐電圧、保安性、連続耐用
性などいずれの試験においても、非常に良好な結果を示
した。
【0019】そして製造工程面では、蒸着時における抵
抗値コントロールが容易になり、抵抗値不良が20%削
減され、また作業性も向上した。さらに故意にコンデン
サを熱破壊させた場合でも、温度ヒューズの動作により
発火前には回路から開放され、安全性をいっそう増すこ
とが可能となった。
【0020】
【発明の効果】以上の実施例の説明からも明らかなよう
に、本発明の金属化フィルムコンデンサは、蒸着金属膜
抵抗値に差異のあるものに関して、従来の低抵抗部(H
E部)の膜抵抗値を上げ、高抵抗部抵抗値との抵抗値差
を小さくすることによって、特性面では耐電圧、長期間
にわたる耐用性などの容量減少に優れ、一方、保安性に
も十分優れた効果がある。
【0021】また製造面では、作業性が向上し抵抗値不
良が削減する品質の高いコンデンサを提供でき、さらに
異常使用などのためにコンデンサが万一破壊した場合で
も、温度ヒューズ動作により発火前には回路から開放さ
れるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の金属化フィルムコンデンサ
における誘電体構造を示す断面図
【図2】従来の金属化フィルムコンデンサにおける誘電
体構造を示す断面図
【図3】本発明の一実施例の金属化フィルムコンデンサ
の断面図
【図4】本発明の他の実施例の金属化フィルムコンデン
サの断面図
【図5】従来例と本発明例の1.75E耐電圧試験結果
を示すグラフ
【図6】従来例と本発明例の連続耐用性試験結果を示す
グラフ
【符号の説明】
1 プラスチックフィルム 2 高抵抗膜部 3 低抵抗膜部 4 金属化層 5 金属溶射部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // H01G 4/228 9174−5E H01G 1/14 B

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 亜鉛またはアルミニウム−亜鉛の合金で
    ある蒸着電極が表面に設けられた金属化フィルムと、前
    記蒸着電極が複数個に分割して設けられ、かつヒューズ
    加工が施された金属化フィルムとを巻回し、その金属化
    層が電極導出部となる金属溶射部と接続する端部側の蒸
    着膜抵抗値が8〜12Ω/□である低抵抗膜部と、その
    低抵抗膜部以外の前記金属化層の抵抗値が12〜30Ω
    /□の高抵抗膜部とから構成され、さらにその素子中心
    部に温度ヒューズを具備したことを特徴とする金属化フ
    ィルムコンデンサ。
JP29716293A 1993-11-29 1993-11-29 金属化フィルムコンデンサ Pending JPH07153642A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106449091A (zh) * 2016-09-29 2017-02-22 铜陵市超越电子有限公司 防喷金面脱落的金属化薄膜
CN107464694A (zh) * 2017-08-03 2017-12-12 安徽省宁国市海伟电子有限公司 一种防腐蚀的金属化薄膜

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CN106449091A (zh) * 2016-09-29 2017-02-22 铜陵市超越电子有限公司 防喷金面脱落的金属化薄膜
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