JPH0677351B2 - 光学ピツクアツプ装置 - Google Patents

光学ピツクアツプ装置

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JPH0677351B2
JPH0677351B2 JP61272416A JP27241686A JPH0677351B2 JP H0677351 B2 JPH0677351 B2 JP H0677351B2 JP 61272416 A JP61272416 A JP 61272416A JP 27241686 A JP27241686 A JP 27241686A JP H0677351 B2 JPH0677351 B2 JP H0677351B2
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明を以下の順序で説明する。
A 産業上の利用分野 B 発明の概要 C 従来の技術 D 発明が解決しようとする問題点 E 問題点を解決するための手段 F 作用 G 実施例 G−1 全体構成及び動作(第1図〜第3図) G−2 光検出ユニット及び信号処理部の具体構成例
(第4図) G−3 変形例 H 発明の効果 A 産業上の利用分野 本発明は、光ビームを対物レンズを通じて記録媒体に入
射させるとともに記録媒体からの反射光ビームを光検出
部に導いて、光検出部から、記録媒体に記録された情報
の読取出力を得る光学ピックアップ装置に関する。
B 発明の概要 本発明は、光ビーム発生源からの光ビームを対物レンズ
を通じて記録媒体に集束状態をもって入射させ、記録媒
体からの反射光ビームを対物レンズを通じて光検出部に
導き、光検出部からの検出出力に基づいて、記録媒体に
記録された情報についての読取情報信号を得る光学ピッ
クアップ装置において、対物レンズと光検出部との間の
光路上に、夫々水晶で形成された第1のプリズムと第2
のプリズムとが貼り合わされて構成されて、対物レンズ
を経た反射光ビームが第1のプリズムから入射して第2
のプリズムに至るものとされ、入射する反射光ビームに
基づく少なくとも3本の光ビームを第2のプリズムから
出射させる検光子を配し、さらに、光検出部を、検光子
から出射する3本の光ビームを夫々検出する複数の光検
出素子が内蔵された光検出ユニットをもって形成するこ
とにより、光学部品点数が少とされ、かつ、必要容積が
縮小されて、構成が比較的簡単で小型化を図ることがで
きるものとされ、しかも、各光検出素子の設定調整が容
易なものとされる光学路構成をもって、光検出ユニット
の出力に基づき、読取情報信号とトラッキング・サーボ
コントロールやフォーカス・サーボコントロール等のサ
ーボコントロールに用いられるサーボ・エラー信号とを
得ることができるようにしたものである。
C 従来の技術 情報記録媒体としてのディスクにおいて、完成されたデ
ィスクとして形成された後に、光ビームを用いて情報の
書込み、消去及び読取りを行うことができる、所謂、書
込可能光ディスクが提案されている。このような書込可
能光ディスクのうち、情報の書込み及び消去を反復して
行えるものとして、通常、光磁気ディスクと称されるも
のがある。斯かる光磁気ディスクは、基板の面上に記録
層を形成する垂直磁化膜が設けられ、さらに、その垂直
磁化膜が保護層によって覆われた構造を有し、全体が円
板上に形成されたものとなされる。そして、情報の消去
及び新たな情報の書込みが行われて情報記録がなされ、
また書き込まれた情報の読取りが行われて情報再生がな
される。
このような光磁気ディスクに対する情報の書込みは、例
えば、その中央部を取り囲む多数の同心円状とされる記
録トラックの夫々の位置における垂直磁化膜が、所定の
外部磁界が作用せしめられたもとで、情報に応じて変調
されたレーザ光ビームによって走査され、それにより所
定のパターンをもって磁化方向反転領域が形成されたも
のとなされることによって行われる。また、各記録トラ
ックは、例えば、トラッキング・サーボコントロール用
のピット等が所定のパターンをもって配列されたものと
される。
一方、光磁気ディスクに書き込まれた情報の読取りがな
されるに際しては、記録トラックにおける垂直磁化膜が
情報の書込み時におけるより小パワーとされたレーザ光
ビームによって走査され、垂直磁化膜からの反射レーザ
光ビームが光検出部によって検出されて、光検出部から
光磁気ディスクに書き込まれた情報に応じた読取信号、
及び、トラッキング・サーボコントロール及びフォーカ
ス・サーボコントロール用のトラッキング・エラー信号
及びフォーカス・エラー信号等が得られるようにされ
る。斯かる情報の読取時においては、垂直磁化膜からの
反射レーザ光ビームが、カー効果に基づいて、書き込ま
れた情報に対応する垂直磁化膜における磁化方向反転パ
ターンに応じた偏光面の回転を生じたものとなる。そし
て、この偏光面の回転が、例えば、反射レーザ光ビーム
に基づく直交偏光成分、即ち、P偏光成分とS偏光成分
との夫々が別個に検出されて比較されることにより検知
され、偏光面の回転に応じた変化を有するものとなる比
較出力に基づいて読取信号が形成される。また、反射レ
ーザ光ビームがトラッキング・サーボコントロール用ピ
ット配列から受ける変化が検出されて、トラッキング・
エラー信号が形成され,さらに、例えば、垂直磁化膜か
らの反射レーザ光ビームの光検出部上での位置あるいは
スポット形状が検出されて、フォーカス・エラー信号が
形成される。
光磁気ディスクからの情報再生は、例えば、ディスクプ
レーヤによって行われるが、このため、ディスクプレー
ヤには、光磁気ディスクに形成された各記録トラックか
ら情報を読み取るための光学系を構成する光学ピックア
ップ装置が備えられる。
このような光学ピックアップ装置の一例は、第5図に簡
略化されて示される如く、半導体レーザ2,対物レンズ5,
光検出器15等を含む光学系1の全体が、1個のユニット
を形成すべく構成されて、同心円状の記録トラックが形
成された光磁気ディスク6の半径方向(矢印Aで示され
る方向)に沿って移動できるようにされる。そして、半
導体レーザ2から発せられるレーザ光ビームが、コリメ
ータレンズ3において平行ビーム化され、偏光ビームス
プリッタ4に、例えば、S偏光成分として入射し、偏光
ビームスプリッタ4においてその光軸方向が変化せしめ
られた後、対物レンズ5を通じて集束状態とされたもと
で光磁気ディスク6に入射せしめられる。光磁気ディス
ク6に入射せしめられたレーザ光ビームは、記録トラッ
クにおいて、垂直磁化膜における書き込まれた情報に対
応する磁化反転パターンに応じて偏光面の回転を生じる
とともに、トラッキング・サーボコントロール用ピット
配列に応じた変調を受けた状態で反射され、反射レーザ
光ビームとされる。
光磁気ディスク6からの反射レーザ光ビームは、対物レ
ンズ5を介して戻り、偏光ビームスプリッタ4に入射す
る。そして、偏光ビームスプリッタ4をその光軸方向の
変化を生じることなく通過したP偏光成分とされた反射
レーザ光ビームが、ビームスプリッタ7に入射し、その
一部がビームスプリッタ7においてその光軸方向が変化
せしめられ、受光レンズ8を通じてサーボ・エラー検出
用の光検出部9に導かれ、また、他の一部がビームスプ
リッタ7を光軸方向を変化させることなく通過して、位
相補償板10を介して1/2波長板11に入射する。
ビームスプリッタ7からの反射レーザ光ビームを受けた
光検出部9は、例えば反射レーザ光ビームが受けたトラ
ッキング・サーボコントロール用ピット配列による変調
に応じた検出出力信号、及び、反射レーザ光ビームの光
検出部9上におけるスポット形状に応じた検出出力信号
を発生してサーボ・エラー信号形成部12に供給する。そ
れにより、サーボ・エラー信号形成部12においては、光
検出部9からの各検出出力信号に基づいて、光磁気ディ
スク6に入射せしめられたレーザ光ビームの記録トラッ
クに対する追従状態をあらわすトラッキング・エラー信
号St、及び、光磁気ディスク6に入射せしめられたレー
ザ光ビームの記録トラック上における集束状態をあらわ
すフォーカス・エラー信号Sfが得られる。これらトラッ
キング・エラー信号St及びフォーカス・エラー信号Sf
は、対物レンズ5に関連して設けられた、図示が省略さ
れているレンズ駆動機構を作動させて行われるトラッキ
ング・サーボコントロール及びフォーカス・サーボコン
トロールに夫々用いられる。
また、ビームスプリッタ7から1/2波長板11に入射せし
められた反射レーザ光ビームは、その偏光面が45度回転
せしめられてウォーラストン・プリズム13に入射され、
ウォーラストン・プリズム13において直交偏光成分、即
ち、P偏光成分とS偏光成分とに分離される。そして、
ウオーラストン・プリズム13からのP偏光成分とS偏光
成分とが、受光レンズ14を通じて、読取情報検出用の光
検出器15に導かれる。光検出器15は、ウォーラストン・
プリズム13で分離されたP偏光成分とS偏光成分とを2
個の独立した光検出素子によって別個に検出し、各偏光
成分の変化に応じた2つの検出出力信号を発生して読取
情報信号形成部16に供給する。それにより、読取情報信
号形成部16においては、光検出器15からの2つの検出出
力信号が相互比較されることにより、光磁気ディスク6
の垂直磁化膜において反射レーザ光ビームが受けた偏光
面の回転が検出され、その偏光面の回転に応じた変化を
有するものとなる比較出力に基づいて読取情報信号Siが
形成される。そして、読取情報信号Siに基づいて、再生
情報が得られる。
D 発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上述の如くの従来提案されている光学ピ
ックアップ装置においては、読取情報の検出にあたって
ウォーラストン・プリズム13を用いることにより、反射
レーザ光ビームの直交偏光成分の夫々を検出する2個の
光検出素子は、読取情報検出用の光検出器15内に集合せ
しめられたものとされるが、反射レーザ光ビームに基づ
いてサーボ・エラーを検出するための光検出素子群を内
蔵したサーボ・エラー検出用の光検出部9を、読取情報
検出用の光検出器15とは別個に設けることが必要とされ
る。このため、光磁気ディスク6からの反射レーザ光ビ
ームの光路にビームスプリッタ7が配されて、反射レー
ザ光ビームが2分割され、サーボ・エラー検出用の光検
出部9による検出のための光学路と読取情報検出用の光
検出器15による検出のための光学路とが個別に形成され
ている。従って、レンズやビームスプリッタ等の光学部
品が多数使用されることになり、組立工数も多大とされ
て、装置がコスト高になるとともに、必要容積が大とさ
れて、装置全体の小型化を図ることが困難となってしま
う。
さらに、読取情報検出用の光検出器15において、2個の
光検出素子を、ウォーラストン・プリズム13で分離され
た反射レーザ光ビームの直交偏光成分の夫々に正確に対
応させるべく、個々に調整することが必要とされ、斯か
る光検出素子の設定調整に多大な工数が要求されること
になる不都合もある。
斯かる点に鑑み、本発明は、光ビーム発生源からの光ビ
ームを対物レンズを通じて、光磁気ディスク等の記録媒
体に集束状態をもって入射させ、記録媒体から対物レン
ズを通じて戻る反射光ビームに基づく直交偏光成分を個
別に検出して比較することにより読取情報信号を得ると
ともに、反射光ビームが記録媒体から受ける変化に基づ
いて、トラッキング・サーボコントロールやフォーカス
・サーボコントロール等のサーボコントロール用のサー
ボ・エラー信号を得るにあたり、使用される光学部品の
数が少とされるとともに必要容積が縮小されて、構成が
比較的簡単で小型化を図ることができるものとされ、し
かも、各光検出素子の設定調整が容易なものとされる光
学路構成をもって、読取情報信号とサーボ・エラー信号
とを得ることができるようにされた、光学ピックアップ
装置を提供することを目的とする。
E 問題点を解決するための手段 上述の目的を達成すべく、本発明に係る光学ピックアッ
プ装置は、光ビーム発生源と、光ビーム発生源からの光
ビームを記録媒体に集束状態をもって入射させるととも
に記録媒体からの反射光ビームを受ける対物レンズと、
光ビーム発生源から対物レンズに入射する光ビームと対
物レンズを経た反射光ビームとを分離するビームスプリ
ッタと、夫々水晶で形成された第1のプリズムと第2の
プリズムとが貼り合わされて構成されて、ビームスプリ
ッタからの反射光ビームが第1のプリズムから入射して
第2のプリズムに至る位置に配され、入射する反射光ビ
ームに基づく複数の光ビームを出射させる検光子と、検
光子から出射する複数の光ビームを個々に検出する複数
の光検出素子が内蔵された光検出ユニットとを備えて構
成される。そして、検光子が、第1のプリズムにおける
光学軸が入射する反射光ビームの光軸に実質的に直交す
る面内にあり、かつ、入射する反射光ビームの偏光面に
対して所定の角度だけ傾いたものとされるとともに、第
2のプリズムにおける光学軸が入射する反射光ビームの
光軸に実質的に直交する面内にあり、かつ、第1のプリ
ズムにおける光学軸と所定の角度をなすものとされて、
入射する反射光ビームに基づく少なくとも3本の光ビー
ムを出射させるものとされる。
F 作用 このように構成される本発明に係る光学ピックアップ装
置においては、記録媒体からの反射光ビームが検光子に
入射せしめられて、検光子から出射される3本の光ビー
ムは、そのうちの2本が、検光子に入射する反射光ビー
ムに基づいて得られる直交偏光成分が相互に分離された
ものとされ、また、残りの一本が、検光子に入射する反
射光ビームに基づいて得られる直交偏光成分の両者を含
むものとされる。従って、光検出ユニットに内蔵された
複数の光検出素子からは、これら3本の光ビームが個々
に検出されることにより、記録媒体からの反射光ビーム
に基づく直交偏光成分の夫々の変化に応じた第1及び第
2の検出出力信号が個々に得られるとともに、記録媒体
からの反射光ビームそのものの変化に応じた第3の検出
出力信号が得られることになる。
このようにして得られる第1の検出出力信号と第2の検
出出力信号との比較がなされ、その比較出力がとられる
ことによって読取情報信号が得られ、また、第3の検出
出力信号に基づいて、トラッキング・サーボコントロー
ルやフォーカス・サーボコントロール等のサーボコント
ロール用のサーボ・エラー信号が得られる。
そして、一個の検光子により、記録媒体からの反射光ビ
ームに基づく直交偏光成分が相互に分離されて成る2本
と、直交偏光成分の両者を含む1本との合計3本の光ビ
ームが得られ、それらを個々に検出する複数の光検出素
子が、光検出ユニットに集合せしめられるので、例え
ば、記録媒体からの反射光ビームの光路にビームスプリ
ッタを配して反射光ビームを2分割し、サーボ・エラー
検出用の光検出部による検出のための光学部と読取情報
検出用の光検出器による検出のための光学路とを個別に
形成する等のことは必要とされず、また、1/2波長板も
不要とされ、従って、光学系が、使用される光学部品の
数が少とされるとともに必要容積が縮小されて、構成が
比較的簡単で小型化を図ることができるものとされる。
また、光検出ユニットに集合せしめられる複数の光検出
素子群の設定にあたっては、検光子からの3本の光ビー
ムのうちの特定の1本を検出するものについての調整を
行うことによって、他の2本を検出するものについての
調整も行われることになり、従って、各検出素子の設定
調整が容易なものとされる。
G 実施例 G−1 全体構成及び動作(第1図〜第3図) 第1図は、本発明に係る光学ピックアップ装置の一例を
示す。
この例は、光磁気ディスクに記録された情報を再生する
に用いられるものとされており、1個のユニットを形成
すべく纏められて、同心円状の記録トラックが形成され
た光磁気ディスク6の半径方向(矢印Aで示される方
向)に沿って移動できるようにされた光学系20と、この
光学系20に接続された信号処理部30とで構成されてい
る。
光学系20においては、前述の第5図に示される光学ピッ
クアップ装置の場合と同等に、半導体レーザ2から発せ
られるレーザ光ビームが、コリメータレンズ3において
平行ビーム化され、偏光ビームスプリッタ4に、例え
ば、S偏光成分として入射し、偏光ビームスプリッタ4
においてその光軸方向が変化せしめられて、対物レンズ
5を通じて集束状態とされたもとで光磁気ディスク6に
入射せしめられる。光磁気ディスク6に入射せしめられ
たレーザ光ビームは、記録トラックにおいて、垂直磁化
膜における書き込まれた情報に対応する磁化反転パター
ンに応じて偏光面の回転を生じるとともに、トラッキン
グ・サーボコントロール用ピット配列に応じた変調を受
けた状態で反射され、反射レーザ光ビームとされる。
光磁気ディスク6からの反射レーザ光ビームは、対物レ
ンズ5により受けられ、対物レンズ5を通過して、偏光
ビームスプリッタ4に入射する。そして、偏光ビームス
プリッタ4をその光軸方向の変化を生じることなく通過
したP偏光成分とされた反射レーザ光ビームが、位相補
償板10を介して検光子21に入射する。検光子21は、第1
のプリズム22と第2のプリズム23とが貼り合わされて形
成され、全体が6面体をなすものとされており、位相補
償板10を介して到来する反射レーザ光ビームが、第1の
プリズム22から入射して、第1のプリズム22から第2の
プリズム23に至るように配されている。
検光子21を構成する第1及び第2のプリズム22及び23の
夫々は、水晶で形成されており、第2図に示される如
く、第1のプリズム22は、入射する反射レーザ光ビーム
の光軸方向Iに直交する光ビーム入射面22aを有し、ま
た、第2のプリズム23は、入射する反射レーザ光ビーム
の光軸方向Iに直交する光ビーム出射面23aを有してい
る。これら第1及び第2のプリズム22及び23は、入射す
る反射レーザ光ビームの光軸方向Iに対して45度の傾斜
角をもった境界面部21aを形成して貼り合わされてい
る。
そして、第1のプリズム22における光学軸は、第2図に
おいて矢印O1で示される如く、入射する反射レーザ光ビ
ームの光軸方向Iに実質的に直交する面内にあり、か
つ、入射する反射レーザ光ビームのP偏光面(X面に直
交するy面内にある)に対して45度だけ傾いたものとさ
れている。また、第2のプリズム23における光学軸は、
第2図において矢印O2で示される如く、入射する反射レ
ーザ光ビームの光軸方向Iに実質的に直交する面内にあ
り、かつ、入射する反射レーザ光ビームのP偏光面に対
して直交するものとされている。即ち、第2のプリズム
23における光学軸は、第1のプリズム22における光学軸
に対して45度をなすものとされているのである。
斯る検光子21においては、それを形成する第1及び第2
のプリズム22及び23における光学軸が上述の如くに選定
されることにより、第3図に示される如く、境界面部21
aにおいて、第1のプリズム22の光ビーム入射面22aから
それに直交する光軸方向Iを有してP偏光入射する反射
レーザ光ビームに基づいて、P偏光成分である第1の光
ビームが、境界面部21aにおける法線に対してy面内に
おいて角度θeをなす光軸方向Ieをもって得られ、ま
た、S偏光成分である第2の光ビームが、境界面部21a
における法線に対してy面内において角度θo(θo>
θe)をなす光軸方向Ioをもって得られ、さらに、P偏
光成分とS偏光成分との合成成分である第3の光ビーム
が、入射する反射レーザ光ビームと同じ光軸方向Iをも
って第1の光ビームと第2の光ビームとの間に得られ
て、これら相互に分離した第1の光ビーム,第2の光ビ
ーム及び第3の光ビームの3本の光ビームが第2のプリ
ズム22の光ビーム出射面23aから出射される。
即ち、検光子21においては、位相補償板10を介してP偏
光入射する反射レーザ光ビームに基づいて、P偏光成分
の光ビームと、S偏光成分の光ビームと、P偏光成分と
S偏光成分との合成成分の光ビームとの3本の光ビーム
が相互に分離されて得られるのである。
そして、第1図に示される如くに、上述のようにして検
光子21から得られるP偏光成分である第1の光ビーム
L1,S偏光成分である第2の光ビームL2、及び、P偏光成
分とS偏光成分との合成成分である第3の光ビームL3
が、共通の集光レンズ24で通じて、さらに、中央に位置
する第3の光ビームL3はシリンドリカル・レンズ25を通
じたうえで、光検出ユニット26に夫々入射せしめられ
る。光検出ユニット26には、検光子21から分離されて出
射する第1の光ビームL1を検出する光検出素子,第2の
光ビームL2を検出する光検出素子、及び、第3の光ビー
ムL3を検出する光検出素子群が集合せしめられており、
各光検出素子及び光検出素子群から、第1の光ビームL1
の検出出力信号、第2の光ビームL2の検出出力信号、及
び、第3の光ビームL3の検出出力信号が夫々得られて、
それらが信号処理部30に供給される。
信号処理部30においては、第1の光ビームL1の検出出力
信号と第2の光ビームL2の検出出力信号とが相互比較さ
れることにより、光磁気ディスク6の垂直磁化膜におい
て反射レーザ光ビームが受けた偏光面の回転が検出さ
れ、その偏光面の回転に応じた変化を有するものとなる
比較出力に基づいて読取情報信号Siが形成される。そし
て、斯かる読取情報信号Siに基づいて、再生情報が得ら
れる。また、信号処理部30においては、第3の光ビーム
L3の検出出力信号に基づいて、反射レーザ光ビームが光
磁気ディスク6に設けられたトラッキング・サーボコン
トロール用ピット配列から受ける変化が検出され、その
検出結果に基づく、光磁気ディスク6に入射せしめられ
たレーザ光ビームの記録トラックに対する追従状態をあ
らわすトラッキング・エラー信号Stが形成され,さら
に、例えば、第3の光ビームL3のそれを検出する光検出
素子群上でのスポット形状が検出され、その検出結果に
基づく、光磁気ディスク6に入射せしめられたレーザ光
ビームの記録トラック上における集束状態をあらわすフ
ォーカス・エラー信号Sfが形成される。これらトラッキ
ング・エラー信号St及びフォーカス・エラー信号Sfは、
対物レンズ5に関連して設けられた、図示が省略されて
いるレンズ駆動機構を作動させて行われるトラッキング
・サーボコントロール及びフォーカス・サーボコントロ
ールに夫々用いられる。
G−2 光検出ユニット及び信号処理部の具体構成例
(第4図) 第4図は、光検出ユニット26及び信号処理部30の具体構
成例を示す。
この具体構成例においては、光検出ユニット26には、P
偏光成分である第1の光ビームL1を検出する光検出素子
27,S偏光成分である第2の光ビームL2を検出する光検出
素子28、及び、P偏光成分とS偏光成分との合成成分で
ある第3の光ビームL3を検出する光検出素子群29が、光
検出素子群29を中央にして配列載置されており、光検出
素子群29は、4個の光検出素子29a,29b,29c及び29dで構
成されている。そして、これら光検出素子27,光検出素
子28及び光検出素子群29上に、第1の光ビームL1,第2
の光ビームL2及び第3の光ビームL3が夫々入射せしめら
れるが、これら光検出素子27,光検出素子28及び光検出
素子群29に対する、夫々に第1の光ビームL1,第2の光
ビームL2及び第3の光ビームL3を適正に入射させるため
の設定調整にあたっては、光検出ユニット26を、中央に
位置する光検出素子群29に第3の光ビームL3が適正に入
射する状態となるように調整することで足り、斯かる調
整に伴って、光検出素子27及び28に第1及び第2の光ビ
ームL1及びL2が適正に入射する状態が得られる。
光検出素子27からは検出出力信号R1が、また、光検出素
子28からは検出出力信号R2が得られ、さらに、光検出素
子群29を形成する光検出素子29a〜29dから検出出力信号
Ra,Rb,Rc及びRdが夫々得られて、各検出出力信号が信号
処理部30に供給される。
信号処理部30においては、光検出素子27からの検出出力
信号R1と光検出素子28からの検出出力信号R2とが、夫
々、増幅回路31と増幅回路32とで増幅された後、差動回
路33において比較され、両者の差に応じた比較出力が差
動回路33から得られて、読取情報信号Siとされる。
また、光検出素子群29からの検出出力信号Raと検出出力
信号Rcとが加算回路34に供給されて、和の出力信号Ra+
Rcが得られ、さらに、光検出素子群29からの検出出力信
号Rbと検出出力信号Rdとが加算回路35に供給されて、和
の出力信号Rb+Rdが得られる。そして、加算回路36にお
いて、和の出力信号Ra+Rcと和の出力信号Rb+Rdとの和
がとられて総和出力信号Re(Ra+Rc+Rb+Rd)が得ら
れ、それがサンプル・ホールド回路38及び39の両者に供
給される。サンプル・ホールド回路38及び39には、サン
プリングパルス発生部40からの、光磁気ディスク6に設
けられたトラッキング・サーボコントロール用ピット配
列のパターンに応じた時間差を有するサンプリングパル
スP1及びP2も供給され、サンプル・ホールド回路38か
ら、総和出力信号Reに対するサンプリングパルスP1によ
るサンプル/ホールドが行われて得られるサンプル/ホ
ールド出力信号S1が得られるとともに、サンプル・ホー
ルド回路39から、総和出力信号Reに対するサンプリング
パルスP2によるサンプル/ホールドが行われて得られる
サンプル/ホールド出力信号S2が得られる。これらサン
プル/ホールド出力信号S1及びS2は差動回路41において
比較され、差動回路41から両者の差に応じた比較出力が
得られて、それによりトラッキング・エラー信号Stが形
成される。
さらに、減算回路37において、和の出力信号Ra+Rcと和
の出力信号Rb+Rdとの差がとられて差の出力信号(Ra+
Rc)−(Rb+Rd)が得られ、それによりフォーカス・エ
ラー信号Sfが形成される。
G−3 変形例 なお、上述の例においては、検光子21を形成する第1の
プリズム22の光学軸が、入射する反射レーザ光ビームの
光軸方向Iに実質的に直交する面内にあり、かつ、入射
する反射レーザ光ビームのP偏光面に対して45度だけ傾
いたものとされているが、本発明に係る光学ピックアッ
プ装置に用いられる検光子を形成する第1のプリズムの
光学軸は、必ずしも、入射する反射レーザ光ビームのP
偏光面に対して45度だけ傾いたものとされる必要はな
く、入射する反射レーザ光ビームのP偏光面に対して、
45度より小あるいは大なる所定の角度だけ傾いたものと
されてよい。
H 発明の効果 以上の説明から明らかな如く、本発明に係る光学ピック
アップ装置においては、光ビーム発生源からの光ビーム
を対物レンズを通じて、光磁気ディスク等の記録媒体に
集束状態をもって入射させ、記録媒体から対物レンズを
通じて戻る反射光ビームに基づく直交偏光成分を個別に
検出して比較することにより読取情報信号を得るととも
に、反射光ビームが光磁気ディスクから受ける変化に基
づいて、トラッキング・サーボコントロールやフォーカ
ス・サーボコントロール等のサーボコントロール用のサ
ーボ・エラー信号を得るにあたり、一個の検光子によ
り、記録媒体からの反射光ビームに基づく直交偏光成分
が相互に分離せしめられて成る2本と、直交偏光成分の
両者を含む1本との合計3本の光ビームを得ることがで
き、また、それらを個々に検出する複数の光検出素子
を、光検出ユニットに集合せしめられるので、例えば、
サーボエラー検出のための光学路と読取情報検出用の光
学路とを個別に形成するためのビームスプリッタを含む
光学部品や1/2波長板等が不要とされる。
従って、本発明に係る光学ピックアップ装置は、光学系
が、使用される光学部品の数が少とされるとともに必要
容積が縮小されて、構成が比較的簡単で小型化を図るこ
とができるものとされることになる。また、光検出ユニ
ットに集合せしめられる複数の光検出素子の設定にあた
っては、検光子からの3本の光ビームのうちの特定の1
本を検出するものについての調整を行うことによって、
他の2本を検出するものについての調整も行われること
になり、従って、各光検出素子の設定調整が、多大な工
数を要さず、容易に行えるものとされる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る光学ピックアップ装置の一例を簡
略化して示す構成図、第2図及び第3図は第1図に示さ
れる例に用いられる検光子の説明に供される図、第4図
は第1図に示される例に用いられる光検出ユニット及び
信号処理部の具体構成例を示す概略構成図、第5図は従
来提案されている光学ピックアップ装置の一例を簡略化
して示す構成図である。 図中、2は半導体レーザ、3はコリメータレンズ、4は
偏光ビームスプリッタ、5は対物レンズ、6は光磁気デ
ィスク、20は光学系、21は検光子、22は第1のプリズ
ム、23は第2のプリズム、24は集光レンズ、26は光検出
ユニット、30は信号処理部である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光ビーム発生源と、 該光ビーム発生源からの光ビームを記録媒体に集束状態
    をもって入射させるとともに上記記録媒体からの反射光
    ビームを受ける対物レンズと、 上記光ビーム発生源から上記対物レンズに入射する光ビ
    ームと上記対物レンズを経た反射光ビームとを分離する
    ビームスプリッタと、 夫々水晶で形成された第1のプリズムと第2のプリズム
    とが貼り合わされて構成されて、上記ビームスプリッタ
    からの反射光ビームが上記第1のプリズムから入射して
    上記第2のプリズムに至る位置に配され、上記第1のプ
    リズムにおける光学軸が入射する反射光ビームの光軸に
    実質的に直交する面内にあり、かつ、上記入射する反射
    光ビームの偏光面に対して所定の角度だけ傾いたものと
    されるとともに、上記第2のプリズムにおける光学軸が
    上記入射する反射光ビームの光軸に実質的に直交する面
    内にあり、かつ、上記第1のプリズムにおける光学軸と
    所定の角度をなすものとされて、上記入射する反射光ビ
    ームに基づく少なくとも3本の光ビームを出射させる検
    光子と、 該検光子から出射する上記3本の光ビームを個々に検出
    する複数の光検出素子が内蔵された光検出ユニットと、 を備えて成る光学ピックアップ装置。
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