JPH07142672A - 半導体チップを備えた電子部品 - Google Patents
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- H01L2224/48135—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/48137—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
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- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/4823—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a pin of the item
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- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1301—Thyristor
- H01L2924/13033—TRIAC - Triode for Alternating Current - A bidirectional switching device containing two thyristor structures with common gate contact
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-
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- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1306—Field-effect transistor [FET]
- H01L2924/13091—Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
-
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 少なくとも二つの出力側電極端子3a,3b
を有する回路素子を形成した半導体チップ3と、前記半
導体チップにおける出力側電極端子の各々に対する外部
リード端子4,5と、前記回路素子における出力側電極
端子とその外部リード端子との間を電気的に接続する金
属細線6,7′とから成る電子部品において、この電子
部品に、半導体チップに対する温度保証の機能を付与す
る。 【構成】 前記金属細線のうち一部の金属細線、又は全
部の金属細線を、半田ワイヤ7′にして、この半田ワイ
ヤの両端にボール部7a,7bを形成し、この両ボール
部を、前記半導体チップの回路素子における出力側電極
端子とその外部リード端子とに対して押圧・接合して、
この半田ワイヤを前記半導体チップに対する温度ヒュー
ズにする。
を有する回路素子を形成した半導体チップ3と、前記半
導体チップにおける出力側電極端子の各々に対する外部
リード端子4,5と、前記回路素子における出力側電極
端子とその外部リード端子との間を電気的に接続する金
属細線6,7′とから成る電子部品において、この電子
部品に、半導体チップに対する温度保証の機能を付与す
る。 【構成】 前記金属細線のうち一部の金属細線、又は全
部の金属細線を、半田ワイヤ7′にして、この半田ワイ
ヤの両端にボール部7a,7bを形成し、この両ボール
部を、前記半導体チップの回路素子における出力側電極
端子とその外部リード端子とに対して押圧・接合して、
この半田ワイヤを前記半導体チップに対する温度ヒュー
ズにする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、トランジスター等のよ
うに少なくとも二つの出力側電極端子を有する半導体チ
ップを使用した電子部品に関するものである。
うに少なくとも二つの出力側電極端子を有する半導体チ
ップを使用した電子部品に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、この種の半導体チップを使用し
た電子部品の一例であるトランジスターは、回路素子を
形成した半導体チップを、ベース基板に搭載し、この半
導体チップの回路素子におけるコレクタ電極端子及びエ
ミッタ電極端子の出力側電極端子と、その各々に対する
外部リード端子との間を、Au,Al又はCu等の高融
点金属製の金属細線によるワイヤボンディングにて電気
的に接続したのち、これらの全体を、熱硬化性合成樹脂
製のモールド部とか、キャップ体にてパッケージすると
言う構成にしていることは周知の通りである。
た電子部品の一例であるトランジスターは、回路素子を
形成した半導体チップを、ベース基板に搭載し、この半
導体チップの回路素子におけるコレクタ電極端子及びエ
ミッタ電極端子の出力側電極端子と、その各々に対する
外部リード端子との間を、Au,Al又はCu等の高融
点金属製の金属細線によるワイヤボンディングにて電気
的に接続したのち、これらの全体を、熱硬化性合成樹脂
製のモールド部とか、キャップ体にてパッケージすると
言う構成にしていることは周知の通りである。
【0003】ところで、前記のようなトランジスターを
使用した電気回路に高い電流又は高い電圧が流れること
によって、当該電気回路中のトランジスターに大電力が
印加した場合、このトランジスターにおける半導体チッ
プが高い温度に発熱して、その特性に大きな影響を受け
るものである。しかし、従来におけるトランジスターに
おいては、半導体チップの回路素子におけるコレクタ電
極端子及びエミッタ電極端子と、その各々の外部リード
端子との間を、Au,Al又はCu等の高融点金属製の
金属細線によるワイヤボンディングにて電気的に接続す
ると言う構成にしていることにより、大電力による半導
体チップの温度上昇を防止することができないから、大
電力の印加等によって半導体チップの温度が高くなった
場合において、当該半導体チップにおける回路素子が、
本来の機能とは異なった作用して、この回路素子におけ
るコレクタ電極端子及びエミッタ電極端子に接続されて
いる負荷系の電気回路に大電流が流れて、当該負荷系の
電気回路中に設けられているその他の電子部品等を破損
すると言う二次的被害が発生することがあった。
使用した電気回路に高い電流又は高い電圧が流れること
によって、当該電気回路中のトランジスターに大電力が
印加した場合、このトランジスターにおける半導体チッ
プが高い温度に発熱して、その特性に大きな影響を受け
るものである。しかし、従来におけるトランジスターに
おいては、半導体チップの回路素子におけるコレクタ電
極端子及びエミッタ電極端子と、その各々の外部リード
端子との間を、Au,Al又はCu等の高融点金属製の
金属細線によるワイヤボンディングにて電気的に接続す
ると言う構成にしていることにより、大電力による半導
体チップの温度上昇を防止することができないから、大
電力の印加等によって半導体チップの温度が高くなった
場合において、当該半導体チップにおける回路素子が、
本来の機能とは異なった作用して、この回路素子におけ
るコレクタ電極端子及びエミッタ電極端子に接続されて
いる負荷系の電気回路に大電流が流れて、当該負荷系の
電気回路中に設けられているその他の電子部品等を破損
すると言う二次的被害が発生することがあった。
【0004】そこで、先行技術としての特開平5−23
5080号公報は、ベース基板に搭載した半導体チップ
と、外部リード端子との間を、半田ワイヤにてワイヤボ
ンディングすることにより、この半田ワイヤを、前記半
導体チップに対する温度ヒューズとすることを提案して
いる。そして、この先行技術のものは、半田ワイヤによ
るワイヤボンディングに、先づ、図13に示すように、
キャピラリーツールAに挿通した半田ワイヤBの下端
に、ボール部B′を形成したのち、このボール部B′
を、図14に示すように、前記キャピラリーツールAの
下降動によって、ベース基板C上の半導体チップDにお
ける電極パッドD′に対して押圧することによって接合
し、次いで、前記キャピラリーツールAを上昇動しなが
ら外部リード端子Eの真上まで移動したのち、図15に
示すように、外部リード端子Eに向かって下降動して、
半田ワイヤBの他端部B″を外部リード端子Eに対して
押圧することにより接合すると言う方法を採用してい
る。
5080号公報は、ベース基板に搭載した半導体チップ
と、外部リード端子との間を、半田ワイヤにてワイヤボ
ンディングすることにより、この半田ワイヤを、前記半
導体チップに対する温度ヒューズとすることを提案して
いる。そして、この先行技術のものは、半田ワイヤによ
るワイヤボンディングに、先づ、図13に示すように、
キャピラリーツールAに挿通した半田ワイヤBの下端
に、ボール部B′を形成したのち、このボール部B′
を、図14に示すように、前記キャピラリーツールAの
下降動によって、ベース基板C上の半導体チップDにお
ける電極パッドD′に対して押圧することによって接合
し、次いで、前記キャピラリーツールAを上昇動しなが
ら外部リード端子Eの真上まで移動したのち、図15に
示すように、外部リード端子Eに向かって下降動して、
半田ワイヤBの他端部B″を外部リード端子Eに対して
押圧することにより接合すると言う方法を採用してい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このワイヤボ
ンディング方法においては、半田ワイヤBの一端部を、
当該一端部に形成したボール部B′にて半導体チップD
における電極パッドD′に対して接合するものの、前記
半田ワイヤBの他端部B″を、当該他端部B″をキャビ
ラリーツールAにて押圧することによって外部リード端
子Eに対して接合するもので、この他端部B″の外部リ
ード端子Eに対する接合に際して、当該他端部B″は、
半田ワイヤBにおける直径dより薄い厚さtの偏平状に
押し潰されることにより、その部分に、断面積が急激に
狭窄されると言うネック部ができることになる。
ンディング方法においては、半田ワイヤBの一端部を、
当該一端部に形成したボール部B′にて半導体チップD
における電極パッドD′に対して接合するものの、前記
半田ワイヤBの他端部B″を、当該他端部B″をキャビ
ラリーツールAにて押圧することによって外部リード端
子Eに対して接合するもので、この他端部B″の外部リ
ード端子Eに対する接合に際して、当該他端部B″は、
半田ワイヤBにおける直径dより薄い厚さtの偏平状に
押し潰されることにより、その部分に、断面積が急激に
狭窄されると言うネック部ができることになる。
【0006】ところで、半田ワイヤBは、従来における
ワイヤボンディングに広く使用されているAuワイヤ,
Alワイヤ又はCuワイヤに比べて、電気抵抗が大きい
ばかりか、融点が低いから、この半田ワイヤBの途中
に、前記したネック部が存在すると、このネック部は、
当該ネック部に電流集中が発生することにより、比較的
低い電流にでも高い温度になる。
ワイヤボンディングに広く使用されているAuワイヤ,
Alワイヤ又はCuワイヤに比べて、電気抵抗が大きい
ばかりか、融点が低いから、この半田ワイヤBの途中
に、前記したネック部が存在すると、このネック部は、
当該ネック部に電流集中が発生することにより、比較的
低い電流にでも高い温度になる。
【0007】すなわち、前記先行技術における半田ワイ
ヤによるワイヤボンディングを、前記トランジスターに
おいて、そのコレクタ電極端子及びエミッタ電極端子の
うちいずれか一方又は両方と、その各々の外部リード端
子との間におけるワイヤボンディングに適用することに
よって、この半田ワイヤを、半導体チップに対する温度
ヒューズにした場合には、この半田ワイヤが、半導体チ
ップが大電流等によって所定の温度まで上昇するよりも
前に、電気回路における通常の使用電流値にて前記ネッ
ク部の箇所において溶断することになる。
ヤによるワイヤボンディングを、前記トランジスターに
おいて、そのコレクタ電極端子及びエミッタ電極端子の
うちいずれか一方又は両方と、その各々の外部リード端
子との間におけるワイヤボンディングに適用することに
よって、この半田ワイヤを、半導体チップに対する温度
ヒューズにした場合には、この半田ワイヤが、半導体チ
ップが大電流等によって所定の温度まで上昇するよりも
前に、電気回路における通常の使用電流値にて前記ネッ
ク部の箇所において溶断することになる。
【0008】しかも、前記半田ワイヤの途中におけるネ
ック部は、前記した電流集中の繰り返しによって機械的
強度も低下するから、半田ワイヤが、半導体チップの温
度に対して温度ヒューズとして機能するよりも前に、通
常の使用状態における振動等によっても、断線すること
になる。従って、前記先行技術における半田ワイヤは、
その途中にネック部が存在していることにより、トラン
ジスター等のような半導体チップ付き電子部品に適用し
た場合に、半導体チップの温度に対して温度ヒューズと
して機能するよりも前に、電流ヒューズとして機能する
ことになるばかりか、温度ヒューズとして機能するより
も前に、断線することになるから、前記先行技術におけ
る半田ワイヤに、半導体チップに対する温度ヒューズと
しての機能を持たせることが、実質的にできないと言う
問題があった。
ック部は、前記した電流集中の繰り返しによって機械的
強度も低下するから、半田ワイヤが、半導体チップの温
度に対して温度ヒューズとして機能するよりも前に、通
常の使用状態における振動等によっても、断線すること
になる。従って、前記先行技術における半田ワイヤは、
その途中にネック部が存在していることにより、トラン
ジスター等のような半導体チップ付き電子部品に適用し
た場合に、半導体チップの温度に対して温度ヒューズと
して機能するよりも前に、電流ヒューズとして機能する
ことになるばかりか、温度ヒューズとして機能するより
も前に、断線することになるから、前記先行技術におけ
る半田ワイヤに、半導体チップに対する温度ヒューズと
しての機能を持たせることが、実質的にできないと言う
問題があった。
【0009】本発明は、トランジスター等の電子部品に
おいて、その半導体チップの回路素子におけるコレクタ
電極端子及びエミッタ電極端子等の出力側電極端子と、
その外部リード端子との間、半田ワイヤにて電気的に接
続する場合において、前記半田ワイヤに、前記半導体チ
ップに対する温度ヒューズとしての機能を確実に付与す
ることを技術的課題とするものである。
おいて、その半導体チップの回路素子におけるコレクタ
電極端子及びエミッタ電極端子等の出力側電極端子と、
その外部リード端子との間、半田ワイヤにて電気的に接
続する場合において、前記半田ワイヤに、前記半導体チ
ップに対する温度ヒューズとしての機能を確実に付与す
ることを技術的課題とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】この技術的課題を達成す
るため本発明は、「少なくとも二つの出力側電極端子を
有する回路素子を形成した半導体チップと、前記半導体
チップにおける各出力側電極端子の各々に対する外部リ
ード端子と、前記回路素子における各出力側電極端子と
その各々の外部リード端子との間を電気的に接続する金
属細線とから成る電子部品において、前記金属細線のう
ち一部の金属細線、又は全部の金属細線を、半田ワイヤ
にして、この半田ワイヤの両端にボール部を形成し、こ
の両ボール部を、前記半導体チップの回路素子における
出力側電極端子とその外部リード端子とに対して押圧・
接合して、この半田ワイヤを前記半導体チップに対する
温度ヒューズにする。」と言う構成にした。
るため本発明は、「少なくとも二つの出力側電極端子を
有する回路素子を形成した半導体チップと、前記半導体
チップにおける各出力側電極端子の各々に対する外部リ
ード端子と、前記回路素子における各出力側電極端子と
その各々の外部リード端子との間を電気的に接続する金
属細線とから成る電子部品において、前記金属細線のう
ち一部の金属細線、又は全部の金属細線を、半田ワイヤ
にして、この半田ワイヤの両端にボール部を形成し、こ
の両ボール部を、前記半導体チップの回路素子における
出力側電極端子とその外部リード端子とに対して押圧・
接合して、この半田ワイヤを前記半導体チップに対する
温度ヒューズにする。」と言う構成にした。
【0011】
【作 用】このように、本発明は、半田ワイヤの両端
にボール部を形成し、この両ボール部を、半導体チップ
の回路素子における出力側電極端子とその外部リード端
子とに対して押圧・接合するもので、これにより、前記
半導体チップに対する温度ヒューズとなる半田ワイヤの
半導体チップ及び外部リード端子に対する接合箇所に、
断面積が急激に狭窄されるネック部ができることを回避
することができるか、或いは、断面積が狭窄されること
を小さい範囲にとどめることができるのである。
にボール部を形成し、この両ボール部を、半導体チップ
の回路素子における出力側電極端子とその外部リード端
子とに対して押圧・接合するもので、これにより、前記
半導体チップに対する温度ヒューズとなる半田ワイヤの
半導体チップ及び外部リード端子に対する接合箇所に、
断面積が急激に狭窄されるネック部ができることを回避
することができるか、或いは、断面積が狭窄されること
を小さい範囲にとどめることができるのである。
【0012】
【発明の効果】従って、本発明によると、トランジスタ
ー等の電子部品において、半導体チップの回路素子にお
ける出力側電極端子と外部リード端子とを電気的に接続
する半田ワイヤに、前記半導体チップに対する温度ヒュ
ーズとしての確実な機能を付与することができると共
に、通常の使用状態における振動等によって断線が発生
することを防止できるから、電子部品における半導体チ
ップの発熱によって、当該半導体チップにおける出力側
電極端子に対して接続されている負荷側の電気回路中に
おける各種の電子部品に二次的被害を及ぼすことを確実
に防止できる効果を有する。
ー等の電子部品において、半導体チップの回路素子にお
ける出力側電極端子と外部リード端子とを電気的に接続
する半田ワイヤに、前記半導体チップに対する温度ヒュ
ーズとしての確実な機能を付与することができると共
に、通常の使用状態における振動等によって断線が発生
することを防止できるから、電子部品における半導体チ
ップの発熱によって、当該半導体チップにおける出力側
電極端子に対して接続されている負荷側の電気回路中に
おける各種の電子部品に二次的被害を及ぼすことを確実
に防止できる効果を有する。
【0013】また、半田ワイヤにおける両ボール部のう
ち半導体チップ側のボール部を、出力側端子に対して半
田ワイヤの軸方向に押圧・接合する一方、外部リード端
子側のボール部を、外部リード端子に対して半田ワイヤ
の軸線と略直角方向に押圧・接合することにより、半田
ワイヤの半導体チップに対する押圧・接合と、半田ワイ
ヤの外部リード端子に対する押圧・接合とを、別々のボ
ンディングツールによって行うことができて、ワイヤボ
ンディングに要する時間を短縮できるから、コストの低
減を図ることができるのである。
ち半導体チップ側のボール部を、出力側端子に対して半
田ワイヤの軸方向に押圧・接合する一方、外部リード端
子側のボール部を、外部リード端子に対して半田ワイヤ
の軸線と略直角方向に押圧・接合することにより、半田
ワイヤの半導体チップに対する押圧・接合と、半田ワイ
ヤの外部リード端子に対する押圧・接合とを、別々のボ
ンディングツールによって行うことができて、ワイヤボ
ンディングに要する時間を短縮できるから、コストの低
減を図ることができるのである。
【0014】
【実施例】以下、本発明の実施例を、図面について説明
する。図1及び図2は、高出力型のトランジスターに適
用した場合の第1の実施例を示す。この図において符号
1は、ベース極の外部リード端子2を一体的に備えた金
属板製のベース基板で、このベース基板1の上面に、ト
ランジスターの回路素子とこの回路素子に対する出力側
電極端子であるところのエミッタ電極端子3aとコレク
タ電極端子3bとを形成した半導体チップ3が、当該半
導体チップ3の回路素子におけるベース極がベース基板
1に電気的に接続するようにしてダイボンディングされ
ている。
する。図1及び図2は、高出力型のトランジスターに適
用した場合の第1の実施例を示す。この図において符号
1は、ベース極の外部リード端子2を一体的に備えた金
属板製のベース基板で、このベース基板1の上面に、ト
ランジスターの回路素子とこの回路素子に対する出力側
電極端子であるところのエミッタ電極端子3aとコレク
タ電極端子3bとを形成した半導体チップ3が、当該半
導体チップ3の回路素子におけるベース極がベース基板
1に電気的に接続するようにしてダイボンディングされ
ている。
【0015】一方、前記ベース極の外部リード端子2に
おける左右両側には、エミッタ極の外部リード端子4
と、コレクタ極の外部リード端子5とが配設されてい
る。これら、両リード端子4,5は、前記ベース基板1
と同様に、金属板製である。前記エミッタ極の外部リー
ド端子4における先端と、前記半導体チップ3の回路素
子におけるエミッタ電極端子3aとの間を、Au,Al
又はCu等の高融点金属製の金属細線6によるワイヤボ
ンディングにて電気的に接続する一方、前記コレクタ極
の外部リード端子5における先端と、半導体チップ3の
回路素子におけるコレクタ電極端子3bとの間を、温度
ヒューズとしての機能を有する半田ワイヤ7′によるワ
イヤボンディングにて電気的に接続する。
おける左右両側には、エミッタ極の外部リード端子4
と、コレクタ極の外部リード端子5とが配設されてい
る。これら、両リード端子4,5は、前記ベース基板1
と同様に、金属板製である。前記エミッタ極の外部リー
ド端子4における先端と、前記半導体チップ3の回路素
子におけるエミッタ電極端子3aとの間を、Au,Al
又はCu等の高融点金属製の金属細線6によるワイヤボ
ンディングにて電気的に接続する一方、前記コレクタ極
の外部リード端子5における先端と、半導体チップ3の
回路素子におけるコレクタ電極端子3bとの間を、温度
ヒューズとしての機能を有する半田ワイヤ7′によるワ
イヤボンディングにて電気的に接続する。
【0016】この半田ワイヤ7′によるワイヤボンディ
ングに際しては、先づ、図3に示すように、ボンディン
グツールとしての上下動式キャビラリーツール21内に
挿通した素材半田ワイヤ7の下端に形成したボール部7
aを、前記キャビラリーツール21の下降動によって、
図4に示すように、前記半導体チップ3におけるコレク
タ電極部3bに対して押圧し、当該ボール部7aを半田
ワイヤ7′の軸線方向に押し潰し変形して接合する。な
お、このボール部7aの押圧・接合に際しては、前記キ
ャビラリーツール21に対して超音波振動を付与するこ
とにより、その接合に要する時間を短縮できる。
ングに際しては、先づ、図3に示すように、ボンディン
グツールとしての上下動式キャビラリーツール21内に
挿通した素材半田ワイヤ7の下端に形成したボール部7
aを、前記キャビラリーツール21の下降動によって、
図4に示すように、前記半導体チップ3におけるコレク
タ電極部3bに対して押圧し、当該ボール部7aを半田
ワイヤ7′の軸線方向に押し潰し変形して接合する。な
お、このボール部7aの押圧・接合に際しては、前記キ
ャビラリーツール21に対して超音波振動を付与するこ
とにより、その接合に要する時間を短縮できる。
【0017】そして、前記キャビラリーツール21を真
っ直ぐ上昇動した時点で、図5に示すように、前記素材
半田ワイヤ7の途中を、ノズル22から噴出する水素ガ
ス火炎等の加熱溶融手段によって、前記半田ワイヤ7′
に溶断すると同時に、素材半田ワイヤ7の下端と、半田
ワイヤ7′の上端との両方にボール部7a,7bを形成
する。このようにして、図6に示すように、前記半導体
チップ3に半田ワイヤ7′を接合すると、この半田ワイ
ヤ7′を、図7に示すように、その上端におけるホール
部7bがコレクタ極の外部リード端子5に接当するよう
に折り曲げたのち、このボール部7bを、ボンディング
ツール23の下降動にて、外部リード端子5に対して、
当該ボール部7bを半田ワイヤ7′の軸線と略直角の方
向にその直径Dと略等しい厚さTになるまで押し潰し変
形しながら押圧して接合するのである。このボール部7
bの押圧・接合に際しては、前記ボンディングツール2
3に対して超音波振動を付与することにより、その接合
に要する時間を短縮できる。
っ直ぐ上昇動した時点で、図5に示すように、前記素材
半田ワイヤ7の途中を、ノズル22から噴出する水素ガ
ス火炎等の加熱溶融手段によって、前記半田ワイヤ7′
に溶断すると同時に、素材半田ワイヤ7の下端と、半田
ワイヤ7′の上端との両方にボール部7a,7bを形成
する。このようにして、図6に示すように、前記半導体
チップ3に半田ワイヤ7′を接合すると、この半田ワイ
ヤ7′を、図7に示すように、その上端におけるホール
部7bがコレクタ極の外部リード端子5に接当するよう
に折り曲げたのち、このボール部7bを、ボンディング
ツール23の下降動にて、外部リード端子5に対して、
当該ボール部7bを半田ワイヤ7′の軸線と略直角の方
向にその直径Dと略等しい厚さTになるまで押し潰し変
形しながら押圧して接合するのである。このボール部7
bの押圧・接合に際しては、前記ボンディングツール2
3に対して超音波振動を付与することにより、その接合
に要する時間を短縮できる。
【0018】このような外部リード端子5に対する半田
ワイヤ7′の接合構成により、当該半田ワイヤ7′の外
部リード端子5に対する接合箇所に、断面積が急激に狭
窄されるネック部ができることを回避することができる
か、或いは、断面積が狭窄されることを小さい範囲にと
どめることができるのである。なお、このようにして半
田ワイヤ7′によるワイヤボンディングを完了すると、
前記半田ワイヤ7′に対してシリコン樹脂等の弾性樹脂
8′を塗布したのち、前記半導体チップ3、金属細線6
及び半田ワイヤ7′の全体を、エポキシ樹脂等の熱硬化
性合成樹脂製のモールド部9にてパッケージすることに
よって、完成品にする。
ワイヤ7′の接合構成により、当該半田ワイヤ7′の外
部リード端子5に対する接合箇所に、断面積が急激に狭
窄されるネック部ができることを回避することができる
か、或いは、断面積が狭窄されることを小さい範囲にと
どめることができるのである。なお、このようにして半
田ワイヤ7′によるワイヤボンディングを完了すると、
前記半田ワイヤ7′に対してシリコン樹脂等の弾性樹脂
8′を塗布したのち、前記半導体チップ3、金属細線6
及び半田ワイヤ7′の全体を、エポキシ樹脂等の熱硬化
性合成樹脂製のモールド部9にてパッケージすることに
よって、完成品にする。
【0019】この構成において、半導体チップ3に対す
るベース極の外部リード端子2に信号電流が印加される
ことによって、半導体チップ3における回路素子が、出
力側であるエミッタ極とコレクタ極とを電気的に導通す
るように機能している状態で、エミッタ極の外部リード
端子4とコレクタ極の外部リード端子5に接続されてい
る負荷系の電気回路に、ショート等によって高い電流又
は高い電圧が流れることによって、半導体チップ3に大
電力が印加すると、半導体チップ3が発熱して、その温
度が高くなると、この熱によって、前記半田ワイヤ7′
が溶断するから、この半田ワイヤ7′の溶断によって、
前記負荷系の電気回路を、電気的にオープンの状態する
ことができて、この負荷系の電気回路中に設けられてい
る各種の電子部品を二次的に損傷することを防止できる
のである。
るベース極の外部リード端子2に信号電流が印加される
ことによって、半導体チップ3における回路素子が、出
力側であるエミッタ極とコレクタ極とを電気的に導通す
るように機能している状態で、エミッタ極の外部リード
端子4とコレクタ極の外部リード端子5に接続されてい
る負荷系の電気回路に、ショート等によって高い電流又
は高い電圧が流れることによって、半導体チップ3に大
電力が印加すると、半導体チップ3が発熱して、その温
度が高くなると、この熱によって、前記半田ワイヤ7′
が溶断するから、この半田ワイヤ7′の溶断によって、
前記負荷系の電気回路を、電気的にオープンの状態する
ことができて、この負荷系の電気回路中に設けられてい
る各種の電子部品を二次的に損傷することを防止できる
のである。
【0020】この場合において、前記実施例のように、
エミッタ極の外部リード端子4と半導体チップ3のエミ
ッタ電極端子3aとをAu,Al又はCu等の高融点金
属製の金属細線6により、コレクタ極の外部リード端子
5と半導体チップ3のコレクタ電極端子3bとを半田ワ
イヤ7′によって各々ワイヤボンディングすることに代
えて、コレクタ極の外部リード端子5と半導体チップ3
のコレクタ電極端子3bとをAu,Al又はCu等の高
融点金属製の金属細線6にてワイヤボンディングする一
方、エミッタ極の外部リード端子4と半導体チップ3の
エミッタ電極端子3aとを半田ワイヤ7′にてワイヤボ
ンディングするように構成しても良いのである。
エミッタ極の外部リード端子4と半導体チップ3のエミ
ッタ電極端子3aとをAu,Al又はCu等の高融点金
属製の金属細線6により、コレクタ極の外部リード端子
5と半導体チップ3のコレクタ電極端子3bとを半田ワ
イヤ7′によって各々ワイヤボンディングすることに代
えて、コレクタ極の外部リード端子5と半導体チップ3
のコレクタ電極端子3bとをAu,Al又はCu等の高
融点金属製の金属細線6にてワイヤボンディングする一
方、エミッタ極の外部リード端子4と半導体チップ3の
エミッタ電極端子3aとを半田ワイヤ7′にてワイヤボ
ンディングするように構成しても良いのである。
【0021】また、第2の実施例においては、図9に示
すように、コレクタ極の外部リード端子5と半導体チッ
プ3のコレクタ電極端子3bとの間、及びエミッタ極の
外部リード端子4と半導体チップ3のエミッタ電極端子
3aとの間の両方を、半田ワイヤ7′,7″にてワイヤ
ボンディングするように構成しても良いのである。な
お、この場合においても、前記両半田ワイヤ7′,7″
に、シリコン樹脂等の弾性樹脂8′,8″を塗布したの
ち、これらの全体を、エポキシ樹脂等の熱硬化性合成樹
脂製のモールド部9にてパッケージする。
すように、コレクタ極の外部リード端子5と半導体チッ
プ3のコレクタ電極端子3bとの間、及びエミッタ極の
外部リード端子4と半導体チップ3のエミッタ電極端子
3aとの間の両方を、半田ワイヤ7′,7″にてワイヤ
ボンディングするように構成しても良いのである。な
お、この場合においても、前記両半田ワイヤ7′,7″
に、シリコン樹脂等の弾性樹脂8′,8″を塗布したの
ち、これらの全体を、エポキシ樹脂等の熱硬化性合成樹
脂製のモールド部9にてパッケージする。
【0022】図10は、この第2の実施例の場合におけ
るワイヤボンディング方法を示す。すなわち、前記ベー
ス基板付き外部リード端子2及び両外部リード端子4,
5を一体的に備えたリードフレーム24を、その長手方
向に移送する経路の途中における第1のステージにおい
て、先づ、半導体チップ3におけるコレクタ電極端子3
bと、エミッタ電極端子3aとの両方に、前記図3〜図
5と同様の方法で、半田ワイヤ7′,7″を、その下端
におけるボール部7aにて接合し、次いで、第2のステ
ージにおいて、前記両半田ワイヤ7′,7″を、各外部
リード端子4,5に向かって折り曲げしたのち、更に、
次の第3のステージにおいて、前記両半田ワイヤ7′,
7″の先端におけるボール部7bを、前記図8と同様の
方法で、各外部リード端子4,5に対して接合するので
ある。
るワイヤボンディング方法を示す。すなわち、前記ベー
ス基板付き外部リード端子2及び両外部リード端子4,
5を一体的に備えたリードフレーム24を、その長手方
向に移送する経路の途中における第1のステージにおい
て、先づ、半導体チップ3におけるコレクタ電極端子3
bと、エミッタ電極端子3aとの両方に、前記図3〜図
5と同様の方法で、半田ワイヤ7′,7″を、その下端
におけるボール部7aにて接合し、次いで、第2のステ
ージにおいて、前記両半田ワイヤ7′,7″を、各外部
リード端子4,5に向かって折り曲げしたのち、更に、
次の第3のステージにおいて、前記両半田ワイヤ7′,
7″の先端におけるボール部7bを、前記図8と同様の
方法で、各外部リード端子4,5に対して接合するので
ある。
【0023】この方法によると、半導体チップ3におけ
るコレクタ電極端子3bとエミッタ電極端子3aとに半
田ワイヤ7′,7″を押圧・接合する操作と、これら両
半田ワイヤ7′,7″の先端のボール部7bを外部リー
ド端子4,5に対して押圧・接合する操作とを、時間的
にオーバーラップすることができるから、半田ワイヤ
7′,7″によるワイヤボンディングの速度を向上でき
るメリットがある。
るコレクタ電極端子3bとエミッタ電極端子3aとに半
田ワイヤ7′,7″を押圧・接合する操作と、これら両
半田ワイヤ7′,7″の先端のボール部7bを外部リー
ド端子4,5に対して押圧・接合する操作とを、時間的
にオーバーラップすることができるから、半田ワイヤ
7′,7″によるワイヤボンディングの速度を向上でき
るメリットがある。
【0024】図11及び図12は、第3の実施例を示
す。この第3の実施例は、更に高出力型のトランジスタ
ーに適用した場合である。すなわち、ベース極の外部リ
ード端子を兼ねたベース基板11を、その放熱性を高め
るために、金属板にて大型に構成して、このベース基板
11の上面に半導体チップ13を搭載する一方、前記ベ
ース基板11に、エミッタ極の外部リード端子14及び
コレクタ極の外部リード端子15を、当該ベース基板1
1を貫通するように装着し、更に、前記ベース基板11
の上面に、金属板製のキャップ体19を、前記半導体チ
ップ13及び各外部リード端子14,15の先端部を覆
うように固着したものである。なお、前記半導体チップ
13には、当該半導体チップ13を保護するための樹脂
コート20が塗布されている。
す。この第3の実施例は、更に高出力型のトランジスタ
ーに適用した場合である。すなわち、ベース極の外部リ
ード端子を兼ねたベース基板11を、その放熱性を高め
るために、金属板にて大型に構成して、このベース基板
11の上面に半導体チップ13を搭載する一方、前記ベ
ース基板11に、エミッタ極の外部リード端子14及び
コレクタ極の外部リード端子15を、当該ベース基板1
1を貫通するように装着し、更に、前記ベース基板11
の上面に、金属板製のキャップ体19を、前記半導体チ
ップ13及び各外部リード端子14,15の先端部を覆
うように固着したものである。なお、前記半導体チップ
13には、当該半導体チップ13を保護するための樹脂
コート20が塗布されている。
【0025】この場合、前記の各実施例と同様に、エミ
ッタ極の外部リード端子14における先端と、前記半導
体チップ13の回路素子におけるエミッタ電極端子13
aとの間を、Au,Al又はCu等の高融点金属製の金
属細線16によるワイヤボンディングにて電気的に接続
する一方、前記コレクタ極の外部リード端子15におけ
る先端と、半導体チップ13の回路素子におけるコレク
タ電極端子13bとの間を、図3〜図8に示すと同様の
方法にて、半田ワイヤ17′によるワイヤボンディング
にて電気的に接続するに際して、半田ワイヤ17′の両
端にボール部17a,17bを形成し、この両ボール部
17a,17bを、コレクタ電極端子13bと外部リー
ド端子15とに対して押圧・接合することにより、同様
の目的を達成できるのである。
ッタ極の外部リード端子14における先端と、前記半導
体チップ13の回路素子におけるエミッタ電極端子13
aとの間を、Au,Al又はCu等の高融点金属製の金
属細線16によるワイヤボンディングにて電気的に接続
する一方、前記コレクタ極の外部リード端子15におけ
る先端と、半導体チップ13の回路素子におけるコレク
タ電極端子13bとの間を、図3〜図8に示すと同様の
方法にて、半田ワイヤ17′によるワイヤボンディング
にて電気的に接続するに際して、半田ワイヤ17′の両
端にボール部17a,17bを形成し、この両ボール部
17a,17bを、コレクタ電極端子13bと外部リー
ド端子15とに対して押圧・接合することにより、同様
の目的を達成できるのである。
【0026】また、この場合においても、コレクタ極の
外部リード端子15と半導体チップ13のコレクタ電極
端子13bとをAu,Al又はCu等の高融点金属製の
金属細線6にてワイヤボンディングする一方、エミッタ
極の外部リード端子14と半導体チップ13のエミッタ
電極端子13aとを半田ワイヤ17′にてワイヤボンデ
ィングするように構成しても良く、更にまた、コレクタ
極の外部リード端子15と半導体チップ13のコレクタ
電極端子13bとの間、及びエミッタ極の外部リード端
子14と半導体チップ13のエミッタ電極端子13aと
の間の両方を、半田ワイヤにてワイヤボンディングする
ように構成しても良いのである。
外部リード端子15と半導体チップ13のコレクタ電極
端子13bとをAu,Al又はCu等の高融点金属製の
金属細線6にてワイヤボンディングする一方、エミッタ
極の外部リード端子14と半導体チップ13のエミッタ
電極端子13aとを半田ワイヤ17′にてワイヤボンデ
ィングするように構成しても良く、更にまた、コレクタ
極の外部リード端子15と半導体チップ13のコレクタ
電極端子13bとの間、及びエミッタ極の外部リード端
子14と半導体チップ13のエミッタ電極端子13aと
の間の両方を、半田ワイヤにてワイヤボンディングする
ように構成しても良いのである。
【0027】更にまた、前記本発明は、前記第1〜第3
の実施例に示した高出力型のトランジスターに限らず、
MOS型トランジスター及び電界効果トランジスター等
のその他の各種トランジスター、サイリスタ、逆阻止3
端子サイリスタ及びトライアック等と言ったその他の半
導体チップ付き電子部品に対しても同様に適用できるの
である。
の実施例に示した高出力型のトランジスターに限らず、
MOS型トランジスター及び電界効果トランジスター等
のその他の各種トランジスター、サイリスタ、逆阻止3
端子サイリスタ及びトライアック等と言ったその他の半
導体チップ付き電子部品に対しても同様に適用できるの
である。
【0028】これに加えて、本発明は、図13に示すよ
うに、一つの半導体チップに、トランジスター回路素子
の複数個を形成して成るトランジスターアレイ30と
か、或いは、図14に示すように、一つの半導体チップ
に、ダイオード回路素子の複数個を形成して成るダイオ
ードアレイ40に対しても同様に適用できることは言う
までもない。
うに、一つの半導体チップに、トランジスター回路素子
の複数個を形成して成るトランジスターアレイ30と
か、或いは、図14に示すように、一つの半導体チップ
に、ダイオード回路素子の複数個を形成して成るダイオ
ードアレイ40に対しても同様に適用できることは言う
までもない。
【図1】本発明における第1の実施例においてモールド
部を除いた状態の斜視図である。
部を除いた状態の斜視図である。
【図2】図1のII−II視断面図である。
【図3】半田ワイヤによるワイヤボンディングの第1の
状態を示す図である。
状態を示す図である。
【図4】半田ワイヤによるワイヤボンディングの第2の
状態を示す図である。
状態を示す図である。
【図5】半田ワイヤによるワイヤボンディングの第3の
状態を示す図である。
状態を示す図である。
【図6】半田ワイヤによるワイヤボンディングの第4の
状態を示す図である。
状態を示す図である。
【図7】半田ワイヤによるワイヤボンディングの第5の
状態を示す図である。
状態を示す図である。
【図8】半田ワイヤによるワイヤボンディングの第6の
状態を示す図である。
状態を示す図である。
【図9】本発明における第2の実施例においてモールド
部を除いた状態の斜視図である。
部を除いた状態の斜視図である。
【図10】第2の実施例における半田によるワイヤボン
ディングを示す斜視図である。
ディングを示す斜視図である。
【図11】本発明における第3の実施例を示す一部切欠
斜視図である。
斜視図である。
【図12】図11のXII −XII 視断面図である。
【図13】トランジスターアレイの等価回路図である。
【図14】ダイオードアレイの等価回路図である。
【図15】従来の半田ワイヤによるワイヤボンディング
の第1の状態を示す図である。
の第1の状態を示す図である。
【図16】従来の半田ワイヤによるワイヤボンディング
の第2の状態を示す図である。
の第2の状態を示す図である。
【図17】従来の半田ワイヤによるワイヤボンディング
の第3の状態を示す図である。
の第3の状態を示す図である。
1 ベース基板 2 ベース極の外部リード端子 3 半導体チップ 3a エミッタ電極端子 3b コレクタ電極端子 4,5 外部リード端子 6 金属細線 7′,7″ 半田ワイヤ 9 モールド部
Claims (2)
- 【請求項1】少なくとも二つの出力側電極端子を有する
回路素子を形成した半導体チップと、前記半導体チップ
における各出力側電極端子の各々に対する外部リード端
子と、前記回路素子における各出力側電極端子とその各
々の外部リード端子との間を電気的に接続する金属細線
とから成る電子部品において、前記金属細線のうち一部
の金属細線、又は全部の金属細線を、半田ワイヤにし
て、この半田ワイヤの両端にボール部を形成し、この両
ボール部を、前記半導体チップの回路素子における出力
側電極端子とその外部リード端子とに対して押圧・接合
して、この半田ワイヤを前記半導体チップに対する温度
ヒューズにすることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】「請求項1」において、両ボール部のうち
半導体チップ側のボール部を、出力側端子に対して半田
ワイヤの軸方向に押圧・接合する一方、外部リード端子
側のボール部を、外部リード端子に対して半田ワイヤの
軸線と略直角方向に押圧・接合することを特徴とする半
導体装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04589994A JP3459291B2 (ja) | 1993-09-21 | 1994-03-16 | 半導体チップを備えた電子部品 |
US08/310,063 US5644281A (en) | 1992-04-07 | 1994-09-19 | Electronic component incorporating solder fuse wire |
CN94115352A CN1042680C (zh) | 1993-09-21 | 1994-09-20 | 带半导体芯片的电子部件 |
DE19944433503 DE4433503C2 (de) | 1993-09-21 | 1994-09-20 | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23462993 | 1993-09-21 | ||
JP5-234629 | 1993-09-21 | ||
JP04589994A JP3459291B2 (ja) | 1993-09-21 | 1994-03-16 | 半導体チップを備えた電子部品 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07142672A true JPH07142672A (ja) | 1995-06-02 |
JP3459291B2 JP3459291B2 (ja) | 2003-10-20 |
Family
ID=26385996
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04589994A Expired - Fee Related JP3459291B2 (ja) | 1992-04-07 | 1994-03-16 | 半導体チップを備えた電子部品 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3459291B2 (ja) |
CN (1) | CN1042680C (ja) |
DE (1) | DE4433503C2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6504467B1 (en) * | 1999-07-31 | 2003-01-07 | Mannesmann Vdo Ag | Switch integral in a semiconductor element |
US7986212B2 (en) * | 2007-05-15 | 2011-07-26 | Yazaki Corporation | Fuse |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19752196C1 (de) * | 1997-11-25 | 1999-02-11 | Siemens Ag | Halbleiterbauelement mit definiertem Verhalten bei einem Ausfall und Verfahren zur Herstellung eines solchen |
CN100424847C (zh) * | 2006-05-11 | 2008-10-08 | 林茂昌 | 一种晶体管的制备方法及依该方法获得的组合改良结构 |
JP6660278B2 (ja) * | 2016-10-26 | 2020-03-11 | 三菱電機株式会社 | 樹脂封止型半導体装置 |
US11721510B2 (en) * | 2021-09-30 | 2023-08-08 | Texas Instruments Incorporated | Active metal fuses for DC-EOS and surge protection |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH558983A (de) * | 1972-10-26 | 1975-02-14 | Esec Sales Sa | Verfahren zum fortlaufenden herstellen mindestens einer drahtverbindung in halbleiter-bauteilen und vorrichtung zur ausfuehrung des verfahrens. |
JPS5235080A (en) * | 1975-09-11 | 1977-03-17 | Misuzu Mach Kk | Chocking apparatus for a multi-purpose container ship |
DE2618867C2 (de) * | 1976-02-28 | 1985-09-05 | Telefunken electronic GmbH, 7100 Heilbronn | Verfahren zum Thermokompressions-Verbinden von auf Halbleiterkörpern befindlichen Metallanschlußkontakten |
DE2608250C3 (de) * | 1976-02-28 | 1985-06-05 | Telefunken electronic GmbH, 7100 Heilbronn | Verfahren zum Thermokompressions-Verbinden von auf Halbleiterkörpern befindlichen Metall-Anschlußkontakten mit zugeordneten Gehäuseanschlußteilen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
JPS5393781A (en) * | 1977-01-27 | 1978-08-17 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
JPH0627959Y2 (ja) * | 1988-10-20 | 1994-07-27 | ローム株式会社 | ダイオード |
DE3577371D1 (de) * | 1984-07-27 | 1990-05-31 | Toshiba Kawasaki Kk | Apparat zum herstellen einer halbleiteranordnung. |
JPH0760839B2 (ja) * | 1990-03-15 | 1995-06-28 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
US5295619A (en) * | 1992-05-22 | 1994-03-22 | Rohm Co., Ltd. | Method and apparatus for performing wire bonding by using solder wire |
-
1994
- 1994-03-16 JP JP04589994A patent/JP3459291B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1994-09-20 DE DE19944433503 patent/DE4433503C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-09-20 CN CN94115352A patent/CN1042680C/zh not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4433503C2 (de) | 2001-04-26 |
DE4433503A1 (de) | 1995-03-23 |
CN1042680C (zh) | 1999-03-24 |
JP3459291B2 (ja) | 2003-10-20 |
CN1109218A (zh) | 1995-09-27 |
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