JPH0648585B2 - 磁気記憶カードの二進情報を評価する方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は磁気記憶カードの磁気トラック上に２周波コー
ドによる交番磁束の形式でメモリー（記憶）された二進
情報を評価する方法であって、磁気記憶カードと磁束変
動により誘導される電圧パルスを発生する電磁的な変換
器との間に相対運動を生ぜしめ、情報を獲得するために
は走査プロセスの開始に当って一様なパイロット情報に
よる基準化を行なうことにより各電圧パルス間における
時間的な相互間隔を評価する形式のものに関する。

このような形式による方法は、磁気記憶装置によって磁
気カード上に予めメモリーされた情報を読出すために利
用される。この種の磁気カードは既に多くの分野で業務
用に或いは私的に用いられており、例えば個人を識別／
認識するキャッシュカード、各種の資格証明もしくはそ
れに類するカードとして用いられている。磁気カードの
情報は標準化された所定のコードに基づいて作成される
単数もしくは複数のトラックに記録されている。所謂
「二周波コード」と称されるこの種のコードは、例えば
国際標準化機構(ISO)の規格7811/2-1985(E)に記載され
ている。このシステムにおいては、交番磁束、つまり磁
化方向における前置符号（±）を交互に変換される磁束
が定間隔で磁気トラックに刻印されている。これらの交
番磁束の中央には、二進値１を規定（定義）するために
別の交番磁束が導入されるが、この別の交番磁束が欠け
ている場合には二進値０の状態にあるものとみなされ
る。磁気的な情報を読出す際には、磁気トラックをほぼ
コンスタントな速度で電磁的な変換器に沿って通過させ
る措置がとられ、そのためには、例えばモータを用いる
ことにより磁気カードが不動の変換器に対して相対的に
送られるか、可動の変換器が定置の磁気トラック上を案
内されるか、磁気カードが不動に配置された変換器を内
蔵するスリットに沿って取扱者の手で案内される。

このような走査運動が行なわれることに基づいて、変換
器内では例えば電気力学的な原理により電圧が誘導さ
れ、その電圧の前置符号は磁気トラック上における磁束
の方向如何によって左右される。走査速度はかなり広い
範囲に亙って変動するので、本来の情報読出しを実施す
る前に各磁束もしくは誘導された各電圧パルス間の時間
間隔を基準化によって規定しておかねばならない。その
ため前記のISO規格によれば、磁気トラックにおける所
定の情報に先行する範囲に二進値０に相当する相互間隔
をおいた交番磁束が記録されている。

記憶情報の正確な読出しを保証するためには、一般に磁
気カードの工業物理的な特性を所定の公差限界内に抑え
ておく必要がある。このような措置は従来の磁気カード
では殆ど採用されていない新規な技術に属する。磁気カ
ードが使い古されてその老化が進むにつれ、磁気カード
に与えられた本来の特性に不都合な影響が生ずる。例え
ば機械的および熱的な負荷を受ける磁気カードの表面形
状は、湾曲したり波打つなどの変形をこうむらざるを得
ない。また磁気トラックには長期の使用による掻き傷、
摩滅、汚損、極めて細い亀裂などの痕跡が生ずる。更に
磁気トラックに刻印された磁束は、老化および妨害磁束
の重畳、並びに温度作用に基づいて減成される。磁気カ
ードがこのように望ましくない特性変動を示すのと同時
に、電磁変換器も長期使用により摩滅、磁化状態の劣悪
化、汚損などを余儀なくされるので、この電圧パルス発
生能力が著しく損なわれる。磁気カードおよび電磁変換
器がこのように変質した場合には、あたかも二進情報で
あるかのように出現する妨害信号が変換器から発生され
る電圧に重畳され、或いは電圧経過が当該電圧に含まれ
た情報を確実に評価することのできる所定の評価範囲か
ら逸脱するように不当に改変され、ひいては、メモリー
された情報が誤って読出されたり不十分にしか読出され
ないという結果を招来しかねない。このように変質した
磁気カードは、本来備えているべき機能を発揮すること
が出来ないので、その所有者にとって無価値のものにな
る。

従来公知の評価方法においては、二進情報を得るために
電圧パルスがアナログ式に評価される。然しそのために
は、電圧パルスを先ず始めに増幅することが一般的な前
提条件とされ、次いで増幅された電圧パルスが低域フィ
ルタによって瀘波され整流される。以下で詳しく説明す
るように、各パルスの時間的な相互間隔を検出し且つ所
望の情報を得るために用いる整流された電圧パルスの最
大値を査定する場合には、電圧パルスの時間的経過が微
分され、その結果からディスクリミネータ（弁別器）回
路内で方形パルスが生ぜしめられ、この方形パルスの上
昇側面によって最大値の発生時点が規定される。この種
の方形パルスを援用するならば、各電圧パルスをその都
度の極値で検出することが可能になり、ひいてはこれら
の電圧パルスにおける時間的な相互間隔を所望の情報を
獲得するためのデータとして評価することができる。

ところがこの種の評価方式によって有効な結果が得られ
るのは、磁気カードが申し分ない状態にある場合に限ら
れる。つまり、前述したような妨害信号が電圧パルスに
重畳されると、微分操作によって妨害パルスが生じ、こ
れに続いて方形信号が発生された際にそのパルス上昇側
面によって規定されるのは、もはや当該電圧パルスに関
する極値ではなく妨害信号の極値でしかない。従って各
電圧パルス間の時間間隔検出にエラーが生じ、磁気トラ
ックにメモリされている情報は本来の正規なものではな
い誤った情報として評価されることになる。

そこで本発明の課題とするところは、従来公知の方法に
おける欠陥を除くべく、磁気トラック及び／又は電磁変
換器が仮に老化または汚損もしくは損傷を受けていたと
しても、磁気記憶カードの磁気トラックにメモリされた
情報の高い信頼度による評価を保証するような二進情報
の評価法を提供する点にある。

本発明によれば、この課題は請求項１、７及び１０に開
示された特徴により解決することができる。

本発明による第１の解決策では、電磁的な変換器の評価
信号における時間的な経過を基準化により予め設定され
た時間間隔内で検出し、この経過中に生じた極値を査定
し、情報を獲得するために当該極値の性質と前以査定さ
れた極値の性質との比を評価する措置が提案されてい
る。

この解決策を案出するための基礎として考察されたの
は、磁気トラックの走査中にあたかも二進情報のような
妨害信号が偶発的に生ずるという事実である。ところ
で、出力信号の経過を検出するプロセスが所定の時間間
隔内でのみ行なわれるとするならば、その検出時間外に
生じた妨害信号はマスクアウトされる。さらにこの種の
妨害信号がほぼ均等な確立分布で出力信号経過中に出現
すると仮定するならば、妨害信号に起因する磁気カード
の機能障害が発生する蓋然性を、走査プロセスにおける
全走査時間および前検出時間の総計として算定されるフ
ァクタ分だけ低下させることができる。検出時間にはこ
れを著しく短縮することが可能であって、例えばデジタ
ル式の検出プロセスにおいては使用するサンプル及びホ
ールド素子、並びにアナログ／デジタル変換器の使用如
何に応じて、マイクロセカンド単位の時間内で検出を行
なうことができるので、この原理を応用すれば評価の信
頼性（評価確度）が著しく高められる。

出力信号の極値を査定して、その性質を、つまりその極
値が最大値であるか最小値であるかを、先行する区分で
査定された極値の性質と比較する作業は、基準化によっ
て予め規定された時間間隔内で実施される。このような
極値の査定は出力信号における電圧振幅の値とは無関係
に行なわれるので、信号レベルが評価に関与してくるこ
とはない。即ち換言するならば、磁気トラック上におけ
る磁束の弱化もしくは変換器と磁気トラックとの間の距
離変動に基づいて出力信号のレベルが低下した場合に
も、当該情報評価を確実に行なうことが可能とされる。

実際極値の性質と先行極値の性質とを比較した結果から
は、現時点が二進値０の状態にあるのか二進値１の状態
にあるのかをダイレクトに推定することができる。この
点につき以下に１つの例を挙げて詳述する。前述した２
周波コードによれば、二進値０における各電圧パルス間
の時間間隔は二進値１における時間間隔の２倍に相当す
る。二進値０に関する時間長は基準化に際して予め検出
されており、出力信号におけるこの時間間隔内で所定の
性質を有する極値、例えば最大値または最小値が査定さ
れ、当該極値が先に査定された極値と同じ性質を有して
いる場合には、これら両極値間に異なった性質を有する
別の極値が発生することが必然的に演算される。なぜな
らば、原理的に言って互いに連続する電極パルスは互い
に逆の前置符号を、つまり信号経過において互いに異な
る性質の極値を有していなければならないからである。
従ってこの出力信号経過に含まれる二進情報は、同種の
極値において数値１を有している。走査を行なう時間間
隔内で互いに連続する極値の性質がそれぞれ異なってい
る場合、即ち最大値に続いて最小値がもしくはその逆の
順序で極値が生ずる場合には、情報として二進値０が存
在した状態にある。

本発明の有利な１態様においては、各検出プロセスごと
に予め１つの時間区分が設定される。この措置によれ
ば、当該時間区分内に存在する複数の出力信号数値を評
価に関与させることができるので、極値の存在をより高
い角度で査定し、その時間区分内における時間的な位置
を確認することが可能になる。この場合、時間区分の長
さはその都度の用例ごとに異なっていてもよい。変換器
の出力信号に対する妨害が僅かなものに抑えられている
場合には、短い時間区分長で充分に所期の目的が達成さ
れる一方、出力信号が著しく妨害される場合には、それ
に応じた長さの時間区分を設定しておくことが望まし
い。この場合、比較的多数の出力信号値から極値を選定
し、信号経過における相対的な最大値もしくは最小値を
選り分けることが可能である。この数値の数が多ければ
多いほど、極値およびその性質をより正確に確認するこ
とができる。しかしその半面、妨害信号による不都合な
影響が時間区分の延長に応じてより顕在化することも考
慮しなければならない。そこでこのことに対処するた
め、時間区分長を基準化に際して２つの電圧パルス間で
検出される時間間隔の六分の一より小さな値に設定する
と有利であることが実地における多くの使用例で実証さ
れている。

前述した設定課題を解決するために提案された本発明に
よる第２の措置においては、電磁的な変換器における出
力信号の経過中に相次いで生ずる種々の異なった形式の
極値が査定され、これらの各極値間における時間が測定
され、各時間と情報を獲得するために基準化により予め
規定された時間間隔との比が評価され、引続き行なわれ
る評価プロセスに際してこの時間が所定の時間間隔より
短い場合には、後続の極値において初めて次の時間測定
が開始される。

この措置によれば、変換器の出力信号において種々異な
る時間間隔で生ずる極値が二進情報を獲得するために評
価される。これらの極値は、単に隣設する数値に対して
相対的に規定されているのに過ぎないので、出力信号の
電圧レベル絶対値とは無関係であり、従ってこれを取巻
く数値がより小さい場合にはその最大値を形成し、これ
らの数値がより大きい場合には最小値を形成する。例え
ば汚損もしくは変換器と磁気カードとの距離増大によっ
て磁気トラック上の磁束と変換器との間の磁気結合力が
弱められると、磁気トラックの走査に際して誘導される
電圧パルスもそれに応じて減衰せしめられる。このこと
は単にそのパルスピーク値にのみ当て嵌るのではなく、
隣接する全ての電圧値にも該当するので、極値はこれに
隣接する各数値との比較によって明確に規定される。こ
のような措置が採られているならば、変換器の出力信号
を弱化させる妨害（外乱）が出力信号中に含まれる二進
情報の評価に不都合な影響を及ぼすことは概ね回避され
る。

磁気カードに記録されている情報の二進状態は時間測定
を行なうことにより検出され、その測定結果は予備情報
による基準化に際して検出された時間状態と比較され
る。連続して生ずる互いに異なった性質の二進値０を有
する極値、つまり最大値が最小値に続くか最小値が最大
値に続くような２つの極値の間で測定された時間がこの
時間間隔とほほ等しい場合には、磁気トラックから読出
された磁気的な情報に二進値０が含まれ、測定時間がこ
の時間間隔より短い場合には、磁気情報に二進値１が含
まれている。１つの極値、例えば最大値の検出後には、
これと異なる性質を有する極値としての最小値が出現す
るまでに要する時間が測定される。つまりこの例では、
その時間内に生じた別の最大値は考慮されないことにな
るので、本発明による方法の評価確度が一層高められ
る。

二進値０が既知の値とされた場合には、これに先行する
最後の時間測定を終了させたのと同じ極値における次の
時間測定が開始され、異なった性質を有する次の極値が
生ずるまでの時間が査定される。これに対して二進値１
が既知の値とされた場合には、次の時間測定がその前の
測定を終了させた極値によって直ちに開始されるのでは
なく、これに続く極値によって初めて測定が開始され
る。この措置によれば、基準化に際して検出された時間
間隔に等しい周期を有する電圧パルスの発生ごとにその
都度新たな時間測定を開始することが達成される。それ
より短い周期または長い周期の電圧パスルが生じても、
それが時間測定を開始させることにはならない。従って
この時間測定開始は明確な基準点となり、出力信号で生
じた電圧パルスの誤った解釈および高周波妨害パルスの
発生は申し分なく回避される。

上述した解決策の有利な１実施態様では、測定された時
間を基準化に際して検出された時間間隔の0.7倍と比較
する点が特に傑出している。２周波コード方式において
は、二進値０を有する磁束の時間間隔が二進値１を有す
る磁束の時間間隔の２倍に相当する。互いに異なった性
質を有する２つの極値間で測定された時間を基準化時間
間隔0.7倍と比較した場合には、通常の二進値０および
二進値１について測定された時間は基準値に対してそれ
ぞれ等しい時間間隔を有している。この時間間隔は二進
値を認識する場合の妨害距離、即ち信号対雑音比（ＳＮ
比）と見做すことができる。本発明によるプロセスにお
いては、この妨害距離が双方の二進値について等しい長
さを、つまり基準化時間間隔のそれぞれ0.3倍の値を有
している。従ってバイナリー方式による情報状態が同一
のＳＮ比で検出されることになるので、この評価方法の
信頼度は更に一層高められる。

本発明による上記の実施態様においては、得られた情報
のエラーチェックを行って、エラーが生じていた場合に
は測定された時間を所定の時間間隔の0.66倍〜0.77倍の
値、乃至は0.7〜0.75の値と比較することができる。

この措置によれば、上述の評価プロセスにおける妨害を
より確実に防止することが可能になる。つまり、例えば
パリティー・ビット・チェック（奇遇ビット検査）で読
出エラーが査定された場合には、基準値に対する時間的
な間隔によって規定される妨害距離が過度に小さいこと
などとエラーの原因として検出することができる。とこ
ろで二進値０乃至１を確認する場合にエラーが生ずるか
否かに応じて、妨害距離は前記の措置により一方向また
は他方向で増大せしめられる。更にこの場合、エラーの
発生に際してこの妨害距離をとりあえず任意の方向で増
大させ、次いで後続の評価を行なう場合に再度エラー検
出を実施し、その結果に応じて妨害距離を他の方向で増
大させることも可能である。この方式によれば、遅くと
も二回目の試みで妨害距離の実質的な増大を達成し、発
生するエラーに対処することができる。

本発明の設定課題を解決するための第３の措置によれ
ば、出力信号の時間的な経過が基準化により予め規定さ
れた時間間隔に亙って検出され、当該情報における各一
つの二進状態ごとにそれぞれ所定の時間間隔を有する少
なくとも１つの経過パターンが準備され、最小の偏倚を
有する比較結果値が検出される。

この措置は出力信号の時間的な経過が情報の各二進状態
ごとにそれぞれ所定の特性を示す曲線形状で表出される
という基本的な考察に基づいており、これは各二進状態
ごとにそれぞれ少なくとも１つの経過パターン形状が示
されることで実証される。出力信号の実際経過がこの経
過パターンと合致した場合には、当該出力信号経過に表
出された二進情報がかなり高い蓋然性でその経過パター
ンに属する数値を示すことになる。

このような認識を第３の解決策において十二分に利用す
るため、基準化時間間隔の出力信号経過は二進状態０及
び１に配属された少なくとも２つの経過パターンと比較
される。実際に生ずる出力信号経過は外乱重畳によって
理論的な経過から偏倚しているので、一般に各比較パタ
ーンと実際の出力信号経過との間の正確な合致が査定さ
れることはなく、通常は比較パターンの経過と出力信号
経過との間の偏倚が査定され、そのうちで最も小さな偏
倚を有する比較パターンが検出される。この比較パター
ンは実際の出力信号経過に最も近似したパターンであっ
て、磁気トラックに記録された情報として利用される。

出力信号経過に妨害信号が重畳されるか或いはその特性
曲線形状が減衰によって変動した場合には、比較パター
ンとの比較に際して査定された偏倚がより多きな値を示
す。比較に際して予期される出力信号の偏倚が過度に大
きなものでない限り、出力信号の二進情報は以前として
明確に規定することができる。出力信号経過の特性を示
すその都度の曲線形状は、異なった二進値ごとにそれぞ
れ著しく相違しており、このことは偏倚に反映されるの
で、消滅傾向を示す出力信号経過においても、出力信号
が著しく減衰される場合にも、やはり信頼度の高い情報
評価が保証される。

上記の解決策における別の１実施態様によれば、二進値
０に関しては経過パターンとしてプラスもしくはマイナ
スの一定した勾配を有する直線が、また二進値１に関し
ては経過パターンとして先ず始めにプラスの次いでマイ
ナスのもしくはその逆の一定した勾配を有し且つ時間間
隔の中心で前置符号交替の行なわれる直線が準備され
る。

上述の経過はそれぞれ二進値０乃至１の出力信号経過に
とって特性的なものである。この場合、出力信号が検出
開始に当って最大値を示すか最小値を示すかについては
明確に弁別されねばならない。一定したプラスの勾配を
有する直線は二進値０に相当し、マイナスの電圧パルス
で開始される出力信号経過に類似しており、一定したマ
イナスの勾配を有する直線は、最大値で開始される二進
値０の出力信号経過に類似している。二進値１の場合に
は、各基準化時間間隔の間に別の電圧パルスが生ずる。
従って逆Ｖ字形を呈する直線が最小値を以て開始される
電圧経過に類似している一方、Ｖ字形を呈する直線は最
大値で開始される電圧経過に類似している。

経過パターンにおけるこのような特性曲線経過は、本発
明による評価方法を応用した場合、プログラミングに要
する経費および手間を僅かなものに抑えてデジタル計算
機により実現することができる。更にこの種の特性曲線
経過においては、実際の出力信号経過からの偏倚を比較
的低い計算コストと僅な手間とで査定でき得るので、評
価を実施する時間は著しく短縮される。

本発明による別の実施態様においては、出力信号の時間
経過が最小偏倚値を有する同一の経過パターンから偏倚
している偏倚値を規定し、経過パターンをこの偏倚値に
応じて修正し、引続き行なわれる評価プロセスに際して
は修正された経過パターンを更に出力信号経過と比較し
且つ修正する措置がとられる。

既に述べたように、一般に変換器の出力信号における電
圧振幅が減衰したり、信号経過の特性曲線形状が変動す
る可能性は避けられず、その理由としては、例えば変換
器ヘッドの摩滅、磁気カードの汚損、磁場強度の変動な
どが挙げられる。そこで本発明によれば、経過パターン
を出力信号における実際の経過に連続的もしくはスライ
ド式に整合させることが可能ならしめられている。この
措置によれば、出力信号の経過と経過パターンとの間の
偏倚を最小限に抑えることが達成される。この偏倚は異
なる経過パターンでは変化することなく維持されるの
で、二進情報を確認するための妨害距離が増大される。

更に本発明による評価方法およびその各変化実施態様と
有利な形式で組合せることのできる別の措置によれば、
電磁的な変換器における出力信号が予め規定された時点
でデジタル値に変換され、各デジタル値がその発生順序
でメモリされ、情報を獲得するためにメモリされたデジ
タル値が評価される。

この措置を案出するためには、もし電圧パルスの評価が
変圧機におけるパルスの発生と時間的に緊密な関連を有
していないとするならば、その評価プロセスにおけるエ
ラーを回避することができるという基礎的な考察が利用
された。つまりそのような場合には、評価をリアル・タ
イムで実施する必要はなく、記憶されたデジタル数値に
よりその後の時点、例えば磁気カードの磁気トラックを
走査した後の時点で評価を行なうことが可能とされるの
で、この評価方法を採用した場合には、同一の磁気カー
ドに由来する全ての電圧パルスを利用することによりそ
れぞれ異なったプロセスにおける性能を互いに比較する
ことができるのみならず、評価に要する時間を磁気トラ
ックの走査に要する時間より長い値に設定しておくこと
も実現される。

各デジタル数値の評価がそれぞれ異なった評価バリエー
ションにより相次いで行なわれる場合には、その都度一
組の二進情報が得られる。この種の評価バリエーション
については既に前出の各方法に関連して説明したが、そ
れによれば数組の二進情報を互いに比較して、その比較
結果の合理性チェックを行なうことが可能であり、結果
として得られた数値が互いに合致している場合には、獲
得した情報が真正なものである確率を極めて高いものと
見做すことができる。

更に本発明によれば、引続き行なわれるデジタル値の評
価に際して合理性チェックの結果に応じた所定の評価バ
リエーションが選定される。この措置によれば、磁気カ
ードに記憶された各デジタル数値ごとに最適な評価バリ
エーションを応用することが可能になる。この場合の最
適化基準としては所要時間もしくは統計的な評価確度な
どが用いられ、例えばある程度汚損した典型的な磁気カ
ードを評価する場合には、多段階に亙る評価を実施し、
その各段階ごとに異なった評価バリエーションを利用す
ることができる。この場合、第１の評価段階では単純で
あるがその代り迅速に達成される評価プロセスを応用す
ると効果的である。しかしこの第１段階ではしばしば誤
った結果が生ずるので、次の第２段階で同じデジタル値
を用いた比較的長い時間を要するものの信頼度は高いプ
ロセスによる評価が反復される。この評価作業は申し分
のない結果が得られるまで数段階に亙って続行され、こ
の結果の正当性は自体公知の検査法、例えばパリティー
・ビット・チェック法によって査定することが可能であ
る。

次に添付の図面に示した実施例につき本発明を詳細に説
明する。

図１は磁気カードと磁気トラックの拡大された区分とを
示した図。

図２は二進情報を検出する回路装置の方式構成図。

図３は二周波コードにおける信号経過および二進状態を
示したグラフ。

図４は基準化に際して検出される時間間隔の経過を示し
たフローチャート。

図５は予め規定された時間間隔における極値の性質を査
定することにより二進情報を評価する際の信号経過を示
したブラフ。

図６は図５による二進情報を検出する経過を示したフロ
ーチャート。

図６ａは図５および図６による評価方法の１バリエーシ
ョンにおける信号経過を示したグラフ。

図７は時間測定により情報を評価する場合の信号経過を
示したグラフ。

図８は図７による二進情報を評価するプロセス段階を示
したフローチャート。

図９（図９ａ〜図９ｄ）は４つの経過パターン並びに予
め規定された出力信号経過からのパターン偏倚を示した
グラフ。

図１０（図１０ａ〜図１０ｃ）は別の３つの出力信号経
過とその経過に適合された経過パターンとを示したグラ
フ。

図１１は各経過パターンの比較により二進情報を評価す
るプロセス段階を示したフローチャート。

図１２は修正された経過パターンを示したグラフ。

図１３は適正な経過パターンの選出過程を示したフロー
チャート。

図１４は相関関係を算定することにより評価を行なうプ
ロセスを示したフローチャートである。

図１には磁気条片１２を有する磁気カード１０が示され
ており、磁気条片１２には３本の磁気トラック１４，１
６，１８が設けられている。磁気トラック１８における
１つの区分２０は図の下方に拡大して示されている。こ
の磁気トラック２０はバーコード上に形成される磁束２
２，２４，２６によって刻印されている。これらの磁束
２２，２４，２６間における距離は二進情報０乃至１に
応じて変動する。互いに連続したｅ本の磁束はそれぞれ
逆の磁化方向を有しており、そのことは磁束２２及び２
４の矢印で示されている。これらの磁束２２〜２６は交
番磁束と称され、ミリメートル当りの交番磁束は、単位
長さ当りで記憶させることのできる二進数値の尺度であ
って、所謂「交番磁束密度ｄ」と称される。

図２に方式構成図として示された回路装置は、磁気カー
ド１０にメモリされた情報を確認するために用いられ
る。磁気カード１０は速度ｖで電磁的な変換器３０に沿
って通過せしめられるので、変換器コイル内には変換器
３０により検出された磁束変動に基づいて電圧パルスが
誘導され、このパルスが低域フィルタ３２により瀘波さ
れる。低域フィルタ３２から発生された信号は出力信号
Ｕのための増幅器３４によって増幅される。この出力信
号Ｕは規則的に定められた時点ごとにアナログ／デジタ
ル変換器３６によりデジタル値に変換される。アナログ
／デジタル変換器３６によって変換されたデジタル値
は、二進情報を評価する各プロセス段階を実施させるマ
イクロプロセッサ３８に供給される。

電磁的な変換器３０における電圧パルスのパルス列周波
数は、磁気トラックの交番磁束密度ｄ、並びに電磁変換
器３０と磁気カード１０との間の相対速度ｖ如何に応じ
て左右される。アナログ／デジタル変換器３６の走査周
波数は、電磁変換器３０から発生される出力信号Ｕの経
過状態をできるだけ高い時間的な解像能で検出すべくパ
ルス列周波数の少なくとも１６倍の値に設定されている
ので、A/D変換の時点はＴａｄ＜（１６ｖｄ）^−１なる
時間間隔を有しており、この場合に相対速度ｖの値を20
0mm/sに設定し、交番磁束密度ｄの値を8.33/mmに設定す
るならば、走査周波数は26656Hzとなり、時間間隔Ｔａ
ｄは37.5μｓになる。

図３のａ）部分には磁気トラック１８の交番磁束が示さ
れており、ｂ）部分にはこの交番磁束を走査する際の時
間ｔに亙って変換器３０から発生される出力、つまり出
力信号Ｕの経過状態が示されており、図面下方のｃ）部
分には電圧経過状態Ｕから検出される二進状態Ｂがやは
り時間ｔに亙って表示されている。

磁気トラック１８はいわば零化前範囲４０を有してお
り、この範囲では二進値０に相当する交番磁束のみが刻
印されている。二進値０及び１を情報として併有する本
来の情報範囲４２はこの零化前範囲４０に後続してい
る。

情報の符号化（コーディング）は二周波コード方式で行
なわれ、このコード方式においては互いに連続する磁束
の磁化方向が交互に変換される（磁束交番）。この磁束
交番は予め規定された距離間隔ごとに、つまり走査の時
間間隔Ｔに相当する間隔をおいてその都度実施される。
１つの時間間隔Ｔ内で別の交番磁束が出現した場合には
二進値１が信号化され、これが出現しない場合には二進
値０が信号化される。交番磁束の走査時にはその磁化方
向如何に応じてプラスもしくはマイナスの電圧パルスが
誘導され、図３のｂ）部分にはその経過状態が示されて
いる。磁気トラック１８に二進値０の情報のみが含まれ
ている場合には、単に１つの周波数または１つの周期Ｔ
のみを有する電圧パルスが生ぜしめられる。他方、磁気
トラック１８に二進値１も記録されている場合には、そ
の信号経過には二倍の周波数もしくは二分の一の周期時
間Ｔを有する信号部分も含まれる。更に図３のｃ）部分
には、時間間隔Ｔに相当する予め規定された距離間隔内
に含まれる複数の二進値Ｂが示されており、これらの二
進値Ｂは各極値交番後に始めて確定される。

変換器３０と磁気カード１０との相対速度ｖが必ずしも
全ての磁気カード読出装置において等しく設定されてい
るとは限らないので、周期Ｔを規定するために基準化を
おこなわねばならない。基準化に際しては前記の零化前
範囲４０が利用され、この零化前範囲４０は走査プロセ
スの開始前に前もって走査される。零化前範囲４０にお
ける電圧パルスの時間間隔からは二進値０に属する時間
間隔Ｔを検出することが可能であって、そのために必要
とされるプロセス段階は図４にフローチャートとして示
されている。

第１のプロセス段階４６においては、二進情報０に関す
る時間間隔Ｔが時間測定によって検出される。そのため
には、例えばアナログ／デジタル変換器３６から発生さ
れるデジタル値がその極値について分析される。アナロ
グ／デジタル変換器３６の走査周波数が一定の値に保た
れている場合には、各極値間に存在するデジタル値の数
が求められる時間間隔Ｔを示す尺度（基準値）となる。

プロセス段階４８では零化前範囲４０における複数の時
間間隔Ｔから平均的な時間間隔Ｔｍが算定され、これに
よって時間測定のエラーが見出される。これに続く各プ
ロセス段階５０，５２，５４においては、磁気トラック
１８の走査過程で走査速度が変動した場合に必要とされ
る平均時間間隔Ｔｍの修正が行なわれる。そのために
は、走査プロセス中に二進の０値に関する実際値として
の時間間隔Ｔｉｓｔが以下で述べるように継続的に測定
され、評価の実施に必要な時間間隔Ｔｍが相次いで修正
される。プロセス段階５０ではｎ番目の評価段階におけ
る時間間隔Ｔｍが実際の時間間隔Ｔｉｓｔと比較され、
両時間間隔に相対的な偏倚があった場合には、プロセス
段階５０がプロセス段階５２に分岐される。

プロセス段階５２ではこの段階５２で与えられる関係に
基づいた次の評価段階ｎ＋１についての時間間隔Ｔｍが
算術的な平均値を出すことによって検出される。このよ
うにして修正された結果は、次にプロセス段階５４で評
価に参与する異なったプロセス過程に引渡され、別の情
報評価を行なうために利用される。修正後にはプロセス
段階５０への再伝送が行なわれ、時間間隔Ｔｍは別の過
程で引続き修正される。

図５には時間ｔを座標の横軸として示された種々異なる
信号経過のグラフがプロットされており、評価プロセス
はこの信号経過に基づいて極値の性質を査定することに
より所定の時間間隔で描出される。図５のａ）部分には
電磁変換器３０の出力電圧経過Ｕが示されている。この
電圧経過Ｕは基準化によって予め規定された時間間隔Ｔ
で各区分ごとに所属の極値を走査され、その性質の確認
が、つまり最大値であるか最小値であるかの識別が行な
われる。この識別作業は、例えば電圧値の前置符号を単
純に評価することにより行なわれ、図５のｂ）部分には
その状態が暗示されている。情報を獲得するためには連
続した各極値の相互比較が行なわれ、比較された各極値
が互いに等しい性質を有している場合には、図５のｄ）
部分に示されているように二進値１が生ぜしめられ、各
極値の性質が互いに異なる場合には二進値０が生ぜしめ
られる。信号経過Ｕは時間間隔Ｔ内においてのみ走査さ
れるので、２つの走査プロセス間に生じた妨害パルス６
２は検出されず、これが評価に不都合な影響を及ぼすこ
ともない。更に、減衰された電圧パルス６０にも二進値
０乃至１を査定するのに十分な極値の性質に関する情報
が以前として含まれているという理由から、信号経過の
走査が行なわれる瞬間における電圧パルス値が評価結果
を左右することもない。

図５のｃ）部分では時間区分２Ｔｆにおける検出プロセ
スが実施される。この時間区分２Ｔｆの間には、アナロ
グ／デジタル変換器３６の走査周波数に応じた複数のデ
タタル値が検出され、これらのデジタル値のうちから極
値が査定される。この措置は単に極値の性質のみならず
極値の時間的な位置・状態をも査定可能ならしめ、先行
の極値に対する実際時間間隔Ｔｉｓｔの時間測定に利用
することができる。実際の時間間隔Ｔｉｓｔは、既に述
べたように時間間隔Ｔ乃至は平均時間間隔Ｔｍを修正す
るために用いられる。

図６には図５による二進値検出を行なうために必要とさ
れる各プロセス段階がフローチャートとして示されてい
る。先ず始めに、第１のプロセス段階６６では１つの時
間区分または１つの時間窓２Ｔｆにおいて生ずるデータ
Ｄがマイクロプロセッサ３８内に読込まれ、次いでこの
データＤの最大値もしくは最小値が査定される（プロセ
ス段階６８）。当該極値の時間的な位置・状態からは、
最後の先行極値に対する時間間隔Ｔｉｓｔを算定するこ
とができる（プロセス段階７０）。実際値としてのこの
時間間隔Ｔｉｓｔは、図４による平均時間間隔Ｔｍを修
正するために用いられる。

更に次のプロセス段階７２では、実際極値が査定されて
先行極値と比較される。比較結果が互いに合致している
場合にはその情報として二進値１が、また合致していな
い場合には二進値０それぞれ発生される（プロセス段階
７６乃至７４）。これに続くプロセス段階７８では次位
の時間窓における各時点t(n+1)の計算が行なわれるが、
これらの時間は次の時点t(n)+Tmに対し間隔±Ｔｆをお
いて対称的に位置している。

図６ａに示されている評価バリエーションにおいては、
極値の性質を予め規定された時間間隔Ｔで特性曲線経過
に応じて査定することによって評価が行なわれる。図面
上方に表示されている特性曲線は、例えば磁気カード１
０が著しく汚損していたり部分的に損傷している場合に
生ずる変換器３０の典型的な出力電圧経過Ｕに関するも
のである。この種の電圧経過状態は、検査を行なう目的
で磁気トラックにテサフィルム(Tesafilm)条片を塗布す
ることによりシミュレーション・テストすることが出来
る。

この出力電圧経過Ｕを特徴づけているのは、二分の一の
時間間隔Ｔを有する交番磁束において二進値１を顕現す
る縮小された電圧振幅である。このような振幅軽減は磁
気トラックに対する距離増大のもとで交換器３０の感度
が減少する点に由来している。時間間隔Ｔ内で出力電圧
経過Ｕと走査し、且つ極値から二進情報を獲得する作業
は、既に図５および図６に関連して説明したのと同じ原
理に基づいて行なわれる。但し図５に示された実施例の
場合と異なって、出力電圧Ｕはコンスタントに上昇せし
められるので、その電圧経過Ｕにおいてはプラスの電圧
値のみ生ずる。そこで極値の性質を査定するためには、
以下に述べるように極値と閾値との比較が行なわれる。

最も単純なケースでは、例えば基準化段階で閾値が出力
電圧経過Ｕの算術的な平均化により検出され、その際に
規定の電圧振幅を有する二進値０が前位の情報として生
ぜしめられる。この種の閾値Ｓ１は図６ａの上方部分に
破線で示されており、極値の性質は上述したようにこの
閾値Ｓ１との比較によって査定される。最大値が出現す
るのは極値が閾値Ｓ１を下回った場合であり、既に図５
および図６に関して説明したように、現時点で査定され
た極値の性質とその前に査定された極値の性質との比較
からは二進情報Ｂが得られ、その時間的な経過状態は図
６ａの下方部分に示されている。

極値の性質を査定する際に妨害距離（信号対雑音比）を
より大きな値に設定するためには、交番極値の査定後に
閾値Ｓ１を所定の値ｂだけ、つまり最後に査定された極
値に対する電圧間隔を増大させる値だけ変動させればよ
い。この原理を応用するならば、図の上方に符号Ｓ２で
示されたような閾値の経過状態が生ずる。この場合、図
６ａによる出力電圧経過Ｕから明らかなように、二分の
一の時間間隔Ｔを有する電圧振幅と閾値Ｓ２との間の鉛
直方向距離は上記の値ｂだけ拡大される。このような形
式によれば、処理しよとする極値がかなり小さい場合で
も極値の性質としての最大値もしくは最小値の弁別を高
い確度で達成することが出来る。

次に図７に関連して、変換器３０の出力信号経過Ｕに含
まれる二進情報を評価するための本発明による別の実施
態様を説明する。図のａ）部分には、電圧パルスの一部
に顕著な減衰の認められる出力信号経過Ｕが時間ｔを横
軸にしてプロットされている。このような事態が生ずる
のは、例えば磁気カード１０の汚損もしくは彎曲乃至波
打ちに起因する変換器３０と磁気カード１０との距離変
動の結果によるものである。情報の評価を行なうために
は互いに異なる性質の連続した極値が査定され、図７の
ｂ）部分にはこれらの極値における時間的な位置・状態
が示されている。極値の形成に際しては互いに隣接する
数値間の比較が行なわれるに過ぎないので、その比較結
果は出力信号Ｕの電圧絶対値とは無関係である。つまり
換言するならば、外乱に基づく電圧振幅の減衰が情報の
評価に不都合な影響を及ぼすことはない。

図７のｃ）部分およびｄ）部分には、時間比較による情
報獲得方式が示されている。極値の査定により時点ｔ＝
０で時間測定が開始され、異なる性質を有する次の極値
が出現するまでの時間ｔ１が測定される。時間ｔ１は基
準時間ｔｒと比較されるが、この基準時間ｔｒは基準化
に際して規定された時間間隔Ｔ乃至Ｔｍの0.7倍の値に
設定されている。時間ｔ１が基準時間ｔｒより短い場合
には、図７のｄ）部分に示されたように二進値１が生ぜ
しめられる。これに続いて次の極値が査定され、その際
に改めて時間測定が開始される。当該実施例では後続の
極値が先行する極値に対して時間間隔ｔ２を保ってお
り、この時間ｔ２は基準時間ｔｒより長いので、二進値
０が既知の情報となり、この二進値０に関する時間測定
の終了と同時に新たな時間測定が開始される。

この方式により二進情報を評価するために必要とされる
各プロセス段階は、図８にフローチャートとして示され
ている。第１のプロセス段階９０では、出力信号経過Ｕ
におけるデジタル化されたｍ個のデータがマイクロプロ
セッサ３８内に読込まれる。この場合ｍなる数は、ｍ個
のデジタル値のうち少なくとも１つの数値が信号経過Ｕ
における１つの電圧パルス、ひいては１つの極値を表す
ように選定される。これに続くプロセス段階９２におい
ては、ｍ個のデータから１つの極値が査定され、次いで
時間測定が開始される（プロセス段階９４）。更にそれ
に続いて別のｍ個のデータが読込まれ、後続の極値が査
定される（プロセス段階９６及び９８）。これに続くプ
ロセス段階100では１つの極値の査定を以て時間測定が
終了せしめられる。この実施例においては、アナログ／
デジタル交換のコンスタントな変換周波数によるデジタ
ル式のプロセスが採用されるので、その時間測定を簡略
化して、これを２つの極値間に存在するデジタル数値査
定に帰せしめることが出来る。次いで時間間隔の絶対値
を検出するため、このデジタル値の数には両デジタル変
換値間の時間間隔Ｔａｄの値が乗ぜられる。当該デジタ
ル変換方式における時間測定は、出力信号経過Ｕの発生
と同時に行なう必要はなく、予めメモリしておいた数値
に基づいて時間をずらした測定を実施することが出来
る。

測定された時間は平均時間間隔Ｔｍの0.7倍に設定され
ている基準時間値ｔｒと比較される（プロセス段階10
2）。測定された時間がこの基準時間Ｔｒより長い場合
には、プロセス段階104で二進値Ｂ＝０の信号が発生さ
れ、次いで再びプロセス段階９４にフィードバックさ
れ、そこで改めて時間測定が開始される。測定された時
間が基準時間ｔｒより短い場合には、プロセス段階106
において二進値Ｂ＝１の信号が発生され、次いで後続の
極値が査定され（プロセス段階９０及び９２）、斯くし
て初めて次の時間測定を開始することが出来る。

更に本発明による別の評価方法においては、出力信号Ｕ
の時間的な経過が図９に示されているような若干の経過
パターンと比較される。図９ａにおける左側に示された
経過パターンＶＬ_１は、基準化に際して規定された時間
間隔に相当する時間区分Ｔ内においてコンスタントなプ
ラスの勾配を呈する１本の直線から形成されている。更
にこの図９ａの右側には、経過パターンＶＬ_１が出力信
号経過Ｕと共にグラフとして表示されている。出力信号
Ｕにおけるその都度の経過と経過パターンＶＬ_１との間
に生ずる偏倚は、それぞれ陰影線を施して明示されてお
り、これらの偏倚のトータル値は陰影線の施された部分
の面積Ｗに相当する。

図９ｂにおける左側の部分には、コンスタントなマイナ
ス勾配を有する直線が経過パターンＶＬ_２として示され
ており、出力信号経過Ｕからの経過パターンＶＬ_２のト
ータル偏倚はその右側のグラフに面積Ｗとしてプロット
されている。この経過パターンＶＬ_２はプラスの値（最
大値）で始まり、マイナスの値（最小値）で終わってい
るので、二進値０の出力信号経過Ｕを特徴づける形状を
呈している。このことは経過パターンＶＬ_１にも当て嵌
まるが、但しその前置符号は逆になる。図９ｃおよび図
９ｄに示された経過パターンＶＬ_３及びＶＬ_４は、二進
値１の出力信号経過Ｕを特徴づける形状を呈しており、
この場合、一方の性質を有する極値に他方の性質を有す
る極値が続き、更にこの極値には再び一方の性質を有す
る極値が続いている。経過パターンＶＬ_３においては第
１の性質を有する極値が最大値であり、経過パターンＶ
Ｌ_４においてはそれが最小値である。これらのグラフを
比較対照すれば明らかなように、図９ｂにおける経過パ
ターンＶＬ_２を出力信号経過Ｕと比較した場合の偏倚Ｗ
が最少の値を示している。従って当該時間区分Ｔ内にお
ける出力信号経過Ｕは二進値Ｂ＝０に等しい。

このケースでは偏倚値Ｗとして電圧信号Ｕの曲線経過と
経過パターンＶＬ_１〜ＶＬ_４との間に形成される面積が
用いられているが、この面積Ｗは全ての数値偏倚を合計
し或いは積分値を出すことによって得られる。この種の
偏倚値からは、出力信号Ｕにおける経過と経過パターン
ＶＬ_１〜ＶＬ_４における経過との類似性を標準化する尺
度として用いられる平均値を算出することが出来る。そ
れと同様に各経過の平均二乗偏倚を算出することも可能
であり、この際には偏倚組を二乗した上で合計し、その
数値から平均値が計算される。このような平均二乗偏倚
及び／又は平均合計偏倚を計算上で用いるならば、出力
信号Ｕにおける特性曲線の形状変化に関する統計的な観
察が達成されるので、例えば系列的は外乱として纏める
ことの出来る短期または長期の特性曲線経過変動と既知
のものとすることが可能になる。

図１０には、それぞれ４つの経過パターンにおける各１
つのパターンと出力信号経過Ｕにおける互いに異なった
バリエーションとの間で最善の合致状況を示す３つのグ
ラフがプロットされている。図１０ａではこのことが二
進値０の経過パターンＶＬ_１について示されている。図
１０ｂには経過パターンＶＬ_４を図示の出力信号経過Ｕ
と比較して得られた最少偏倚Ｗが示されており、従って
この出力信号経過Ｕには経過パターンＶＬ_４に相当する
二進値１が配属されている。図１０ｃにおける比較に関
してもこれと同様なことが明らかにされるが、図１０ｂ
の場合とは異なって、その出力信号経過Ｕはマイナスの
電圧値で開始されている。

図１１には各経過パターンとの比較によって情報を確認
するために必要とされるプロセス段階が矢張りフローチ
ャートとして示されている。先づ初めに、第１のプロセ
ス段階110でデータ・フィールドにおける経過パターン
・データを活かすための準備が行なわれ、次に第２のプ
ロセス段階112では時間区分Ｔの出力信号Ｕにおけるデ
ータがマイクロプロセッサ３８内に読込まれる。次のプ
ロセス段階114では、このデータと経過パターンＶＬ_１
におけるデータとの比較が、つまり換言すればトータル
偏倚値の検出、もしくはｉの値をそれぞれ１、２、３、
４とした二乗偏倚Ｗ_１の検出が行なわれる。次のプロセ
ス段階116では最小値がこれらの４つの偏倚Ｗ_１から査
定され、これに該当する経過パターンＶＬ_１は、出力信
号Ｕにおける実際の特性曲線経過と最も近似した状態に
ある。これに続く各プロセス段階118〜130では、査定さ
れた経過パターンＶＬ_１〜ＶＬ_４に所属する二進値信号
が発生される。

次にプロセス段階132では査定された経過パターンＶＬ
_１が修正される。そのために出力信号Ｕにおける実際の
データＤに対する経過パターンＶＬ_１の偏倚が検出さ
れ、経過パターンＶＬ_１の実際値データがこの偏倚値の
二分の一だけ修正される。情報評価プロセスにおけるそ
の後の過程では、このようにして得られた修正経過パタ
ーンＶＬ_１が更に継続的に修正されるので、その経過は
益々実際の出力信号経過Ｕに近接した状態と呈すること
になる。これによって出力信号Ｕと各経過パターンＶＬ
_１との互いに整合された経過の偏倚Ｗ_１が最少限に抑え
られ、ひいては比較に際して複数の経過パターンＶＬ_１
からその１つを決定する確度が高められる。

図１２には上記の修正による効果が示されており、その
左側のグラフでは経過パターンＶＬ_１がプラスの勾配を
有する１本の直線によって形成されている。この直線を
経過パターンＶＬ_１が出力信号Ｕから偏倚している値の
二分の一だけ修正すると、図の右側にプロットされた経
過パターンＶＬ_１′が生ずる。このパターンは実際の出
力信号経過Ｕに対して一層適合され、従って出力信号経
過Ｕからの偏倚Ｗ′は図の左側に示された偏倚Ｗより小
さく抑えられている。

経過パターンとの比較によって実施される評価方式の１
バリエーションにおいては、経過パターンの選択が前以
て査定された出力信号経過Ｕに応じて行なわれる。この
実施態様は、互いに連続する各経過区分から成る信号経
過がほぼ定常的であるという認識に基づいている。つま
り実地においてその意味するところは、図１０ａによる
出力信号経過Ｕには確かに図１０ｂによる二進値１を有
する出力信号経過Ｕの１区分が継続可能ではあっても、
図１０ｃによる信号経過Ｕは継続しないという点にあ
る。これと同じことは二進値０を有する信号経過Ｕにつ
いても該当し、図１０ａによる電圧経過に継続するのは
開始時にプラスの電圧を有する電圧経過Ｕのみに限られ
る。従って既に評価された電圧経過Ｕに続いて行なわれ
る経過パターンＶＬ_１〜ＶＬ_４との比較は、最終の時間
区分Ｔにおける最後の電圧値に適合されたパターンのみ
に限定される。

適正な経過パターンを選び出すための各プロセス段階は
図１３のフローチャートから明らかであって、その第１
プロセス段階140では前回の比較ｎ−１に応じて査定さ
れた経過パターンＶＬ_１が分岐される。経過パターンＶ
Ｌ_１はまたＶＬ_４が前以て適正なものとして査定されて
いる場合には、後続の比較ｎのためにプロセス段階142
で経過パターンＶＬ_２およびＶＬ_４が準備されるか、そ
うでなければ経過パターンＶＬ_１およびＶＬ_３が比較の
ために準備される（プロセス段階144）。このように適
正な経過パターンＶＬ_１の予選択が行なわれることによ
って、実施さるべき比較処理の数が減少され、ひいては
情報評価のスピードアップが図られる。

図１４には矢張り経過パターンとの比較により二進情報
を確認する評価方式の別のバリエーションがフローチャ
ートとして描かれている。このバリエーションでは、時
間区分Ｔ内における出力電圧Ｕの実際経過と経過パター
ンＶＬ_１との相似性を査定するために相関係数Ｒｘｙ、
ｉが算出される。そのため第１のプロセス段階150にお
いては、経過パターンＶＬ_１に関するデータがデータ・
フィールドで準備される。次のプロセス段階152では観
察される時間区分Ｔにおける出力信号Ｕのデータがマイ
クロプロセッサ３８内に読込まれる。

これに続くプロセス段階154では、４つの経過パターン
ＶＬ_１に関するデータと出力信号Ｕに関するデータとか
らそれぞれ１つの基準化された相関係数Ｒｘｙ、ｉがｉ
の値を１、２、３、４として以下の式により算定され
る。

この式中の各符号はそれぞれ以下のような意味を有して
いる。

ｘ_ｋ 経過バリエーションｋによる経過パターンＶＬ_１
のデータ。

Ｘ 全ての数値ｘ_ｋに関する平均値。

ｙ_ｋ 出力信号Ｕのデータ。

ｙ 全ての数値ｙ_ｋに関する平均値。

ｋ １からｎまでの経過変数、ｎでは経過変数ｋの最大
値が形成される。

このようにして検出された相関係数Ｒｘｙ、ｉは、−１
から＋１までの数値範囲を有しているが、この場合、数
値＋１は出力信号経過と該当の経過パターンＶＬ_１との
完全に合致を意味し、数値−１は電圧経過Ｕおよび経過
パターンＶＬ_１からの完全な反転を意味する。実地にお
けるプロセスでは、計算された相関係数Ｒｘｙが一般に
これらの極値間の位置を占めることになる。相関係数Ｒ
ｘｙを有していると共に数値＋１に最も近接した経過パ
ターンＶＬ_１は、観察対象とされた４つの経過パターン
ＶＬ_１〜ＶＬ_４のうち出力信号経過特性曲線Ｕに最も類
似したパターンであり、この経過パターンＶＬ_１に属す
る二進値Ｂが有効な二進値信号として供給される。

４つの相関係数Ｒｘｙ、ｉから最大値を形成する作業は
プロセス段階156で行なわれる。それに続く各プロセス
段階158〜170では、最大の相関係数Ｒｘｙを有する経過
パターンＶＬ_１に属する二進値Ｂが生ぜしめられる。次
いで、プロセス段階152へのフィードバックが行なわ
れ、以上の評価手順は更に次の時間区分Ｔにおける評価
に応用される。なお相関係数比較によるこの評価方式に
おいても、図１１、図１２、図１３に示され且つこれら
の図面に関連して説明した経過パターンＶＬ_１を修正し
選択する各プロセス段階を応用しうることは言うまでも
ない。

Claims (26)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】磁気記憶カードの磁気トラック上に２周波
   コードによる交番磁束の形式でメモリされた二進情報を
   評価する方法であって、磁気記憶カードと磁束変動によ
   り誘導される電圧パルスを発生する電磁的な変換器との
   間に相対運動を生ぜしめ、情報を獲得するためには走査
   プロセスの開始に当たって一様なパイロット情報による
   基準化を行なうことにより各電圧パルス間における時間
   的な相互間隔を評価する形式の方法において、電磁的な
   変換器（３０）の評価信号（Ｕ）における時間的な経過
   を基準化により予め設定された時間間隔（Ｔ）内で検出
   し、この経過中に生じた極値を査定し、情報を獲得する
   ために当該極値の性質と前以て査定された極値の性質と
   の比を評価することを特徴とする方法。
2. 【請求項２】請求項１記載の方法において、各検出プロ
   セスごとに予め１つの時間区分（２Ｔｆ）を設定するこ
   とを特徴とする方法。
3. 【請求項３】請求項１又は２記載の方法において、時間
   区分の長さを時間間隔（Ｔ）の1/3より短い値に設定し
   ておくことを特徴とする方法。
4. 【請求項４】請求項１乃至３のいづれかに記載の方法に
   おいて、極値の性質を閾値（Ｓ１、Ｓ２）との比較によ
   って査定することを特徴とする方法。
5. 【請求項５】請求項４記載の方法において、電磁的な変
   換機（３０）における出力信号（Ｕ）の時間（ｔ）に関
   連した算術平均値を出すことによって閾値（Ｓ１）を検
   出することを特徴とする方法。
6. 【請求項６】請求項４又は５記載の方法において、査定
   された極値交番に応じて閾値（Ｓ２）を所定の値（ｂ）
   だけ変動させることによって、この極値と最後に査定さ
   れた極値との間の距離を増大させることを特徴とする方
   法。
7. 【請求項７】磁気記憶カードの磁気トラック上に２周波
   コードによる交番磁束の形式でメモリされた二進情報を
   評価する方法であって、磁気記憶カードと磁束変動によ
   り誘導される電圧パルスを発生する電磁的な変換器との
   間に相対運動を生ぜしめ、情報を獲得するためには走査
   プロセスの開始に当たって一様なパイロット情報による
   基準化を行なうことにより各電圧パルス間における時間
   的な相互間隔を評価する形式の方法において、電磁的な
   変換器（３０）における出力信号（Ｕ）の経過中に相次
   いで生ずる種々異なった形式の極値を査定し、これらの
   各極値間における時間（ｔ１〜ｔ４）を測定し、各時間
   （ｔ１〜ｔ４）と情報を獲得するために基準化により予
   め規定された時間間隔（Ｔ）との比を評価し、引続き行
   なわれる評価プロセスに際して時間（ｔ１、ｔ４）が時
   間間隔（Ｔ）より短い場合には後続の極値において初め
   て次の時間測定を開始することを特徴とする方法。
8. 【請求項８】請求項７記載の方法において、測定された
   時間（ｔ１〜ｔ４）を時間間隔（Ｔ）の0.7倍の値と比
   較することを特徴とする方法。
9. 【請求項９】請求項８記載の方法において、得られた情
   報のエラーチェックを行い、エラーが生じていた場合に
   は測定された時間（ｔ１〜ｔ４）を時間間隔（Ｔ）の0.
   66倍〜0.77倍または0.7〜0.75の値と比較することを特
   徴とする方法。
10. 【請求項10】磁気記憶カードの磁気トラック上に２周波
    コードによる交番磁束の形式でメモリーされた二進情報
    を評価する方法であって、磁気記憶カードと磁束変動に
    より誘導される電圧パルスを発生する電磁的な変換器と
    の間に相対運動を生ぜしめ、情報を獲得するためには走
    査プロセスの開始に当たって一様なパイロット情報によ
    る基準化を行なうことにより各電圧パルス間における時
    間的な相互間隔を評価する形式の方法において、基準化
    により予め規定された時間間隔（Ｔ）に亙って出力信号
    （Ｕ）の時間的な経過を検出し、当該情報における各１
    つの二進状態（Ｂ）ごとにそれぞれ時間間隔（Ｔ）を有
    する少なくとも１つの経過パターン（ＶＬ_１〜ＶＬ_４）
    を有効化すべく準備し、検知された出力信号（Ｕ）の経
    過を少なくとも２つの経過パターン（ＶＬ_１〜ＶＬ_４）
    と比較し、その偏倚（Ｗ）が最少である比較結果値を検
    出することを特徴とする方法。
11. 【請求項11】請求項１０記載の方法において、比較を行
    なうために出力信号経過（Ｕ）の平均二乗偏倚もしくは
    平均総計偏倚を経過パターン（ＶＬ_１〜ＶＬ_４）によっ
    て規定することを特徴とする方法。
12. 【請求項12】請求項１０又は１１記載の方法において、
    二進値０に関しては、経過パターン（ＶＬ_１乃至Ｖ
    Ｌ_２）としてプラスもしくはマイナスの一定した勾配を
    有する直線を、また二進値１に関しては、経過パターン
    （ＶＬ_３乃至ＶＬ_４）として先づ初めにプラスの次いで
    マイナスのもしくはその逆の一定した勾配を有し且つ時
    間間隔（Ｔ）の中心で前置符号（＋、−）交替の行なわ
    れる直線を有効化すべく準備することを特徴とする方
    法。
13. 【請求項13】請求項１２記載の方法において、前以て査
    定された出力信号経過（Ｕ）に応じて経過パターン（Ｖ
    Ｌ_１〜ＶＬ_４）の選択を行なうことを特徴とする方法。
14. 【請求項14】請求項１０乃至１３のいづれかに記載の方
    法において、出力信号（Ｕ）の時間経過が最少偏倚値を
    有する同一経過パターン（ＶＬ_１〜ＶＬ_４）から偏倚し
    ている偏倚値（Ｗ）を規定し、経過パターン（ＶＬ_１〜
    ＶＬ_４）をこの偏倚値（Ｗ）に応じて修正し、引続き行
    なわれる評価プロセスに際しては修正されたこの経過パ
    ターン（ＶＬ_１〜ＶＬ_４、ＶＬ_１）を出力信号経過
    （Ｕ）と比較し且つ修正することを特徴とする方法。
15. 【請求項15】請求項１４記載の方法において、経過パタ
    ーン（ＶＬ_１）を偏倚値（Ｗ）における1/2の値だけ修
    正することを特徴とする方法。
16. 【請求項16】請求項１０乃至１５のいづれかに記載の方
    法において、比較を行なうために経過パターン（ＶＬ_１
    〜ＶＬ_４）と検出された出力信号（Ｕ）の経過とから基
    準化された相関係数（Ｒｘｙ、ｉ）を出し、この係数に
    おける数値１からの偏倚を検出することを特徴とする方
    法。
17. 【請求項17】請求項１乃至１６のいづれかに記載の方法
    において、基準化に際して検出された時間間隔（Ｔ）か
    ら、以後のプロセスで評価に用いる平均時間間隔（Ｔ
    ｍ）の数値を出すことを特徴とする方法。
18. 【請求項18】請求項１乃至１７のいづれかに記載の方法
    において、相次いで生ずる連続した各極値間の二進値０
    に属する時間（Ｔｉｓｔ）を測定し、基準化に際して検
    出された時間間隔（Ｔ、Ｔｍ）がこの時間（Ｔｉｓｔ）
    から偏倚している場合には時間間隔（Ｔ、Ｔｍ）の修正
    を行なうことを特徴とする方法。
19. 【請求項19】請求項１８記載の方法において、時間間隔
    （Ｔ、Ｔｍ）を偏倚値における1/2の値だけ修正し、引
    続き行なわれる評価プロセスに際しては修正されたこの
    時間間隔（Ｔ、Ｔｍ）を用いることを特徴とする方法。
20. 【請求項20】請求項１乃至１９のいづれかに記載の方法
    において、基準化により予め規定された時間間隔（Ｔ）
    内における規則的に設定された時点で出力信号（Ｕ）を
    デジタル値に変換し、情報を獲得するために各デジタル
    極値間におけるデジタル値の数を評価することを特徴と
    する方法。
21. 【請求項21】請求項２０記載の方法において、互いに隣
    接するデジタル値の数値比較を行なうことにより極値を
    検出し、その隣接数値がより小さいか或いはより大きい
    場合に最大値もしくは最小値を査定することを特徴とす
    る方法。
22. 【請求項22】請求項２０又は２１記載の方法において、
    アナログ／デジタル変換を行なう時点をＴａｄ＜（１６
    ｖｄ）^−１なる関係式に応じて調節し、この式中、Ｔａ
    ｄを各時点の間隔（ｓ）とし、ｖを磁気カード（１０）
    と電磁変換器（３０）との相対速度（ｍｍ／ｓ）とし、
    ｄを磁気トラック上の交番磁束密度（１／ｍｍ）とする
    ことを特徴とする方法。
23. 【請求項23】請求項１乃至２２のいづれかに記載の方法
    において、電磁的な変換器（３０）における出力信号
    （Ｕ）を予め規定された時点でデジタル値に変換し、各
    デジタル値をその発生順序でメモリし、情報を獲得する
    ためにメモリされたデジタル値を評価することを特徴と
    する方法。
24. 【請求項24】請求項２３記載の方法において、各デジタ
    ル値を互いに異なった評価バリエーションにより相次い
    で評価し、この評価に際してそれぞれ一組の二進情報を
    獲得することを特徴とする方法。
25. 【請求項25】請求項２４記載の方法において、数組の二
    進情報を互いに比較し、その比較結果の合理性チェック
    を行なうことを特徴とする方法。
26. 【請求項26】請求項２５記載の方法において、引続き行
    なわれるデジタル値の評価に際しては、合理性チェック
    の結果に応じて所定の評価バリエーションを選定するこ
    とを特徴とする方法。