JPH07104405A - ハロゲン化銀乳剤の製造方法 - Google Patents
ハロゲン化銀乳剤の製造方法Info
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- JPH07104405A JPH07104405A JP24821893A JP24821893A JPH07104405A JP H07104405 A JPH07104405 A JP H07104405A JP 24821893 A JP24821893 A JP 24821893A JP 24821893 A JP24821893 A JP 24821893A JP H07104405 A JPH07104405 A JP H07104405A
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- Japan
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- agx
- emulsion
- silver
- silver halide
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Abstract
(57)【要約】
【構成】ハロゲン化銀粒子の全投影面積の50%以上が
Cl- 含率が49モル%以下で主平面が{100}面
で、アスペクト比(円相当直径/厚さ)が1.5以上の
平板状粒子であるハロゲン化銀乳剤を、核形成前から結
晶成長終了の5分前までの間に、該粒子形成の平衡晶癖
銀電位を少なくとも15mV以上低下させる晶癖制御剤
を添加し、かつ、該制御剤存在中の該乳剤の銀電位(対
室温飽和カロメル電極電位)を100mV以下に保ちな
がら形成する。 【効果】乳剤製造のバラツキが少なく、かぶり濃度も高
くならない。
Cl- 含率が49モル%以下で主平面が{100}面
で、アスペクト比(円相当直径/厚さ)が1.5以上の
平板状粒子であるハロゲン化銀乳剤を、核形成前から結
晶成長終了の5分前までの間に、該粒子形成の平衡晶癖
銀電位を少なくとも15mV以上低下させる晶癖制御剤
を添加し、かつ、該制御剤存在中の該乳剤の銀電位(対
室温飽和カロメル電極電位)を100mV以下に保ちな
がら形成する。 【効果】乳剤製造のバラツキが少なく、かぶり濃度も高
くならない。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は写真の分野において有用
であるハロゲン化銀(以後、「AgX」と記す)乳剤に
関し、特に主平面が{100}面である平板状粒子を含
有するAgX乳剤の製造方法に関する。
であるハロゲン化銀(以後、「AgX」と記す)乳剤に
関し、特に主平面が{100}面である平板状粒子を含
有するAgX乳剤の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】主平面が{100}面である平板状Ag
X粒子を含有するAgX乳剤およびその製造方法に関し
ては特開昭51−88017号、特公昭64−8323
号、欧州特許0534395A1に記載されている。し
かし、本発明者の実験結果によるとCl- 含率の高い該
粒子に比べてBr- 含率が高いAgX粒子ではその粒子
形成条件範囲が銀電位(対室温飽和カロメル電極電位)
120mV以上の条件に限定される。それは該平板状粒
子形成条件が立方体粒子生成条件に限定されるが、Ag
Br含率の高い粒子では、該立方体粒子生成条件範囲が
該銀電位の高い範囲に限定される為と考えられる。一
方、AgCl含率の高い粒子では常用されるpAg、p
H条件の殆んどは立方体粒子生成条件である為に、該条
件範囲の限定が少ないと考えられる。該高銀電位条件
は、Ag+ とハロゲンイオン(以後、X - と記す)の等
濃度近傍条件である為に、該濃度制御がむづかしく、製
造バラツキが大きく、かつ、かぶり易いという問題があ
る。従って、該粒子をもっと低い銀電位条件下で形成で
きるようにすることが望まれる。
X粒子を含有するAgX乳剤およびその製造方法に関し
ては特開昭51−88017号、特公昭64−8323
号、欧州特許0534395A1に記載されている。し
かし、本発明者の実験結果によるとCl- 含率の高い該
粒子に比べてBr- 含率が高いAgX粒子ではその粒子
形成条件範囲が銀電位(対室温飽和カロメル電極電位)
120mV以上の条件に限定される。それは該平板状粒
子形成条件が立方体粒子生成条件に限定されるが、Ag
Br含率の高い粒子では、該立方体粒子生成条件範囲が
該銀電位の高い範囲に限定される為と考えられる。一
方、AgCl含率の高い粒子では常用されるpAg、p
H条件の殆んどは立方体粒子生成条件である為に、該条
件範囲の限定が少ないと考えられる。該高銀電位条件
は、Ag+ とハロゲンイオン(以後、X - と記す)の等
濃度近傍条件である為に、該濃度制御がむづかしく、製
造バラツキが大きく、かつ、かぶり易いという問題があ
る。従って、該粒子をもっと低い銀電位条件下で形成で
きるようにすることが望まれる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、Br
- 含率が高く、主平面が{100}面である平板状粒子
を含有するAgX乳剤を従来より、より低い銀電位条件
下で製造することを可能にし、それにより製造バラツキ
が少なく、かつ、かぶり濃度を高くしないで製造する方
法を提供することにある。
- 含率が高く、主平面が{100}面である平板状粒子
を含有するAgX乳剤を従来より、より低い銀電位条件
下で製造することを可能にし、それにより製造バラツキ
が少なく、かつ、かぶり濃度を高くしないで製造する方
法を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は次項によ
って達成された。 (1) 少なくとも分散媒とハロゲン化銀粒子を含むハロゲ
ン化銀乳剤であり、かつ、該ハロゲン化銀粒子の全投影
面積の50%以上がCl- 含率が49モル%以下で主平
面が{100}面でアスペクト比(円相当直径/厚さ)
が2以上の平板状粒子であるハロゲン化銀乳剤を製造す
る方法において、該乳剤の核形成前から結晶成長終了の
5分前までの間に、該粒子形成の平衡晶癖銀電位を少な
くとも15mV以上低下させる晶癖制御剤を添加し、か
つ、該制御剤存在中の該乳剤の銀電位(対室温飽和カロ
メル電極電位)を100mV以下に保ちながら形成する
ことを特徴とするハロゲン化銀乳剤の製造方法。
って達成された。 (1) 少なくとも分散媒とハロゲン化銀粒子を含むハロゲ
ン化銀乳剤であり、かつ、該ハロゲン化銀粒子の全投影
面積の50%以上がCl- 含率が49モル%以下で主平
面が{100}面でアスペクト比(円相当直径/厚さ)
が2以上の平板状粒子であるハロゲン化銀乳剤を製造す
る方法において、該乳剤の核形成前から結晶成長終了の
5分前までの間に、該粒子形成の平衡晶癖銀電位を少な
くとも15mV以上低下させる晶癖制御剤を添加し、か
つ、該制御剤存在中の該乳剤の銀電位(対室温飽和カロ
メル電極電位)を100mV以下に保ちながら形成する
ことを特徴とするハロゲン化銀乳剤の製造方法。
【0005】次に本発明を更に詳細に説明する。本発明
は少なくとも分散媒とAgX粒子を含むAgX乳剤の製
造方法を提供するものであるが、該AgX粒子の全投影
面積の50%以上、好ましくは70〜100%、より好
ましくは85〜100%がCl- 含率が49モル%以
下、好ましくは30モル%以下、より好ましくは0〜1
5モル%であり、かつ、主平面が{100}面でアスペ
クト比(円相当直径/厚さ)が2以上、好ましくは2〜
25、より好ましくは3〜20の平板状粒子で占められ
ている。該円相当直径は粒子の投影面積と等しい面積を
有する円の直径を指す。該平板状粒子の厚さは0.35
μm以下が好ましく、0.05〜0.3μmがより好ま
しい。ここで厚さとは該平板状粒子の2つの主平面間の
距離を指す。該平板状粒子の円相当直径の分布は単分散
であることが好ましく、その変動係数(該分布の標準偏
差/平均円相当直径)は0〜0.4が好ましく、0〜
0.3がより好ましい。
は少なくとも分散媒とAgX粒子を含むAgX乳剤の製
造方法を提供するものであるが、該AgX粒子の全投影
面積の50%以上、好ましくは70〜100%、より好
ましくは85〜100%がCl- 含率が49モル%以
下、好ましくは30モル%以下、より好ましくは0〜1
5モル%であり、かつ、主平面が{100}面でアスペ
クト比(円相当直径/厚さ)が2以上、好ましくは2〜
25、より好ましくは3〜20の平板状粒子で占められ
ている。該円相当直径は粒子の投影面積と等しい面積を
有する円の直径を指す。該平板状粒子の厚さは0.35
μm以下が好ましく、0.05〜0.3μmがより好ま
しい。ここで厚さとは該平板状粒子の2つの主平面間の
距離を指す。該平板状粒子の円相当直径の分布は単分散
であることが好ましく、その変動係数(該分布の標準偏
差/平均円相当直径)は0〜0.4が好ましく、0〜
0.3がより好ましい。
【0006】該平板状粒子の円相当直径は0.2〜10
μmが好ましく、0.3〜5μmがより好ましい。I-
含率は20モル%以下が好ましく、10モル%以下がよ
り好ましい。該主平面の形状は辺比率(長辺の長さ/短
辺の長さ)が1〜6、好ましくは1〜3、より好ましく
は1〜2の直角平行四辺形である。その他、直方体の角
が丸くなった態様をあげることができるが、(角の欠損
部の体積/欠損前の粒子の体積)=X2 は0.2以下で
あり、好ましくは0〜0.1である。ここで欠損前の粒
子の体積とは、該粒子の直線部を延長し、直方体を形成
した時の粒子の体積を指す。その他、該直角平行四辺形
の4つの角の内1〜3個、好ましくは1〜2個が優先的
に欠落した態様を挙げることができる。ここで優先的と
は、(該欠落部体積/最少欠落部体積)が2以上、好ま
しくは4〜∞を指す。最少欠落部が全く欠落していなけ
れば、該値は無限大となる。その他、四つの辺の内の少
なくとも相対する2つの辺が外側に凸の曲線である態様
を挙げることができる。これらの平板状粒子の粒子内の
ハロゲン組成構造は、均一組成型の他、種々のハロゲン
組成構造をもった態様を挙げることができる。
μmが好ましく、0.3〜5μmがより好ましい。I-
含率は20モル%以下が好ましく、10モル%以下がよ
り好ましい。該主平面の形状は辺比率(長辺の長さ/短
辺の長さ)が1〜6、好ましくは1〜3、より好ましく
は1〜2の直角平行四辺形である。その他、直方体の角
が丸くなった態様をあげることができるが、(角の欠損
部の体積/欠損前の粒子の体積)=X2 は0.2以下で
あり、好ましくは0〜0.1である。ここで欠損前の粒
子の体積とは、該粒子の直線部を延長し、直方体を形成
した時の粒子の体積を指す。その他、該直角平行四辺形
の4つの角の内1〜3個、好ましくは1〜2個が優先的
に欠落した態様を挙げることができる。ここで優先的と
は、(該欠落部体積/最少欠落部体積)が2以上、好ま
しくは4〜∞を指す。最少欠落部が全く欠落していなけ
れば、該値は無限大となる。その他、四つの辺の内の少
なくとも相対する2つの辺が外側に凸の曲線である態様
を挙げることができる。これらの平板状粒子の粒子内の
ハロゲン組成構造は、均一組成型の他、種々のハロゲン
組成構造をもった態様を挙げることができる。
【0007】これらの形状とハロゲン組成構造の詳細、
およびそれらの平板状粒子形成法の詳細に関しては特開
平51−88017号、特公昭64−8323号の他、
本発明者による特願平4−77261号、同4−145
031号、同4−214109号、同5−96250号
明細書の記載を参考にすることができる。本発明者によ
る該明細書に記載の製造方法は該平板状粒子核を作り分
ける具体的手法が記載されており、より好ましく参考に
することができる。具体的に記すと次の通りである。該
平板状粒子はエッジ方向へ優先的に成長する為に、平板
状粒子となる。該優先的成長を可能にする欠陥を本発明
ではらせん転位欠陥と呼ぶ。該欠陥は核形成時に1個以
上、好ましくは1〜3個、より好ましくは1〜2個のハ
ロゲン組成ギャップ面を形成することにより形成され
る。より好ましくは溶解度の高いAgX1 層上に、Ag
X1 層よりも溶解度の低いAgX2 層を積層させること
により形成される。即ち、ハロゲンコンバージョン反応
を伴なうハロゲン組成ギャップ面の形成が有効である。
溶解度はAgCl>AgBr>AgI、である為、Cl
- 含率が高く、I- 含率が低い程、溶解度は高いといえ
る。
およびそれらの平板状粒子形成法の詳細に関しては特開
平51−88017号、特公昭64−8323号の他、
本発明者による特願平4−77261号、同4−145
031号、同4−214109号、同5−96250号
明細書の記載を参考にすることができる。本発明者によ
る該明細書に記載の製造方法は該平板状粒子核を作り分
ける具体的手法が記載されており、より好ましく参考に
することができる。具体的に記すと次の通りである。該
平板状粒子はエッジ方向へ優先的に成長する為に、平板
状粒子となる。該優先的成長を可能にする欠陥を本発明
ではらせん転位欠陥と呼ぶ。該欠陥は核形成時に1個以
上、好ましくは1〜3個、より好ましくは1〜2個のハ
ロゲン組成ギャップ面を形成することにより形成され
る。より好ましくは溶解度の高いAgX1 層上に、Ag
X1 層よりも溶解度の低いAgX2 層を積層させること
により形成される。即ち、ハロゲンコンバージョン反応
を伴なうハロゲン組成ギャップ面の形成が有効である。
溶解度はAgCl>AgBr>AgI、である為、Cl
- 含率が高く、I- 含率が低い程、溶解度は高いといえ
る。
【0008】より具体的に記せば、核形成時に形成され
る核のハロゲン組成構造が、例えば(AgX1 |AgX
2 )、または(AgX1 |AgX4 |AgX3 )の構造
を有する。該構造は、例えば銀塩溶液(以後、「Ag+
液」と記す)とハロゲン塩溶液(以後、「X- 液」と記
す)を同時混合添加し、該ギャップ面の所でX- 液のハ
ロゲン組成を不連続に変化させることにより形成するこ
ができる。または分散媒溶液にX- 液を添加し、次にA
g+ 液を添加し、AgX1 を形成し、次に別のX- 液を
添加し、次にAg+ 液を添加し、(AgX1 |Ag
X2 )構造を作ることもできるし、それらの組み合せ方
法で作ることもできる。AgX1 とAgX2、およびA
gX1 とAgX4 、AgX4 とAgX3 はCl- 含率も
しくはBr-含率が25〜100モル%、好ましくは5
0〜100モル%、より好ましくは75〜100モル%
だけ異なる。更に/またはI- 含率が5〜100モル
%、好ましくは10〜100モル%、より好ましくは3
0〜100モル%だけ異なる。その他、Cl- 含率差も
しくはBr- 含率差が前記規定に従がい、I- 含率差が
0〜5モル%である態様を挙げることができる。核のサ
イズは0.15μm以下が好ましく、0.01〜0.1
μmがより好ましい。
る核のハロゲン組成構造が、例えば(AgX1 |AgX
2 )、または(AgX1 |AgX4 |AgX3 )の構造
を有する。該構造は、例えば銀塩溶液(以後、「Ag+
液」と記す)とハロゲン塩溶液(以後、「X- 液」と記
す)を同時混合添加し、該ギャップ面の所でX- 液のハ
ロゲン組成を不連続に変化させることにより形成するこ
ができる。または分散媒溶液にX- 液を添加し、次にA
g+ 液を添加し、AgX1 を形成し、次に別のX- 液を
添加し、次にAg+ 液を添加し、(AgX1 |Ag
X2 )構造を作ることもできるし、それらの組み合せ方
法で作ることもできる。AgX1 とAgX2、およびA
gX1 とAgX4 、AgX4 とAgX3 はCl- 含率も
しくはBr-含率が25〜100モル%、好ましくは5
0〜100モル%、より好ましくは75〜100モル%
だけ異なる。更に/またはI- 含率が5〜100モル
%、好ましくは10〜100モル%、より好ましくは3
0〜100モル%だけ異なる。その他、Cl- 含率差も
しくはBr- 含率差が前記規定に従がい、I- 含率差が
0〜5モル%である態様を挙げることができる。核のサ
イズは0.15μm以下が好ましく、0.01〜0.1
μmがより好ましい。
【0009】(AgX1 |AgX2 )の場合のAg
X1 :AgX2 のモル比、また、(AgX1 |AgX4
|AgX3 )のAgX1 :AgX2 :AgX3 のモル比
は実験計画法的に種々変化させ、最も好ましい本発明の
態様が得られる該モル比を選んで用いることができる。
(AgX1 |AgX2 )の場合、AgX2 層の厚さはA
gX1 層の表面を平均で1格子層以上覆う量が好まし
く、3格子層覆う量〜AgX 1 層の104 倍モル量がよ
り好ましい。(AgX1 |AgX4 |AgX3 )の場合
の該AgX4 層の添加モル量は、該AgX1 層の添加モ
ル量の0.02〜10倍モル量が好ましく、0.1〜3
倍モル量がより好ましい。通常は該ギャップ差が大きく
なる程、該欠陥形成頻度が高くなる。
X1 :AgX2 のモル比、また、(AgX1 |AgX4
|AgX3 )のAgX1 :AgX2 :AgX3 のモル比
は実験計画法的に種々変化させ、最も好ましい本発明の
態様が得られる該モル比を選んで用いることができる。
(AgX1 |AgX2 )の場合、AgX2 層の厚さはA
gX1 層の表面を平均で1格子層以上覆う量が好まし
く、3格子層覆う量〜AgX 1 層の104 倍モル量がよ
り好ましい。(AgX1 |AgX4 |AgX3 )の場合
の該AgX4 層の添加モル量は、該AgX1 層の添加モ
ル量の0.02〜10倍モル量が好ましく、0.1〜3
倍モル量がより好ましい。通常は該ギャップ差が大きく
なる程、該欠陥形成頻度が高くなる。
【0010】該核形成時の分散媒溶液の雰囲気は、{1
00}面形成雰囲気にする必要がある。Cl- 過剰濃度
下で行なう核形成の場合は、通常の殆んどの条件(pC
l0.8〜3.0、pH2〜9)は{100}面形成雰
囲気である。該欠陥形成頻度は該ハロゲン組成ギャップ
面形成時のpH、pAg、温度、分散媒濃度等に依存す
る。(該欠陥数/粒子)が多くなりすぎると、最終的に
得られるAgX乳剤中に厚さが低アスペクト比粒子の投
影面積比率が増す。従って、該欠陥導入量は多すぎても
好ましくない。最終的に得られるAgX乳剤において、
該平板状粒子の該投影面積割合ができるだけ高く、か
つ、アスペクト比ができるだけ高くなるように該欠陥形
成頻度を調節する必要がある。核形成時に該欠陥を有す
る核が形成される割合は、全核数の20%以下が好まし
く、0.1〜10%がより好ましい。
00}面形成雰囲気にする必要がある。Cl- 過剰濃度
下で行なう核形成の場合は、通常の殆んどの条件(pC
l0.8〜3.0、pH2〜9)は{100}面形成雰
囲気である。該欠陥形成頻度は該ハロゲン組成ギャップ
面形成時のpH、pAg、温度、分散媒濃度等に依存す
る。(該欠陥数/粒子)が多くなりすぎると、最終的に
得られるAgX乳剤中に厚さが低アスペクト比粒子の投
影面積比率が増す。従って、該欠陥導入量は多すぎても
好ましくない。最終的に得られるAgX乳剤において、
該平板状粒子の該投影面積割合ができるだけ高く、か
つ、アスペクト比ができるだけ高くなるように該欠陥形
成頻度を調節する必要がある。核形成時に該欠陥を有す
る核が形成される割合は、全核数の20%以下が好まし
く、0.1〜10%がより好ましい。
【0011】この場合、核形成後に温度を好ましくは1
0℃以上、より好ましくは20〜70℃だけ上昇させ、
物理熟成し、平板状粒子核を成長させ、非平板状粒子核
を消滅させ、平板状粒子の投影面積比率を増大させるこ
とが好ましい。その他、該平板状粒子の投影面積比率を
上げる為に次の方法を挙げることができる。1)核形成
→低過飽和濃度下で平板状粒子を選択的に成長させ、平
板状粒子と非平板状粒子のサイズ差を大きくする→物理
熟成により非平板状粒子を消滅させる。2)核形成→1
0℃以上昇温し、物理熟成を伴なう低過飽和濃度下で成
長させる。即ち、平板状粒子以外の微粒子の消失を伴な
いながら、平板状粒子を成長させる。該平板核の生成割
合が高く(好ましくは5%以上、より好ましくは10〜
100%の時)、消失させるべき非平板状粒子核の割合
が低い場合、核形成後に予め調製した実質的に無欠陥の
AgX微粒子を添加することができる。(該添加AgX
モル量/該核のAgXモル量)は0.2〜20が好まし
く、0.4〜5がより好ましい。該微粒子を添加した
後、前記手法を用いて、平板状粒子の投影面積比率を上
げればよい。
0℃以上、より好ましくは20〜70℃だけ上昇させ、
物理熟成し、平板状粒子核を成長させ、非平板状粒子核
を消滅させ、平板状粒子の投影面積比率を増大させるこ
とが好ましい。その他、該平板状粒子の投影面積比率を
上げる為に次の方法を挙げることができる。1)核形成
→低過飽和濃度下で平板状粒子を選択的に成長させ、平
板状粒子と非平板状粒子のサイズ差を大きくする→物理
熟成により非平板状粒子を消滅させる。2)核形成→1
0℃以上昇温し、物理熟成を伴なう低過飽和濃度下で成
長させる。即ち、平板状粒子以外の微粒子の消失を伴な
いながら、平板状粒子を成長させる。該平板核の生成割
合が高く(好ましくは5%以上、より好ましくは10〜
100%の時)、消失させるべき非平板状粒子核の割合
が低い場合、核形成後に予め調製した実質的に無欠陥の
AgX微粒子を添加することができる。(該添加AgX
モル量/該核のAgXモル量)は0.2〜20が好まし
く、0.4〜5がより好ましい。該微粒子を添加した
後、前記手法を用いて、平板状粒子の投影面積比率を上
げればよい。
【0012】通常、該平板状粒子の投影面積比率を上げ
た後、次に溶質を添加して、該平板状粒子を更に成長さ
せる。溶質の添加方法としては1)イオン添加法(Ag
+ 液とX- 液を添加する方法)、2)予め実質的に無欠
陥のAgX微粒子を形成し、該微粒子を添加する方法、
3)両者の併用方法、を挙げることができる。それらの
AgX微粒子、および該核形成、熟成、成長法のその他
の詳細に関しては本発明者による前記明細書の記載を参
考にすることができる。本発明では核AgX乳剤製造の
核形成前から結晶成長終了の5分前までの間、好ましく
は、該AgX乳剤製造時間の20〜100%、より好ま
しくは50〜100%の間、その製造する粒子の粒子形
成の平衡晶癖銀電位を少なくとも15mV以上、好まし
くは30〜200mV、より好ましくは60〜150m
Vだけ低下させる晶癖制御剤を添加し、同一形状の該粒
子を、該添加なしの時に対して、20mV以上、好まし
くは30〜200mV、より好ましく60〜150mV
だけ低い銀電位条件下で形成することを特徴とする。こ
こで該AgX乳剤の製造時間とは核形成開始から、結晶
成長の終了までの時間を指す。
た後、次に溶質を添加して、該平板状粒子を更に成長さ
せる。溶質の添加方法としては1)イオン添加法(Ag
+ 液とX- 液を添加する方法)、2)予め実質的に無欠
陥のAgX微粒子を形成し、該微粒子を添加する方法、
3)両者の併用方法、を挙げることができる。それらの
AgX微粒子、および該核形成、熟成、成長法のその他
の詳細に関しては本発明者による前記明細書の記載を参
考にすることができる。本発明では核AgX乳剤製造の
核形成前から結晶成長終了の5分前までの間、好ましく
は、該AgX乳剤製造時間の20〜100%、より好ま
しくは50〜100%の間、その製造する粒子の粒子形
成の平衡晶癖銀電位を少なくとも15mV以上、好まし
くは30〜200mV、より好ましくは60〜150m
Vだけ低下させる晶癖制御剤を添加し、同一形状の該粒
子を、該添加なしの時に対して、20mV以上、好まし
くは30〜200mV、より好ましく60〜150mV
だけ低い銀電位条件下で形成することを特徴とする。こ
こで該AgX乳剤の製造時間とは核形成開始から、結晶
成長の終了までの時間を指す。
【0013】今、該AgX乳剤を入れた反応容器をn個
準備し、それぞれを互いに異なる銀電位に一定に保ちな
がら溶質を添加し、成長させる。得られた粒子のレプリ
カの透過型電子顕微鏡写真像(以後、「TEM像」と記
す)を観察すると、該銀電位が低くなるにつれ、該平板
状粒子は次のように変化する。〔主平面の形状が直角平
行四辺形→該直角平行四辺形の4つの角の内、1〜3個
が優先的に欠落した形(該欠落部の結晶面は{111}
面である)→該直角平行四辺形の4つの角が欠落し、平
板状粒子の厚さが厚くなる(該{111}面の面積比率
が大きくなる)→八面体粒子〕。この場合、該粒子形成
の平衡晶癖銀電位を少なくとも20mV以上低下させる
晶癖制御剤とは、該晶癖制御剤を該乳剤に添加すること
により該(銀電位−粒子形状)の関係を20mV以上、
低電位側にシフトさせる化合物を指す。
準備し、それぞれを互いに異なる銀電位に一定に保ちな
がら溶質を添加し、成長させる。得られた粒子のレプリ
カの透過型電子顕微鏡写真像(以後、「TEM像」と記
す)を観察すると、該銀電位が低くなるにつれ、該平板
状粒子は次のように変化する。〔主平面の形状が直角平
行四辺形→該直角平行四辺形の4つの角の内、1〜3個
が優先的に欠落した形(該欠落部の結晶面は{111}
面である)→該直角平行四辺形の4つの角が欠落し、平
板状粒子の厚さが厚くなる(該{111}面の面積比率
が大きくなる)→八面体粒子〕。この場合、該粒子形成
の平衡晶癖銀電位を少なくとも20mV以上低下させる
晶癖制御剤とは、該晶癖制御剤を該乳剤に添加すること
により該(銀電位−粒子形状)の関係を20mV以上、
低電位側にシフトさせる化合物を指す。
【0014】該銀電位の低下幅は添加する晶癖制御剤の
種類と添加濃度に依存する。該晶癖制御剤は該AgX粒
子の{111}面上よりも{100}面上に優先的に吸
着し、X1 =〔{111}面の成長速度/{100}面
の成長速度〕値をより大きくする化合物である。{10
0}面上にはAg+ とX- が交互に配列されており、
{111}面上の大部分はX- であるから、{100}
面上のAg+ と親和性の強い化合物が、該晶癖制御剤で
あることが多い。実用的には種々の化合物を種々の濃度
で添加し、前記実験を行ない、該銀電位の低下幅を測定
すればよい。該晶癖制御剤の添加量は存在するAgX粒
子の飽和吸着量の0.1〜10倍量が好ましく、0.2
〜3倍量が更に好ましい。通常、ゼラチンを分散媒とす
る該AgX乳剤ではpHを下げると該(銀電位−粒子形
状)の関係は、該銀電位を高くするので、前記比較は、
同一pH条件で比較する必要がある。
種類と添加濃度に依存する。該晶癖制御剤は該AgX粒
子の{111}面上よりも{100}面上に優先的に吸
着し、X1 =〔{111}面の成長速度/{100}面
の成長速度〕値をより大きくする化合物である。{10
0}面上にはAg+ とX- が交互に配列されており、
{111}面上の大部分はX- であるから、{100}
面上のAg+ と親和性の強い化合物が、該晶癖制御剤で
あることが多い。実用的には種々の化合物を種々の濃度
で添加し、前記実験を行ない、該銀電位の低下幅を測定
すればよい。該晶癖制御剤の添加量は存在するAgX粒
子の飽和吸着量の0.1〜10倍量が好ましく、0.2
〜3倍量が更に好ましい。通常、ゼラチンを分散媒とす
る該AgX乳剤ではpHを下げると該(銀電位−粒子形
状)の関係は、該銀電位を高くするので、前記比較は、
同一pH条件で比較する必要がある。
【0015】具体的な化合物例として共鳴安定化したπ
電子pairを有するNを含有する化合物をあげること
ができる。例えばN原子が芳香族環中に置換された化合
物で、例えばアゾール環、アジン環を含有する化合物、
芳香族環の置換基にN原子を有する化合物で例えばAr
−N(R1 R2)を挙げることができる。こごてArは炭
素原子5〜14の芳香族環構造を有する基で、R1 、R
2 はそれぞれH、該Ar、脂肪族基、または一緒に5も
しくは6員環を完成させるグループを指す。具体的な化
合物例として次の化合物を挙げることができる。
電子pairを有するNを含有する化合物をあげること
ができる。例えばN原子が芳香族環中に置換された化合
物で、例えばアゾール環、アジン環を含有する化合物、
芳香族環の置換基にN原子を有する化合物で例えばAr
−N(R1 R2)を挙げることができる。こごてArは炭
素原子5〜14の芳香族環構造を有する基で、R1 、R
2 はそれぞれH、該Ar、脂肪族基、または一緒に5も
しくは6員環を完成させるグループを指す。具体的な化
合物例として次の化合物を挙げることができる。
【0016】
【化1】
【0017】その他、アクリル酸、アクリルアミド、ビ
ニルイミダゾール、アセトンアクリルアミドのコポリマ
ーで、次式で表される分子量3000〜30万の水溶性
合成ポリマーを挙げることができる。その他、−S−基
や−SH基を有する水溶性合成ポリマーを挙げることが
できる。
ニルイミダゾール、アセトンアクリルアミドのコポリマ
ーで、次式で表される分子量3000〜30万の水溶性
合成ポリマーを挙げることができる。その他、−S−基
や−SH基を有する水溶性合成ポリマーを挙げることが
できる。
【0018】
【化2】
【0019】更には従来公知のかぶり防止剤を挙げるこ
とができる。更にはAgX乳剤用分光増感色素を挙げる
ことができる。これらに関するその他の詳細に関しては
欧州特許第0534395A1、Birr著、写真用ハ
ロゲン化銀乳剤の安定化、Focal Press, London (19
74年)、リサーチ ディスクロージャー、176巻、
アイテム17643、(1978年12月)、同307
巻、アイテム307105(1989年11月)、特公
昭52−16365号、Journal of Imaging Science,
31巻、148(1987年)および後述の文献の記載
を参考にすることができる。その他、分子量300以
上、好ましくは600〜106 のポリエチレンオキサイ
ド、ポリプロピレンオキサイド、ポリエチレンオキサイ
ドとポリプロピレンオキサイドのコポリマーおよびそれ
らの誘導体をあげることができ、その詳細はリサーチ
ディスクロージャー、176巻、アイテム17643、
(1978年12月)、同307巻、アイテム3071
05(1989年11月)、日本化学会編、化学便覧、
第4−6節、丸善(1984年)、吉田時行ら著、界面
活性剤ハンドブック、工学図書、刈米孝夫著、界面活性
剤の性質と応用、幸書房、欧州特許第0514742A
1、および後述の文献の記載を参考にすることができ
る。該ポリアルキレンオキサイドを含む化合物の場合、
pHが4以下ではエーテル基がH+ と結合し、オキソニ
ウムイオンを形成し、可溶化し、AgX粒子に吸着しな
い。pH5以上、好ましくは5.5以上ではエーテル基
がAg+ と配位結合を形成する為にAgX粒子の{10
0}面に吸着すると考えられる。この為に本発明の効果
が得られる。本発明の該晶癖制御剤として1)前記の共
鳴安定化したπ電子pairを有するNを含有する化合物、
2)前記水溶性合成ポリマー、3)ポリアルキレンオキ
サイド化合物がより好ましく、1)、2)が更に好まし
く、2)が最も好ましい。
とができる。更にはAgX乳剤用分光増感色素を挙げる
ことができる。これらに関するその他の詳細に関しては
欧州特許第0534395A1、Birr著、写真用ハ
ロゲン化銀乳剤の安定化、Focal Press, London (19
74年)、リサーチ ディスクロージャー、176巻、
アイテム17643、(1978年12月)、同307
巻、アイテム307105(1989年11月)、特公
昭52−16365号、Journal of Imaging Science,
31巻、148(1987年)および後述の文献の記載
を参考にすることができる。その他、分子量300以
上、好ましくは600〜106 のポリエチレンオキサイ
ド、ポリプロピレンオキサイド、ポリエチレンオキサイ
ドとポリプロピレンオキサイドのコポリマーおよびそれ
らの誘導体をあげることができ、その詳細はリサーチ
ディスクロージャー、176巻、アイテム17643、
(1978年12月)、同307巻、アイテム3071
05(1989年11月)、日本化学会編、化学便覧、
第4−6節、丸善(1984年)、吉田時行ら著、界面
活性剤ハンドブック、工学図書、刈米孝夫著、界面活性
剤の性質と応用、幸書房、欧州特許第0514742A
1、および後述の文献の記載を参考にすることができ
る。該ポリアルキレンオキサイドを含む化合物の場合、
pHが4以下ではエーテル基がH+ と結合し、オキソニ
ウムイオンを形成し、可溶化し、AgX粒子に吸着しな
い。pH5以上、好ましくは5.5以上ではエーテル基
がAg+ と配位結合を形成する為にAgX粒子の{10
0}面に吸着すると考えられる。この為に本発明の効果
が得られる。本発明の該晶癖制御剤として1)前記の共
鳴安定化したπ電子pairを有するNを含有する化合物、
2)前記水溶性合成ポリマー、3)ポリアルキレンオキ
サイド化合物がより好ましく、1)、2)が更に好まし
く、2)が最も好ましい。
【0020】これらの晶癖制御剤は単独で用いることも
できるし、2種以上を併用して用いることもできる。ゼ
ラチンを分散媒とした該AgX乳剤中に添加することも
できるし、該AgX乳剤を遠心分離等により分離し、ゼ
ラチン分散媒の一部を除去した後に添加することもでき
るし、全部を除去した後に添加することもできる。ゼラ
チンも一種の晶癖制御剤と見なすことができる。それは
ゼラチン中に該Ag+と親和性を有する感応基が存在す
る為である。従って、前記晶癖制御剤は、少なくともゼ
ラチンよりもよりX1 値を高める化合物ということがで
きる。従来、該粒子を該銀電位が100mV以下の乳剤
条件で形成することが不可能であったが、本発明ではこ
れを可能にした。これは該粒子形成中に該晶癖制御剤を
共存させることにより可能になったものである。該銀電
位は100mV以下、好ましくは−50〜80mV、よ
り好ましくは−20〜50mVである。該条件で形成さ
れる該平板状粒子は、主平面が実質的に直角平行四辺形
である。即ち、X2 は0〜0.15が好ましく、0〜
0.1がより好ましく、0〜0.05が更に好ましい。
できるし、2種以上を併用して用いることもできる。ゼ
ラチンを分散媒とした該AgX乳剤中に添加することも
できるし、該AgX乳剤を遠心分離等により分離し、ゼ
ラチン分散媒の一部を除去した後に添加することもでき
るし、全部を除去した後に添加することもできる。ゼラ
チンも一種の晶癖制御剤と見なすことができる。それは
ゼラチン中に該Ag+と親和性を有する感応基が存在す
る為である。従って、前記晶癖制御剤は、少なくともゼ
ラチンよりもよりX1 値を高める化合物ということがで
きる。従来、該粒子を該銀電位が100mV以下の乳剤
条件で形成することが不可能であったが、本発明ではこ
れを可能にした。これは該粒子形成中に該晶癖制御剤を
共存させることにより可能になったものである。該銀電
位は100mV以下、好ましくは−50〜80mV、よ
り好ましくは−20〜50mVである。該条件で形成さ
れる該平板状粒子は、主平面が実質的に直角平行四辺形
である。即ち、X2 は0〜0.15が好ましく、0〜
0.1がより好ましく、0〜0.05が更に好ましい。
【0021】これらの晶癖制御剤は該粒子成長が終った
後、AgX乳剤から除去することが好ましい。かぶり防
止剤や前記のN原子含有化合物の場合、AgX乳剤のp
HをそれらのpKa0 以上、好ましくは(pKa+0.
3)以上のpHにすることにより、AgX粒子から脱着
することができる。ここでpKa0 は溶液中の該化合物
の半数がプロトンを解離した状態になるpHを指す。一
方、該ポリアルキレンオキサイド化合物の場合、pHを
好ましくは5以下、より好ましくは2〜4.5に下げる
ことにより脱着させることができる。このようにして晶
癖制御剤を脱着させた後、AgX乳剤を水洗して、晶癖
制御剤を除去することができる。該脱着pH範囲が、従
来公知の凝集沈降水洗法による水洗時のpH範囲(通常
3〜5、好ましくは3.5〜4.5)と重なっていれ
ば、該沈降水洗時に脱着除去される。該pH範囲が異な
る場合は、遠心分離法でAgX粒子を沈降させ、上澄み
液を除去する方法で除去することができる。該遠心分離
法はpH1〜11の殆んどのAgX乳剤に適用すること
ができる。即ち、条件制約がない。従って好ましく用い
ることができる。該遠心分離法に関しては、三沢忠則
編、増補・遠心分離、化学工業社(1985)、特開平
3−200952号の記載を参考にすることができる。
後、AgX乳剤から除去することが好ましい。かぶり防
止剤や前記のN原子含有化合物の場合、AgX乳剤のp
HをそれらのpKa0 以上、好ましくは(pKa+0.
3)以上のpHにすることにより、AgX粒子から脱着
することができる。ここでpKa0 は溶液中の該化合物
の半数がプロトンを解離した状態になるpHを指す。一
方、該ポリアルキレンオキサイド化合物の場合、pHを
好ましくは5以下、より好ましくは2〜4.5に下げる
ことにより脱着させることができる。このようにして晶
癖制御剤を脱着させた後、AgX乳剤を水洗して、晶癖
制御剤を除去することができる。該脱着pH範囲が、従
来公知の凝集沈降水洗法による水洗時のpH範囲(通常
3〜5、好ましくは3.5〜4.5)と重なっていれ
ば、該沈降水洗時に脱着除去される。該pH範囲が異な
る場合は、遠心分離法でAgX粒子を沈降させ、上澄み
液を除去する方法で除去することができる。該遠心分離
法はpH1〜11の殆んどのAgX乳剤に適用すること
ができる。即ち、条件制約がない。従って好ましく用い
ることができる。該遠心分離法に関しては、三沢忠則
編、増補・遠心分離、化学工業社(1985)、特開平
3−200952号の記載を参考にすることができる。
【0022】その他、濾過膜を用いてAgX乳剤中の水
分、または分散媒を除去し、水洗する方法を挙げること
ができる。その詳細に関しては、三沢忠則編、新増補・
濾過、化学工業社(1992)、特開平3−14094
6号、特公昭59−43727号、同62−27008
号、特開昭62−113137号の記載を参考にするこ
とができる。その他、固形吸着剤を用いて脱着させるこ
ともできる。その詳細に関しては特開平4−30884
0号の記載を参考にすることができる。更には該制御剤
を溶解脱着させる水溶性有機溶剤をAgX乳剤に入れ、
脱着させることもできる。該有機溶剤に関しては日本化
学会編、化学便覧、基礎編4−5節、丸善(1984)
の記載を参考にすることができる。なお、本発明の平板
状粒子中の該らせん転位は、該粒子に光照射、または該
乳剤をpH8以上、またはpAg7以下、またはその組
合せ条件にし、転位線の所に銀をデコレートさせること
より、より確実に観察することができる。これに関して
は Mitchell ら、 Philosophical Magazine 44巻、2
23、357(1953年)の記載を参考にすることが
できる。
分、または分散媒を除去し、水洗する方法を挙げること
ができる。その詳細に関しては、三沢忠則編、新増補・
濾過、化学工業社(1992)、特開平3−14094
6号、特公昭59−43727号、同62−27008
号、特開昭62−113137号の記載を参考にするこ
とができる。その他、固形吸着剤を用いて脱着させるこ
ともできる。その詳細に関しては特開平4−30884
0号の記載を参考にすることができる。更には該制御剤
を溶解脱着させる水溶性有機溶剤をAgX乳剤に入れ、
脱着させることもできる。該有機溶剤に関しては日本化
学会編、化学便覧、基礎編4−5節、丸善(1984)
の記載を参考にすることができる。なお、本発明の平板
状粒子中の該らせん転位は、該粒子に光照射、または該
乳剤をpH8以上、またはpAg7以下、またはその組
合せ条件にし、転位線の所に銀をデコレートさせること
より、より確実に観察することができる。これに関して
は Mitchell ら、 Philosophical Magazine 44巻、2
23、357(1953年)の記載を参考にすることが
できる。
【0023】本発明法で得られた粒子をホスト粒子と
し、エピタキシャル粒子を形成して用いてもよい。ま
た、該粒子をコアとして内部に転位線を有する粒子を形
成してもよい。その他、該粒子をサブストレートとし
て、サブストレートと異なるハロゲン組成のAgX層を
積層させ、種々の既知のあらゆる粒子構造の粒子を作る
こともできる。これらに関しては後述の文献の記載を参
考にすることができる。また、得られた乳剤粒子に対
し、通常、化学増感核が付与される。この場合、該化学
増感核の生成場所と数/cm2 が制御されていることが好
ましい。これに関しては特開平2−838号、同2−1
46033号、同1−201651号、同3−1214
45号、特開昭64−74540号、特願平3−732
66号、同3−140712号、同3−115872号
の記載を参考にすることができる。
し、エピタキシャル粒子を形成して用いてもよい。ま
た、該粒子をコアとして内部に転位線を有する粒子を形
成してもよい。その他、該粒子をサブストレートとし
て、サブストレートと異なるハロゲン組成のAgX層を
積層させ、種々の既知のあらゆる粒子構造の粒子を作る
こともできる。これらに関しては後述の文献の記載を参
考にすることができる。また、得られた乳剤粒子に対
し、通常、化学増感核が付与される。この場合、該化学
増感核の生成場所と数/cm2 が制御されていることが好
ましい。これに関しては特開平2−838号、同2−1
46033号、同1−201651号、同3−1214
45号、特開昭64−74540号、特願平3−732
66号、同3−140712号、同3−115872号
の記載を参考にすることができる。
【0024】また、該平板粒子をコアとして、浅内潜乳
剤を形成して用いてもよい。また、コア/シェル型粒子
を形成することもできる。これについては特開昭59−
133542号、同63−151618号、米国特許第
3,206,313号、同3,317,322号、同
3,761,276号、同4,269,927号、同
3,367,778号の記載を参考にすることができ
る。本発明の方法で製造したAgX乳剤粒子を他の1種
以上のAgX乳剤とブレンドして用いることもできる。
ブレンド比率は1.0〜0.01の範囲で適宜、最適比
率を選んで用いることができる。
剤を形成して用いてもよい。また、コア/シェル型粒子
を形成することもできる。これについては特開昭59−
133542号、同63−151618号、米国特許第
3,206,313号、同3,317,322号、同
3,761,276号、同4,269,927号、同
3,367,778号の記載を参考にすることができ
る。本発明の方法で製造したAgX乳剤粒子を他の1種
以上のAgX乳剤とブレンドして用いることもできる。
ブレンド比率は1.0〜0.01の範囲で適宜、最適比
率を選んで用いることができる。
【0025】これらの粒子に粒子形成から塗布工程まで
の間に添加できる添加剤に特に制限はなく、従来公知の
あらゆる写真用添加剤を添加することができる。例えば
AgX粒子へのドープ剤(例えば第8族貴金属化合物、
その他の金属化合物、カルコゲン化合物、SCN化物
等)、強色増感剤、化学増感剤(イオウ、セレン、テル
ル、金および第8族貴金属化合物、リン化合物、ロダン
化合物、還元増感剤の単独およびその2種以上の併
用)、かぶらせ剤、乳剤沈降剤、硬膜剤、染料、色像形
成剤、カラー写真用添加剤、可溶性銀塩、潜像安定剤、
現像剤(ハイドロキノン系化合物等)、圧力減感防止
剤、マット剤等をあげることができる。該AgX乳剤粒
子を形成した後に、または化学増感後に、または化学増
感と分光増感をした後に遠心分離法により、AgX粒子
を分離し、上澄みのゼラチン溶液を除去することができ
る。上澄み液と一緒に不要になった添加剤が除去され
る。次に新しいゼラチン溶液を添加し、AgX粒子を再
分散し、用いることが好ましい。
の間に添加できる添加剤に特に制限はなく、従来公知の
あらゆる写真用添加剤を添加することができる。例えば
AgX粒子へのドープ剤(例えば第8族貴金属化合物、
その他の金属化合物、カルコゲン化合物、SCN化物
等)、強色増感剤、化学増感剤(イオウ、セレン、テル
ル、金および第8族貴金属化合物、リン化合物、ロダン
化合物、還元増感剤の単独およびその2種以上の併
用)、かぶらせ剤、乳剤沈降剤、硬膜剤、染料、色像形
成剤、カラー写真用添加剤、可溶性銀塩、潜像安定剤、
現像剤(ハイドロキノン系化合物等)、圧力減感防止
剤、マット剤等をあげることができる。該AgX乳剤粒
子を形成した後に、または化学増感後に、または化学増
感と分光増感をした後に遠心分離法により、AgX粒子
を分離し、上澄みのゼラチン溶液を除去することができ
る。上澄み液と一緒に不要になった添加剤が除去され
る。次に新しいゼラチン溶液を添加し、AgX粒子を再
分散し、用いることが好ましい。
【0026】本発明法で調製したAgX乳剤は、従来公
知のあらゆる写真感光材料に用いることができる。例え
ば、黒白ハロゲン化銀写真感光材料(例えば、Xレイ感
材、印刷用感材、印画紙、ネガフィルム、マイクロフィ
ルム、直接ポジ感材、超微粒子乾板感材(LSIフォト
マスク用、シャドーマスク用、液晶マスク用)〕、カラ
ー写真感光材料(例えばネガフィルム、印画紙、反転フ
ィルム、直接ポジカラー感材、銀色素漂白法写真など)
に用いることができる。更に拡散転写感光材料(例え
ば、カラー拡散転写要素、銀塩拡散転写要素)、熱現像
感光材料(黒白、カラー)高密度 digita 記録感材、ホ
ログラフィー用感材などをあげることができる。塗布銀
量は0.01g/m2以上の好ましい値を選ぶことができ
る。AgX乳剤製造方法(粒子形成、脱塩、化学増感、
分光増感、写真用添加剤の添加方法等)および装置、A
gX粒子構造、支持体、下塗り層、表面保護層、写真感
光材料の構成(例えば層構成、銀/発色材モル比、各層
間の銀量比等)と製品形態および保存方法、写真用添加
剤の乳化分散、露光、現像方法等に関しても制限はな
く、従来もしくは今後公知となるあらゆる技術、態様を
用いることができる。これらの詳細に関しては下記文献
の記載を参考にすることができる。
知のあらゆる写真感光材料に用いることができる。例え
ば、黒白ハロゲン化銀写真感光材料(例えば、Xレイ感
材、印刷用感材、印画紙、ネガフィルム、マイクロフィ
ルム、直接ポジ感材、超微粒子乾板感材(LSIフォト
マスク用、シャドーマスク用、液晶マスク用)〕、カラ
ー写真感光材料(例えばネガフィルム、印画紙、反転フ
ィルム、直接ポジカラー感材、銀色素漂白法写真など)
に用いることができる。更に拡散転写感光材料(例え
ば、カラー拡散転写要素、銀塩拡散転写要素)、熱現像
感光材料(黒白、カラー)高密度 digita 記録感材、ホ
ログラフィー用感材などをあげることができる。塗布銀
量は0.01g/m2以上の好ましい値を選ぶことができ
る。AgX乳剤製造方法(粒子形成、脱塩、化学増感、
分光増感、写真用添加剤の添加方法等)および装置、A
gX粒子構造、支持体、下塗り層、表面保護層、写真感
光材料の構成(例えば層構成、銀/発色材モル比、各層
間の銀量比等)と製品形態および保存方法、写真用添加
剤の乳化分散、露光、現像方法等に関しても制限はな
く、従来もしくは今後公知となるあらゆる技術、態様を
用いることができる。これらの詳細に関しては下記文献
の記載を参考にすることができる。
【0027】リサーチ・ディスクロージャー(Research
Disclosure) 、176巻(アイテム17643)(12
月、1978年)、同307巻(アイテム30710
5、11月、1989年)、ダフィン(Duffin) 著、写
真乳剤化学(Photographic Bmulsion Chemistry)、Foca
l Press, New York(1966年)、ビル著(B.J.Birr)、
写真用ハロゲン化銀乳剤の安定化(Stabilization of P
hotographic Silver Halide Emulsion) 、フォーカル
プレス(Focal Press)、ロンドン(1974年)、ジェ
ームス編(T.H.James)、写真過程の論理(The Theory o
f Phtotgraphic Process) 第4版、マクミン(Macmilla
n)、ニューヨーク(1977年)
Disclosure) 、176巻(アイテム17643)(12
月、1978年)、同307巻(アイテム30710
5、11月、1989年)、ダフィン(Duffin) 著、写
真乳剤化学(Photographic Bmulsion Chemistry)、Foca
l Press, New York(1966年)、ビル著(B.J.Birr)、
写真用ハロゲン化銀乳剤の安定化(Stabilization of P
hotographic Silver Halide Emulsion) 、フォーカル
プレス(Focal Press)、ロンドン(1974年)、ジェ
ームス編(T.H.James)、写真過程の論理(The Theory o
f Phtotgraphic Process) 第4版、マクミン(Macmilla
n)、ニューヨーク(1977年)
【0028】グラフキデ著(P.Glafkides)、写真の化学
と物理(Chimie et Physique Photographique)、第5
版、エディション ダ リジンヌヴェル(Edition de
1,UsineNouvelle, パリ(1987年)、同第2版、ポ
ウル モンテル、バリ(1957年)、ゼリクマンら
(V.L.Zelikman et al.)、写真乳剤の調製と塗布(Maki
g and Coating Photographic Bmulsion), Focal Press
(1964年)、ホリスター(K.R.Hollister)ジャーナ
ル オブ イメージング サイエンス(Journal of Ima
ging Science) 、31巻、p.148〜156(1987
年)、マスカスキー(J.E.Maskasky) 、同30巻、p.2
47〜254(1986年)、同32巻、160〜17
7(1988年)、同33巻、10〜13(1989
年)
と物理(Chimie et Physique Photographique)、第5
版、エディション ダ リジンヌヴェル(Edition de
1,UsineNouvelle, パリ(1987年)、同第2版、ポ
ウル モンテル、バリ(1957年)、ゼリクマンら
(V.L.Zelikman et al.)、写真乳剤の調製と塗布(Maki
g and Coating Photographic Bmulsion), Focal Press
(1964年)、ホリスター(K.R.Hollister)ジャーナ
ル オブ イメージング サイエンス(Journal of Ima
ging Science) 、31巻、p.148〜156(1987
年)、マスカスキー(J.E.Maskasky) 、同30巻、p.2
47〜254(1986年)、同32巻、160〜17
7(1988年)、同33巻、10〜13(1989
年)
【0029】フリーザーら編、ハロゲン化銀写真過程の
基礎(Die Grundlagen Der Photographischen Prozesse
Mit Silverhalogeniden),アカデミッシェ フェルラー
クゲゼルシャフト(Akademische VerIaggesellschaft),
フランクフルト(1968年)。日化協月報1984
年、12月号、p.18327、日本写真学会誌、49
巻、7〜12(1986年)、同52巻、144〜16
6(1986年)、同52巻、41〜48(1989
年)、特開昭58−113926号〜113928号、
同59−90841号、同58−111936号、同6
2−99751号、同60−143331号、同60−
143332号、同62−14630号、同62−62
51号、
基礎(Die Grundlagen Der Photographischen Prozesse
Mit Silverhalogeniden),アカデミッシェ フェルラー
クゲゼルシャフト(Akademische VerIaggesellschaft),
フランクフルト(1968年)。日化協月報1984
年、12月号、p.18327、日本写真学会誌、49
巻、7〜12(1986年)、同52巻、144〜16
6(1986年)、同52巻、41〜48(1989
年)、特開昭58−113926号〜113928号、
同59−90841号、同58−111936号、同6
2−99751号、同60−143331号、同60−
143332号、同62−14630号、同62−62
51号、
【0030】特開平1−131541号、同2−838
号、同2−146033号、同3−155539号、同
3−200952号、同3−246534号、同4−3
4544号、同2−28638号、同4−109240
号、同2−73346号、特願平2−326222号、
AgX写真分野その他の日本特許、米国特許、欧州特
許、世界特許、ジャーナル オブ イメージ サイエン
ス(Journal of ImagingScience)、ジャーナル オブ
フットグラフィック サイエンス(Journal of Photogr
aphic Science)、フォトグラフィック サイエンス ア
ンド エンジニアリング(Photographic Science and E
ngineering) 、日本写真学会誌、日本写真学会講演要旨
集、International Congress of Photographic Science
およびTheInternational East-West Symposium on the
Factors Influencing Photographic Sensitivity の講
演要旨集。米国特許3,442,653号、特願平2−
130976号、同2−229300号、同3−536
93号、同3−82929号、同2−333819号、
同3−131598号、同3−53693号、同4−1
45031号、同4−77261号、特開昭51−88
017号、カナダ特許800,958号、特公昭64−
8323号。本発明の乳剤は特開昭62−269958
号、同62−266538号、同63−220238
号、同63−305343号、同59−142539
号、同62−253159号、特開平1−131541
号、同1−297649号、同2−42号、同1−15
8429号、同3−226730号、同4−15164
9号、特願平4−179961号、欧州特許05083
98A1の実施例の感光材料の構成乳剤として好ましく
用いることができる。
号、同2−146033号、同3−155539号、同
3−200952号、同3−246534号、同4−3
4544号、同2−28638号、同4−109240
号、同2−73346号、特願平2−326222号、
AgX写真分野その他の日本特許、米国特許、欧州特
許、世界特許、ジャーナル オブ イメージ サイエン
ス(Journal of ImagingScience)、ジャーナル オブ
フットグラフィック サイエンス(Journal of Photogr
aphic Science)、フォトグラフィック サイエンス ア
ンド エンジニアリング(Photographic Science and E
ngineering) 、日本写真学会誌、日本写真学会講演要旨
集、International Congress of Photographic Science
およびTheInternational East-West Symposium on the
Factors Influencing Photographic Sensitivity の講
演要旨集。米国特許3,442,653号、特願平2−
130976号、同2−229300号、同3−536
93号、同3−82929号、同2−333819号、
同3−131598号、同3−53693号、同4−1
45031号、同4−77261号、特開昭51−88
017号、カナダ特許800,958号、特公昭64−
8323号。本発明の乳剤は特開昭62−269958
号、同62−266538号、同63−220238
号、同63−305343号、同59−142539
号、同62−253159号、特開平1−131541
号、同1−297649号、同2−42号、同1−15
8429号、同3−226730号、同4−15164
9号、特願平4−179961号、欧州特許05083
98A1の実施例の感光材料の構成乳剤として好ましく
用いることができる。
【0031】
【実施例】次に実施例により本発明を更に詳細に説明す
るが、本発明の実施態様はこれに限定されるものではな
い。 実施例1 反応容器にゼラチン水溶液1200ml(脱イオン化アル
カリ処理ゼラチン24gを含み、pH6.0)を入れ、
温度を43℃に保ちながらAgNO3 液(10ml中にA
gNO3 1gを含む)を5ml加えた。Ag−1液(10
ml中にAgNO 3 を2g含む)とX−1液(10ml中に
KBrを1.4g含む)を50ml/分で12mlだけ同時
混合添加した。次にAg−2液(100ml中にAgNO
3 を2.82g含む)とX−2液(100ml中にNaC
lを0.97g含む)を60ml/分で23mlだけ同時混
合添加した。次にAg−1液とX−1液を50ml/分で
40mlだけ、同時混合添加した。該乳剤に前記した化合
物(5)の水溶性合成ポリマー50gとH2 O 250
mlを含む混合液を添加し、銀電位(対飽和カロメル電
極)を40mVとし、温度を75℃に上昇させ、7分間
熟成した。次に温度を65℃に下げた後、AgBr微粒
子(平均投影粒径0.05μm、一重以上の双晶粒子の
数比率およびらせん転位欠陥粒子の数比率はともに0.
1%以下であり、100ml中、AgBrを5.6g含
み、銀電位40mVに調節済み)を含む乳剤を20ml/
分で30分間添加した。添加後、5分間熟成をした後、
沈降剤を添加し、温度を25℃に下げ、沈降水洗法で脱
塩した。なお、粒子成長中のpHは6.0であった。ゼ
ラチン水溶液を添加し、再分散し、pH6.2、pBr
2.8とした。乳剤の一部を採取し、そのTEM像を観
察した所、次の結果が得られた。 (アスペクト比2以上の平板状粒子の全投影面積/全A
gX粒子の投影面積和)=a1 =0.88、 (アスペクト比2以上の平板状粒子の平均アスペクト比
(平均直径/平均厚さ)=a2 =7.5、 アスペクト比2以上の平板状粒子の平均直径=a3 =
1.3μm、 該平板状粒子の円相当直径の変動係数=a4 =0.23 該平板状粒子の主平面の形状=直角平行四辺型、x2 は
0.02以下。即ち、40mVという低い銀電位の成長
条件で主平面が直角平行四辺形の該AgX粒子が形成さ
れた。これは従来できなかった事である。
るが、本発明の実施態様はこれに限定されるものではな
い。 実施例1 反応容器にゼラチン水溶液1200ml(脱イオン化アル
カリ処理ゼラチン24gを含み、pH6.0)を入れ、
温度を43℃に保ちながらAgNO3 液(10ml中にA
gNO3 1gを含む)を5ml加えた。Ag−1液(10
ml中にAgNO 3 を2g含む)とX−1液(10ml中に
KBrを1.4g含む)を50ml/分で12mlだけ同時
混合添加した。次にAg−2液(100ml中にAgNO
3 を2.82g含む)とX−2液(100ml中にNaC
lを0.97g含む)を60ml/分で23mlだけ同時混
合添加した。次にAg−1液とX−1液を50ml/分で
40mlだけ、同時混合添加した。該乳剤に前記した化合
物(5)の水溶性合成ポリマー50gとH2 O 250
mlを含む混合液を添加し、銀電位(対飽和カロメル電
極)を40mVとし、温度を75℃に上昇させ、7分間
熟成した。次に温度を65℃に下げた後、AgBr微粒
子(平均投影粒径0.05μm、一重以上の双晶粒子の
数比率およびらせん転位欠陥粒子の数比率はともに0.
1%以下であり、100ml中、AgBrを5.6g含
み、銀電位40mVに調節済み)を含む乳剤を20ml/
分で30分間添加した。添加後、5分間熟成をした後、
沈降剤を添加し、温度を25℃に下げ、沈降水洗法で脱
塩した。なお、粒子成長中のpHは6.0であった。ゼ
ラチン水溶液を添加し、再分散し、pH6.2、pBr
2.8とした。乳剤の一部を採取し、そのTEM像を観
察した所、次の結果が得られた。 (アスペクト比2以上の平板状粒子の全投影面積/全A
gX粒子の投影面積和)=a1 =0.88、 (アスペクト比2以上の平板状粒子の平均アスペクト比
(平均直径/平均厚さ)=a2 =7.5、 アスペクト比2以上の平板状粒子の平均直径=a3 =
1.3μm、 該平板状粒子の円相当直径の変動係数=a4 =0.23 該平板状粒子の主平面の形状=直角平行四辺型、x2 は
0.02以下。即ち、40mVという低い銀電位の成長
条件で主平面が直角平行四辺形の該AgX粒子が形成さ
れた。これは従来できなかった事である。
【0032】比較例1 実施例1とは次の点のみ異なり、他は同じにした。核形
成後の銀電位調節を130mVとし、核形成後に該合成
ポリマーの添加を行なわない。添加するAgBr微粒子
乳剤の銀電位を予め130mVに調節した。得られた乳
剤の一部を採取し、そのTEM像を観察した所、得られ
た平板状粒子の主平面の形状は3つの角が非等価的に欠
落した直角平行四辺形であった。その他は次の通りであ
った。a 1 =0.86、a2 =7.2、a3 =1.27
μm、a4 =0.24。即ち、該平板状粒子は130m
Vという高い銀電位にもかかわらず、主平面の形状は直
角平行四辺形にはならなかった。従って実施例1の該添
加剤は該平衡晶癖銀電位を90mV以上、低下させたこ
とを示している。
成後の銀電位調節を130mVとし、核形成後に該合成
ポリマーの添加を行なわない。添加するAgBr微粒子
乳剤の銀電位を予め130mVに調節した。得られた乳
剤の一部を採取し、そのTEM像を観察した所、得られ
た平板状粒子の主平面の形状は3つの角が非等価的に欠
落した直角平行四辺形であった。その他は次の通りであ
った。a 1 =0.86、a2 =7.2、a3 =1.27
μm、a4 =0.24。即ち、該平板状粒子は130m
Vという高い銀電位にもかかわらず、主平面の形状は直
角平行四辺形にはならなかった。従って実施例1の該添
加剤は該平衡晶癖銀電位を90mV以上、低下させたこ
とを示している。
【0033】比較例2 実施例1とは次の点のみ異なり、他は同じにした。核形
成後に該合成ポリマーの添加を行なわない。即ち、従来
法で銀電位40mVで該粒子成長を行なった。得られた
乳剤の一部を採取し、そのTEM像を観察した所、得ら
れた平板状粒子の主平面の形状は、直角平行四辺形の4
つの角が大きく欠落したアスペクト比1.5以下の低ア
スペクト比の粒子であった。即ち、従来法では、銀電位
40mVという低い銀電位では本発明の粒子は得られな
かった。実施例1、比較例1にそれぞれ次の増感処理を
施し、増粘剤、塗布助剤を加えてTACベース上に保護
層とともに塗布した。次に乾燥し、順に塗布試料A、B
とした。即ち、各乳剤を40℃にし、下記増感色素1を
それぞれ飽和吸着量の60%だけ吸着させた。次に温度
を55℃にし、金−チオシアン酸錯体(塩化金酸:SC
N- =1:40モル比)溶液を10-5 mol/molAgXだけ
添加し、次にNa 2 S2 O3 ・5H2 Oを2.5×10
-5 mol/molAgXだけ添加し、20分間熟成した。
成後に該合成ポリマーの添加を行なわない。即ち、従来
法で銀電位40mVで該粒子成長を行なった。得られた
乳剤の一部を採取し、そのTEM像を観察した所、得ら
れた平板状粒子の主平面の形状は、直角平行四辺形の4
つの角が大きく欠落したアスペクト比1.5以下の低ア
スペクト比の粒子であった。即ち、従来法では、銀電位
40mVという低い銀電位では本発明の粒子は得られな
かった。実施例1、比較例1にそれぞれ次の増感処理を
施し、増粘剤、塗布助剤を加えてTACベース上に保護
層とともに塗布した。次に乾燥し、順に塗布試料A、B
とした。即ち、各乳剤を40℃にし、下記増感色素1を
それぞれ飽和吸着量の60%だけ吸着させた。次に温度
を55℃にし、金−チオシアン酸錯体(塩化金酸:SC
N- =1:40モル比)溶液を10-5 mol/molAgXだけ
添加し、次にNa 2 S2 O3 ・5H2 Oを2.5×10
-5 mol/molAgXだけ添加し、20分間熟成した。
【0034】
【化3】
【0035】次に温度を40℃に下げ、かぶり防止剤T
AI(4−hydroxy −6− methyl−1,3,3a,7
− tetraazaindene )を5×10-3 mol/molAgXと増粘
剤、塗布助剤を加えて塗布(塗布銀量は1.5g/m2、
ベースはトリアセチルセルロースフィルム)し、乾燥さ
せた。両塗布フィルムを1/100秒間のウェッジ露光
(マイナス青露光)をし、MAA−1現像液で20℃、
10分間の現象を行なった。定着、水洗、乾燥をし、得
られた特性曲線より求めた写真性の結果は次の通りであ
った。 A(相対感度110 、 かぶり濃度0.12) 、B(相対感度10
0 、 かぶり濃度0.3) 従って本発明法で製造した該AgX乳剤は従来法に比べ
てより低いかぶりで高感度であることが確認された。
AI(4−hydroxy −6− methyl−1,3,3a,7
− tetraazaindene )を5×10-3 mol/molAgXと増粘
剤、塗布助剤を加えて塗布(塗布銀量は1.5g/m2、
ベースはトリアセチルセルロースフィルム)し、乾燥さ
せた。両塗布フィルムを1/100秒間のウェッジ露光
(マイナス青露光)をし、MAA−1現像液で20℃、
10分間の現象を行なった。定着、水洗、乾燥をし、得
られた特性曲線より求めた写真性の結果は次の通りであ
った。 A(相対感度110 、 かぶり濃度0.12) 、B(相対感度10
0 、 かぶり濃度0.3) 従って本発明法で製造した該AgX乳剤は従来法に比べ
てより低いかぶりで高感度であることが確認された。
【0036】
【発明の効果】該AgX乳剤を製造バラツキが少なく、
かつ、かぶり濃度を高くしないで製造することができ
る。
かつ、かぶり濃度を高くしないで製造することができ
る。
Claims (1)
- 【請求項1】 少なくとも分散媒とハロゲン化銀粒子を
含むハロゲン化銀乳剤であり、かつ、該ハロゲン化銀粒
子の全投影面積の50%以上がCl- 含率が49モル%
以下で主平面が{100}面でアスペクト比(円相当直
径/厚さ)が2以上の平板状粒子であるハロゲン化銀乳
剤を製造する方法において、該乳剤の核形成前から結晶
成長終了の5分前までの間に、該粒子形成の平衡晶癖銀
電位を少なくとも15mV以上低下させる晶癖制御剤を
添加し、かつ、該制御剤存在中の該乳剤の銀電位(対室
温飽和カロメル電極電位)を100mV以下に保ちなが
ら形成することを特徴とするハロゲン化銀乳剤の製造方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24821893A JPH07104405A (ja) | 1993-10-04 | 1993-10-04 | ハロゲン化銀乳剤の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24821893A JPH07104405A (ja) | 1993-10-04 | 1993-10-04 | ハロゲン化銀乳剤の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07104405A true JPH07104405A (ja) | 1995-04-21 |
Family
ID=17174941
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24821893A Pending JPH07104405A (ja) | 1993-10-04 | 1993-10-04 | ハロゲン化銀乳剤の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07104405A (ja) |
-
1993
- 1993-10-04 JP JP24821893A patent/JPH07104405A/ja active Pending
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