JPH0678032B2 - 光学的記録媒体 - Google Patents
光学的記録媒体Info
- Publication number
- JPH0678032B2 JPH0678032B2 JP60172647A JP17264785A JPH0678032B2 JP H0678032 B2 JPH0678032 B2 JP H0678032B2 JP 60172647 A JP60172647 A JP 60172647A JP 17264785 A JP17264785 A JP 17264785A JP H0678032 B2 JPH0678032 B2 JP H0678032B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording medium
- film
- substrate
- chalcogen
- gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はレーザビームを照射して局部的に加熱し、その
加熱部に穴もしくは凹部又は凸部を形成することによっ
て記録する光学記録用媒体に関するものである。
加熱部に穴もしくは凹部又は凸部を形成することによっ
て記録する光学記録用媒体に関するものである。
(従来の技術) 基板上に形成された薄膜にレーザビームを照射して、ピ
ットを形成するようにした光学的記録用媒体として、従
来よりTeを使用することが知られている。Teは低融点、
低熱伝導度を有する為に、上記方法による記録において
高い感度を示す。しかし、Teは酸化され易く、酸化され
ると透明になり記録が出来なくなるという問題がある。
ットを形成するようにした光学的記録用媒体として、従
来よりTeを使用することが知られている。Teは低融点、
低熱伝導度を有する為に、上記方法による記録において
高い感度を示す。しかし、Teは酸化され易く、酸化され
ると透明になり記録が出来なくなるという問題がある。
上記問題点を改良したものとして、Teを合金化したも
の、Teの低酸化物、Teを有機膜中に分散させたもの等が
ある(たとえば、特開昭53−31104号公報、特開昭58−5
4338号公報、特開昭57−98394号公報)。
の、Teの低酸化物、Teを有機膜中に分散させたもの等が
ある(たとえば、特開昭53−31104号公報、特開昭58−5
4338号公報、特開昭57−98394号公報)。
Teを合金化したものではTeSe合金が耐酸化性に優れた膜
として知られている。これはTe、Seの蒸着あるいはTeSe
合金ターゲットのスパッタリングにより得ることができ
る。
として知られている。これはTe、Seの蒸着あるいはTeSe
合金ターゲットのスパッタリングにより得ることができ
る。
しかし、上記方法により得られたTeSe合金薄膜はサブミ
クロンオーダーの結晶粒径をもち、再生信号のノイズが
大きいという難点をもつ、この結晶粒径を小さくする為
に、In、Sn、Pb、Bi、Sb等の第三元素の添加が効果があ
ることが知られている。(特公昭59−35356) 本発明者らは、このようなTeを中心とする系についてさ
らに種々検討した結果、経時安定性が優れかつ蒸着法、
スパッタリング法で問題となる結晶粒径を抑えた記録媒
体を得、本発明に到達した。
クロンオーダーの結晶粒径をもち、再生信号のノイズが
大きいという難点をもつ、この結晶粒径を小さくする為
に、In、Sn、Pb、Bi、Sb等の第三元素の添加が効果があ
ることが知られている。(特公昭59−35356) 本発明者らは、このようなTeを中心とする系についてさ
らに種々検討した結果、経時安定性が優れかつ蒸着法、
スパッタリング法で問題となる結晶粒径を抑えた記録媒
体を得、本発明に到達した。
すなわち、本発明の要旨は、TeあるいはTeを主体とする
合金をSeF6ガスにより反応性スパッタリングし、基板上
に、Teが50〜95容量%の割合のTe−SeF6薄膜を形成させ
てなる光学的記録媒体にある。
合金をSeF6ガスにより反応性スパッタリングし、基板上
に、Teが50〜95容量%の割合のTe−SeF6薄膜を形成させ
てなる光学的記録媒体にある。
(発明の構成) まず、本発明に係る記録媒体の基板としては、ガラス、
アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂等のプラスチッ
ク、又はアルミニウム等の金属が挙げられ、その厚みは
一般に1〜1.5mm程度から選ばれる。
アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂等のプラスチッ
ク、又はアルミニウム等の金属が挙げられ、その厚みは
一般に1〜1.5mm程度から選ばれる。
本発明においては、この基板上に金属の弗化カルコゲン
ガスによる反応性スパッタリング膜を形成させる。
ガスによる反応性スパッタリング膜を形成させる。
金属としてはTeあるいはTeを主体とする金属ターゲット
が用いられる。
が用いられる。
弗化カルコゲンガスとしてはSeF6が用いられる。
本発明に係る記録用媒体は、例えば金属ターゲットとし
てTe、弗化カルコゲンとしてSeF6を用いる場合、真空容
器中にSeF6及びArを導入し、Teターゲットをスパッタリ
ングして、基板上にTe−SeF6反応性スパッタリング膜を
形成させることにより得られる。
てTe、弗化カルコゲンとしてSeF6を用いる場合、真空容
器中にSeF6及びArを導入し、Teターゲットをスパッタリ
ングして、基板上にTe−SeF6反応性スパッタリング膜を
形成させることにより得られる。
スパッタリングに際しては、高周波法、直流法又はそれ
らのマグネトロン方式の常法によることができる。
らのマグネトロン方式の常法によることができる。
基板温度は、室温ないし基板の軟化点未満に保持され
る。薄膜の厚みは、通常50Å〜1μ程度、好ましくは20
0〜1,000Å程度である。
る。薄膜の厚みは、通常50Å〜1μ程度、好ましくは20
0〜1,000Å程度である。
本発明に係る記録媒体においては、反応性スパッタリン
グ膜として、さらに物性向上のため、金属−弗化カルコ
ゲン−有機化合物膜とすることができる。
グ膜として、さらに物性向上のため、金属−弗化カルコ
ゲン−有機化合物膜とすることができる。
すなわち、上記、弗化カルコゲンに加え、さらに有機化
合物をガス(有機ガスという)として真空容器内に導入
しTeターゲットをスパッタリングし、基板上に金属−弗
化カルコゲン・有機ガス反応性スパッタリング膜を形成
させることにより本発明に係る記録媒体を得ることがで
きる。
合物をガス(有機ガスという)として真空容器内に導入
しTeターゲットをスパッタリングし、基板上に金属−弗
化カルコゲン・有機ガス反応性スパッタリング膜を形成
させることにより本発明に係る記録媒体を得ることがで
きる。
上記第3の原料としての有機化合物としては、従来、有
機放電重合膜を形成させるのに用いられているものが好
適に使用される。
機放電重合膜を形成させるのに用いられているものが好
適に使用される。
たとえば、好適にはベンゼン、スチレン、クロロベンゼ
ン等のベンゼンないしベンゼン誘導体、ヘキサメチルジ
シロキサン等の含ケイ素化合物、エチレン等のオレフイ
ン化合物、メタン等のパラフイン類、ピリジン等のピリ
ジン類、ジメチルホルムアミド等のアミド類のN含有化
合物があげられる。また、ジメチルテルル、ジエチルテ
ルル等のアルキル化金属等も使用しうる。
ン等のベンゼンないしベンゼン誘導体、ヘキサメチルジ
シロキサン等の含ケイ素化合物、エチレン等のオレフイ
ン化合物、メタン等のパラフイン類、ピリジン等のピリ
ジン類、ジメチルホルムアミド等のアミド類のN含有化
合物があげられる。また、ジメチルテルル、ジエチルテ
ルル等のアルキル化金属等も使用しうる。
以下、図面を参照して本発明をさらに詳細に説明する。
第1図は本発明に係る光学記録媒体の製造のための装置
の一例((a):高周波(RF)法、(b):直流(DC)
法)であり、図中(1)は反応容器、(2)は弗化カル
コゲン、(及び有機ガス)及びArガス導入口、(3)は
基板、(4)は金属ターゲット、(5)は電極、(6)
はシャッター、(7)は排気口である。
の一例((a):高周波(RF)法、(b):直流(DC)
法)であり、図中(1)は反応容器、(2)は弗化カル
コゲン、(及び有機ガス)及びArガス導入口、(3)は
基板、(4)は金属ターゲット、(5)は電極、(6)
はシャッター、(7)は排気口である。
金属−弗化カルコゲン反応性スパッタリング膜の作製は
反応容器(1)を10-6Torr台まで排気した後、弗化カル
コゲンガス(及び有機ガス)及びArガスを導入口(2)
より導入し反応容器の内圧を5×10-3〜5×10-2Torrと
なるようにする。次にシャッター(6)を閉じた状態で
電極(5)に高周波または直流の電圧を印加し、放電を
起こし、金属ターゲット表面をプリスパッタリングす
る。安定化したならシャッターを開け、基板上に金属−
弗化カルコゲン(−有機化合物)反応性スパッタリング
膜を形成する。
反応容器(1)を10-6Torr台まで排気した後、弗化カル
コゲンガス(及び有機ガス)及びArガスを導入口(2)
より導入し反応容器の内圧を5×10-3〜5×10-2Torrと
なるようにする。次にシャッター(6)を閉じた状態で
電極(5)に高周波または直流の電圧を印加し、放電を
起こし、金属ターゲット表面をプリスパッタリングす
る。安定化したならシャッターを開け、基板上に金属−
弗化カルコゲン(−有機化合物)反応性スパッタリング
膜を形成する。
本発明に係る記録用媒体は上記のように基板上に、上記
反応性スパッタリング膜を形成させてなるか、さらに基
板と堆積膜の間に記録感度の向上、基板表面の改質、孔
形状の向上等のために下引層を設けることもでき、さら
には、記録媒体の保護のために堆積膜上に保護膜を設け
ることもできる。
反応性スパッタリング膜を形成させてなるか、さらに基
板と堆積膜の間に記録感度の向上、基板表面の改質、孔
形状の向上等のために下引層を設けることもでき、さら
には、記録媒体の保護のために堆積膜上に保護膜を設け
ることもできる。
得られた膜が半導体レーザの波長で十分な吸収を示すよ
うに、Teの含有量は50〜95容量%とされる。
うに、Teの含有量は50〜95容量%とされる。
金属(Te)と弗化カルコゲン(SeF6)との二成分系の場
合には残部すなわち5〜50容量%が弗化カルコゲンとな
り、金属、弗化カルコゲン及び有機化合物の三成分系の
場合には残部すなわち5〜50容量%が弗化カルコゲンと
有機化合物からなるのが良い。この三成分系の場合には
有機化合物が弗化カルコゲンより多く含まれているのが
好ましい。
合には残部すなわち5〜50容量%が弗化カルコゲンとな
り、金属、弗化カルコゲン及び有機化合物の三成分系の
場合には残部すなわち5〜50容量%が弗化カルコゲンと
有機化合物からなるのが良い。この三成分系の場合には
有機化合物が弗化カルコゲンより多く含まれているのが
好ましい。
本発明に係る光学的記録用媒体は、光デイスク記録媒体
として有用であり、レーザービームを照射して加熱する
ことにより、穴をあけ、もしくは凹又は凸部を形成させ
て、記録を行なうことができる。
として有用であり、レーザービームを照射して加熱する
ことにより、穴をあけ、もしくは凹又は凸部を形成させ
て、記録を行なうことができる。
(実施例) 以下、実施例により本発明を更に詳しく説明するが、本
発明が実施例のみに限定されるものでないことは勿論の
ことである。
発明が実施例のみに限定されるものでないことは勿論の
ことである。
実施例1 第1図(a)に示すパッタリング装置を用いて、予め洗
浄したポリメタクリル酸メチル樹脂(PMMA)又はポリカ
ーボネート樹脂(PC)基板を真空室にセットして室内を
≒1×10-6Torrまで排気した後、アルゴンを20ccm、Se
F6を5ccm流して案内圧力を≒5×10-3Torrにして極間
距離を80mm高周波(RF)パワーを50Wで15秒間反応性ス
パッタしたところいずれも膜厚≒250ÅのSeF6−Teスパ
ッタ膜(Te含有量:90容量%)が得られた。
浄したポリメタクリル酸メチル樹脂(PMMA)又はポリカ
ーボネート樹脂(PC)基板を真空室にセットして室内を
≒1×10-6Torrまで排気した後、アルゴンを20ccm、Se
F6を5ccm流して案内圧力を≒5×10-3Torrにして極間
距離を80mm高周波(RF)パワーを50Wで15秒間反応性ス
パッタしたところいずれも膜厚≒250ÅのSeF6−Teスパ
ッタ膜(Te含有量:90容量%)が得られた。
この膜を830nm、4mW出力の半導体レーザーを用いて記録
したところ、PMMA基板上に堆積した膜は、パルス巾200n
secで、PC基板上に堆積した膜はパルス巾250nsecでピッ
ト(開孔)が形成された。
したところ、PMMA基板上に堆積した膜は、パルス巾200n
secで、PC基板上に堆積した膜はパルス巾250nsecでピッ
ト(開孔)が形成された。
更に、これらのサンプルを60℃、80%RHの雰囲気で1ケ
月間保存したところ、830nmでの光反射率(30%程度)
は保存前後で変化がなかった。
月間保存したところ、830nmでの光反射率(30%程度)
は保存前後で変化がなかった。
(発明の効果) 本発明に係る記録用媒体は、C/N比、ピット形状、コン
トラスト、経時安定性にすぐれる。
トラスト、経時安定性にすぐれる。
また、金属ターゲットと反応性ガスによるスパッタで容
易に、効率よく膜が形成されるという、プロセス上の利
点も有する。
易に、効率よく膜が形成されるという、プロセス上の利
点も有する。
第1図(a)、(b)は、本発明に係る記録媒体の製造
のための一例を示す((a)RF法、(b)DC法)。 図中(1)は、反応容器、(2)はガス導入口、(3)
は基板、(4)は金属ターゲット、(5)は電極をそれ
ぞれ示す。
のための一例を示す((a)RF法、(b)DC法)。 図中(1)は、反応容器、(2)はガス導入口、(3)
は基板、(4)は金属ターゲット、(5)は電極をそれ
ぞれ示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堀江 通和 神奈川県横浜市緑区鴨志田町1000番地 三 菱化成工業株式会社総合研究所内 (72)発明者 田村 孝憲 神奈川県横浜市緑区鴨志田町1000番地 三 菱化成工業株式会社総合研究所内 (72)発明者 大垣 光輝 神奈川県横浜市緑区鴨志田町1000番地 三 菱化成工業株式会社総合研究所内 (56)参考文献 特開 昭60−124290(JP,A) 特開 昭59−146461(JP,A) 特開 昭60−64894(JP,A) 特開 昭59−162092(JP,A) 特開 昭59−148156(JP,A) 特開 昭58−9232(JP,A) 特開 昭59−57790(JP,A)
Claims (2)
- 【請求項1】TeあるいはTeを主体とする合金をSeF6ガス
により反応性スパッタリングし、基板上に、Teが50〜95
容量%の割合のTe−SeF6薄膜を形成させてなる光学的記
録媒体。 - 【請求項2】SeF6ガスに有機ガスを併用することを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の光学的記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60172647A JPH0678032B2 (ja) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | 光学的記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60172647A JPH0678032B2 (ja) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | 光学的記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6233348A JPS6233348A (ja) | 1987-02-13 |
JPH0678032B2 true JPH0678032B2 (ja) | 1994-10-05 |
Family
ID=15945760
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60172647A Expired - Lifetime JPH0678032B2 (ja) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | 光学的記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0678032B2 (ja) |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS589232A (ja) * | 1981-07-10 | 1983-01-19 | Toshiba Corp | 光学的情報記録媒体 |
JPS5957790A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-03 | Toshiba Corp | エネルギ−情報記録用膜体の形成方法 |
NL8300422A (nl) * | 1983-02-04 | 1984-09-03 | Philips Nv | Methode voor de vervaardiging van een optisch uitleesbare informatieschijf. |
JPS59146461A (ja) * | 1983-02-09 | 1984-08-22 | Canon Inc | 光学的記録媒体 |
JPS6064894A (ja) * | 1983-09-20 | 1985-04-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | レ−ザ−記録材料 |
JPS60124290A (ja) * | 1983-12-09 | 1985-07-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光学記録媒体の製造方法 |
JPS59162092A (ja) * | 1984-01-20 | 1984-09-12 | Canon Inc | 記録媒体 |
-
1985
- 1985-08-06 JP JP60172647A patent/JPH0678032B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6233348A (ja) | 1987-02-13 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |