JPH0695767A - 電源制御組織 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電源制御組織に関し、制御信号の折り返しテ
ストに使用して信号の本数を増加させることなく、異常
装置の切りわけができることを目的とする。 【構成】 複数の外部記憶装置と、該外部記憶装置に電
力を供給する外部記憶用電源と、該外部記憶装置と該外
部記憶用電源とを制御する電源制御装置とからなる電源
制御組織であって、該外部記憶装置は電源投入後一定時
間は該外部記憶装置を診断状態にして診断を行う診断制
御部を有し、該電源制御装置が該外部記憶装置に共通に
送出する制御信号の診断を電源投入時に行う初期診断制
御部を有するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は電源制御組織に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、高速大容量外部記憶として、半導
体ディスク装置が普及され始めた。半導体ディスク装置
は半導体メモリで構成されており、磁気ディスク装置と
同様のアクセス方法ができる。

【０００３】図６は従来の半導体ディスク装置の動作説
明図である。図において、１は上位装置であって、半導
体ディスク装置に対してコマンドを出して動作を指示す
るものである。２は半導体ディスク装置であって、半導
体記憶部4 と磁気ディスク部5 を有する外部記憶装置で
ある。３は制御部であって、半導体ディスク装置2 の制
御を行うものである。４は半導体記憶部であって、半導
体素子によって構成されるメモリである。５は磁気ディ
スク部であって、磁気ディスク装置から構成されるメモ
リである。６は半導体ディスク用電源であり、半導体デ
ィスク装置に電力を供給するものである。７は電源制御
装置であって、複数の半導体ディスク装置2 と当該半導
体ディスク装置2 に電力を供給する半導体ディスク用6
とを制御するものである。

【０００４】半導体ディスク装置は、半導体記憶部4 と
磁気ディスク部5 を持っており、上位装置1 からのコマ
ンドに従い、上位装置1 からの情報を記憶し、また、読
み出して上位装置1 に転送する。この場合の記憶動作は
高速動作を目的とするため半導体記憶部4 で行う。

【０００５】半導体ディスク装置2 の半導体記憶部4 は
半導体素子による記憶であり、電源が切断すると情報が
消滅する。そこで、半導体ディスク装置2 は、電源制御
装置7 から電源切断の通知があると直ちに半導体記憶部
4 の記憶内容を磁気ディスク部5 に転送して、記憶内容
の消失を防止する。電源投入時には再度磁気ディスク部
5 から半導体記憶部4 へ記憶内容を転送する。このよう
な制御は制御部3 が行う。

【０００６】このためには、電源切断の通知があって
も、半導体記憶部4 の記憶内容を磁気ディスク部5 に退
避を完了するまでは電源を切断することができない。そ
こで、半導体ディスク装置2 に対しては、電源制御装置
7 はまず、電源切断通知を行い、半導体ディスク装置2
は半導体記憶部4 の記憶内容の退避を完了するまで電源
切断の抑止信号を電源制御装置7 に送って電源切断を保
留させる。

【０００７】退避完了後、半導体ディスク装置2 は切断
抑止信号を解除し、そこで電源制御装置7 は電源の切断
を行う。このような制御を行うため、電源制御装置7 と
半導体ディスク装置2 は制御信号の授受を行う必要があ
る。

【０００８】そして、この制御信号が正常に機能されな
ければ、貴重なデータが失われることになるので、制御
信号の正常動作を診断する必要がある。このような制御
信号を診断するためには、電源投入時にテストを行うこ
とは既知の技術である。

【０００９】通常は制御信号を診断するために、折り返
しテストの方法が行われている。折り返しテストとは、
あらかじめ決まったパターンの信号を出力し、受け取っ
た側は同一のパターンの信号を返すことにより最初に出
力した信号と同一の信号パターンと比較することによっ
て、その信号の経路の正常性を確認できるという方法で
ある。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかし、各装置の信号
線の本数を減らすために各装置の制御信号の出力線が接
続されてワイヤードオアされている場合には、どの装置
からの信号かが判定できないため、個々の装置の異常を
検出することが出来ないという問題点がある。

【００１１】一方、個々の装置に別々の制御信号を接続
すると、信号線の本数が増加し、従って端子の数が増加
してケーブル本数の増大、筐体の体積の増大の原因とな
るという問題が起きる。

【００１２】本発明はこのような点にかんがみて、電源
の投入時間を個々の装置毎にずらすことによって各装置
の異常を診断する手段を提供することを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記の課題は下記の如く
に構成された電源制御組織によって解決される。図１
は、本発明の原理図である。

【００１４】複数の外部記憶装置32と、該外部記憶装置
32に電力を供給する外部記憶用電源36と、該外部記憶装
置32と該外部記憶用電源36とを制御する電源制御装置37
とからなる電源制御組織であって、該外部記憶装置32は
電源投入後一定時間は該外部記憶装置32を診断状態にし
て診断を行う診断制御部31を有し、該電源制御装置37が
該外部記憶装置32に共通に送出する制御信号の診断を電
源投入時に行う初期診断制御部30を有するように構成す
る。

【００１５】

【作用】電源制御装置37に設けられた初期診断制御部30
は予め定められた順に従って外部記憶装置32の外部記憶
用電源36を一台ずつ起動する。外部記憶用電源36は外部
記憶装置32に電力を供給し、外部記憶装置32は動作を開
始する。

【００１６】外部記憶装置32の診断制御部31は、電源を
投入した時から一定時間を診断状態とする。初期診断制
御部30は、電源が投入されている最初の外部記憶装置32
との間で制御信号の折り返しテストを行うため制御信号
を送出する。外部記憶装置32の診断制御部31は、診断状
態であるため、電源制御装置37からの制御信号を折り返
して出力する。

【００１７】初期診断制御部30は、外部記憶装置32の制
御信号を受け取った場合は制御信号の授受が正常に行わ
れたと判断して、その外部記憶装置32の診断を終了して
次の外部記憶装置32の電源を投入して、２台目の外部記
憶装置32との間で制御信号の折り返しテストを行う。

【００１８】同様にして、装置毎に順番に電源を投入し
て行き、各装置との間で制御信号の診断を行うことによ
って、各外部記憶装置の制御信号の授受機能の診断を行
うことができる。

【００１９】このとき、各外部記憶装置32の診断制御部
31は、診断状態では最初の一回のみ制御信号の折り返し
動作を行い、２回目からは動作しないように制御する。
２台の外部記憶装置32が応答した場合はいずれの装置が
応答したかが識別できず判定が誤るからである。

【００２０】

【実施例】図２は、本発明の一実施例の電源制御組織の
構成図である。図において、３０は初期診断制御部であ
って、制御信号の診断を電源投入時に半導体ディスク装
置の電源を順次投入しながら行うものである。９は診断
部であって、半導体ディスク装置2 内にあって電源投入
から一定時間半導体ディスク装置2 を診断状態にして診
断動作を行うものである。その他、図６と同一符号の物
は同一物である。

【００２１】図３は本発明の一実施例における制御信号
の接続方法を示す図である。図において、１１はケーブ
ルドライバであって、各半導体ディスク装置2a,2b,に制
御信号( 電源切断通知信号) を送出する回路である。１
２はケーブルレシーバであって、各半導体ディスク装置
2a,2b,が送出した制御信号（切断抑止信号）を受け取る
回路である。２０はプルアップ抵抗であって、切断抑止
信号を送出する各半導体ディスク装置2a,2b,のケーブル
ドライバ23a,23b,はオープンコレクタ回路なのでいずれ
かのケーブルドライバがオンになると切断抑止信号は"
L" レベルになるが、どのケーブルドライバもオフのと
き切断抑止信号を"H" レベルにするための抵抗である。
２ａ，２ｂは半導体ディスク装置である。制御信号の診
断のためにそれぞれ制御部9a,9b,を有し、又、電源切断
通知信号を受けるケーブルレシーバ24a,24b,を有し、切
断抑止信号を送出するケーブルドライバ23a,23b,を有す
る。その他、図２と同一符号の物は同一物である。

【００２２】電源制御装置37と複数の半導体ディスク装
置2a,2b,との間の制御信号は２種あり、電源制御装置37
から半導体ディスク装置2a,2b,に対する切断通知信号
が、各半導体ディスク装置2a,2b,に並列で接続されてお
り、半導体ディスク装置2a,2b,からの切断抑止信号が、
ワイヤードオアで電源制御装置37に入力されていること
を示している。

【００２３】図４は本発明の実施例の制御フローチャー
トである。図を参照して本発明の実施例の動作説明を行
う。ステップ80で、電源制御装置37の電源投入を行うと
初期診断制御部30は電源制御装置37の動作状態を診断モ
ードに切り替える。

【００２４】ステップ81で最初の半導体ディスク装置2a
の半導体ディスク用電源6aに対して、電源投入信号を送
出し最初の半導体ディスク装置2aの動作を開始させる。
ステップ90で最初の半導体ディスク装置2aが動作を開始
し、診断部9aは診断時間タイマーを設定する。この時間
の間は診断モードになり、制御信号は有効性を無くす
る。

【００２５】電源制御装置37の初期診断制御部30は、ス
テップ82で、ケーブルドライバ11から切断通知信号を送
出する。ステップ91で、半導体ディスク装置2aはケーブ
ルレシーバ24でこの切断通知信号を受け取り、診断部9a
に通知する。

【００２６】診断部9aはステップ92で切断通知信号の受
取は一回目か否か判定し、一回目であれば、ステップ93
に進む。ステップ93では診断部9aはケーブルドライバ23
から切断抑止信号を送出する。ケーブルドライバ23はオ
ープンコレクタ回路であり、ワイヤードオアを取ってい
るので、接続しているいずれかのケーブルドライバから
信号が"L" レベルで送出されると受けるケーブルレシー
バは"L" レベルを受信することになる。

【００２７】電源制御装置37のケーブルレシーバ12はこ
の信号を初期診断制御部30に通知する。ステップ83で切
断抑止信号を所定時間内に受信したか否かを判定して受
け取ればステップ86に、受け取らなければステップ84に
進む。

【００２８】ステップ86では折り返しテストを行った半
導体ディスク装置2aは正常と判断する。ステップ87で切
断通知信号の送出を中止する。

【００２９】ステップ88で次の半導体ディスク装置の有
無を判定し、なければ初期診断を終了して正常業務を開
始する。装置が有る時はステップ89に進む。ステップ89
で次の半導体ディスク装置2bの電源をオンにしてステッ
プ82へ戻り次の装置のテストを行う。

【００３０】又、ステップ83で切断抑止信号を受信しな
いときは、ステップ84に進むが、ステップ84ではそのと
きテストしている半導体ディスク装置は異常と判定す
る。ステップ85で電源制御装置37が有している表示部(
図示してない) に警報を表示して、ステップ88に戻り次
の装置の診断を始める。

【００３１】これで電源制御装置37の初期診断制御部30
の動作の説明を終了する。半導体ディスク装置2aの診断
部9aはステップ93で切断抑止信号の送出を終わった後、
初期診断制御部30のステップ87の切断通知信号の送出中
止を受けて、ステップ94で切断抑止信号を中止して、ス
テップ91に戻り次の切断通知信号を待つ。

【００３２】ステップ92で切断通知信号の受信回数を図
示してない記憶部に記憶しておき、切断通知信号が二回
目以降の時は無視してステップ95に進みステップ90で設
定したタイマーの時間が経過したとき診断モードを解除
して正常動作を開始する。

【００３３】図５は本発明の一実施例における信号診断
のタイムチャートを示す。半導体ディスク装置2aの電源
が投入されると、電源制御装置37は切断通知信号を出力
する。半導体ディスク装置2aは切断通知信号が変化した
ことを検出し、最初の一回のみは診断のために自己のケ
ーブルドライバから切断抑止信号を送出する。電源制御
装置37はこの信号の変化を検出し、最初に出力した切断
通知信号を元に戻す。半導体ディスク装置2aも同様にこ
の切断通知信号の元に戻ったことを検出して、切断抑止
信号を元に戻す。このようにして制御信号の折り返しテ
ストを行い、信号が変化して元に戻ることを確認して半
導体ディスク装置2aとの間の信号の正常性をテストす
る。

【００３４】次に半導体ディスク装置2bの電源を投入
し、上記と同様にして信号の診断を行う。上記実施例で
は半導体ディスク装置の電源の切断通知信号を例にして
説明したが、本発明はこれに限ることなく、複数の装置
に対する制御信号の折り返しテストに使用して効果があ
る。

【００３５】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明を
複数の装置に対する制御信号の折り返しテストに使用し
て信号の本数を増加させることなく、異常装置の切りわ
けができるという著しい工業的効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の原理図

【図２】 本発明の一実施例の電源制御組織の構成図

【図３】 本発明の一実施例における制御信号の接続方
法

【図４】 本発明の一実施例の制御フローチャート

【図５】 本発明の一実施例のタイムチャート

【図６】 従来の半導体ディスク装置のシステム構成図

【符号の説明】

１ 上位装置 ２ 半導体ディス
ク装置 ３ 制御部 ４ 半導体記憶部 ５ 磁気ディスク部 ６，６ａ，６ｂ 半導体ディスク用電源 ７，３７ 電源制御装置 ９，９ａ，９ｂ 診断部 １１，２３ａ，２３ｂ ケーブルドライバ １２，２４ａ，２４ｂ ケーブルレシーバ ３０ 初期診断制御部 ３１ 診断制御部 ３２ 外部記憶装
置 ３６ 外部記憶用電源 ８０〜９５ 動作ステップ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の外部記憶装置(32)と、該外部記憶
   装置(32)に電力を供給する外部記憶用電源(36)と、該外
   部記憶装置(32)と該外部記憶用電源(36)とを制御する電
   源制御装置(37)とからなる電源制御組織であって、 該外部記憶装置(32)は電源投入後一定時間は該外部記憶
   装置(32)を診断状態にして診断を行う診断制御部(31)を
   有し、 該電源制御装置(37)が該外部記憶装置(32)に共通に送出
   する制御信号の診断を電源投入時に行う初期診断制御部
   (30)を有することを特徴とする電源制御組織。