JP2606631B2 - マスタースライス型半導体集積回路装置 - Google Patents
マスタースライス型半導体集積回路装置Info
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はマスタースライス型半導
体集積回路装置に関し、特にPGA(Pin Grid Array)
パッケージを有するマスタースライス型半導体集積回路
装置に関する。
体集積回路装置に関し、特にPGA(Pin Grid Array)
パッケージを有するマスタースライス型半導体集積回路
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のマスタースライス型半導体集積回
路装置では、PGAパッケージの全信号ピンを入出力信
号ピンとして用いるか、またはパッケージの1方の対向
する2辺にある信号ピンを入出力信号ピンとして用い、
他方の対向する2辺にある信号ピンを入力信号専用ピン
として用いる場合があった。また、従来のマスタースラ
イス型半導体集積回路装置では、第3図(a),(b)
に示すように、PGAパケージの配線を2層構造とし、
パッケージ138内の配線121,122の配線抵抗に
よる出力信号の電位降下が全信号ピンに対して均一化す
るよう、パッケージ内配線121,122の長さが長い
もの(外周のピンに接続する配線)ほど信号線の幅を太
くして、全ての信号ピンに対する配線121,122の
配線抵抗の均一化を図っていた。
路装置では、PGAパッケージの全信号ピンを入出力信
号ピンとして用いるか、またはパッケージの1方の対向
する2辺にある信号ピンを入出力信号ピンとして用い、
他方の対向する2辺にある信号ピンを入力信号専用ピン
として用いる場合があった。また、従来のマスタースラ
イス型半導体集積回路装置では、第3図(a),(b)
に示すように、PGAパケージの配線を2層構造とし、
パッケージ138内の配線121,122の配線抵抗に
よる出力信号の電位降下が全信号ピンに対して均一化す
るよう、パッケージ内配線121,122の長さが長い
もの(外周のピンに接続する配線)ほど信号線の幅を太
くして、全ての信号ピンに対する配線121,122の
配線抵抗の均一化を図っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のマスタ
ースライス型半導体集積回路装置では、パッケージ外周
のピンに接続するパッケージ内の配線が太くなるため配
線間の相互間隔が狭くなること、および出力信号用配線
の配線長が長くなることから、配線が細くて短い内周の
ピンに接続する配線に比べて大きなクロストークノイズ
を生じる。
ースライス型半導体集積回路装置では、パッケージ外周
のピンに接続するパッケージ内の配線が太くなるため配
線間の相互間隔が狭くなること、および出力信号用配線
の配線長が長くなることから、配線が細くて短い内周の
ピンに接続する配線に比べて大きなクロストークノイズ
を生じる。
【0004】PGAパッケージの最内周の信号ピンも、
最外周の信号ピンも一律に出力信号に割当てられる可能
性がある従来のマスタースライス型半導体集積回路装置
では、最外周の信号ピンの多くが出力信号に割り当てら
れ、これらが同一タイミングで動作すると、非常に大き
なクロストークノイズを生じ、付加デバイスの誤動作を
招くという問題があった。
最外周の信号ピンも一律に出力信号に割当てられる可能
性がある従来のマスタースライス型半導体集積回路装置
では、最外周の信号ピンの多くが出力信号に割り当てら
れ、これらが同一タイミングで動作すると、非常に大き
なクロストークノイズを生じ、付加デバイスの誤動作を
招くという問題があった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明のマスタースライ
ス型半導体集積回路装置は、マスタースライス型半導体
チップを搭載したPGAパッケージを有するマスタース
ライス型半導体集積回路装置において、前記PGAパッ
ケージ内に設けた配線を介してパッケージの最外周の外
部ピンと電気的に接続して前記半導体チップ上に設けた
入力セルと、前記PGAパッケージ内の配線を介してパ
ッケージの内周側の外部ピンを電気的に接続して前記半
導体ップ上に設けた入出力セルとを有する。
ス型半導体集積回路装置は、マスタースライス型半導体
チップを搭載したPGAパッケージを有するマスタース
ライス型半導体集積回路装置において、前記PGAパッ
ケージ内に設けた配線を介してパッケージの最外周の外
部ピンと電気的に接続して前記半導体チップ上に設けた
入力セルと、前記PGAパッケージ内の配線を介してパ
ッケージの内周側の外部ピンを電気的に接続して前記半
導体ップ上に設けた入出力セルとを有する。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【0007】図1(a),(b)は本発明の第1の実施
例を示す平面図及び断面図である。
例を示す平面図及び断面図である。
【0008】図1(a),(b)に示すように、4列あ
る外部ピンの外周に位置する外部ピン137は、パッケ
ージ138内のコンタクトホール111で接続された下
層の配線121及び上層の配線122を経由して半導体
チップ上に設けた入力セル101のボンディングパッド
131とボンディング線132で接続されている。一
方、内周に位置する外部ピン136は、同様にパッケー
ジ138内の配線121,122を介して入出力セル1
02のボンディングパッド131とボンディング線13
2で接続されている。外部ピン136に接続された配線
121,122は出力信号が割り当てられる可能性があ
るため、配線長が長くなるほど配線幅を太くして、配線
抵抗の均一化を図っている。一方、外部ピン137に接
続された配線121,122は入力信号専用であるた
め、信号線に電流がほとんど流れず、信号線の配線抵抗
による電位降下がほとんどないので、配線幅を入出力信
号用の配線に比べて細くすることができる。したがっ
て、これらの配線は、従来例に対して信号線間の距離を
広く取ることができ、クロストークノイズを低減するこ
とが可能である。またクロストークノイズを最も誘引す
る出力信号が、内周に位置する外部ピン136に割り当
てられるため、配線長が短く、クロストークノイズを小
さく抑えることが可能である。
る外部ピンの外周に位置する外部ピン137は、パッケ
ージ138内のコンタクトホール111で接続された下
層の配線121及び上層の配線122を経由して半導体
チップ上に設けた入力セル101のボンディングパッド
131とボンディング線132で接続されている。一
方、内周に位置する外部ピン136は、同様にパッケー
ジ138内の配線121,122を介して入出力セル1
02のボンディングパッド131とボンディング線13
2で接続されている。外部ピン136に接続された配線
121,122は出力信号が割り当てられる可能性があ
るため、配線長が長くなるほど配線幅を太くして、配線
抵抗の均一化を図っている。一方、外部ピン137に接
続された配線121,122は入力信号専用であるた
め、信号線に電流がほとんど流れず、信号線の配線抵抗
による電位降下がほとんどないので、配線幅を入出力信
号用の配線に比べて細くすることができる。したがっ
て、これらの配線は、従来例に対して信号線間の距離を
広く取ることができ、クロストークノイズを低減するこ
とが可能である。またクロストークノイズを最も誘引す
る出力信号が、内周に位置する外部ピン136に割り当
てられるため、配線長が短く、クロストークノイズを小
さく抑えることが可能である。
【0009】図2(a),(b)は本発明の第2の実施
例を示す平面図及び断面図である。
例を示す平面図及び断面図である。
【0010】図2(a),(b)に示すように、4列あ
る外部ピンの外周に位置する外部ピン137は、パッケ
ージ138の配線121を介して入力セル101のボン
ディングパッド131とボンディング線132で接続さ
れている。一方、内周に位置する外部ピン136は、パ
ッケージ138の配線122を介して入出力セル102
のボンディングパッド131とボンディング線132で
接続されている。
る外部ピンの外周に位置する外部ピン137は、パッケ
ージ138の配線121を介して入力セル101のボン
ディングパッド131とボンディング線132で接続さ
れている。一方、内周に位置する外部ピン136は、パ
ッケージ138の配線122を介して入出力セル102
のボンディングパッド131とボンディング線132で
接続されている。
【0011】本実施例では、第1の実施例と同じくクロ
ストークノイズを最も誘引する出力信号が、内周に位置
する外部ピン136に割り当てられるため、配線長が短
く、クロストークノイズを小さく抑えることが可能であ
ると同時に、パッケージ138内の出力信号用の配線が
同一の配線層にはないため、入力信号が出力信号の動作
の影響を受けず、入力信号にノイズが生じにくいという
利点がある。
ストークノイズを最も誘引する出力信号が、内周に位置
する外部ピン136に割り当てられるため、配線長が短
く、クロストークノイズを小さく抑えることが可能であ
ると同時に、パッケージ138内の出力信号用の配線が
同一の配線層にはないため、入力信号が出力信号の動作
の影響を受けず、入力信号にノイズが生じにくいという
利点がある。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、PGAパ
ッケージ実装のマスタースライス型半導体集積回路装置
において、最も外周の信号ピンには入力信号のみを、最
も内周の信号ピンには出力もしくは入出力信号をわりあ
て、また入力信号専用ピンのパッケージ内信号線幅を、
出力用もしくは入出力信号用ピンの信号線に較べて細く
することで、信号線間のクロストークを減少させる効果
がある。
ッケージ実装のマスタースライス型半導体集積回路装置
において、最も外周の信号ピンには入力信号のみを、最
も内周の信号ピンには出力もしくは入出力信号をわりあ
て、また入力信号専用ピンのパッケージ内信号線幅を、
出力用もしくは入出力信号用ピンの信号線に較べて細く
することで、信号線間のクロストークを減少させる効果
がある。
【図1】本発明の第1の実施例を示す平面図及び断面図
である。
である。
【図2】本発明の第2の実施例を示す平面図及び断面図
である。
である。
【図3】従来のマスタースライス型半導体集積回路装置
の一例を示す平面図及び断面図である。
の一例を示す平面図及び断面図である。
101 入力セル 102 入出力セル 111 コンタクトホール 121,122 配線 131 ボンディングパッド 132 ボンディング線 133 半導体チップ 136,137 外部ピン 138 パッケージ
Claims (2)
- 【請求項1】 マスタースライス型半導体チップを搭載
したPGAパッケージを有するマスタースライス型半導
体集積回路装置において、前記PGAパッケージ内に設
けた配線を介してパッケージの最外周の外部ピンと電気
的に接続して前記半導体チップ上に設けた入力セルと、
前記PGAパッケージ内の配線を介してパッケージの内
周側の外部ピンと電気的に接続して前記半導体チップ上
に設けた入出力セルとを有することを特徴とするマスタ
ースライス型半導体集積回路装置。 - 【請求項2】 PGAパッケージの最外周の入力セル用
の外部ピンに接続したパッケージ内配線の幅が内周側の
入出力セル用の外部ピンに接続したパッケージ内配線の
幅よりも細くなっている請求項1記載のマスタースライ
ス型半導体集積回路装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3011809A JP2606631B2 (ja) | 1991-02-01 | 1991-02-01 | マスタースライス型半導体集積回路装置 |
US07/828,368 US5365406A (en) | 1991-02-01 | 1992-01-30 | Master-slice type semiconductor integrated circuit device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3011809A JP2606631B2 (ja) | 1991-02-01 | 1991-02-01 | マスタースライス型半導体集積回路装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04246851A JPH04246851A (ja) | 1992-09-02 |
JP2606631B2 true JP2606631B2 (ja) | 1997-05-07 |
Family
ID=11788156
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3011809A Expired - Lifetime JP2606631B2 (ja) | 1991-02-01 | 1991-02-01 | マスタースライス型半導体集積回路装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5365406A (ja) |
JP (1) | JP2606631B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5641988A (en) * | 1993-12-22 | 1997-06-24 | Vlsi Technology, Inc. | Multi-layered, integrated circuit package having reduced parasitic noise characteristics |
US5930119A (en) * | 1998-02-26 | 1999-07-27 | Arizona Digital, Inc. | Backplane having reduced LC product |
DE10014382A1 (de) * | 2000-03-23 | 2001-10-18 | Infineon Technologies Ag | Leiterbahn-Schichtstruktur und Vorstufe zu dieser |
US9713258B2 (en) * | 2006-04-27 | 2017-07-18 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit chip packaging |
JP4364226B2 (ja) * | 2006-09-21 | 2009-11-11 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5326978A (en) * | 1976-08-25 | 1978-03-13 | Hitachi Ltd | Connector |
JPS57115893A (en) * | 1981-01-10 | 1982-07-19 | Nippon Electric Co | Multiple wiring board |
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