JPH0648585B2 - 磁気記憶カードの二進情報を評価する方法 - Google Patents
磁気記憶カードの二進情報を評価する方法Info
- Publication number
- JPH0648585B2 JPH0648585B2 JP3504959A JP50495991A JPH0648585B2 JP H0648585 B2 JPH0648585 B2 JP H0648585B2 JP 3504959 A JP3504959 A JP 3504959A JP 50495991 A JP50495991 A JP 50495991A JP H0648585 B2 JPH0648585 B2 JP H0648585B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- time
- information
- time interval
- output signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/14—Digital recording or reproducing using self-clocking codes
- G11B20/1403—Digital recording or reproducing using self-clocking codes characterised by the use of two levels
- G11B20/1407—Digital recording or reproducing using self-clocking codes characterised by the use of two levels code representation depending on a single bit, i.e. where a one is always represented by a first code symbol while a zero is always represented by a second code symbol
- G11B20/1419—Digital recording or reproducing using self-clocking codes characterised by the use of two levels code representation depending on a single bit, i.e. where a one is always represented by a first code symbol while a zero is always represented by a second code symbol to or from biphase level coding, i.e. to or from codes where a one is coded as a transition from a high to a low level during the middle of a bit cell and a zero is encoded as a transition from a low to a high level during the middle of a bit cell or vice versa, e.g. split phase code, Manchester code conversion to or from biphase space or mark coding, i.e. to or from codes where there is a transition at the beginning of every bit cell and a one has no second transition and a zero has a second transition one half of a bit period later or vice versa, e.g. double frequency code, FM code
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Inspection Of Paper Currency And Valuable Securities (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 本発明は磁気記憶カードの磁気トラック上に2周波コー
ドによる交番磁束の形式でメモリー(記憶)された二進
情報を評価する方法であって、磁気記憶カードと磁束変
動により誘導される電圧パルスを発生する電磁的な変換
器との間に相対運動を生ぜしめ、情報を獲得するために
は走査プロセスの開始に当って一様なパイロット情報に
よる基準化を行なうことにより各電圧パルス間における
時間的な相互間隔を評価する形式のものに関する。
ドによる交番磁束の形式でメモリー(記憶)された二進
情報を評価する方法であって、磁気記憶カードと磁束変
動により誘導される電圧パルスを発生する電磁的な変換
器との間に相対運動を生ぜしめ、情報を獲得するために
は走査プロセスの開始に当って一様なパイロット情報に
よる基準化を行なうことにより各電圧パルス間における
時間的な相互間隔を評価する形式のものに関する。
このような形式による方法は、磁気記憶装置によって磁
気カード上に予めメモリーされた情報を読出すために利
用される。この種の磁気カードは既に多くの分野で業務
用に或いは私的に用いられており、例えば個人を識別/
認識するキャッシュカード、各種の資格証明もしくはそ
れに類するカードとして用いられている。磁気カードの
情報は標準化された所定のコードに基づいて作成される
単数もしくは複数のトラックに記録されている。所謂
「二周波コード」と称されるこの種のコードは、例えば
国際標準化機構(ISO)の規格7811/2-1985(E)に記載され
ている。このシステムにおいては、交番磁束、つまり磁
化方向における前置符号(±)を交互に変換される磁束
が定間隔で磁気トラックに刻印されている。これらの交
番磁束の中央には、二進値1を規定(定義)するために
別の交番磁束が導入されるが、この別の交番磁束が欠け
ている場合には二進値0の状態にあるものとみなされ
る。磁気的な情報を読出す際には、磁気トラックをほぼ
コンスタントな速度で電磁的な変換器に沿って通過させ
る措置がとられ、そのためには、例えばモータを用いる
ことにより磁気カードが不動の変換器に対して相対的に
送られるか、可動の変換器が定置の磁気トラック上を案
内されるか、磁気カードが不動に配置された変換器を内
蔵するスリットに沿って取扱者の手で案内される。
気カード上に予めメモリーされた情報を読出すために利
用される。この種の磁気カードは既に多くの分野で業務
用に或いは私的に用いられており、例えば個人を識別/
認識するキャッシュカード、各種の資格証明もしくはそ
れに類するカードとして用いられている。磁気カードの
情報は標準化された所定のコードに基づいて作成される
単数もしくは複数のトラックに記録されている。所謂
「二周波コード」と称されるこの種のコードは、例えば
国際標準化機構(ISO)の規格7811/2-1985(E)に記載され
ている。このシステムにおいては、交番磁束、つまり磁
化方向における前置符号(±)を交互に変換される磁束
が定間隔で磁気トラックに刻印されている。これらの交
番磁束の中央には、二進値1を規定(定義)するために
別の交番磁束が導入されるが、この別の交番磁束が欠け
ている場合には二進値0の状態にあるものとみなされ
る。磁気的な情報を読出す際には、磁気トラックをほぼ
コンスタントな速度で電磁的な変換器に沿って通過させ
る措置がとられ、そのためには、例えばモータを用いる
ことにより磁気カードが不動の変換器に対して相対的に
送られるか、可動の変換器が定置の磁気トラック上を案
内されるか、磁気カードが不動に配置された変換器を内
蔵するスリットに沿って取扱者の手で案内される。
このような走査運動が行なわれることに基づいて、変換
器内では例えば電気力学的な原理により電圧が誘導さ
れ、その電圧の前置符号は磁気トラック上における磁束
の方向如何によって左右される。走査速度はかなり広い
範囲に亙って変動するので、本来の情報読出しを実施す
る前に各磁束もしくは誘導された各電圧パルス間の時間
間隔を基準化によって規定しておかねばならない。その
ため前記のISO規格によれば、磁気トラックにおける所
定の情報に先行する範囲に二進値0に相当する相互間隔
をおいた交番磁束が記録されている。
器内では例えば電気力学的な原理により電圧が誘導さ
れ、その電圧の前置符号は磁気トラック上における磁束
の方向如何によって左右される。走査速度はかなり広い
範囲に亙って変動するので、本来の情報読出しを実施す
る前に各磁束もしくは誘導された各電圧パルス間の時間
間隔を基準化によって規定しておかねばならない。その
ため前記のISO規格によれば、磁気トラックにおける所
定の情報に先行する範囲に二進値0に相当する相互間隔
をおいた交番磁束が記録されている。
記憶情報の正確な読出しを保証するためには、一般に磁
気カードの工業物理的な特性を所定の公差限界内に抑え
ておく必要がある。このような措置は従来の磁気カード
では殆ど採用されていない新規な技術に属する。磁気カ
ードが使い古されてその老化が進むにつれ、磁気カード
に与えられた本来の特性に不都合な影響が生ずる。例え
ば機械的および熱的な負荷を受ける磁気カードの表面形
状は、湾曲したり波打つなどの変形をこうむらざるを得
ない。また磁気トラックには長期の使用による掻き傷、
摩滅、汚損、極めて細い亀裂などの痕跡が生ずる。更に
磁気トラックに刻印された磁束は、老化および妨害磁束
の重畳、並びに温度作用に基づいて減成される。磁気カ
ードがこのように望ましくない特性変動を示すのと同時
に、電磁変換器も長期使用により摩滅、磁化状態の劣悪
化、汚損などを余儀なくされるので、この電圧パルス発
生能力が著しく損なわれる。磁気カードおよび電磁変換
器がこのように変質した場合には、あたかも二進情報で
あるかのように出現する妨害信号が変換器から発生され
る電圧に重畳され、或いは電圧経過が当該電圧に含まれ
た情報を確実に評価することのできる所定の評価範囲か
ら逸脱するように不当に改変され、ひいては、メモリー
された情報が誤って読出されたり不十分にしか読出され
ないという結果を招来しかねない。このように変質した
磁気カードは、本来備えているべき機能を発揮すること
が出来ないので、その所有者にとって無価値のものにな
る。
気カードの工業物理的な特性を所定の公差限界内に抑え
ておく必要がある。このような措置は従来の磁気カード
では殆ど採用されていない新規な技術に属する。磁気カ
ードが使い古されてその老化が進むにつれ、磁気カード
に与えられた本来の特性に不都合な影響が生ずる。例え
ば機械的および熱的な負荷を受ける磁気カードの表面形
状は、湾曲したり波打つなどの変形をこうむらざるを得
ない。また磁気トラックには長期の使用による掻き傷、
摩滅、汚損、極めて細い亀裂などの痕跡が生ずる。更に
磁気トラックに刻印された磁束は、老化および妨害磁束
の重畳、並びに温度作用に基づいて減成される。磁気カ
ードがこのように望ましくない特性変動を示すのと同時
に、電磁変換器も長期使用により摩滅、磁化状態の劣悪
化、汚損などを余儀なくされるので、この電圧パルス発
生能力が著しく損なわれる。磁気カードおよび電磁変換
器がこのように変質した場合には、あたかも二進情報で
あるかのように出現する妨害信号が変換器から発生され
る電圧に重畳され、或いは電圧経過が当該電圧に含まれ
た情報を確実に評価することのできる所定の評価範囲か
ら逸脱するように不当に改変され、ひいては、メモリー
された情報が誤って読出されたり不十分にしか読出され
ないという結果を招来しかねない。このように変質した
磁気カードは、本来備えているべき機能を発揮すること
が出来ないので、その所有者にとって無価値のものにな
る。
従来公知の評価方法においては、二進情報を得るために
電圧パルスがアナログ式に評価される。然しそのために
は、電圧パルスを先ず始めに増幅することが一般的な前
提条件とされ、次いで増幅された電圧パルスが低域フィ
ルタによって瀘波され整流される。以下で詳しく説明す
るように、各パルスの時間的な相互間隔を検出し且つ所
望の情報を得るために用いる整流された電圧パルスの最
大値を査定する場合には、電圧パルスの時間的経過が微
分され、その結果からディスクリミネータ(弁別器)回
路内で方形パルスが生ぜしめられ、この方形パルスの上
昇側面によって最大値の発生時点が規定される。この種
の方形パルスを援用するならば、各電圧パルスをその都
度の極値で検出することが可能になり、ひいてはこれら
の電圧パルスにおける時間的な相互間隔を所望の情報を
獲得するためのデータとして評価することができる。
電圧パルスがアナログ式に評価される。然しそのために
は、電圧パルスを先ず始めに増幅することが一般的な前
提条件とされ、次いで増幅された電圧パルスが低域フィ
ルタによって瀘波され整流される。以下で詳しく説明す
るように、各パルスの時間的な相互間隔を検出し且つ所
望の情報を得るために用いる整流された電圧パルスの最
大値を査定する場合には、電圧パルスの時間的経過が微
分され、その結果からディスクリミネータ(弁別器)回
路内で方形パルスが生ぜしめられ、この方形パルスの上
昇側面によって最大値の発生時点が規定される。この種
の方形パルスを援用するならば、各電圧パルスをその都
度の極値で検出することが可能になり、ひいてはこれら
の電圧パルスにおける時間的な相互間隔を所望の情報を
獲得するためのデータとして評価することができる。
ところがこの種の評価方式によって有効な結果が得られ
るのは、磁気カードが申し分ない状態にある場合に限ら
れる。つまり、前述したような妨害信号が電圧パルスに
重畳されると、微分操作によって妨害パルスが生じ、こ
れに続いて方形信号が発生された際にそのパルス上昇側
面によって規定されるのは、もはや当該電圧パルスに関
する極値ではなく妨害信号の極値でしかない。従って各
電圧パルス間の時間間隔検出にエラーが生じ、磁気トラ
ックにメモリされている情報は本来の正規なものではな
い誤った情報として評価されることになる。
るのは、磁気カードが申し分ない状態にある場合に限ら
れる。つまり、前述したような妨害信号が電圧パルスに
重畳されると、微分操作によって妨害パルスが生じ、こ
れに続いて方形信号が発生された際にそのパルス上昇側
面によって規定されるのは、もはや当該電圧パルスに関
する極値ではなく妨害信号の極値でしかない。従って各
電圧パルス間の時間間隔検出にエラーが生じ、磁気トラ
ックにメモリされている情報は本来の正規なものではな
い誤った情報として評価されることになる。
そこで本発明の課題とするところは、従来公知の方法に
おける欠陥を除くべく、磁気トラック及び/又は電磁変
換器が仮に老化または汚損もしくは損傷を受けていたと
しても、磁気記憶カードの磁気トラックにメモリされた
情報の高い信頼度による評価を保証するような二進情報
の評価法を提供する点にある。
おける欠陥を除くべく、磁気トラック及び/又は電磁変
換器が仮に老化または汚損もしくは損傷を受けていたと
しても、磁気記憶カードの磁気トラックにメモリされた
情報の高い信頼度による評価を保証するような二進情報
の評価法を提供する点にある。
本発明によれば、この課題は請求項1、7及び10に開
示された特徴により解決することができる。
示された特徴により解決することができる。
本発明による第1の解決策では、電磁的な変換器の評価
信号における時間的な経過を基準化により予め設定され
た時間間隔内で検出し、この経過中に生じた極値を査定
し、情報を獲得するために当該極値の性質と前以査定さ
れた極値の性質との比を評価する措置が提案されてい
る。
信号における時間的な経過を基準化により予め設定され
た時間間隔内で検出し、この経過中に生じた極値を査定
し、情報を獲得するために当該極値の性質と前以査定さ
れた極値の性質との比を評価する措置が提案されてい
る。
この解決策を案出するための基礎として考察されたの
は、磁気トラックの走査中にあたかも二進情報のような
妨害信号が偶発的に生ずるという事実である。ところ
で、出力信号の経過を検出するプロセスが所定の時間間
隔内でのみ行なわれるとするならば、その検出時間外に
生じた妨害信号はマスクアウトされる。さらにこの種の
妨害信号がほぼ均等な確立分布で出力信号経過中に出現
すると仮定するならば、妨害信号に起因する磁気カード
の機能障害が発生する蓋然性を、走査プロセスにおける
全走査時間および前検出時間の総計として算定されるフ
ァクタ分だけ低下させることができる。検出時間にはこ
れを著しく短縮することが可能であって、例えばデジタ
ル式の検出プロセスにおいては使用するサンプル及びホ
ールド素子、並びにアナログ/デジタル変換器の使用如
何に応じて、マイクロセカンド単位の時間内で検出を行
なうことができるので、この原理を応用すれば評価の信
頼性(評価確度)が著しく高められる。
は、磁気トラックの走査中にあたかも二進情報のような
妨害信号が偶発的に生ずるという事実である。ところ
で、出力信号の経過を検出するプロセスが所定の時間間
隔内でのみ行なわれるとするならば、その検出時間外に
生じた妨害信号はマスクアウトされる。さらにこの種の
妨害信号がほぼ均等な確立分布で出力信号経過中に出現
すると仮定するならば、妨害信号に起因する磁気カード
の機能障害が発生する蓋然性を、走査プロセスにおける
全走査時間および前検出時間の総計として算定されるフ
ァクタ分だけ低下させることができる。検出時間にはこ
れを著しく短縮することが可能であって、例えばデジタ
ル式の検出プロセスにおいては使用するサンプル及びホ
ールド素子、並びにアナログ/デジタル変換器の使用如
何に応じて、マイクロセカンド単位の時間内で検出を行
なうことができるので、この原理を応用すれば評価の信
頼性(評価確度)が著しく高められる。
出力信号の極値を査定して、その性質を、つまりその極
値が最大値であるか最小値であるかを、先行する区分で
査定された極値の性質と比較する作業は、基準化によっ
て予め規定された時間間隔内で実施される。このような
極値の査定は出力信号における電圧振幅の値とは無関係
に行なわれるので、信号レベルが評価に関与してくるこ
とはない。即ち換言するならば、磁気トラック上におけ
る磁束の弱化もしくは変換器と磁気トラックとの間の距
離変動に基づいて出力信号のレベルが低下した場合に
も、当該情報評価を確実に行なうことが可能とされる。
値が最大値であるか最小値であるかを、先行する区分で
査定された極値の性質と比較する作業は、基準化によっ
て予め規定された時間間隔内で実施される。このような
極値の査定は出力信号における電圧振幅の値とは無関係
に行なわれるので、信号レベルが評価に関与してくるこ
とはない。即ち換言するならば、磁気トラック上におけ
る磁束の弱化もしくは変換器と磁気トラックとの間の距
離変動に基づいて出力信号のレベルが低下した場合に
も、当該情報評価を確実に行なうことが可能とされる。
実際極値の性質と先行極値の性質とを比較した結果から
は、現時点が二進値0の状態にあるのか二進値1の状態
にあるのかをダイレクトに推定することができる。この
点につき以下に1つの例を挙げて詳述する。前述した2
周波コードによれば、二進値0における各電圧パルス間
の時間間隔は二進値1における時間間隔の2倍に相当す
る。二進値0に関する時間長は基準化に際して予め検出
されており、出力信号におけるこの時間間隔内で所定の
性質を有する極値、例えば最大値または最小値が査定さ
れ、当該極値が先に査定された極値と同じ性質を有して
いる場合には、これら両極値間に異なった性質を有する
別の極値が発生することが必然的に演算される。なぜな
らば、原理的に言って互いに連続する電極パルスは互い
に逆の前置符号を、つまり信号経過において互いに異な
る性質の極値を有していなければならないからである。
従ってこの出力信号経過に含まれる二進情報は、同種の
極値において数値1を有している。走査を行なう時間間
隔内で互いに連続する極値の性質がそれぞれ異なってい
る場合、即ち最大値に続いて最小値がもしくはその逆の
順序で極値が生ずる場合には、情報として二進値0が存
在した状態にある。
は、現時点が二進値0の状態にあるのか二進値1の状態
にあるのかをダイレクトに推定することができる。この
点につき以下に1つの例を挙げて詳述する。前述した2
周波コードによれば、二進値0における各電圧パルス間
の時間間隔は二進値1における時間間隔の2倍に相当す
る。二進値0に関する時間長は基準化に際して予め検出
されており、出力信号におけるこの時間間隔内で所定の
性質を有する極値、例えば最大値または最小値が査定さ
れ、当該極値が先に査定された極値と同じ性質を有して
いる場合には、これら両極値間に異なった性質を有する
別の極値が発生することが必然的に演算される。なぜな
らば、原理的に言って互いに連続する電極パルスは互い
に逆の前置符号を、つまり信号経過において互いに異な
る性質の極値を有していなければならないからである。
従ってこの出力信号経過に含まれる二進情報は、同種の
極値において数値1を有している。走査を行なう時間間
隔内で互いに連続する極値の性質がそれぞれ異なってい
る場合、即ち最大値に続いて最小値がもしくはその逆の
順序で極値が生ずる場合には、情報として二進値0が存
在した状態にある。
本発明の有利な1態様においては、各検出プロセスごと
に予め1つの時間区分が設定される。この措置によれ
ば、当該時間区分内に存在する複数の出力信号数値を評
価に関与させることができるので、極値の存在をより高
い角度で査定し、その時間区分内における時間的な位置
を確認することが可能になる。この場合、時間区分の長
さはその都度の用例ごとに異なっていてもよい。変換器
の出力信号に対する妨害が僅かなものに抑えられている
場合には、短い時間区分長で充分に所期の目的が達成さ
れる一方、出力信号が著しく妨害される場合には、それ
に応じた長さの時間区分を設定しておくことが望まし
い。この場合、比較的多数の出力信号値から極値を選定
し、信号経過における相対的な最大値もしくは最小値を
選り分けることが可能である。この数値の数が多ければ
多いほど、極値およびその性質をより正確に確認するこ
とができる。しかしその半面、妨害信号による不都合な
影響が時間区分の延長に応じてより顕在化することも考
慮しなければならない。そこでこのことに対処するた
め、時間区分長を基準化に際して2つの電圧パルス間で
検出される時間間隔の六分の一より小さな値に設定する
と有利であることが実地における多くの使用例で実証さ
れている。
に予め1つの時間区分が設定される。この措置によれ
ば、当該時間区分内に存在する複数の出力信号数値を評
価に関与させることができるので、極値の存在をより高
い角度で査定し、その時間区分内における時間的な位置
を確認することが可能になる。この場合、時間区分の長
さはその都度の用例ごとに異なっていてもよい。変換器
の出力信号に対する妨害が僅かなものに抑えられている
場合には、短い時間区分長で充分に所期の目的が達成さ
れる一方、出力信号が著しく妨害される場合には、それ
に応じた長さの時間区分を設定しておくことが望まし
い。この場合、比較的多数の出力信号値から極値を選定
し、信号経過における相対的な最大値もしくは最小値を
選り分けることが可能である。この数値の数が多ければ
多いほど、極値およびその性質をより正確に確認するこ
とができる。しかしその半面、妨害信号による不都合な
影響が時間区分の延長に応じてより顕在化することも考
慮しなければならない。そこでこのことに対処するた
め、時間区分長を基準化に際して2つの電圧パルス間で
検出される時間間隔の六分の一より小さな値に設定する
と有利であることが実地における多くの使用例で実証さ
れている。
前述した設定課題を解決するために提案された本発明に
よる第2の措置においては、電磁的な変換器における出
力信号の経過中に相次いで生ずる種々の異なった形式の
極値が査定され、これらの各極値間における時間が測定
され、各時間と情報を獲得するために基準化により予め
規定された時間間隔との比が評価され、引続き行なわれ
る評価プロセスに際してこの時間が所定の時間間隔より
短い場合には、後続の極値において初めて次の時間測定
が開始される。
よる第2の措置においては、電磁的な変換器における出
力信号の経過中に相次いで生ずる種々の異なった形式の
極値が査定され、これらの各極値間における時間が測定
され、各時間と情報を獲得するために基準化により予め
規定された時間間隔との比が評価され、引続き行なわれ
る評価プロセスに際してこの時間が所定の時間間隔より
短い場合には、後続の極値において初めて次の時間測定
が開始される。
この措置によれば、変換器の出力信号において種々異な
る時間間隔で生ずる極値が二進情報を獲得するために評
価される。これらの極値は、単に隣設する数値に対して
相対的に規定されているのに過ぎないので、出力信号の
電圧レベル絶対値とは無関係であり、従ってこれを取巻
く数値がより小さい場合にはその最大値を形成し、これ
らの数値がより大きい場合には最小値を形成する。例え
ば汚損もしくは変換器と磁気カードとの距離増大によっ
て磁気トラック上の磁束と変換器との間の磁気結合力が
弱められると、磁気トラックの走査に際して誘導される
電圧パルスもそれに応じて減衰せしめられる。このこと
は単にそのパルスピーク値にのみ当て嵌るのではなく、
隣接する全ての電圧値にも該当するので、極値はこれに
隣接する各数値との比較によって明確に規定される。こ
のような措置が採られているならば、変換器の出力信号
を弱化させる妨害(外乱)が出力信号中に含まれる二進
情報の評価に不都合な影響を及ぼすことは概ね回避され
る。
る時間間隔で生ずる極値が二進情報を獲得するために評
価される。これらの極値は、単に隣設する数値に対して
相対的に規定されているのに過ぎないので、出力信号の
電圧レベル絶対値とは無関係であり、従ってこれを取巻
く数値がより小さい場合にはその最大値を形成し、これ
らの数値がより大きい場合には最小値を形成する。例え
ば汚損もしくは変換器と磁気カードとの距離増大によっ
て磁気トラック上の磁束と変換器との間の磁気結合力が
弱められると、磁気トラックの走査に際して誘導される
電圧パルスもそれに応じて減衰せしめられる。このこと
は単にそのパルスピーク値にのみ当て嵌るのではなく、
隣接する全ての電圧値にも該当するので、極値はこれに
隣接する各数値との比較によって明確に規定される。こ
のような措置が採られているならば、変換器の出力信号
を弱化させる妨害(外乱)が出力信号中に含まれる二進
情報の評価に不都合な影響を及ぼすことは概ね回避され
る。
磁気カードに記録されている情報の二進状態は時間測定
を行なうことにより検出され、その測定結果は予備情報
による基準化に際して検出された時間状態と比較され
る。連続して生ずる互いに異なった性質の二進値0を有
する極値、つまり最大値が最小値に続くか最小値が最大
値に続くような2つの極値の間で測定された時間がこの
時間間隔とほほ等しい場合には、磁気トラックから読出
された磁気的な情報に二進値0が含まれ、測定時間がこ
の時間間隔より短い場合には、磁気情報に二進値1が含
まれている。1つの極値、例えば最大値の検出後には、
これと異なる性質を有する極値としての最小値が出現す
るまでに要する時間が測定される。つまりこの例では、
その時間内に生じた別の最大値は考慮されないことにな
るので、本発明による方法の評価確度が一層高められ
る。
を行なうことにより検出され、その測定結果は予備情報
による基準化に際して検出された時間状態と比較され
る。連続して生ずる互いに異なった性質の二進値0を有
する極値、つまり最大値が最小値に続くか最小値が最大
値に続くような2つの極値の間で測定された時間がこの
時間間隔とほほ等しい場合には、磁気トラックから読出
された磁気的な情報に二進値0が含まれ、測定時間がこ
の時間間隔より短い場合には、磁気情報に二進値1が含
まれている。1つの極値、例えば最大値の検出後には、
これと異なる性質を有する極値としての最小値が出現す
るまでに要する時間が測定される。つまりこの例では、
その時間内に生じた別の最大値は考慮されないことにな
るので、本発明による方法の評価確度が一層高められ
る。
二進値0が既知の値とされた場合には、これに先行する
最後の時間測定を終了させたのと同じ極値における次の
時間測定が開始され、異なった性質を有する次の極値が
生ずるまでの時間が査定される。これに対して二進値1
が既知の値とされた場合には、次の時間測定がその前の
測定を終了させた極値によって直ちに開始されるのでは
なく、これに続く極値によって初めて測定が開始され
る。この措置によれば、基準化に際して検出された時間
間隔に等しい周期を有する電圧パルスの発生ごとにその
都度新たな時間測定を開始することが達成される。それ
より短い周期または長い周期の電圧パスルが生じても、
それが時間測定を開始させることにはならない。従って
この時間測定開始は明確な基準点となり、出力信号で生
じた電圧パルスの誤った解釈および高周波妨害パルスの
発生は申し分なく回避される。
最後の時間測定を終了させたのと同じ極値における次の
時間測定が開始され、異なった性質を有する次の極値が
生ずるまでの時間が査定される。これに対して二進値1
が既知の値とされた場合には、次の時間測定がその前の
測定を終了させた極値によって直ちに開始されるのでは
なく、これに続く極値によって初めて測定が開始され
る。この措置によれば、基準化に際して検出された時間
間隔に等しい周期を有する電圧パルスの発生ごとにその
都度新たな時間測定を開始することが達成される。それ
より短い周期または長い周期の電圧パスルが生じても、
それが時間測定を開始させることにはならない。従って
この時間測定開始は明確な基準点となり、出力信号で生
じた電圧パルスの誤った解釈および高周波妨害パルスの
発生は申し分なく回避される。
上述した解決策の有利な1実施態様では、測定された時
間を基準化に際して検出された時間間隔の0.7倍と比較
する点が特に傑出している。2周波コード方式において
は、二進値0を有する磁束の時間間隔が二進値1を有す
る磁束の時間間隔の2倍に相当する。互いに異なった性
質を有する2つの極値間で測定された時間を基準化時間
間隔0.7倍と比較した場合には、通常の二進値0および
二進値1について測定された時間は基準値に対してそれ
ぞれ等しい時間間隔を有している。この時間間隔は二進
値を認識する場合の妨害距離、即ち信号対雑音比(SN
比)と見做すことができる。本発明によるプロセスにお
いては、この妨害距離が双方の二進値について等しい長
さを、つまり基準化時間間隔のそれぞれ0.3倍の値を有
している。従ってバイナリー方式による情報状態が同一
のSN比で検出されることになるので、この評価方法の
信頼度は更に一層高められる。
間を基準化に際して検出された時間間隔の0.7倍と比較
する点が特に傑出している。2周波コード方式において
は、二進値0を有する磁束の時間間隔が二進値1を有す
る磁束の時間間隔の2倍に相当する。互いに異なった性
質を有する2つの極値間で測定された時間を基準化時間
間隔0.7倍と比較した場合には、通常の二進値0および
二進値1について測定された時間は基準値に対してそれ
ぞれ等しい時間間隔を有している。この時間間隔は二進
値を認識する場合の妨害距離、即ち信号対雑音比(SN
比)と見做すことができる。本発明によるプロセスにお
いては、この妨害距離が双方の二進値について等しい長
さを、つまり基準化時間間隔のそれぞれ0.3倍の値を有
している。従ってバイナリー方式による情報状態が同一
のSN比で検出されることになるので、この評価方法の
信頼度は更に一層高められる。
本発明による上記の実施態様においては、得られた情報
のエラーチェックを行って、エラーが生じていた場合に
は測定された時間を所定の時間間隔の0.66倍〜0.77倍の
値、乃至は0.7〜0.75の値と比較することができる。
のエラーチェックを行って、エラーが生じていた場合に
は測定された時間を所定の時間間隔の0.66倍〜0.77倍の
値、乃至は0.7〜0.75の値と比較することができる。
この措置によれば、上述の評価プロセスにおける妨害を
より確実に防止することが可能になる。つまり、例えば
パリティー・ビット・チェック(奇遇ビット検査)で読
出エラーが査定された場合には、基準値に対する時間的
な間隔によって規定される妨害距離が過度に小さいこと
などとエラーの原因として検出することができる。とこ
ろで二進値0乃至1を確認する場合にエラーが生ずるか
否かに応じて、妨害距離は前記の措置により一方向また
は他方向で増大せしめられる。更にこの場合、エラーの
発生に際してこの妨害距離をとりあえず任意の方向で増
大させ、次いで後続の評価を行なう場合に再度エラー検
出を実施し、その結果に応じて妨害距離を他の方向で増
大させることも可能である。この方式によれば、遅くと
も二回目の試みで妨害距離の実質的な増大を達成し、発
生するエラーに対処することができる。
より確実に防止することが可能になる。つまり、例えば
パリティー・ビット・チェック(奇遇ビット検査)で読
出エラーが査定された場合には、基準値に対する時間的
な間隔によって規定される妨害距離が過度に小さいこと
などとエラーの原因として検出することができる。とこ
ろで二進値0乃至1を確認する場合にエラーが生ずるか
否かに応じて、妨害距離は前記の措置により一方向また
は他方向で増大せしめられる。更にこの場合、エラーの
発生に際してこの妨害距離をとりあえず任意の方向で増
大させ、次いで後続の評価を行なう場合に再度エラー検
出を実施し、その結果に応じて妨害距離を他の方向で増
大させることも可能である。この方式によれば、遅くと
も二回目の試みで妨害距離の実質的な増大を達成し、発
生するエラーに対処することができる。
本発明の設定課題を解決するための第3の措置によれ
ば、出力信号の時間的な経過が基準化により予め規定さ
れた時間間隔に亙って検出され、当該情報における各一
つの二進状態ごとにそれぞれ所定の時間間隔を有する少
なくとも1つの経過パターンが準備され、最小の偏倚を
有する比較結果値が検出される。
ば、出力信号の時間的な経過が基準化により予め規定さ
れた時間間隔に亙って検出され、当該情報における各一
つの二進状態ごとにそれぞれ所定の時間間隔を有する少
なくとも1つの経過パターンが準備され、最小の偏倚を
有する比較結果値が検出される。
この措置は出力信号の時間的な経過が情報の各二進状態
ごとにそれぞれ所定の特性を示す曲線形状で表出される
という基本的な考察に基づいており、これは各二進状態
ごとにそれぞれ少なくとも1つの経過パターン形状が示
されることで実証される。出力信号の実際経過がこの経
過パターンと合致した場合には、当該出力信号経過に表
出された二進情報がかなり高い蓋然性でその経過パター
ンに属する数値を示すことになる。
ごとにそれぞれ所定の特性を示す曲線形状で表出される
という基本的な考察に基づいており、これは各二進状態
ごとにそれぞれ少なくとも1つの経過パターン形状が示
されることで実証される。出力信号の実際経過がこの経
過パターンと合致した場合には、当該出力信号経過に表
出された二進情報がかなり高い蓋然性でその経過パター
ンに属する数値を示すことになる。
このような認識を第3の解決策において十二分に利用す
るため、基準化時間間隔の出力信号経過は二進状態0及
び1に配属された少なくとも2つの経過パターンと比較
される。実際に生ずる出力信号経過は外乱重畳によって
理論的な経過から偏倚しているので、一般に各比較パタ
ーンと実際の出力信号経過との間の正確な合致が査定さ
れることはなく、通常は比較パターンの経過と出力信号
経過との間の偏倚が査定され、そのうちで最も小さな偏
倚を有する比較パターンが検出される。この比較パター
ンは実際の出力信号経過に最も近似したパターンであっ
て、磁気トラックに記録された情報として利用される。
るため、基準化時間間隔の出力信号経過は二進状態0及
び1に配属された少なくとも2つの経過パターンと比較
される。実際に生ずる出力信号経過は外乱重畳によって
理論的な経過から偏倚しているので、一般に各比較パタ
ーンと実際の出力信号経過との間の正確な合致が査定さ
れることはなく、通常は比較パターンの経過と出力信号
経過との間の偏倚が査定され、そのうちで最も小さな偏
倚を有する比較パターンが検出される。この比較パター
ンは実際の出力信号経過に最も近似したパターンであっ
て、磁気トラックに記録された情報として利用される。
出力信号経過に妨害信号が重畳されるか或いはその特性
曲線形状が減衰によって変動した場合には、比較パター
ンとの比較に際して査定された偏倚がより多きな値を示
す。比較に際して予期される出力信号の偏倚が過度に大
きなものでない限り、出力信号の二進情報は以前として
明確に規定することができる。出力信号経過の特性を示
すその都度の曲線形状は、異なった二進値ごとにそれぞ
れ著しく相違しており、このことは偏倚に反映されるの
で、消滅傾向を示す出力信号経過においても、出力信号
が著しく減衰される場合にも、やはり信頼度の高い情報
評価が保証される。
曲線形状が減衰によって変動した場合には、比較パター
ンとの比較に際して査定された偏倚がより多きな値を示
す。比較に際して予期される出力信号の偏倚が過度に大
きなものでない限り、出力信号の二進情報は以前として
明確に規定することができる。出力信号経過の特性を示
すその都度の曲線形状は、異なった二進値ごとにそれぞ
れ著しく相違しており、このことは偏倚に反映されるの
で、消滅傾向を示す出力信号経過においても、出力信号
が著しく減衰される場合にも、やはり信頼度の高い情報
評価が保証される。
上記の解決策における別の1実施態様によれば、二進値
0に関しては経過パターンとしてプラスもしくはマイナ
スの一定した勾配を有する直線が、また二進値1に関し
ては経過パターンとして先ず始めにプラスの次いでマイ
ナスのもしくはその逆の一定した勾配を有し且つ時間間
隔の中心で前置符号交替の行なわれる直線が準備され
る。
0に関しては経過パターンとしてプラスもしくはマイナ
スの一定した勾配を有する直線が、また二進値1に関し
ては経過パターンとして先ず始めにプラスの次いでマイ
ナスのもしくはその逆の一定した勾配を有し且つ時間間
隔の中心で前置符号交替の行なわれる直線が準備され
る。
上述の経過はそれぞれ二進値0乃至1の出力信号経過に
とって特性的なものである。この場合、出力信号が検出
開始に当って最大値を示すか最小値を示すかについては
明確に弁別されねばならない。一定したプラスの勾配を
有する直線は二進値0に相当し、マイナスの電圧パルス
で開始される出力信号経過に類似しており、一定したマ
イナスの勾配を有する直線は、最大値で開始される二進
値0の出力信号経過に類似している。二進値1の場合に
は、各基準化時間間隔の間に別の電圧パルスが生ずる。
従って逆V字形を呈する直線が最小値を以て開始される
電圧経過に類似している一方、V字形を呈する直線は最
大値で開始される電圧経過に類似している。
とって特性的なものである。この場合、出力信号が検出
開始に当って最大値を示すか最小値を示すかについては
明確に弁別されねばならない。一定したプラスの勾配を
有する直線は二進値0に相当し、マイナスの電圧パルス
で開始される出力信号経過に類似しており、一定したマ
イナスの勾配を有する直線は、最大値で開始される二進
値0の出力信号経過に類似している。二進値1の場合に
は、各基準化時間間隔の間に別の電圧パルスが生ずる。
従って逆V字形を呈する直線が最小値を以て開始される
電圧経過に類似している一方、V字形を呈する直線は最
大値で開始される電圧経過に類似している。
経過パターンにおけるこのような特性曲線経過は、本発
明による評価方法を応用した場合、プログラミングに要
する経費および手間を僅かなものに抑えてデジタル計算
機により実現することができる。更にこの種の特性曲線
経過においては、実際の出力信号経過からの偏倚を比較
的低い計算コストと僅な手間とで査定でき得るので、評
価を実施する時間は著しく短縮される。
明による評価方法を応用した場合、プログラミングに要
する経費および手間を僅かなものに抑えてデジタル計算
機により実現することができる。更にこの種の特性曲線
経過においては、実際の出力信号経過からの偏倚を比較
的低い計算コストと僅な手間とで査定でき得るので、評
価を実施する時間は著しく短縮される。
本発明による別の実施態様においては、出力信号の時間
経過が最小偏倚値を有する同一の経過パターンから偏倚
している偏倚値を規定し、経過パターンをこの偏倚値に
応じて修正し、引続き行なわれる評価プロセスに際して
は修正された経過パターンを更に出力信号経過と比較し
且つ修正する措置がとられる。
経過が最小偏倚値を有する同一の経過パターンから偏倚
している偏倚値を規定し、経過パターンをこの偏倚値に
応じて修正し、引続き行なわれる評価プロセスに際して
は修正された経過パターンを更に出力信号経過と比較し
且つ修正する措置がとられる。
既に述べたように、一般に変換器の出力信号における電
圧振幅が減衰したり、信号経過の特性曲線形状が変動す
る可能性は避けられず、その理由としては、例えば変換
器ヘッドの摩滅、磁気カードの汚損、磁場強度の変動な
どが挙げられる。そこで本発明によれば、経過パターン
を出力信号における実際の経過に連続的もしくはスライ
ド式に整合させることが可能ならしめられている。この
措置によれば、出力信号の経過と経過パターンとの間の
偏倚を最小限に抑えることが達成される。この偏倚は異
なる経過パターンでは変化することなく維持されるの
で、二進情報を確認するための妨害距離が増大される。
圧振幅が減衰したり、信号経過の特性曲線形状が変動す
る可能性は避けられず、その理由としては、例えば変換
器ヘッドの摩滅、磁気カードの汚損、磁場強度の変動な
どが挙げられる。そこで本発明によれば、経過パターン
を出力信号における実際の経過に連続的もしくはスライ
ド式に整合させることが可能ならしめられている。この
措置によれば、出力信号の経過と経過パターンとの間の
偏倚を最小限に抑えることが達成される。この偏倚は異
なる経過パターンでは変化することなく維持されるの
で、二進情報を確認するための妨害距離が増大される。
更に本発明による評価方法およびその各変化実施態様と
有利な形式で組合せることのできる別の措置によれば、
電磁的な変換器における出力信号が予め規定された時点
でデジタル値に変換され、各デジタル値がその発生順序
でメモリされ、情報を獲得するためにメモリされたデジ
タル値が評価される。
有利な形式で組合せることのできる別の措置によれば、
電磁的な変換器における出力信号が予め規定された時点
でデジタル値に変換され、各デジタル値がその発生順序
でメモリされ、情報を獲得するためにメモリされたデジ
タル値が評価される。
この措置を案出するためには、もし電圧パルスの評価が
変圧機におけるパルスの発生と時間的に緊密な関連を有
していないとするならば、その評価プロセスにおけるエ
ラーを回避することができるという基礎的な考察が利用
された。つまりそのような場合には、評価をリアル・タ
イムで実施する必要はなく、記憶されたデジタル数値に
よりその後の時点、例えば磁気カードの磁気トラックを
走査した後の時点で評価を行なうことが可能とされるの
で、この評価方法を採用した場合には、同一の磁気カー
ドに由来する全ての電圧パルスを利用することによりそ
れぞれ異なったプロセスにおける性能を互いに比較する
ことができるのみならず、評価に要する時間を磁気トラ
ックの走査に要する時間より長い値に設定しておくこと
も実現される。
変圧機におけるパルスの発生と時間的に緊密な関連を有
していないとするならば、その評価プロセスにおけるエ
ラーを回避することができるという基礎的な考察が利用
された。つまりそのような場合には、評価をリアル・タ
イムで実施する必要はなく、記憶されたデジタル数値に
よりその後の時点、例えば磁気カードの磁気トラックを
走査した後の時点で評価を行なうことが可能とされるの
で、この評価方法を採用した場合には、同一の磁気カー
ドに由来する全ての電圧パルスを利用することによりそ
れぞれ異なったプロセスにおける性能を互いに比較する
ことができるのみならず、評価に要する時間を磁気トラ
ックの走査に要する時間より長い値に設定しておくこと
も実現される。
各デジタル数値の評価がそれぞれ異なった評価バリエー
ションにより相次いで行なわれる場合には、その都度一
組の二進情報が得られる。この種の評価バリエーション
については既に前出の各方法に関連して説明したが、そ
れによれば数組の二進情報を互いに比較して、その比較
結果の合理性チェックを行なうことが可能であり、結果
として得られた数値が互いに合致している場合には、獲
得した情報が真正なものである確率を極めて高いものと
見做すことができる。
ションにより相次いで行なわれる場合には、その都度一
組の二進情報が得られる。この種の評価バリエーション
については既に前出の各方法に関連して説明したが、そ
れによれば数組の二進情報を互いに比較して、その比較
結果の合理性チェックを行なうことが可能であり、結果
として得られた数値が互いに合致している場合には、獲
得した情報が真正なものである確率を極めて高いものと
見做すことができる。
更に本発明によれば、引続き行なわれるデジタル値の評
価に際して合理性チェックの結果に応じた所定の評価バ
リエーションが選定される。この措置によれば、磁気カ
ードに記憶された各デジタル数値ごとに最適な評価バリ
エーションを応用することが可能になる。この場合の最
適化基準としては所要時間もしくは統計的な評価確度な
どが用いられ、例えばある程度汚損した典型的な磁気カ
ードを評価する場合には、多段階に亙る評価を実施し、
その各段階ごとに異なった評価バリエーションを利用す
ることができる。この場合、第1の評価段階では単純で
あるがその代り迅速に達成される評価プロセスを応用す
ると効果的である。しかしこの第1段階ではしばしば誤
った結果が生ずるので、次の第2段階で同じデジタル値
を用いた比較的長い時間を要するものの信頼度は高いプ
ロセスによる評価が反復される。この評価作業は申し分
のない結果が得られるまで数段階に亙って続行され、こ
の結果の正当性は自体公知の検査法、例えばパリティー
・ビット・チェック法によって査定することが可能であ
る。
価に際して合理性チェックの結果に応じた所定の評価バ
リエーションが選定される。この措置によれば、磁気カ
ードに記憶された各デジタル数値ごとに最適な評価バリ
エーションを応用することが可能になる。この場合の最
適化基準としては所要時間もしくは統計的な評価確度な
どが用いられ、例えばある程度汚損した典型的な磁気カ
ードを評価する場合には、多段階に亙る評価を実施し、
その各段階ごとに異なった評価バリエーションを利用す
ることができる。この場合、第1の評価段階では単純で
あるがその代り迅速に達成される評価プロセスを応用す
ると効果的である。しかしこの第1段階ではしばしば誤
った結果が生ずるので、次の第2段階で同じデジタル値
を用いた比較的長い時間を要するものの信頼度は高いプ
ロセスによる評価が反復される。この評価作業は申し分
のない結果が得られるまで数段階に亙って続行され、こ
の結果の正当性は自体公知の検査法、例えばパリティー
・ビット・チェック法によって査定することが可能であ
る。
次に添付の図面に示した実施例につき本発明を詳細に説
明する。
明する。
図1は磁気カードと磁気トラックの拡大された区分とを
示した図。
示した図。
図2は二進情報を検出する回路装置の方式構成図。
図3は二周波コードにおける信号経過および二進状態を
示したグラフ。
示したグラフ。
図4は基準化に際して検出される時間間隔の経過を示し
たフローチャート。
たフローチャート。
図5は予め規定された時間間隔における極値の性質を査
定することにより二進情報を評価する際の信号経過を示
したブラフ。
定することにより二進情報を評価する際の信号経過を示
したブラフ。
図6は図5による二進情報を検出する経過を示したフロ
ーチャート。
ーチャート。
図6aは図5および図6による評価方法の1バリエーシ
ョンにおける信号経過を示したグラフ。
ョンにおける信号経過を示したグラフ。
図7は時間測定により情報を評価する場合の信号経過を
示したグラフ。
示したグラフ。
図8は図7による二進情報を評価するプロセス段階を示
したフローチャート。
したフローチャート。
図9(図9a〜図9d)は4つの経過パターン並びに予
め規定された出力信号経過からのパターン偏倚を示した
グラフ。
め規定された出力信号経過からのパターン偏倚を示した
グラフ。
図10(図10a〜図10c)は別の3つの出力信号経
過とその経過に適合された経過パターンとを示したグラ
フ。
過とその経過に適合された経過パターンとを示したグラ
フ。
図11は各経過パターンの比較により二進情報を評価す
るプロセス段階を示したフローチャート。
るプロセス段階を示したフローチャート。
図12は修正された経過パターンを示したグラフ。
図13は適正な経過パターンの選出過程を示したフロー
チャート。
チャート。
図14は相関関係を算定することにより評価を行なうプ
ロセスを示したフローチャートである。
ロセスを示したフローチャートである。
図1には磁気条片12を有する磁気カード10が示され
ており、磁気条片12には3本の磁気トラック14,1
6,18が設けられている。磁気トラック18における
1つの区分20は図の下方に拡大して示されている。こ
の磁気トラック20はバーコード上に形成される磁束2
2,24,26によって刻印されている。これらの磁束
22,24,26間における距離は二進情報0乃至1に
応じて変動する。互いに連続したe本の磁束はそれぞれ
逆の磁化方向を有しており、そのことは磁束22及び2
4の矢印で示されている。これらの磁束22〜26は交
番磁束と称され、ミリメートル当りの交番磁束は、単位
長さ当りで記憶させることのできる二進数値の尺度であ
って、所謂「交番磁束密度d」と称される。
ており、磁気条片12には3本の磁気トラック14,1
6,18が設けられている。磁気トラック18における
1つの区分20は図の下方に拡大して示されている。こ
の磁気トラック20はバーコード上に形成される磁束2
2,24,26によって刻印されている。これらの磁束
22,24,26間における距離は二進情報0乃至1に
応じて変動する。互いに連続したe本の磁束はそれぞれ
逆の磁化方向を有しており、そのことは磁束22及び2
4の矢印で示されている。これらの磁束22〜26は交
番磁束と称され、ミリメートル当りの交番磁束は、単位
長さ当りで記憶させることのできる二進数値の尺度であ
って、所謂「交番磁束密度d」と称される。
図2に方式構成図として示された回路装置は、磁気カー
ド10にメモリされた情報を確認するために用いられ
る。磁気カード10は速度vで電磁的な変換器30に沿
って通過せしめられるので、変換器コイル内には変換器
30により検出された磁束変動に基づいて電圧パルスが
誘導され、このパルスが低域フィルタ32により瀘波さ
れる。低域フィルタ32から発生された信号は出力信号
Uのための増幅器34によって増幅される。この出力信
号Uは規則的に定められた時点ごとにアナログ/デジタ
ル変換器36によりデジタル値に変換される。アナログ
/デジタル変換器36によって変換されたデジタル値
は、二進情報を評価する各プロセス段階を実施させるマ
イクロプロセッサ38に供給される。
ド10にメモリされた情報を確認するために用いられ
る。磁気カード10は速度vで電磁的な変換器30に沿
って通過せしめられるので、変換器コイル内には変換器
30により検出された磁束変動に基づいて電圧パルスが
誘導され、このパルスが低域フィルタ32により瀘波さ
れる。低域フィルタ32から発生された信号は出力信号
Uのための増幅器34によって増幅される。この出力信
号Uは規則的に定められた時点ごとにアナログ/デジタ
ル変換器36によりデジタル値に変換される。アナログ
/デジタル変換器36によって変換されたデジタル値
は、二進情報を評価する各プロセス段階を実施させるマ
イクロプロセッサ38に供給される。
電磁的な変換器30における電圧パルスのパルス列周波
数は、磁気トラックの交番磁束密度d、並びに電磁変換
器30と磁気カード10との間の相対速度v如何に応じ
て左右される。アナログ/デジタル変換器36の走査周
波数は、電磁変換器30から発生される出力信号Uの経
過状態をできるだけ高い時間的な解像能で検出すべくパ
ルス列周波数の少なくとも16倍の値に設定されている
ので、A/D変換の時点はTad<(16vd)−1なる
時間間隔を有しており、この場合に相対速度vの値を20
0mm/sに設定し、交番磁束密度dの値を8.33/mmに設定す
るならば、走査周波数は26656Hzとなり、時間間隔Ta
dは37.5μsになる。
数は、磁気トラックの交番磁束密度d、並びに電磁変換
器30と磁気カード10との間の相対速度v如何に応じ
て左右される。アナログ/デジタル変換器36の走査周
波数は、電磁変換器30から発生される出力信号Uの経
過状態をできるだけ高い時間的な解像能で検出すべくパ
ルス列周波数の少なくとも16倍の値に設定されている
ので、A/D変換の時点はTad<(16vd)−1なる
時間間隔を有しており、この場合に相対速度vの値を20
0mm/sに設定し、交番磁束密度dの値を8.33/mmに設定す
るならば、走査周波数は26656Hzとなり、時間間隔Ta
dは37.5μsになる。
図3のa)部分には磁気トラック18の交番磁束が示さ
れており、b)部分にはこの交番磁束を走査する際の時
間tに亙って変換器30から発生される出力、つまり出
力信号Uの経過状態が示されており、図面下方のc)部
分には電圧経過状態Uから検出される二進状態Bがやは
り時間tに亙って表示されている。
れており、b)部分にはこの交番磁束を走査する際の時
間tに亙って変換器30から発生される出力、つまり出
力信号Uの経過状態が示されており、図面下方のc)部
分には電圧経過状態Uから検出される二進状態Bがやは
り時間tに亙って表示されている。
磁気トラック18はいわば零化前範囲40を有してお
り、この範囲では二進値0に相当する交番磁束のみが刻
印されている。二進値0及び1を情報として併有する本
来の情報範囲42はこの零化前範囲40に後続してい
る。
り、この範囲では二進値0に相当する交番磁束のみが刻
印されている。二進値0及び1を情報として併有する本
来の情報範囲42はこの零化前範囲40に後続してい
る。
情報の符号化(コーディング)は二周波コード方式で行
なわれ、このコード方式においては互いに連続する磁束
の磁化方向が交互に変換される(磁束交番)。この磁束
交番は予め規定された距離間隔ごとに、つまり走査の時
間間隔Tに相当する間隔をおいてその都度実施される。
1つの時間間隔T内で別の交番磁束が出現した場合には
二進値1が信号化され、これが出現しない場合には二進
値0が信号化される。交番磁束の走査時にはその磁化方
向如何に応じてプラスもしくはマイナスの電圧パルスが
誘導され、図3のb)部分にはその経過状態が示されて
いる。磁気トラック18に二進値0の情報のみが含まれ
ている場合には、単に1つの周波数または1つの周期T
のみを有する電圧パルスが生ぜしめられる。他方、磁気
トラック18に二進値1も記録されている場合には、そ
の信号経過には二倍の周波数もしくは二分の一の周期時
間Tを有する信号部分も含まれる。更に図3のc)部分
には、時間間隔Tに相当する予め規定された距離間隔内
に含まれる複数の二進値Bが示されており、これらの二
進値Bは各極値交番後に始めて確定される。
なわれ、このコード方式においては互いに連続する磁束
の磁化方向が交互に変換される(磁束交番)。この磁束
交番は予め規定された距離間隔ごとに、つまり走査の時
間間隔Tに相当する間隔をおいてその都度実施される。
1つの時間間隔T内で別の交番磁束が出現した場合には
二進値1が信号化され、これが出現しない場合には二進
値0が信号化される。交番磁束の走査時にはその磁化方
向如何に応じてプラスもしくはマイナスの電圧パルスが
誘導され、図3のb)部分にはその経過状態が示されて
いる。磁気トラック18に二進値0の情報のみが含まれ
ている場合には、単に1つの周波数または1つの周期T
のみを有する電圧パルスが生ぜしめられる。他方、磁気
トラック18に二進値1も記録されている場合には、そ
の信号経過には二倍の周波数もしくは二分の一の周期時
間Tを有する信号部分も含まれる。更に図3のc)部分
には、時間間隔Tに相当する予め規定された距離間隔内
に含まれる複数の二進値Bが示されており、これらの二
進値Bは各極値交番後に始めて確定される。
変換器30と磁気カード10との相対速度vが必ずしも
全ての磁気カード読出装置において等しく設定されてい
るとは限らないので、周期Tを規定するために基準化を
おこなわねばならない。基準化に際しては前記の零化前
範囲40が利用され、この零化前範囲40は走査プロセ
スの開始前に前もって走査される。零化前範囲40にお
ける電圧パルスの時間間隔からは二進値0に属する時間
間隔Tを検出することが可能であって、そのために必要
とされるプロセス段階は図4にフローチャートとして示
されている。
全ての磁気カード読出装置において等しく設定されてい
るとは限らないので、周期Tを規定するために基準化を
おこなわねばならない。基準化に際しては前記の零化前
範囲40が利用され、この零化前範囲40は走査プロセ
スの開始前に前もって走査される。零化前範囲40にお
ける電圧パルスの時間間隔からは二進値0に属する時間
間隔Tを検出することが可能であって、そのために必要
とされるプロセス段階は図4にフローチャートとして示
されている。
第1のプロセス段階46においては、二進情報0に関す
る時間間隔Tが時間測定によって検出される。そのため
には、例えばアナログ/デジタル変換器36から発生さ
れるデジタル値がその極値について分析される。アナロ
グ/デジタル変換器36の走査周波数が一定の値に保た
れている場合には、各極値間に存在するデジタル値の数
が求められる時間間隔Tを示す尺度(基準値)となる。
る時間間隔Tが時間測定によって検出される。そのため
には、例えばアナログ/デジタル変換器36から発生さ
れるデジタル値がその極値について分析される。アナロ
グ/デジタル変換器36の走査周波数が一定の値に保た
れている場合には、各極値間に存在するデジタル値の数
が求められる時間間隔Tを示す尺度(基準値)となる。
プロセス段階48では零化前範囲40における複数の時
間間隔Tから平均的な時間間隔Tmが算定され、これに
よって時間測定のエラーが見出される。これに続く各プ
ロセス段階50,52,54においては、磁気トラック
18の走査過程で走査速度が変動した場合に必要とされ
る平均時間間隔Tmの修正が行なわれる。そのために
は、走査プロセス中に二進の0値に関する実際値として
の時間間隔Tistが以下で述べるように継続的に測定
され、評価の実施に必要な時間間隔Tmが相次いで修正
される。プロセス段階50ではn番目の評価段階におけ
る時間間隔Tmが実際の時間間隔Tistと比較され、
両時間間隔に相対的な偏倚があった場合には、プロセス
段階50がプロセス段階52に分岐される。
間間隔Tから平均的な時間間隔Tmが算定され、これに
よって時間測定のエラーが見出される。これに続く各プ
ロセス段階50,52,54においては、磁気トラック
18の走査過程で走査速度が変動した場合に必要とされ
る平均時間間隔Tmの修正が行なわれる。そのために
は、走査プロセス中に二進の0値に関する実際値として
の時間間隔Tistが以下で述べるように継続的に測定
され、評価の実施に必要な時間間隔Tmが相次いで修正
される。プロセス段階50ではn番目の評価段階におけ
る時間間隔Tmが実際の時間間隔Tistと比較され、
両時間間隔に相対的な偏倚があった場合には、プロセス
段階50がプロセス段階52に分岐される。
プロセス段階52ではこの段階52で与えられる関係に
基づいた次の評価段階n+1についての時間間隔Tmが
算術的な平均値を出すことによって検出される。このよ
うにして修正された結果は、次にプロセス段階54で評
価に参与する異なったプロセス過程に引渡され、別の情
報評価を行なうために利用される。修正後にはプロセス
段階50への再伝送が行なわれ、時間間隔Tmは別の過
程で引続き修正される。
基づいた次の評価段階n+1についての時間間隔Tmが
算術的な平均値を出すことによって検出される。このよ
うにして修正された結果は、次にプロセス段階54で評
価に参与する異なったプロセス過程に引渡され、別の情
報評価を行なうために利用される。修正後にはプロセス
段階50への再伝送が行なわれ、時間間隔Tmは別の過
程で引続き修正される。
図5には時間tを座標の横軸として示された種々異なる
信号経過のグラフがプロットされており、評価プロセス
はこの信号経過に基づいて極値の性質を査定することに
より所定の時間間隔で描出される。図5のa)部分には
電磁変換器30の出力電圧経過Uが示されている。この
電圧経過Uは基準化によって予め規定された時間間隔T
で各区分ごとに所属の極値を走査され、その性質の確認
が、つまり最大値であるか最小値であるかの識別が行な
われる。この識別作業は、例えば電圧値の前置符号を単
純に評価することにより行なわれ、図5のb)部分には
その状態が暗示されている。情報を獲得するためには連
続した各極値の相互比較が行なわれ、比較された各極値
が互いに等しい性質を有している場合には、図5のd)
部分に示されているように二進値1が生ぜしめられ、各
極値の性質が互いに異なる場合には二進値0が生ぜしめ
られる。信号経過Uは時間間隔T内においてのみ走査さ
れるので、2つの走査プロセス間に生じた妨害パルス6
2は検出されず、これが評価に不都合な影響を及ぼすこ
ともない。更に、減衰された電圧パルス60にも二進値
0乃至1を査定するのに十分な極値の性質に関する情報
が以前として含まれているという理由から、信号経過の
走査が行なわれる瞬間における電圧パルス値が評価結果
を左右することもない。
信号経過のグラフがプロットされており、評価プロセス
はこの信号経過に基づいて極値の性質を査定することに
より所定の時間間隔で描出される。図5のa)部分には
電磁変換器30の出力電圧経過Uが示されている。この
電圧経過Uは基準化によって予め規定された時間間隔T
で各区分ごとに所属の極値を走査され、その性質の確認
が、つまり最大値であるか最小値であるかの識別が行な
われる。この識別作業は、例えば電圧値の前置符号を単
純に評価することにより行なわれ、図5のb)部分には
その状態が暗示されている。情報を獲得するためには連
続した各極値の相互比較が行なわれ、比較された各極値
が互いに等しい性質を有している場合には、図5のd)
部分に示されているように二進値1が生ぜしめられ、各
極値の性質が互いに異なる場合には二進値0が生ぜしめ
られる。信号経過Uは時間間隔T内においてのみ走査さ
れるので、2つの走査プロセス間に生じた妨害パルス6
2は検出されず、これが評価に不都合な影響を及ぼすこ
ともない。更に、減衰された電圧パルス60にも二進値
0乃至1を査定するのに十分な極値の性質に関する情報
が以前として含まれているという理由から、信号経過の
走査が行なわれる瞬間における電圧パルス値が評価結果
を左右することもない。
図5のc)部分では時間区分2Tfにおける検出プロセ
スが実施される。この時間区分2Tfの間には、アナロ
グ/デジタル変換器36の走査周波数に応じた複数のデ
タタル値が検出され、これらのデジタル値のうちから極
値が査定される。この措置は単に極値の性質のみならず
極値の時間的な位置・状態をも査定可能ならしめ、先行
の極値に対する実際時間間隔Tistの時間測定に利用
することができる。実際の時間間隔Tistは、既に述
べたように時間間隔T乃至は平均時間間隔Tmを修正す
るために用いられる。
スが実施される。この時間区分2Tfの間には、アナロ
グ/デジタル変換器36の走査周波数に応じた複数のデ
タタル値が検出され、これらのデジタル値のうちから極
値が査定される。この措置は単に極値の性質のみならず
極値の時間的な位置・状態をも査定可能ならしめ、先行
の極値に対する実際時間間隔Tistの時間測定に利用
することができる。実際の時間間隔Tistは、既に述
べたように時間間隔T乃至は平均時間間隔Tmを修正す
るために用いられる。
図6には図5による二進値検出を行なうために必要とさ
れる各プロセス段階がフローチャートとして示されてい
る。先ず始めに、第1のプロセス段階66では1つの時
間区分または1つの時間窓2Tfにおいて生ずるデータ
Dがマイクロプロセッサ38内に読込まれ、次いでこの
データDの最大値もしくは最小値が査定される(プロセ
ス段階68)。当該極値の時間的な位置・状態からは、
最後の先行極値に対する時間間隔Tistを算定するこ
とができる(プロセス段階70)。実際値としてのこの
時間間隔Tistは、図4による平均時間間隔Tmを修
正するために用いられる。
れる各プロセス段階がフローチャートとして示されてい
る。先ず始めに、第1のプロセス段階66では1つの時
間区分または1つの時間窓2Tfにおいて生ずるデータ
Dがマイクロプロセッサ38内に読込まれ、次いでこの
データDの最大値もしくは最小値が査定される(プロセ
ス段階68)。当該極値の時間的な位置・状態からは、
最後の先行極値に対する時間間隔Tistを算定するこ
とができる(プロセス段階70)。実際値としてのこの
時間間隔Tistは、図4による平均時間間隔Tmを修
正するために用いられる。
更に次のプロセス段階72では、実際極値が査定されて
先行極値と比較される。比較結果が互いに合致している
場合にはその情報として二進値1が、また合致していな
い場合には二進値0それぞれ発生される(プロセス段階
76乃至74)。これに続くプロセス段階78では次位
の時間窓における各時点t(n+1)の計算が行なわれるが、
これらの時間は次の時点t(n)+Tmに対し間隔±Tfをお
いて対称的に位置している。
先行極値と比較される。比較結果が互いに合致している
場合にはその情報として二進値1が、また合致していな
い場合には二進値0それぞれ発生される(プロセス段階
76乃至74)。これに続くプロセス段階78では次位
の時間窓における各時点t(n+1)の計算が行なわれるが、
これらの時間は次の時点t(n)+Tmに対し間隔±Tfをお
いて対称的に位置している。
図6aに示されている評価バリエーションにおいては、
極値の性質を予め規定された時間間隔Tで特性曲線経過
に応じて査定することによって評価が行なわれる。図面
上方に表示されている特性曲線は、例えば磁気カード1
0が著しく汚損していたり部分的に損傷している場合に
生ずる変換器30の典型的な出力電圧経過Uに関するも
のである。この種の電圧経過状態は、検査を行なう目的
で磁気トラックにテサフィルム(Tesafilm)条片を塗布す
ることによりシミュレーション・テストすることが出来
る。
極値の性質を予め規定された時間間隔Tで特性曲線経過
に応じて査定することによって評価が行なわれる。図面
上方に表示されている特性曲線は、例えば磁気カード1
0が著しく汚損していたり部分的に損傷している場合に
生ずる変換器30の典型的な出力電圧経過Uに関するも
のである。この種の電圧経過状態は、検査を行なう目的
で磁気トラックにテサフィルム(Tesafilm)条片を塗布す
ることによりシミュレーション・テストすることが出来
る。
この出力電圧経過Uを特徴づけているのは、二分の一の
時間間隔Tを有する交番磁束において二進値1を顕現す
る縮小された電圧振幅である。このような振幅軽減は磁
気トラックに対する距離増大のもとで交換器30の感度
が減少する点に由来している。時間間隔T内で出力電圧
経過Uと走査し、且つ極値から二進情報を獲得する作業
は、既に図5および図6に関連して説明したのと同じ原
理に基づいて行なわれる。但し図5に示された実施例の
場合と異なって、出力電圧Uはコンスタントに上昇せし
められるので、その電圧経過Uにおいてはプラスの電圧
値のみ生ずる。そこで極値の性質を査定するためには、
以下に述べるように極値と閾値との比較が行なわれる。
時間間隔Tを有する交番磁束において二進値1を顕現す
る縮小された電圧振幅である。このような振幅軽減は磁
気トラックに対する距離増大のもとで交換器30の感度
が減少する点に由来している。時間間隔T内で出力電圧
経過Uと走査し、且つ極値から二進情報を獲得する作業
は、既に図5および図6に関連して説明したのと同じ原
理に基づいて行なわれる。但し図5に示された実施例の
場合と異なって、出力電圧Uはコンスタントに上昇せし
められるので、その電圧経過Uにおいてはプラスの電圧
値のみ生ずる。そこで極値の性質を査定するためには、
以下に述べるように極値と閾値との比較が行なわれる。
最も単純なケースでは、例えば基準化段階で閾値が出力
電圧経過Uの算術的な平均化により検出され、その際に
規定の電圧振幅を有する二進値0が前位の情報として生
ぜしめられる。この種の閾値S1は図6aの上方部分に
破線で示されており、極値の性質は上述したようにこの
閾値S1との比較によって査定される。最大値が出現す
るのは極値が閾値S1を下回った場合であり、既に図5
および図6に関して説明したように、現時点で査定され
た極値の性質とその前に査定された極値の性質との比較
からは二進情報Bが得られ、その時間的な経過状態は図
6aの下方部分に示されている。
電圧経過Uの算術的な平均化により検出され、その際に
規定の電圧振幅を有する二進値0が前位の情報として生
ぜしめられる。この種の閾値S1は図6aの上方部分に
破線で示されており、極値の性質は上述したようにこの
閾値S1との比較によって査定される。最大値が出現す
るのは極値が閾値S1を下回った場合であり、既に図5
および図6に関して説明したように、現時点で査定され
た極値の性質とその前に査定された極値の性質との比較
からは二進情報Bが得られ、その時間的な経過状態は図
6aの下方部分に示されている。
極値の性質を査定する際に妨害距離(信号対雑音比)を
より大きな値に設定するためには、交番極値の査定後に
閾値S1を所定の値bだけ、つまり最後に査定された極
値に対する電圧間隔を増大させる値だけ変動させればよ
い。この原理を応用するならば、図の上方に符号S2で
示されたような閾値の経過状態が生ずる。この場合、図
6aによる出力電圧経過Uから明らかなように、二分の
一の時間間隔Tを有する電圧振幅と閾値S2との間の鉛
直方向距離は上記の値bだけ拡大される。このような形
式によれば、処理しよとする極値がかなり小さい場合で
も極値の性質としての最大値もしくは最小値の弁別を高
い確度で達成することが出来る。
より大きな値に設定するためには、交番極値の査定後に
閾値S1を所定の値bだけ、つまり最後に査定された極
値に対する電圧間隔を増大させる値だけ変動させればよ
い。この原理を応用するならば、図の上方に符号S2で
示されたような閾値の経過状態が生ずる。この場合、図
6aによる出力電圧経過Uから明らかなように、二分の
一の時間間隔Tを有する電圧振幅と閾値S2との間の鉛
直方向距離は上記の値bだけ拡大される。このような形
式によれば、処理しよとする極値がかなり小さい場合で
も極値の性質としての最大値もしくは最小値の弁別を高
い確度で達成することが出来る。
次に図7に関連して、変換器30の出力信号経過Uに含
まれる二進情報を評価するための本発明による別の実施
態様を説明する。図のa)部分には、電圧パルスの一部
に顕著な減衰の認められる出力信号経過Uが時間tを横
軸にしてプロットされている。このような事態が生ずる
のは、例えば磁気カード10の汚損もしくは彎曲乃至波
打ちに起因する変換器30と磁気カード10との距離変
動の結果によるものである。情報の評価を行なうために
は互いに異なる性質の連続した極値が査定され、図7の
b)部分にはこれらの極値における時間的な位置・状態
が示されている。極値の形成に際しては互いに隣接する
数値間の比較が行なわれるに過ぎないので、その比較結
果は出力信号Uの電圧絶対値とは無関係である。つまり
換言するならば、外乱に基づく電圧振幅の減衰が情報の
評価に不都合な影響を及ぼすことはない。
まれる二進情報を評価するための本発明による別の実施
態様を説明する。図のa)部分には、電圧パルスの一部
に顕著な減衰の認められる出力信号経過Uが時間tを横
軸にしてプロットされている。このような事態が生ずる
のは、例えば磁気カード10の汚損もしくは彎曲乃至波
打ちに起因する変換器30と磁気カード10との距離変
動の結果によるものである。情報の評価を行なうために
は互いに異なる性質の連続した極値が査定され、図7の
b)部分にはこれらの極値における時間的な位置・状態
が示されている。極値の形成に際しては互いに隣接する
数値間の比較が行なわれるに過ぎないので、その比較結
果は出力信号Uの電圧絶対値とは無関係である。つまり
換言するならば、外乱に基づく電圧振幅の減衰が情報の
評価に不都合な影響を及ぼすことはない。
図7のc)部分およびd)部分には、時間比較による情
報獲得方式が示されている。極値の査定により時点t=
0で時間測定が開始され、異なる性質を有する次の極値
が出現するまでの時間t1が測定される。時間t1は基
準時間trと比較されるが、この基準時間trは基準化
に際して規定された時間間隔T乃至Tmの0.7倍の値に
設定されている。時間t1が基準時間trより短い場合
には、図7のd)部分に示されたように二進値1が生ぜ
しめられる。これに続いて次の極値が査定され、その際
に改めて時間測定が開始される。当該実施例では後続の
極値が先行する極値に対して時間間隔t2を保ってお
り、この時間t2は基準時間trより長いので、二進値
0が既知の情報となり、この二進値0に関する時間測定
の終了と同時に新たな時間測定が開始される。
報獲得方式が示されている。極値の査定により時点t=
0で時間測定が開始され、異なる性質を有する次の極値
が出現するまでの時間t1が測定される。時間t1は基
準時間trと比較されるが、この基準時間trは基準化
に際して規定された時間間隔T乃至Tmの0.7倍の値に
設定されている。時間t1が基準時間trより短い場合
には、図7のd)部分に示されたように二進値1が生ぜ
しめられる。これに続いて次の極値が査定され、その際
に改めて時間測定が開始される。当該実施例では後続の
極値が先行する極値に対して時間間隔t2を保ってお
り、この時間t2は基準時間trより長いので、二進値
0が既知の情報となり、この二進値0に関する時間測定
の終了と同時に新たな時間測定が開始される。
この方式により二進情報を評価するために必要とされる
各プロセス段階は、図8にフローチャートとして示され
ている。第1のプロセス段階90では、出力信号経過U
におけるデジタル化されたm個のデータがマイクロプロ
セッサ38内に読込まれる。この場合mなる数は、m個
のデジタル値のうち少なくとも1つの数値が信号経過U
における1つの電圧パルス、ひいては1つの極値を表す
ように選定される。これに続くプロセス段階92におい
ては、m個のデータから1つの極値が査定され、次いで
時間測定が開始される(プロセス段階94)。更にそれ
に続いて別のm個のデータが読込まれ、後続の極値が査
定される(プロセス段階96及び98)。これに続くプ
ロセス段階100では1つの極値の査定を以て時間測定が
終了せしめられる。この実施例においては、アナログ/
デジタル交換のコンスタントな変換周波数によるデジタ
ル式のプロセスが採用されるので、その時間測定を簡略
化して、これを2つの極値間に存在するデジタル数値査
定に帰せしめることが出来る。次いで時間間隔の絶対値
を検出するため、このデジタル値の数には両デジタル変
換値間の時間間隔Tadの値が乗ぜられる。当該デジタ
ル変換方式における時間測定は、出力信号経過Uの発生
と同時に行なう必要はなく、予めメモリしておいた数値
に基づいて時間をずらした測定を実施することが出来
る。
各プロセス段階は、図8にフローチャートとして示され
ている。第1のプロセス段階90では、出力信号経過U
におけるデジタル化されたm個のデータがマイクロプロ
セッサ38内に読込まれる。この場合mなる数は、m個
のデジタル値のうち少なくとも1つの数値が信号経過U
における1つの電圧パルス、ひいては1つの極値を表す
ように選定される。これに続くプロセス段階92におい
ては、m個のデータから1つの極値が査定され、次いで
時間測定が開始される(プロセス段階94)。更にそれ
に続いて別のm個のデータが読込まれ、後続の極値が査
定される(プロセス段階96及び98)。これに続くプ
ロセス段階100では1つの極値の査定を以て時間測定が
終了せしめられる。この実施例においては、アナログ/
デジタル交換のコンスタントな変換周波数によるデジタ
ル式のプロセスが採用されるので、その時間測定を簡略
化して、これを2つの極値間に存在するデジタル数値査
定に帰せしめることが出来る。次いで時間間隔の絶対値
を検出するため、このデジタル値の数には両デジタル変
換値間の時間間隔Tadの値が乗ぜられる。当該デジタ
ル変換方式における時間測定は、出力信号経過Uの発生
と同時に行なう必要はなく、予めメモリしておいた数値
に基づいて時間をずらした測定を実施することが出来
る。
測定された時間は平均時間間隔Tmの0.7倍に設定され
ている基準時間値trと比較される(プロセス段階10
2)。測定された時間がこの基準時間Trより長い場合
には、プロセス段階104で二進値B=0の信号が発生さ
れ、次いで再びプロセス段階94にフィードバックさ
れ、そこで改めて時間測定が開始される。測定された時
間が基準時間trより短い場合には、プロセス段階106
において二進値B=1の信号が発生され、次いで後続の
極値が査定され(プロセス段階90及び92)、斯くし
て初めて次の時間測定を開始することが出来る。
ている基準時間値trと比較される(プロセス段階10
2)。測定された時間がこの基準時間Trより長い場合
には、プロセス段階104で二進値B=0の信号が発生さ
れ、次いで再びプロセス段階94にフィードバックさ
れ、そこで改めて時間測定が開始される。測定された時
間が基準時間trより短い場合には、プロセス段階106
において二進値B=1の信号が発生され、次いで後続の
極値が査定され(プロセス段階90及び92)、斯くし
て初めて次の時間測定を開始することが出来る。
更に本発明による別の評価方法においては、出力信号U
の時間的な経過が図9に示されているような若干の経過
パターンと比較される。図9aにおける左側に示された
経過パターンVL1は、基準化に際して規定された時間
間隔に相当する時間区分T内においてコンスタントなプ
ラスの勾配を呈する1本の直線から形成されている。更
にこの図9aの右側には、経過パターンVL1が出力信
号経過Uと共にグラフとして表示されている。出力信号
Uにおけるその都度の経過と経過パターンVL1との間
に生ずる偏倚は、それぞれ陰影線を施して明示されてお
り、これらの偏倚のトータル値は陰影線の施された部分
の面積Wに相当する。
の時間的な経過が図9に示されているような若干の経過
パターンと比較される。図9aにおける左側に示された
経過パターンVL1は、基準化に際して規定された時間
間隔に相当する時間区分T内においてコンスタントなプ
ラスの勾配を呈する1本の直線から形成されている。更
にこの図9aの右側には、経過パターンVL1が出力信
号経過Uと共にグラフとして表示されている。出力信号
Uにおけるその都度の経過と経過パターンVL1との間
に生ずる偏倚は、それぞれ陰影線を施して明示されてお
り、これらの偏倚のトータル値は陰影線の施された部分
の面積Wに相当する。
図9bにおける左側の部分には、コンスタントなマイナ
ス勾配を有する直線が経過パターンVL2として示され
ており、出力信号経過Uからの経過パターンVL2のト
ータル偏倚はその右側のグラフに面積Wとしてプロット
されている。この経過パターンVL2はプラスの値(最
大値)で始まり、マイナスの値(最小値)で終わってい
るので、二進値0の出力信号経過Uを特徴づける形状を
呈している。このことは経過パターンVL1にも当て嵌
まるが、但しその前置符号は逆になる。図9cおよび図
9dに示された経過パターンVL3及びVL4は、二進
値1の出力信号経過Uを特徴づける形状を呈しており、
この場合、一方の性質を有する極値に他方の性質を有す
る極値が続き、更にこの極値には再び一方の性質を有す
る極値が続いている。経過パターンVL3においては第
1の性質を有する極値が最大値であり、経過パターンV
L4においてはそれが最小値である。これらのグラフを
比較対照すれば明らかなように、図9bにおける経過パ
ターンVL2を出力信号経過Uと比較した場合の偏倚W
が最少の値を示している。従って当該時間区分T内にお
ける出力信号経過Uは二進値B=0に等しい。
ス勾配を有する直線が経過パターンVL2として示され
ており、出力信号経過Uからの経過パターンVL2のト
ータル偏倚はその右側のグラフに面積Wとしてプロット
されている。この経過パターンVL2はプラスの値(最
大値)で始まり、マイナスの値(最小値)で終わってい
るので、二進値0の出力信号経過Uを特徴づける形状を
呈している。このことは経過パターンVL1にも当て嵌
まるが、但しその前置符号は逆になる。図9cおよび図
9dに示された経過パターンVL3及びVL4は、二進
値1の出力信号経過Uを特徴づける形状を呈しており、
この場合、一方の性質を有する極値に他方の性質を有す
る極値が続き、更にこの極値には再び一方の性質を有す
る極値が続いている。経過パターンVL3においては第
1の性質を有する極値が最大値であり、経過パターンV
L4においてはそれが最小値である。これらのグラフを
比較対照すれば明らかなように、図9bにおける経過パ
ターンVL2を出力信号経過Uと比較した場合の偏倚W
が最少の値を示している。従って当該時間区分T内にお
ける出力信号経過Uは二進値B=0に等しい。
このケースでは偏倚値Wとして電圧信号Uの曲線経過と
経過パターンVL1〜VL4との間に形成される面積が
用いられているが、この面積Wは全ての数値偏倚を合計
し或いは積分値を出すことによって得られる。この種の
偏倚値からは、出力信号Uにおける経過と経過パターン
VL1〜VL4における経過との類似性を標準化する尺
度として用いられる平均値を算出することが出来る。そ
れと同様に各経過の平均二乗偏倚を算出することも可能
であり、この際には偏倚組を二乗した上で合計し、その
数値から平均値が計算される。このような平均二乗偏倚
及び/又は平均合計偏倚を計算上で用いるならば、出力
信号Uにおける特性曲線の形状変化に関する統計的な観
察が達成されるので、例えば系列的は外乱として纏める
ことの出来る短期または長期の特性曲線経過変動と既知
のものとすることが可能になる。
経過パターンVL1〜VL4との間に形成される面積が
用いられているが、この面積Wは全ての数値偏倚を合計
し或いは積分値を出すことによって得られる。この種の
偏倚値からは、出力信号Uにおける経過と経過パターン
VL1〜VL4における経過との類似性を標準化する尺
度として用いられる平均値を算出することが出来る。そ
れと同様に各経過の平均二乗偏倚を算出することも可能
であり、この際には偏倚組を二乗した上で合計し、その
数値から平均値が計算される。このような平均二乗偏倚
及び/又は平均合計偏倚を計算上で用いるならば、出力
信号Uにおける特性曲線の形状変化に関する統計的な観
察が達成されるので、例えば系列的は外乱として纏める
ことの出来る短期または長期の特性曲線経過変動と既知
のものとすることが可能になる。
図10には、それぞれ4つの経過パターンにおける各1
つのパターンと出力信号経過Uにおける互いに異なった
バリエーションとの間で最善の合致状況を示す3つのグ
ラフがプロットされている。図10aではこのことが二
進値0の経過パターンVL1について示されている。図
10bには経過パターンVL4を図示の出力信号経過U
と比較して得られた最少偏倚Wが示されており、従って
この出力信号経過Uには経過パターンVL4に相当する
二進値1が配属されている。図10cにおける比較に関
してもこれと同様なことが明らかにされるが、図10b
の場合とは異なって、その出力信号経過Uはマイナスの
電圧値で開始されている。
つのパターンと出力信号経過Uにおける互いに異なった
バリエーションとの間で最善の合致状況を示す3つのグ
ラフがプロットされている。図10aではこのことが二
進値0の経過パターンVL1について示されている。図
10bには経過パターンVL4を図示の出力信号経過U
と比較して得られた最少偏倚Wが示されており、従って
この出力信号経過Uには経過パターンVL4に相当する
二進値1が配属されている。図10cにおける比較に関
してもこれと同様なことが明らかにされるが、図10b
の場合とは異なって、その出力信号経過Uはマイナスの
電圧値で開始されている。
図11には各経過パターンとの比較によって情報を確認
するために必要とされるプロセス段階が矢張りフローチ
ャートとして示されている。先づ初めに、第1のプロセ
ス段階110でデータ・フィールドにおける経過パターン
・データを活かすための準備が行なわれ、次に第2のプ
ロセス段階112では時間区分Tの出力信号Uにおけるデ
ータがマイクロプロセッサ38内に読込まれる。次のプ
ロセス段階114では、このデータと経過パターンVL1
におけるデータとの比較が、つまり換言すればトータル
偏倚値の検出、もしくはiの値をそれぞれ1、2、3、
4とした二乗偏倚W1の検出が行なわれる。次のプロセ
ス段階116では最小値がこれらの4つの偏倚W1から査
定され、これに該当する経過パターンVL1は、出力信
号Uにおける実際の特性曲線経過と最も近似した状態に
ある。これに続く各プロセス段階118〜130では、査定さ
れた経過パターンVL1〜VL4に所属する二進値信号
が発生される。
するために必要とされるプロセス段階が矢張りフローチ
ャートとして示されている。先づ初めに、第1のプロセ
ス段階110でデータ・フィールドにおける経過パターン
・データを活かすための準備が行なわれ、次に第2のプ
ロセス段階112では時間区分Tの出力信号Uにおけるデ
ータがマイクロプロセッサ38内に読込まれる。次のプ
ロセス段階114では、このデータと経過パターンVL1
におけるデータとの比較が、つまり換言すればトータル
偏倚値の検出、もしくはiの値をそれぞれ1、2、3、
4とした二乗偏倚W1の検出が行なわれる。次のプロセ
ス段階116では最小値がこれらの4つの偏倚W1から査
定され、これに該当する経過パターンVL1は、出力信
号Uにおける実際の特性曲線経過と最も近似した状態に
ある。これに続く各プロセス段階118〜130では、査定さ
れた経過パターンVL1〜VL4に所属する二進値信号
が発生される。
次にプロセス段階132では査定された経過パターンVL
1が修正される。そのために出力信号Uにおける実際の
データDに対する経過パターンVL1の偏倚が検出さ
れ、経過パターンVL1の実際値データがこの偏倚値の
二分の一だけ修正される。情報評価プロセスにおけるそ
の後の過程では、このようにして得られた修正経過パタ
ーンVL1が更に継続的に修正されるので、その経過は
益々実際の出力信号経過Uに近接した状態と呈すること
になる。これによって出力信号Uと各経過パターンVL
1との互いに整合された経過の偏倚W1が最少限に抑え
られ、ひいては比較に際して複数の経過パターンVL1
からその1つを決定する確度が高められる。
1が修正される。そのために出力信号Uにおける実際の
データDに対する経過パターンVL1の偏倚が検出さ
れ、経過パターンVL1の実際値データがこの偏倚値の
二分の一だけ修正される。情報評価プロセスにおけるそ
の後の過程では、このようにして得られた修正経過パタ
ーンVL1が更に継続的に修正されるので、その経過は
益々実際の出力信号経過Uに近接した状態と呈すること
になる。これによって出力信号Uと各経過パターンVL
1との互いに整合された経過の偏倚W1が最少限に抑え
られ、ひいては比較に際して複数の経過パターンVL1
からその1つを決定する確度が高められる。
図12には上記の修正による効果が示されており、その
左側のグラフでは経過パターンVL1がプラスの勾配を
有する1本の直線によって形成されている。この直線を
経過パターンVL1が出力信号Uから偏倚している値の
二分の一だけ修正すると、図の右側にプロットされた経
過パターンVL1′が生ずる。このパターンは実際の出
力信号経過Uに対して一層適合され、従って出力信号経
過Uからの偏倚W′は図の左側に示された偏倚Wより小
さく抑えられている。
左側のグラフでは経過パターンVL1がプラスの勾配を
有する1本の直線によって形成されている。この直線を
経過パターンVL1が出力信号Uから偏倚している値の
二分の一だけ修正すると、図の右側にプロットされた経
過パターンVL1′が生ずる。このパターンは実際の出
力信号経過Uに対して一層適合され、従って出力信号経
過Uからの偏倚W′は図の左側に示された偏倚Wより小
さく抑えられている。
経過パターンとの比較によって実施される評価方式の1
バリエーションにおいては、経過パターンの選択が前以
て査定された出力信号経過Uに応じて行なわれる。この
実施態様は、互いに連続する各経過区分から成る信号経
過がほぼ定常的であるという認識に基づいている。つま
り実地においてその意味するところは、図10aによる
出力信号経過Uには確かに図10bによる二進値1を有
する出力信号経過Uの1区分が継続可能ではあっても、
図10cによる信号経過Uは継続しないという点にあ
る。これと同じことは二進値0を有する信号経過Uにつ
いても該当し、図10aによる電圧経過に継続するのは
開始時にプラスの電圧を有する電圧経過Uのみに限られ
る。従って既に評価された電圧経過Uに続いて行なわれ
る経過パターンVL1〜VL4との比較は、最終の時間
区分Tにおける最後の電圧値に適合されたパターンのみ
に限定される。
バリエーションにおいては、経過パターンの選択が前以
て査定された出力信号経過Uに応じて行なわれる。この
実施態様は、互いに連続する各経過区分から成る信号経
過がほぼ定常的であるという認識に基づいている。つま
り実地においてその意味するところは、図10aによる
出力信号経過Uには確かに図10bによる二進値1を有
する出力信号経過Uの1区分が継続可能ではあっても、
図10cによる信号経過Uは継続しないという点にあ
る。これと同じことは二進値0を有する信号経過Uにつ
いても該当し、図10aによる電圧経過に継続するのは
開始時にプラスの電圧を有する電圧経過Uのみに限られ
る。従って既に評価された電圧経過Uに続いて行なわれ
る経過パターンVL1〜VL4との比較は、最終の時間
区分Tにおける最後の電圧値に適合されたパターンのみ
に限定される。
適正な経過パターンを選び出すための各プロセス段階は
図13のフローチャートから明らかであって、その第1
プロセス段階140では前回の比較n−1に応じて査定さ
れた経過パターンVL1が分岐される。経過パターンV
L1はまたVL4が前以て適正なものとして査定されて
いる場合には、後続の比較nのためにプロセス段階142
で経過パターンVL2およびVL4が準備されるか、そ
うでなければ経過パターンVL1およびVL3が比較の
ために準備される(プロセス段階144)。このように適
正な経過パターンVL1の予選択が行なわれることによ
って、実施さるべき比較処理の数が減少され、ひいては
情報評価のスピードアップが図られる。
図13のフローチャートから明らかであって、その第1
プロセス段階140では前回の比較n−1に応じて査定さ
れた経過パターンVL1が分岐される。経過パターンV
L1はまたVL4が前以て適正なものとして査定されて
いる場合には、後続の比較nのためにプロセス段階142
で経過パターンVL2およびVL4が準備されるか、そ
うでなければ経過パターンVL1およびVL3が比較の
ために準備される(プロセス段階144)。このように適
正な経過パターンVL1の予選択が行なわれることによ
って、実施さるべき比較処理の数が減少され、ひいては
情報評価のスピードアップが図られる。
図14には矢張り経過パターンとの比較により二進情報
を確認する評価方式の別のバリエーションがフローチャ
ートとして描かれている。このバリエーションでは、時
間区分T内における出力電圧Uの実際経過と経過パター
ンVL1との相似性を査定するために相関係数Rxy、
iが算出される。そのため第1のプロセス段階150にお
いては、経過パターンVL1に関するデータがデータ・
フィールドで準備される。次のプロセス段階152では観
察される時間区分Tにおける出力信号Uのデータがマイ
クロプロセッサ38内に読込まれる。
を確認する評価方式の別のバリエーションがフローチャ
ートとして描かれている。このバリエーションでは、時
間区分T内における出力電圧Uの実際経過と経過パター
ンVL1との相似性を査定するために相関係数Rxy、
iが算出される。そのため第1のプロセス段階150にお
いては、経過パターンVL1に関するデータがデータ・
フィールドで準備される。次のプロセス段階152では観
察される時間区分Tにおける出力信号Uのデータがマイ
クロプロセッサ38内に読込まれる。
これに続くプロセス段階154では、4つの経過パターン
VL1に関するデータと出力信号Uに関するデータとか
らそれぞれ1つの基準化された相関係数Rxy、iがi
の値を1、2、3、4として以下の式により算定され
る。
VL1に関するデータと出力信号Uに関するデータとか
らそれぞれ1つの基準化された相関係数Rxy、iがi
の値を1、2、3、4として以下の式により算定され
る。
この式中の各符号はそれぞれ以下のような意味を有して
いる。
いる。
xk 経過バリエーションkによる経過パターンVL1
のデータ。
のデータ。
X 全ての数値xkに関する平均値。
yk 出力信号Uのデータ。
y 全ての数値ykに関する平均値。
k 1からnまでの経過変数、nでは経過変数kの最大
値が形成される。
値が形成される。
このようにして検出された相関係数Rxy、iは、−1
から+1までの数値範囲を有しているが、この場合、数
値+1は出力信号経過と該当の経過パターンVL1との
完全に合致を意味し、数値−1は電圧経過Uおよび経過
パターンVL1からの完全な反転を意味する。実地にお
けるプロセスでは、計算された相関係数Rxyが一般に
これらの極値間の位置を占めることになる。相関係数R
xyを有していると共に数値+1に最も近接した経過パ
ターンVL1は、観察対象とされた4つの経過パターン
VL1〜VL4のうち出力信号経過特性曲線Uに最も類
似したパターンであり、この経過パターンVL1に属す
る二進値Bが有効な二進値信号として供給される。
から+1までの数値範囲を有しているが、この場合、数
値+1は出力信号経過と該当の経過パターンVL1との
完全に合致を意味し、数値−1は電圧経過Uおよび経過
パターンVL1からの完全な反転を意味する。実地にお
けるプロセスでは、計算された相関係数Rxyが一般に
これらの極値間の位置を占めることになる。相関係数R
xyを有していると共に数値+1に最も近接した経過パ
ターンVL1は、観察対象とされた4つの経過パターン
VL1〜VL4のうち出力信号経過特性曲線Uに最も類
似したパターンであり、この経過パターンVL1に属す
る二進値Bが有効な二進値信号として供給される。
4つの相関係数Rxy、iから最大値を形成する作業は
プロセス段階156で行なわれる。それに続く各プロセス
段階158〜170では、最大の相関係数Rxyを有する経過
パターンVL1に属する二進値Bが生ぜしめられる。次
いで、プロセス段階152へのフィードバックが行なわ
れ、以上の評価手順は更に次の時間区分Tにおける評価
に応用される。なお相関係数比較によるこの評価方式に
おいても、図11、図12、図13に示され且つこれら
の図面に関連して説明した経過パターンVL1を修正し
選択する各プロセス段階を応用しうることは言うまでも
ない。
プロセス段階156で行なわれる。それに続く各プロセス
段階158〜170では、最大の相関係数Rxyを有する経過
パターンVL1に属する二進値Bが生ぜしめられる。次
いで、プロセス段階152へのフィードバックが行なわ
れ、以上の評価手順は更に次の時間区分Tにおける評価
に応用される。なお相関係数比較によるこの評価方式に
おいても、図11、図12、図13に示され且つこれら
の図面に関連して説明した経過パターンVL1を修正し
選択する各プロセス段階を応用しうることは言うまでも
ない。
Claims (26)
- 【請求項1】磁気記憶カードの磁気トラック上に2周波
コードによる交番磁束の形式でメモリされた二進情報を
評価する方法であって、磁気記憶カードと磁束変動によ
り誘導される電圧パルスを発生する電磁的な変換器との
間に相対運動を生ぜしめ、情報を獲得するためには走査
プロセスの開始に当たって一様なパイロット情報による
基準化を行なうことにより各電圧パルス間における時間
的な相互間隔を評価する形式の方法において、電磁的な
変換器(30)の評価信号(U)における時間的な経過
を基準化により予め設定された時間間隔(T)内で検出
し、この経過中に生じた極値を査定し、情報を獲得する
ために当該極値の性質と前以て査定された極値の性質と
の比を評価することを特徴とする方法。 - 【請求項2】請求項1記載の方法において、各検出プロ
セスごとに予め1つの時間区分(2Tf)を設定するこ
とを特徴とする方法。 - 【請求項3】請求項1又は2記載の方法において、時間
区分の長さを時間間隔(T)の1/3より短い値に設定し
ておくことを特徴とする方法。 - 【請求項4】請求項1乃至3のいづれかに記載の方法に
おいて、極値の性質を閾値(S1、S2)との比較によ
って査定することを特徴とする方法。 - 【請求項5】請求項4記載の方法において、電磁的な変
換機(30)における出力信号(U)の時間(t)に関
連した算術平均値を出すことによって閾値(S1)を検
出することを特徴とする方法。 - 【請求項6】請求項4又は5記載の方法において、査定
された極値交番に応じて閾値(S2)を所定の値(b)
だけ変動させることによって、この極値と最後に査定さ
れた極値との間の距離を増大させることを特徴とする方
法。 - 【請求項7】磁気記憶カードの磁気トラック上に2周波
コードによる交番磁束の形式でメモリされた二進情報を
評価する方法であって、磁気記憶カードと磁束変動によ
り誘導される電圧パルスを発生する電磁的な変換器との
間に相対運動を生ぜしめ、情報を獲得するためには走査
プロセスの開始に当たって一様なパイロット情報による
基準化を行なうことにより各電圧パルス間における時間
的な相互間隔を評価する形式の方法において、電磁的な
変換器(30)における出力信号(U)の経過中に相次
いで生ずる種々異なった形式の極値を査定し、これらの
各極値間における時間(t1〜t4)を測定し、各時間
(t1〜t4)と情報を獲得するために基準化により予
め規定された時間間隔(T)との比を評価し、引続き行
なわれる評価プロセスに際して時間(t1、t4)が時
間間隔(T)より短い場合には後続の極値において初め
て次の時間測定を開始することを特徴とする方法。 - 【請求項8】請求項7記載の方法において、測定された
時間(t1〜t4)を時間間隔(T)の0.7倍の値と比
較することを特徴とする方法。 - 【請求項9】請求項8記載の方法において、得られた情
報のエラーチェックを行い、エラーが生じていた場合に
は測定された時間(t1〜t4)を時間間隔(T)の0.
66倍〜0.77倍または0.7〜0.75の値と比較することを特
徴とする方法。 - 【請求項10】磁気記憶カードの磁気トラック上に2周波
コードによる交番磁束の形式でメモリーされた二進情報
を評価する方法であって、磁気記憶カードと磁束変動に
より誘導される電圧パルスを発生する電磁的な変換器と
の間に相対運動を生ぜしめ、情報を獲得するためには走
査プロセスの開始に当たって一様なパイロット情報によ
る基準化を行なうことにより各電圧パルス間における時
間的な相互間隔を評価する形式の方法において、基準化
により予め規定された時間間隔(T)に亙って出力信号
(U)の時間的な経過を検出し、当該情報における各1
つの二進状態(B)ごとにそれぞれ時間間隔(T)を有
する少なくとも1つの経過パターン(VL1〜VL4)
を有効化すべく準備し、検知された出力信号(U)の経
過を少なくとも2つの経過パターン(VL1〜VL4)
と比較し、その偏倚(W)が最少である比較結果値を検
出することを特徴とする方法。 - 【請求項11】請求項10記載の方法において、比較を行
なうために出力信号経過(U)の平均二乗偏倚もしくは
平均総計偏倚を経過パターン(VL1〜VL4)によっ
て規定することを特徴とする方法。 - 【請求項12】請求項10又は11記載の方法において、
二進値0に関しては、経過パターン(VL1乃至V
L2)としてプラスもしくはマイナスの一定した勾配を
有する直線を、また二進値1に関しては、経過パターン
(VL3乃至VL4)として先づ初めにプラスの次いで
マイナスのもしくはその逆の一定した勾配を有し且つ時
間間隔(T)の中心で前置符号(+、−)交替の行なわ
れる直線を有効化すべく準備することを特徴とする方
法。 - 【請求項13】請求項12記載の方法において、前以て査
定された出力信号経過(U)に応じて経過パターン(V
L1〜VL4)の選択を行なうことを特徴とする方法。 - 【請求項14】請求項10乃至13のいづれかに記載の方
法において、出力信号(U)の時間経過が最少偏倚値を
有する同一経過パターン(VL1〜VL4)から偏倚し
ている偏倚値(W)を規定し、経過パターン(VL1〜
VL4)をこの偏倚値(W)に応じて修正し、引続き行
なわれる評価プロセスに際しては修正されたこの経過パ
ターン(VL1〜VL4、VL1)を出力信号経過
(U)と比較し且つ修正することを特徴とする方法。 - 【請求項15】請求項14記載の方法において、経過パタ
ーン(VL1)を偏倚値(W)における1/2の値だけ修
正することを特徴とする方法。 - 【請求項16】請求項10乃至15のいづれかに記載の方
法において、比較を行なうために経過パターン(VL1
〜VL4)と検出された出力信号(U)の経過とから基
準化された相関係数(Rxy、i)を出し、この係数に
おける数値1からの偏倚を検出することを特徴とする方
法。 - 【請求項17】請求項1乃至16のいづれかに記載の方法
において、基準化に際して検出された時間間隔(T)か
ら、以後のプロセスで評価に用いる平均時間間隔(T
m)の数値を出すことを特徴とする方法。 - 【請求項18】請求項1乃至17のいづれかに記載の方法
において、相次いで生ずる連続した各極値間の二進値0
に属する時間(Tist)を測定し、基準化に際して検
出された時間間隔(T、Tm)がこの時間(Tist)
から偏倚している場合には時間間隔(T、Tm)の修正
を行なうことを特徴とする方法。 - 【請求項19】請求項18記載の方法において、時間間隔
(T、Tm)を偏倚値における1/2の値だけ修正し、引
続き行なわれる評価プロセスに際しては修正されたこの
時間間隔(T、Tm)を用いることを特徴とする方法。 - 【請求項20】請求項1乃至19のいづれかに記載の方法
において、基準化により予め規定された時間間隔(T)
内における規則的に設定された時点で出力信号(U)を
デジタル値に変換し、情報を獲得するために各デジタル
極値間におけるデジタル値の数を評価することを特徴と
する方法。 - 【請求項21】請求項20記載の方法において、互いに隣
接するデジタル値の数値比較を行なうことにより極値を
検出し、その隣接数値がより小さいか或いはより大きい
場合に最大値もしくは最小値を査定することを特徴とす
る方法。 - 【請求項22】請求項20又は21記載の方法において、
アナログ/デジタル変換を行なう時点をTad<(16
vd)−1なる関係式に応じて調節し、この式中、Ta
dを各時点の間隔(s)とし、vを磁気カード(10)
と電磁変換器(30)との相対速度(mm/s)とし、
dを磁気トラック上の交番磁束密度(1/mm)とする
ことを特徴とする方法。 - 【請求項23】請求項1乃至22のいづれかに記載の方法
において、電磁的な変換器(30)における出力信号
(U)を予め規定された時点でデジタル値に変換し、各
デジタル値をその発生順序でメモリし、情報を獲得する
ためにメモリされたデジタル値を評価することを特徴と
する方法。 - 【請求項24】請求項23記載の方法において、各デジタ
ル値を互いに異なった評価バリエーションにより相次い
で評価し、この評価に際してそれぞれ一組の二進情報を
獲得することを特徴とする方法。 - 【請求項25】請求項24記載の方法において、数組の二
進情報を互いに比較し、その比較結果の合理性チェック
を行なうことを特徴とする方法。 - 【請求項26】請求項25記載の方法において、引続き行
なわれるデジタル値の評価に際しては、合理性チェック
の結果に応じて所定の評価バリエーションを選定するこ
とを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4006426.3 | 1990-03-01 | ||
DE4006426A DE4006426C2 (de) | 1990-03-01 | 1990-03-01 | Verfahren zum Auswerten binärer Informationen einer Magnetspeicherkarte |
PCT/EP1991/000379 WO1991013436A2 (de) | 1990-03-01 | 1991-03-01 | Verfahren zum auswerten binärer informationen einer magnetspeicherkarte |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04504480A JPH04504480A (ja) | 1992-08-06 |
JPH0648585B2 true JPH0648585B2 (ja) | 1994-06-22 |
Family
ID=6401200
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3504959A Expired - Lifetime JPH0648585B2 (ja) | 1990-03-01 | 1991-03-01 | 磁気記憶カードの二進情報を評価する方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US5285328A (ja) |
EP (2) | EP0785550A1 (ja) |
JP (1) | JPH0648585B2 (ja) |
KR (1) | KR960002148B1 (ja) |
DE (2) | DE4006426C2 (ja) |
ES (1) | ES2117007T3 (ja) |
WO (1) | WO1991013436A2 (ja) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5623376A (en) * | 1991-04-03 | 1997-04-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Digital information restoring device including period detector |
JP2962627B2 (ja) * | 1993-01-20 | 1999-10-12 | 沖電気工業株式会社 | 磁気データ読取装置 |
US5815482A (en) * | 1996-01-22 | 1998-09-29 | T Squared G, Inc. | Multibyte random access mass storage/memory system |
DE19804196A1 (de) * | 1998-02-03 | 1999-08-12 | Siemens Ag | Verfahren zur Auswertung von Kennwerten piezo-mechanischer Systeme |
DE19823065A1 (de) * | 1998-05-22 | 1999-11-25 | Siemens Nixdorf Inf Syst | Einrichtung und Verfahren zum Auswerten binärer Informationen unter Verwendung einer DMA Einheit |
JP3534629B2 (ja) | 1998-12-10 | 2004-06-07 | 株式会社三協精機製作所 | 磁気記録データの復調方法 |
ATE383645T1 (de) | 1999-03-30 | 2008-01-15 | Nidec Sankyo Corp | Datendemodulationsverfahren und -gerät für magnetische karte. |
JP2000306056A (ja) | 1999-04-22 | 2000-11-02 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | 磁気カードリーダー |
US6674786B1 (en) | 1999-04-23 | 2004-01-06 | Sankyo Seiki Mfg. Co., Ltd. | Data demodulation |
EP1605389B1 (en) | 2000-01-24 | 2009-03-18 | Nidec Sankyo Corporation | Magnetic card reader and reproduction and demodulation method |
JP4797136B2 (ja) * | 2005-09-27 | 2011-10-19 | 日本電産サンキョー株式会社 | 磁気データ読取回路及びカード処理装置 |
US7886976B2 (en) * | 2007-09-20 | 2011-02-15 | Verifone, Inc. | Electromagnetic field induced MSR swipes detection |
US8328106B1 (en) * | 2010-04-05 | 2012-12-11 | Converta Card, LLC | Convertible transaction card |
JP5752508B2 (ja) * | 2011-07-25 | 2015-07-22 | 日本電産サンキョー株式会社 | 磁気データの復調方法および磁気データの復調装置 |
US9208361B1 (en) | 2014-12-18 | 2015-12-08 | Verifone Inc. | Magnetic stripe card reader |
US10476775B2 (en) * | 2016-02-22 | 2019-11-12 | Cable Television Laboratories, Inc. | Systems and methods for LTE-U detection |
US10225863B2 (en) | 2016-02-22 | 2019-03-05 | Cable Television Laboratories, Inc. | Systems and methods for LTE-U detection using PHY layer processing |
JP7016749B2 (ja) * | 2018-03-28 | 2022-02-07 | 日本電産サンキョー株式会社 | 磁気データの復調方法および復調装置 |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1150309A (en) * | 1965-12-10 | 1969-04-30 | Siemens Ag | Improvements in or relating to Magnetic Store Read-Out Arrangements. |
US3684967A (en) * | 1971-01-08 | 1972-08-15 | Cogar Corp | Automatic control of position and width of a tracking window in a data recovery system |
US3969613A (en) * | 1975-02-03 | 1976-07-13 | International Business Machines Corporation | Two frequency coded data interpreting method and apparatus |
US4027267A (en) * | 1976-06-01 | 1977-05-31 | International Business Machines Corporation | Method of decoding data content of F2F and phase shift encoded data streams |
GB1577916A (en) * | 1978-01-18 | 1980-10-29 | Ibm | Data recognition apparatus |
US4245211A (en) * | 1978-11-13 | 1981-01-13 | Recognition Equipment Incorporated | MICR Waveform analyzer |
US4358846A (en) * | 1979-07-27 | 1982-11-09 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Serial data correlator/code translator |
US4306194A (en) * | 1979-10-11 | 1981-12-15 | International Business Machines Corporation | Data signal detection circuit |
US4267595A (en) * | 1980-02-04 | 1981-05-12 | International Telephone And Telegraph Corporation | AMI Decoder apparatus |
US4393458A (en) * | 1980-02-06 | 1983-07-12 | Sperry Corporation | Data recovery method and apparatus using variable window |
US4626670A (en) * | 1983-06-16 | 1986-12-02 | Xico, Inc. | Method and system for decoding time-varying, two-frequency, coherent-phase data |
GB2168575B (en) * | 1984-12-18 | 1988-09-14 | Unisys Corp | Improved data channel |
US5019696A (en) * | 1987-08-10 | 1991-05-28 | Verifone, Inc. | System and method for reading data record stripes on data cards |
IT1185412B (it) * | 1985-10-10 | 1987-11-12 | Honeywell Inf Systems | Tseparatore digitale di dati |
DE3714244C2 (de) * | 1987-04-29 | 2001-05-17 | Wilfried Rinas | Verfahren zum Erfassen und Darstellen von Lesesignalen von Magnetstreifenspuren |
JPH069106B2 (ja) * | 1987-07-22 | 1994-02-02 | シャープ株式会社 | ディジタルデ−タ検出器 |
US5229894A (en) * | 1988-02-16 | 1993-07-20 | M.R. Sensors Limited | Method and apparatus for reading and decoding information using a magnetoresistive sensor |
JPH01229516A (ja) * | 1988-03-10 | 1989-09-13 | Sony Corp | 自動等化器 |
US4968985A (en) * | 1988-06-06 | 1990-11-06 | Digital Equipment Corporation | Data demodulation system |
DE3839749A1 (de) * | 1988-11-25 | 1990-06-07 | Arnold & Richter Kg | Verfahren zum wiedergewinnen einer kodierten signalfolge |
DE4020875A1 (de) * | 1990-06-29 | 1992-01-02 | Digital Equipment Int | Verfahren und schaltungsanordnung zum umwandeln von analogen lesesignalen in digitale signale |
JP3282180B2 (ja) * | 1990-08-28 | 2002-05-13 | ソニー株式会社 | 磁気記録再生装置 |
-
1990
- 1990-03-01 DE DE4006426A patent/DE4006426C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-03-01 EP EP97103870A patent/EP0785550A1/de not_active Withdrawn
- 1991-03-01 KR KR1019910701478A patent/KR960002148B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1991-03-01 EP EP91905271A patent/EP0483296B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-03-01 US US07/768,720 patent/US5285328A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-03-01 DE DE59108996T patent/DE59108996D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-03-01 WO PCT/EP1991/000379 patent/WO1991013436A2/de active IP Right Grant
- 1991-03-01 ES ES91905271T patent/ES2117007T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1991-03-01 JP JP3504959A patent/JPH0648585B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-10-21 US US08/147,325 patent/US5396370A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE59108996D1 (de) | 1998-07-02 |
EP0483296A1 (de) | 1992-05-06 |
WO1991013436A2 (de) | 1991-09-05 |
EP0785550A1 (de) | 1997-07-23 |
US5285328A (en) | 1994-02-08 |
ES2117007T3 (es) | 1998-08-01 |
JPH04504480A (ja) | 1992-08-06 |
KR960002148B1 (ko) | 1996-02-13 |
KR920701971A (ko) | 1992-08-12 |
DE4006426A1 (de) | 1991-09-05 |
WO1991013436A3 (de) | 1991-11-14 |
US5396370A (en) | 1995-03-07 |
DE4006426C2 (de) | 1993-11-18 |
EP0483296B1 (de) | 1998-05-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0648585B2 (ja) | 磁気記憶カードの二進情報を評価する方法 | |
EP1077428B1 (en) | Magnetic media processing device | |
US7090130B2 (en) | Method and apparatus for generating images of magnetic fields in at least two dimensions | |
US5068754A (en) | Method and apparatus for measuring bit shift | |
CN116858134A (zh) | 一种高精度光电角位移传感器位置解算方法及装置 | |
JP3198268B2 (ja) | キャリッジの位置検出方法および装置 | |
CN103797362A (zh) | 用于探测在目标物上的至少一个周期性出现的缺陷的设备和方法 | |
EP2128794B1 (en) | Method and apparatus for magnetic character recognition | |
JP3021805B2 (ja) | 測尺装置 | |
JP2635913B2 (ja) | 測長あるいは測角装置の方法 | |
JPH02205701A (ja) | コンクリート構造物における鉄筋位置測定方法 | |
US7196859B2 (en) | Processing techniques for time-based servo patterns | |
JP3748496B2 (ja) | データの復調方法 | |
CN111003017A (zh) | 第三轨定位点的定位方法、系统、存储介质及装置 | |
JPH05157549A (ja) | 帯状体のキャンバー検出方法 | |
JP4204180B2 (ja) | 磁気情報処理装置 | |
JP4905549B2 (ja) | コイルのテレスコープ量算出方法 | |
JP4465857B2 (ja) | コイルエンドの形状判定方法 | |
JP4923225B2 (ja) | 文字切り出し方法及び文字切り出し装置 | |
JP3419526B2 (ja) | 磁気抵抗素子ヘッドのベースシフト検査装置 | |
JP4261762B2 (ja) | 磁気データ記録状態検査装置 | |
CN115452033A (zh) | 一种传感器感应距离测试方法及系统 | |
JP3940612B6 (ja) | 磁気カード分析装置及び分析方法 | |
JP2002150717A (ja) | 磁気記録データのデータ復調方法 | |
JPH07320110A (ja) | 金属片識別装置 |