JP2595359B2 - 金属化フィルムコンデンサ - Google Patents
金属化フィルムコンデンサInfo
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/32—Wound capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/14—Organic dielectrics
- H01G4/145—Organic dielectrics vapour deposited
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、力率改善用などの電力用コンデンサ、電気
機器用コンデンサ、各種電源回路用コンデンサ及び通信
機器などに使用される電子機器用コンデンサに関する。
機器用コンデンサ、各種電源回路用コンデンサ及び通信
機器などに使用される電子機器用コンデンサに関する。
［従来の技術］ 近年、電子機器などの小型化に伴い、これに収容され
る各種電子部品の小型化に対する要求が高まってきてい
る。フィルムコンデンサにおいても、小型化及び大容量
化を目的として種々の材料、構造が検討されている。例
えば、ポリエステルフィルムの両面をアルミ蒸着などに
よって金属化すると共に、その表面にラッカー層を形成
し、これを積層又は巻回して金属化フィルムコンデンサ
とすることが、前記小型化及び大容量化の一手段として
知られている。
る各種電子部品の小型化に対する要求が高まってきてい
る。フィルムコンデンサにおいても、小型化及び大容量
化を目的として種々の材料、構造が検討されている。例
えば、ポリエステルフィルムの両面をアルミ蒸着などに
よって金属化すると共に、その表面にラッカー層を形成
し、これを積層又は巻回して金属化フィルムコンデンサ
とすることが、前記小型化及び大容量化の一手段として
知られている。
また、コンデンサに異常が生じた場合に、発火、爆発
などによって二次災害を引き起こさないように、金属ケ
ースを用いた油含浸のコンデンサには、保安装置が取り
付けられるようになり、さらに、乾式コンデンサにも保
安機構が取り付けられるようになった。従来から提案さ
れているこのような保安機構は、少なくとも一方の電極
（蒸着電極）を分割電極で構成し、この分割電極内に間
欠的な蒸着空白部を設けたものである（例えば、特開昭
58-182216号公報、同57-154823号公報、同58-103113号
公報、同57-210617号公報など）。以下、蒸着空白部間
に残された電極部分を特に「ヒューズ部」と呼ぶ。
などによって二次災害を引き起こさないように、金属ケ
ースを用いた油含浸のコンデンサには、保安装置が取り
付けられるようになり、さらに、乾式コンデンサにも保
安機構が取り付けられるようになった。従来から提案さ
れているこのような保安機構は、少なくとも一方の電極
（蒸着電極）を分割電極で構成し、この分割電極内に間
欠的な蒸着空白部を設けたものである（例えば、特開昭
58-182216号公報、同57-154823号公報、同58-103113号
公報、同57-210617号公報など）。以下、蒸着空白部間
に残された電極部分を特に「ヒューズ部」と呼ぶ。
［発明が解決しようとする課題］ しかし、前記した従来技術においては、ヒューズ部の
溶断によって一旦分割電極が切り離された後の、蒸着電
極空白部を隔てた電極間の沿面の耐圧不足や分割電極溝
に隣接する分割電極間での沿面の耐圧不足に起因して、
蒸着電極空白部や分割電極部でレアーショートが発生
し、結果的に保安性の低下や長期間使用時の電気容量の
減少を招くといった問題点があった。尚、コンデンサに
おいて、このレアショートの発生を防止するために、電
極間隔（蒸着電極空白部の幅又は分割電極溝の幅）を広
くした場合には、同じ容量を確保するために、コンデン
サを大型化する必要があり、好ましくない。
溶断によって一旦分割電極が切り離された後の、蒸着電
極空白部を隔てた電極間の沿面の耐圧不足や分割電極溝
に隣接する分割電極間での沿面の耐圧不足に起因して、
蒸着電極空白部や分割電極部でレアーショートが発生
し、結果的に保安性の低下や長期間使用時の電気容量の
減少を招くといった問題点があった。尚、コンデンサに
おいて、このレアショートの発生を防止するために、電
極間隔（蒸着電極空白部の幅又は分割電極溝の幅）を広
くした場合には、同じ容量を確保するために、コンデン
サを大型化する必要があり、好ましくない。
本発明は、従来技術における前記課題を解決するため
になされたものであり、上記したレアーショートを防止
して、保安性の向上を図ることができると共に、長期間
使用する場合の電気容量の減少を防止し、信頼性の向上
を図ることができ、しかも大型化することのない金属化
フィルムコンデンサを提供することを目的とする。
になされたものであり、上記したレアーショートを防止
して、保安性の向上を図ることができると共に、長期間
使用する場合の電気容量の減少を防止し、信頼性の向上
を図ることができ、しかも大型化することのない金属化
フィルムコンデンサを提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 前記目的を達成するため、本発明に係る金属化フィル
ムコンデンサの第１の構成は、基材フィルムの表面に形
成した対向する２極の金属薄膜電極を含む金属化フィル
ムコンデンサであって、前記２極の金属薄膜電極のう
ち、少なくとも１極の金属薄膜電極を分割電極で構成す
ると共に、前記分割電極の縁端に沿って間欠的な電極空
白部を設け、該電極空白部の幅Ｌ（単位:mm）と、コン
デンサのAC定格電圧Ｖ（単位:VAC）との関係を、0.0015
≧L/V≧0.0005にしたことを特徴とする。
ムコンデンサの第１の構成は、基材フィルムの表面に形
成した対向する２極の金属薄膜電極を含む金属化フィル
ムコンデンサであって、前記２極の金属薄膜電極のう
ち、少なくとも１極の金属薄膜電極を分割電極で構成す
ると共に、前記分割電極の縁端に沿って間欠的な電極空
白部を設け、該電極空白部の幅Ｌ（単位:mm）と、コン
デンサのAC定格電圧Ｖ（単位:VAC）との関係を、0.0015
≧L/V≧0.0005にしたことを特徴とする。
また、本発明に係る金属化フィルムコンデンサの第２
の構成は、基材フィルムの表面に形成した対向する２極
の金属薄膜電極を含む金属化フィルムコンデンサであっ
て、前記２極の金属薄膜電極のうち、少なくとも１極の
金属薄膜電極を分割電極で構成すると共に、前記分割電
極の縁端に沿って間欠的な電極空白部を設け、該分割電
極の分割電極溝の幅Ｗ（単位:mm）と、コンデンサのAC
定格電圧Ｖ（単位:VAC）との関係を、0.0015≧W/V≧0.0
005にしたことを特徴とする。
の構成は、基材フィルムの表面に形成した対向する２極
の金属薄膜電極を含む金属化フィルムコンデンサであっ
て、前記２極の金属薄膜電極のうち、少なくとも１極の
金属薄膜電極を分割電極で構成すると共に、前記分割電
極の縁端に沿って間欠的な電極空白部を設け、該分割電
極の分割電極溝の幅Ｗ（単位:mm）と、コンデンサのAC
定格電圧Ｖ（単位:VAC）との関係を、0.0015≧W/V≧0.0
005にしたことを特徴とする。
［作用］ 前記本発明の第１の構成によれば、２極の金属薄膜電
極のうち、少なくとも１極の金属薄膜電極を分割電極で
構成すると共に、前記分割電極の縁端に沿って間欠的な
電極空白部を設け、該電極空白部の幅Ｌ（単位:mm）
と、コンデンサのAC定格電圧Ｖ（単位:VAC）との関係
を、0.0015≧L/V≧0.0005にしたことにより、電極空白
部の幅を狭くしても、ヒューズ部が溶断した後の電極空
白部を隔てた電極間に電圧が加わった場合に、電極空白
部でレアーショートが発生することはないので、電極空
白部近傍における絶縁劣化が進んでコンデンサの破壊を
引き起こすことはない。その結果、保安性の向上を図る
ことができると共に、長期間使用する場合の電気容量の
減少を防止することができるので、金属化フィルムコン
デンサの信頼性が向上する。また、このように電極空白
部の幅を狭くしてもレアーショートが発生することはな
いので、コンデンサの大型化を防止することができる。
極のうち、少なくとも１極の金属薄膜電極を分割電極で
構成すると共に、前記分割電極の縁端に沿って間欠的な
電極空白部を設け、該電極空白部の幅Ｌ（単位:mm）
と、コンデンサのAC定格電圧Ｖ（単位:VAC）との関係
を、0.0015≧L/V≧0.0005にしたことにより、電極空白
部の幅を狭くしても、ヒューズ部が溶断した後の電極空
白部を隔てた電極間に電圧が加わった場合に、電極空白
部でレアーショートが発生することはないので、電極空
白部近傍における絶縁劣化が進んでコンデンサの破壊を
引き起こすことはない。その結果、保安性の向上を図る
ことができると共に、長期間使用する場合の電気容量の
減少を防止することができるので、金属化フィルムコン
デンサの信頼性が向上する。また、このように電極空白
部の幅を狭くしてもレアーショートが発生することはな
いので、コンデンサの大型化を防止することができる。
また、前記本発明の第２の構成によれば、２極の金属
薄膜電極のうち、少なくとも１極の金属薄膜電極を分割
電極で構成すると共に、前記分割電極の縁端に沿って間
欠的な電極空白部を設け、該分割電極の分割電極溝の幅
Ｗ（単位:mm）と、コンデンサのAC定格電圧Ｖ（単位:VA
C）との関係を、0.0015≧W/V≧0.0005にしたことによ
り、分割電極の分割電極溝の幅を狭くしても、何らかの
原因でヒューズ部の溶断が生じて、分割電極溝に隣接す
る分離された電極部と、分離されていない電極部との間
に電圧が加わった場合に、分割電極溝間でレアーショー
トが発生することはないので、隣接する電極部における
ヒューズ部の溶断が生じることはない。その結果、長期
間使用する場合の電気容量の減少を防止することができ
るので、金属化フィルムコンデンサの信頼性が向上す
る。また、このように分割電極の分割電極溝の幅を狭く
してもレアーショートが発生することはないので、コン
デンサの大型化を防止することができる。
薄膜電極のうち、少なくとも１極の金属薄膜電極を分割
電極で構成すると共に、前記分割電極の縁端に沿って間
欠的な電極空白部を設け、該分割電極の分割電極溝の幅
Ｗ（単位:mm）と、コンデンサのAC定格電圧Ｖ（単位:VA
C）との関係を、0.0015≧W/V≧0.0005にしたことによ
り、分割電極の分割電極溝の幅を狭くしても、何らかの
原因でヒューズ部の溶断が生じて、分割電極溝に隣接す
る分離された電極部と、分離されていない電極部との間
に電圧が加わった場合に、分割電極溝間でレアーショー
トが発生することはないので、隣接する電極部における
ヒューズ部の溶断が生じることはない。その結果、長期
間使用する場合の電気容量の減少を防止することができ
るので、金属化フィルムコンデンサの信頼性が向上す
る。また、このように分割電極の分割電極溝の幅を狭く
してもレアーショートが発生することはないので、コン
デンサの大型化を防止することができる。
［実施例］ 以下、実施例を用いて本発明をさらに具体的に説明す
る。尚、本発明は下記の実施例によって限定されるもの
ではない。
る。尚、本発明は下記の実施例によって限定されるもの
ではない。
第１図は本発明に係る金属化フィルムコンデンサの一
実施例を示す展開図である。第１図において、11は基材
フィルムの表面に設けられた蒸着金属などの金属薄膜で
ある。12は金属薄膜11に設けられた電極空白部である。
13は分割電極溝である。Ｌは電極空白部12の幅（単位:m
m）であり、Ｗは分割電極溝13の幅（単位:mm）である。
実施例を示す展開図である。第１図において、11は基材
フィルムの表面に設けられた蒸着金属などの金属薄膜で
ある。12は金属薄膜11に設けられた電極空白部である。
13は分割電極溝である。Ｌは電極空白部12の幅（単位:m
m）であり、Ｗは分割電極溝13の幅（単位:mm）である。
以下、上記のような構成を有する金属化フィルムコン
デンサの製造例について説明する。フィルム基材として
は、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリプロピ
レンフィルム、ポリフェニレンサルファイトフィルム、
ポリイミドフィルム、ポリイミドアミドフィルムなどの
樹脂フィルムを使用することができる。金属薄膜11とし
ては、Alなどの蒸着膜を使用することができる。金属薄
膜11は電極としての機能を果たす。尚、この金属薄膜11
の表面にラッカー組成物を乾燥後の厚さが約１μｍとな
るように塗布してもよい。
デンサの製造例について説明する。フィルム基材として
は、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリプロピ
レンフィルム、ポリフェニレンサルファイトフィルム、
ポリイミドフィルム、ポリイミドアミドフィルムなどの
樹脂フィルムを使用することができる。金属薄膜11とし
ては、Alなどの蒸着膜を使用することができる。金属薄
膜11は電極としての機能を果たす。尚、この金属薄膜11
の表面にラッカー組成物を乾燥後の厚さが約１μｍとな
るように塗布してもよい。
（実施例１） 試料としてポリプリピレンフィルム（厚さ６μｍのも
のと８μｍのもの、幅80mm）の片面蒸着フィルムを用い
て、AC定格電圧400V（ボルト）、電気容量50μＦのコン
デンサを作製した。
のと８μｍのもの、幅80mm）の片面蒸着フィルムを用い
て、AC定格電圧400V（ボルト）、電気容量50μＦのコン
デンサを作製した。
そして、電極空白部12の幅Ｌが、0.05mm、0.1mm、0.1
5mm、0.2mm、0.3mmの各サンプルを作製した。また、分
割電極溝13の幅Ｗは、一律に0.3mmとした。かかるサン
プルの電極空白部12の幅Ｌ（mm）とコンデンサのAC定格
電圧（VAC）との比L/Vは下記の通りである。電極空白部の幅Ｌ（mm） L/V値 0.05 0.000125 0.1 0.00025 0.15 0.000375 0.2 0.0005 0.3 0.00075 保安性試験としては、JIS−Ｃ−4908に準じて試験を
行った。この結果を第１表に示す。
5mm、0.2mm、0.3mmの各サンプルを作製した。また、分
割電極溝13の幅Ｗは、一律に0.3mmとした。かかるサン
プルの電極空白部12の幅Ｌ（mm）とコンデンサのAC定格
電圧（VAC）との比L/Vは下記の通りである。電極空白部の幅Ｌ（mm） L/V値 0.05 0.000125 0.1 0.00025 0.15 0.000375 0.2 0.0005 0.3 0.00075 保安性試験としては、JIS−Ｃ−4908に準じて試験を
行った。この結果を第１表に示す。
第１表から明らかなように、誘電体であるフィルムの
厚みにかかわらず、電極空間部12の幅Ｌ（mm）とコンデ
ンサのAC定格電圧Ｖとの比L/Vが0.0005以上のサンプル
は合格率が高いことが確認できた（実験番号4,5）。
厚みにかかわらず、電極空間部12の幅Ｌ（mm）とコンデ
ンサのAC定格電圧Ｖとの比L/Vが0.0005以上のサンプル
は合格率が高いことが確認できた（実験番号4,5）。
これに対して実験番号１〜３の合格率が好ましくなか
ったのは、隣接する電極空白部12、12間の金属薄膜11
（ヒューズ部）が溶断した後の電極空白部12を隔てて電
極間に加わる電圧によって、電極空白部12でレアーショ
ートが発生し、電極空白部12の近傍における絶縁劣化が
進んで、コンデンサの破壊を引き起こしたものと考えら
れる。
ったのは、隣接する電極空白部12、12間の金属薄膜11
（ヒューズ部）が溶断した後の電極空白部12を隔てて電
極間に加わる電圧によって、電極空白部12でレアーショ
ートが発生し、電極空白部12の近傍における絶縁劣化が
進んで、コンデンサの破壊を引き起こしたものと考えら
れる。
ところで、この金属化フィルムコンデンサにおいて、
上記したレアショートの発生を防止するために、電極空
白部12の幅Ｌ（mm）を広くした場合には、同じ容量を確
保するために、コンデンサを大型化する必要があり、好
ましくない。従って、コンデンサの大型化を防止しなが
ら、レアショートの発生をも防止するためには、電極空
白部12の幅Ｌ（mm）と、コンデンサのAC定格電圧Ｖとの
関係を、0.0015≧L/V≧0.0005にするのが好ましい。
上記したレアショートの発生を防止するために、電極空
白部12の幅Ｌ（mm）を広くした場合には、同じ容量を確
保するために、コンデンサを大型化する必要があり、好
ましくない。従って、コンデンサの大型化を防止しなが
ら、レアショートの発生をも防止するためには、電極空
白部12の幅Ｌ（mm）と、コンデンサのAC定格電圧Ｖとの
関係を、0.0015≧L/V≧0.0005にするのが好ましい。
（実施例２） 試料としてポリプロピレンフィルム（厚さ６μｍのも
の、幅80mm）の片面蒸着フィルムを用いて、AC定格電圧
400V、電気容量50μＦのコンデンサを作製した。
の、幅80mm）の片面蒸着フィルムを用いて、AC定格電圧
400V、電気容量50μＦのコンデンサを作製した。
そして、分割電極溝13の幅Ｗが、0.05mm、0.1mm、0.1
5mm、0.2mm、0.3mmの各サンプルを作製し、連続耐用性
試験を行なった。すなわち、温度０℃の雰囲気を有する
恒温槽内でAC500Vを印加し、試験前の初期値に対する電
気容量の変化率（ΔC/C）を調べた。尚、この場合、電
極空白部12の幅Ｌは、一律に0.3mmとした。1000時間後
の電気容量の変化率（ΔC/C）を第２図に示す。
5mm、0.2mm、0.3mmの各サンプルを作製し、連続耐用性
試験を行なった。すなわち、温度０℃の雰囲気を有する
恒温槽内でAC500Vを印加し、試験前の初期値に対する電
気容量の変化率（ΔC/C）を調べた。尚、この場合、電
極空白部12の幅Ｌは、一律に0.3mmとした。1000時間後
の電気容量の変化率（ΔC/C）を第２図に示す。
次に、ポリプロピレンフィルムの厚さを８μｍとした
以外は前記と同様にして、サンプルを作製し、同様の連
続耐用性試験を行なった。このサンプルの1000時間後の
電気容量の変化率（ΔC/C）を第３図に示す。
以外は前記と同様にして、サンプルを作製し、同様の連
続耐用性試験を行なった。このサンプルの1000時間後の
電気容量の変化率（ΔC/C）を第３図に示す。
第２図及び第３図から明らかなように、誘電体である
フィルムの厚みにかかわらず、電極分割溝13の幅Ｗが0.
2mm以上（W/Vの値が0.0005以上）であれば、1000時間後
の電気容量の変化率（ΔC/C）の低下は少なかった。す
なわち、電気容量の減少が防止されることが確認され
た。
フィルムの厚みにかかわらず、電極分割溝13の幅Ｗが0.
2mm以上（W/Vの値が0.0005以上）であれば、1000時間後
の電気容量の変化率（ΔC/C）の低下は少なかった。す
なわち、電気容量の減少が防止されることが確認され
た。
これに対して、電気分割溝13の幅Ｗが0.2mm未満（W/V
の値が0.0005未満）のサンプルは電気容量の減少が大き
く、好ましいものではなかった。このように電気容量が
大きく減少したのは、何らかの原因でヒューズ部の溶断
が生じて、分割電極溝13に隣接する分離された電極部
と、分離されていない電極部との間に電圧が加わり、分
割電極溝13、13間でレアーショートが発生して、隣接す
る電極部におけるヒューズ部の溶断が生じたからである
と考えられる。
の値が0.0005未満）のサンプルは電気容量の減少が大き
く、好ましいものではなかった。このように電気容量が
大きく減少したのは、何らかの原因でヒューズ部の溶断
が生じて、分割電極溝13に隣接する分離された電極部
と、分離されていない電極部との間に電圧が加わり、分
割電極溝13、13間でレアーショートが発生して、隣接す
る電極部におけるヒューズ部の溶断が生じたからである
と考えられる。
ところで、この金属化フィルムコンデンサにおいて、
上記したレアショートの発生を防止するために、分割電
極溝13の幅Ｗ（mm）を広くした場合には、同じ容量を確
保するために、コンデンサを大型化する必要があり、好
ましくない。従って、コンデンサの大型化を防止しなが
ら、レアショートの発生をも防止するためには、分割電
極溝13の幅Ｗ（mm）と、コンデンサのAC定格電圧Ｖとの
関係を、0.0015≧W/V≧0.0005にするのが好ましい。
上記したレアショートの発生を防止するために、分割電
極溝13の幅Ｗ（mm）を広くした場合には、同じ容量を確
保するために、コンデンサを大型化する必要があり、好
ましくない。従って、コンデンサの大型化を防止しなが
ら、レアショートの発生をも防止するためには、分割電
極溝13の幅Ｗ（mm）と、コンデンサのAC定格電圧Ｖとの
関係を、0.0015≧W/V≧0.0005にするのが好ましい。
（実施例３） 電極空白部12を隔てた電極間の沿面の耐圧不足による
レアーショートを確認するために、厚さ６μｍのポリプ
ロピレンフィルムを用いた上記実施例１と同様のコンデ
ンサを作製し、AC定格電圧を変化させて、保安性試験を
行なった。この結果を第２表に示す。
レアーショートを確認するために、厚さ６μｍのポリプ
ロピレンフィルムを用いた上記実施例１と同様のコンデ
ンサを作製し、AC定格電圧を変化させて、保安性試験を
行なった。この結果を第２表に示す。
第２表から明らかなように、AC定格電圧を低い値に設
定したにもかかわらず、L/V値が0.0005未満の試料は保
安性試験で低い保安性合格率を示した。また、不合格試
料の破壊箇所はすべて電極空白部12でのレアーショート
であった。これにより、電極空白部12を隔てた電極間の
沿面の耐圧不足によるレアーショートは、L/V値が0.000
5未満のときに発生することが確認された。
定したにもかかわらず、L/V値が0.0005未満の試料は保
安性試験で低い保安性合格率を示した。また、不合格試
料の破壊箇所はすべて電極空白部12でのレアーショート
であった。これにより、電極空白部12を隔てた電極間の
沿面の耐圧不足によるレアーショートは、L/V値が0.000
5未満のときに発生することが確認された。
［発明の効果］ 以上説明したように、本発明に係る金属化フィルムコ
ンデンサの第１の構成によれば、電極空白部の幅を狭く
しても、ヒューズ部が溶断した後の電極空白部を隔てた
電極間に電圧が加わった場合に、電極空白部でレアーシ
ョートが発生することはないので、電極空白部近傍にお
ける絶縁劣化が進んでコンデンサの破壊を引き起こすこ
とはない。その結果、保安性の向上を図ることができる
と共に、長期間使用する場合の電気容量の減少を防止す
ることができるので、金属化フィルムコンデンサの信頼
性が向上する。また、このように電極空白部の幅を狭く
してもレアーショートが発生することはないので、コン
デンサの大型化を防止することができる。
ンデンサの第１の構成によれば、電極空白部の幅を狭く
しても、ヒューズ部が溶断した後の電極空白部を隔てた
電極間に電圧が加わった場合に、電極空白部でレアーシ
ョートが発生することはないので、電極空白部近傍にお
ける絶縁劣化が進んでコンデンサの破壊を引き起こすこ
とはない。その結果、保安性の向上を図ることができる
と共に、長期間使用する場合の電気容量の減少を防止す
ることができるので、金属化フィルムコンデンサの信頼
性が向上する。また、このように電極空白部の幅を狭く
してもレアーショートが発生することはないので、コン
デンサの大型化を防止することができる。
また、本発明に係る金属化フィルムコンデサの第２の
構成によれば、分割電極の分割電極溝の幅を狭くして
も、何らかの原因でヒューズ部の溶断が生じて、分割電
極溝に隣接する分離された電極部と、分離されていない
電極部との間に電圧が加わった場合に、分割電極溝間で
レアーショートが発生することはないので、隣接する電
極部におけるヒューズ部の溶断が生じることはない。そ
の結果、長期間使用する場合の電気容量の減少を防止す
ることができるので、金属化フィルムコンデンサの信頼
性が向上する。また、このように分割電極の分割電極溝
の幅を狭くしてもレアーショートが発生することはない
ので、コンデンサの大型化を防止することができる。
構成によれば、分割電極の分割電極溝の幅を狭くして
も、何らかの原因でヒューズ部の溶断が生じて、分割電
極溝に隣接する分離された電極部と、分離されていない
電極部との間に電圧が加わった場合に、分割電極溝間で
レアーショートが発生することはないので、隣接する電
極部におけるヒューズ部の溶断が生じることはない。そ
の結果、長期間使用する場合の電気容量の減少を防止す
ることができるので、金属化フィルムコンデンサの信頼
性が向上する。また、このように分割電極の分割電極溝
の幅を狭くしてもレアーショートが発生することはない
ので、コンデンサの大型化を防止することができる。
第１図は本発明に係る金属化フィルムコンデンサの一実
施例を示す展開図、第２図及び第３図は本発明の一実施
例の試験時容量変化を示す特性図である。 11:金属薄膜 12:電極空白部 13:分割電極溝 L:電極空白部の幅 W:分割電極溝の幅
施例を示す展開図、第２図及び第３図は本発明の一実施
例の試験時容量変化を示す特性図である。 11:金属薄膜 12:電極空白部 13:分割電極溝 L:電極空白部の幅 W:分割電極溝の幅
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松本 進 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 国谷 一郎 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭58−225625（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−14628（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−46011（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−103113（ＪＰ，Ａ) 実開 昭57−114220（ＪＰ，Ｕ)
Claims (2)
- 【請求項１】基材フィルムの表面に形成した対向する２
極の金属薄膜電極を含む金属化フィルムコンデンサであ
って、前記２極の金属薄膜電極のうち、少なくとも１極
の金属薄膜電極を分割電極で構成すると共に、前記分割
電極の縁端に沿って間欠的な電極空白部を設け、該電極
空白部の幅Ｌ（単位:mm）と、コンデンサのAC定格電圧
Ｖ（単位:VAC）との関係を、0.0015≧L/V≧0.0005にし
たことを特徴とする金属化フィルムコンデンサ。 - 【請求項２】基材フィルムの表面に形成した対向する２
極の金属薄膜電極を含む金属化フィルムコンデンサであ
って、前記２極の金属薄膜電極のうち、少なくとも１極
の金属薄膜電極を分割電極で構成すると共に、前記分割
電極の縁端に沿って間欠的な電極空白部を設け、該分割
電極の分割電極溝の幅Ｗ（単位:mm）と、コンデンサのA
C定格電圧Ｖ（単位:VAC）との関係を、0.0015≧W/V≧0.
0005にしたことを特徴とする金属化フィルムコンデン
サ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1328743A JP2595359B2 (ja) | 1989-12-18 | 1989-12-18 | 金属化フィルムコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1328743A JP2595359B2 (ja) | 1989-12-18 | 1989-12-18 | 金属化フィルムコンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03188611A JPH03188611A (ja) | 1991-08-16 |
| JP2595359B2 true JP2595359B2 (ja) | 1997-04-02 |
Family
ID=18213678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1328743A Expired - Lifetime JP2595359B2 (ja) | 1989-12-18 | 1989-12-18 | 金属化フィルムコンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2595359B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4328615C2 (de) * | 1993-08-25 | 2002-11-28 | Epcos Ag | Elektrischer Kondensator |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2216559A (en) * | 1937-01-20 | 1940-10-01 | Bosch Gmbh Robert | Electrostatic condenser |
| DE3271708D1 (en) * | 1981-01-07 | 1986-07-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Roll type capacitor having segmented metallized areas |
| JPS57114220A (en) * | 1981-01-07 | 1982-07-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallized film capacitor |
| JPS58103113A (ja) * | 1981-12-15 | 1983-06-20 | 松下電器産業株式会社 | コンデンサ |
| JPS58225625A (ja) * | 1982-06-24 | 1983-12-27 | 松下電器産業株式会社 | コンデンサ |
| JPS58225624A (ja) * | 1982-06-24 | 1983-12-27 | 松下電器産業株式会社 | 金属化フイルムコンデンサ |
| JPS5914628A (ja) * | 1982-07-15 | 1984-01-25 | 松下電器産業株式会社 | 巻回形コンデンサ |
| JPS59115510A (ja) * | 1982-12-23 | 1984-07-04 | ニチコン株式会社 | 油浸金属化フイルムコンデンサ |
| JPS6146011A (ja) * | 1984-08-10 | 1986-03-06 | 松下電器産業株式会社 | コンデンサ |
-
1989
- 1989-12-18 JP JP1328743A patent/JP2595359B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03188611A (ja) | 1991-08-16 |
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