JPS61185733A - スチルカメラ - Google Patents
スチルカメラInfo
- Publication number
- JPS61185733A JPS61185733A JP60025843A JP2584385A JPS61185733A JP S61185733 A JPS61185733 A JP S61185733A JP 60025843 A JP60025843 A JP 60025843A JP 2584385 A JP2584385 A JP 2584385A JP S61185733 A JPS61185733 A JP S61185733A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photometric
- photometry
- aperture
- circuit
- color temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Color Television Image Signal Generators (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光源の特性に応じた絞り込み測光手段を有す
るスチルカメラに関する。
るスチルカメラに関する。
従来、スチルカメラたとえば１眼レフカメラにおいては
、適正な自動露出を行う為、開放測光後に絞り込みを行
い、さらに再度測光を行って、この絞り込み測光した結
果から最適な絞り量あるいはシセソタースピードを決め
て、これらの連動により露出するいわゆる絞り込み再測
光方式が採用されている。
、適正な自動露出を行う為、開放測光後に絞り込みを行
い、さらに再度測光を行って、この絞り込み測光した結
果から最適な絞り量あるいはシセソタースピードを決め
て、これらの連動により露出するいわゆる絞り込み再測
光方式が採用されている。
また、感光フィルムを使用せずに撮像素子たとえば電荷
結合素子などの素子を用い、これらの撮像素子を色温度
検出して撮像素子のホワイトバランスをとる電子スチル
カメラにあっても、絞り込み再測光方式が用いられ、開
放測光と絞り込み測光の両短所を補っている。
結合素子などの素子を用い、これらの撮像素子を色温度
検出して撮像素子のホワイトバランスをとる電子スチル
カメラにあっても、絞り込み再測光方式が用いられ、開
放測光と絞り込み測光の両短所を補っている。
上述したようなスチルカメラでは、光源の特性に対して
次のような問題を生じていた。
次のような問題を生じていた。
太陽光などの自然光を光源とせず、蛍光灯などを光源と
する場合には、光量が周期的に変化するため、短い測光
時間では測光のデータの誤差が大きく、適正露出が容易
でなかった。すなわち、蛍光灯には電源に応じた時間的
変化があり、これに対して測光時間をたとえばミリセコ
ンドオーダーとすると、およそ１周期内外の測光データ
によってシャッター動作を行う場合も生じ、露出誤差が
少なくなかった。
する場合には、光量が周期的に変化するため、短い測光
時間では測光のデータの誤差が大きく、適正露出が容易
でなかった。すなわち、蛍光灯には電源に応じた時間的
変化があり、これに対して測光時間をたとえばミリセコ
ンドオーダーとすると、およそ１周期内外の測光データ
によってシャッター動作を行う場合も生じ、露出誤差が
少なくなかった。
これに対して、測光時間を長くとることによって周期的
に変化する蛍光灯の光量を平均化した場合は、安定した
露出も可能にはなるが、一様に測光時間を長時間化する
場合には、本来短くともよい測光時間が自然光を光源と
するときでも長いため、測光時間とシャッター動作のタ
イムラグが生じ、直前測光ができなくなるなどの弊害が
発生していた。
に変化する蛍光灯の光量を平均化した場合は、安定した
露出も可能にはなるが、一様に測光時間を長時間化する
場合には、本来短くともよい測光時間が自然光を光源と
するときでも長いため、測光時間とシャッター動作のタ
イムラグが生じ、直前測光ができなくなるなどの弊害が
発生していた。
そこで、本発明は、上述の問題点に鑑み、光源を選ばず
に適正な露光を行うスチルカメラを提供することを目的
とする。
に適正な露光を行うスチルカメラを提供することを目的
とする。
色温度検出手段と測光手段および絞り込み制御手段を有
するスチルカメラにおいて、上記色温度検出手段からの
検出出力により、上記測光手段の測光単位時間を変える
ことを特徴とするスチルカメラにより上述の問題点を解
決する。
するスチルカメラにおいて、上記色温度検出手段からの
検出出力により、上記測光手段の測光単位時間を変える
ことを特徴とするスチルカメラにより上述の問題点を解
決する。
色温度検出手段から光源の特性の応じた検出出力をして
、この検出出力信号から測光手段の測光単位時間を上記
光源の特性に応じて変化させる。
、この検出出力信号から測光手段の測光単位時間を上記
光源の特性に応じて変化させる。
そして、この測光単位時間を変化させることによって光
源に応じたサンプリングを行い、絞りを制御し正確な露
出を行う。
源に応じたサンプリングを行い、絞りを制御し正確な露
出を行う。
本発明の好適な実施例を図面を参照しながら説明する。
第１図に示すように本実施例の電子スチルカメラ１は、
絞り８とレンズ１９とを有するレンズ部１８を、撮像素
子９の光軸上でカメラ本体に接続するように取り付けて
いる。カメラ本体側には、露出時にはね上がるクイック
リタンミラー１１が撮像素子９のレンズ部１８取り付は
側にフォーカルプレンシャッター１０を間に位置させて
取り付けられ、このクイックリタンミラー１１の上部に
は、マット１４を介してペンタプリズム１３が取り付け
られ、このペンタプリズム１３にはアイピースレンズ１
５と測光素子７が取り付けられている。
絞り８とレンズ１９とを有するレンズ部１８を、撮像素
子９の光軸上でカメラ本体に接続するように取り付けて
いる。カメラ本体側には、露出時にはね上がるクイック
リタンミラー１１が撮像素子９のレンズ部１８取り付は
側にフォーカルプレンシャッター１０を間に位置させて
取り付けられ、このクイックリタンミラー１１の上部に
は、マット１４を介してペンタプリズム１３が取り付け
られ、このペンタプリズム１３にはアイピースレンズ１
５と測光素子７が取り付けられている。
さらに、この電子スチルカメラ１は、一般の感光式カメ
ラと異なり、感光式フィルムの代わりにたとえば電荷結
合素子などからなる撮像素子９を備えているため、電子
スチルカメラ１の外部光６をたとえばフォトダイオード
等からなるセンサー５によって検知して、上記撮像素子
９からの赤、緑、青の各色の信号のゲインを調整するた
めの出力をする色温度検出手段として色温度検出回路２
が設けられている。
ラと異なり、感光式フィルムの代わりにたとえば電荷結
合素子などからなる撮像素子９を備えているため、電子
スチルカメラ１の外部光６をたとえばフォトダイオード
等からなるセンサー５によって検知して、上記撮像素子
９からの赤、緑、青の各色の信号のゲインを調整するた
めの出力をする色温度検出手段として色温度検出回路２
が設けられている。
一方、上記ペンタプリズム１３に取り付けられ、たとえ
ばフォトダイオードなどからなる測光素子７は、上記色
温度検出回路２からの出力を絞り込み制御手段としての
システム制御回路４を介して該出力に応じた測光単位時
間を有する測光手段としての測光回路３に接続をしてお
り、さらに該測光回路３は、上記システム制御回路４に
上記測光素子７からの出力に応じて信号を送るために接
続をし、上記システム制御回路４は、上記絞り８を絞り
操作部材１７を介して制御する絞り込み機構部１２と、
上記フォーカルプレンシャッター１０を操作するフォー
カルプレンシャッター機構部１６に、これらを制御する
ために接続している。
ばフォトダイオードなどからなる測光素子７は、上記色
温度検出回路２からの出力を絞り込み制御手段としての
システム制御回路４を介して該出力に応じた測光単位時
間を有する測光手段としての測光回路３に接続をしてお
り、さらに該測光回路３は、上記システム制御回路４に
上記測光素子７からの出力に応じて信号を送るために接
続をし、上記システム制御回路４は、上記絞り８を絞り
操作部材１７を介して制御する絞り込み機構部１２と、
上記フォーカルプレンシャッター１０を操作するフォー
カルプレンシャッター機構部１６に、これらを制御する
ために接続している。
上記色温度検出回路２からの出力をシステム制御回路４
を介して該出力に応じた測光単位時間を選択する測光回
路３について詳述すると、この測光回路３のリセットの
周期を光源である外部光６の特性に応じて可変としたり
、回路の積分時定数を外部光６の特性に応じて静電容量
の異なるコンデンサーを選択すること等によって変化さ
せるものである。たとえば外部光６が太陽光などの自然
光の場合には、リセットの周期を短い周期のクロックパ
ルスで制御することによって測光単位時間を短くし絞り
込み動作と絞り込み測光を迅速に行うことができる。一
方、外部光６が蛍光灯などの周期的な変化をする光源の
場合には、リセットの周期を長い周期のクロックパルス
で制御することによって測光単位時間を長くし絞り込み
動作をゆっくりと行うとともに平均化された精度の高い
絞り込み測光を実現する。
を介して該出力に応じた測光単位時間を選択する測光回
路３について詳述すると、この測光回路３のリセットの
周期を光源である外部光６の特性に応じて可変としたり
、回路の積分時定数を外部光６の特性に応じて静電容量
の異なるコンデンサーを選択すること等によって変化さ
せるものである。たとえば外部光６が太陽光などの自然
光の場合には、リセットの周期を短い周期のクロックパ
ルスで制御することによって測光単位時間を短くし絞り
込み動作と絞り込み測光を迅速に行うことができる。一
方、外部光６が蛍光灯などの周期的な変化をする光源の
場合には、リセットの周期を長い周期のクロックパルス
で制御することによって測光単位時間を長くし絞り込み
動作をゆっくりと行うとともに平均化された精度の高い
絞り込み測光を実現する。
続いて、上述した構造の電子スチルカメラ１の動作を説
明する。
明する。
先ず、測光から露光までの一連の動作の前に、外部光６
をセンサー５を介して色温度検出回路２で測光する。こ
の色温度検出回路２は、電子スチルカメラに一般に設け
られているものから容易に電気信号を取り出して、外部
光６の特性を判断し、その結果をシステム制御回路４を
介して測光回路３に送り、上述した測光回路３の測定単
位時間を外部光６に応じて選択させる。外部光６の特性
の判断は、たとえば自然光と蛍光灯光の場合のセンサー
５の出力レベルの違いや、色温度のパターンの違いによ
って判断され、外部光６の強度に応じて出力する場合た
とえばセンサー５にフォトダイオード等を使用したとき
は、光源の周期的変化の存否を弁別する回路を付加する
ことができる。また、測光回路３への電気信号の伝送は
システム制御回路４を介さずともよい。
をセンサー５を介して色温度検出回路２で測光する。こ
の色温度検出回路２は、電子スチルカメラに一般に設け
られているものから容易に電気信号を取り出して、外部
光６の特性を判断し、その結果をシステム制御回路４を
介して測光回路３に送り、上述した測光回路３の測定単
位時間を外部光６に応じて選択させる。外部光６の特性
の判断は、たとえば自然光と蛍光灯光の場合のセンサー
５の出力レベルの違いや、色温度のパターンの違いによ
って判断され、外部光６の強度に応じて出力する場合た
とえばセンサー５にフォトダイオード等を使用したとき
は、光源の周期的変化の存否を弁別する回路を付加する
ことができる。また、測光回路３への電気信号の伝送は
システム制御回路４を介さずともよい。
この色温度検出動作とフォーカルプレンシャッター１０
のシャッタースピードから求まる概略絞り量２１を決め
る開放測光を予備動作として、第２図に示すように絞り
込み測光から露光までの一連の動作を行う。本実施例に
おいては、絞り込み測光によって絞り量２１を最終的に
微調整する動作を説明するが、絞り込み測光によって最
終的にシャッタースピードを微調整して、適正露出を行
うようにしてもよい。
のシャッタースピードから求まる概略絞り量２１を決め
る開放測光を予備動作として、第２図に示すように絞り
込み測光から露光までの一連の動作を行う。本実施例に
おいては、絞り込み測光によって絞り量２１を最終的に
微調整する動作を説明するが、絞り込み測光によって最
終的にシャッタースピードを微調整して、適正露出を行
うようにしてもよい。
上記電子スチルカメラ１を被写体に対峙させスチルレリ
ーズスイッチの押圧動作（時刻Ｔｏ）から、レリーズ信
号２０が生ずる。このレリーズ信号２０の発生から絞り
８の動作が開始する。この絞り８の動作は、システム制
御回路４からの信号によって絞り操作部材１７と絞り込
み機構部１２から行われ、太陽光Ａと蛍光灯光Ｂの各光
源によって、測光回路出力２２．２３の測光単位時間（
第２図中のｔｌ、ｔ２に対応する。）が異なり、従って
、絞り量２１の絞り込み時間ＴＬ、Ｔ２も異なることに
なる。
ーズスイッチの押圧動作（時刻Ｔｏ）から、レリーズ信
号２０が生ずる。このレリーズ信号２０の発生から絞り
８の動作が開始する。この絞り８の動作は、システム制
御回路４からの信号によって絞り操作部材１７と絞り込
み機構部１２から行われ、太陽光Ａと蛍光灯光Ｂの各光
源によって、測光回路出力２２．２３の測光単位時間（
第２図中のｔｌ、ｔ２に対応する。）が異なり、従って
、絞り量２１の絞り込み時間ＴＬ、Ｔ２も異なることに
なる。
この絞り８の動作時には、同時に測光回路３で測光素子
７からの電気信号を受は絞り込み測光を行っており、上
記測光単位時間ｔｌ、ｔ２ごとに測光回路３から測光回
路出力２２．２３を出力し、上記開放測光で既に求めら
れた概略絞り量との差異を検知しながら動作する。この
測光回路３の出力は、太陽光Ａに対して測光回路出力２
２となり、蛍光灯光Ｄに対して測光回路出力２３のよう
になる。本実施例では、測光回路３の測光回路出力２３
は、測光単位時間ｔ１、ｔ２を決定するパルス信号２４
．２５と静電容量の異なるコンデンサとを共に変調させ
て決めているため、測光回路出力２２はパルス信号２４
に基づいて急峻で短い周期の鋸歯状の信号になり、測光
回路出力２３は周期の長いパルス信号２５に基づくとと
もに光量が脈動する蛍光灯光Ｂを積分しているため緩慢
で非線型な立ち上がりをする信号になっている。
７からの電気信号を受は絞り込み測光を行っており、上
記測光単位時間ｔｌ、ｔ２ごとに測光回路３から測光回
路出力２２．２３を出力し、上記開放測光で既に求めら
れた概略絞り量との差異を検知しながら動作する。この
測光回路３の出力は、太陽光Ａに対して測光回路出力２
２となり、蛍光灯光Ｄに対して測光回路出力２３のよう
になる。本実施例では、測光回路３の測光回路出力２３
は、測光単位時間ｔ１、ｔ２を決定するパルス信号２４
．２５と静電容量の異なるコンデンサとを共に変調させ
て決めているため、測光回路出力２２はパルス信号２４
に基づいて急峻で短い周期の鋸歯状の信号になり、測光
回路出力２３は周期の長いパルス信号２５に基づくとと
もに光量が脈動する蛍光灯光Ｂを積分しているため緩慢
で非線型な立ち上がりをする信号になっている。
上記測光回路出力２２．２３は、上述したようにパルス
信号２４．２５のリセットによって測光単位時間ｔ、、
ｔ２を周期とする略鋸歯状の信号になっている。そして
、測光回路出力２２．２３の読み取りは、パルス信号２
４．２５のリセット直前のデータをサンプリングするこ
とによって得ることができ、このサンプリングされた信
号をもとに、適正露出を行う絞り８の絞り量で絞り８の
絞り込み動作を停止させる。上記データは、上述したよ
うに太陽先人に対しては短い各周期で取り込まれて、結
局迅速に絞り込み動作を停止（第２図のＴ１に停止）す
る。従って、露出時のタイムラグを懸念するａ・要はな
い。また、蛍光灯光Ｂに対しては長い各周期で取り込ま
れ、その各データは平均化されているため、高精度のデ
ータになっている。
信号２４．２５のリセットによって測光単位時間ｔ、、
ｔ２を周期とする略鋸歯状の信号になっている。そして
、測光回路出力２２．２３の読み取りは、パルス信号２
４．２５のリセット直前のデータをサンプリングするこ
とによって得ることができ、このサンプリングされた信
号をもとに、適正露出を行う絞り８の絞り量で絞り８の
絞り込み動作を停止させる。上記データは、上述したよ
うに太陽先人に対しては短い各周期で取り込まれて、結
局迅速に絞り込み動作を停止（第２図のＴ１に停止）す
る。従って、露出時のタイムラグを懸念するａ・要はな
い。また、蛍光灯光Ｂに対しては長い各周期で取り込ま
れ、その各データは平均化されているため、高精度のデ
ータになっている。
このように外部光６の特性に応じた絞り込み測光を行い
、上記サンプリング信号によって適正露出を可能とする
絞り量２・１となっていることを検知したところで、シ
ステム制御回路４から絞り込み機構部１２に絞り込み停
止信号２６を送って絞り８の絞り込み動作を止め、続い
て、クイックリタンミラー１１がはね上がるミラー動作
２７を行って、シャッターレリーズ信号２８に基づいて
フォーカルプレンシャッター１０の開閉動作を行い、撮
像素子９に所望の電荷による像を形成する。
、上記サンプリング信号によって適正露出を可能とする
絞り量２・１となっていることを検知したところで、シ
ステム制御回路４から絞り込み機構部１２に絞り込み停
止信号２６を送って絞り８の絞り込み動作を止め、続い
て、クイックリタンミラー１１がはね上がるミラー動作
２７を行って、シャッターレリーズ信号２８に基づいて
フォーカルプレンシャッター１０の開閉動作を行い、撮
像素子９に所望の電荷による像を形成する。
なお、上述の実施例では、絞り込み再測光方式に基づい
て説明したが、本発明のスチルカメラは、絞り込み測光
方式についても適用することができ、さらに、絞り込み
再測光方式の場合は、シャッター優先、絞り優先あるい
は両優先のスチルカメラにも通用することができる。ま
た、上述の実施例に限定されず、撮像素子９を用いない
一般の感光式フィルムを使用する感光式スチルカメラに
応用してもよく、さらに、色温度検出回路２を持たない
スチルカメラにあっては、露光計などの回路から外部光
６を検知してもよい。さらにまた、接続は電気的接続に
限定されず先約接続でもよい。
て説明したが、本発明のスチルカメラは、絞り込み測光
方式についても適用することができ、さらに、絞り込み
再測光方式の場合は、シャッター優先、絞り優先あるい
は両優先のスチルカメラにも通用することができる。ま
た、上述の実施例に限定されず、撮像素子９を用いない
一般の感光式フィルムを使用する感光式スチルカメラに
応用してもよく、さらに、色温度検出回路２を持たない
スチルカメラにあっては、露光計などの回路から外部光
６を検知してもよい。さらにまた、接続は電気的接続に
限定されず先約接続でもよい。
本発明に係るスチルカメラは、たとえば自然光や蛍光灯
光などの外部光の特性の変化に応じた絞り込み再測光を
行うことができるため、必要な露出条件で正確に露出す
ることができる。また、これら外部光からの測光単位時
間の選択を閉ループ制御で短い時間にすることができる
など優れた利点を有する。
光などの外部光の特性の変化に応じた絞り込み再測光を
行うことができるため、必要な露出条件で正確に露出す
ることができる。また、これら外部光からの測光単位時
間の選択を閉ループ制御で短い時間にすることができる
など優れた利点を有する。
第１図は本発明の詳細な説明するスチルカメラの概略構
造を示す断面図であり、第２図はスチルカメラの動作を
説明する信号図である。 １・・・スチルカメラ（電子スチルカメラ）２・・・色
温度検出手段（回路） ３・・・測光手段（回路） ４・・・システム制御手段（回路） ６・・・外部光 ７・・・測光素子 ８・ ・ ・絞り
造を示す断面図であり、第２図はスチルカメラの動作を
説明する信号図である。 １・・・スチルカメラ（電子スチルカメラ）２・・・色
温度検出手段（回路） ３・・・測光手段（回路） ４・・・システム制御手段（回路） ６・・・外部光 ７・・・測光素子 ８・ ・ ・絞り
Claims (1)
- 色温度検出手段と測光手段および絞り込み制御手段を有
するスチルカメラにおいて、上記色温度検出手段からの
検出出力により、上記測光手段の測光単位時間を変える
ことを特徴とするスチルカメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60025843A JPS61185733A (ja) | 1985-02-13 | 1985-02-13 | スチルカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60025843A JPS61185733A (ja) | 1985-02-13 | 1985-02-13 | スチルカメラ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61185733A true JPS61185733A (ja) | 1986-08-19 |
Family
ID=12177129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60025843A Pending JPS61185733A (ja) | 1985-02-13 | 1985-02-13 | スチルカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61185733A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61247173A (ja) * | 1985-04-25 | 1986-11-04 | Canon Inc | 撮像装置 |
| JPS6370232A (ja) * | 1986-09-11 | 1988-03-30 | Fuji Photo Film Co Ltd | 電子スチルカメラの露光制御装置 |
| US5515132A (en) * | 1992-09-16 | 1996-05-07 | Nikon Corporation | Photometric control device for camera |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5479625A (en) * | 1977-12-08 | 1979-06-25 | Nippon Chemical Ind | Camera light ac noise warning device |
| JPS5730819A (en) * | 1980-07-30 | 1982-02-19 | Olympus Optical Co Ltd | Reflection photometry type automatic exposure camera |
-
1985
- 1985-02-13 JP JP60025843A patent/JPS61185733A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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