JPH06835Y2 - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JPH06835Y2
JPH06835Y2 JP1987183982U JP18398287U JPH06835Y2 JP H06835 Y2 JPH06835 Y2 JP H06835Y2 JP 1987183982 U JP1987183982 U JP 1987183982U JP 18398287 U JP18398287 U JP 18398287U JP H06835 Y2 JPH06835 Y2 JP H06835Y2
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JP
Japan
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ground
sub
ground wiring
sense amplifier
system circuit
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JP1987183982U
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JPH0187561U (ja
Inventor
誠 工藤
Original Assignee
日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は半導体集積回路のグランドノイズの影響による
データ出力遅延時間の悪化を防ぐことに関する。
〔従来の技術〕
従来、センスアンプ系回路のグランドはグランドノイズ
の影響によるデータ出力遅延時間の悪化を防ぐ意味でグ
ランドパットから分岐して各ブロックに配線し、さらに
サブの電位（グランドレベル）を固定する意味でグラン
ド配線にサブコンタクトを打っていた。
〔考案が解決しようとする問題点〕
第２図は、従来のセンスアンプ系回路、出力バッファ系
回路及び、その周辺系回路のグランド配線部である。サ
ブ電位（グランドレベル）固定でグランド配線に打たれ
たサブコンタクトは、分岐したグランド配線間がサブで
導通する。その為、ノイズの影響によるデータ出力遅延
時間の悪化を防ぐ分岐配線は、意味がなくなるという欠
点がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本考案の半導体装置は、グランドパッドからセンスアン
プ回路部に至るグランド配線部を他のグランド配線部と
は独立して設け、かつセンスアンプ回路部の前記グラン
ド配線部にはサブコンタクトが無い事を特徴としてい
る。この構成により基板からのノイズの影響によるデー
タ出力遅延時間の悪化を防ぐものである。
〔実施例〕
次に本考案について図面を参照して説明する。第１図は
本考案の一実施例のマスクパターンの一部である。グラ
ンド配線４は、グランドノイズの影響でデータ出力遅延
時間の悪化を防ぐ為に、グランドパット１よりセンスア
ンプ系回路２、出力バッファ系回路３に分岐配線され
る。さらに、グランド配線４には、サブの導通から受け
るグランドノイズの影響を分離する為に、サブコンタク
トを打たない。
〔考案の効果〕
以上説明したように本考案は、センスアンプ系回路及び
その周辺系回路のグランドパットから分岐されたグラン
ド配線にサブコンタクトを打たないことで、サブで導通
していた、グランド配線間を分離することにより、グラ
ンドノイズの影響で悪化していたデータ出力遅延時間を
防ぐことができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例のマスクパターンである。 １……グランドパット、２……センスアンプ系回路、３
……出力バッファ系回路、４……グランド配線。 第２図は従来のマスクパターンである。 ５……センスアンプ系回路、６……出力バッファ系回
路、７……サブコンタクト、８……グランドパット、９
……グランド配線。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】能動領域のグランド配線部の一部にサブコ
    ンタクトを有する半導体装置において、グランドパッド
    からセンスアンプ回路部に至るグランド配線部は他のグ
    ランド配線部とは独立して設けており、かつ前記センス
    アンプ回路部の前記グランド配線部にはサブコンタクト
    が無い事を特徴とする半導体装置。
JP1987183982U 1987-12-01 1987-12-01 半導体集積回路 Expired - Lifetime JPH06835Y2 (ja)

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