JPH0227552Y2 - - Google Patents
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- JPH0227552Y2 JPH0227552Y2 JP1983193261U JP19326183U JPH0227552Y2 JP H0227552 Y2 JPH0227552 Y2 JP H0227552Y2 JP 1983193261 U JP1983193261 U JP 1983193261U JP 19326183 U JP19326183 U JP 19326183U JP H0227552 Y2 JPH0227552 Y2 JP H0227552Y2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/14—Organic dielectrics
- H01G4/145—Organic dielectrics vapour deposited
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- Power Engineering (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
本考案は金属化フイルムコンデンサの改良に関
するもので、安全性と信頼性の極めて高い金属化
フイルムコンデンサを提供するものである。 従来、金属化フイルムコンデンサはポリプロピ
レンフイルム、ポリエチレンテレフタレートフイ
ルム、ポリスチレンフイルム、ポリカーボネート
フイルムなどのプラスチツク誘電体フイルムにア
ルミニウム、亜鉛などの金属を該フイルムの幅方
向端部に絶縁マージン部を設けて0.02〜0.03μm厚
みに真空蒸着した金属化プラスチツクフイルムを
該絶縁マージン部が反対側になるように巻回して
コンデンサ素子を形成し、該コンデンサ素子の両
端面に半田、亜鉛などの金属を溶射し、コンタク
ト層を形成して得られた電極引出し部にリード線
または端子を接続し、ケースに収納した後封口し
てなる金属化フイルムコンデンサが構成されてい
た。 このように構成された金属化フイルムコンデン
サは、プラスチツクフイルム内に含まれる絶縁欠
陥または金属蒸着時に形成される絶縁欠陥が原因
で課電試験時金属化フイルムが部分的に破壊を起
こすことがある。ところが電極は上述のように真
空蒸着による極めて薄い蒸着膜よりなるために、
部分的な破壊時のエネルギーで蒸着膜金属層の飛
散が可能で、一般的には絶縁回復して引き続いて
コンデンサは使用可能となる。 この部分的破壊の誘電体への影響は初期の段階
においては軽微なものであるが、長期間の使用に
よる継続した部分的破壊によつて誘電体は徐々に
劣化し、ついには発火発煙に至る危険を有してい
た。 このような欠点を改良するために過去において
は圧力ヒユーズを用いたり、また第1図に示すよ
うな金属化フイルム1の少なくとも片面幅方向端
部に絶縁マージン部2を設けて電極3を形成する
と共に、該金属化フイルム1を長さ方向に複数個
に分割するように絶縁溝4を設け、該金属化フイ
ルム1を巻回したコンデンサ素子自体に安全機能
を付与した金属化フイルムコンデンサが提案され
ている。5は絶縁シートである。特に後者の方法
による場合、コンデンサ素子自体に安全機能をも
たせているために構造が簡素にでき、生産性の向
上に寄与するところが大きい利点を有している
が、コンデンサの定格静電容量が大きいものにな
ると、そのはたらきは必ずしも十分ではない。 このために蒸着電極膜厚を薄いものにすれば有
利になるが、寿命試験での容量減少が多くなつた
り、また蒸着電極の膜抵抗値が経時変化を起こし
やすく、品質的不安定を招く傾向にあつた。 本考案は上述の欠点を除去した安全性の高い金
属化フイルムコンデンサを提供するものである。
詳しくは一対の蒸着電極において、片方の金属化
電極の幅方向に絶縁溝加工を行つて長さ方向に金
属化電極を複数個に分割し、他方の金属化電極と
を絶縁マージン部が反対側になるように配置して
巻回し、その両端部に電極引出し部を形成してな
る電極構成において、対向する金属化電極の絶縁
溝加工された電極のメタリコン側蒸着膜抵抗値を
他方の電極メタリコン側蒸着膜抵抗値より高く
し、安全機能を確保するものである。 以下、実施例について詳細に説明する。 試料に用いた金属化フイルムの誘電体は8μポ
リプロピレンフイルムとし、これに幅方向端部に
絶縁マージン部を残してアルミニウムを真空蒸着
したのち、一方の金属化フイルム電極は絶縁溝加
工を施して他方の非絶縁溝加工金属化フイルムと
共に素子を巻回した後、その両端部に金属溶射
し、加熱処理、端子付、エポキシ樹脂外装を行つ
て定格350V、30μFのコンデンサ試料を製作し
た。種々の蒸着膜抵抗値の場合について、自己保
安機能を確認した結果を第1表に示す。 なお、保安機能試験は80℃で定格電圧の2.5倍
の交流電圧を印加した。
するもので、安全性と信頼性の極めて高い金属化
フイルムコンデンサを提供するものである。 従来、金属化フイルムコンデンサはポリプロピ
レンフイルム、ポリエチレンテレフタレートフイ
ルム、ポリスチレンフイルム、ポリカーボネート
フイルムなどのプラスチツク誘電体フイルムにア
ルミニウム、亜鉛などの金属を該フイルムの幅方
向端部に絶縁マージン部を設けて0.02〜0.03μm厚
みに真空蒸着した金属化プラスチツクフイルムを
該絶縁マージン部が反対側になるように巻回して
コンデンサ素子を形成し、該コンデンサ素子の両
端面に半田、亜鉛などの金属を溶射し、コンタク
ト層を形成して得られた電極引出し部にリード線
または端子を接続し、ケースに収納した後封口し
てなる金属化フイルムコンデンサが構成されてい
た。 このように構成された金属化フイルムコンデン
サは、プラスチツクフイルム内に含まれる絶縁欠
陥または金属蒸着時に形成される絶縁欠陥が原因
で課電試験時金属化フイルムが部分的に破壊を起
こすことがある。ところが電極は上述のように真
空蒸着による極めて薄い蒸着膜よりなるために、
部分的な破壊時のエネルギーで蒸着膜金属層の飛
散が可能で、一般的には絶縁回復して引き続いて
コンデンサは使用可能となる。 この部分的破壊の誘電体への影響は初期の段階
においては軽微なものであるが、長期間の使用に
よる継続した部分的破壊によつて誘電体は徐々に
劣化し、ついには発火発煙に至る危険を有してい
た。 このような欠点を改良するために過去において
は圧力ヒユーズを用いたり、また第1図に示すよ
うな金属化フイルム1の少なくとも片面幅方向端
部に絶縁マージン部2を設けて電極3を形成する
と共に、該金属化フイルム1を長さ方向に複数個
に分割するように絶縁溝4を設け、該金属化フイ
ルム1を巻回したコンデンサ素子自体に安全機能
を付与した金属化フイルムコンデンサが提案され
ている。5は絶縁シートである。特に後者の方法
による場合、コンデンサ素子自体に安全機能をも
たせているために構造が簡素にでき、生産性の向
上に寄与するところが大きい利点を有している
が、コンデンサの定格静電容量が大きいものにな
ると、そのはたらきは必ずしも十分ではない。 このために蒸着電極膜厚を薄いものにすれば有
利になるが、寿命試験での容量減少が多くなつた
り、また蒸着電極の膜抵抗値が経時変化を起こし
やすく、品質的不安定を招く傾向にあつた。 本考案は上述の欠点を除去した安全性の高い金
属化フイルムコンデンサを提供するものである。
詳しくは一対の蒸着電極において、片方の金属化
電極の幅方向に絶縁溝加工を行つて長さ方向に金
属化電極を複数個に分割し、他方の金属化電極と
を絶縁マージン部が反対側になるように配置して
巻回し、その両端部に電極引出し部を形成してな
る電極構成において、対向する金属化電極の絶縁
溝加工された電極のメタリコン側蒸着膜抵抗値を
他方の電極メタリコン側蒸着膜抵抗値より高く
し、安全機能を確保するものである。 以下、実施例について詳細に説明する。 試料に用いた金属化フイルムの誘電体は8μポ
リプロピレンフイルムとし、これに幅方向端部に
絶縁マージン部を残してアルミニウムを真空蒸着
したのち、一方の金属化フイルム電極は絶縁溝加
工を施して他方の非絶縁溝加工金属化フイルムと
共に素子を巻回した後、その両端部に金属溶射
し、加熱処理、端子付、エポキシ樹脂外装を行つ
て定格350V、30μFのコンデンサ試料を製作し
た。種々の蒸着膜抵抗値の場合について、自己保
安機能を確認した結果を第1表に示す。 なお、保安機能試験は80℃で定格電圧の2.5倍
の交流電圧を印加した。
【表】
第1表より明らかなようにアルミニウムを真空
蒸着した場合、絶縁溝加工金属化フイルムの蒸着
膜抵抗値が非絶縁溝加工金属化フイルムの蒸着膜
抵抗値より3Ω/口以上高抵抗であると、自己保
安機能確保率が100%で安定し、安全性と信頼性
の高いコンデンサが得られた。 同様に蒸着金属を亜鉛とした時の結果を第2表
に示す。
蒸着した場合、絶縁溝加工金属化フイルムの蒸着
膜抵抗値が非絶縁溝加工金属化フイルムの蒸着膜
抵抗値より3Ω/口以上高抵抗であると、自己保
安機能確保率が100%で安定し、安全性と信頼性
の高いコンデンサが得られた。 同様に蒸着金属を亜鉛とした時の結果を第2表
に示す。
【表】
【表】
第2表から明らかなように亜鉛を真空蒸着した
場合、絶縁溝加工金属化フイルムの蒸着膜抵抗値
が非絶縁溝加工金属化フイルムの蒸着膜抵抗値よ
り3Ω/口以上高抵抗であると、上記アルミニウ
ムを真空蒸着した場合と同様に自己保安機能確保
率が100%で安定し、安全性と信頼性の高いコン
デンサが得られた。 以上の結果、蒸着電極の膜抵抗値を規定するこ
とにより、より自己保安機能を安定的に得ること
ができた。 なお、上述の実施例ではプラスチツクフイルム
としてはポリプロピレンフイルムを用いたが、ポ
リエチレンテレフタレートフイルム、またはポリ
プロピレンフイルムとポリエチレンテレフタレー
トとの組合せなどの他の熱可塑性フイルムでも同
様で、また金属の蒸着方法についても一枚の誘電
体の両面に真空蒸着を行つても同様な結果が得ら
れた。 さらに上述の実施例の他の、メタリコン側のみ
上述の蒸着膜抵抗値になるよう構成したものにつ
いても、同様の結果が得られ、少なくともメタリ
コン側の蒸着膜抵抗値を変化させれば大容量コン
デンサの異常時の大電流通電においても効果が得
られることが判明した。 以上のように、本考案によれば金属化フイルム
コンデンサの自己保安機能は確実に得ることがで
き、高い信頼性を実現することができ、極めて有
益なものである。
場合、絶縁溝加工金属化フイルムの蒸着膜抵抗値
が非絶縁溝加工金属化フイルムの蒸着膜抵抗値よ
り3Ω/口以上高抵抗であると、上記アルミニウ
ムを真空蒸着した場合と同様に自己保安機能確保
率が100%で安定し、安全性と信頼性の高いコン
デンサが得られた。 以上の結果、蒸着電極の膜抵抗値を規定するこ
とにより、より自己保安機能を安定的に得ること
ができた。 なお、上述の実施例ではプラスチツクフイルム
としてはポリプロピレンフイルムを用いたが、ポ
リエチレンテレフタレートフイルム、またはポリ
プロピレンフイルムとポリエチレンテレフタレー
トとの組合せなどの他の熱可塑性フイルムでも同
様で、また金属の蒸着方法についても一枚の誘電
体の両面に真空蒸着を行つても同様な結果が得ら
れた。 さらに上述の実施例の他の、メタリコン側のみ
上述の蒸着膜抵抗値になるよう構成したものにつ
いても、同様の結果が得られ、少なくともメタリ
コン側の蒸着膜抵抗値を変化させれば大容量コン
デンサの異常時の大電流通電においても効果が得
られることが判明した。 以上のように、本考案によれば金属化フイルム
コンデンサの自己保安機能は確実に得ることがで
き、高い信頼性を実現することができ、極めて有
益なものである。
第1図は金属化フイルムコンデンサの一実施例
の要部展開斜視図である。 1:金属化フイルム、2:絶縁マージン部、
3:電極、4:絶縁溝。
の要部展開斜視図である。 1:金属化フイルム、2:絶縁マージン部、
3:電極、4:絶縁溝。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) フイルムの幅方向端部に絶縁マージン部を設
け、かつフイルムの幅方向に蒸着電極の少なく
とも一部に絶縁溝を設けて長さ方向に複数個に
分割した片方の金属化電極と、上記絶縁溝を有
しない他方の金属化電極とを絶縁マージン部が
反対側になるように配置して巻回し、その両端
部に電極引出し部を形成してコンデンサ素子を
構成し、該コンデンサ素子を外装してなる金属
化フイルムコンデンサにおいて、絶縁溝を有す
る電極メタリコン側蒸着膜抵抗値が他方の電極
のメタリコン側蒸着膜抵抗値よりも高抵抗とし
たことを特徴とする金属化フイルムコンデン
サ。 (2) 誘電体をポリプロピレンフイルム、もしくは
ポリエチレンテレフタレートフイルム、または
これら組合せよりなること特徴とする実用新案
登録請求の範囲第1項記載の金属化フイルムコ
ンデンサ。 (3) 蒸着金属をアルミニウムとし、一対のメタリ
コン側金属化電極の抵抗値の差を3Ω/口以上
としたことを特徴とする実用新案登録請求の範
囲第1項記載の金属化フイルムコンデンサ。 (4) 蒸着金属を亜鉛とし、一対のメタリコン側金
属化電極の抵抗値の差を3Ω/口以上としたこ
とを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項
記載の金属化フイルムコンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19326183U JPS60101733U (ja) | 1983-12-14 | 1983-12-14 | 金属化フイルムコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19326183U JPS60101733U (ja) | 1983-12-14 | 1983-12-14 | 金属化フイルムコンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60101733U JPS60101733U (ja) | 1985-07-11 |
JPH0227552Y2 true JPH0227552Y2 (ja) | 1990-07-25 |
Family
ID=30415709
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19326183U Granted JPS60101733U (ja) | 1983-12-14 | 1983-12-14 | 金属化フイルムコンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60101733U (ja) |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS524048A (en) * | 1975-06-30 | 1977-01-12 | Matsushita Electric Works Ltd | Capacitor device |
JPS5286153A (en) * | 1976-01-13 | 1977-07-18 | Nitsuko Ltd | Lowwinductance film capacitor |
JPS54164245A (en) * | 1978-06-16 | 1979-12-27 | Fujikura Ltd | Capacitor using doubleeside evaporated film |
JPS57133617A (en) * | 1981-02-10 | 1982-08-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallized film capacitor |
JPS5748615B2 (ja) * | 1978-02-27 | 1982-10-16 | ||
JPS57196515A (en) * | 1981-05-28 | 1982-12-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallized film capacitor |
JPS57199217A (en) * | 1981-06-02 | 1982-12-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallized film condenser |
JPS586401A (ja) * | 1981-07-03 | 1983-01-14 | Tokico Ltd | 位置検出器 |
JPS5864018A (ja) * | 1981-10-14 | 1983-04-16 | 松下電器産業株式会社 | 巻回型金属化フイルムコンデンサ |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6017890Y2 (ja) * | 1980-09-03 | 1985-05-31 | 日立コンデンサ株式会社 | 巻回フィルムコンデンサ |
JPS6017891Y2 (ja) * | 1980-11-26 | 1985-05-31 | 日立コンデンサ株式会社 | 巻回形フィルムコンデンサ |
-
1983
- 1983-12-14 JP JP19326183U patent/JPS60101733U/ja active Granted
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS524048A (en) * | 1975-06-30 | 1977-01-12 | Matsushita Electric Works Ltd | Capacitor device |
JPS5286153A (en) * | 1976-01-13 | 1977-07-18 | Nitsuko Ltd | Lowwinductance film capacitor |
JPS5748615B2 (ja) * | 1978-02-27 | 1982-10-16 | ||
JPS54164245A (en) * | 1978-06-16 | 1979-12-27 | Fujikura Ltd | Capacitor using doubleeside evaporated film |
JPS57133617A (en) * | 1981-02-10 | 1982-08-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallized film capacitor |
JPS57196515A (en) * | 1981-05-28 | 1982-12-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallized film capacitor |
JPS57199217A (en) * | 1981-06-02 | 1982-12-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallized film condenser |
JPS586401A (ja) * | 1981-07-03 | 1983-01-14 | Tokico Ltd | 位置検出器 |
JPS5864018A (ja) * | 1981-10-14 | 1983-04-16 | 松下電器産業株式会社 | 巻回型金属化フイルムコンデンサ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60101733U (ja) | 1985-07-11 |
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