JPH0697793B2

JPH0697793B2 - ドロツプアウトの測定方法

Info

Publication number: JPH0697793B2
Application number: JP57057325A
Authority: JP
Inventors: 稔山野
Original assignee: Hitachi Maxell Energy Ltd
Current assignee: Hitachi Maxell Energy Ltd
Priority date: 1982-04-08
Filing date: 1982-04-08
Publication date: 1994-11-30
Anticipated expiration: 2009-11-30
Also published as: JPS58175370A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は、ビデオテープレコーダなどの記録媒体である
磁気テープの性能測定に適したドロップアウトの測定方
法に関する。

家庭用のビデオテープレコーダ（以下VTRという）とし
て、1/2インチ幅の磁気テープを使用した、いわゆるヘ
リカルスキャン型VTRが非常な勢いで普及しつつある。
かかるVTRは、磁気テープがカセットに収納されて、テ
ープの着脱やその他の操作が非常に容易であり、また、
６時間にも及ぶ連続記録が可能となって、長時間番組の
記録ができるようになった。

このように、長時間番組を記録することができるように
なったのは、磁気テープの記録密度を極端に向上させる
ことができるようになったためではあるが、まず、この
点について、第１図を用いて説明する。

第１図において、１は磁気テープ,2は磁気ヘッド,3は記
録トラック,4は水平同期信号である。

磁気テープ１は矢印Ａ方向に走行し、磁気ヘッド２は磁
気テープ１を角度θでもって矢印Ｂの斜め方向に走査す
る。このために、記録トラック３は、磁気テープ１上に
角度θでもって斜め方向に形成される。なお、図示して
いないが磁気ヘッド２としては２つの磁気ヘッドが用い
られ、これらの磁気ヘッドは回転ドラム上に互いに180
゜の角間隔で設けられ、一方の磁気ヘッドは１つおきの
記録トラックを記録または再生し、他方の磁気ヘッドは
他の１つおきの記録トラックを記録または再生する。し
たがって、記録トラック３は１つづつ交互に異なる磁気
ヘッドで記録または再生される。

各記録トラック３には、１フィールドづつ映像信号が記
録され、したがって、262H（Ｈは水平走査期間）の映像
信号が記録されることになる。各記録トラック３の端部
には、図示しないが、垂直同期信号が記録されており、
水平同期信号４は1H毎に記録されている。

ところで、一般には、記録トラック間のクロストークを
防止するために、各記録トラック３間にガードバンドが
設けられるものであるが、記録密度を高めるために、い
わゆる、アジマス方式を利用することにより、ガードバ
ンドを設けることなく、各記録トラック３が接するよう
にしている。すなわち、上述した２つの磁気ヘッドのギ
ャップ方向を異ならせ、隣接せる記録トラック３間で互
いに磁化方向を異ならせている。このようにすると、記
録トラック３を、その磁化方向と異なるギャップ方向の
磁気ヘッドで再生走査しても再生出力を充分に抑えるこ
とができる。そこで、記録時においては、隣接記録トラ
ックに一部重複して記録トラックを形成することもで
き、記録トラックの幅を充分に狭くすることができて記
録密度が大幅に向上することになる。

因みに、記録トラック３の幅ｗは、20μｍないし58μｍ
にとられており、磁気ヘッド２が隣接トラック３を一部
走査しても、クロストークが生ずることがない。水平同
期パルス４間の長さ（1Hの映像信号が記録される長さ）
l_Hは約370μｍで、θは約７゜である。

以上、磁気テープ上に高密度に形成された記録トラック
について説明したが、一般に、磁気テープを再生走査す
ると、磁気テープ上の欠陥により映像信号にドロップア
ウトが生じ、再生画面上に白点状あるいは白線状の雑音
が現われ、画質を低下させることになる。

ドロップアウトが生ずる原因としては、磁気テープの材
質による磁気テープの突起、くぼみ、磁気テープの製造
工程で生ずる磁性材料の塗布むらや傷、あるいは、磁気
テープに付着する塵、埃など種々のものがあり、また、
その原因によって、ドロップアウトの大きさ、発生分布
が異なるものである。

いずれにしても、ドロップアウトを生ずることは画質の
劣化を惹起するものであるから好ましいことではなく、
また、先に述べたような長時間記録のために高密度記録
を行なう磁気テープにおいては、磁気テープの微小な欠
陥も大きなドロップアウトとして現われるものであるか
ら、わずかな欠陥でも可能な限り少なくする必要があ
る。

もちろん、ドロップアウトは電気的手段により補償する
ことができ、これまで種々の方法、装置が提案されてき
たが、それらは原理的には画像情報の相関性を利用して
視覚的に目立たなくするものであるから、ドロップアウ
トが頻繁に発生するような場合にはやはり画質の劣化は
免れず、ドロップアウトが非常に大きい場合には、もは
や、目立たなくすることさえも困難になる。

そこで、さらにドロップアウトの発生が少ない、すなわ
ち、ドロップアウトの発生原因となる欠陥が少ない磁気
テープを開発する必要となるが、まず、このためには、
製造された磁気テープの性能を知り、ドロップアウトを
生ずる原因を究明する必要があり、したがって、ドロッ
プアウトの測定をしなければならない。

しかしながら、従来のドロップアウトの測定方法として
は、単位時間当りに発生するドロップアウトの数をカウ
ントし、これらを集計平均化して評価する方法があり、
磁気テープの性能評価としては一様有効な方法であって
も、ドロップアウトの原因究明には何ら役立つものでは
ない。

これに対して、記録済みの磁気テープを磁気現像し、顕
微鏡により磁気テープの欠陥を目視する方法があり、欠
陥を直接分析してドロップアウトの原因究明を行なうこ
とができる。確かに、この方法によると、欠陥が磁気テ
ープ上の突起であるか、くぼみであるか、あるいは、塵
埃が付着したものであるかを知ることができる。また、
欠陥の形状により、その欠陥が生じた原因を知ることが
できる。たとえば、磁気テープの走行時に走じた掻き傷
は、磁気テープの長手方向に伸長した欠陥であろうし、
細かい糸屑が付着すれば曲線状の欠陥であろうし、ま
た、磁気テープの材質によるものはある面積をもった欠
陥であろうように、欠陥の形状からのその原因を推測す
ることができ、対策を講じることができる。

しかし、この方法は、欠陥そのものを探し出すために非
常な時間と労力とを要する。ドロップアウトの探索時間
を短縮するために、磁気テープを低速再生し、ドロップ
アウトが検出されると停止してその部分を磁気現象し、
顕微鏡で目視する方法もあるが、これでも１つのドロッ
プアウトを検出するのに時間を要し、多くの欠陥の形状
を分析するとなると非常に困難である。

また、これら従来の方法では、１つ１つの磁気テープの
欠陥の分析は可能であるとしても、この分析によって直
ちに磁気テープに欠陥が生じた原因が判明するとは限ら
ない。たとえば、製造時におけるカレンダローラのきず
によって生じた欠陥は、磁気テープの長手方向に周期的
に現われるものであって、このような欠陥を１つ１つ分
析してもその原因を掴むことはできない。

本発明の目的は、上記従来技術の欠点を除き、磁気テー
プ上におけるドロップアウトの発生位置分布を迅速、適
確に得、以て、磁気テープの欠陥の原因を容易に究明す
ることができるようにしたドロップアウトの測定方法を
提供するにある。

この目的を達成するために、本発明は、磁気テープ上に
任意の領域を設定可能とし、磁気テープから再生された
映像信号の水平同期パルスと１フィールド毎の垂直同期
パルスとをカウントし、夫々のカウント数でもって前記
磁気テープ上の位置を表わして検出されるドロップアウ
トの発生位置を表わす情報を得、該情報にもとづいて、
上記領域内に存在するドロップアウトを検出して、表示
装置における前記ドロップアウトの表示位置を設定する
ようにした点を特徴とする。

以下、本発明の実施例を図面について説明する。

第２図は本発明による巨大ドロップアウトの測定方法の
一実施例を示すブロック図であって、５はVTR,6はマイ
クロコンピュータ（以下、マイコンという）,7は時間設
定タイマ,8は垂直同期パルスカウンタ（以下、Ｖカウン
タという）,9は水平同期パルスカウンタ（以下、Ｈカウ
ンタという）,10はドロップアウト検出器,11はドロップ
アウト幅カウンタ,12は発振器である。

次に、この実施例の動作について説明する。

第２図において、VTR5はマイコン６により制御される。
マイコン６の端子c₁,c₂,c₃,c₄からは、夫々記録、再
生、停止、巻戻しの各モードの指令信号がVTR5に送ら
れ、VTR5は送られてきた指令信号に応じたモードで動作
する。時間設定タイマ７は記録および再生モードの時間
を設定するためのもので、マイコン６の端子c₅からリセ
ット信号が送られると時間設定タイマ７は動作を開始
し、同時に、マイコン６の端子c₁またはc₂から指令信号
が送られてVTR5は記録または再生モードとなる。時間設
定タイマ７は、設定された時間を経過するとマイコン６
にタイムオーバー信号を送り、マイコン６は端子c₃,c₄
から指令信号を送ってVTR5を停止、巻戻しモードにす
る。

VTR5がマイコン６からの指令により再生モードにあると
きには、第１図に示す磁気テープ１から映像信号が再生
され、再生映像信号から分離された垂直同期パルスVSは
Ｖカウンタ８へ、水平同期パルスHSはＨカウンタ９へ、
また、再生RF信号Ｖはドロップアウト検出器10に夫々供
給される。

Ｖカウンタ８は16ビットのカウンタであって、供給され
る垂直同期パルスVSをカウントする。Ｈカウンタ９は９
ビットカウンタであって、供給される水平同期パルスHS
をカウントするとともに、垂直同期パルスVSによりリセ
ットされる。したがって、Ｈカウンタ９は１フィールド
毎に水平同期パルスHSのカウントを繰り返えすことにな
る。

ドロップアウト検出器10は再生RF信号Ｖの振幅の低下か
らドロップアウトを検出し、これをマイコン６に供給す
るとともに、ドロップアウト幅カウンタ11にも供給す
る。ドロップアウト幅カウンタ11は８ビットカウンタで
構成され、ドロップアウトが供給されると、ドロップア
ウト期間発振器12からのパルスをカウントし、そのカウ
ント数をドロップアウトの幅としてマイコン６に供給す
る。

そこで、マイコン６はドロップアウト検出器10からドロ
ップアウトが供給されると、その時点でのＶカウンタ8,
Hカウンタ９の夫々のカウント数も供給され、ドロップ
アウト幅カウンタ11からのカウント数とともにメモリ
（図示せず）に記憶する。Ｖカウンタ８のカウント数は
ドロップアウトを生ずる欠陥が存在する記録トラックを
表わし、また、Ｈカウンタ９のカウント数はその記録ト
ラック上の欠陥が存在するＨ期間を表わすものであっ
て、夫々のカウント数は磁気テープ上の欠陥の位置を表
わすアドレス信号となる。

Ｖカウンタ８は16ビットカウンタであるから、2¹⁶＝655
36個の記録トラックをカウントすることができ、したが
って、65536/60≒1090秒、すなわち、約18分の測定が可
能である。2¹⁶個カウントするとリセットされ、この時
間周期でカウントを繰り返す。

Ｈカウンタ９は９ビットカウンタであるから、2⁹＝512
カウントすることができ、垂直同期パルスVSによりリセ
ットされるから、NTSC方式の場合には、１から262まで
のカウントを繰り返し、PAL方式、SECAM方式では１から
315までのカウントを繰り返えすことになる。なお、PAL
方式、SECAM方式は垂直同期パルスVSの繰返し周波数は5
0Hzであるから、2¹⁶/50≒1310秒、すなわち、約20分の
測定が可能である。

ドロップアウト幅カウンタ11は８ビットカウンタである
から、2⁸＝256のカウントが可能であり、いま、発振器1
2の発振周波数を500KHzとすると、ドロップアウトの幅
を２μ秒から512μ秒までで２μ秒の精度で検出するこ
とができ、これは、H/30から約8Hまでの幅の欠陥の幅を
検出することができることになる。第１図の磁気テープ
の場合には、1H≒370μｍであるから、370÷12μｍ程度
までの微小な欠陥を検出できることになる。

なお、以上の数値は一例を示したにすぎない。たとえ
ば、発振器12の発振周波数をさらに高くすれば、さらに
微小なドロップアウトの幅、したがって、さらに微小な
磁気テープの欠陥の幅を検出することができることは明
らかである。

以上、第２図の各ブロックの動作について説明したが、
次に、第３図のフローチャートを用いて磁気テープの欠
陥の測定を行なう場合について説明する。

まず、時間設定タイマ７により測定すべき時間を予め設
定する。そこで、記録釦（図示せず）を押してマイコン
６をスタートさせる（13）と、c₁端子から記録指令信号
を発してVTR5を記録開始させる（14）。記録開始後適当
な時刻にスタート音声信号を音声記録トラック（第１図
において、図示しないが、磁気テープ１の一方の端に、
テープ長手方向に形成される）に記録（15）し、同時
に、c₅端子からリセット信号を送って時間設定タイマ７
を動作させる（16）。

その後、時間設定タイマ７が設定時間を経過してタイム
オーバー信号を発生する（17）と停止釦（図示せず）を
押し、マイコン６はc₃端子に停止指令信号を発してVTR5
の記録を停止させ、次いで、巻戻し釦（図示せず）を押
してc₄端子に巻戻し指令信号を発して磁気テープ（図示
せず）を元の位置まで巻戻させる（18）。

次に、再生釦（図示せず）を押すとマイコン６はc₂端子
に再生指令信号を発し、VTR5は再生モードとなる（1
9）。音声記録トラックを再生しつつ、スタート音声信
号が再生検出される（20）とＶカウンタ８、Ｈカウンタ
９、ドロップアウト幅カウンタ11にリセットパルスを供
給して夫々をリセットする（21）。そして、Ｖカウンタ
８で垂直同期パルスVSが、Ｈカウンタ９で水平同期パル
スHSが、先に述べたように夫々カウントされる。

そこで、ドロップアウト検出器10でドロップアウトが検
出されるとマイコン６はこれを検知（以下、ドロップア
ウトの割り込みという）し（22）、ドロップアウトの開
始時点におけるＶカウンタ8,Hカウンタ９のカウント数
を読み込み、また、ドロップアウト幅カウンタ11からの
カウント数も読み込んで（23）、夫々のカウント数をマ
イコン６のメモリ（図示せず）に記憶する（24）。それ
とともに、ドロップアウト幅カウンタ11はリセットされ
る（25）。なお、ドロップアウト幅カウンタ11のリセッ
トは、たとえば、検出されたドロップアウトの終端から
パルスを検出し、このパルスによって行なわせることが
できる。

各カウンタ8,9,11のカウント数が、メモリに記憶される
と、メモリがオーバーするか否かを判別し（26）、も
し、オーバーするならばメモリに記憶されたデータを外
部メモリ（図示せず）に転送する（27）。次いで、時間
設定タイマ７からタイムオーバー信号があったか否かの
判別（28）を行ない、設定時間が経過していなければ、
次のドロップアウトの割り込み（22）に備える。

そして、時間設定タイマ７により設定時間内で、ドロッ
プアウトが検出される毎に、Ｖカウンタ８、Ｈカウンタ
９、ドロップアウト幅カウンタ11のカウント数がメモリ
に記憶され、メモリに余裕がなくなると、メモリに記憶
されたデータは外部メモリに転送される。

時間設定タイマ７による設定時間が経過すると時間設定
タイマ７はタイムオーバー信号を発生し（28）、停止
釦，巻戻し釦を押すことにより、マイコン６はc₃,c₄端
子に夫々停止、巻戻し指令信号を発生してVTR5を停止モ
ード、さらに巻戻しモードにする（29）。それととも
に、マイコン６のメモリに記憶されているデータは全て
外部メモリに転送され（30）、測定が全て完了する（3
1）。

さて、以上のようにして得られたドロップアウトの発生
位置情報にもとづいて、表示装置13においてドロップア
ウトの発生位置分布を表示する信号をマイコン６は発生
するわけであるが、以下、表示装置13がＸ−Ｙプロッタ
である場合について説明する。

第４図は第２図の表示信号を得るための回路構成の一具
体例を示すブロック図であって、33はメモリ、34,35は
パルス発生器,36,37はレジスタ,38,39は一致回路,40,41
はカウンタ,42,43は入力端子,44,45,63は出力端子であ
る。

次に、この具体例の動作について説明する。

第４図において、メモリ33には、Ｖカウンタ８（第２
図）のカウント数（以下、Ｖアドレスという）,Hカウン
タ９のカウント数（以下、Ｈアドレスという）が記憶さ
れ、各Ｈアドレス毎にＶアドレスが付随している。パル
ス発生器34から出力される順次のパルスはカウンタ40が
オン状態のとき出力端子44から図示しないＸ−Ｙプロッ
タに供給され、各パルス毎にペン位置をＹ方向、すなわ
ち、記録紙の長手方向に１ステップづつ移動させる。ま
た、パルス発生器35から出力される順次のパルスはカウ
ンタ41がオン状態のとき出力端子45から同じＸ−Ｙプロ
ッタに供給され、各パルス毎にペン位置をＸ方向、すな
わち、記録紙の幅方向に１ステップづつ移動させる。

カウンタ40は、表示開始時入力端子42からのリセットパ
ルスによりリセットされるとともにカウント動作に入
り、パルス発生器34からのパルスをカウントする。同じ
ように、カウンタ41は、入力端子43からのリセットパル
スによりリセットされるとともにカウント動作に入り、
パルス発生器35からのパルスをカウントする。したがっ
て、カウンタ40,41のカウント数は、Ｘ−Ｙプロッタの
記録紙上に想定されるＸ−Ｙ座標系の位置（X,Y）を表
わすことになる。

そこで、まず、表示動作を開始すると、カウンタ40がリ
セットされるとともに、レジスタ36に記憶されたＶアド
レスは、一致回路38でカウンタ40のカウント数と順次比
較され、両者が一致すると、一致回路38は“1"ビットを
発生する。この“1"ビットはメモリ33から上記Ｖアドレ
スに対するＨアドレスの読出し命令を発生させるととも
に、入力端子43からリセットパルスを送り、カウンタ41
をリセットするとともにカウント動作に入らせる。しか
るに、メモリ33からＨアドレスが読出されてレジスタ37
に記憶され、一致回路39でカウンタ41のカウント数と順
次比較される。両者が一致すると、一致回路39からパル
スが発生し、ドロップアウト表示信号（以下、表示信号
という）として出力端子63からＸ−Ｙプロッタのペンに
供給されて記録紙にプロットされる。

これと同時に、一致回路39からのパルスにより、次のＶ
アドレスのメモリ33からの読出し命令が発生される。こ
の命令によりメモリ33が次のＶアドレスが読出され、レ
ジスタ36に供給され，以下、同じ動作を必要回数くりか
えす。

以上のようにして、Ｖ、Ｈアドレスに応じて記録紙の所
定位置が順次プロットされ、磁気テープ上のドロップア
ウトを発生する位置が記録紙上に表示される。このよう
にして表示されたいくつかの例を第５図に示す。

第５図（Ａ）は、たとえば、磁気テープに磁性材料の塗
布すじがある場合のドロップアウトの分布であり、磁気
テープの長手方向に連続した点状のパターンが現われ
る。第５図（Ｂ）はカレンダロールなどに傷がある場合
に生ずるドロップアウトの分布であって、磁気テープの
長手方向に周期的なパターンとして現われる。第５図
（Ｃ）は塵、埃などの比較的大きな欠陥によるドロップ
アウトであって、ランダムに現われる。第５図（Ｄ）は
磁気テープの材質などによる通常のドロップアウトの分
布であり、不規則な点状のパターンとして現われる。

以上のように、上記具体例においては、欠陥の原因毎に
特有なパターンが表示され、該パターンから逆に欠陥の
原因を容易に究明することができる。

第６図は第５図の表示信号を得るための回路構成の他の
具体例を示すブロック図であって、46,47は比較回路,4
8,49はレジスタ,50,51,52はアンド回路,53はＤ−フリッ
プフロップ回路（以下、Ｄ−FFという）,54はインバー
タ,55は出力端子,56は入力端子であり、第４図に対応す
る部分には同一符号をつけて説明を省略する。

次に、この具体例の動作について説明する。

第６図において、いま、Ｖアドレスがｎからｎ＋ａ（但
し、n,aは正整数）までの領域についてドロップアウト
の分布を測定する場合，まず、レジスタ48,49に夫々値
n,n＋ａを設定し、同時に、カウンタ40を入力端子42か
らのプリセット信号により値ｎにプリセットする。そし
て、メモリ33から順次Ｖアドレスを読出して比較回路4
6,47に供給し、レジスタ48,49に記憶されている値n,n＋
ａと夫々比較する。

読出されるＶアドレスが値ｎ未満のときには、比較回路
46から“1"ビットが発生し、この“1"ビットが発生する
限り、順次Ｖアドレスを読出す。

そして、Ｖアドレスが、ｎ≦Ｖアドレス≦ｎ＋ａになると、比較回路46から“0"ビットが発生し、また比
較回路47から“1"ビットが発生しており、アンド回路51
から“1"ビットが出力されてＤ−FF53に供給される。そ
して、Ｖアドレスが上記の条件を満足している限り、Ｖ
アドレスが比較される毎にアンド回路51から“1"ビット
が出力される。

Ｄ−FF53はアンド回路51から“1"ビットが供給されてい
ないときには、Ｑ出力は低いレベルの“0"レベルであ
り、アンド回路50,52はオフ状態にあってパルス発生器3
4,35からのパルスはカウンタ40,41に供給されず、Ｘ−
Ｙプロッタは動作しない。また、カウンタ40,41もカウ
ントを開始しない。

Ｄ−FF53のＤ端子に“1"ビットが供給されると、入力端
子56からのクロックパルスにより、Ｄ−FF53のＱ出力は
高いレベルの“1"レベルとなり、アンド回路51から“1"
ビットが供給されている間“1"レベルが保持される。し
たがって、アンド回路50,52はオン状態となり、パルス
発生器34,35からのパルスはカウンタ40,41に夫々供給さ
れ、以下、第４図で説明したように動作する。

Ｖアドレスがｎ＋ａを越えると、比較回路47は“0"ビッ
トを出力し、アンド回路51の出力は“0"ビットになるか
らＤ−FFのＱ出力は“0"レベルとなり、アンド回路50,5
2がオフ状態となってＸ−Ｙプロッタは動作を停止す
る。同時に、比較回路47からの“0"ビットはインバータ
54で反転され、出力端子55に“1"ビットが得られてＶア
ドレスの読出しを停止する。

この具体例によると、指定された領域のドロップアウト
分布を表示することができ、短時間の測定を行なう場合
有利である。たとえば、最初のＶアドレスからドロップ
アウトの分布を表示し、ある程度の分布の様子が判明し
たときには、レジスタ49の値を指定して表示を停止さ
せ、所望のデータだけを得るようにすることができる。
また、ドロップアウト分布の表示を途中で終り、次に、
その途中から先の部分のドロップアウト分布を表示した
いときは、レジスタ48とカウンタ40の値を所要の値に設
定すればよい。

第７図は第５図の表示信号を得るための回路構成のさら
に他の具体例を示すブロック図であって、57はレジス
タ,58は一致回路,59はカウンタ,60はアンド回路,61はＲ
−Ｓフリップフロップ回路（以下、FFという）,62はパ
ルス発生器であり、第２図，第４図，第６図に対応する
部分には同一符号をつけている。なお、第７図において
は、第４図，または、第６図と一致回路39,出力端子63
以外についても全て共通するものであるが、必要最小限
度の回路構成のみを示し、説明も重複を避けるようにし
た。

次に、この具体例の動作について説明する。

第７図において、メモリ33にはドロップアウトの発生位
置情報（V,Hアドレス）とともに、各発生位置情報に付
随してドロップアウト幅カウンタ11（第２図）のカウン
ト数（したがって、ドロップアウトの幅を表わしてお
り、以下、D.O.幅情報という）も記憶されている。

さて、一致回路38（第４図，第６図）で“1"ビットが発
生されると、Ｈアドレスがメモリ33から読出されるのは
先述と同様であるが、同時に、D.O.幅情報も読出されて
レジスタ57に記憶される。

そこで、一致回路39が先述のように“1"ビットを発生す
ると、この“1"ビットはFF61をセットし、Ｑ出力が“1"
レベルとなって出力端子63からＸ−Ｙプロッタのペンに
供給されるとともに、アンド回路60をオン状態にしてパ
ルス発生器62からのパルスをカウンタ59に供給する。

ここで、パルス発生器62の発振周波数について説明す
る。

第４図，第６図において、パルス発生器35の発振周波数
をf_Hとすると、このパルス発生器35から得られるパルス
の周期1/f_Hは２つの連続する値のＨアドレスの読出し期
間に等しい。すなわち、第１図において、一方のＨアド
レスが記録トラック３上の水平同期パルスの記録位置を
表わし、他方のＨアドレスは同じ記録トラック３上の次
の水平同期パルスの記録位置を表わしているとすると、
周期1/f_Hは上記一方のＨアドレスを読出してから上記他
方のＨアドレスを読出すまでの期間に等しい。

一方、発振器12（第２図）の発振周波数をf₀とし、ま
た、テレビジョン信号の1H期間をThとすると、1H期間に
おける発振器12からのパルスの数はTh・f₀である。

第７図に戻って、以上のことから、上記の周期1/f_H間に
存在するパルス発生器62からのパルスの数も、同様にTh
・f₀でなければならず、したがって、パルス発生器62の
発振周波数ｆは、ｆ＝Th・f₀・f_H となる。ここで、 Th＝63.5μsec f₀＝500KHz（前出）とすると、ｆ＝31.75×f_H となる。なお、この場合、パルス発生器34の発振周波数
はf_H/262となる。

このような発振周波数ｆのパルス発生器62からのパルス
はカウンタ59でカウントされ、このカウント数とレジス
タ57のD.O.幅情報とが一致すると一致回路58は“1"ビッ
トを出力し、FF61,カウンタ59をリセットするととも
に、次のＶアドレスの読出し命令を発生させる。

しかるに、FF61のＱ出力は“0"レベルとなり、出力端子
63からはドロップアウトの幅を表わす長さの“1"レベル
の表示信号がＸ−Ｙプロッタのペンに供給され、記録紙
上にドロップアウトの幅に応じた長さの線が画かれるこ
とになる。

したがって、この具体例によると、記録紙上にドロップ
アウトの位置分布ばかりでなく、大きさなども表示され
ることになり、より明確にドロップアウトの原因究明が
可能となる。

以上の具体例では、表示装置としてＸ−Ｙプロッタにつ
いて説明したが、これに限定されることなく、他の表示
装置、たとえば、プリンタ、陰極線管表示装置なども使
用することができることはいうまでもない。

なお、第４図，第６図，第７図の回路構成は一例を示し
たにすぎず、Ｖ、Ｈアドレス、あるいは、さらに、D.O.
幅情報を用いて同様の表示が可能であれば、他の回路構
成も採用することができる。

以上説明したように、本発明によれば、磁気テープ上に
任意の領域を設定可能とし、該領域でのドロップアウト
の発生分布を磁気テープ上の欠陥の位置パターンとして
表わすことができ、該発生分布によりドロップアウトの
原因究明を迅速、適確に行なうことができるとともに、
ドロップアウトの発生分布の測定範囲を任意に決めるこ
とができて、分布に必要な測定結果だけを得るようにす
ることもでき、前記従来技術にない優れた機能のドロッ
プアウトの測定方法を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の磁気テープの記録パターンの一例を示す
説明図，第２図は本発明によるドロップアウトの測定方
法の一実施例を示すブロック図，第３図は第２図のドロ
ップアウトの検出動作を示すフローチャート，第４図は
第２図のドロップアウト表示信号を発生するための回路
構成の一具体例を示すブロック図，第５図（Ａ），
（Ｂ），（Ｃ），（Ｄ）は表示されたドロップアウトの
発生分布の一例を示すパターン図，第６図は第２図のド
ロップアウト表示信号を発生するための回路構成の他の
具体例を示すブロック図，第７図は第２図のドロップア
ウト表示信号を発生するための回路構成のさらに他の具
体例を示すブロック図である。５……VTR,6……マイクロコンピュータ,8……垂直同期
パルスカウンタ,9……水平同期パルスカウンタ,10……
ドロップアウト検出器,11……ドロップアウト幅カウン
タ,12……発振器,13……表示装置。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】磁気テープから再生される映像信号の垂直
同期パルスと該垂直同期パルス毎の水平同期パルスとを
カウントし、該映像信号からドロップアウトが検出され
たときの該垂直同期パルスのカウント数を前記磁気テー
プの長手方向の該ドロップアウトの発生位置を表わすＶ
アドレスとし、また、該水平同期パルスのカウント相を
前記磁気テープの幅方向の該ドロップアウトの発生位置
を表わすＨアドレスとするとともに、該ドロップアウト
の幅情報を得るようにしたドロップアウトの測定方法に
おいて、前記磁気テープ上の任意の位置を示す数値を設定するた
めの第１の手段と前記磁気テープ上の他の任意の位置を
示す数値を設定する第２の手段とで、前記磁気テープ上
の任意の領域を指定し、該第1,第２の手段で設定される数値と前記Ｖアドレスと
を比較して該指定された任意の領域に入るＶアドレスを
検出し、検出された該Ｖアドレスとこれに付随する前記Ｈアドレ
スを該指定された任意の領域内でのドロップアウトの発
生位置情報とし、表示装置の各表示位置を該指定された任意の領域内の夫
々の位置に対応させ、該ドロップアウトの発生位置情報
に応じて対応する該表示位置に前記検出されたドロップ
アウトを表示させることを特徴とするドロップアウトの
測定方法。