JPS61198457A - 光ピツクアツプ - Google Patents
光ピツクアツプInfo
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- JPS61198457A JPS61198457A JP3905185A JP3905185A JPS61198457A JP S61198457 A JPS61198457 A JP S61198457A JP 3905185 A JP3905185 A JP 3905185A JP 3905185 A JP3905185 A JP 3905185A JP S61198457 A JPS61198457 A JP S61198457A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- beam splitter
- optical
- recording medium
- signal
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、磁気的に情報が記録された記録媒体から、磁
気光学効果を利用して情報を読み出し光ピツクアップに
関する。
気光学効果を利用して情報を読み出し光ピツクアップに
関する。
近年、光学的に情報が記録、再生され、しか □
も書き換えが可能な所謂光磁気記録媒体や、このような
媒体から情報を再生する光ピツクアップの研究、開発が
盛んに行なわれている。上記光磁気記録媒体からの信号
再生は、通常カー効果やファラデイー効果と呼ばれる磁
気光学効果を利用して行なわれる。即ち、媒体に照射さ
れた光は、記録情報に従って偏光面が回転されて反射或
いは透過されるが、その回転成分を偏光板等の素子で強
度変調に変換して信号検出を行なうものである。また、
この偏光面の回転角は大略１°前後で、その為、偏光素
子を通して得ちれる信号成分は微小であり、信号検出の
為の光ピツクアップには幾つかの工夫がなされている。
も書き換えが可能な所謂光磁気記録媒体や、このような
媒体から情報を再生する光ピツクアップの研究、開発が
盛んに行なわれている。上記光磁気記録媒体からの信号
再生は、通常カー効果やファラデイー効果と呼ばれる磁
気光学効果を利用して行なわれる。即ち、媒体に照射さ
れた光は、記録情報に従って偏光面が回転されて反射或
いは透過されるが、その回転成分を偏光板等の素子で強
度変調に変換して信号検出を行なうものである。また、
この偏光面の回転角は大略１°前後で、その為、偏光素
子を通して得ちれる信号成分は微小であり、信号検出の
為の光ピツクアップには幾つかの工夫がなされている。
第１Ｏ図は、従来の光ピツクアップの構成例を示す概略
図である０図において、半導体レーザ（以下ＬＤと記す
）１から発せられた光束は、コリメータレンズ２で平行
光束に変換される、平行光束は、その後ビーム・スプリ
ッター３を通過し対物レンズ４により、記録媒体５上に
大略φＩＢｍの微小スポットに集光される。
図である０図において、半導体レーザ（以下ＬＤと記す
）１から発せられた光束は、コリメータレンズ２で平行
光束に変換される、平行光束は、その後ビーム・スプリ
ッター３を通過し対物レンズ４により、記録媒体５上に
大略φＩＢｍの微小スポットに集光される。
記録媒体５から反射された光束は、カー効果及びファラ
デイー効果により偏光面変調を受け、再び対物レンズ４
を通過し、ビームスプリッタ−３により入射光束と分離
される０分離された光束は、第２のビーム拳スプリッタ
６により一部反射され、レンズ系７を通り光センサ８に
入射する。レンズ系７は周知の方式、例えば非点収差系
、ナイフェツジ系、フーコープリズム系で構成されてお
り、記録媒体５と対物レンズ４との間隔の情報即ちオー
トフォーカス（以下ＡＦと記す）誤差信号が光センサー
より得られる。又、これも周知のプツシエ拳プル法等で
情報トラックとのズレ、即ち、オートトラッキング（以
下ＡＴと記す）誤差信号が得られる。これらの誤差信号
を図示していない対物レンズの駆動系（アクチュエータ
）にフィード−パックして、正確な焦点位置で正確なト
ラックトレースを行ない信号の録再を行なう。
デイー効果により偏光面変調を受け、再び対物レンズ４
を通過し、ビームスプリッタ−３により入射光束と分離
される０分離された光束は、第２のビーム拳スプリッタ
６により一部反射され、レンズ系７を通り光センサ８に
入射する。レンズ系７は周知の方式、例えば非点収差系
、ナイフェツジ系、フーコープリズム系で構成されてお
り、記録媒体５と対物レンズ４との間隔の情報即ちオー
トフォーカス（以下ＡＦと記す）誤差信号が光センサー
より得られる。又、これも周知のプツシエ拳プル法等で
情報トラックとのズレ、即ち、オートトラッキング（以
下ＡＴと記す）誤差信号が得られる。これらの誤差信号
を図示していない対物レンズの駆動系（アクチュエータ
）にフィード−パックして、正確な焦点位置で正確なト
ラックトレースを行ない信号の録再を行なう。
第２のビーム・スプリッター６を通過する残りの光束は
１／２波長板９を通り、偏光ビーム・スプリッター１０
にて２方向に分割される。
１／２波長板９を通り、偏光ビーム・スプリッター１０
にて２方向に分割される。
１／２波長板９の光学的結晶軸を入射光束の偏光軸に対
し２２．５°傾むけて配置すると、偏光ビームスプリッ
タ−ＩＯにより２分割される光量は等しく、且つ偏光板
をそれぞれの光束に４５°、−４５°の透過軸を持たせ
て配置したものと等価になる。２分割された光束はそれ
ぞれセンサー集光レンズ１１．１２にて信号検出用セン
サー１３．１４に集光する。そして、信号検出用センサ
ー１３．１４からの電気信号を差分する（差動検出）事
により、記録媒体上の情報の検出が行なえる。
し２２．５°傾むけて配置すると、偏光ビームスプリッ
タ−ＩＯにより２分割される光量は等しく、且つ偏光板
をそれぞれの光束に４５°、−４５°の透過軸を持たせ
て配置したものと等価になる。２分割された光束はそれ
ぞれセンサー集光レンズ１１．１２にて信号検出用セン
サー１３．１４に集光する。そして、信号検出用センサ
ー１３．１４からの電気信号を差分する（差動検出）事
により、記録媒体上の情報の検出が行なえる。
この差動検出法の利点を以下に説明する。第１１図（Ａ
）、（Ｂ）は夫々ｌ／２波長板９と偏光ビームスプリッ
タ−１０により分割され、センサー１４．１３に到達す
る信号振幅成分を示す、縦軸を入射光束の偏光方向とす
ると記録媒体５より反射された光束は、光磁気パターン
の磁区の向き（上向き又は下向き）により、その偏光面
がθ 又は−〇や回転する。ｌ／２に 波長板９と偏光ビームスプリッタ−１Ｏの組合せは、透
過軸が４５°傾けて偏光板を配置した系と等価であるか
ら、仮想の透過軸（４５°傾いた破線の軸）への投影成
分の差Ｓ１とぎ１が信号振幅成分となる。θ と−〇え
は、光磁に 気パターンによって時間的に変化する為、信号強度変化
は第１２図（Ａ）、ＣＢ）に示すように分割された光束
で、それぞれ位相が１８００ずれる。これらの光信号を
センサー１３．１４で受光する。光磁気信号は、以上の
如く位相が反転するが、通常ノイズ成分（記録媒体から
のノイズ、ＬＤ光のゆらぎノイズ）がこれらの信号に乗
り、このノイズ成分は同相となる。
）、（Ｂ）は夫々ｌ／２波長板９と偏光ビームスプリッ
タ−１０により分割され、センサー１４．１３に到達す
る信号振幅成分を示す、縦軸を入射光束の偏光方向とす
ると記録媒体５より反射された光束は、光磁気パターン
の磁区の向き（上向き又は下向き）により、その偏光面
がθ 又は−〇や回転する。ｌ／２に 波長板９と偏光ビームスプリッタ−１Ｏの組合せは、透
過軸が４５°傾けて偏光板を配置した系と等価であるか
ら、仮想の透過軸（４５°傾いた破線の軸）への投影成
分の差Ｓ１とぎ１が信号振幅成分となる。θ と−〇え
は、光磁に 気パターンによって時間的に変化する為、信号強度変化
は第１２図（Ａ）、ＣＢ）に示すように分割された光束
で、それぞれ位相が１８００ずれる。これらの光信号を
センサー１３．１４で受光する。光磁気信号は、以上の
如く位相が反転するが、通常ノイズ成分（記録媒体から
のノイズ、ＬＤ光のゆらぎノイズ）がこれらの信号に乗
り、このノイズ成分は同相となる。
従って、センサー １３．１４から得られる信号の差動
をとると信号成分は強め合い、ノイズ成分は減少する。
をとると信号成分は強め合い、ノイズ成分は減少する。
光学系の配置が正確に行なわれていれば、それぞれのセ
ンサーから得られる２・ ２ 信号成分Ｓ１−、とＳｌ、は等しく、又ノイズ振幅も等
しいので、信号は２倍となりノイズは零となる。このよ
うに、第１０図に示したような差動検出法はＳ／Ｎの良
い信号が検出出来る利点がある。
ンサーから得られる２・ ２ 信号成分Ｓ１−、とＳｌ、は等しく、又ノイズ振幅も等
しいので、信号は２倍となりノイズは零となる。このよ
うに、第１０図に示したような差動検出法はＳ／Ｎの良
い信号が検出出来る利点がある。
しかしながら、上述したような従来の光ピツクアップは
部品が多く、小型化、低コスト化を図る上で不利である
。また、複数の光検出器等を正確に位置決めさせねばな
らず、調整も煩雑であった。
部品が多く、小型化、低コスト化を図る上で不利である
。また、複数の光検出器等を正確に位置決めさせねばな
らず、調整も煩雑であった。
本発明の目的は、上述の従来例の欠点を解消し、コンパ
クトに構成出来、また光学調整も簡単な光ピツクアップ
を提供することにある。
クトに構成出来、また光学調整も簡単な光ピツクアップ
を提供することにある。
本発明の上記目的は、受光面が複数の部分に分割された
単一の光検出器と、磁気的に情報が記録された記録媒体
からの光束を分割し、分割された光束を前記光検出器の
各々異なる部分に導く手段と、前記分割された一方の光
束の偏光方向９０″回転する手段と、前記偏光方法の回
転された光束と他方の光束とを各々強度変調された光束
に変換する検光子と、前記光検出器の各部分の出力から
情報信号を差動検出する手段とから光ピツクアップを構
成することによって達成される。
単一の光検出器と、磁気的に情報が記録された記録媒体
からの光束を分割し、分割された光束を前記光検出器の
各々異なる部分に導く手段と、前記分割された一方の光
束の偏光方向９０″回転する手段と、前記偏光方法の回
転された光束と他方の光束とを各々強度変調された光束
に変換する検光子と、前記光検出器の各部分の出力から
情報信号を差動検出する手段とから光ピツクアップを構
成することによって達成される。
第１図に本発明の光ピツクアップの構成例を示す、ＬＤ
１５より発せられた光束は、コリメーターレンズ１６に
て平行光束となり、第１のビームスプリッタ−１７で反
射され、対物レンズ１８により記録媒体１９上に微小ス
ポットに集光する。記録媒体１９からの反射光束は再び
対物レンズ１８を通り、第１のビームスプリッタ−１７
を通過し、第２ビーム・スプリッター２０に入射し、２
光束に分離される。第２のビーム・スプリッター２０に
て反射された第１の分割光２１は、偏光板の如き偏光素
子２２を通り、集束レンズ２５にて光センサ−２４に向
って集光する。又、偏光素子２２は、集束レンズ２５と
光センサ−２４の間に配置しても同じ効果が得られる。
１５より発せられた光束は、コリメーターレンズ１６に
て平行光束となり、第１のビームスプリッタ−１７で反
射され、対物レンズ１８により記録媒体１９上に微小ス
ポットに集光する。記録媒体１９からの反射光束は再び
対物レンズ１８を通り、第１のビームスプリッタ−１７
を通過し、第２ビーム・スプリッター２０に入射し、２
光束に分離される。第２のビーム・スプリッター２０に
て反射された第１の分割光２１は、偏光板の如き偏光素
子２２を通り、集束レンズ２５にて光センサ−２４に向
って集光する。又、偏光素子２２は、集束レンズ２５と
光センサ−２４の間に配置しても同じ効果が得られる。
他方、第２のビームスプリッタ−２０を通過した第２の
分割光２６は、ビームスプリッタ−２０の底面の反射部
２７で反射され１／２波長板２３、偏光素子２２を通過
し、集束レンズ２５で光センサ−２４にむかい集光され
る。
分割光２６は、ビームスプリッタ−２０の底面の反射部
２７で反射され１／２波長板２３、偏光素子２２を通過
し、集束レンズ２５で光センサ−２４にむかい集光され
る。
光センサ−２４は分割光束２１．２６が集束レンズ２５
にて集光される焦点面より離れた位置に配置される。光
センサ−２４は例えば第２図（Ａ）に示すように、その
受光面に１２分割の受光部を持っている。
にて集光される焦点面より離れた位置に配置される。光
センサ−２４は例えば第２図（Ａ）に示すように、その
受光面に１２分割の受光部を持っている。
以下第１図の構成でＡＦ、ＡＴ誤差信号の検出と情報信
号の差動検出が行なえる原理を説明する。
号の差動検出が行なえる原理を説明する。
第３図は、ＡＦ信号の検出原理を示すものである。第１
図におけるＡＦ検出に必要な構成のみを第３図に示した
。記録媒体１９が対物レンズ１８の焦点面に位置する場
合、光線は実線で示す如く進み、集束レンズ２５の焦点
Ｆに集束する。又、記録媒体１９が対物レンズ１８の焦
点面から遠ざかった場合、破線で示す如く光線は集束レ
ンズ２５の光軸の手前に集束する０図示していないが、
記録媒体が対物レンズ１８の焦点面より近づいた場合、
光束は集束レンズ２５の光軸を越えて集束する。従って
光センサ−２４をＦ点からずらして配置した場合、光セ
ンサ−２４面上では分割されたそれぞれの光束の分布が
記録媒体の位置によりセンサー面上で小さくなったり大
きくなったりする。
図におけるＡＦ検出に必要な構成のみを第３図に示した
。記録媒体１９が対物レンズ１８の焦点面に位置する場
合、光線は実線で示す如く進み、集束レンズ２５の焦点
Ｆに集束する。又、記録媒体１９が対物レンズ１８の焦
点面から遠ざかった場合、破線で示す如く光線は集束レ
ンズ２５の光軸の手前に集束する０図示していないが、
記録媒体が対物レンズ１８の焦点面より近づいた場合、
光束は集束レンズ２５の光軸を越えて集束する。従って
光センサ−２４をＦ点からずらして配置した場合、光セ
ンサ−２４面上では分割されたそれぞれの光束の分布が
記録媒体の位置によりセンサー面上で小さくなったり大
きくなったりする。
光センサ−２４の受光部が第２図（Ａ）の如き１２分割
に構成されている場合につき先ず説明する。対物レンズ
１８と記録媒体１９が合焦の関係にある時の光センサ一
部の光束の部分を図ＩＪ、ＩＫ、ＩＬ とするとＡＦ
誤差信号ＩＡＦ はＩＡＦ＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＥ＋ＩＦ
＋ＩＧ＋ＩＨ＋ＩＫ＋ＩＬ）−（ＩＣ＋ＩＤ＋ＩＩ＋Ｉ
Ｊ） で得られる。
に構成されている場合につき先ず説明する。対物レンズ
１８と記録媒体１９が合焦の関係にある時の光センサ一
部の光束の部分を図ＩＪ、ＩＫ、ＩＬ とするとＡＦ
誤差信号ＩＡＦ はＩＡＦ＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＥ＋ＩＦ
＋ＩＧ＋ＩＨ＋ＩＫ＋ＩＬ）−（ＩＣ＋ＩＤ＋ＩＩ＋Ｉ
Ｊ） で得られる。
又、第２図（Ｂ）に示す如く同心状の受光部に分割され
た光センサーの場合はそれぞれの出力をＩＡ、ＩＢ、Ｉ
Ｃ，ＩＤ、ＩＥ、ＩＦ、ＩＧ、ＩＨとする、ＡＦ誤差信
号ＩＡＦは ＩＡＦ”（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＥ＋ＩＦ） （ＩＣ＋ＩＤ
＋ＩＧ＋ＩＨ）で得られる。
た光センサーの場合はそれぞれの出力をＩＡ、ＩＢ、Ｉ
Ｃ，ＩＤ、ＩＥ、ＩＦ、ＩＧ、ＩＨとする、ＡＦ誤差信
号ＩＡＦは ＩＡＦ”（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＥ＋ＩＦ） （ＩＣ＋ＩＤ
＋ＩＧ＋ＩＨ）で得られる。
なお片側の光束に関してのみの演算によってもＡＦ誤差
信号は得られる。第２図（Ａ）の例で云えば、ＩＡＦ＝
（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＥ＋ＩＦ）−（ＩＣ＋ＩＤ）でも得ら
れる。
信号は得られる。第２図（Ａ）の例で云えば、ＩＡＦ＝
（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＥ＋ＩＦ）−（ＩＣ＋ＩＤ）でも得ら
れる。
次にＡＴ信号の検出原理を説明する。
記録媒体１９の記録媒体面近傍は、通常大略１７８波長
の深さの溝が設けられており、この溝をガイドとして信
号の録再を行なう、この溝から反射される光束が再び対
物レンズ１８を通って形成するファーフィールドパター
ンは衆知の如く、光スポットと溝との位置関係で変る。
の深さの溝が設けられており、この溝をガイドとして信
号の録再を行なう、この溝から反射される光束が再び対
物レンズ１８を通って形成するファーフィールドパター
ンは衆知の如く、光スポットと溝との位置関係で変る。
第４図にその様子を示す、第４図上部の図は溝と光スポ
ットとの位置関係、下部の図はファーフィールドパター
ンの強度分布を示す。
ットとの位置関係、下部の図はファーフィールドパター
ンの強度分布を示す。
従って、第２図（Ａ）の分割センサーの場合Ｔ−Ｔ’の
方向を溝の走る方向（信号トラック方向）に合わせると
ＡＴ誤差信号工ＡＴは、ＩＡＴ＝ ＣＩＡ＋ＩＣ＋ＩＥ
＋ＩＧ＋Ｉ Ｉ＋ＩＫ） −（ＩＢ＋ＩＤ＋ＩＦ＋ＩＨ
＋ＩＪ＋ＩＬ）で得られる。
方向を溝の走る方向（信号トラック方向）に合わせると
ＡＴ誤差信号工ＡＴは、ＩＡＴ＝ ＣＩＡ＋ＩＣ＋ＩＥ
＋ＩＧ＋Ｉ Ｉ＋ＩＫ） −（ＩＢ＋ＩＤ＋ＩＦ＋ＩＨ
＋ＩＪ＋ＩＬ）で得られる。
又、第２図（Ｂ）の分割センサーの場合、ＩＡＴ＝ （
ＩＡ＋ＩＣ＋ＩＥ＋ＩＧ） （ＩＢ＋ＩＤ＋ＩＦ＋Ｌ
Ｈ）で得られる。
ＩＡ＋ＩＣ＋ＩＥ＋ＩＧ） （ＩＢ＋ＩＤ＋ＩＦ＋Ｌ
Ｈ）で得られる。
ＡＴ倍信号おいても１方のビームのみ受光する受光部の
出力の演算でも誤差信号を得ることが出来る。
出力の演算でも誤差信号を得ることが出来る。
次に光磁気により情報信号が差動で得られる理由を示す
。
。
第５図において、記録媒体１９へ入射する光束の偏光面
の方向を又とし、それと垂直方向をＹとする。
の方向を又とし、それと垂直方向をＹとする。
記録媒体１９からの反射光は、第５図（Ａ）の如く磁気
−光学効果によりその偏光面が僅な角度θにだけ傾いて
いる。この傾きは、磁区の上、下向きで時計方向あるい
は反時計方向（θＫ又は−θＫ）であり、その量は大略
１°程度である。
−光学効果によりその偏光面が僅な角度θにだけ傾いて
いる。この傾きは、磁区の上、下向きで時計方向あるい
は反時計方向（θＫ又は−θＫ）であり、その量は大略
１°程度である。
第１図におけるビームスプリッタ−２０により反射され
た光束２１は、偏光素子を通過する。
た光束２１は、偏光素子を通過する。
偏光素子２２の透過軸を、Ｘ方向から大略４５゜傾けて
おくと、偏光面の傾き方向により第５図ににおいて、 Ｓ、＝ （ｃｏｓ （４５°−θＫ））２−（ｃｏｓ（
４５°＋θＫ）２ の信号強度成分が得られる。
おくと、偏光面の傾き方向により第５図ににおいて、 Ｓ、＝ （ｃｏｓ （４５°−θＫ））２−（ｃｏｓ（
４５°＋θＫ）２ の信号強度成分が得られる。
又、第２の分割光２６は偏光素子２２を通過する前に、
１／２波長板２３を通過するので、光束２６の偏光方向
の状態は第５図（Ｂ）の如く、光束２１と比べ９０’回
転している。
１／２波長板２３を通過するので、光束２６の偏光方向
の状態は第５図（Ｂ）の如く、光束２１と比べ９０’回
転している。
従って、偏光素子２２を通過すると、
ｓ’、ｙ＝ （ｃｏｓ （４５°−θＫ） ） ２−
（ｃｏｓ （４５°＋θＫ））２の強度信号成分が生じ
る。
（ｃｏｓ （４５°＋θＫ））２の強度信号成分が生じ
る。
Ｓ、２とギは便宜上、信号Ｐ−Ｐ成分のみを示したもの
であるが、第５図（Ａ）、（Ｂ）からも理解出来るよう
にθにの回転の場合、光束２１は最大、光束２６は最小
の信号振巾となる。
であるが、第５図（Ａ）、（Ｂ）からも理解出来るよう
にθにの回転の場合、光束２１は最大、光束２６は最小
の信号振巾となる。
即ち、光磁気信号により偏光面の回転を第１図の様な構
成で検出すると、光束２１と光束２６から得られる強度
変調は位相反転している事になる。従って、情報信号Ｉ
Ｓは 第２図（Ａ）の場合、 ｌ３＝ ＣＩＡ＋ＩＢ＋ＩＣ＋ＩＥ）＋ＩＥ＋ＩＦ）
−（ＩＧ＋ＩＨ＋Ｉ Ｉ＋Ｉ Ｊ＋ＩＫ＋ＩＬ）又、第
２図（Ｂ）の場合。
成で検出すると、光束２１と光束２６から得られる強度
変調は位相反転している事になる。従って、情報信号Ｉ
Ｓは 第２図（Ａ）の場合、 ｌ３＝ ＣＩＡ＋ＩＢ＋ＩＣ＋ＩＥ）＋ＩＥ＋ＩＦ）
−（ＩＧ＋ＩＨ＋Ｉ Ｉ＋Ｉ Ｊ＋ＩＫ＋ＩＬ）又、第
２図（Ｂ）の場合。
ｌ３＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＣ＋ＩＤ）−（ＩＥ＋ＩＦ＋Ｉ
Ｇ＋ＩＨ）で得られ、情報信号が差動検出される。
Ｇ＋ＩＨ）で得られ、情報信号が差動検出される。
第１０図に示す従来構成と第１図に示す本発明の構成か
ら明らかな様に本発明においては。
ら明らかな様に本発明においては。
光センサーが３個から１個、集束レンズ３個から１個、
ビームスプリッタ−が３個から２個と大幅な部品減少が
図られており、小を化、低コスト化に宥利な構成である
。
ビームスプリッタ−が３個から２個と大幅な部品減少が
図られており、小を化、低コスト化に宥利な構成である
。
更に、第１図における各光学素子を１体化する事により
、組立て時の光学調整が容易となり。
、組立て時の光学調整が容易となり。
且つ使用時の軸ズレも防げ信頼性の高い光ピツクアップ
を実現出来る０例えば、第６図はビームスプリッタ−１
７，２０，１／２波長板２３゜偏光素子２２を接着等で
１体化した例を示したものである。又、第７図はｌ／２
波長板をビームスプリッタ−２０の反射面の直後に配置
した例で、第６図と異なり、同一サイズの平行四辺形ブ
ロック３１．３２を使用出来素子加工が簡略化される。
を実現出来る０例えば、第６図はビームスプリッタ−１
７，２０，１／２波長板２３゜偏光素子２２を接着等で
１体化した例を示したものである。又、第７図はｌ／２
波長板をビームスプリッタ−２０の反射面の直後に配置
した例で、第６図と異なり、同一サイズの平行四辺形ブ
ロック３１．３２を使用出来素子加工が簡略化される。
又、第８図に示す如＜、ｌ／２波長板２３の代りに第２
の光束２６の反射面２３′に誘電膜。
の光束２６の反射面２３′に誘電膜。
金属膜等をい設ける事により偏光面を回転させる事も可
能である。第９図は１回の反射で偏光面を９０’回転さ
せる事が困難な場合、多数回の反射で所望の回転角を得
る例を示したものである。
能である。第９図は１回の反射で偏光面を９０’回転さ
せる事が困難な場合、多数回の反射で所望の回転角を得
る例を示したものである。
又、ＡＦ、ＡＴ誤誤信信号情報信号を検出する為、それ
ぞれの受光部から得られる信号を演算する必要があるが
、光センサー内に受光部の他、演算用の差動ＡＭＰを内
蔵すると外乱ノイズの飛び込みに強い信号検出が可能で
ある。
ぞれの受光部から得られる信号を演算する必要があるが
、光センサー内に受光部の他、演算用の差動ＡＭＰを内
蔵すると外乱ノイズの飛び込みに強い信号検出が可能で
ある。
以上説明したように、本発明は記録媒体からの光束を分
割し、受光面が分割された単一の光検出器で差動検出す
るようにしたので、１、 光ピツクアップがコンパクト
に構成できる。
割し、受光面が分割された単一の光検出器で差動検出す
るようにしたので、１、 光ピツクアップがコンパクト
に構成できる。
２、 差動検出により信号検出のＳ／Ｎ比を向上させる
。
。
３、 部品数を減らし、低コスト化できる。
４、 部品の一体化により、更に高信頼性のピックアッ
プが実現出来る。
プが実現出来る。
５、 光検出器が一つなので、検出器間の特性のバラツ
キに対する配慮か少なくてすみ、位置調整などの簡単で
ある。
キに対する配慮か少なくてすみ、位置調整などの簡単で
ある。
６、 光検出器と同一チップ上に各信号の演算回路を作
成することによって外乱ノイズに強い信号検出が可能で
ある。
成することによって外乱ノイズに強い信号検出が可能で
ある。
等の効果が得られる。
第１図は本発明の光ピツクアップの構成例を示す概略図
、第２図は本発明に用いる光検出器の受光面を示す図、
第３図は本発明におけるＡＦ倍信号検出原理を説明する
図、第４図は本発明におけるＡＴ倍信号検出原理を説明
する図、第５図は本発明における情報信号の検出原理を
説明する図、第６図、第７図、第８図及び第９図は夫々
第１図の光ピツクアップの変形例を示す概略図、第１０
図は従来の光ピツクアップの構成例を示す概略図、第１
１図及び第１２図は夫々差動検出の原理を説明する図で
ある。 １５−−−−−−−−−一半導体レーザー１６−−−−
−−−−−−コリメーターレンズ１７．２０−−−−ビ
ームスプリッタ−１８−−−−−−−−−一対物レンズ １９−−−−−−−−−一記録媒体 ２２ 、２２’−−−ｍ個光素子 ２３−−−−−−−−−−１ ／ ２波長板２４−−−
−−−−−−一光センサー ２５−−−−−−−−−一集束レンズ ２７−−−−−−−−−一反射部。 Ｔ′ 丁′ （Ａ） （Ｂ）
（Ｃ）／／′ （Ｂ） 第６図 第７図 第２圓 第ｃ７図 第１／図 嘉／２０ ゛
、第２図は本発明に用いる光検出器の受光面を示す図、
第３図は本発明におけるＡＦ倍信号検出原理を説明する
図、第４図は本発明におけるＡＴ倍信号検出原理を説明
する図、第５図は本発明における情報信号の検出原理を
説明する図、第６図、第７図、第８図及び第９図は夫々
第１図の光ピツクアップの変形例を示す概略図、第１０
図は従来の光ピツクアップの構成例を示す概略図、第１
１図及び第１２図は夫々差動検出の原理を説明する図で
ある。 １５−−−−−−−−−一半導体レーザー１６−−−−
−−−−−−コリメーターレンズ１７．２０−−−−ビ
ームスプリッタ−１８−−−−−−−−−一対物レンズ １９−−−−−−−−−一記録媒体 ２２ 、２２’−−−ｍ個光素子 ２３−−−−−−−−−−１ ／ ２波長板２４−−−
−−−−−−一光センサー ２５−−−−−−−−−一集束レンズ ２７−−−−−−−−−一反射部。 Ｔ′ 丁′ （Ａ） （Ｂ）
（Ｃ）／／′ （Ｂ） 第６図 第７図 第２圓 第ｃ７図 第１／図 嘉／２０ ゛
Claims (1)
- （１）受光面が複数の部分に分割された単一の光検出器
と、磁気的に情報が記録された記録媒体からの光束を分
割し、分割された光束 を前記光検出器の各々異なる部分に導く手段と、前記分
割された一方の光束の偏光方向 ９０°回転する手段と、前記偏光方向の回転された光束
と他方の光束とを各々強度変調された光束に変換する検
光子と前記光検出器の各部分の出力から情報信号を差動
検出する手段とから成る光ピックアップ。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3905185A JPH0656673B2 (ja) | 1985-02-28 | 1985-02-28 | 光ピツクアツプ |
| US08/195,881 US5661701A (en) | 1985-02-28 | 1994-02-04 | Optical pickup using split beams impinging on different photodetector areas |
| US08/195,882 US5416755A (en) | 1985-02-28 | 1994-02-04 | Optical pickup using split beams impinging on different photo-detector areas |
| US08/275,328 US5488598A (en) | 1985-02-28 | 1994-07-14 | Optical pickup using split beams impinging on different photodetector areas |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3905185A JPH0656673B2 (ja) | 1985-02-28 | 1985-02-28 | 光ピツクアツプ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61198457A true JPS61198457A (ja) | 1986-09-02 |
| JPH0656673B2 JPH0656673B2 (ja) | 1994-07-27 |
Family
ID=12542326
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3905185A Expired - Fee Related JPH0656673B2 (ja) | 1985-02-28 | 1985-02-28 | 光ピツクアツプ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0656673B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61258339A (ja) * | 1985-05-13 | 1986-11-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
| JPS63193355A (ja) * | 1987-02-06 | 1988-08-10 | Nec Corp | 光磁気ヘツド |
| JPH08235664A (ja) * | 1995-12-15 | 1996-09-13 | Sony Corp | 光学ピックアップ装置 |
| US5629911A (en) * | 1992-12-01 | 1997-05-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical information recording/reproduction apparatus including an integrated photodetector used in the detection of focusing and/or tracking error signals |
-
1985
- 1985-02-28 JP JP3905185A patent/JPH0656673B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61258339A (ja) * | 1985-05-13 | 1986-11-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
| JPH051532B2 (ja) * | 1985-05-13 | 1993-01-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | |
| JPS63193355A (ja) * | 1987-02-06 | 1988-08-10 | Nec Corp | 光磁気ヘツド |
| US5629911A (en) * | 1992-12-01 | 1997-05-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical information recording/reproduction apparatus including an integrated photodetector used in the detection of focusing and/or tracking error signals |
| JPH08235664A (ja) * | 1995-12-15 | 1996-09-13 | Sony Corp | 光学ピックアップ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0656673B2 (ja) | 1994-07-27 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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