JP2003083812A - 解析中の光を出力可能な偏波アナライザ装置 - Google Patents
解析中の光を出力可能な偏波アナライザ装置Info
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
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- G02B6/10—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
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Abstract
(57)【要約】
【課題】光を使用する時点でのリアルタイムな偏波状態
の解析・測定を実行できると共に、偏波制御部を設け
て、長時間に渡り特定の偏波状態に保つことが可能な偏
波アナライザを提供する。 【解決手段】光入力部から入射された入力光を分岐する
光分岐手段２を含み、前記分岐手段で分岐した光の一部
を偏波アナライザ１に供給すると共に、残りの光を外部
に出力する光出力部を有し、前記光分岐素子の前段に偏
波コントローラ６を設け、前記偏波アナライザからの偏
波情報に応じて前記偏波コントローラを制御して任意の
偏波状態に保持する。
の解析・測定を実行できると共に、偏波制御部を設け
て、長時間に渡り特定の偏波状態に保つことが可能な偏
波アナライザを提供する。 【解決手段】光入力部から入射された入力光を分岐する
光分岐手段２を含み、前記分岐手段で分岐した光の一部
を偏波アナライザ１に供給すると共に、残りの光を外部
に出力する光出力部を有し、前記光分岐素子の前段に偏
波コントローラ６を設け、前記偏波アナライザからの偏
波情報に応じて前記偏波コントローラを制御して任意の
偏波状態に保持する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】入射光の偏波状態を解析する
偏波アナライザに関し、特に、解析中の光を外部に出力
可能なリアルタイムで解析が実行される偏波アナライザ
装置に関する。
偏波アナライザに関し、特に、解析中の光を外部に出力
可能なリアルタイムで解析が実行される偏波アナライザ
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の偏波アナライザは、当該偏波アナ
ライザに入力される光の偏波状態を測定（解析）するだ
けであって、ＳＭＦ（シングル・モード・ファイバ）の
使用時には、偏波状態を測定後に、光ファイバを偏波ア
ナライザから取り外すことにより、偏波状態が再度変化
してしまうという問題があった。。
ライザに入力される光の偏波状態を測定（解析）するだ
けであって、ＳＭＦ（シングル・モード・ファイバ）の
使用時には、偏波状態を測定後に、光ファイバを偏波ア
ナライザから取り外すことにより、偏波状態が再度変化
してしまうという問題があった。。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】したがって、光を使用
する時点でのリアルタイムな偏波状態の解析・測定を実
行することができなかった。
する時点でのリアルタイムな偏波状態の解析・測定を実
行することができなかった。
【０００４】また、偏波アナライザには、偏波アナライ
ザからの偏波情報をもとに制御する偏波制御部を有して
はいなかったので、長時間に渡り任意の偏波状態に保つ
ことができなかった。また、偏波状態を安定に保つため
に、偏波保持ファイバ（ＰＭＦ）が用いられるが、ＳＭ
Ｆ出力の光源などをＰＭＦに接続することは、ＳＭＦ内
部での偏波状態が変化するために不可能であった。
ザからの偏波情報をもとに制御する偏波制御部を有して
はいなかったので、長時間に渡り任意の偏波状態に保つ
ことができなかった。また、偏波状態を安定に保つため
に、偏波保持ファイバ（ＰＭＦ）が用いられるが、ＳＭ
Ｆ出力の光源などをＰＭＦに接続することは、ＳＭＦ内
部での偏波状態が変化するために不可能であった。
【０００５】本発明の課題（目的）は、光を使用する時
点でのリアルタイムな偏波状態の解析・測定を実行でき
ると共に、偏波制御部を設けて、長時間に渡り任意の偏
波状態に保つことが可能な偏波アナライザを提供するこ
とにある。
点でのリアルタイムな偏波状態の解析・測定を実行でき
ると共に、偏波制御部を設けて、長時間に渡り任意の偏
波状態に保つことが可能な偏波アナライザを提供するこ
とにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、光入力部から入射された入力光を分岐する光分岐手
段を含み、前記分岐手段で分岐した光の一部を偏波アナ
ライザに供給すると共に、残りの光を外部に出力する光
出力部を有するので、解析中の光を偏波アナライザ装置
外部に出力することが可能である。（請求項１）
に、光入力部から入射された入力光を分岐する光分岐手
段を含み、前記分岐手段で分岐した光の一部を偏波アナ
ライザに供給すると共に、残りの光を外部に出力する光
出力部を有するので、解析中の光を偏波アナライザ装置
外部に出力することが可能である。（請求項１）
【０００７】また、前記光出力部から外部光ファイバに
出力される出力光を集光する集光レンズを含むことによ
って偏波アナライザ装置外部のＳＭＦ又はＰＭＦに現在
偏波状態を解析中の平行光を出力できる。（請求項２） また、前記光分岐素子の前段に偏波コントローラを設
け、前記偏波アナライザからの偏波情報に応じて前記偏
波コントローラを制御して任意の偏波状態に保持された
光を偏波アナライザ装置外部のＳＭＦ又はＰＭＦに出力
することができる。（請求項３）
出力される出力光を集光する集光レンズを含むことによ
って偏波アナライザ装置外部のＳＭＦ又はＰＭＦに現在
偏波状態を解析中の平行光を出力できる。（請求項２） また、前記光分岐素子の前段に偏波コントローラを設
け、前記偏波アナライザからの偏波情報に応じて前記偏
波コントローラを制御して任意の偏波状態に保持された
光を偏波アナライザ装置外部のＳＭＦ又はＰＭＦに出力
することができる。（請求項３）
【０００８】また、前記光入力部から光出力部の光路内
に、少なくとも１個の偏光素子を含む。（請求項４） また、前記偏光素子の少なくとも１個には、任意の位置
にセット可能な回転機構又は、偏光素子を光路内に抜き
差し可能な駆動機構を備える。（請求項５） また、前記偏光素子の後段には、光可変減衰手段を設
け、前記偏光素子を通過した光をモニタした出力に応じ
て、前記光可変減衰手段を制御して光出力部から出力さ
れる光出力量を一定に保持する。（請求項６）
に、少なくとも１個の偏光素子を含む。（請求項４） また、前記偏光素子の少なくとも１個には、任意の位置
にセット可能な回転機構又は、偏光素子を光路内に抜き
差し可能な駆動機構を備える。（請求項５） また、前記偏光素子の後段には、光可変減衰手段を設
け、前記偏光素子を通過した光をモニタした出力に応じ
て、前記光可変減衰手段を制御して光出力部から出力さ
れる光出力量を一定に保持する。（請求項６）
【０００９】また、前記モニタは、偏光素子の出力を光
分岐素子で分岐した一部の光を受光素子に与えて行う。
（請求項７） また、前記偏波コントローラは、波長板型とする。（請
求項８） また、前記光分岐手段を無偏光ビームスプリッタで構成
する。（請求項９）
分岐素子で分岐した一部の光を受光素子に与えて行う。
（請求項７） また、前記偏波コントローラは、波長板型とする。（請
求項８） また、前記光分岐手段を無偏光ビームスプリッタで構成
する。（請求項９）
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の解析中の光を出力可能な
偏波アナライザ装置を図１〜６を用いて説明する。図１
は、本発明の第１の実施の形態である偏波アナライザ装
置の構成を示す図であって、１は偏波アナライザ、２は
光分岐素子、３は入力側集光レンズ、４はミラー（反射
手段）である。ＳＭＦ（シングル・モード・ファイバ）
を介して入射された光を光分岐素子２で分岐した一部の
光を偏波アナライザ１で解析・測定を実行する。また、
光分岐素子２で分岐された残りの光はミラー４で反射さ
れて、装置外部に出力される。このように、現在偏波ア
ナライザ１で解析・測定中の光が装置外部に出力される
構成となっているために、光を使用する時点でのリアル
タイムな偏波状態の解析・測定を実行できる。
偏波アナライザ装置を図１〜６を用いて説明する。図１
は、本発明の第１の実施の形態である偏波アナライザ装
置の構成を示す図であって、１は偏波アナライザ、２は
光分岐素子、３は入力側集光レンズ、４はミラー（反射
手段）である。ＳＭＦ（シングル・モード・ファイバ）
を介して入射された光を光分岐素子２で分岐した一部の
光を偏波アナライザ１で解析・測定を実行する。また、
光分岐素子２で分岐された残りの光はミラー４で反射さ
れて、装置外部に出力される。このように、現在偏波ア
ナライザ１で解析・測定中の光が装置外部に出力される
構成となっているために、光を使用する時点でのリアル
タイムな偏波状態の解析・測定を実行できる。
【００１１】図２は、本発明の第２の実施の形態である
偏波アナライザ装置の構成を示す図であって、１は偏波
アナライザ、２は光分岐素子、３は入力側集光レンズ、
４はミラー（反射手段）、５は出力側集光レンズであ
る。ＳＭＦ（シングル・モード・ファイバ）を介して入
射された光を光分岐素子２で分岐した一部の光を偏波ア
ナライザ１で解析・測定を実行する。また、光分岐素子
２で分岐された残りの光はミラー４で反射されて、集光
レンズ５介して装置外部（ＳＭＦ又はＰＭＦ）に出力さ
れる。このように、現在偏波アナライザ１で解析・測定
中の光が集光レンズを介して装置外部（ＳＭＦ又はＰＭ
Ｆ）に出力される構成となっているために、光を使用す
る時点でのリアルタイムな偏波状態の解析・測定を実行
できる。
偏波アナライザ装置の構成を示す図であって、１は偏波
アナライザ、２は光分岐素子、３は入力側集光レンズ、
４はミラー（反射手段）、５は出力側集光レンズであ
る。ＳＭＦ（シングル・モード・ファイバ）を介して入
射された光を光分岐素子２で分岐した一部の光を偏波ア
ナライザ１で解析・測定を実行する。また、光分岐素子
２で分岐された残りの光はミラー４で反射されて、集光
レンズ５介して装置外部（ＳＭＦ又はＰＭＦ）に出力さ
れる。このように、現在偏波アナライザ１で解析・測定
中の光が集光レンズを介して装置外部（ＳＭＦ又はＰＭ
Ｆ）に出力される構成となっているために、光を使用す
る時点でのリアルタイムな偏波状態の解析・測定を実行
できる。
【００１２】図３は、本発明の第３の実施の形態である
偏波アナライザ装置の構成を示す図であって、１は偏波
アナライザ、２は光分岐素子、３は入力側集光レンズ、
４はミラー（反射手段）、５は出力側集光レンズ、６は
偏波コントローラである。ＳＭＦ（シングル・モード・
ファイバ）を介して入射された光を偏波アナライザによ
り解析・測定して得た偏波情報を、偏波コントローラに
フィードバックして制御することによって、任意の偏波
状態に保持された光を集光レンズ５介して装置外部（Ｓ
ＭＦ又はＰＭＦ）に出力される。
偏波アナライザ装置の構成を示す図であって、１は偏波
アナライザ、２は光分岐素子、３は入力側集光レンズ、
４はミラー（反射手段）、５は出力側集光レンズ、６は
偏波コントローラである。ＳＭＦ（シングル・モード・
ファイバ）を介して入射された光を偏波アナライザによ
り解析・測定して得た偏波情報を、偏波コントローラに
フィードバックして制御することによって、任意の偏波
状態に保持された光を集光レンズ５介して装置外部（Ｓ
ＭＦ又はＰＭＦ）に出力される。
【００１３】この構成により、現在偏波アナライザ１で
解析・測定中の光が集光レンズを介して装置外部（ＳＭ
Ｆ又はＰＭＦ）に出力される構成となっているために、
光を使用する時点でのリアルタイムな偏波状態の解析・
測定を実行できる。また、偏波アナライザには、偏波コ
ントローラを有しているので、長時間に渡り任意の偏波
状態に保つことができる。
解析・測定中の光が集光レンズを介して装置外部（ＳＭ
Ｆ又はＰＭＦ）に出力される構成となっているために、
光を使用する時点でのリアルタイムな偏波状態の解析・
測定を実行できる。また、偏波アナライザには、偏波コ
ントローラを有しているので、長時間に渡り任意の偏波
状態に保つことができる。
【００１４】図４は、本発明の第４の実施の形態である
偏波アナライザ装置の構成を示す図であって、１は偏波
アナライザ、２は光分岐素子、３は入力側集光レンズ、
４はミラー（反射手段）、５は出力側集光レンズ、６は
偏波コントローラ、７は偏光素子である。ＳＭＦ（シン
グル・モード・ファイバ）を介して入射された光を偏波
アナライザにより解析・測定して得た偏波情報を、偏波
コントローラにフィードバックして制御することによっ
て、任意の偏波状態に保持された光を偏光素子７で直線
偏光にして集光レンズ５介して装置外部（ＳＭＦ又はＰ
ＭＦ）に出力される。なお、図４では、偏光素子７がミ
ラー４と出力側集光レンズ５との間に挿入されている
が、挿入位置は必ずしも、この位置である必要はなく、
入射部から出射部の光学系の任意の位置に複数の偏光素
子を挿入することが可能である。
偏波アナライザ装置の構成を示す図であって、１は偏波
アナライザ、２は光分岐素子、３は入力側集光レンズ、
４はミラー（反射手段）、５は出力側集光レンズ、６は
偏波コントローラ、７は偏光素子である。ＳＭＦ（シン
グル・モード・ファイバ）を介して入射された光を偏波
アナライザにより解析・測定して得た偏波情報を、偏波
コントローラにフィードバックして制御することによっ
て、任意の偏波状態に保持された光を偏光素子７で直線
偏光にして集光レンズ５介して装置外部（ＳＭＦ又はＰ
ＭＦ）に出力される。なお、図４では、偏光素子７がミ
ラー４と出力側集光レンズ５との間に挿入されている
が、挿入位置は必ずしも、この位置である必要はなく、
入射部から出射部の光学系の任意の位置に複数の偏光素
子を挿入することが可能である。
【００１５】この構成により、現在偏波アナライザ１で
解析・測定中の光が集光レンズを介して装置外部（ＳＭ
Ｆ又はＰＭＦ）に直線偏光にされて出力される構成とな
っているために、光を使用する時点でのリアルタイムな
偏波状態の解析・測定を実行できる。また、偏波アナラ
イザには、偏波コントローラを有しているので、長時間
に渡り任意の偏波状態に保つことができる。
解析・測定中の光が集光レンズを介して装置外部（ＳＭ
Ｆ又はＰＭＦ）に直線偏光にされて出力される構成とな
っているために、光を使用する時点でのリアルタイムな
偏波状態の解析・測定を実行できる。また、偏波アナラ
イザには、偏波コントローラを有しているので、長時間
に渡り任意の偏波状態に保つことができる。
【００１６】図５は、本発明の第５の実施の形態である
偏波アナライザ装置の構成を示す図であって、１は偏波
アナライザ、２は光分岐素子、３は入力側集光レンズ、
４はミラー（反射手段）、５は出力側集光レンズ、６は
偏波コントローラ、７は偏光素子、８は光可変減衰器
（ＡＴＴ）、９は光分岐素子、１０は受光素子である。
前記光可変減衰器は、光分岐素子によって分岐された一
部の光を受光素子に与え、受光素子の検出出力に応じて
装置外部に出力される光出力の強度が一定になるように
制御される構成となっている。
偏波アナライザ装置の構成を示す図であって、１は偏波
アナライザ、２は光分岐素子、３は入力側集光レンズ、
４はミラー（反射手段）、５は出力側集光レンズ、６は
偏波コントローラ、７は偏光素子、８は光可変減衰器
（ＡＴＴ）、９は光分岐素子、１０は受光素子である。
前記光可変減衰器は、光分岐素子によって分岐された一
部の光を受光素子に与え、受光素子の検出出力に応じて
装置外部に出力される光出力の強度が一定になるように
制御される構成となっている。
【００１７】したがって、ＳＭＦ（シングル・モード・
ファイバ）を介して入射された光を偏波アナライザによ
り解析・測定して得た偏波情報を、偏波コントローラに
フィードバックして制御することによって、任意の偏波
状態に保持された光を偏光素子７で直線偏光にして集光
レンズ５を介して装置外部（ＳＭＦ又はＰＭＦ）に一定
の強度に保たれて出力される。
ファイバ）を介して入射された光を偏波アナライザによ
り解析・測定して得た偏波情報を、偏波コントローラに
フィードバックして制御することによって、任意の偏波
状態に保持された光を偏光素子７で直線偏光にして集光
レンズ５を介して装置外部（ＳＭＦ又はＰＭＦ）に一定
の強度に保たれて出力される。
【００１８】この構成により、現在偏波アナライザ１で
解析・測定中の光が集光レンズを介して装置外部（ＳＭ
Ｆ又はＰＭＦ）に直線偏光にされて出力される構成とな
っているために、光を使用する時点でのリアルタイムな
偏波状態の解析・測定を実行できる。また、偏波アナラ
イザには、偏波コントローラを有しているので、長時間
に渡り任意の偏波状態に保つと共に、出力光の強度も一
定に保つことができる。
解析・測定中の光が集光レンズを介して装置外部（ＳＭ
Ｆ又はＰＭＦ）に直線偏光にされて出力される構成とな
っているために、光を使用する時点でのリアルタイムな
偏波状態の解析・測定を実行できる。また、偏波アナラ
イザには、偏波コントローラを有しているので、長時間
に渡り任意の偏波状態に保つと共に、出力光の強度も一
定に保つことができる。
【００１９】図６は、本発明の第６の実施の形態である
偏波アナライザ装置の構成を示す図であって、１は偏波
アナライザ、２は光分岐素子、３は入力側集光レンズ、
４はミラー（反射手段）、５は出力側集光レンズ、６は
偏波コントローラ、７は偏光素子、８は光可変減衰器
（ＡＴＴ）、９は光分岐素子、１０は受光素子である。
前記光可変減衰器は偏波コントローラの前段に設けら
れ、光分岐素子によって分岐された一部の光を受光素子
に与え、受光素子の検出出力に応じて装置外部に出力さ
れる光出力の強度が一定になるように制御される構成と
なっている。
偏波アナライザ装置の構成を示す図であって、１は偏波
アナライザ、２は光分岐素子、３は入力側集光レンズ、
４はミラー（反射手段）、５は出力側集光レンズ、６は
偏波コントローラ、７は偏光素子、８は光可変減衰器
（ＡＴＴ）、９は光分岐素子、１０は受光素子である。
前記光可変減衰器は偏波コントローラの前段に設けら
れ、光分岐素子によって分岐された一部の光を受光素子
に与え、受光素子の検出出力に応じて装置外部に出力さ
れる光出力の強度が一定になるように制御される構成と
なっている。
【００２０】したがって、図５の場合と同様に、ＳＭＦ
（シングル・モード・ファイバ）を介して入射し、偏光
素子７で直線偏光にされた光をもとに、偏波アナライザ
により解析・測定して得た偏波情報を偏波コントローラ
にフィードバックして制御することによって、任意の偏
波状態に保持された光を集光レンズ５を介して装置外部
（ＳＭＦ又はＰＭＦ）に一定の強度に保たれて出力され
る。
（シングル・モード・ファイバ）を介して入射し、偏光
素子７で直線偏光にされた光をもとに、偏波アナライザ
により解析・測定して得た偏波情報を偏波コントローラ
にフィードバックして制御することによって、任意の偏
波状態に保持された光を集光レンズ５を介して装置外部
（ＳＭＦ又はＰＭＦ）に一定の強度に保たれて出力され
る。
【００２１】この構成により、現在偏波アナライザ１で
解析・測定中の光が集光レンズを介して装置外部（ＳＭ
Ｆ又はＰＭＦ）に任意の偏波状態で出力される構成とな
っているために、光を使用する時点でのリアルタイムな
偏波状態の解析・測定を実行できる。また、偏波アナラ
イザには、偏波情報をもとに偏波を制御する偏波コント
ローラを有しているので、長時間に渡り任意の偏波状態
に保つと共に、出力光の強度も一定に保つことができ
る。
解析・測定中の光が集光レンズを介して装置外部（ＳＭ
Ｆ又はＰＭＦ）に任意の偏波状態で出力される構成とな
っているために、光を使用する時点でのリアルタイムな
偏波状態の解析・測定を実行できる。また、偏波アナラ
イザには、偏波情報をもとに偏波を制御する偏波コント
ローラを有しているので、長時間に渡り任意の偏波状態
に保つと共に、出力光の強度も一定に保つことができ
る。
【００２２】次に図7を用いて、偏波アナライザの一例
を説明する。図７は、ストークスパラメータによる偏波
状態の識別を行うもので、図７において、入力光を受光
器(1)には直接、第１の偏光素子72を介して受光器(2)
に、前記第１の偏光素子とは異なる角度に配置された第
２の偏光素子73を介して受光器(3)に、1/4波長板71及び
前記第１の偏光素子72及び第２の偏光素子73とは異なる
角度に配置された第３の偏光素子74を介して受光器(4)
に与えて、各受光器の出力を処理することによって偏波
状態の識別が行なわれる。
を説明する。図７は、ストークスパラメータによる偏波
状態の識別を行うもので、図７において、入力光を受光
器(1)には直接、第１の偏光素子72を介して受光器(2)
に、前記第１の偏光素子とは異なる角度に配置された第
２の偏光素子73を介して受光器(3)に、1/4波長板71及び
前記第１の偏光素子72及び第２の偏光素子73とは異なる
角度に配置された第３の偏光素子74を介して受光器(4)
に与えて、各受光器の出力を処理することによって偏波
状態の識別が行なわれる。
【００２３】更に、図８を用いて本発明に用いられる偏
波コントローラの例について説明を行う。図８の(a)
は、ファイバループ型偏波コントローラであって、複数
のループ状に形成されたファイバを図示の矢印如く動か
すことによって、偏波状態を変化させることができる。
波コントローラの例について説明を行う。図８の(a)
は、ファイバループ型偏波コントローラであって、複数
のループ状に形成されたファイバを図示の矢印如く動か
すことによって、偏波状態を変化させることができる。
【００２４】また、図８の(b)は、ピエゾボビン型偏波
コントローラであって、ピエゾ素子で構成されたボビン
に捲回されたＰＭＦを、ピエゾ素子の膨張に応じて張力
を与えることにより偏波状態を変化させるものである。
しかし、これら型の偏波コントローラは、矢印の方向に
動かした場合の偏波状態の変化に一定の規則性は存在し
ないので、偏波状態の再現性は難しい。
コントローラであって、ピエゾ素子で構成されたボビン
に捲回されたＰＭＦを、ピエゾ素子の膨張に応じて張力
を与えることにより偏波状態を変化させるものである。
しかし、これら型の偏波コントローラは、矢印の方向に
動かした場合の偏波状態の変化に一定の規則性は存在し
ないので、偏波状態の再現性は難しい。
【００２５】また、図８の(c)は、波長板型偏波コント
ローラであって、入力光を偏光素子8-1を介して直線偏
光にした後、1/4波長板8-2及び1/2波長板8-3の回転角を
変化させることによって、偏波状態を変化させるもので
あり、偏波状態の再現性が高い。この波長板型偏波コン
トローラでは、1/4波長板を矢印の方向に回転させる
と、ポアンカレ球の大円上を回る。（楕円率が変化す
る。）また、1/2波長板を矢印の方向に回転させること
により赤道上を回る。（偏波角度が変化する。）
ローラであって、入力光を偏光素子8-1を介して直線偏
光にした後、1/4波長板8-2及び1/2波長板8-3の回転角を
変化させることによって、偏波状態を変化させるもので
あり、偏波状態の再現性が高い。この波長板型偏波コン
トローラでは、1/4波長板を矢印の方向に回転させる
と、ポアンカレ球の大円上を回る。（楕円率が変化す
る。）また、1/2波長板を矢印の方向に回転させること
により赤道上を回る。（偏波角度が変化する。）
【００２６】
【発明の効果】請求項１に記載の発明では、光入力部か
ら入射された入力光を分岐する光分岐手段を含み、前記
分岐手段で分岐した光の一部を偏波アナライザに供給す
ると共に、残りの光を外部に出力する光出力部を有する
ので、解析中の光を偏波アナライザ装置外部に出力可能
であるので、リアルタイムに偏波状態の解析・測定が可
能である。
ら入射された入力光を分岐する光分岐手段を含み、前記
分岐手段で分岐した光の一部を偏波アナライザに供給す
ると共に、残りの光を外部に出力する光出力部を有する
ので、解析中の光を偏波アナライザ装置外部に出力可能
であるので、リアルタイムに偏波状態の解析・測定が可
能である。
【００２７】また、請求項２に記載の発明では、前記光
出力部から外部光ファイバに出力される出力光を集光す
る集光レンズを含むことによって偏波アナライザ装置外
部のＳＭＦ又はＰＭＦに現在偏波状態を解析中の平行光
をリアルタイムに出力できる。また、請求項３に記載の
発明では、前記光分岐素子の前段に偏波コントローラを
設け、前記偏波アナライザからの偏波情報に応じて前記
偏波コントローラを制御して任意の偏波状態に長時間に
亘って安定に保持された光を偏波アナライザ装置外部の
ＳＭＦ又はＰＭＦに出力することができる。
出力部から外部光ファイバに出力される出力光を集光す
る集光レンズを含むことによって偏波アナライザ装置外
部のＳＭＦ又はＰＭＦに現在偏波状態を解析中の平行光
をリアルタイムに出力できる。また、請求項３に記載の
発明では、前記光分岐素子の前段に偏波コントローラを
設け、前記偏波アナライザからの偏波情報に応じて前記
偏波コントローラを制御して任意の偏波状態に長時間に
亘って安定に保持された光を偏波アナライザ装置外部の
ＳＭＦ又はＰＭＦに出力することができる。
【００２８】また、請求項４及び５に記載の発明では、
前記光入力部から光出力部の光路内に、少なくとも１個
の偏光素子を含み、更に、前記偏光素子の少なくとも１
個には、任意の位置にセット可能な回転機構又は、偏光
素子を光路内に抜き差し可能な駆動機構を備える構成に
より、出力ファイバがＰＭＦのときに消光比を高めた直
線偏光の光をＰＭＦの偏波軸に合わせて出力することが
でき、また偏波状態の解析・測定中に、偏光素子の挿入
・離脱を簡単に行うことができる。
前記光入力部から光出力部の光路内に、少なくとも１個
の偏光素子を含み、更に、前記偏光素子の少なくとも１
個には、任意の位置にセット可能な回転機構又は、偏光
素子を光路内に抜き差し可能な駆動機構を備える構成に
より、出力ファイバがＰＭＦのときに消光比を高めた直
線偏光の光をＰＭＦの偏波軸に合わせて出力することが
でき、また偏波状態の解析・測定中に、偏光素子の挿入
・離脱を簡単に行うことができる。
【００２９】また、請求項６に記載の発明では、前記偏
光素子の後段には、光可変減衰手段を設け、前記偏光素
子を通過した光をモニタした出力に応じて、前記光可変
減衰手段を制御して光出力部から出力される光出力量を
一定に保持すると共に、任意の偏波状態に長時間に亘っ
て安定に保持された光を偏波アナライザ装置外部のＳＭ
Ｆ又はＰＭＦに出力することができる。
光素子の後段には、光可変減衰手段を設け、前記偏光素
子を通過した光をモニタした出力に応じて、前記光可変
減衰手段を制御して光出力部から出力される光出力量を
一定に保持すると共に、任意の偏波状態に長時間に亘っ
て安定に保持された光を偏波アナライザ装置外部のＳＭ
Ｆ又はＰＭＦに出力することができる。
【００３０】また、請求項７〜９に記載の発明では、前
記モニタは、偏光素子の出力を光分岐素子で分岐した一
部の光を受光素子に与えて行い、前記偏波コントローラ
としては、波長板型の偏波コントローラを使用すること
により、入力光を偏光素子8-1を介して直線偏光にした
後、1/4波長板8-2及び1/2波長板8-3の回転角を変化させ
ることによって、偏波状態を変化させるものであり、偏
波状態の再現性が高い解析・測定が可能となる。また、
請求項９に記載の発明では、前記光分岐手段を無偏光ビ
ームスプリッタで構成するため、入射偏波の変動による
通過損失の変化が少なく偏波状態を維持したまま通過さ
せることが出来る。このように、本発明の偏波アナライ
ザによって、リアルタイムな偏波状態の監視・制御によ
って、今までは不可能であったＳＭＦからＰＭＦへの接
続が可能となった。
記モニタは、偏光素子の出力を光分岐素子で分岐した一
部の光を受光素子に与えて行い、前記偏波コントローラ
としては、波長板型の偏波コントローラを使用すること
により、入力光を偏光素子8-1を介して直線偏光にした
後、1/4波長板8-2及び1/2波長板8-3の回転角を変化させ
ることによって、偏波状態を変化させるものであり、偏
波状態の再現性が高い解析・測定が可能となる。また、
請求項９に記載の発明では、前記光分岐手段を無偏光ビ
ームスプリッタで構成するため、入射偏波の変動による
通過損失の変化が少なく偏波状態を維持したまま通過さ
せることが出来る。このように、本発明の偏波アナライ
ザによって、リアルタイムな偏波状態の監視・制御によ
って、今までは不可能であったＳＭＦからＰＭＦへの接
続が可能となった。
【図１】本発明の偏波アナライザ装置の第１の実施の形
態の構成を示す図である。
態の構成を示す図である。
【図２】本発明の偏波アナライザ装置の第２の実施の形
態の構成を示す図である。
態の構成を示す図である。
【図３】本発明の偏波アナライザ装置の第３の実施の形
態の構成を示す図である。
態の構成を示す図である。
【図４】本発明の偏波アナライザ装置の第４の実施の形
態の構成を示す図である。
態の構成を示す図である。
【図５】本発明の偏波アナライザ装置の第５の実施の形
態の構成を示す図である。
態の構成を示す図である。
【図６】本発明の偏波アナライザ装置の第６の実施の形
態の構成を示す図である。
態の構成を示す図である。
【図７】偏波アナライザの一例の構成を示す図である。
【図８】偏波コントローラの例を示す図である。
１ 偏波アナライザ
２ 光分岐素子
３ 入力側集光レンズ
４ ミラー（反射手段）
５ 出力側集光レンズ
６ 偏波コントローラ
７ 偏光素子
８ 光可変減衰器
９ 光分岐素子
１０ 受光素子
Claims (9)
- 【請求項１】 光入力部から入射された入力光を分岐す
る光分岐手段を含み、 前記分岐手段で分岐した光の一部を偏波アナライザに供
給すると共に、残りの光を外部に出力する光出力部を有
する、 ことを特徴とする解析中の光を出力可能な偏波アナライ
ザ装置。 - 【請求項２】 前記光出力部から外部光ファイバに出力
される出力光を集光する集光レンズを含むこと、 を特徴とする請求項１に記載の解析中の光を出力可能な
偏波アナライザ装置。 - 【請求項３】 前記光分岐素子の前段に偏波コントロー
ラを設け、前記偏波アナライザからの偏波情報に応じて
前記偏波コントローラを制御して任意の偏波状態に保持
すること、 を特徴とする請求項１又は２に記載の解析中の光を出力
可能な偏波アナライザ装置。 - 【請求項４】 前記光入力部から光出力部の光路内に、
少なくとも１個の偏光素子を含むこと、 を特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の解析
中の光を出力可能な偏波アナライザ装置。 - 【請求項５】 前記偏光素子の少なくとも１個には、任
意の位置にセット可能な回転機構又は、偏光素子を光路
内に抜き差し可能な駆動機構を備えること、 を特徴とする請求項４に記載の解析中の光を出力可能な
偏波アナライザ装置。 - 【請求項６】 前記偏光素子の後段には、光可変減衰手
段を設け、前記偏光素子を通過した光をモニタした出力
に応じて、前記光可変減衰手段を制御して光出力部から
出力される光出力量を一定に保持すること、 を特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の解析
中の光を出力可能な偏波アナライザ装置。 - 【請求項７】 前記モニタは、偏光素子の出力を光分岐
素子で分岐した一部の光を受光素子に与えて行われるこ
と、 を特徴とする請求項６項に記載の解析中の光を出力可能
な偏波アナライザ装置。 - 【請求項８】 前記偏波コントローラは、波長板型であ
ること、 を特徴とする請求項３〜７のいずれか１項に記載の解析
中の光を出力可能な偏波アナライザ装置。 - 【請求項９】 前記光分岐手段が無偏光ビームスプリッ
タで構成されることを特徴とする請求項１〜８に記載の
解析中の光を出力可能な偏波アナライザ装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001272830A JP2003083812A (ja) | 2001-09-10 | 2001-09-10 | 解析中の光を出力可能な偏波アナライザ装置 |
| US10/233,639 US20030048973A1 (en) | 2001-09-10 | 2002-09-03 | Polarization analyzing apparatus capable of outputting light in analysis |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001272830A JP2003083812A (ja) | 2001-09-10 | 2001-09-10 | 解析中の光を出力可能な偏波アナライザ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003083812A true JP2003083812A (ja) | 2003-03-19 |
Family
ID=19098135
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001272830A Withdrawn JP2003083812A (ja) | 2001-09-10 | 2001-09-10 | 解析中の光を出力可能な偏波アナライザ装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20030048973A1 (ja) |
| JP (1) | JP2003083812A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008139406A (ja) * | 2006-11-30 | 2008-06-19 | Fujitsu Ltd | 光スイッチ、光波形測定装置および制御方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7206466B2 (en) * | 2002-10-30 | 2007-04-17 | Finisar Corporation | Polarization dependent loss loop |
| US8960909B2 (en) * | 2012-01-20 | 2015-02-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Control apparatus and control method |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1918612B1 (de) * | 1969-04-12 | 1969-12-04 | Carl Zeiss F | Beleuchtungseinrichtung |
| US3743380A (en) * | 1972-01-31 | 1973-07-03 | Us Navy | Polarized light source for underwater use |
| JPS61177655A (ja) * | 1985-01-31 | 1986-08-09 | Olympus Optical Co Ltd | 光磁気差動再生装置 |
| JPH0677351B2 (ja) * | 1986-11-15 | 1994-09-28 | ソニー株式会社 | 光学ピツクアツプ装置 |
| DE3912406B4 (de) * | 1989-04-15 | 2004-05-13 | Prüftechnik Dieter Busch AG | Verfahren und Vorrichtung zum Abtasten mehrerer optischer Meßreflektoren |
| US5191387A (en) * | 1990-01-10 | 1993-03-02 | Ando Electric Co., Ltd. | Polarization control system |
| US5440414A (en) * | 1990-02-02 | 1995-08-08 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Adaptive polarization diversity detection scheme for coherent communications and interferometric fiber sensors |
| DE4434473A1 (de) * | 1994-09-27 | 1996-03-28 | Basler Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von Gegenständen mit polarisiertem Licht |
| US6400871B1 (en) * | 2000-05-19 | 2002-06-04 | Hrl Laboratories, Llc | Phase control mechanism for coherent fiber amplifier arrays |
-
2001
- 2001-09-10 JP JP2001272830A patent/JP2003083812A/ja not_active Withdrawn
-
2002
- 2002-09-03 US US10/233,639 patent/US20030048973A1/en not_active Abandoned
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008139406A (ja) * | 2006-11-30 | 2008-06-19 | Fujitsu Ltd | 光スイッチ、光波形測定装置および制御方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20030048973A1 (en) | 2003-03-13 |
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