JP2005025809A - 光学的情報記録再生装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】従来の光学的微分を用いてピット位置を検出する場合には、2つのビームを完全に重ねることが難しく、媒体上のミクロな反射率変化やゴミ等の影響を完全に除去することができない。
【解決手段】光磁気ディスク6に収束光を照射する光学系の発散収束光束中に偏光依存性を有する偏光ビームスプリッタ3を配置し、光磁気ディスク6から反射され、偏光ビームスプリッタ3を透過後、ウォラストンプリズム8によって偏光分離された光束を光検出器10a、10cで受光する。また、光検出器10a、10cからの出力を演算回路20で差動検出することで微分波形を生成し、得られた信号に基づいて位相変化又は振幅反射率変化を生じるピット或いはマークの位置検出を行う。
【選択図】 図3
【解決手段】光磁気ディスク6に収束光を照射する光学系の発散収束光束中に偏光依存性を有する偏光ビームスプリッタ3を配置し、光磁気ディスク6から反射され、偏光ビームスプリッタ3を透過後、ウォラストンプリズム8によって偏光分離された光束を光検出器10a、10cで受光する。また、光検出器10a、10cからの出力を演算回路20で差動検出することで微分波形を生成し、得られた信号に基づいて位相変化又は振幅反射率変化を生じるピット或いはマークの位置検出を行う。
【選択図】 図3
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光学的情報記録媒体に情報を記録し、或いは記録情報を再生する光学的情報記録再生装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来から一般的に用いられているピットの位置検出法としては、反射光量の変動波形を微分回路によって電気的に微分を行い、微分出力のゼロクロスによってピット信号のボトム位置を検出する方法がある。このようなピット信号のボトム位置検出方法では、レーザの光量変動やディスクの反射率変動、回路ノイズ等の影響を受けやすく、ピット位置の検出誤差が大きくなる。
【0003】
一方、特開平5−225573号公報には、いわゆる光学的微分を用いたピット位置検出方法が提案されている(特許文献1参照)。この方法は、情報トラックのタンジェンシャル方向に部分的に重なるように2つの光スポットを形成すると共に、各々の光スポットの媒体からの反射光を各光スポットに対応する受光部で受光し、これら2つの受光部の出力を差動増幅することによりピットの位置を検出する方法である。
【0004】
図9は同公報のピット位置検出方法を示す。図9の方法では、複屈折性プリズムを用いて2つの光ビームに分離し、対物レンズでディスク面に集光している。また、図9には2つの光スポットの光量分布を示す。この方法によれば、微分回路によるノイズ増加を回避できる上、差分をとることによって、レーザの光量変動やディスクの反射率変動、回路ノイズ等の同相ノイズを除去できるという利点がある。
【0005】
【特許文献1】
特開平5−225573号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記構成による光学的微分方式では、図9に示すように2つのビームスポットを完全に重ねることができないため、媒体上のミクロな反射率変化やゴミ等の影響を完全に除去することはできない。また、情報記録時のように光スポットによる熱分布を利用する場合には、単一スポットを用いる場合に比べて熱分布が大きくなってしまうので、記録密度を高密度化する上で妨げになるという問題があった。
【0007】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたもので、その目的は、2ビーム或いは電気的微分を用いることなく光学的微分を行い、高精度のピット位置検出が可能で、情報の高密度化を妨げることのない光学的情報記録再生装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するため、情報記録媒体に収束光を照射し、形成された微小スポットによって情報を記録し、或いは記録情報を再生する光学的情報記録再生装置において、前記記録媒体に収束光を照射する光学系の発散収束光束中に偏光依存性を有するビームスプリッタが配置され、前記記録媒体から反射され、前記ビームスプリッタを透過後、偏光分離素子によって偏光分離された光束を光検出器で各々受光し、前記光検出器からの出力を差動検出して得られた微分信号に基づいて位相変化又は振幅反射率変化を生じるピット或いはマークの位置を検出することを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。まず、本発明で利用する収束光中に配置された偏光ビームスプリッタによる偏光回転について図1を用いて説明する。座標軸は図中に示すように中心光束の進行方向をz軸と置き、偏光ビームスプリッタのs面をy軸と置く。また、入射光束の端部のうち、y軸に平行にとった直径と交わる点をPとする。点Pを通過する光束のz軸に対する傾きをφとし、偏光ビームスプリッタ中の屈折率をnとすると、偏光ビームスプリッタ中の入射角度θは、
【0010】
【数1】
【0011】
と表せる。
【0012】
次に、点Pを通過する光束の偏光ビームスプリッタ中の進行方向を単位ベクトルVintで表すと、
【0013】
【数2】
【0014】
と表せる。
【0015】
また、偏光ビームスプリッタの反射面の法線方向の単位ベクトルをVpbsと置くと、
【0016】
【数3】
【0017】
と表せる。
【0018】
次に、中心光束が偏光ビームスプリッタの反射膜にP偏光で入射することを想定した場合、点Pにおける偏光ベクトルEinは図1の座標系を用いて、
【0019】
【数4】
【0020】
と表せる。この時、偏光ビームスプリッタの反射膜に対するs偏光の方向は、光の進行方向Vint及び反射膜の法線方向Vpbsとにそれぞれ垂直であるため、単位ベクトルesを用いて、
【0021】
【数5】
【0022】
と表せる。
【0023】
一方、P偏光の方向epは光の進行方向及びs偏光の方向とにそれぞれ垂直であるため、
【0024】
【数6】
【0025】
となる。よって、入射光のs偏光成分の振幅As及びP偏光成分Apはそれぞれ、
As=Ein・es
Ap=Ein・ep
と表せる。
【0026】
また、反射膜のs偏光に対する透過率をTs、P偏光に対する透過率をTpと置くと、出射光の偏光ベクトルEoutは次のように表せる。
【0027】
【数7】
【0028】
以上により、反射膜透過後の偏光回転角δは、入射前後の偏光ベクトルの内積を用いて、
【0029】
【数8】
【0030】
と表せる。このように光束の入射角θに依存して、回転角δが変化することが分かる。
【0031】
本発明は、このように収束発散光束中に偏光ビームスプリッタを配置し、偏光ビームスプリッタへの入射角に応じて回転角δが変化することを利用することにより、上記公報のように2ビームを用いなくても、或いは電気的な微分回路を用いなくても、簡単な光検出器の受光信号の差動をとることによりピット信号を良好な微分波形として取り出すものである。
【0032】
(第1の実施形態)
次に、上述の偏光回転を利用して光学的微分を行う本発明の第1の実施形態について説明する。本実施形態に情報記録媒体として用いる光磁気ディスクは磁壁移動型の情報記録媒体とする。情報記録媒体の平面図を図2に示す。媒体の光スポット走査部は案内溝を有する情報記録部とプリピット部からなっており、プリピット部には、サンプルサーボによるトラッキングを行うためのウォブルピット1a、1b及びアドレス情報を抽出するためのアドレスピット1cが形成されている。Lはランド、Gはグルーブを示す。
【0033】
図3は本発明の第1の実施形態の構成を示す図である。図中2は記録再生用光源である半導体レーザであり、この半導体レーザに2から出射した光束はP偏光で偏光ビームスプリッタ3により反射され、コリメータレンズ4によって平行光にされた後、対物レンズ5によって光磁気ディスク6の情報記録面上に微小光スポットに収束される。偏光ビームスプリッタ3の特性はRp=70%、Ts=99%である。
【0034】
光磁気ディスク6の上面には、対物レンズ5と対向して変調磁界を印加する磁気ヘッド7が設けられている。光磁気ディスク6上に情報を記録する場合には、磁気ヘッド7から記録用変調磁界を印加し、光ヘッドの対物レンズ5から記録用光ビームを照射することで情報の記録を行う。また、記録情報を再生する場合には、光磁気ディスク6に再生用光ビームを照射し、後述するようにその反射光から記録情報の再生を行う。
【0035】
光磁気ディスク6からの反射光は再び対物レンズ5、コリメータレンズ4を通過し、更に偏光ビームスプリッタ3を透過した後、ウォラストンプリズム8によって3本の光束に分離される。分離された光束のうち中央の光束は偏光を変えずそのまま透過する成分で、その外側の2本の光束は入射光偏光に対して45°傾いた互いに直交する偏光成分である。
【0036】
分割された3本の光束は、センサレンズ9を通過後、それぞれ光検出器10a、10b、10cによって受光される。光検出器の受光面の形状を図4に示す。中央の光検出器10bは4分割光センサであり、その出力信号は非点収差法によるフォーカスエラー信号の検出に用いられる。また、その両側の光検出器10a、10cはウォラストンプリズム8によって分離されたそれぞれの偏光成分を検出する。
【0037】
ここで、光検出器10a、10cからの出力をそれぞれA、Cとすると、図5に示す演算回路20によって、
S=A−C
なる出力Sを得る。この場合、図2の光磁気ディスク6の情報記録部からの出力Sは、通常の光磁気ディスクと同様に記録マークのエッジ検出に用いられ、信号処理されて再生信号となる。また、光磁気ディスク6のプリピット部からの出力Sは後述するように光学微分信号に基づいてクロック等のピット位置検出に用いられる。
【0038】
図5はこの処理回路を示す。20は前述のようにS=A−Cの差動検出を行う演算回路、クロック生成回路21はプリピット部からの信号Sに基づいてクロック等を抽出するためのピット位置検出を行う。
【0039】
次に、ピット位置検出の原理について説明する。図6は偏光ビームスプリッタ3を透過する時の偏光変化と、ウォラストンプリズム8によって偏光分離後の振幅分布の様子を示す図である。2つの偏光成分の振幅分布が、タンジェンシャル方向に対応する方向に逆の傾斜を有するため、得られる出力Sはピットによる光量変動の微分波形になる。
【0040】
光スポットがピット部を通過する時の光検出器10a、10cから得られる信号A、C及びその光検出器10a、10cの受光信号A、Cを演算回路20を用いて差動検出した場合の微分波形信号S(A−C)、その微分波形のゼロクロス位置信号を図7に示す。
【0041】
ここでは、例えば、記録(又は再生時)に図2の光磁気ディスク6のプリピット部におけるウォブルピット1b(これは、クロックピットと兼用しているとする)からクロック信号を得る場合を例に挙げて説明する。光検出器10a、10cの信号A、Cは図7(a)、(b)に示すような信号波形となり、この信号A、Cを演算回路20で差動検出すると、図7(c)に示すように信号S(A−C)は微分信号波形となる。
【0042】
この場合、ピット部を通過する時の出力S(A−C)のゼロクロス位置はピットのボトム位置に一致するため、図7(d)に示すように目的のピットに対応するゼロクロス位置を検出することにより、クロックピットの位置検出を行うことができる。
【0043】
PLL制御回路(図示せず)では、得られたピット位置信号と出力との位相誤差に基づいてPLL制御を行い、記録信号のクロックを生成する。また、光磁気ディスクのプリピット部におけるウォブルピット1aやアドレスピット1c等を再生する場合も同様に演算回路20からの微分波形信号Sに基づいてそれらのピット位置検出を行う。
【0044】
このように本実施形態では、特別な光学素子を付加することなく、光学的微分を行うことができるので、ノイズの影響を除去した正確なピット位置検出を行うことができ、精度の高いクロック等の生成を行うことができる。また、光磁気信号とピット位置信号を共通の検出系で検出できるので、装置構成を簡単化することができる。
【0045】
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。第2の実施形態では情報記録媒体として相変化型の光ディスクを用いている。記録媒体の光スポット走査部には案内溝を有する情報記録部が形成されている。
【0046】
図8は第2の実施形態の構成を示す。半導体レーザ2から出射した光束はP偏光で偏光ビームスプリッタ3で反射され、コリメータレンズ4によって平行光にされた後、対物レンズ5によって光ディスク11の情報記録面上に微小光スポットに収束される。偏光ビームスプリッタ3の特性は、Rp=70%、Ts=99%である。
【0047】
光ディスク11からの反射光は再び対物レンズ5、コリメータレンズ4を通過し、更に偏光ビームスプリッタ3を透過した後、ウォラストンプリズム8によって3本の光束に分離される。分離された光束のうち中央の光束は偏光を変えずそのまま透過する成分で、その両側の2本の光束は入射光偏光に対して45°傾いた互いに直交した偏光成分である。
【0048】
この分離された3本の光束は、センサレンズ9を通過後、それぞれ光検出器10a、10b、10cによって受光される。光検出器の受光面の形状は図3に示すものと同様である。中央の光検出器10bは4分割光検出器であり、その出力は非点収差法によるフォーカスエラー信号の検出に用いられる。また、その両側の光検出器10a、10cはウォラストンプリズム8によって分離されたそれぞれの偏光成分を検出する。
【0049】
ここで、第1の実施形態と同様に光検出器10a、10cからの出力をそれぞれA、Cとすると、図5の処理回路における演算回路20では、
S=A−C
なる演算を行い、信号出力Sを出力する。記録マークの検出原理は第1の実施形態のピット位置検出と同様であり、図5の処理回路の情報検出回路22では、微分信号Sに基づいて記録マークの中心位置を出力Sのゼロクロス位置によって検出する。情報検出回路22では検出したマーク位置の連続の信号処理を行い、再生信号を生成する。
【0050】
このように相変化型の光ディスクを用いた場合においても、ノイズの影響を除去した正確なピット位置検出を行うことができ、精度の高い記録情報の再生を行うことができる。
【0051】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、2ビームを用いなくても、或いは電気的微分回路を用いなくても、光学的微分を行うことができるので、微分回路によるノイズの増大が避けられるばかりか、媒体上のミクロな反射率変化やゴミ等の影響を完全に除去することができ、更には、高密度記録の妨げがなくなるため、情報の高密度記録に寄与することができる。
【0052】
また、ピット或いはマークの位置検出に差動信号を用いるため、レーザノイズ、回路系の同相ノイズ等を除去する効果が得られ、ピット位置の検出精度を飛躍的に向上でき、高い記録再生性能が得られる。更に、光磁気ディスクを記録、再生する場合には、偏光回転を検出するための系をそのまま用いることができるため、新たな光学素子を付加する必要はない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に用いる収束光束中の偏光ビームスプリッタによる偏光回転を説明する図である。
【図2】本発明の第1の実施形態に用いる光磁気ディスクを示す図である。
【図3】本発明の第1の実施形態を示す構成図である。
【図4】第1の実施形態の光検出器の受光面を示す図である。
【図5】第1の実施形態のピット位置検出を行う処理回路を示すブロック図である。
【図6】第1の実施形態における偏光ビームスプリッタの透過時の偏光変化とウォラストンプリズムによって偏光分離後の振幅分布を示す図である。
【図7】第1の実施形態のピット通過時の各部の信号を示す図である。
【図8】本発明の第2の実施形態を示す構成図である。
【図9】従来例の光学的微分を用いてピット位置を検出する方法を説明する図である。
【符号の説明】
1a、1b ウォブルピット
1c アドレスピット
2 半導体レーザ
3 偏光ビームスプリッタ
4 コリメータレンズ
5 対物レンズ
6 光磁気ディスク
7 磁気ヘッド
8 ウォラストンプリズム
9 センサレンズ
10a、10b、10c 光検出器
11 光ディスク
20 演算回路
21 クロック生成回路
22 情報検出回路
【発明の属する技術分野】
本発明は、光学的情報記録媒体に情報を記録し、或いは記録情報を再生する光学的情報記録再生装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来から一般的に用いられているピットの位置検出法としては、反射光量の変動波形を微分回路によって電気的に微分を行い、微分出力のゼロクロスによってピット信号のボトム位置を検出する方法がある。このようなピット信号のボトム位置検出方法では、レーザの光量変動やディスクの反射率変動、回路ノイズ等の影響を受けやすく、ピット位置の検出誤差が大きくなる。
【0003】
一方、特開平5−225573号公報には、いわゆる光学的微分を用いたピット位置検出方法が提案されている(特許文献1参照)。この方法は、情報トラックのタンジェンシャル方向に部分的に重なるように2つの光スポットを形成すると共に、各々の光スポットの媒体からの反射光を各光スポットに対応する受光部で受光し、これら2つの受光部の出力を差動増幅することによりピットの位置を検出する方法である。
【0004】
図9は同公報のピット位置検出方法を示す。図9の方法では、複屈折性プリズムを用いて2つの光ビームに分離し、対物レンズでディスク面に集光している。また、図9には2つの光スポットの光量分布を示す。この方法によれば、微分回路によるノイズ増加を回避できる上、差分をとることによって、レーザの光量変動やディスクの反射率変動、回路ノイズ等の同相ノイズを除去できるという利点がある。
【0005】
【特許文献1】
特開平5−225573号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記構成による光学的微分方式では、図9に示すように2つのビームスポットを完全に重ねることができないため、媒体上のミクロな反射率変化やゴミ等の影響を完全に除去することはできない。また、情報記録時のように光スポットによる熱分布を利用する場合には、単一スポットを用いる場合に比べて熱分布が大きくなってしまうので、記録密度を高密度化する上で妨げになるという問題があった。
【0007】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたもので、その目的は、2ビーム或いは電気的微分を用いることなく光学的微分を行い、高精度のピット位置検出が可能で、情報の高密度化を妨げることのない光学的情報記録再生装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するため、情報記録媒体に収束光を照射し、形成された微小スポットによって情報を記録し、或いは記録情報を再生する光学的情報記録再生装置において、前記記録媒体に収束光を照射する光学系の発散収束光束中に偏光依存性を有するビームスプリッタが配置され、前記記録媒体から反射され、前記ビームスプリッタを透過後、偏光分離素子によって偏光分離された光束を光検出器で各々受光し、前記光検出器からの出力を差動検出して得られた微分信号に基づいて位相変化又は振幅反射率変化を生じるピット或いはマークの位置を検出することを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。まず、本発明で利用する収束光中に配置された偏光ビームスプリッタによる偏光回転について図1を用いて説明する。座標軸は図中に示すように中心光束の進行方向をz軸と置き、偏光ビームスプリッタのs面をy軸と置く。また、入射光束の端部のうち、y軸に平行にとった直径と交わる点をPとする。点Pを通過する光束のz軸に対する傾きをφとし、偏光ビームスプリッタ中の屈折率をnとすると、偏光ビームスプリッタ中の入射角度θは、
【0010】
【数1】
【0011】
と表せる。
【0012】
次に、点Pを通過する光束の偏光ビームスプリッタ中の進行方向を単位ベクトルVintで表すと、
【0013】
【数2】
【0014】
と表せる。
【0015】
また、偏光ビームスプリッタの反射面の法線方向の単位ベクトルをVpbsと置くと、
【0016】
【数3】
【0017】
と表せる。
【0018】
次に、中心光束が偏光ビームスプリッタの反射膜にP偏光で入射することを想定した場合、点Pにおける偏光ベクトルEinは図1の座標系を用いて、
【0019】
【数4】
【0020】
と表せる。この時、偏光ビームスプリッタの反射膜に対するs偏光の方向は、光の進行方向Vint及び反射膜の法線方向Vpbsとにそれぞれ垂直であるため、単位ベクトルesを用いて、
【0021】
【数5】
【0022】
と表せる。
【0023】
一方、P偏光の方向epは光の進行方向及びs偏光の方向とにそれぞれ垂直であるため、
【0024】
【数6】
【0025】
となる。よって、入射光のs偏光成分の振幅As及びP偏光成分Apはそれぞれ、
As=Ein・es
Ap=Ein・ep
と表せる。
【0026】
また、反射膜のs偏光に対する透過率をTs、P偏光に対する透過率をTpと置くと、出射光の偏光ベクトルEoutは次のように表せる。
【0027】
【数7】
【0028】
以上により、反射膜透過後の偏光回転角δは、入射前後の偏光ベクトルの内積を用いて、
【0029】
【数8】
【0030】
と表せる。このように光束の入射角θに依存して、回転角δが変化することが分かる。
【0031】
本発明は、このように収束発散光束中に偏光ビームスプリッタを配置し、偏光ビームスプリッタへの入射角に応じて回転角δが変化することを利用することにより、上記公報のように2ビームを用いなくても、或いは電気的な微分回路を用いなくても、簡単な光検出器の受光信号の差動をとることによりピット信号を良好な微分波形として取り出すものである。
【0032】
(第1の実施形態)
次に、上述の偏光回転を利用して光学的微分を行う本発明の第1の実施形態について説明する。本実施形態に情報記録媒体として用いる光磁気ディスクは磁壁移動型の情報記録媒体とする。情報記録媒体の平面図を図2に示す。媒体の光スポット走査部は案内溝を有する情報記録部とプリピット部からなっており、プリピット部には、サンプルサーボによるトラッキングを行うためのウォブルピット1a、1b及びアドレス情報を抽出するためのアドレスピット1cが形成されている。Lはランド、Gはグルーブを示す。
【0033】
図3は本発明の第1の実施形態の構成を示す図である。図中2は記録再生用光源である半導体レーザであり、この半導体レーザに2から出射した光束はP偏光で偏光ビームスプリッタ3により反射され、コリメータレンズ4によって平行光にされた後、対物レンズ5によって光磁気ディスク6の情報記録面上に微小光スポットに収束される。偏光ビームスプリッタ3の特性はRp=70%、Ts=99%である。
【0034】
光磁気ディスク6の上面には、対物レンズ5と対向して変調磁界を印加する磁気ヘッド7が設けられている。光磁気ディスク6上に情報を記録する場合には、磁気ヘッド7から記録用変調磁界を印加し、光ヘッドの対物レンズ5から記録用光ビームを照射することで情報の記録を行う。また、記録情報を再生する場合には、光磁気ディスク6に再生用光ビームを照射し、後述するようにその反射光から記録情報の再生を行う。
【0035】
光磁気ディスク6からの反射光は再び対物レンズ5、コリメータレンズ4を通過し、更に偏光ビームスプリッタ3を透過した後、ウォラストンプリズム8によって3本の光束に分離される。分離された光束のうち中央の光束は偏光を変えずそのまま透過する成分で、その外側の2本の光束は入射光偏光に対して45°傾いた互いに直交する偏光成分である。
【0036】
分割された3本の光束は、センサレンズ9を通過後、それぞれ光検出器10a、10b、10cによって受光される。光検出器の受光面の形状を図4に示す。中央の光検出器10bは4分割光センサであり、その出力信号は非点収差法によるフォーカスエラー信号の検出に用いられる。また、その両側の光検出器10a、10cはウォラストンプリズム8によって分離されたそれぞれの偏光成分を検出する。
【0037】
ここで、光検出器10a、10cからの出力をそれぞれA、Cとすると、図5に示す演算回路20によって、
S=A−C
なる出力Sを得る。この場合、図2の光磁気ディスク6の情報記録部からの出力Sは、通常の光磁気ディスクと同様に記録マークのエッジ検出に用いられ、信号処理されて再生信号となる。また、光磁気ディスク6のプリピット部からの出力Sは後述するように光学微分信号に基づいてクロック等のピット位置検出に用いられる。
【0038】
図5はこの処理回路を示す。20は前述のようにS=A−Cの差動検出を行う演算回路、クロック生成回路21はプリピット部からの信号Sに基づいてクロック等を抽出するためのピット位置検出を行う。
【0039】
次に、ピット位置検出の原理について説明する。図6は偏光ビームスプリッタ3を透過する時の偏光変化と、ウォラストンプリズム8によって偏光分離後の振幅分布の様子を示す図である。2つの偏光成分の振幅分布が、タンジェンシャル方向に対応する方向に逆の傾斜を有するため、得られる出力Sはピットによる光量変動の微分波形になる。
【0040】
光スポットがピット部を通過する時の光検出器10a、10cから得られる信号A、C及びその光検出器10a、10cの受光信号A、Cを演算回路20を用いて差動検出した場合の微分波形信号S(A−C)、その微分波形のゼロクロス位置信号を図7に示す。
【0041】
ここでは、例えば、記録(又は再生時)に図2の光磁気ディスク6のプリピット部におけるウォブルピット1b(これは、クロックピットと兼用しているとする)からクロック信号を得る場合を例に挙げて説明する。光検出器10a、10cの信号A、Cは図7(a)、(b)に示すような信号波形となり、この信号A、Cを演算回路20で差動検出すると、図7(c)に示すように信号S(A−C)は微分信号波形となる。
【0042】
この場合、ピット部を通過する時の出力S(A−C)のゼロクロス位置はピットのボトム位置に一致するため、図7(d)に示すように目的のピットに対応するゼロクロス位置を検出することにより、クロックピットの位置検出を行うことができる。
【0043】
PLL制御回路(図示せず)では、得られたピット位置信号と出力との位相誤差に基づいてPLL制御を行い、記録信号のクロックを生成する。また、光磁気ディスクのプリピット部におけるウォブルピット1aやアドレスピット1c等を再生する場合も同様に演算回路20からの微分波形信号Sに基づいてそれらのピット位置検出を行う。
【0044】
このように本実施形態では、特別な光学素子を付加することなく、光学的微分を行うことができるので、ノイズの影響を除去した正確なピット位置検出を行うことができ、精度の高いクロック等の生成を行うことができる。また、光磁気信号とピット位置信号を共通の検出系で検出できるので、装置構成を簡単化することができる。
【0045】
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。第2の実施形態では情報記録媒体として相変化型の光ディスクを用いている。記録媒体の光スポット走査部には案内溝を有する情報記録部が形成されている。
【0046】
図8は第2の実施形態の構成を示す。半導体レーザ2から出射した光束はP偏光で偏光ビームスプリッタ3で反射され、コリメータレンズ4によって平行光にされた後、対物レンズ5によって光ディスク11の情報記録面上に微小光スポットに収束される。偏光ビームスプリッタ3の特性は、Rp=70%、Ts=99%である。
【0047】
光ディスク11からの反射光は再び対物レンズ5、コリメータレンズ4を通過し、更に偏光ビームスプリッタ3を透過した後、ウォラストンプリズム8によって3本の光束に分離される。分離された光束のうち中央の光束は偏光を変えずそのまま透過する成分で、その両側の2本の光束は入射光偏光に対して45°傾いた互いに直交した偏光成分である。
【0048】
この分離された3本の光束は、センサレンズ9を通過後、それぞれ光検出器10a、10b、10cによって受光される。光検出器の受光面の形状は図3に示すものと同様である。中央の光検出器10bは4分割光検出器であり、その出力は非点収差法によるフォーカスエラー信号の検出に用いられる。また、その両側の光検出器10a、10cはウォラストンプリズム8によって分離されたそれぞれの偏光成分を検出する。
【0049】
ここで、第1の実施形態と同様に光検出器10a、10cからの出力をそれぞれA、Cとすると、図5の処理回路における演算回路20では、
S=A−C
なる演算を行い、信号出力Sを出力する。記録マークの検出原理は第1の実施形態のピット位置検出と同様であり、図5の処理回路の情報検出回路22では、微分信号Sに基づいて記録マークの中心位置を出力Sのゼロクロス位置によって検出する。情報検出回路22では検出したマーク位置の連続の信号処理を行い、再生信号を生成する。
【0050】
このように相変化型の光ディスクを用いた場合においても、ノイズの影響を除去した正確なピット位置検出を行うことができ、精度の高い記録情報の再生を行うことができる。
【0051】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、2ビームを用いなくても、或いは電気的微分回路を用いなくても、光学的微分を行うことができるので、微分回路によるノイズの増大が避けられるばかりか、媒体上のミクロな反射率変化やゴミ等の影響を完全に除去することができ、更には、高密度記録の妨げがなくなるため、情報の高密度記録に寄与することができる。
【0052】
また、ピット或いはマークの位置検出に差動信号を用いるため、レーザノイズ、回路系の同相ノイズ等を除去する効果が得られ、ピット位置の検出精度を飛躍的に向上でき、高い記録再生性能が得られる。更に、光磁気ディスクを記録、再生する場合には、偏光回転を検出するための系をそのまま用いることができるため、新たな光学素子を付加する必要はない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に用いる収束光束中の偏光ビームスプリッタによる偏光回転を説明する図である。
【図2】本発明の第1の実施形態に用いる光磁気ディスクを示す図である。
【図3】本発明の第1の実施形態を示す構成図である。
【図4】第1の実施形態の光検出器の受光面を示す図である。
【図5】第1の実施形態のピット位置検出を行う処理回路を示すブロック図である。
【図6】第1の実施形態における偏光ビームスプリッタの透過時の偏光変化とウォラストンプリズムによって偏光分離後の振幅分布を示す図である。
【図7】第1の実施形態のピット通過時の各部の信号を示す図である。
【図8】本発明の第2の実施形態を示す構成図である。
【図9】従来例の光学的微分を用いてピット位置を検出する方法を説明する図である。
【符号の説明】
1a、1b ウォブルピット
1c アドレスピット
2 半導体レーザ
3 偏光ビームスプリッタ
4 コリメータレンズ
5 対物レンズ
6 光磁気ディスク
7 磁気ヘッド
8 ウォラストンプリズム
9 センサレンズ
10a、10b、10c 光検出器
11 光ディスク
20 演算回路
21 クロック生成回路
22 情報検出回路
Claims (4)
- 情報記録媒体に収束光を照射し、形成された微小スポットによって情報を記録し、或いは記録情報を再生する光学的情報記録再生装置において、前記記録媒体に収束光を照射する光学系の発散収束光束中に偏光依存性を有するビームスプリッタが配置され、前記記録媒体から反射され、前記ビームスプリッタを透過後、偏光分離素子によって偏光分離された光束を光検出器で各々受光し、前記光検出器からの出力を差動検出して得られた微分信号に基づいて位相変化又は振幅反射率変化を生じるピット或いはマークの位置を検出することを特徴とする光学的情報記録再生装置。
- 前記ビームスプリッタの偏光依存性は、入射前の偏光に対し、出射光束の周辺部で偏光面が回転していることを特徴とする請求項1に記載の光学的情報記録再生装置。
- 前記情報記録媒体は光磁気ディスクであることを特徴とする請求項1に記載の光学的情報記録再生装置。
- 前記情報記録媒体は相変化光ディスクであることを特徴とする請求項1に記載の光学的情報記録再生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003187442A JP2005025809A (ja) | 2003-06-30 | 2003-06-30 | 光学的情報記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003187442A JP2005025809A (ja) | 2003-06-30 | 2003-06-30 | 光学的情報記録再生装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005025809A true JP2005025809A (ja) | 2005-01-27 |
Family
ID=34186301
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003187442A Pending JP2005025809A (ja) | 2003-06-30 | 2003-06-30 | 光学的情報記録再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2005025809A (ja) |
-
2003
- 2003-06-30 JP JP2003187442A patent/JP2005025809A/ja active Pending
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