JPH0685156A - 半導体装置用リードフレーム - Google Patents
半導体装置用リードフレームInfo
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- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】半導体装置の電源ノイズ対策をICペレットに
近い場所のリードフレーム上で行ない、配線抵抗等の影
響を受けずにノイズ低減の効率を上げる。 【構成】半導体装置用リードフレームのアイランドを下
部導電体2と上部導電体3の2層の導電体とこの2層の
導電体にはさまれた誘電体6の3層で形成しアイランド
にコンデンサを形成する。これを電源グランド間のバイ
パスコンデンサとし電源ノイズをICペレット1により
近い場所で低減させる。
近い場所のリードフレーム上で行ない、配線抵抗等の影
響を受けずにノイズ低減の効率を上げる。 【構成】半導体装置用リードフレームのアイランドを下
部導電体2と上部導電体3の2層の導電体とこの2層の
導電体にはさまれた誘電体6の3層で形成しアイランド
にコンデンサを形成する。これを電源グランド間のバイ
パスコンデンサとし電源ノイズをICペレット1により
近い場所で低減させる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置用リードフレ
ームに関し、特に中心部にICペレットを固定するアイ
ランドを有する半導体装置用リードフレームに関する。
ームに関し、特に中心部にICペレットを固定するアイ
ランドを有する半導体装置用リードフレームに関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体装置用リードフレームは、
図2(a),(b)に示すように、アイランド10は1
層の導電体によって構成されている。ICペレット1
は、樹脂接着剤5でアイランド10に固定される。通
常、アイランド10はICペレット1の回路型式によ
り、グランド電位又は電源電位に固定される。IC電源
ピン7はICペレット1の電源パッドに、ICグランド
ピン8はグランドパッドにそれぞれ導電ワイヤ9でボン
ディングされ、半導体装置用リードフレームとICペレ
ット1は電気的に導通が取られる。
図2(a),(b)に示すように、アイランド10は1
層の導電体によって構成されている。ICペレット1
は、樹脂接着剤5でアイランド10に固定される。通
常、アイランド10はICペレット1の回路型式によ
り、グランド電位又は電源電位に固定される。IC電源
ピン7はICペレット1の電源パッドに、ICグランド
ピン8はグランドパッドにそれぞれ導電ワイヤ9でボン
ディングされ、半導体装置用リードフレームとICペレ
ット1は電気的に導通が取られる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来の半導体装置
用リードフレームでは、電源ノイズ対策として半導体装
置外部に電源グランド間バイパスコンデンサを取り付け
たりしていた。このため、ICペレットの近くで電源ノ
イズ対策を行うことができず対策箇所からICペレット
の電源迄の間に配線抵抗等の影響を受けるという問題点
があった。
用リードフレームでは、電源ノイズ対策として半導体装
置外部に電源グランド間バイパスコンデンサを取り付け
たりしていた。このため、ICペレットの近くで電源ノ
イズ対策を行うことができず対策箇所からICペレット
の電源迄の間に配線抵抗等の影響を受けるという問題点
があった。
【0004】本発明の目的は、配線抵抗等の影響を受け
ることがなく電源ノイズ対策が可能な半導体装置用リー
ドフレームを提供することにある。
ることがなく電源ノイズ対策が可能な半導体装置用リー
ドフレームを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、ICペレット
を搭載するアイランドと、該アイランドの周囲に配置さ
れたIC電源ピンとICグランドピンと信号ピンと、前
記アイランドを支持するつりピンとを有する半導体装置
用リードフレームにおいて、前記アイランドが導電体と
導電体に挟持された誘電体の3層構造を有し、前記導電
体のそれぞれを前記IC電源ピンと前記ICグランドピ
ンに接続することにより前記アイランドをコンデンサの
構造とする。
を搭載するアイランドと、該アイランドの周囲に配置さ
れたIC電源ピンとICグランドピンと信号ピンと、前
記アイランドを支持するつりピンとを有する半導体装置
用リードフレームにおいて、前記アイランドが導電体と
導電体に挟持された誘電体の3層構造を有し、前記導電
体のそれぞれを前記IC電源ピンと前記ICグランドピ
ンに接続することにより前記アイランドをコンデンサの
構造とする。
【0006】
【実施例】以下に、本発明の実施例について図面を参照
して説明する。
して説明する。
【0007】図1(a),(b)は本発明の一実施例に
ICペレットを搭載した平面図及びそのA−A′線断面
図である。
ICペレットを搭載した平面図及びそのA−A′線断面
図である。
【0008】図1(a),(b)に示すように、半導体
装置用リードフレームは、アイランドが上部導電体3と
下部導電体2と上部導電体3と下部導電体2に挟持され
た誘電体6の3層からなる構造を有し、コンデンサを形
成する。
装置用リードフレームは、アイランドが上部導電体3と
下部導電体2と上部導電体3と下部導電体2に挟持され
た誘電体6の3層からなる構造を有し、コンデンサを形
成する。
【0009】ICペレット1は回路型式がCMOS又は
NMOSタイプであり、樹脂接着剤5で上部導電体3に
固定されている。下部導電体2はIC電源ピン7とIC
ペレット1の電源パッドにそれぞれ導電ワイヤ9で接続
され、上部導電体3はICグランドピン8とICペレッ
ト1のグランドパッドにそれぞれ導電ワイヤ9で接続さ
れている。
NMOSタイプであり、樹脂接着剤5で上部導電体3に
固定されている。下部導電体2はIC電源ピン7とIC
ペレット1の電源パッドにそれぞれ導電ワイヤ9で接続
され、上部導電体3はICグランドピン8とICペレッ
ト1のグランドパッドにそれぞれ導電ワイヤ9で接続さ
れている。
【0010】この結果、下部導電体2が電源側、上部導
電体3がグランド側のICペレット1の電源グランド間
バイパスコンデンサが形成され、ICペレット1に近い
場所で電源ノイズ対策をとることができる。
電体3がグランド側のICペレット1の電源グランド間
バイパスコンデンサが形成され、ICペレット1に近い
場所で電源ノイズ対策をとることができる。
【0011】また、誘電体6及び上部導電体3から下部
導電体2の距離及び下部導電体2の面積を変化させるこ
とにより半導体装置の特性に応じたコンデンサ容量をき
めることができる。
導電体2の距離及び下部導電体2の面積を変化させるこ
とにより半導体装置の特性に応じたコンデンサ容量をき
めることができる。
【0012】また、回路型式がCMOS,NMOSタイ
プの半導体装置の場合通常、サブ側をグランド電位とす
るので、樹脂接着材5が導通性を有する場合でも本実施
例に問題はない。
プの半導体装置の場合通常、サブ側をグランド電位とす
るので、樹脂接着材5が導通性を有する場合でも本実施
例に問題はない。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、半導体装
置用リードフレームのアイランドを2層の導電体とこの
2層の導電体に挟持された誘電体からなる3層構造と
し、導電体のそれぞれを電源及びグランドに接続し、電
源グランド間のバイパスコンデンサをアイランドに形成
することにより、ICペレットに近い場所で配線抵抗等
の影響を受けることがなく電源ノイズを対策することが
できる効果がある。
置用リードフレームのアイランドを2層の導電体とこの
2層の導電体に挟持された誘電体からなる3層構造と
し、導電体のそれぞれを電源及びグランドに接続し、電
源グランド間のバイパスコンデンサをアイランドに形成
することにより、ICペレットに近い場所で配線抵抗等
の影響を受けることがなく電源ノイズを対策することが
できる効果がある。
【図1】本発明の一実施例にICペレットを搭載した平
面図及びそのA−A′線断面図である。
面図及びそのA−A′線断面図である。
【図2】従来の半導体装置用リードフレームにICペレ
ットを搭載した平面図及びそのA−A′線断面図であ
る。
ットを搭載した平面図及びそのA−A′線断面図であ
る。
1 ICペレット 2 下部導電体 3 上部導電体 4 つりピン 5 樹脂接着材 6 誘電体 7 IC電源ピン 8 ICグランドピン 9 導電体ワイヤ 10 アイランド 11 信号ピン
Claims (1)
- 【請求項1】 ICペレットを搭載するアイランドと、
該アイランドの周囲に配置されたIC電源ピンとICグ
ランドピンと信号ピンと、前記アイランドを支持するつ
りピンとを有する半導体装置用リードフレームにおい
て、前記アイランドが導電体と導電体に挟持された誘電
体の3層構造を有し、前記導電体のそれぞれを前記IC
電源ピンと前記ICグランドピンに接続することにより
前記アイランドをコンデンサの構造としたことを特徴と
する半導体装置用リードフレーム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4234467A JPH0685156A (ja) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | 半導体装置用リードフレーム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4234467A JPH0685156A (ja) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | 半導体装置用リードフレーム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0685156A true JPH0685156A (ja) | 1994-03-25 |
Family
ID=16971467
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4234467A Withdrawn JPH0685156A (ja) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | 半導体装置用リードフレーム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0685156A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ITUB20161121A1 (it) * | 2016-02-26 | 2017-08-26 | St Microelectronics Srl | Procedimento per integrare condensatori in dispositivi a seminconduttore e corrispondente dispositivo |
-
1992
- 1992-09-02 JP JP4234467A patent/JPH0685156A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ITUB20161121A1 (it) * | 2016-02-26 | 2017-08-26 | St Microelectronics Srl | Procedimento per integrare condensatori in dispositivi a seminconduttore e corrispondente dispositivo |
US10283441B2 (en) | 2016-02-26 | 2019-05-07 | Stmicroelectronics S.R.L. | Method of integrating capacitors on lead frame in semiconductor devices |
US10593614B2 (en) | 2016-02-26 | 2020-03-17 | Stmicroelectronics S.R.L. | Integrated capacitors on lead frame in semiconductor devices |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19991102 |