JPH0227553Y2 - - Google Patents
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- JPH0227553Y2 JPH0227553Y2 JP1983193262U JP19326283U JPH0227553Y2 JP H0227553 Y2 JPH0227553 Y2 JP H0227553Y2 JP 1983193262 U JP1983193262 U JP 1983193262U JP 19326283 U JP19326283 U JP 19326283U JP H0227553 Y2 JPH0227553 Y2 JP H0227553Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- electrode
- metallized
- insulating groove
- insulating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/32—Wound capacitors
Description
本考案は金属化フイルムコンデンサの改良に関
するもので、安全性と信頼性の極めて高い金属化
フイルムコンデンサを提供するものである。 従来、金属化フイルムコンデンサはポリプロピ
レンフイルム、ポリエチレンテレフタレートフイ
ルム、ポリスチレンフイルム、ポリカーボネイト
フイルムなどのプラスチツク誘電体フイルムにア
ルミニウム、亜鉛などの金属を該フイルムの幅方
向端部に絶縁マージン部を設けて0.02〜0.03μm厚
みに真空蒸着した金属化プラスチツクフイルムを
該絶縁マージン部が反対側になるように巻回して
コンデンサ素子を形成し、該コンデンサ素子の両
端面に半田、亜鉛などの金属を溶射し、コンタク
ト層を形成して得られた電極引出し部にリード線
または端子を接続し、ケースに収納した後封口し
てなる金属化フイルムコンデンサが構成されてい
た。 このように構成された金属化フイルムコンデン
サは、プラスチツクフイルム内に、含まれる絶縁
欠陥または金属蒸着時に形成される絶縁欠陥が原
因で課電試験時金属化フイルムが部分的に破壊を
起こすことがある。ところが電極は上述のように
真空蒸着によるきわめて薄い蒸着膜よりなるため
に、部分的な配壊時のエネルギーで蒸着膜金属層
の飛散が可能で、一般的には絶縁回復して引き続
いてコンデンサは使用可能となる。 この部分的破壊の誘電体への影響は初期の段階
においては軽微なものであるが、長期間の使用に
よる継続した部分的破壊によつて、誘電体は徐々
に劣化し、ついには発火発煙に至る危険を有して
いた。 このような欠点を改良するために過去において
は圧力式ヒユーズを用いたりまた第１図に示すよ
うな金属化フイルム１の少なくとも片面幅方向端
部に絶縁マージン部２を設けて電極３を形成する
と共に、該金属化フイルム１を長さ方向に複数個
に分割するように絶縁溝４を設け、該金属化フイ
ルム１を巻回したコンデンサ素子自体に安全機能
を付与した金属化フイルムコンデンサが提案され
ている。５は絶縁シートである。 特に後者の方法による場合、コンデンサ素子自
体に安全機能をもたせているために構造が簡素に
でき、生産性の向上に寄与するところが大きい利
点を有しているが、コンデンサの定格静電容量が
大きなものになると、その働きは必ずしも十分で
はない。このために蒸着電極膜厚を薄いものにす
れば有利になるが、寿命試験での容量減少が多く
なつたり、また蒸着電極の膜抵抗値が経時変化を
起こしやすく、品質的不安定を招く傾向にあつ
た。 本考案は上述の欠点を除去した安全性の高い金
属化フイルムコンデンサを提供するものである。
詳しくな一対の蒸着電極において片方の金属化電
極の幅方向に絶縁溝加工を行つて長さ方向に金属
化電極を複数個に分割し、他方の金属化電極とを
絶縁マージン部が反対側になるように配置して巻
回し、その両端部に電極引出し部を形成してなる
電極構成において、絶縁溝を有する電極金属を亜
鉛とし、絶縁溝を有しない電極金属を異種金属、
例えばアルミニウムとすることにより大容量コン
デンサにおいても保安機能をより確実にし、寿命
試験における容量変化を少なく安定化できるもの
である。 以下、実施例について詳細に説明する。 試料に用いた金属化フイルムの誘電体は8μポ
リプロピレンフイルムとし、これに幅方向端部に
絶縁マージン部を残して真空蒸着したのち、一方
の金属化フイルム電極には絶縁溝加工を施して他
方の非絶縁溝加工金属化フイルムと共に素子を巻
回した後その両端部に金属溶射し加熱処理、端子
付、エポキシ樹脂外層を行つて定格350V、30μF
のコンデンサ試料を製作した。種々の蒸着金属の
組合せについて実験を行つた結果を次表に示す。
数字は各試料20個の平均値である。 なお、保安機能試験は80℃で定格電圧の2.5倍
の交流電圧を印加した。
するもので、安全性と信頼性の極めて高い金属化
フイルムコンデンサを提供するものである。 従来、金属化フイルムコンデンサはポリプロピ
レンフイルム、ポリエチレンテレフタレートフイ
ルム、ポリスチレンフイルム、ポリカーボネイト
フイルムなどのプラスチツク誘電体フイルムにア
ルミニウム、亜鉛などの金属を該フイルムの幅方
向端部に絶縁マージン部を設けて0.02〜0.03μm厚
みに真空蒸着した金属化プラスチツクフイルムを
該絶縁マージン部が反対側になるように巻回して
コンデンサ素子を形成し、該コンデンサ素子の両
端面に半田、亜鉛などの金属を溶射し、コンタク
ト層を形成して得られた電極引出し部にリード線
または端子を接続し、ケースに収納した後封口し
てなる金属化フイルムコンデンサが構成されてい
た。 このように構成された金属化フイルムコンデン
サは、プラスチツクフイルム内に、含まれる絶縁
欠陥または金属蒸着時に形成される絶縁欠陥が原
因で課電試験時金属化フイルムが部分的に破壊を
起こすことがある。ところが電極は上述のように
真空蒸着によるきわめて薄い蒸着膜よりなるため
に、部分的な配壊時のエネルギーで蒸着膜金属層
の飛散が可能で、一般的には絶縁回復して引き続
いてコンデンサは使用可能となる。 この部分的破壊の誘電体への影響は初期の段階
においては軽微なものであるが、長期間の使用に
よる継続した部分的破壊によつて、誘電体は徐々
に劣化し、ついには発火発煙に至る危険を有して
いた。 このような欠点を改良するために過去において
は圧力式ヒユーズを用いたりまた第１図に示すよ
うな金属化フイルム１の少なくとも片面幅方向端
部に絶縁マージン部２を設けて電極３を形成する
と共に、該金属化フイルム１を長さ方向に複数個
に分割するように絶縁溝４を設け、該金属化フイ
ルム１を巻回したコンデンサ素子自体に安全機能
を付与した金属化フイルムコンデンサが提案され
ている。５は絶縁シートである。 特に後者の方法による場合、コンデンサ素子自
体に安全機能をもたせているために構造が簡素に
でき、生産性の向上に寄与するところが大きい利
点を有しているが、コンデンサの定格静電容量が
大きなものになると、その働きは必ずしも十分で
はない。このために蒸着電極膜厚を薄いものにす
れば有利になるが、寿命試験での容量減少が多く
なつたり、また蒸着電極の膜抵抗値が経時変化を
起こしやすく、品質的不安定を招く傾向にあつ
た。 本考案は上述の欠点を除去した安全性の高い金
属化フイルムコンデンサを提供するものである。
詳しくな一対の蒸着電極において片方の金属化電
極の幅方向に絶縁溝加工を行つて長さ方向に金属
化電極を複数個に分割し、他方の金属化電極とを
絶縁マージン部が反対側になるように配置して巻
回し、その両端部に電極引出し部を形成してなる
電極構成において、絶縁溝を有する電極金属を亜
鉛とし、絶縁溝を有しない電極金属を異種金属、
例えばアルミニウムとすることにより大容量コン
デンサにおいても保安機能をより確実にし、寿命
試験における容量変化を少なく安定化できるもの
である。 以下、実施例について詳細に説明する。 試料に用いた金属化フイルムの誘電体は8μポ
リプロピレンフイルムとし、これに幅方向端部に
絶縁マージン部を残して真空蒸着したのち、一方
の金属化フイルム電極には絶縁溝加工を施して他
方の非絶縁溝加工金属化フイルムと共に素子を巻
回した後その両端部に金属溶射し加熱処理、端子
付、エポキシ樹脂外層を行つて定格350V、30μF
のコンデンサ試料を製作した。種々の蒸着金属の
組合せについて実験を行つた結果を次表に示す。
数字は各試料20個の平均値である。 なお、保安機能試験は80℃で定格電圧の2.5倍
の交流電圧を印加した。
【表】
また寿命試験は80℃で定格電圧の1.2倍の交流
電圧を1000時間印加した後、1kHzでの容量変化
率を測定した。 以上の結果、絶縁溝加工電極を亜鉛とし、他の
非絶縁溝加工側電極をアルミニウムとした時、自
己保安機能を確実に得ることができると共に、寿
命試験での容量減少の安定化をはかることがで
き、その効果は著しい。 さらに非絶縁溝加工のメタリコン側電極を絶縁
溝加工のメタリコン側電極よりも蒸着膜厚を厚く
することにより大電流通電の場合にも効果を高め
ることができる。 なお、上述の実施例ではプラスチツクフイルと
してポリプロピレンフイルムを用いたが、ポリエ
チレンテレフタレートフイルム、またはポリプロ
ピレンフイレムとポリエチレンテレフタレートと
の組合せなどの他の熱可塑性フイルムでも同様
で、また金属の蒸着方法についても一枚の誘電体
の両面に真空蒸着を行つた場合、あるいは油浸コ
ンデンサにおいても同様な結果が得られた。 以上のように本考案によれば金属化フイルムコ
ンデンサの自己保安機能は確実に得ることがで
き、かつ容量減少の少ない高い信頼性を実現する
ことができ、極めて有益なものである。
電圧を1000時間印加した後、1kHzでの容量変化
率を測定した。 以上の結果、絶縁溝加工電極を亜鉛とし、他の
非絶縁溝加工側電極をアルミニウムとした時、自
己保安機能を確実に得ることができると共に、寿
命試験での容量減少の安定化をはかることがで
き、その効果は著しい。 さらに非絶縁溝加工のメタリコン側電極を絶縁
溝加工のメタリコン側電極よりも蒸着膜厚を厚く
することにより大電流通電の場合にも効果を高め
ることができる。 なお、上述の実施例ではプラスチツクフイルと
してポリプロピレンフイルムを用いたが、ポリエ
チレンテレフタレートフイルム、またはポリプロ
ピレンフイレムとポリエチレンテレフタレートと
の組合せなどの他の熱可塑性フイルムでも同様
で、また金属の蒸着方法についても一枚の誘電体
の両面に真空蒸着を行つた場合、あるいは油浸コ
ンデンサにおいても同様な結果が得られた。 以上のように本考案によれば金属化フイルムコ
ンデンサの自己保安機能は確実に得ることがで
き、かつ容量減少の少ない高い信頼性を実現する
ことができ、極めて有益なものである。
第１図は金属化フイルムコンデンサ素子の一実
施例の要部展開斜視図である。 １：金属化フイルム、２：絶縁マージン部、
３：電極、４：絶縁溝。
施例の要部展開斜視図である。 １：金属化フイルム、２：絶縁マージン部、
３：電極、４：絶縁溝。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) フイルムの幅方向端部に絶縁マージン部を設
け、かつフイルムの幅方向に蒸着電極の少なく
とも一部に絶縁溝を設けて長さ方向に複数個に
分割した片方の金属化電極と上記絶縁溝を有し
ない他方の金属化電極とを絶縁マージン部が反
対側になるように配置して巻回し、その両端部
に電極引出し部を形成してコンデンサ素子を構
成し、該コンデンサ素子を外装してなる金属化
フイルムコンデンサにおいて、絶縁溝を有する
電極金属が亜鉛からなり、絶縁溝を有しない電
極金属が異種金属からなることを特徴とする金
属化フイルムコンデンサ。 (2) 上記絶縁溝を有する電極金属が亜鉛からな
り、他方の絶縁溝を有しない電極金属がアルミ
ニウムからなることを特徴とする実用新案登録
請求の範囲第１項記載の金属化フイルムコンデ
ンサ。 (3) 誘電体をポリプロピレンフイルムもしくは、
ポリエチレンテレフタレートフイルムまたはこ
れらの組合せよりなることを特徴とする実用新
案登録請求の範囲第１項記載の金属化フイルム
コンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19326283U JPS60101734U (ja) | 1983-12-14 | 1983-12-14 | 金属化フイルムコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19326283U JPS60101734U (ja) | 1983-12-14 | 1983-12-14 | 金属化フイルムコンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60101734U JPS60101734U (ja) | 1985-07-11 |
| JPH0227553Y2 true JPH0227553Y2 (ja) | 1990-07-25 |
Family
ID=30415711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19326283U Granted JPS60101734U (ja) | 1983-12-14 | 1983-12-14 | 金属化フイルムコンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60101734U (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5286153A (en) * | 1976-01-13 | 1977-07-18 | Nitsuko Ltd | Lowwinductance film capacitor |
| JPS5748615B2 (ja) * | 1978-02-27 | 1982-10-16 | ||
| JPS57199217A (en) * | 1981-06-02 | 1982-12-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallized film condenser |
| JPS583217A (ja) * | 1981-06-29 | 1983-01-10 | ニチコン株式会社 | 金属化フイルムコンデンサ |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6017890Y2 (ja) * | 1980-09-03 | 1985-05-31 | 日立コンデンサ株式会社 | 巻回フィルムコンデンサ |
| JPS58150821U (ja) * | 1982-04-02 | 1983-10-08 | ニチコン株式会社 | 金属化フイルムコンデンサ |
-
1983
- 1983-12-14 JP JP19326283U patent/JPS60101734U/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5286153A (en) * | 1976-01-13 | 1977-07-18 | Nitsuko Ltd | Lowwinductance film capacitor |
| JPS5748615B2 (ja) * | 1978-02-27 | 1982-10-16 | ||
| JPS57199217A (en) * | 1981-06-02 | 1982-12-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallized film condenser |
| JPS583217A (ja) * | 1981-06-29 | 1983-01-10 | ニチコン株式会社 | 金属化フイルムコンデンサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60101734U (ja) | 1985-07-11 |
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