JPH0696491A

JPH0696491A - 光磁気情報再生装置

Info

Publication number: JPH0696491A
Application number: JP4269096A
Authority: JP
Inventors: Eiji Yamaguchi; 英司山口; Susumu Matsumura; 進松村; Hiroaki Hoshi; 宏明星; Masakuni Yamamoto; 昌邦山本
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1992-09-14
Filing date: 1992-09-14
Publication date: 1994-04-08

Abstract

(57)【要約】【目的】ピットのエッジ位置を誤差を生じることな
く、正確に検出できるようにする。【構成】光磁気記録媒体にトラック方向と平行または
垂直方向の直線偏光の光を入射すると共に、光磁気記録
媒体から反射した光束を入射光の偏光方向と垂直方向に
偏光方向を有する光磁気記録媒体の光磁気効果によって
生じる光と、対物レンズの曲面で回折して生じる光とを
干渉させて、その光の光量分布の変化を検出することに
より、情報を再生する光磁気情報再生装置において、前
記対物レンズが光磁気記録媒体のトラッキング方向に移
動した際に、再生信号に重畳する直流成分を検出するた
めの手段と、この検出手段の出力に基づいて再生信号を
補正し、再生信号に含まれる直流成分を除去するための
補正手段とを設ける。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光磁気記録媒体の記録
情報を再生するための光磁気情報再生装置に関するもの
である。

【０００２】

【従来の技術】近年、光磁気ディスクを記録媒体として
用いた光磁気情報記録再生装置は、可搬性があること、
記録容量が大きいこと、消去書き換えが可能なことなど
より、大きな期待が寄せられている。図１２はその従来
の光磁気情報記録再生装置の光学系を示した構成図であ
る。図１２において、１００は記録再生用光源であると
ころの半導体レーザである。半導体レーザ１００から射
出された発散光束はコリメータレンズ１０１で平行化さ
れ、ビーム整形プリズム１０２で断面円形状の平行光束
に修正される。この平行光束は、ここでは紙面に平行方
向に偏光方向を持つ直線偏光（以下、Ｐ偏光という）の
光束とする。このＰ偏光の光束は、偏光ビームスプリッ
タ１０３に入射する。偏光ビームスプリッタ１０３の特
性としては例えばＰ偏光の透過率は６０％、反射率は４
０％、Ｐ偏光の偏光方向に垂直な方向の偏光方向を持つ
直線偏光（以下、Ｓ偏光という）の光の透過率は０％、
反射率は１００％である。偏光ビームスプリッタ１０３
を透過したＰ偏光の光束は、対物レンズ１０４により集
光され、光磁気ディスク１０５の磁性層上に微小光スポ
ットとして結像される。また、この光スポット照射部に
磁気ヘッド１０６から外部磁界が印加され、磁性層上に
情報ピットが記録される。

【０００３】光磁気ディスク１０５からの反射光は、対
物レンズ１０４を介して偏光ビームスプリッタ１０３に
戻され、ここで反射光の一部が分離されて再生光学系１
０７へもたらされる。再生光学系１０７では分離光束を
別に用意した偏光ビームスプリッタ１０８で更に分離す
る。この偏光ビームスプリッタ１０８の特性としては例
えばＰ偏光の透過率は２０％、反射率は８０％、Ｓ偏光
の透過率は０％、反射率は１００％である。偏光ビーム
スプリッタ１０８で分離された一方の光束は、後述する
ように再生光学系１０７内の光検出器で検出され、その
検出信号に基づいて再生信号が生成される。また、他方
の光束は集光レンズ１０９を介してハーフプリズム１１
０へ導かれ、ここで更に２つに分割されて、一方が光検
出器１１１に、他方がナイフエッジ１１２を介して光検
出器１１３へ導かれる。そして、これらの制御光学系の
光検出器１１１及び１１３で検出された信号に基づいて
オートトラッキング制御やオートフォーカシング制御の
ためのサーボエラー信号が生成される。

【０００４】再生光学系１０７は、光束の偏光方向を４
５度回転させるための１／２波長板１１４、光束を集光
する集光レンズ１１５、偏光ビームスプリッタ１１６、
偏光ビームスプリッタ１１６により分離された光束をそ
れぞれ検出する光検出器１１７及び１１８から構成され
ている。偏光ビームスプリッタ１１６の特性としてはＰ
偏光の透過率は１００％、反射率は０％、Ｓ偏光の透過
率は０％、反射率は１００％である。光検出器１１７と
１１８で検出された信号は、差動アンプ１１９で差動検
出され、再生信号１２０が生成される。ここで、光磁気
記録媒体においては、垂直磁化の方向の違いにより情報
を記録するのであるが、記録方式には光変調方式、磁界
変調方式などがある。光変調方式は記録媒体に一定の外
部磁界を印加しながら記録情報に応じて変調されたレー
ザビームを照射する方式である。また、磁界変調方式は
記録媒体に一定強度のレーザビームを照射しながら、記
録情報に応じて変調された外部磁界を印加する方式であ
る。

【０００５】ところで、この磁化の方向の違いにより情
報が記録された光磁気媒体に直線偏光の光を照射する
と、その反射光の偏光方向は磁化の方向の違いにより右
回りか左回りかに回転する。例えば、光磁気記録媒体に
入射する直線偏光の偏光方向を図１３に示すように、座
標軸Ｐ方向とし、下向き磁化に対する反射光は＋θ_K 回
転したＲ₊ 、上向き磁化に対する反射光は−θ_K 回転し
たＲ_- とする。そこで、図１３に示すような方向に検光
子を置くと、検光子を透過してくる光はＲ₊ に対しＡ、
Ｒ_- に対しＢとなり、これを光検出器で検出すると、光
強度の差として情報を得ることができる。図１２の例で
は、偏光ビームスプリッタ１１６が検光子の役目をして
いて、分離した一方の光束に対し、Ｐ軸から＋４５度、
他方の光束に対し、Ｐ軸から−４５度の方向の検光子と
なる。つまり、光検出器１１７と１１８で得られる信号
成分は逆相となるので、個々の信号を差動検出すること
で、ノイズが軽減された再生信号を得ることができる。

【０００６】ここで、情報をピットで記録する場合、ピ
ットのセンターの位置に情報の意味を持たせるピット位
置記録方式と、ピットのエッジの位置に情報の意味を持
たせるピットエッジ記録方式とがある。図１４はこの両
者の記録方式を説明するための図で、同図（ａ）はピッ
ト位置記録のピット列を示す。ピットの大きさは、近傍
のピットでおよそ一定である。図１４（ｂ）は同図
（ａ）のピット列を光学的に再生した検出信号、図１４
（ｃ）はピットエッジ記録のピット列、図１４（ｄ）は
同図（ｃ）のピット列を光学的に再生した検出信号であ
る。この検出信号からピットのエッジの位置を知るに
は、例えば電気的にスライスレベルを設けて図１４
（ｄ）の検出信号がスライスレベルを横切る位置を求め
ればよい。図１４（ｅ）はそのエッジ検出信号を示す。

【０００７】光磁気記録媒体に光学的手段を用いて情報
を記録する場合、光スポットによる熱に対して、光磁気
記録媒体のピットが書かれる記録感度がなだらかである
ときは、ピットの大きさにばらつきが生じてしまう。し
かし、ピットのセンターの位置は変らない。従来、この
理由により光学的手段を用いる光磁気記録媒体では多く
の場合、ピット位置記録が行なわれている。それに対
し、光スポットによる熱に対して光磁気記録媒体のピッ
トが書かれる記録感度が急峻な場合、ピットの大きさの
ばらつきをある一定量以下にすることができるので、ピ
ットエッジ記録が可能になり、記憶密度を増加させるこ
とができる。そのため、最近ではピットエッジ記録に適
した光磁気記録媒体の開発やピットの記録方式の開発が
行なわれ、ピット位置記録からピットエッジ記録へ移行
しつつある。また、光スポットをより小さくし、記録す
る最小ピットの大きさを光スポットの大きさと同程度
か、それ以下にすることによって、更に情報の高密度化
の研究が進められている。

【０００８】しかしながら、以上のような光磁気記録再
生装置では、光磁気記録媒体の偏光回転θ_K が〜１度と
非常に小さいため、図１３で示したＳ軸方向のみの光を
用いて情報の再生を行なうことが困難であった。そのた
め、従来においては図１２で示したような偏光ビームス
プリッタ１１６を用いてＰ軸方向の光とＳ軸方向の光を
干渉させることによって情報の再生を行なっていた。し
たがって、こうした再生方式では光ヘッドの部分点数が
多くなり、構成が複雑かつ大型化するという問題があっ
た。また、マーク長記録方式ではドメインのエッジ部を
検知する必要があるが、上記従来例ではエッジ部の検知
を光学的に直接行なっておらず、そのためにドメインの
大きさが光スポット程度になってくると、エッジ部の検
知位置のシフトが生じ、情報を正確に検出できないとい
う問題があった。

【０００９】また、従来の光磁気記録再生装置では、記
録媒体の改善などによりピットエッジ記録が可能となっ
てきたが、更に高密度記録を行なうべく、最小ピットの
大きさが光スポットの大きさと同程度かそれ以下になる
と、光ヘッドなどの伝達特性が劣化するために、図１４
に示した検出信号の直流成分に変動が生じ、一定のスラ
イスレベルで検出信号をスライスしてピットのエッジを
検出しようとすると、検出したエッジの位置がシフト
し、情報を正確に検出できないという問題があった。

【００１０】そこで、本願出願人は以上の問題点に鑑
み、光ヘッドを小型化すると共に、ドメインと光スポッ
トの大きさに関係なく、ドメインのエッジを検出するこ
とを可能とした光磁気情報再生装置を特願平４−４７７
８９号として出願した。また、本願出願人は記録密度が
高密度化してもピットエッジを正確に検出することを可
能とした光磁気情報再生装置を特願平４−４７７９０号
として出願した。

【００１１】以下、上記先願例の光磁気情報再生装置に
ついて説明する。始めに特願平４−４７７８９号に提案
された光磁気情報再生装置の一例を図１５に基づいて説
明する。なお、図１５では図１２に示した従来装置と同
一部分は同一符号を付してある。図１５において、対物
レンズ１２１としてはＮＡが０．５５程度のもので、大
きな曲率面を持つものが使用されている。この対物レン
ズ１２１の曲率面に半導体レーザ１００からの直線偏光
の光束が入射すると、この光に垂直の偏光に対する反射
率が著しく異なるために、偏光面が回転し、入射光の偏
光面と垂直な偏光だけをみると後述するように四つ葉の
クローバーのような回折像が得られる。半導体レーザ１
００の光束は、前記と同様に紙面と平行方向に偏光方向
をもつ直線偏光（Ｐ偏光）である。１２２は偏光ビーム
スプリッタであり、ここではＰ偏光成分の透過率は１０
０％、反射率は０％、Ｓ偏光成分の透過率は０％、反射
率は１００％のものが使用されている。更に、１２３は
集光レンズ、１２４は２分割光検出器、１１９は差動ア
ンプである。２分割光検出器１２４はその分割線が光磁
気ディスク１０５の情報トラックと平行となるように配
置されている。その他の構成は図に示した従来装置と同
じである。

【００１２】半導体レーザ１００から射出されたＰ偏光
の入射光束は、対物レンズ１２１で微小光スポットに絞
られて光磁気ディスク１０５に照射される。このときの
Ｐ偏光の偏光方向は、光磁気ディスク１０５のトラック
と平行または垂直方向にしてある。光磁気ディスク１０
５に光束が入射した場合、そのディスクの光磁気効果
（カー効果やファラデー効果）によって、Ｐ偏光と垂直
な成分であるＳ偏光が生じる。光磁気ディスク１０５に
入射した光束はその媒体面で反射され、再び対物レンズ
１２１を通って平行光束になる。この平行光束には、光
磁気ディスク１０５で生じたＳ偏光のほかに対物レンズ
１２１の曲面で生じたＳ偏光が含まれている。

【００１３】この光磁気ディスク１０５からの反射光束
は偏光ビームスプリッタ１０３で反射され、偏光ビーム
スプリッタ１２２に導かれる。偏光ビームスプリッタ１
２２の特性は、Ｐ偏光の透過率は１００％、反射率は０
％、Ｓ偏光の透過率は０％、反射率は１００％であるた
め、Ｐ偏光の光束は偏光ビームスプリッタ１２２を透過
して制御光学系へ導かれ、Ｓ偏光の光束は反射されて再
生光学系の集光レンズ１２３側へ導かれる。制御光学系
では、オートフォーカス、オートトラッキング制御のた
めの各エラー信号が生成される。また、集光レンズ１２
３に導かれたＳ偏光の光束は、２分割光検出器１２４の
各光検出片で検出され、更にその各光検出片の検出信号
を差動アンプ１１９で差動検出することにより、再生信
号１２５が生成される。２分割光検出器１２４の分割線
は、前述のように光磁気ディスク１０５のトラックに平
行に設けてあり、この光検出器１２４に入射する光は光
磁気効果によって生じるＳ偏光の光束と、対物レンズ１
２１の曲面で生じるＳ偏光の光束である。光磁気効果に
よって生じるＳ偏光の光束は、前述したように上向き磁
化に対するＳ₊ の光束と下向き磁化に対するＳ_- の光束
であり、両者の位相差はπである。つまり、再生用の光
スポット内に上向き磁化と下向き磁化の境界（エッジ
部）が入ると、深さλ／４（λは光の波長）のピットと
同様の光の回折が生じる。

【００１４】また、対物レンズ１２１の曲面で生じるＳ
偏光の光束については、以下の通りとなる。図１６にお
いて、１２４−１、１２４−２は２分割光検出器１２４
の各検出片を示し、矢印Ａはトラックの方向を示す。ま
た、図１６（ａ）は下向き磁化に対する光磁気効果によ
り生じるＳ₊ の光の分布、図１６（ｂ）は対物レンズ１
２１の曲面で生じるＳ偏光の回折光の分布を示してい
る。図１６（ｂ）では四つ葉状の分布となり、それぞれ
向い合う葉の光の位相は同じで、隣り合う葉の光の位相
差はπとなる。即ち、検出面１２４−１と１２４−２内
で互いに対向する葉の光の位相は同じで、検出面１２４
−１と１２４−２内にそれぞれ隣り合う葉の位相差はπ
となる。また、この図１６（ｂ）の光の分布は光磁気デ
ィスク１０５上の磁化の向きに関係なく、２分割光検出
器１２４上に現われる。図１７は図１６（ｂ）のＢ−
Ｂ′及びＣ−Ｃ′線における断面での光の振幅を示した
図である。図１７（ａ）はＢ−Ｂ′線での振幅、図１７
（ｂ）はＣ−Ｃ′線での振幅を示し、前述した四つ葉状
の各葉の位相関係により、図に示すような振幅となる。
そこで、図１６（ａ）に示した光磁気効果により生じる
光と、図１６（ｂ）に示した対物レンズ１２１の曲面で
生じる光を干渉させ、その結果の光量分布の変化を検出
することにより、情報を再生するものである。

【００１５】図１８を用いて更に詳しく説明する。図１
８（ａ）は再生用の光スポットと磁区を示した図で、１
２６は情報トラック、１２７は磁界変調方式で記録され
たドメインである。記録方式は光変調方式であってもよ
い。また、光磁気ディスク１０５の磁化は全て下向きに
初期化され、従ってドメイン１２７の磁化は上向きであ
る。光スポット１２８は、このようにドメイン１２７が
記録された情報トラック１２６上を１２９，１３０，１
３１，１３２として示すようにＡ方向に走査する。図１
８（ｂ）は図１８（ａ）の光スポットの各位置における
光磁気効果により生じたＳ偏光の２分割光検出器１２４
上の分布を示した図である。１２４−１及び１２４−２
は２分割光検出器１２４の各検出片を示す。光スポット
１２８及び１３２の位置では、光スポット内の磁化は全
て下向きであるので、光の回折は生じず、２分割光検出
器１２４上での分布は円形となる。光スポット１２９及
び１３１の位置では、光スポット内にドメイン１２７の
エッジが位置し、上向き磁化と下向き磁化が混在してい
るために、トラック１２６に平行方向に光が回折され、
２分割光検出器１２４上では図に示す如く光が左右に分
布する。このときの左右の光の位相差はπであるが、光
スポット１２９と１３１の位置では左右の光の位相差は
逆転している。また、光スポット１３０の位置では光ス
ポット内の磁化はほとんど上向き磁化であるため、光の
回折は生じず、図に示すような光の分布となる。このと
きの光の位相は、光スポット１２８や１３２の位置での
位相に比べπの差がある。

【００１６】図１８（ｃ）は図１８（ｂ）のＤ−Ｄ′線
における断面での光の振幅を各光スポットの位置で表わ
した図である。また、図１８（ｄ）及び（ｅ）はそれぞ
れ図１８（ｂ）に示した光の分布と図１６（ｂ）に示し
た光の分布を２分割光検出器上で干渉させた結果の光の
強度分布を示した図で、図１８（ｄ）はＢ−Ｂ′線にお
ける強度分布、図１８（ｅ）はＣ−Ｃ′線における強度
分布である。光スポット１２８，１３０，１３２の位置
では、図１８（ｄ），（ｅ）の分布でみると、２分割光
検出器１２４上で左右の分布はそれぞれ非対称となる
が、検出片１２４−１と１２４−２上での光量は同じで
ある。また、ドメイン１２７のエッジが位置する光スポ
ット１２９及び１３１の位置では左右の分布は対称とな
るが、検出片１２４−１と１２４−２で光量に差が生じ
る。これにより、検出片１２４−１と１２４−２の検出
信号を差動アンプ１１９で差動検出すると、図１８
（ｆ）に示すように検出片１２４−１と１２４−２で光
量が同じである光スポット１２８，１３０，１３２の位
置では再生信号は現われず、光量に差が生じる光スポッ
ト１２９，１３１の位置でのみ正または負の方向にピー
クをもつ再生信号が現われる。従って、この再生信号の
正、負のピーク位置を検出することで、ドメイン１２７
のエッジを検出することができる。そして、図１５に示
した光磁気情報再生装置によれば、光磁気ディスクの光
磁気効果によって生じた光と対物レンズの曲面で回折し
て生じた光を干渉させ、その光量分布の変化を検出する
ことにより、従来Ｐ軸、Ｓ軸の光を干渉させるために必
要であった偏光ビームスプリッタが不要となり、その分
光ヘッドの構成を簡単化することができる。また、ドメ
インのエッジを光学的に直接検出するために、ドメイン
と光スポットの大きさに関係なく、ドメインのエッジ位
置を正確に検出できるという効果がある。

【００１７】次に、特願平４−４７７９０号の光磁気情
報再生装置を図１９に基づいて説明する。なお、図１９
では図１２に示した従来装置と同一部分は同一符号を付
してある。また、図１９では要部の再生光学系のみ示し
ているが、それ以外は図１２と同じものを用いることが
できる。但し、対物レンズとしてはＮＡが０．５か、そ
れ以上の大きな曲率の曲面をもつものが使用されてい
る。図において、１０８は偏光ビームスプリッタ、１１
４は１／２波長板、１１５は集光レンズ、１１６は検光
子としての偏光ビームスプリッタであり、これらはいず
れも図１２のものと同じである。また、１３３及び１３
４は検出面が４つに分割された４分割光検出器である。
図１９では、これらの４分割光検出器１３３，１３４の
検出面を模式的に示し、また光磁気ディスクに対する配
置関係がわかるように、光磁気ディスクの情報トラック
の方向を矢印で示している。１３３−１〜１３３−４は
４分割光検出器１３３の各検出片、矢印Ｄは情報トラッ
クの方向である。また、１３４−１〜１３４−４は４分
割光検出器１３４の各検出片、矢印Ｄ′は情報トラック
の方向である。４分割光検出器１３３と１３４の各検出
片の対応は、検光子としての偏光ビームスプリッタ１１
６を介して光を入射するために、左右の位置が逆の対応
となる。即ち、検出片１３３−１と１３４−１、検出片
１３３−２と１３４−２、検出片１３３−３と１３４−
３、検出片１３３−４と１３４−４がそれぞれ対応する
位置関係となる。

【００１８】４分割光検出器１３３の対角位置同士の検
出片１３３−１と１３３−３の検出信号及び検出片１３
３−２と１３３−４の信号は、それぞれ加算アンプ１３
５，１３６で加算され、得られた和信号は差動アンプ１
３７で差動検出される。またトラック方向に隣接する同
士の検出片１３３−１と１３３−２及び検出片１３３−
３と１３３−４の検出信号は、それぞれ加算アンプ１３
８，１３９で加算され得られた和信号は差動アンプ１４
０で差動検出される。一方、４分割光検出器１３４の対
角位置同士の検出片１３４−１と１３４−３及び検出片
１３４−２と１３４−４の検出信号は、それぞれ加算ア
ンプ１４１，１４２で加算され、その和信号は差動アン
プ１４３で差動検出される。また、トラック方向に隣接
する同士の検出片１３４−１と１３４−２及び検出片１
３４−３と１３４−４の検出信号は、それぞれ加算アン
プ１４４，１４５で加算され、その和信号は差動アンプ
１４６で差動検出される。

【００１９】差動アンプ１３７と差動アンプ１４３の出
力信号は更に差動アンプ１４７で差動検出され、ピット
位置記録用の再生信号が生成される。即ち、ドメインの
両端に対応して立上り、あるいは立下るパルス状の信号
となり、ドメインのセンターの位置に情報の意味をもた
せるピット位置記録の情報の再生信号となる。一方、差
動アンプ１４０と１４６の出力信号は更に加算アンプ１
４８で加算され、ピットエッジ記録用の再生信号が生成
される。この再生信号は下向き磁化と上向き磁化の領域
では各々０レベル、ドメインのエッジでは正または負の
ピークをもつ再生信号となり、このピーク位置を検出す
ることにより、ドメインのエッジを検出でき、ピットエ
ッジ記録で記録された情報を再生することができる。そ
して、以上の光磁気情報再生装置によれば、記録ピット
の大きさが光スポット以下になっても記録情報を正確に
検出でき、記録密度が高密度化しても信号再生を正確に
行なえるという効果がある。

【００２０】

【発明が解決しようとしている課題】ところで、図１５
に示した光磁気情報再生装置では、目的の情報トラック
をアクセスする場合、シーク動作を高速で行なうために
アクチュエータ（図１５では図示せず）を駆動して対物
レンズ１２１のみを光磁気ディスク１０５の半径方向に
移動させると、情報再生信号の直流成分が変動してドメ
インのエッジを正確に検出できなくなってしまう。即
ち、対物レンズが光磁気ディスクの半径方向にシフトす
ると、対物レンズに入射するレーザ光の光量分布がガウ
ス分布の中心がずれた非対称な分布となるために、光磁
気効果により生じたＳ偏光成分の光の分布は図２０
（ａ）に示すように光磁気ディスクの半径方向に非対称
な分布となる。また、対物レンズの曲面で生じたＳ偏光
の光の分布も図２０（ｂ）に示すように光磁気ディスク
の半径方向に非対称な分布となり、その図２０（ｂ）の
Ｂ−Ｂ′線及びＣ−Ｃ′における断面の分布も図２１
（ａ），（ｂ）示す如く異なってしまう。

【００２１】従って、２分割光検出器１２４の検出片１
２４−１と１２４−２の検出信号を差動検出して得られ
る再生信号は、対物レンズ１２１のシフト量に応じた直
流成分を含んでしまい、ドメインのエッジの検出に支障
をきたす。図２２に対物レンズのシフト量に対する再生
信号の変化の様子を示す。図２０（ａ）は図１８（ａ）
と同様に情報トラック１２６上に記録されたドメイン１
２７及びその情報トラック１２６上を走査する光スポッ
ト１２８〜１３２を示した図である。また、図２２
（ｂ）は対物レンズが光磁気ディスクの内側にシフトし
たときの再生信号であり、このときはシフト量に応じた
正の直流成分が含まれる。図２２（ｃ）は対物レンズが
中心位置にあるときの再生信号で、直流成分は含まれ
ず、正常な信号となる。図２２（ｄ）は対物レンズが外
側にシフトしたときの再生信号で、内側にシフトしたと
きとは反対に負の直流成分が含まれる。このように得ら
れた再生信号は直流成分が対物レンズのシフト量に応じ
て変動する信号となり、ドメインのエッジ位置の検出に
誤差を生じるために、更に正確にエッジ位置を検出でき
るよう改善が望まれていた。

【００２２】また、図１９に示した光磁気情報再生装置
においては、前述の如く光スポットの大きさに関係なく
ドメインのエッジ位置を正確に検出できるのであるが、
更にこれと同様に光スポットの大きさに関係なくドメイ
ンのエッジ位置を正確に検出でき、高い信頼性で情報の
再生を行なうことが可能な光磁気情報再生装置が望まれ
ていた。

【００２３】本発明は、以上のような事情に鑑みなされ
たもので、対物レンズがトラッキング方向に移動した際
に再生信号に含まれる直流成分を除去し、ピットのエッ
ジ位置を誤差を生じることなく正確に検出できるように
した光磁気情報再生装置を提供することを目的としたも
のである。

【００２４】また、本発明はピットの大きさが光スポッ
トの大きさ以下であっても記録情報を正確に検出でき、
記録密度が高度化しても信号再生を正確に行なえるよう
にした光磁気情報再生装置を提供することを目的とした
ものである。

【００２５】

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、光磁気
記録媒体にトラック方向と平行または垂直方向の直線偏
光の光を入射すると共に、光磁気記録媒体から反射した
光束を入射光の偏光方向と垂直方向に偏光方向を有する
光磁気記録媒体の光磁気効果によって生じる光と、対物
レンズの曲面で回折して生じる光とを干渉させて、その
光の光量分布の変化を検出することにより、情報を再生
する光磁気情報再生装置において、前記対物レンズが光
磁気記録媒体のトラッキング方向に移動した際に、再生
信号に重畳する直流成分を検出するための手段と、この
検出手段の出力に基づいて再生信号を補正し、再生信号
に含まれる直流成分を除去するための補正手段とを設け
たことを特徴とする光磁気情報再生装置によって達成さ
れる。

【００２６】また、本発明の目的は、光磁気記録媒体に
光ビームを照射し、その反対光をもとに記録情報を再生
する光磁気情報再生装置において、前記記録媒体からの
反射光を集光レンズで収束すると共に、この光束を検光
子としての偏光ビームスプリッタで２つの光束に分離
し、この分離された一方の光束を前記集光レンズの収束
位置よりも前方に配置された多分割光検出器で、他方の
光束を集光レンズの収束位置よりも後方に配置された多
分割光検出器でそれぞれ検出し、２つの多分割光検出器
上の光量分布の変化を検出することにより、記録情報を
再生することを特徴とする光磁気情報再生装置によって
達成される。

【００２７】

【実施例】以下、本発明の実施例について、図面を参照
して詳細に説明する。図１は本発明の光磁気記録再生装
置の一実施例を示した構成図である。なお、図１では本
発明の要部の光学系の構成のみ示している。また、図１
５に示した先願の光磁気情報再生装置と同一部分は同一
符号を付し、本実施例ではその詳しい説明は省略する。
図１において、１は対物レンズ１２１の側部に設けられ
たレンズポジションセンサであり、対物レンズ１２１の
光磁気ディスク１０５の半径方向のシフト量を検出する
ための位置センサである。このレンズポジションセンサ
１は詳しくは後述するが、フォトインタラプラから構成
され、光学的に対物レンズ１２１のシフト量を検出する
ものである。

【００２８】１００は記録再生用光源であるところの半
導体レーザ、１０１はコリメータレンズ、１０２はビー
ム整形プリズム、１０３は偏光ビームスプリッタ、１２
１は対物レンズ、１０５は光磁気ディスク、１０６は磁
気ヘッドである。半導体レーザ１００の光束は、紙面に
平行な方向に偏光方向をもつ直線偏光（Ｐ偏光）であ
る。また、対物レンズ１２１としては、ＮＡが０．５５
程度のもので、大きな曲率面をもつものが使用されてい
る。光磁気ディスク１０５に入射するＰ偏光の光束は、
光磁気ディスク１０５の情報トラックの方向と平行また
は垂直方向となるようにしてある。

【００２９】更に、１０９は集光レンズ、１１０はハー
フプリズム、１１１及び１１３は光検出器、１１２はナ
イフエッジである。これらの光学素子は制御光学系を構
成するもので、光検出器１１１及び１１３の検出信号を
もとにフォーカシングエラー信号やトラッキングエラー
信号が生成される。制御光学系におけるオートフォーカ
シング制御はナイフエッジ方式、オートトラッキング制
御はプッシュプル方式が採用されている。１２２は偏光
ビームスプリッタ、１２３は集光レンズ、１２４はトラ
ックと平行方向に２つに分割された２分割光検出器であ
る。これらの光学素子により再生光学系が構成され、ま
た再生光学系内の２分割光検出器１２４の検出片の検出
信号を差動アンプ１１９で差動検出することにより、記
録情報の再生信号が得られる。

【００３０】情報再生動作については、図１６〜図１８
で説明したので、ここでは詳しい説明は省略するが、先
願の特願平４−４７７８９号に記載されているように、
光磁気ディスクの光磁気効果によって生じる光と、対物
レンズの曲面で回折して生じる光を干渉させ、その光の
光量分布の変化を検出することにより情報が再生され
る。即ち、図１８に示したようにドメインのエッジ位置
で正または負の方向にピークを有する再生信号が得ら
れ、この再生信号をもとにピットエッジ記録の情報が再
生される。なお、情報記録方式としては磁界変調方式が
採用されている。

【００３１】図２はレンズポジションセンサ１と対物レ
ンズに１２１の側部を詳細に示した図である。レンズポ
ジションセンサ１は発光ダイオード１ａとフォトトラン
ジスタ１ｂからなり、発光ダイオード１ａから反射板２
に光を照射し、その反射光をフォトトランジスタ１ｂで
受光するように構成されている。反射板２は図示のよう
に光を反射する白色部２ａと光を反射しない黒色部２ｂ
から構成され、図３に示すようにレンズポジションセン
サ１と対向して対物レンズ１２１の側部の鏡筒１２１ａ
に貼着されている。図３はレンズポジションセンサ１と
対物レンズ１２１の位置関係を平面的にみた図であり、
レンズポジションセンサ１は所定位置に固定されている
のに対して、対物レンズ１２１は図示しないアクチュエ
ータの駆動により光磁気ディスクの内側と外側のトラッ
キング方向に移動する。これにより、フォトトランジス
タ１ｂから対物レンズ１２１のトラッキング方向におけ
るシフト量に応じた出力信号を得ることができる。即
ち、フォトトランジスタ１ｂの受光量は発光ダイオード
１ａの照射領域における反射板２の白色部２ａと黒色部
２ｂの面積比で決まるために、フォトトランジスタ１ｂ
の出力は図４に示すように対物レンズ１２１のシフト位
置が光磁気ディスクの内側になるほど高く、外側になる
ほど低くなり、対物レンズ１２１のシフト量に応じて増
減する信号となる。この信号は図示しない加減算回路へ
送られる。

【００３２】一方、差動アンプ１１９では２分割光検出
器１２４の検出片の信号を差動検出して再生信号が再生
される。この再生信号は図２２で説明したように対物レ
ンズ１２１が光磁気ディスク１０５の半径方向にシフト
した場合には、シフト方向に応じて正または負の直流成
分が重畳し、またその直流成分はシフト量に応じて変化
する。得られた再生信号は前述した加減算回路へ送られ
る。加減算回路では、レンズポジションセンサ１の出力
信号をもとに再生信号の直流成分をシャンセルするよう
に加算あるいは減算動作を行ない、常時直流成分のない
再生信号に補正する。従って、対物レンズ１２１がシフ
トした場合であっても、再生信号の直流成分は確実に除
去されるために、ドメインのエッジ位置を誤差を生じる
ことなく正確に検出することが可能となり、更に正確に
情報を再生することができる。

【００３３】図５は本発明の他の実施例を示した構成図
である。図５において、３は対物レンズ１２１と偏光ビ
ームスプリッタ１０３の間に設けられた透明の平行平板
である。この平行平板３は図示しない駆動手段の駆動に
よりその中心を支点として矢印方向に回転するように構
成されている。また、対物レンズ１２１の側部にはレン
ズポジションセンサ１が設けられ、図１の実施例と同様
に対物レンズ１２１のトラッキング方向のシフト量を検
出するようになっている。平行平板３は図６に示すよう
に厚みがｔに形成され、これを入射光束に対して直交し
た状態から角度θだけ傾けたとすると、入射した平行光
束は平行平板３での２回の屈折により次式の分だけ平行
移動する。

【００３４】

【数１】ｔ｛ｔａｎθ−ｔａｎ［ｓｉｎ^-1（ｓｉｎθ／ｎ）］｝…（１）但し、ｎは平行平板３の屈折率、ｔは前述のように厚み
である。また、θが小さいときは平行移動量は概略次式
で得ることができる。

【００３５】

【数２】ｔ・θ（１−１／ｎ）…（２）そこで、本実施例ではレンズポジションセンサ１の出力
信号に応じて平行平板３の傾斜角度θを制御し、対物レ
ンズ１２１のトラッキング方向のシフト量と同じだけ平
行平板３を透過する光束をシフトさせるものである。具
体的にはレンズポジションセンサ１の出力は図示しない
平行平板３の駆動部に入力されており、この駆動部では
対物レンズ１２１のシフト量に応じて平行平板３を傾け
る。これにより、平行平板３の透過光束は対物レンズ１
２１のシフト量と同じだけシフトし、対物レンズ１２１
に入射する光束の中心は常に光軸と一致するようにな
る。従って、対物レンズ１２１がトラッキング方向にシ
フトしたとしても、対物レンズ１２１に入射する光束の
中心は常に光軸と一致するように制御されるために、再
生信号に直流成分が重畳されることはなく、ドメインの
エッジ位置を正確に検出することができる。なお、レン
ズポジションセンサ１を用いずに、再生信号の直流成分
を検出してこの値が０となるように平行平板３を傾斜さ
せてもよい。

【００３６】図７は本発明の光磁気情報再生装置の更に
他の実施例を示した構成図である。なお、図７では図１
９に示した先願例と同一部分は同一符号を付してある。
また図７では要部の再生光学系のみを示しているが、そ
れ以外は図１２に示した従来例のものを用いることがで
きる。図７において、１１４は１／２波長板、１１５は
集光レンズ、１１６は検光子としての偏光ビームスプリ
ッタであり、これらはいずれも図１９のものと同じであ
る。なお、対物レンズとしては、ＮＡが０．５か、それ
以上の曲率の曲面を有するものが使用され、半導体レー
ザから射出された光束が紙面に平行方向に偏光方向をも
つ直線偏光（Ｐ偏光）とすると、前述のように対物レン
ズの曲面では入射光束と垂直方向に偏光方向を有する直
線偏光（Ｓ偏光）の四つ葉のクローバーのような回折像
が得られる。このことについては詳しく後述する。

【００３７】５及び６はそれぞれ検出面が十文字状に４
つに分割された４分割光検出器である。４分割光検出器
５は集光レンズ１１５の収束位置よりもやや前方に配置
され他方の４分割光検出器６は集光レンズ１１５の収束
位置よりもやや後方に配置されている。また、図７では
４分割光検出器５及び６の光磁気ディスクに対する位置
関係がわかるように、各光検出器５及び６の検出面と情
報トラックの方向を示している。５−１〜５−４は４分
割光検出器５の検出片、矢印Ｄは情報トラックの方向、
６−１〜６−４は４分割光検出器６の検出片、矢印Ｄ′
は情報トラックの方向である。これから明らかなように
４分割光検出器５及び６はそれぞれ１つの分割線が情報
トラックに直交し、もう１つの分割線が平行となるよう
に配置されている。更に、４分割光検出器５と６の各検
出片の対応は検光子としての偏光ビームスプリッタ１１
６を介して光が入射するために、左右の位置が逆の対応
となり、検出片５−１と６−１、検出片５−２と６−
２、検出片５−３と６−３、検出片５−４と６−４がそ
れぞれ対応する位置関係となる。

【００３８】７〜１４は加算アンプ、１５〜１８は差動
アンプ、１９は加算アンプ、２０は差動アンプである。
これらの加算アンプや差動アンプは、４分割光検出器５
及び６の各検出片の検出信号をもとにアナログ演算を行
なうための演算回路を構成するもので、その演算の結
果、ピット位置記録用再生信号やピットエッジ記録用再
生信号が生成される。この動作については、詳しく後述
する。

【００３９】次に、本実施例の動作を説明する。まず、
半導体レーザから射出される光束を従来同様に紙面に平
行方向に偏光方向のある直線偏光（Ｐ偏光）とする。こ
の光束が対物レンズに入射すると、前述のように対物レ
ンズの曲率は大きく、入射光に垂直の偏光に対する反射
率が著しく異なるので、偏光面が回転し、入射光の偏光
面と垂直な偏光だけをみると、四つ葉クローバーのよう
な回折像が得られる。また、４分割光検出器５及び６に
入射する光束は、図１３に示したＰ₊ の入射光の偏光方
向と同じ偏光の光と、それに垂直な方向の偏光である。
この中には、光磁気ディスクのカー効果、ファラデー効
果によって生じるＳ₊ 及びＳ_- の光と、前述したような
対物レンズの曲面で生じた光が含まれている。

【００４０】図８（ａ）は検光子としての偏光ビームス
プリッタ１１６に入射する直前の光の分布のうちＰ₊ の
光を示した図、図８（ｂ）は同図（ａ）のＡ−Ａ′線の
断面におけるＰ₊ の光の振幅を示した図である。なお、
図８（ａ）に示す４つの四角は４分割光検出器の検出片
で、Ｐ₊ の光を検出面上に投影して示している。図８
（ａ）では、Ｐ₊ の光を斜線で示しており、４つの検出
片に均等に分布し、光の位相も４つの検出片でほぼ同じ
である。Ａ−Ａ′線の断面における光の振幅は、図８
（ｂ）のようになる。図９（ａ）は検光子としての偏光
ビームスプリッタ１１６に入射する直前の光の分布のう
ち対物レンズの曲面で生じるＳ偏光の光を示した図であ
る。なお、ここでも同様に４分割光検出器の検出面に投
影して示してある。図９（ａ）から明らかなように、光
の分布は四つ葉のクローバのような形状をしており、そ
れぞれの葉の光が４つの検出片に投影されている。ま
た、対角位置の検出片同志の葉の光は位相はそれぞれ同
じで、隣り合う検出片の葉の光の位相差はπである。図
９（ｂ），（ｃ）は同図（ａ）のＢ−Ｂ′線、Ｃ−Ｃ′
線の断面における光の振幅を示した図で、前述した四つ
葉の光の位相関係から図のような振幅となる。図８、図
９に示した光は、光磁気ディスク上の磁化方向に関係な
く、一定した分布である。ここでは、これらの２つの光
と光磁気記録媒体上の磁化の状態で変化するＳ₊ ，Ｓ_-
の光を検光子としての偏光ビームスプリッタ１１６で分
離し、また２つの４分割光検出器５、６で上記３つの光
の干渉結果生じる光量分布の変化を検出することによ
り、情報を再生するものである。

【００４１】図１０を用いて更に詳しく説明する。図１
０（ａ）は記録されたドメインと再生用の光スポットを
示した図で、２１は情報トラック、２２はそのトラック
上に記録されたドメインである。本実施例では磁界変調
方式が採用され、従ってドメイン２２は矢羽根状の形状
である。もちろん、光変調方式でもかまわない。また光
磁気ディスクの磁化は全て下向きに初期化されており、
従ってドメイン２２の磁化は上向き磁化である。光スポ
ット２３は情報トラック２１上を２４，２５，２６，２
７として示すようにＡ方向に走査する。図中に示す矢印
Ｄ，Ｄ′は図７に示した情報トラックの方向Ｄ，Ｄ′に
対応する。図１０（ｂ）は同図（ａ）の各光スポットの
位置で、光磁気効果によって生じるＳ偏光の光の偏光ビ
ームスプリッタ１１６に入射する直前での分布を示した
図である。なお、ここでも４分割光検出器の検出面に投
影して示してある。光スポット２３及び２７の位置で
は、光スポット内は全て下向き磁化であるので、光の回
折は生じず、２８、３２として示すように円形状の分布
となる。このときの光の位相は図９（ａ）にＥで示した
光の位相と同位相である。つまり、２８及び３２で示す
光の分布はＳ₊ の光となる。

【００４２】光スポット２４及び２６の位置では、光ス
ポット内に上向き磁化と下向き磁化の境界、即ちドメイ
ン２２のエッジが位置しているため、情報トラック２１
と平行方向に光が回折され、２９及び３１で示すように
光の分布は左右に分かれる。左右の光の位相差はπであ
るが、２９と３１では左右の光の位相は逆転する。ま
た、２９と３１では左右の光を２９ａと２９ｂ、３１ａ
と３１ｂで示しているが２９ａ及び３１ｂで示す光はＳ
₊ で、２９ｂ及び３１ａで示す光はＳ_- の光であり、光
スポット内にドメイン２２のエッジが位置した場合は、
光の分布はＳ₊ とＳ_- の光が混在したものとなる。更
に、光スポット２５の位置では、光スポット内はほぼ上
向き磁化であるために、光の回折はほとんどなく、３０
で示すようにほぼ円形状の分布となる。このときの光
は、２８や３２に比べπの位相差のあるＳ- の光であ
る。図１０（ｃ）は同図（ｂ）のＡ−Ａ′線の断面にお
ける光の振幅を光スポットの各位置で示した図で、光ス
ポットの位置に応じて図のように変化する。

【００４３】図１０（ｄ）及び（ｅ）は、図９で示した
対物レンズの曲面で生じるＳ偏光の光と、図１０（ｂ）
に示した光磁気効果により生じるＳ偏光の光を干渉させ
た結果の光の分布を、図１０（ｂ）のＢ−Ｂ′線及びＣ
−Ｃ′線の断面における光の振幅として表わした図であ
る。図１０（ｄ）はＢ−Ｂ′線における光の振幅、図１
０（ｅ）はＣ−Ｃ′線における光の振幅である。また、
図１０（ｆ），（ｇ）は検光子としての偏光ビームスプ
リッタ１１６の分離面上で、前述の対物レンズの曲面で
生じるＳ偏光の光、光磁気効果によって生じるＳ偏光の
光、及び図８で示したＰ₊ の光を合わせて２つに分離
し、これらを４分割光検出器５及び６でそれぞれ検出し
たときの各検出面での検出光量差を示した図である。図
１０（ｆ）は４分割光検出器５の検出面、図１０（ｇ）
は４分割光検出器６の検出面での検出光量差である。図
１０（ｆ），（ｇ）では光量の多い順に大大、大小、小
大、小小として示してある。

【００４４】図７で説明したように４分割光検出器６へ
入射する光は偏光ビームスプリッタ１１６で反射される
ので、その検出片の４分割検出器５の検出片に対する対
応は左右が逆になる。また、４分割光検出器６は集光レ
ンズ１１５の収束位置よりも後方に配置されているた
め、図１９に示した先願例の２分割光検出器１３４で得
られる光量分布に対して上下左右が逆になる。例えば、
図１０（ｆ），（ｇ）の左端に示した光スポット２３の
位置における４分割光検出器上の光の分布についてみる
と、４分割光検出器５の検出片５−１と４分割光検出器
６の検出片６−１が対応する。これらの検出面に入射す
る光は図１０（ｄ）に示したＢ−Ｂ′線断面における光
の振幅のＦで示す左側の大きな上向きの振幅（図１３に
示したＳ₊方向成分）と、図８で示した上向きの振幅
（図１３に示したＰ₊ 方向成分）が合わされたもので、
＋θ側に回転した光である。そして、偏光ビームスプリ
ッタ１１６の配置として、＋４５度の検光子として働く
方が図１０（ｆ）に示す４分割光検出器５に入射し、−
４５度の検光子として働く方が図１０（ｇ）に示す４分
割光検出器６に入射するようにしたとすると、検出片５
−１に入射する光量は検出片６−１に入射する光量より
も大きくなり、それを検出片５−１では大大、検出片６
−１では大小として示している（大大＞大小）。

【００４５】また、検出片５−２は検出片６−２に対応
し、これらの検出面に入射する光は図１０（ｄ）に示し
たＢ−Ｂ′線断面における光の振幅のＧで示す右側の小
さな下向きの振幅（図１３に示したＳ_- 方向成分）と、
図８で示した上向きの振幅（図１３に示したＰ₊ 方向成
分）が合わされ、−θ側に回転した光である。この場
合、検出片５−２に入射する光量は検出片６−２に入射
する光量よりも小さくなり、それを検出片５−２では小
小、検出片６−２では小大として示している。（小小＜
小大）。検出片５−３は検出片６−３に対応し、ここで
は図１０（ｅ）に示したＣ−Ｃ′線断面における光の振
幅のＨで示す小さな下向きの振幅と、同様に図８に示し
た上向きの振幅の光が合わされた光である。検出片５−
３の光量は検出片６−３の光量よりも大きくなり、それ
を検出片５−３では大大、検出片６−３では大小として
示している。更に、検出片５−４と６−４では、図１０
（ｅ）のＣ−Ｃ′線断面における光の振幅のＩで示す大
きな上向きの振幅と図８の上向きの振幅の光が合わされ
た光である。この場合、検出片５−４の光量は検出片６
−４の光量よりも小さくなり、それを検出片５−４では
小小、検出片６−４では小大として示している。同様に
して光スポット２４〜２７の各位置において、４分割光
検出器５及び６の検出片の光量を表わすと、それぞれ図
１０（ｆ），（ｇ）に示すとおりとなる。

【００４６】４分割光検出器５及び６の各検出片の検出
信号は、図７で説明したように加算アンプや差動アンプ
で構成されたアナログ演算回路に出力される。４分割光
検出器５の対角位置同士の検出片５−１と５−３の検出
信号及び検出片５−２と５−４の信号は、それぞれ加算
アンプ７，８で加算される。また、トラック方向に隣接
する同士の検出片５−１と５−２及び検出片５−３と５
−４の検出信号は、それぞれ加算アンプ９，１０で加算
される。一方、４分割光検出器６の対角位置同士の検出
片６−１と６−３及び検出片６−２と６−４の検出信号
は、それぞれ加算アンプ１１，１２で加算され、トラッ
ク方向に隣接する同士の検出片６−１と６−２及び検出
片６−３と６−４の検出信号は、それぞれ加算アンプ１
３，１４で加算される。

【００４７】４分割光検出器５の対角位置同士の検出片
の検出信号を加算した加算アンプ７及び８の加算信号は
差動アンプ１６で差動検出され、他方の４分割光検出器
６の対角位置同士の検出片の検出信号を加算した加算ア
ンプ１１及び１２の加算信号は差動アンプ１５で差動検
出される。そして、差動アンプ１５及び１６で得られた
信号を加算アンプ１９で加算することにより、図１０
（ｈ）に示すようにピット位置記録用の再生信号が生成
される。得られた再生信号は上向き磁化の領域では低レ
ベル、下向き磁化の領域では高レベルの信号となり、上
向き、下向きの磁化の違いを信号レベルの違いとして検
出することができる。即ち、ドメイン２２に対応したパ
ルス状信号として再生でき、ピット位置記録における情
報の再生信号を得ることができる。

【００４８】一方、４分割光検出器５及び６のトラック
方向に隣接する検出片同士の検出信号を加算した加算ア
ンプ９と１３、及び加算アンプ１０と１４の加算信号は
それぞれ差動アンプ１７，１８で差動検出される。そし
て、差動アンプ１７及び１８で得られた信号は更に差動
アンプ２０で差動検出され、図１０（ｉ）に示すように
ピットエッジ記録用の再生信号が生成される。得られた
再生信号はドメイン２２のエッジで正または負のピーク
を有する信号となり、ピットエッジ記録における情報を
再生することができる。なおアナログ演算を行なう場合
に、検出片の組み合わせを変えることにより、図１０
（ｈ），（ｉ）に示した再生信号の極性を反転すること
もできる。

【００４９】図７の実施例はピット位置記録及びピット
エッジ記録の再生信号を得るのに両方とも対物レンズの
曲面で生じる回折像を利用したのであるが、ピットエッ
ジ記録のみ対物レンズの曲面で生じる回折像を利用する
こともできる。ピット位置記録の再生については従来方
式を用いるものとする。以下、この実施例を図１１に基
づいて説明する。図１１において、１１４は１／２波長
板、１１５は集光レンズ、１１６は検光子としての偏光
ビームスプリッタで、それぞれ図７の実施例のものと同
じである。なお、図１１では図示しないが、本実施例に
おいても対物レンズはＮＡが０．５程度か、それ以上の
大きな曲率の曲面をもつものが使用されている。

【００５０】３３及び３４はそれぞれ検出面が２つに分
割された２分割光検出器である。２分割光検出器３３は
集光レンズ１１５の収束位置よりもやや前方に、２分割
光検出器３４は集光レンズ１１５の収束位置よりもやや
後方に配置されている。また２分割光検出器３３は、ト
ラック方向Ｄに対して２つの検出片３３−１と３３−２
に分割され、他方の２分割光検出器３４もトラック方向
Ｄ′に対して２つの検出片３４−１と３４−２に分割さ
れている。なお、ここでは検出片３３−１が検出片３４
−１に、検出片３３−２が検出片３４−２にそれぞれ対
応する。

【００５１】２分割光検出器３３の検出片３３−１と３
３−２及び２分割光検出器３４の検出片３４−１と３４
−２の検出信号は加算アンプ３６，３５でそれぞれ加算
される。そして、得られた信号は差動アンプ３７で差動
検出され、ピット位置記録用の再生信号が生成される。
ここで得られる再生信号は２分割光検出器３３，３４の
差動信号であるため、図１２に示した従来装置で得られ
る再生信号と同等の信号となる。一方、２分割光検出器
３３及び３４の対応する同士の検出片３３−１と３４−
１及び検出片３３−２と３４−２の検出信号は差動アン
プ３９，３８でそれぞれ差動検出される。そして、得ら
れた信号は更に差動アンプ４０で差動検出され、ピット
エッジ記録用の再生信号が生成される。この再生信号は
図７の実施例と同様に２つの光検出器の互いに対応する
ところのトラック方向に隣接する検出片の加算信号を差
動検出し、更にこの差動検出信号を差動検出して再生さ
れるために、得られた再生信号は図１０（ｉ）に示した
ようにドメインのエッジで正または負のピークを有する
信号となる。

【００５２】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、再生信号
の直流成分を検出し、その検出結果に応じて再生信号を
補正することにより、再生信号に重畳する直流成分を除
去することができ、ピットエッジ位置を誤差を生じるこ
となく正確に検出できるという効果がある。

【００５３】また、分離された一方の光束を集光レンズ
の収束位置よりも前方に配置された多分割光検出器で、
他方の光束を収束位置よりも後方に配置された多分割光
検出器でそれぞれ検出し、２つの多分割光検出器上の光
量分布の変化を検出することにより、記録ピットの大き
さが光スポット以下の大きさになっても記録情報を正確
に検出でき、記録密度が高度化しても信号再生を正確に
行なえるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光磁気情報再生装置の一実施例を示し
た構成図である。

【図２】図１の実施例に使用されるレンズポジションセ
ンサ及び対物レンズの側部に貼着された反射板を示した
図である。

【図３】図２のレンズポジションセンサ及び対物レンズ
を平面的にみた平面図である。

【図４】対物レンズのシフト量とレンズポジションセン
サの出力の関係を示した図である。

【図５】本発明の他の実施例を示した構成図である。

【図６】図５の実施例に使用される平行平板を示した正
面図である。

【図７】本発明の更に他の実施例を示した構成図であ
る。

【図８】偏光ビームスプリッタ１１６に入射する直前の
Ｐ₊ の光の分布を４分割光検出器の検出面上に投影して
示した図、及びその検出面のＡ−Ａ′線の断面における
光の振幅を示した図である。

【図９】偏光ビームスプリッタ１１６に入射する直前の
対物レンズの曲面で生じるＳ偏光の光の分布を４分割光
検出器の検出面上に投影して示した図、及びその検出面
のＢ−Ｂ′線とＣ−Ｃ′線の断面での光の振幅を示した
図である。

【図１０】図７の実施例の情報再生動作を説明するため
の図である。

【図１１】本発明の更に他の実施例を示した図である。

【図１２】従来例の光磁気情報記録再生装置の光学系を
示した構成図である。

【図１３】光磁気記録における情報再生の原理を説明す
るための図である。

【図１４】ピット位置記録とピットエッジ記録の各ピッ
ト列及びそれの検出信号を示した図である。

【図１５】先願例の光磁気情報記録再生装置を示した構
成図である。

【図１６】図１５の先願例の光磁気効果によって生じる
光及び対物レンズの曲面で回折して生じる光の分布を示
した図である。

【図１７】図１６のＢ−Ｂ′線及びＣ−Ｃ′線における
光の振幅を示した図である。

【図１８】図１５の先願例の情報再生動作を説明するた
めの図である。

【図１９】他の先願例を示した構成図である。

【図２０】図１９の先願例で対物レンズがトラッキング
方向にシフトした際の光磁気効果により生じるＳ偏光の
光の分布及び対物レンズの曲面で生じるＳ偏光の光の分
布を示した図である。

【図２１】図２０のＢ−Ｂ′線及びＣ−Ｃ′線断面にお
ける光の振幅を示した図である。

【図２２】図１９の先願例で対物レンズがトラッキング
方向にシフトした際の再生信号にに重畳する直流成分の
変化の様子を示した図である。

【符号の説明】

１レンズポジションセンサ２反射板３平行平板５，６４分割光検出器７〜１４，１９加算アンプ１５〜１８，２０差動アンプ３３，３４，１２４２分割光検出器３５，３６加算アンプ３７〜４０差動アンプ１００半導体レーザ１０５光磁気ディスク１１４１／２波長板１１５，１２３集光レンズ１１６偏光ビームスプリッタ１２１対物レンズ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者山本昌邦東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光磁気記録媒体にトラック方向と平行ま
たは垂直方向の直線偏光の光を入射すると共に、光磁気
記録媒体から反射した光束を入射光の偏光方向と垂直方
向に偏光方向を有する光磁気記録媒体の光磁気効果によ
って生じる光と、対物レンズの曲面で回折して生じる光
とを干渉させて、その光の光量分布の変化を検出するこ
とにより、情報を再生する光磁気情報再生装置におい
て、前記対物レンズが光磁気記録媒体のトラッキング方
向に移動した際に、再生信号に重畳する直流成分を検出
するための手段と、この検出手段の出力に基づいて再生
信号を補正し、再生信号に含まれる直流成分を除去する
ための補正手段とを設けたことを特徴とする光磁気情報
再生装置。
【請求項２】前記検出手段は、前記対物レンズのトラ
ッキング方向のシフト量を検出することにより、再生信
号の直流成分に応じた出力信号を出力する位置センサで
あることを特徴とする請求項１の光磁気情報再生装置。
【請求項３】前記補正手段は、前記検出手段の出力に
応じて再生信号に信号を加算または減算することによ
り、再生信号の直流成分を除去することを特徴とする請
求項１の光磁気情報再生装置。
【請求項４】前記補正手段は、前記対物レンズの光源
からの入射光路に設けられた透明平行平板と、この平行
平板を光軸を中心に傾斜させるための駆動手段からな
り、前記検出手段の出力に応じて前記駆動手段による平
行平板の傾斜角度を制御し、対物レンズのシフト量に応
じて対物レンズへの入射光束をシフトすることにより、
再生信号への直流成分の重畳を阻止することを特徴とす
る請求項１の光磁気情報再生装置。
【請求項５】光磁気記録媒体に光ビームを照射し、その
反対光をもとに記録情報を再生する光磁気情報再生装置
において、前記記録媒体からの反射光を集光レンズで収
束すると共に、この光束を検光子としての偏光ビームス
プリッタで２つの光束に分離し、この分離された一方の
光束を前記集光レンズの収束位置よりも前方に配置され
た多分割光検出器で、他方の光束を集光レンズの収束位
置よりも後方に配置された多分割光検出器でそれぞれ検
出し、２つの多分割光検出器上の光量分布の変化を検出
することにより、記録情報を再生することを特徴とする
光磁気情報再生装置。
【請求項６】前記多分割光検出器で検出される光束に
は、光磁気記録媒体の光磁気効果によって生じる光と、
対物レンズの曲面で回折して生じる光が含まれているこ
とを特徴とする請求項５の光磁気情報再生装置。