JPH0695201A

JPH0695201A - カメラの測光制御装置

Info

Publication number: JPH0695201A
Application number: JP4246755A
Authority: JP
Inventors: Hiroyuki Iwasaki; 宏之岩崎
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1992-09-16
Filing date: 1992-09-16
Publication date: 1994-04-08
Anticipated expiration: 2015-11-06
Also published as: EP0588438A1; US5515132A; JP3106720B2

Abstract

(57)【要約】【目的】フリッカーが測光結果に多大な影響を及ぼす
ときにのみその影響を軽減する措置を行うようにしたカ
メラの測光制御装置を提供する。【構成】蓄積型の光電変換素子により被写界を測光
し、被写界の輝度に応じた測光信号を出力する測光手段
７と、光電変換素子の蓄積時間を制御する蓄積時間制御
手段１３と、測光手段７からの測光信号に基づいて輝度
値を演算する輝度値演算手段１０とを備えたカメラの測
光制御装置において、蓄積時間制御手段１３で決定され
た蓄積時間に基づいて、光源のフリッカーによる影響を
軽減するための第１の輝度値演算方式、およびフリッカ
ーによる影響を考慮しない第２の輝度値演算方式のいず
れかを選択する選択手段１４を備え、選択手段１４で選
択された演算方式に従って輝度値を演算するよう輝度値
演算手段１０を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、蓄積型の光電変換素子
を用いて被写界を測光し、その測光出力から輝度値を求
めるカメラの測光制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】この種の蓄積型の光電変換素子を用いた
測光装置にあっては、蛍光灯下などで測光を行う場合に
次のような問題がある。すなわち、蛍光灯などの人口照
明では電源周波数の影響により、図７に示すように周期
的に照明光がゆらぐ、いわゆるフリッカー現象が起き
る。因みにフリッカー周期Ｔｆは、５０Ｈｚの地域では
約１０ｍＳ、また６０Ｈｚの地域では約８．３ｍＳであ
る。このようなフリッカー現象を伴う照明下で測光を行
った場合、素子の蓄積時間ｔがフリッカー周期Ｔｆより
短いと、フリッカー周期のいずれの位相において蓄積を
行ったかによって測光出力がばらつき、正確な輝度値を
得られないおそれがある。そこで、特開昭６２−２５９
０２２号公報に開示された測光装置では、複数回の蓄積
動作を行うとともに各蓄積時間を平均し、その平均値に
基づいて輝度値を算出することによって、フリッカーに
よる影響を最小限に抑制している。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記フリッ
カーが測光結果に多大な影響を及ぼすのは、蓄積時間が
ある所定の範囲に含まれるときであり、それ以外の場合
にはフリッカーの影響を考慮しなくても正確な輝度値を
得ることができる。しかしながら、上記公報に開示され
た測光装置においては、蓄積時間の長さに拘らず常に上
記平均値を演算して輝度値を求めているので、フリッカ
ーの影響を受けない場合に無駄な演算が行われ、輝度値
を迅速に求めることができないという不都合がある。

【０００４】本発明の目的は、フリッカーが測光結果に
多大な影響を及ぼすときにのみその影響を軽減する措置
を行うようにしたカメラの測光制御装置を提供すること
にある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は、蓄積型の光電
変換素子により被写界を測光し、被写界の輝度に応じた
測光信号を出力する測光手段と、光電変換素子の蓄積時
間を制御する蓄積時間制御手段と、測光手段からの測光
信号に基づいて輝度値を演算する輝度値演算手段とを備
えたカメラの測光制御装置に適用される。そして、蓄積
時間制御手段で決定された蓄積時間に基づいて、光源の
フリッカーによる影響を軽減するための第１の輝度値演
算方式、およびフリッカーによる影響を考慮しない第２
の輝度値演算方式のいずれかを選択する選択手段を備
え、選択手段で選択された演算方式に従って前記輝度値
を演算するよう輝度値演算手段を構成し、これにより上
記問題点を解決する。特に請求項２は、第１の輝度値演
算方式が選択されているときには、複数回の測光により
得られた測光信号に基づいて輝度値を演算するようにし
たものである。また請求項３は、蓄積時間が第１の所定
時間より短い場合には上記第１の輝度値演算方式を選択
し、蓄積時間が第１の所定時間以上の場合には第２の演
算方式を選択するようにしたものである。さらに請求項
４は、蓄積時間が第２の所定時間より長い場合には前記
第１の輝度値演算方式を選択し、蓄積時間が前記第２の
所定時間以下の場合には第２の演算方式を選択するよう
にしたものである。さらにまた請求項５は、輝度値算出
手段の出力が未出力の場合には予め決められた所定の蓄
積時間を設定し、それ以外の場合には輝度値算出手段の
出力に基づいて蓄積時間を決定するよう蓄積時間制御手
段を構成したものである。また請求項６は、輝度値算出
手段の出力が未出力の場合には、予め決められた第１の
蓄積時間および第２の蓄積時間を初期蓄積時間として設
定するとともに、測光手段による第１の蓄積時間に基づ
く測光信号と、第２の蓄積時間に基づく測光信号とを用
いて、第２の輝度値演算方式で輝度値を演算するように
したものである。

【０００６】

【作用】蓄積時間制御手段で決定された蓄積時間が所定
の範囲にある場合には、フリッカーによる影響を考慮し
ない第２の輝度値演算方式が選択され、この演算方式に
従って輝度値が演算される。すなわち、フリッカーによ
る影響が測光結果に多大な影響を及ぼすとき以外には、
その影響を除去するための措置は無駄であるからこれを
行わない。

【０００７】

【実施例】図１〜図６により本発明の一実施例を説明す
る。《光学系の説明》図１において、符号１は撮影レンズで
あり、この撮影レンズ１を通過した被写体光は、クイッ
クリターンミラー２，拡散スクリーン３およびペンタプ
リズム４を介して接眼レンズ５にて観察される。一方、
拡散スクリーン３によって拡散された被写体光の一部
は、ペンタプリズム４およびレンズ６を介して測光用の
受光素子７に導かれる。

【０００８】《測光用受光素子および制御系の説明》受
光素子７は、例えばＣＣＤセンサのような蓄積型の光電
変換素子から成り、受光蓄積部７１と、転送部７２と、
電圧変換部７３と、蓄積ゲート部７４とから成る。受光
蓄積部７１は、図２に示す如く、撮影画面全体に相当す
る被写界を測光できるように配置された横２０個，縦１
２個の合計２４０個のセグメントをマトリクス状に配置
して成り、各セグメントで発生した電荷を蓄積する。

【０００９】符号８で示すタイミング回路は、不図示の
クロック発生回路から入力されるマスタークロックによ
り電荷の転送に必要なクロックパルスを作成して転送部
７２へ入力し、転送部７２は、入力されたクロックパル
スに従って、受光蓄積部７１で蓄積した電荷を１画素ず
つ電圧変換部７３へ転送する。電圧変換部７３は、送ら
れてきた２４０個の画素の電荷信号を電圧レベル値にそ
れぞれ変換し、これを測光信号として出力端子からＡ／
Ｄ変換部９へ出力する。Ａ／Ｄ変換部９は、電圧変換部
７３からの測光信号（電圧信号）をコンピュータが認識
可能な数値信号に変換して出力する。また蓄積ゲート部
７４は、制御回路１００を構成する蓄積時間設定部１３
からのパルス信号を受けて受光蓄積部７１に電荷蓄積の
開始と終了を指令するゲートである。

【００１０】制御回路１００は、上記蓄積時間設定部１
３と、選択部１４と、輝度算出部１０と、露出演算部１
２とを有し、蓄積時間設定部１３では、輝度算出部１０
及び露出演算部１２からの情報を基に、次回蓄積時にお
ける最適な蓄積時間を演算して蓄積電荷量の調整を行
う。選択部１４は、上記演算された蓄積時間に基づい
て、フリッカーによる影響を軽減するための措置を行う
か否かを選択する。輝度算出部１０は、レンズ内ＲＯＭ
１１からのレンズ情報と、蓄積時間設定部１３から入力
した蓄積時間と、Ａ／Ｄ変換部９からの測光信号と、選
択部１４の選択結果を用いて輝度値を算出する。露出演
算部１２は、輝度算出部１０で演算された輝度値に基づ
いて露出演算を行い、適正露出値を算出するとともに、
適正露出に対する絞り値およびシャッタースピード値を
求める。そして、不図示のレリーズボタンが押される
と、ミラー２がはね上げられ、絞り及びシャッターが所
定の値に制御され、露出制御が行われる。

【００１１】《蓄積時間を設定する必要性についての説
明》次に、蓄積時間設定部１３によって受光素子７の蓄
積時間を調整する必要性について説明する。一般に、カ
メラの測光装置に要求される測光可能範囲は、ＥＶ０〜
ＥＶ２０、すなわちダイナミックレンジにして２０ＥＶ
程度であるが、現在のＣＣＤはダイナミックレンジが高
々１０ＥＶ程度しかない。そこで、ＣＣＤの蓄積時間を
調整して要求される測光可能範囲を、主要被写体を含む
最適レベルにシフトする必要が生じる。

【００１２】具体的には、被写界での輝度値がＥＶ０〜
ＥＶ２０であると、標準的な撮影レンズを装着した場合
での受光素子面上での照度はおよそ０．０１Ｌｘ〜１０
０００Ｌｘである。受光素子の感度は約２０Ｖ／ｌｘ・
Ｓであり、飽和出力は約２Ｖであるので、蓄積時間が１
０μＳである時には測光可能範囲は約ＥＶ１０〜ＥＶ２
０であり、蓄積時間が１０ｍＳである時には測光可能範
囲はＥＶ０〜ＥＶ１０となる。すなわち、受光素子の蓄
積時間を１０μＳ〜１０ｍＳの範囲で調節することによ
り、初めてカメラの測光装置に要求される測光可能範囲
であるＥＶ０〜ＥＶ２０のダイナミックレンジが実現可
能になる。

【００１３】なお、ＣＣＤを用いて測光を行う場合に
は、上記理由により１回の測光での測光可能範囲は１０
ＥＶの範囲に限定されるが、銀塩フィルムのダイナミッ
クレンジは１０ＥＶよりも更に小さいので問題はない。

【００１４】《メインアルゴリズムの説明》図３は上記
制御回路１００で実行されるメインアルゴリズムを示す
フローチャートである。例えばレリーズ釦が半押し操作
されると図３のプログラムが起動され、まずステップ＃
１０１でフラグｎを初期値である１にセットする。この
フラグｎは、これから行う測光動作が１回目の測光であ
るか否かを判別するためものであり、ｎ＝１の場合には
１回目の測光を、ｎ＝０の場合には２回目以降の測光で
あることを示す。

【００１５】ステップ＃１０２でｎ＝１、すなわち１回
目の測光であると判定されると、ステップ＃１０３でｎ
＝０とし、次いでステップ＃１０４で蓄積時間ｔを予め
決められた値ｔ１（第１の蓄積時間）にセットし、受光
素子７の蓄積動作を行わしめる。ここではｔ１＝１０μ
Ｓ、すなわち測光可能範囲はＥＶ１０〜ＥＶ２０とす
る。ステップ＃１０５では、タイミング回路９５から発
生する所定の電荷読みだしパルスにより、２４０個の測
光信号を転送部７２及び電圧変換部７３を通して読みだ
し、Ａ／Ｄ変換部９によって数値に変換せしめた後に不
図示のメモリに格納する。

【００１６】ステップ＃１０６では、２回目の測光の蓄
積時間ｔを予め決められた値ｔ２（第２の蓄積時間）に
セットし、再度蓄積を行う。ここではｔ２＝１０ｍＳ、
すなわち測光可能範囲はＥＶ０〜ＥＶ１０とする。ステ
ップ＃１０７では、ステップ＃１０５と同様に測光信号
を読みだし、データを上述とは別のメモリへ格納する。
ステップ＃１０８では２つの測光信号を合成する。つま
り、蓄積時間ｔ＝ｔ１の時の測光可能範囲はＥＶ１０〜
ＥＶ２０であり、蓄積時間ｔ＝ｔ２の時の測光可能範囲
はＥＶ０〜ＥＶ１０であるから、これら２回の測光結果
を基にダイナミックレンジがＥＶ０〜ＥＶ２０である測
光信号を作成する。具体的に言うと、ステップ＃１０５
で得られたｔ＝ｔ１における２４０個の輝度データを検
索し、測光下限値以下である領域、すなわちＥＶ１０以
下である領域についてはｔ＝ｔ２の時の測光信号を測光
結果とし、そうでない領域についてはｔ＝ｔ１の時の測
光信号を測光結果とする．この場合、ｔ１とｔ２とでは
蓄積時間が１０００倍違うので、ｔ１でのデータを１０
００倍するか、ｔ２でのデータを１／１０００倍するか
のいずれかの処理を行う。その後、処理はステップ＃１
１９に進む。

【００１７】一方、上記ステップ＃１０２でｎ＝１でな
い、すなわち２回目以降の測光と判定されるとステップ
＃１０９に進み、変数ｋを「１」に設定する。このｋ
は、ステップ＃１１０における測光の回数を示すもの
で、ｋ＝１のときはは１回目の測光を、ｋ＝０のときは
２回目の測光であることを示す。ステップ＃１１０で
は、蓄積時間ｔをメモリから読みだし、この蓄積時間ｔ
にて上記蓄積動作を行わしめる。ここで、蓄積時間ｔは
前回の測光信号に基づいて後述のステップ＃１２０で求
められるものである。

【００１８】ステップＳ１１１でｋ＝１と判定される
と、ステップ＃１０５と同様の要領で測光信号を読みだ
してメモリに格納し、ｋ≠０と判定されるとステップ＃
１１３において、ステップ＃１０５と同様の要領で測光
信号を読みだすとともに、受光素子７の各セグメントに
対して、１回目の測光信号と２回目の測光信号との加算
平均値を求めて再び所定のメモリへ格納する。これによ
り２４０個の平均値が得られることになる。

【００１９】ステップ＃１１４では、ステップ＃１１２
あるいは＃１１３で求めた蓄積時間ｔがＴｆ１（第１の
所定時間）より小である否かを選択部１４にて判別す
る。Ｔｆ１は、測光においてフリッカーの影響が無視で
きなくなる時間である。フリッカーの影響は、蓄積時間
がフリッカー周期より短くなると影響が無視できなくな
るので、５０Ｈｚ地域のフリッカー周期である１０ｍＳ
と、６０Ｈｚ地域のフリッカー周期である８．３ｍＳの
ほぼ中間をとって、Ｔｆ１＝９．２ｍＳとする。ステッ
プ＃１１４が否定されると第２の輝度値演算方式を選択
してステップ＃１１９に進み、肯定されるとステップ＃
１１５に進む。

【００２０】ステップ＃１１５では蓄積時間ｔがＴｆ２
（第２の所定時間）より大であるか否かを選択部１４に
て判別し、否定されると第２の輝度値演算方式を選択し
てステップ＃１１９に進み、肯定されると第１の輝度値
演算方式を選択してステップ＃１１６に進む。このステ
ップ＃１１５の判別を行う理由は次の通りである。蛍光
灯等の人工照明下での輝度値は、高々ＥＶ１４程度、す
なわち受光素子上での照度が約１５６ｌｘ位にしかなら
ないので、それより明るい輝度値が含まれる場合には、
太陽などの自然光による照明と考えて良い。したがっ
て、受光素子上で約１５６ｌｘの明るさを測光するとき
の蓄積時間より蓄積時間ｔが長かった場合には、フリッ
カーの影響はないとみなして差し支えない。そこで、Ｔ
ｆ２は、１５６ｌｘのときの蓄積時間６４０μＳとす
る。

【００２１】ステップ＃１１６では、ｋ＝１か否かを判
別し、ｋ≠１の場合にはもう測光は２回行われているの
でステップ＃１１９へ進み、ｋ＝１の場合には、測光は
まだ１回しか行われていないのでもう１度測光を行うた
めにステップ＃１１７に進む。ステップ＃１１７ではｋ
＝０を代入し、次いでステップ＃１１８において、不図
示のタイマーを作動させて前回の蓄積開始時刻からフリ
ッカー周期の２分の奇数倍の時間が経過するまで待ち、
時間がきたらステップ＃１１０に戻って再度蓄積を開始
する。これは、図６に示すように、フリッカー周期Ｔｆ
の半周期分ずれた時刻で２回の測光い、上述したように
各測光信号を加算平均すれば、ほとんどフリッカーによ
る影響を受けない測光信号が得られるためである。

【００２２】ステップ＃１１９では、輝度値算出部１０
を作動させ、ステップ＃１１２あるいは＃１１３で求め
られた２４０個の測光信号（１回の測光による測光信号
あるいは２回の測光による測光信号の平均値）に基づい
て各測光領域に対応する輝度値ＢＶ（ｍ，ｎ）を所定の
演算式によりそれぞれ演算する。ここで、（ｍ，ｎ）
は、図２に示す受光素子の各セグメントを特定する番地
であり、ｍは横方向を示す１〜２０までの整数、ｎは縦
方向を示す１〜２０までの整数である。

【００２３】ステップ＃１１９Ａでは、露出演算部１２
を作動させ、上記演算された各輝度値に基づいて適正露
出値ＢＶansを求める。ＢＶansの求め方については後で
詳述する。ステップ＃１２０では、蓄積時間設定部１３
を作動させ、次回の測光時における蓄積時間ｔを演算
し、所定のメモリに格納する。この蓄積時間演算方法に
ついても後で詳述する。ステップ＃１２１で不図示のレ
リーズ釦が全押しされたと判定されるとステップ＃１２
２に進み、上記求められた適正露出値ＢＶansに基づい
て絞り、シャッターを駆動し露出制御を行う。全押しさ
れていない場合にはステップ＃１０２に戻る。

【００２４】以上の図３の制御において、ステップ＃１
１２，＃１１３，＃１１９の処理は輝度算出部１３で行
われる。そして、２回の測光による測光信号の平均値を
求め、この平均値に基づいて輝度値を演算する方式が第
１の露出演算方式に相当し、１回の測光による測光信号
から輝度値を演算する方式が第２の露出演算方式に相当
する。

【００２５】以上の手順によれば、光源のフリッカーに
よる影響を軽減するための第１の輝度値演算方式、およ
びフリッカーによる影響を考慮しない第２の輝度値演算
方式のいずれかが蓄積時間に基づいて選択されるので、
フリッカーによる影響が測光結果に多大な影響を及ぼす
とき以外には、その影響を除去するための無駄な演算は
行われない。

【００２６】《露出演算の説明》次に、上記ステップ＃
１１９Ａにおける露出演算処理の一例を図４のフローチ
ャートにより説明する。まずステップ＃２０１におい
て、各測光領域に対応して得られる２４０個の輝度値Ｂ
Ｖ（ｍ，ｎ）のうち、輝度値が１６．３ＥＶを超えるも
のについてはデータを１６．３ＥＶに置換する。これ
は、被写体の中に太陽などの１６．３ＥＶを超える超高
輝度の物体が含まれていた場合には、それらの影響を強
く受けてしまうので、影響を最小限に抑えるための処置
である。

【００２７】ステップ＃２０２では２４０個の測光デー
タが全て１６．３ＥＶに置換されたか否かを判定し、肯
定されるとステップ＃２０３でＢＶans＝１６．３と
し、否定されるとステップ＃２０４において、各輝度値
ＢＶ（ｍ，ｎ）から、BVmax,BVmin,BVh,BVl,BVm,BVcwを
それぞれ求める。これらの変数の内容は以下の通りであ
る。ＢＶmax：２４０個の輝度値のうち、最高輝度のものＢＶmin：２４０個の輝度値のうち、最低輝度のものＢＶh ：２４０個の輝度値のうち、高輝度側から２４
領域の平均輝度値ＢＶl ：２４０個の輝度値のうち、低輝度側から２４
領域の平均輝度値ＢＶm ：２４０個の輝度値の全ての平均値ＢＶcw ：２４０個の輝度値ＢＶ（ｍ，ｎ）のうち、８
≦ｍ≦１３、かつ、４≦ｎ≦９の３６領域（図２にＡで
示す領域）の平均輝度値なお、ここではＢＶh及びＢＶlを求める際に、２４領域
の平均値をとったが、２４領域に限ったものではなく、
これより多くても少なくてもかまわない。また、ＢＶcw
に付いても同様に３６領域の平均値に限ったものではな
く、被写界の中央付近の出力であれば良い。

【００２８】次いでステップ＃２０５では、ＢＶmax−
ＢＶmin＜２か否かを判定し、肯定された場合には、最
大輝度値と最小輝度値との差が小さいので極めてフラッ
トなシーンであると見なせる。したがって、この場合は
どの領域の測光値を選択してもほとんど変わらないの
で、ステップ＃２０６において、適正露出値として信頼
性の高い中央の３６領域の平均輝度値を代入する。すな
わちＢＶans＝ＢＶcwとする。

【００２９】ステップ＃２０５が否定されるとステップ
＃２０７に進み、ＢＶh−ＢＶl＜２か否かを判定する。
肯定された場合には、高輝度領域と低輝度領域との差が
小さくほぼフラットなシーンであると見なせるから、ス
テップ＃２０８において、ＢＶans＝（ＢＶh＋ＢＶl＋ＢＶcw）／３により適正露出値ＢＶansを求める。

【００３０】ステップ＃２０７が否定されるとステップ
＃２０９に進み、ＢＶm−ＢＶcw＞２か否かを判定す
る。肯定された場合には、平均輝度値に比べて中央の輝
度値が小さい、つまり中央部が暗いので逆光であるとみ
なし、ステップ＃２１０でＢＶans＝（ＢＶl＋ＢＶcw）／２により適正露出値ＢＶansを求める。

【００３１】ステップ＃２０９が否定されるとステップ
＃２１１に進み、ＢＶcw−ＢＶm＞２か否かを判定す
る。肯定された場合には、平均輝度値に対して中央部の
輝度値が大きい、つまり中央部が明るいのでスポットラ
イトを浴びているようなシーンであると見なし、ステッ
プ＃２１２で、ＢＶans＝ＢＶcwとする。

【００３２】ステップ＃２１１が否定されるとステップ
＃２１３に進み、ＢＶh−ＢＶm＜０．５か否かを判定す
る。肯定された場合には、高輝度領域と平均輝度値との
差が小さく画面内に小さな暗い被写体が存在するシーン
であると見なし、ステップ＃２１４で、ＢＶans＝（２・ＢＶm＋ＢＶl）／３により適正露出値ＢＶansを求める。

【００３３】ステップ＃２１３が否定されるとステップ
＃２１５に進み、ＢＶm−ＢＶl＜０．５か否かを判定す
る。肯定された場合には、低輝度領域と平均輝度値との
差が小さく画面内に小さな明るい被写体が存在するシー
ンであるとみなし、ステップ＃２１６で、ＢＶans＝（２・ＢＶm＋ＢＶh）／３により適正露出値ＢＶansを求める。

【００３４】ステップ＃２１５が否定されると、上記の
どのシーンにも当てはまらないものは、いわゆる一般的
なシーンであると見なし、るとステップ＃２１７で、ＢＶans＝（ＢＶm＋ＢＶcw）／２により適正露出値ＢＶansを求める。

【００３５】《最適蓄積時間の演算方法の説明》図５
は、上記図３のステップ＃１２０における蓄積時間演算
の詳細を示すフローチャートである。まずステップ＃３
０１では、ＢＶmax−ＢＶmin＜１０か否かを判定する。
肯定された場合には、２４０個の測光信号全てが１回の
測光ダイナミックレンジに収まっているとみなし、ステ
ップ＃３０４で次回の測光基準レベルＢＶtを、輝度値
（測光信号）の最大値と最小値の平均として、ＢＶt＝（ＢＶmax＋ＢＶmin）／２により求める。ここで、測光基準レベルＢＶtは、ある
蓄積時間で測光を行った場合において、測光信号の飽和
レベルのちょうど１／２にあたる測光信号を与える輝度
値を示し、例えば測光可能範囲がＥＶ１０〜ＥＶ２０の
場合には、ＢＶt＝１５である。すなわち、後述するス
テップ＃３１１で用いられる式にＢＶtを代入すること
により、ＢＶtの値が飽和レベルの１／２になるような
測光可能範囲を得る蓄積時間が演算される。

【００３６】ステップ＃３０１が否定された場合には、
前回の測光において、測光上限値以上または測光下限値
以下のデータが存在したことを意味するから、ステップ
＃３０３で前回の測光における高輝度測光限界データ、
すなわち最大値の数Ｎmaxをカウントする。ステップ＃
３０４では、ステッップ＃３０３と同様に、前回の測光
における低輝度測光限界データ、すなわち最小値の数Ｎ
minをカウントする。ステップ＃３０５では前回の測光
における測光基準レベルＢＶtを、ＢＶt＝ｌｏｇ（０．３２／ｔ）／ｌｏｇ２に従って求める。ここで、ｔは前回の測光における蓄積
時間である。例えば、ｔ＝０．０１秒の場合、ＢＶt＝
５となる。

【００３７】次いでステップ＃３０６では、次回の測光
基準レベルＢＶtを、前回の測光基準レベルを用いて、ＢＶt＝ＢＶt＋（Ｎmax−Ｎmin）／１０により求める。この式は、ＮmaxがＮminより多い場合に
は高輝度測光限界データが多いので、次回の測光基準レ
ベルを上げる方向に働き、逆にＮminの方がＮmaxより多
い場合には低輝度測光限界データが多いので、次回の測
光基準レベルを下げる方向に働く。ここで、測光基準レ
ベルを上げるということは、測光可能範囲を高輝度側に
シフトすることであり、測光基準レベルを下げるという
ことは、測光可能範囲を高輝度側にシフトすることであ
る。なお、Ｎmax−Ｎminを１／１０にすることによって
レベルシフト量の最適化をはかっているが、これは、１
／１０に限らずそれぞれ最適化した値を使用してかまわ
ない。

【００３８】ステップ＃３０７ではＢＶt＞１５か否か
を判定し、肯定された場合には、測光基準レベルが測光
上限を超えてしまっているので、ステップ＃３０８で次
回の測光基準レベルＢＶtを測光上限値の１５とする。
このとき、測光可能範囲はＥＶ１０〜ＥＶ２０となる。
ステップ＃３０７が否定されるとステップ＃３０９に進
み、ＢＶt＜５か否かを判定する。ステップ＃３１１が
肯定された場合には、測光基準レベルが測光下限を超え
てしまっているので、ステップ＃３１０で次回の測光基
準レベルＢＶtを測光下限の５とする。このとき、測光
可能範囲はＥＶ０〜ＥＶ１０となる。また、ステップ＃
３０９が否定されるとステップ＃３１１に進む。

【００３９】ステップ＃３１１では、上記ステップ＃３
０２，＃３０６，＃３０８，＃３１０のいずれかで求め
られたＢＶtから、次回の蓄積時間ｔを、ｔ＝０．３２／（２＾ＢＶｔ）によって求め、このｔをメモリの所定番地に格納する。
ここで、＾マークは、べき乗を表すものとする。この蓄
積時間ｔは、上述したようにＢＶtの値が飽和レベルの
１／２になるような測光可能範囲を得る蓄積時間であ
り、ＢＶｔが大きいほど蓄積時間ｔは短くなる。

【００４０】以上の図５の手順によれば、各測光出力に
対応する輝度値の最大値と最小値のとの差が光電変換素
子のダイナミックレンジ１０未満の場合、つまり全ての
測光信号が１回の測光ダイナミックレンジに収まってい
る場合には、最大値と最小値との平均値が、次回測光時
における測光可能範囲の中間値となるように蓄積時間ｔ
が演算される。この蓄積時間ｔにて測光を行えば、得ら
れる測光信号が上記測光可能範囲の上限値および下限値
を越える可能性は低く、１回の測光で最適な露出値を演
算できる可能性が高くなり、次回の撮影を迅速に行うこ
とが可能となる。

【００４１】また、最大値と最小値のとの差が光電変換
素子のダイナミックレンジ１０以上の場合、つまり前回
の測光において、測光可能範囲の上限値以上の輝度値ま
たは下限値以下の輝度値が必ず存在した場合には、最大
値と最小値の個数に応じて蓄積時間ｔが求められる。詳
しくは、最大値の数が最小値の数よりも多い場合には次
回測光時の蓄積時間が前回の蓄積時間よりも短くなるよ
うに（測光可能範囲が高輝度側にシフトされるよう
に）、一方、最大値の数が最小値の数よりも少ない場合
には次回測光時の蓄積時間が前回測光時の蓄積時間より
も長くなるように（測光可能範囲が低輝度側にシフトさ
れるように）蓄積時間ｔが演算される。したがって、こ
の蓄積時間ｔにて測光を行えば、上述と同様に得られる
測光信号が上記測光可能範囲の上限値および下限値を越
える可能性は低く、１回の測光で最適な露出値を演算で
きる可能性が高くなる。

【００４２】以上の実施例の構成において、受光素子７
が測光手段を、蓄積時間設定部１３が蓄積時間設定手段
を、輝度算出部１０が輝度値演算手段を、選択部１４が
選択手段をそれぞれ構成する。

【００４３】なお、受光素子の分割の仕方は実施例に限
定されない。また、フリッカーによる影響を軽減するた
めの措置も上述のものに限定されず、例えば特開昭６２
−２５９０２２号公報に開示されているような方法でも
良い。

【００４４】

【発明の効果】本発明によれば、光源のフリッカーによ
る影響を軽減するための第１の輝度値演算方式、および
フリッカーによる影響を考慮しない第２の輝度値演算方
式のいずれかを蓄積時間に基づいて選択するようにした
ので、フリッカーによる影響が測光結果に多大な影響を
及ぼすとき以外には、その影響を軽減するための無駄な
演算は行われず、迅速に輝度値を求めることが可能とな
る。特に請求項２の発明によれば、上記第１の輝度値演
算方式が選択されているときには、複数回の測光により
得られた測光信号に基づいて輝度値を演算するようにし
たので、フリッカーによる影響を最小限に軽減すること
が可能となる。また請求項３の発明によれば、蓄積時間
が第１の所定時間より短い場合には上記第１の輝度値演
算方式を選択し、その他の場合には第２の演算方式を選
択するようにしたので、蓄積時間がある程度以上長くフ
リッカーの影響を無視できるときにはフリッカーの影響
を除去するための無駄な演算を行わなくて済む。さらに
請求項４の発明によれば、蓄積時間が第２の所定時間よ
り長い場合には第１の輝度値演算方式を選択し、その他
の場合には第２の演算方式を選択するようにしたので、
蓄積時間が極めて短いとき（光源がフリッカーのない太
陽光と考えられるとき）には、フリッカーの影響を除去
するための無駄な演算を行わなくて済む。さらにまた、
請求項５の発明によれば、輝度値が未出力の場合には予
め決められた所定の蓄積時間を設定し、それ以外の場合
には前記輝度値算出手段の出力に基づいて蓄積時間を決
定するようにしたので、最適な蓄積時間を決定すること
ができる。また請求項６の発明によれば、輝度値算出手
段の出力が未出力の場合には、予め決められた第１の蓄
積時間および第２の蓄積時間を初期蓄積時間として設定
し、その第１の蓄積時間に基づく測光信号と、第２の蓄
積時間に基づく測光信号とを用いて輝度値を演算するよ
うにしたので、１回の蓄積では測光信号が素子の測光可
能範囲を越えてしまうような場合でも正確な輝度値を得
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る測光制御装置の一実施例を示すブ
ロック図である。

【図２】受光素子の分割例を示す図である。

【図３】メインアルゴリズムを示すフローチャートであ
る。

【図４】露出演算サブルーチンを示すフローチャートで
ある。

【図５】蓄積時間算出サブルーチンを示すフローチャー
トである。

【図６】フリッカーによる影響を軽減する方法を説明す
る原理図である。

【図７】フリッカーが測光結果に与える影響を説明する
図である。

【符号の説明】

１撮影レンズ２クイックリターンミラー３拡散スクリーン４ペンタプリズム５接眼レンズ６測光用レンズ７受光素子８タイミング回路９Ａ／Ｄ変換部１０輝度算出部１１レンズ内ＲＯＭ１２露出演算部１３蓄積時間設定部１４選択部７１受光素子７２転送部７３電圧変換部７４蓄積ゲート１００制御回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】蓄積型の光電変換素子により被写界を測
光し、被写界の輝度に応じた測光信号を出力する測光手
段と、前記光電変換素子の蓄積時間を制御する蓄積時間制御手
段と、前記測光手段からの測光信号に基づいて輝度値を演算す
る輝度値演算手段とを備えたカメラの測光制御装置にお
いて、前記蓄積時間制御手段で決定された蓄積時間に基づい
て、光源のフリッカーによる影響を軽減するための第１
の輝度値演算方式、および前記フリッカーによる影響を
考慮しない第２の輝度値演算方式のいずれかを選択する
選択手段を備え、前記輝度値演算手段は、前記選択手段で選択された演算
方式に従って前記輝度値を演算することを特徴とするカ
メラの測光制御装置。
【請求項２】前記輝度値演算手段は、前記第１の輝度
値演算方式が選択されているときには、複数回の測光に
より得られた測光信号に基づいて前記輝度値を演算する
ことを特徴とする請求項１に記載のカメラの測光制御装
置。
【請求項３】前記選択手段は、前記蓄積時間が第１の
所定時間より短い場合には前記第１の輝度値演算方式を
選択し、前記蓄積時間が第１の所定時間以上の場合には
前記第２の演算方式を選択することを特徴とする請求項
１に記載のカメラの測光制御装置。
【請求項４】前記選択手段は、前記蓄積時間が第２の
所定時間より長い場合には前記第１の輝度値演算方式を
選択し、前記蓄積時間が前記第２の所定時間以下の場合
には前記第２の演算方式を選択することを特徴とする請
求項１に記載のカメラの測光制御装置。
【請求項５】前記蓄積時間制御手段は、前記輝度値算
出手段の出力が未出力の場合には予め決められた所定の
蓄積時間を設定し、それ以外の場合には前記輝度値算出
手段の出力に基づいて蓄積時間を決定することを特徴と
する請求項１に記載のカメラの測光制御装置。
【請求項６】前記蓄積時間制御手段は、前記輝度値算
出手段の出力が未出力の場合には、予め決められた第１
の蓄積時間および第２の蓄積時間を初期蓄積時間として
設定し、前記輝度値算出手段は、前記測光手段による前
記第１の蓄積時間に基づく測光信号と、前記第２の蓄積
時間に基づく測光信号とを用いて、前記第２の輝度値演
算方式で輝度値を演算することを特徴とする請求項５に
記載のカメラの測光制御装置。