JP3361178B2 - トラックエラー検出装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光学的に情報の記録又は
再生を行う光ディスク装置におけるトラックエラー信号
検出装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクには、一般的に凹凸の溝（グ
ルーブ）やピットが刻まれており、反射光の強度変化に
よりトラックエラー信号を検出してグルーブ上やピット
上にトラッキングをし、情報の記録や再生を行うように
している。

【０００３】このトラックエラー信号を検出するには特
公昭５９−１８７７１に示されるように、反射ビームの
ファーフィールドの強度分布の変化を検出するプッシュ
プル法が一般的に用いられる。

【０００４】グルーブによる反射光は回折により０次光
と±１次光に分かれ、±１次光のうち対物レンズに取り
込まれる分が０次光と干渉し、トラックずれに応じて強
度変化する。ファーフィールドパターンは図６に示すよ
うに０次光に対して中心のずれた位置に±１次光の円が
重なった形になる。

【０００５】トラックずれにより強度が変化するのは０
次光と±１次光が重なった部分であり、これを効率よく
検出するために、例えば特開昭４９−９８１１３に示さ
れるように４分割の光検出要素（ＰＤとも記す）の対角
成分からトラックエラー信号を検出する方法がある。

【０００６】また、プッシュプル法は対物レンズをトラ
ックと垂直方向に動かすことによりオフセットが生じる
ことが知られており、それを補正するために例えば特開
平４−２５１４４２のようにトラックと垂直方向に多数
分割されたＰＤを用いてオフセット分を減少させる方法
が提案されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】０次光と±１次光のず
れはグルーブによって回折される角度に依存する。この
角度θはトラックピッチによって決まり、 ｓｉｎ θ＝
λ／Ｔｐ（λ：波長、Ｔｐ：トラックピッチ）である。
ｓｉｎ θが対物レンズの開口数（ＮＡと略記）よりも
小さければ±１次光は、図７に示すように互いに重なる
ことになる。

【０００８】±１次光が重なると２分割ＰＤでトラック
エラーを検出する場合、変調度が低下して十分な信号が
得られないという問題点がある。

【０００９】光ピックアップのＮＡと波長λは一定であ
るが、トラックピッチはディスクの容量の違いにより異
なる。例えば光磁気ディスクで現在実用化されているも
のでは、第１世代（×１）のディスクはＴｐが１．６μ
ｍ、さらに１．３９μｍ（容量×２）、１．３４μｍ
（×３）のものがあり、さらに１．１５μｍのもの（×
４）が提案されている。

【００１０】各ディスクで互換性をとることが望まれて
おり、例えば×４のドライブ装置では１．１５μｍから
１．６μｍのディスクを取り扱う必要がある。例えば、
波長λを６８０nm、ＮＡを０．５５とすると、トラック
ピッチが約１．２４μｍ以上のディスクでは±１次光が
重なり、変調度が落ちる。

【００１１】１．６μｍピッチのディスクではその影響
は重大であり、トラックエラー信号の変調度が低下する
ために正確なトラッキングができず、記録再生時にトラ
ックオフセットが生じる危険性がある。そのために容量
の異なるディスクの互換性が確保できなくなるという問
題点がある。

【００１２】本発明は、上記問題を解決することを目的
とする。つまり、トラックピッチの異なる光学式記録媒
体に対しても正確なトラッキングを行うことのできるト
ラックエラー検出装置を提供することを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段および作用】本発明におい
ては、トラックピッチがλ／ＮＡより大きなディスクに
対して、±１次光が重ならない領域の光束によりトラッ
クエラー信号を検出するように構成する。そのためにフ
ァーフィールドの光束を複数に分割して受光する手段を
持ち、トラックピッチの違いに応じて適宜検出部分を切
り換えられるようにし、常に＋１次光、−１次光のみの
部分からのトラックエラー信号を検出する。

【００１４】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を具体
的に説明する。図１及び図２は本発明の第１実施例に係
り、図１は第１実施例を備えた光ディスク装置の概略の
構成を示し、図２はトラックエラー信号検出用の４分割
フォトディテクタ及びトラクエラー信号生成回路の構成
を示す。

【００１５】図１に示すように光ディスク装置１はスピ
ンドルモータ２により回転駆動される（光学式記録媒体
としての）円板形状の光ディスク３に対向して、光ピッ
クアップ４が配置され、この光ピックアップ４は図示し
ない光ピックアップ送り機構により、光ディスク３の半
径方向（図１で左右方向）に移動自在である。

【００１６】この光ピックアップ４には波長λの半導体
レーザ（レーザダイオード）５が収納され、この半導体
レーザ５から出射されたレーザ光はコリメータレンズ６
で平行な光束にされ、ビームスプリッタ７、対物レンズ
８を経て光ディスク３に入射する。

【００１７】光ディスク３のトラックが形成された記録
面で反射された光は、トラックを形成するグルーブによ
り回折し、０次光と±１次光がそれぞれ対物レンズ８、
ビームスプリッタ７を経て、ファーフィールドの光を受
光する位置に配置されたトラックエラー信号検出用の４
分割フォトディテクタ（４分割ＰＤと略記）９に入射す
る。

【００１８】４分割ＰＤ９はトラックエラー信号生成回
路（ＴＥＳ生成回路と略記する）１１と接続され、この
ＴＥＳ生成回路１１からトラックエラー信号ＴＥＳが出
力される。この４分割ＰＤ９と、ＴＥＳ生成回路１１と
で第１実施例のトラックエラー検出装置１２が構成され
ている。

【００１９】このトラックエラー検出装置１２から出力
されるトラックエラー信号ＴＥＳは、図示しない位相補
償回路及びドライバ１３を経てトラッキング制御信号と
して対物レンズ８を駆動するトラッキングアクチュエー
タコイル１４に印加され、光ディスク３に照射されるビ
ームスポットの位置をトラック幅方向に制御してトラッ
キング状態に保持する。

【００２０】なお、フォーカス検出および情報再生用の
光学系は省略してある。４分割ＰＤ９はトラックと垂直
方向に４分割され、トラックの長手方向と平行に分割線
を持つ。より正確にはトラックからの戻り光に関してト
ラックの長手方向に対応する方向Ｎ（図２参照）と垂直
方向に４分割され、この方向Ｎに平行な分割線を持つ。
この４分割された（フォトディテクタ）素子部分を順に
ａ，ｂ，ｃ，ｄとする（ａ，ｂ，ｃ，ｄの代わりにｄ，
ｃ，ｂ，ａとしても得られるトラックエラー信号の極性
が反転するのみであり、いずれでも良い）。

【００２１】図２は図１のＡ方向から見た４分割ＰＤ９
と共に、ＴＥＳ生成回路１１の構成例を示す。図２にお
ける４分割ＰＤ９上の円はトラッキング状態におけるビ
ームスポットの反射像を示す。

【００２２】４分割ＰＤ９の素子ａ，ｂ，ｃ，ｄは、中
央の分割線で素子ａ，ｂ側と素子ｃ，ｄ側に対称的に分
割され、さらにこの中央の分割線から等距離となる上及
び下の分割線で素子ａとｂ、素子ｃとｄとがそれぞれ対
称的に形成されている。

【００２３】素子ａ，ｂと素子ｃ，ｄの各出力は、それ
ぞれ加算器１５、１６に入力され、加算される。加算器
１５、１６の出力は減算器１７に入力され、減算されて
第１のトラックエラー信号ＴＥＳ１が生成され、選択ス
イッチＳＷを介して出力されるようになっている。この
選択スイッチＳＷは使用する光ディスク３のトラックピ
ッチＴｐに応じて切換えられ、Ｓ／Ｎの良いトラックエ
ラー検出を行うようにしている。

【００２４】このトラックエラー信号ＴＥＳ１は、図２
から明らかなように ＴＥＳ１＝（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ） となる。

【００２５】また、中央の分割線に関して最も外側で対
称的となる２つの素子ａ，ｄの出力は減算器１８に入力
され、減算されて第２のトラックエラー信号ＴＥＳ２が
生成され、選択スイッチＳＷを介して出力されるように
なっている。

【００２６】このトラックエラー信号ＴＥＳ２は、図２
から明らかなように ＴＥＳ２＝ａ−ｄ となる。ここで、簡単化のため、素子ｉ（＝ａ〜ｄ）と
同じ符号ｉでその光電変換出力も表している。

【００２７】上記４つの素子ａ，ｂ，ｃ，ｄを形成する
分割線の間隔は、対物レンズ８の開口数ＮＡと、半導体
レーザ５の波長λと共に、使用する光ディスク３のトラ
ックピッチＴｐを考慮して設定され、トラックエラー信
号を生成する素子をスイッチＳＷで選択使用することに
よってトラックピッチＴｐが異なる光ディスク３にも対
処可能にしている。

【００２８】つまり、対物レンズ８のＮＡと、トラック
ピッチＴｐ，波長λの関係から、 （１）Ｔｐ≦λ／ＮＡのときは、トラックエラー信号と
してＴＥＳ１を使用するように選択スイッチＳＷを切換
える。つまり、Ｔｐ≦λ／ＮＡのときは、トラックエラ
ー信号を（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）で検出する。

【００２９】（２）Ｔｐ＞λ／ＮＡのときは、トラック
エラー信号としてＴＥＳ２を使用する。つまり、Ｔｐ≦
λ／ＮＡのときは、トラックエラー信号をａ−ｄで検出
する。

【００３０】より具体的な例で説明すると、例えばＮＡ
＝０．５５、波長λ＝６８０nmとした場合、容量４×の
Ｔｐ＝１．１５μｍの光ディスク３に対しては（１）の
条件で検出する。

【００３１】容量１×のＴｐ＝１．６μｍの光ディスク
３に対しては（２）の条件で検出する。 素子ａ，ｂ，
ｃ，ｄの分割幅は、１．６μｍピッチのときに±１次光
が重なる部分が素子ｂ，ｃの幅とほぼ等しくなるように
設定する。

【００３２】また、書き込みも行う記録機能を有する装
置の場合、光量の変化に対するトラッキングループのゲ
イン補正を行う必要がある。従って、その場合は （１）の場合は〔（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）〕／（ａ＋ｂ
＋ｃ＋ｄ） （２）の場合は（ａ−ｂ）／（ａ＋ｂ） とすることにより、自動的なゲイン制御が可能となる。
再生の場合にも、このように規格化した信号でトラッキ
ング制御を行うようにしても良く、このようにすれば、
記録と再生でゲイン補正を行わなくても良い。

【００３３】容量２×のＴｐ＝１．３９μｍの光ディス
ク３に対しては±１次光が重なる部分が少ないので
（１），（２）どちらで検出してもよい。また、分割数
を４分割より多く（例えば図２の点線で示す２つの分割
線をさらに設けて６分割）にして±１次光部分だけ取り
出すようにしてもよい。

【００３４】図２の点線で示すように６分割にした場合
には、新たに（素子ｂ及びｃ中にそれぞれ）形成される
素子をｅ，ｆとする場合には、１．３９μｍピッチのと
きに±１次光が重なる部分が素子ｂ，ｃの幅とほぼ等し
くなるように設定し、１．６μｍピッチのときに±１次
光が重なる部分が素子ｂ＋ｅ，ｃ＋ｆ（４分割の場合に
はそれぞれｂ，ｃとなる）の幅とほぼ等しくなるように
設定する。

【００３５】そして、容量４×のＴｐ＝１．１５μｍの
光ディスク３に対しては４分割ＰＤの場合の（１）の条
件で検出する。６分割ＰＤでは（１）の条件は、トラッ
クエラー信号を（ａ＋ｂ＋ｅ）−（ｃ＋ｄ＋ｆ）で検出
することになる。

【００３６】また、容量１×のＴｐ＝１．６μｍの光デ
ィスク３に対しては、４分割ＰＤの場合の（２）の条件
は６分割ＰＤでも同じとなる。さらに容量２×のＴｐ＝
１．３９μｍの光ディスク３に対しては、４分割ＰＤの
場合の（２）の条件は６分割ＰＤでは、トラックエラー
信号を（ａ＋ｅ）−（ｄ＋ｆ）で検出することになる。

【００３７】本実施例によれば、光ディスク３のトラッ
クピッチＴｐに応じて、±１次光が殆ど重ならないよう
に対となるＰＤ素子を有する少なくとも４分割のＰＤを
設けて、トラックピッチＴｐに応じて±１次光が殆ど重
ならないＰＤ素子を選択使用してトラックエラー信号を
生成するようにしているので、トラックピッチＴｐが異
なる光ディスクの場合にもＳ／Ｎのよいトラックエラー
信号を生成できる。従って、互換性の機能を実現でき
る。また、光検出器を分割して形成することにより、簡
単な回路構成でトラックピッチが異なる光ディスクに対
して、Ｓ／Ｎのよいトラックエラー信号を生成できるト
ラックエラー信号生成手段を構成できる。

【００３８】また、トラックピッチＴｐの異なる光ディ
スクに対しても正確なトラッキングが可能となるので、
読み取りエラーの少ない再生状態を実現できる。また、
読み取りエラーを少なくできる、質の高い情報の記録を
可能にする。

【００３９】特に、高密度、大容量化に伴いトラックピ
ッチを狭くした光ディスクに対応したドライブに本実施
例を適用した場合、従来の広いトラックピッチの光ディ
スクと記録及び再生の互換性を簡単に実現できるという
大きな効果がある。

【００４０】次に、本発明の第２実施例について述べ
る。光学系の構成は、第１実施例と全く同じである。
１．６μｍピッチの光ディスクの場合、ＰＤ９上の素子
ｂとｃの部分の光は±１次光が重なった領域になるた
め、差動出力としてｂ−ｃをとった場合、プッシュプル
信号は変化しない。

【００４１】ＰＤ９上のスポットの強度はガウス分布を
しており、中心部が強いため、ｂ−ｃにより対物レンズ
８の移動による強度分布のずれを検出できる。したがっ
て、トラックエラー信号ａ−ｂから差し引くことによ
り、トラックオフセットを軽減することができる。つま
り、 Ｔｐ＝１．１５μｍのときは（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ） Ｔｐ＝１．６μｍのときは（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ） によってトラックエラーを検出するようにする。

【００４２】このため、第２実施例では図３に示すよう
なＴＥＳ生成回路２１を用いてトラックエラー検出装置
２２を構成している。

【００４３】素子ａ，ｃと素子ｂ，ｄの各出力は、それ
ぞれ加算器２５、２６に入力され、加算される。加算器
２５、２６の出力は減算器２７に入力され、減算されて
第１のトラックエラー信号ＴＥＳ１が生成され、選択ス
イッチＳＷを介して出力されるようになっている。

【００４４】このトラックエラー信号ＴＥＳ１は、図３
から明らかなように ＴＥＳ１＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ） となる。その他は第１実施例と同様の構成である。

【００４５】λ＝６８０nm、ＮＡ＝０．５５の光ピック
アップ４で１．６μｍピッチの光ディスク３を使う場
合、スポット径が記録トラック幅に対して小さいためト
ラックオフセットが問題となるが、本実施例を用いるこ
とによりオフセットを極力抑えて正確にトラッキングを
行うことができる。

【００４６】次に第３実施例について述べる。図４は第
３実施例を備えた光磁気ディスク装置３１を示す。

【００４７】図３に示す光磁気ディスク装置３１はスピ
ンドルモータ３２により回転駆動される（光学式記録媒
体としての）円板形状の光磁気ディスク３３に対向し
て、光磁気ピックアップ３４が配置され、この光磁気ピ
ックアップ３４は図示しないピックアップ送り機構によ
り、光磁気ディスク３３の半径方向（図４で左右方向）
に移動自在である。

【００４８】この光磁気ピックアップ３４には波長λの
半導体レーザ（レーザダイオード）３５が収納され、こ
の半導体レーザ３５から出射されたレーザ光はコリメー
タレンズ３６で平行な光束にされ、ビームスプリッタ３
７、対物レンズ３８を経て光磁気ディスク３３に直線偏
光で入射する。

【００４９】光磁気ディスク３３のトラックが形成され
た記録面で反射された光は、磁化方向に応じて磁気的に
カー回転した光となり、またトラックを形成するグルー
ブにより回折し、０次光と±１次光がそれぞれ対物レン
ズ３８を経てビームスプリッタ３７側に入射される。こ
のビームスプリッタ３７で反射された光は、λ／２板３
９で偏光方向が４５°回転され、集光レンズ４３で集光
され、偏光ビームスプリタ４４で反射された光と、透過
した光がそれぞれ４分割ＰＤ４１、４２で受光される。

【００５０】４分割ＰＤ４１、４２の出力はフォーカス
エラー信号生成回路（図４ではＦＥＳ生成回路と略記）
４５及び光磁気再生信号生成回路（図４ではＭＯ生成回
路と略記）４６に入力され、それぞれフォーカスエラー
信号ＦＥＳ、光磁気再生信号ＭＯが生成される。

【００５１】また、例えば４分割ＰＤ４２の出力はトラ
ックエラー信号生成回路（図４ではＴＥＳ生成回路と略
記）４７に入力され、トラックエラー信号ＴＥＳが生成
される。

【００５２】フォーカスエラー信号ＦＥＳは図示しない
位相補償回路及びドライバ４８を経てフォーカス制御信
号としてフォーカスアクチュエータコイル４９に印加さ
れ、対物レンズ３８をその光軸方向の位置を制御して、
光磁気ディスク３３のトラックに照射形成される光スポ
ットをフォーカス状態に保持する。

【００５３】また、トラックエラー信号ＴＥＳは図示し
ない位相補償回路及びドライバ５０を経てトラッキング
制御信号としてトラッキングアクチュエータコイル５１
に印加され、トラック幅方向における対物レンズ３８の
位置を制御して、光磁気ディスク３３のトラックに照射
形成される光スポットをトラッキング状態に保持する。

【００５４】４分割ＰＤ４１、４２は集光レンズ４３の
焦点の前後に設置されている。また、４分割ＰＤ４１、
４２は図４の矢印Ｂ，Ｃ方向から見た場合の形状をそれ
ぞれ４分割ＰＤ４１、４２の下側及び右側に拡大して示
してあるように、第１実施例と同様に分割線で４つに分
割された素子１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄと、素子２ａ，２
ｂ，２ｃ，２ｄが形成されている。

【００５５】トラックエラー信号生成回路４７の構成は
図２或は図３と同様である。このため、回路構成を省略
する。例えば図２と同様の構成にした場合には、第１の
トラックエラー信号ＴＥＳ１ ＴＥＳ１＝（２ａ＋２ｃ）−（２ｂ＋２ｄ） と、第２のトラックエラー信号ＴＥＳ２ ＴＥＳ２＝２ａ−２ｄ とを生成し、スイッチＳＷにより一方を選択してトラッ
クエラー信号ＴＥＳとして出力する。

【００５６】一方、トラックエラー信号生成回路４７を
図３と同様の構成にした場合には、第１のトラックエラ
ー信号ＴＥＳ１ ＴＥＳ１＝（２ａ＋２ｃ）−（２ｂ＋２ｄ） と、第２のトラックエラー信号ＴＥＳ２ ＴＥＳ２＝（２ａ＋２ｃ）−（２ｂ＋２ｄ） とを生成し、スイッチＳＷにより一方を選択してトラッ
クエラー信号ＴＥＳとして出力する。

【００５７】フォーカスエラー検出はビームサイズ法で
行い、それぞれの４分割ＰＤ４１、４２を用いて（ａ＋
ｄ）−（ｂ＋ｃ）に相当する信号を生成し、２つの信号
の差をとることにより、フォーカスエラー信号ＦＥＳを
生成する。

【００５８】このフォーカスエラー信号生成回路４５の
具体的構成を図５に示す。素子２ａ，２ｄと素子２ｂ，
２ｃの各出力は、それぞれ加算器５２、５３に入力さ
れ、加算される。加算器５２、５３の出力は減算器５４
に入力され、減算されて次段の減算器５５に入力され
る。

【００５９】また、素子１ａ，１ｄと素子１ｂ，１ｃの
各出力は、それぞれ加算器５６、５７に入力され、加算
される。加算器５６、５７の出力は減算器５８に入力さ
れ、減算されて次段の減算器５５に入力され、減算され
てフォーカスエラー信号ＦＥＳが生成される。

【００６０】なお、光磁気再生信号生成回路４６は素子
１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄの加算出力と、素子２ａ，２
ｂ，２ｃ，２ｄの加算出力との差動出力を得る構成であ
り、従って光磁気再生信号ＭＯは ＭＯ＝（１ａ＋１ｂ＋１ｃ＋１ｄ）ー（２ａ＋２ｂ＋２
ｃ＋２ｄ） となる。

【００６１】なお、トラッキングエラー信号ＴＥＳに関
しては、片側のＰＤ４２又は４１で生成する代わりには
両側のＰＤ４１，４２から生成することも可能である。

【００６２】本実施例により、簡単な構成でフォーカス
エラーとトラックエラーの検出、光磁気信号の検出を共
通のＰＤで可能となる。その他は第１実施例と同様の効
果を有する。

【００６３】なお、例えば図１において、ビームスプリ
ッタ７と４分割ＰＤ９との間にビームスプリッタを配置
して、このビームスプリッタで反射した光をａ＋ｂとｃ
＋ｄの素子に対応する２分割ＰＤで受光し、一方透過し
た光をａとｄの素子に対応する２分割ＰＤで受光するよ
うに２つの２分割ＰＤを配置し、これら２つの２分割Ｐ
Ｄの出力から第１実施例のようなトラックエラー信号を
生成するようにしたものも本発明に属する。また、上述
した実施例を部分的に組み合わせる等して構成した実施
例も本発明に属する。

【００６４】

【発明の効果】上述したように本発明では、光学式記録
媒体に形成された凹凸のグルーブに光束を照射し、前記
光学式記録媒体で反射した光束のファーフィールドの光
量分布の変化を光検出器で検出し、前記光検出器の出力
からトラッキング制御を行うためのトラックエラー信号
を生成するトラックエラー検出装置において、トラック
ピッチが異なる少なくとも２つの光学式記録媒体に応じ
て前記グルーブによって回折された±１次光が互いに重
ならない範囲の光束を受光してそれぞれトラックエラー
信号を生成する複数のトラックエラー信号生成手段を有
するので、トラックピッチが異なる光学式記録媒体に対
してもＳ／Ｎのよいトラックエラー検出が可能になる。
また、既存のトラックピッチの光学式記録媒体にも対処
でき、互換性を確保できる。

【００６５】また、トラックと垂直方向に４分割された
光検出素子を用い、それぞれの領域を順にａ，ｂ，ｃ，
ｄとし、光源の波長をλ、対物レンズの開口数をＮＡ、
トラックピッチをＴｐとした場合、Ｔｐ≦λ／ＮＡのと
きは（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）により、Ｔｐ＞λ／ＮＡの
ときはａ−ｄ又は（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）により、トラ
ックエラー信号を検出する構成にすることにより、簡単
な構成でトラックピッチが異なる光学式記録媒体に対し
てもＳ／Ｎのよいトラックエラー検出が可能になる。

【００６６】さらに、光学式記録媒体に形成された凹凸
のグルーブに光束を照射し、前記光学式記録媒体で反射
した光束のファーフィールドの光量分布の変化を光検出
器で検出し、前記光検出器の出力からトラッキング制御
を行うためのトラックエラー信号を生成するトラックエ
ラー検出方法において、トラックピッチが異なる光学式
記録媒体に応じて前記グルーブによって回折された±１
次光が互いに重ならない範囲の光束を受光してそれぞれ
トラックエラー信号を生成するトラックエラー検出方法
を採用することにより、トラックピッチが異なる光学式
記録媒体に対してもＳ／Ｎのよいトラックエラー検出が
可能になる。また、既存のトラックピッチの光学式記録
媒体にも対処でき、互換性を確保できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例を備えた光ディスク装置の
主要部の構成図。

【図２】第１実施例のトラックエラー検出装置の回路
図。

【図３】本発明の第２実施例のトラックエラー検出装置
の回路図。

【図４】本発明の第３実施例を備えた光磁気ディスク装
置の主要部の構成図。

【図５】フォーカスエラー信号生成回路の構成を示す回
路図。

【図６】グルーブによる反射光が回折により０次光と±
１次光に分かれ、±１次光が０次光と干渉する様子を示
す説明図。

【図７】グルーブによって回折される角度θが小さいと
±１次光が互いに重なることを示す説明図。

【符号の説明】

１…光ディスク装置 ３…光ディスク ４…光ピックアップ ５…半導体レーザ ６…コリメータレンズ ７…ビームスプリッタ ８…対物レンズ ９…４分割フォトディテクタ １１…トラックエラー信号生成回路 １２…トラックエラー検出装置 １５、１６…加算器 １７、１８…減算器 ＳＷ…スイッチ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−56236（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−234107（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−256026（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−141667（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−66032（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−66033（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−44325（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−44326（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/09 - 7/10 G11B 7/00 - 7/013

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光学式記録媒体に形成された凹凸のグル
   ーブに光束を照射し、前記光学式記録媒体で反射した光
   束のファーフィールドの光量分布の変化を光検出器で検
   出し、前記光検出器の出力からトラッキング制御を行う
   ためのトラックエラー信号を生成するトラックエラー検
   出装置において、 トラックピッチが異なる少なくとも２つの光学式記録媒
   体に応じて前記グルーブによって回折された±１次光が
   互いに重ならない範囲の光束を受光してそれぞれトラッ
   クエラー信号を生成する複数のトラックエラー信号生成
   手段を有し、 トラックと垂直方向に４分割された光検出素子を用い、
   それぞれの領域を順にａ，ｂ，ｃ，ｄとし、光源の波長
   をλ、対物レンズの開口数をＮＡ、トラックピッチをＴ
   ｐとした場合、 Ｔｐ≦λ／ＮＡのときは（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）によ
   り、 Ｔｐ＞λ／ＮＡのときはａ−ｄ又は（ａ＋ｃ）−（ｂ＋
   ｄ）により、 前記トラックエラー信号を検出することを特徴としたト
   ラックエラー検出装置。
2. 【請求項２】 トラックエラー信号を検出する部分の和
   信号によりトラックエラー信号を除算することにより得
   られた信号により、トラッキング制御を行うことを特徴
   とした請求項１記載のトラックエラー検出装置。