JPS58160874A - 磁気テ−プの欠陥位置検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ビデオテープレコーダなどの記鍮媒体として
用いられる磁気テープの欠陥位置検出装置に関する。

家庭用のビデオテープレコーダ（以下、ＶＴＲとい５）
として、ｌ／２インチ幅の磁気テープを使用した、いわ
ゆるヘリカルスキャン１ＩＶＴＲが非常な勢いで普及し
つつある。かかるＶＴＲは、磁気テープがカセッ）Ｋ収
納されて、テープの着脱やその他の操作が非常に容易で
あり、また、６時間にも及ぶ連続記鎌が可能となって、
長時間番組の記鍮ができるようＫなった。

このよ５に、長時間番組を記鋒することができるようＫ
なったのは、磁気テープの記鍮密度を極端に向上させる
ことができるようＫなったためではあるが、まず、この
点について、第１図を用いて説明する。

第１！ＥＩにおいて、ｌは磁気テープ、２は磁気ヘッド
、３は記鎌トラック、４は水平同期信号である。

磁気テープｌは矢印入方向に走行し、磁気ヘッド２は磁
気テープｌを角度−でもうて矢印Ｂの斜め方向に走査す
る。このために１記碌トラツク３は、磁気テープｌ上に
角度０でもって斜め方向に形成される。なお、図示して
いないが、磁気ヘツド２としては２つの磁気ヘッドが用
いられ、これらの磁気ヘッドは回転ドラム上に互いに１
８０゜の角間隔で設けられ、一方の磁気ヘッドは１つお
鎗の配碌トラックを記録または再生し、他方の磁気ヘッ
ドは他の１つおきの記録トラックを記録または再生する
。したがって、記録トラック３は１つづつ交互に異なる
磁気ヘッドで記録または再生される。

各記録トラック３には、１フイールドづつ映倫信号が記
録され、したがって、２６２Ｈ（Ｈは水平走査期間）の
映倫信号が配鍮されることＫなる。

各記録（ラック３の端部には、図示しないが、自画同期
信号が記録されており、水平同期信号４はｌＨ毎に記録
されている。

ところで、一般には、記録トラック間のクロストークを
防止するために、各記録トラック３関にガートバンドを
設けられるものであるが、記録密度を高めるために、い
わゆる、アジマス方式を利用することにより、ガートバ
ンドを設けることなく、各記録トラック３が接するよう
Ｋしている。

すなわち、上述した２つの磁気ヘッドのギャップ方向を
異ならせ、隣接せる記録トラック３間で互いＫｌｉ化方
肉方向ならせている。このようにすると、記録トラック
３を、その磁化方向と異なるギャップ方向の磁気ヘッド
で再生走査しても再生出力を充分に抑えることができる
。そこで、記録時においては、隣接記録トラックに一部
重複して記録トラックを形成することもでき、記録トラ
ックの幅を充分に狭くすることができて記録密度が大幅
に向上することになる。

因みに、記録トラック３０幅Ｗは、２０Ａｍないしｌｓ
８μｍＫとられており、磁気ヘッド２が隣接トラック３
を一部走査しても、クロストークが生ずることがな〜・
。水平同期信号４間の長さくｌＨの映倫信号が記録され
る長さ）１ｗは約３７０μｍで、θは約７′である。

以上、磁気テープ上に高密度に形成された記録トラツタ
について説明したが、一般に、磁気チー　　１プを再生
走査すると、磁気テープ上の欠陥により映倫信号にドロ
ップアウトが生じ、再生画面上に白点状あるいは白線状
の雑音が現われ、画質を低下させることになる。

磁気テープに欠陥が生ずる原因としては、磁気テープ上
の傷や突起、くぼみ、あるいは、磁気テープに付着する
塵、埃などがある。そして、このような原因によって生
ずる欠陥の性質は次のように分類するこ、とができる。

まず、一つは、磁気テープの傷などによるもので、取り
除くことかで會ないような欠陥であり、このような欠陥
は常にドロップアウトを惹き起すこと罠なる（以下、こ
のようなドロップアウトをパーマネントドルツブアウト
という）。次に％磁気テープ上に弱く付着した塵、埃な
どによる欠陥で、一度磁気ヘッドで走査すると、その時
はドロップアウトが生ずるが同時に塵、埃が除かれ、次
回の走査ではドロップアウトが生じない（以下、このよ
うなドロップアウトをテンポラリ−ドロップアウトとい
う）。また、１回目の磁気ヘッドの走査ではドロップア
ウトは生じないが、磁気テープ上の塗膜中のある種の物
質が磁気ヘッドの走査によってかき集められ、磁気テー
プ上のある位置に強く付着することＫよる欠陥であって
、豪数回走査するとドロップアウトが現われてくる（以
下、このようなドロップアウトを準パーイネントドロツ
プアウトという）。

いずれＫしても、ドロップアウトを生ずることは、再生
画質の劣化を惹き起すものであるから好ましいことでは
ないが、４！に、パーマネントドロツプアウＦ、準パー
ｉネントド四ツブアウトの発生は極力防止しなければな
らず、また、先に述ぺたような長時間記録のための高密
度記録を行なう磁気テープにおいては、磁気テープの微
小な欠陥も大きなドロップアウトとして現われることか
ら、わずかな欠陥でもできるかぎり少なくすることが必
要である。

もちろん、このようなドロップアウトは電気的手段によ
り取り除くことができ、これまでそのための種々の発明
、考案がなされてきたが、それらは原理的には、ドロッ
プアウト部分を近似した情−内＊１に−含む信号で補償
し、視覚的にドロップアウトが目立たないようＫするも
のであるから、ドロツプアウトが頻繁に発生する場合に
はやはり画質の劣化をきたすことになる。そして高密度
記録の場合には、これまで無根影響がなかった黴少な欠
陥がドロップアウトとして影響して（ることから、ドロ
ップアウトの発生頻度が増加することＫなる。

そこで、さ、らに欠陥の少ない磁気テープの開発が必要
となるが、このためには、まず、パーマネント、準パー
マネント、テンポラリ−などのドロップアウトの評価、
さらＫは、ドロップアウトの発生原因の究明が必要とな
る。

これらに関して、従来、単位時間当りに発生するドロッ
プアウトの数をカウントし、これを集計平均化してドロ
ップアウトを評価する方法があったが、ドロップアウト
の発生原因を把握することができなかった。また、録画
済みの磁気テープを磁気３Ｊ儂し、顕微鏡を用゛いて欠
陥を目視する方法や磁気テープを低速再生し、ドロップ
アウト発生時点で停止させて磁気テープにマークを付し
、その部分を磁気現儂して顕微鏡で欠陥を目視する方法
などもあり、これらＫよって、欠陥を直接分析すること
ができるようＫなったが、１つのドロップアウトを探し
出すだけでも非常な時間と労力を要し、多（の欠陥につ
いて詳細な分析を行なうことは事実上不可卵であった。

ところで、ドロップアウトの発生原因を究明するには、
ドロップアウトの発生原因となる磁気テープ上の欠陥を
直接分析するのが最も有効な手段であることＫはかわり
なく、この点においては、従来の顕微鏡′を用いて直接
欠陥を目視する方法は、確かに有効な手段である。しか
しながら、欠陥の位置を探し出すのに非常な手間がかか
り、これが磁気テープの開発の一つの障害となっている
。

本発明の目的は、上記従来技術の欠点を除き、磁気テー
プ上の欠陥の位置を迅速かつ適確に得ることができるよ
うにした磁気テープの欠陥位置検出装曾を提供するにあ
る。

この目的を達成するために、本発明は、磁気テープに記
録された映倫信号を再生し、該映倫信号の水平同期パル
スと１フイールド毎のｆｉｌ同期パルスをカウントし、
ドロップアウト発生時点の前記夫々の同期パルスのカウ
ント数を得、前記カウント数を前記磁気テープ上の欠陥
の位置を表わすアドレス信号とした点を特徴とする。

以下、本発明の実施例を図面について説明する。

第２図は本発明による磁気テープの欠陥位置検出装置の
一実施例を示すブロック図であって、５はＶＴＪ６はマ
イクロコンピュータ（以下、マイコンという）、７は時
間設定タイマ、８は垂直同期パルスカウンタ（以下、Ｖ
カウンタという）、９は水平同期パルスカウンタ（以下
、Ｈカウンタという）、１０はドロップアウト検出器、
１１はドロップアウト幅カウンタ、１２は発振器である
。

第３図は第２図の動作を示すフローチャートである。

次に、この実施例の動作について説明する。

第２図において、ＶＴＲ５はマイコン６により制御され
る。マイコン６の端子’１＊’ｌ、’Ｓ＊Ｃ４からは、
夫々記録、再生、停止、巻戻しの各モードの指令信号が
ＶＴＲ５に送られ、ＶＴＲ５は送られてきた指令信号に
応じたモードで動作する０時間設定タイマ７は配鎌およ
び再生モードの時間を設定するためのもので、マイコン
６の端子Ｃ１からりセット信号が送られると時間設定タ
イマ７は動作を開始し、同時に、マイコン６の端子Ｃ１
またはＣ，から指令信号が送られてＶＴＲ５は記録また
は再生モードとなる。時間設定タイマ７は、設定された
時間を経過するとマイコン６にタイ五オーバー信号を送
り、マイコン６は端子Ｃ１ｓ　　Ｃ４から指令信号を送
ってＶＴＲ５を停止、轡戻しモードにする。

ｖ’ｒａ５がマイコン６からの指令により再生モードに
あると？！には、第１図に示す磁気テープ１から映倫信
号が再生され、再生ＲＦ信号から分離された垂直同期パ
ルス■ＳはＶカウンタ８へ、水平ｔｌ１ＭパルスＨａは
Ｈ゛カウンタ９、また、再生ＲＦ信号■はドロップアク
ト検出器１０に夫々供給される。

Ｖカウンタ８は１６ビツトのカウンタであって、供給さ
れる垂直同期パルスｖ８をカウントする。

Ｈカウンタ９は９ビツトカウンタであって、供給される
水平同期パルスＨ８をカウントするとともに、垂直同期
パルスＶｌｃよりリセットされる。

したがって、Ｈカウンタ９は１フイールド毎に水平同期
パルスＨ８のカウントを繰り返えすことＫなる。

ドロップアウト検出器１０は再生ＲＦ信号Ｖの振幅の低
下からドロップアウトを検出し、これをマイコン６に供
給するとともに、ドロップアウト幅カウンタＩＩＫも供
給する、ドロップアウト幅カウンタ１１は８ピツトカウ
ンタで構成され、ドロップアウトが供給されると、ドロ
ップアラＦ期間発振器１２からのパルスをカウントし、
そのカウント数をドロップアウトの幅としてマイコン６
に供給する。

そこで、マイコン６はドロップアウト検出器ｌＯからド
ロップアウトが供給されると、その時点でのｖカウンタ
８、Ｈカウンタ９の夫々のカウント数も供給され、ドロ
ップアウト幅カウンタ１１からのカウント数とともにメ
モリ（図示せず）ｋ記憶する。■カウンタ８のカウント
数はドロップアウトを生ずる欠陥が存在する記録トラッ
クを表わし、また、Ｈカウンタ９０カウント数はその記
録トラック上の欠陥が存在するＨ期間を表わすものであ
って、夫々のカラン）ｋは磁気テープ上の欠陥の位置を
表わすアドレス信号となる。

Ｖカウンタ８は１６ビツトカウンタであるから、２”−
６５１５３６個の記録トラックをカウントすることがで
き、したがって、６５５３６／６０＊１Ｇ９０秒、すな
わち、約１８分の測定が可能である。２１′個カウント
するとリセットされ、この時間周期でカウントを繰り返
す。

Ｈカウンタ９桿９ビットカウンタであるから、２・牒５
１２カウントすることができ、垂直同期パルスＶ８によ
りリセットされるから、Ｎ’ｌ’８０方式の場合には、
１から２６２までのカウントを繰り返し、ＰＡＬ方式、
８ＢＣＡＭ方式では、ｌから３１５までのカウントを繰
り返えすことにな　　・〒る。なお、ＰＡＬ方式、８Ｅ
ＣＡＭ方式は垂直同期パルスｖＳの繰返し周波数は５０
Ｈｚであるから、２”１５０中１３１０秒、すなわち、
約２０分の測定が可能である。

ドロップアウト幅カウンタ１１は８ビツトカクンタであ
るから、２’＝２５６のカウントが可能であり、いま、
発振器１２の発振局波数を５００ＫＨｚとすると、ドロ
ップアウトの幅を２μ秒から５１２μ秒までで２μ秒の
精度で検出することができ、これは、Ｈ／３０から約８
Ｈまでの幅の欠陥の幅を検出することができることにな
る。第１図の磁気テープの場合には、ｌＨ＊３７０μｍ
であるから、３７０÷３０中１２μｍｌ！度までの微小
な欠陥を検出できることＫなる。

なお、以上の数値は一例を示したにｆぎない。

、たとえば、発振器１２の発振周波数をさらに高くすれ
ば、さらに微小なドロップアウトの幅、したがって、さ
らに微小な磁気テープの欠陥の幅を検出することができ
ることは明らかである。

以上、第２図の各ブロックの動作について説明したが、
次に、第３図のフローチャートを用いて磁気テープの欠
陥の測定を行なう場合について説明する。

まず、時間設定タイｆｆ７により測定すぺｔ時間な予じ
め設定する。そこで、記録釦（図示せず）を押してマイ
コン６をスタートさせる（１３）と、Ｃ１端子から配縁
指令信号を発してＶＴＲｌ５を記録−紬させる（１４）
。記録開始後適幽な時刻にスタート音声信号を音声記録
トラック（第１図において、図示しないが、磁気テープ
ｌの一方の端に、テープ長手方向に形成される）Ｋ記録
（１５）し、同時に％ＣＩ端子からリセット信号を送っ
て時間設定タイマ７を動作させる（１６）。

その後、時間設定タイマ７が設定時間を経過してタイム
オーバー信号を発生する（１７）と停止釦（図示せず）
を押し、マイコン６はＣ１端子に停止指令信号を発して
ＶＴＲ５の記録を停止させ、次いで、咎戻し釦（図示せ
ず）を押してＣ４端子に＠戻し指令信号を発して磁気テ
ープ（図示せず）を元の位置まで巻戻させる（１８）。

次に、再生釦（図示せず）を押すとマイコン６はＣ１端
子に再生指令信号を発し、ＶＴＲ５は再生モードとなる
（１９）。音声配置トラックを再生しつつ、スタート音
声信号が再生検出される（２０）と、Ｖカウンタ８．Ｈ
カウンタ９、ドロップアウト幅カウンタｌＩＫリセット
パルスを供給して夫々をリセットする（２１）。そして
、Ｖカウンタ８で僑直同期パルス■Ｓが、Ｈカウンタ９
で水平同期パルスＨ８が、先に述ぺたように、夫々カウ
ントされる。

そこで、ドリップアウト検出器１０でドロップアウトが
検出されるとマイコン６はこれを検知（以下、ドロップ
アウトの割り込みという）　Ｌ　（２２）、ドロップア
ウトの開始時点におけるＶカウンタ８、Ｈカラ／り９の
カウント数を読み込み、また、ドルツブアウト幅カウン
タ１１からのカウント数も読み込んで（２３）、夫々の
カウント数會マイコン６のメモリ（図示せず）に記憶す
る（２４）。それとともに、ドロ２１７９１幅カウンタ
１１はリセットされる（２５）。なお、ドロップアウト
幅カウンタ１１のリセットは、たとえば、検出されたド
リップアウトの終端からパルスな検出し、このパルスに
よって行なわせることができる・ 各カウンタ８，９，１１のカウント数がメ篭りに記憶さ
れると、メモリがオーバーするか否かを判別しく２６）
、もし、オーバーするならばメ毫すに記憶されたデータ
を外部メモリ（図示せず）Ｋ＠送する（２７）＠次いで
、時間設定タイ！７からタイムオーバー信号があったか
否かの判別（２８）ｖ行ない、設定時間が経過していな
ければ、次のドロップアウトの割り込み（２２）Ｋ備え
る。

そして、時間設定タイマ７による設定時間内で、ドロッ
プアウトが検出される毎に、Ｖカウンタ８、Ｈカラ／り
９．ドロップアウト幅カウンタ１１０カウント数がメモ
リに記憶され、メモリに余裕がなくなると、メモリに記
憶されたデータは外部メ毫りに転送される。

時間設定タイマ７による設定時間が経過すると時間設定
タイマ７はタイムオーバー信号を発生し　　　！（２８
）、停止釦、差戻し釦を押すことＫより、マイコン６は
Ｃａｅ　　Ｃ４端子に夫々停止、差戻し指令信号を発生
してＶＴＲ５を停止モード、さらに差戻しモードにする
（２９）。それとともＫ。

マイラン６０メモリに記憶されているデータは全て外部
メモＩＪ　ｌｊ転送され（３０）、測定が全て完了する
（３１）。

以上のようＫして、磁気テープ上の欠陥の位置および太
き巻を検出することができる。

このようＫして得られた欠陥に関するデータは、磁気テ
ープの評価、磁気テープの欠陥の原因究明などに資する
ことができる。

たとえば、データにもとづいて磁気テープ上の欠陥の分
布をハードコピー、あるいはＣＲＴ表示装置で表示する
ことにより、ランダムな分布、特、黴のある分布など欠
陥の分布状態を把握することかで會、その分布状態から
欠陥の原因を究明することがで館る。あるいは、また、
得られたデータから磁気テープ上の欠陥の位置が容易に
わかり、欠陥の目視観察のために無駄な時間と労力とな
要することがない。

また、１回の再生走査によるのではなく、複数−再生走
査して各再生走査毎の欠陥に関する上記データを得、得
られたデータから磁気テープ上の各位置におけるドリッ
プアウトの発生パターンを解析することができ、その発
生パターンからドロップアウトを、パーマネント、準パ
ーマネント、あるいはテンポラリ−ドリップアウトに分
類することができる。かかる分ｌｌＩにより、さらに、
夫々の種類のドロップアウトに関しての欠陥の分析が可
能となる。

以上は、本発明による磁気テープの欠陥位置検出装置に
よって得られたデータによる磁気テープの評価、欠陥の
分析の２〜３０例を概略的に述べたものであるが、磁気
テープの評価、欠陥の分析方法としてはその他種々の方
法があり、本発明による磁気テープの欠陥付量検出装置
はそれらの方法にも用いることができることは明らかで
ある。

なお、上記実施例で示した回路構成は単なる一例を示す
ものであって、同様の機能を有する他の回路構成を採用
することができることは明らかである。

以上説明したようＫ、本発明によれば、磁気テープから
再生された映倫信号の喬直、水平同期パルスにより磁気
テープ上のアドレス信号を形成し、諌アドレス信号によ
り磁気テープの欠陥の位置を表わすものであるから、磁
気テープ上の欠陥の位置を迅速かつ適確に得ることがで
き、上記従来技術の欠点を除いて優れた機能の磁気テー
プの欠陥位置検出装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は磁気テープ上の記録パターンの一例を示す説明
図、第２図は本発明による磁気テープの欠陥位置検出装
置の一実施例を示すブロック図、第３図は第２図の動作
を示すブロック図である。 ５・・・・・・ＶＴＲ，６・・・・・・マイクロコンピ
ュータ、８・・・・・・Ｖカウンタ、９・−・・・・・
Ｈカウンタ、１０・・・・・・ドロップアウト検出器。 第１図 り１５２図 ゝく

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 磁気テープに記鎌された映像信号を再生し、該映倫信号
   から該磁気テープの欠陥にもとづくドロップアウトを検
   出してなる磁気テープの欠陥位置検出装置において、前
   記映倫信号の水平同期パルスおよびｌフィールド毎の垂
   直同期パルスをカウントする手段と、前記ドロップアウ
   ト検出時点における前記夫々の同期パルスのカウント数
   を検出する手段とを設け、該カウント数を前記欠陥の前
   記磁気テープ上での位置を表わすアドレス信号とするこ
   とかで會るように構成したことを％像とする磁気テープ
   の欠陥測定方法。