JPH0639353B2 - シリコン単結晶の引上げ装置 - Google Patents

シリコン単結晶の引上げ装置

Info

Publication number
JPH0639353B2
JPH0639353B2 JP61043667A JP4366786A JPH0639353B2 JP H0639353 B2 JPH0639353 B2 JP H0639353B2 JP 61043667 A JP61043667 A JP 61043667A JP 4366786 A JP4366786 A JP 4366786A JP H0639353 B2 JPH0639353 B2 JP H0639353B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
single crystal
crucible
silicon single
silicon
heater
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP61043667A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS62202892A (ja
Inventor
修 鈴木
正人 松田
正美 中西
和夫 福村
Original Assignee
東芝セラミックス株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 東芝セラミックス株式会社 filed Critical 東芝セラミックス株式会社
Priority to JP61043667A priority Critical patent/JPH0639353B2/ja
Publication of JPS62202892A publication Critical patent/JPS62202892A/ja
Publication of JPH0639353B2 publication Critical patent/JPH0639353B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はシリコン単結晶製造の引上装置の改良に関する
ものである。
〔従来の技術〕
従来、シリコン単結晶はチヨコラルスキー法(CZ法)に
よつて製造されている。この方法は石英ガラスルツボ内
にシリコン多結晶原料を入れ、周囲から加熱して該シリ
コン多結晶を溶融させ、その溶融物を種結晶により上方
に引上げ、シリコン単結晶をつくるものである。
例えば第1図に示すように、チヤンバー1内に保温筒2
があり、その内側にカーボンヒーター3が設置されてい
る。そしてヒーター3の内側にカーボンルツボ4があ
り、さらにカーボンルツボ4の内側に石英ガラスルツボ
5があつてシリコン多結晶を溶融し、その溶融物6を種
結晶により上方に引上げシリコン単結晶7をつくつてい
た。
この際シリコン単結晶に不純物が含まれるのを防止する
ためにチヤンバー1内にアルゴン等の不活性ガスを導入
することが一般に行われている。このようにチヤンバー
1内にアルゴン等の不活性ガスを導入するとともに、シ
リコン種結晶を石英ガラスルツボ5内の溶融シリコンに
浸し、シリコン種結晶を引上げることにより単結晶をつ
くつていた。
この際、シリコン単結晶中の酸素濃度を頂部(Head部)
から尾部(Tail部)迄均一にするのに結晶回転速度やル
ツボ回転速度あるいはシリコン融液の液面位置を連続的
に変化させる方法が行われている。
[発明が解決しようとする問題点] しかし、結晶およびルツボ等の回転速度は、結晶断面方
向の酸素濃度分布を均一にするための重要なパラメータ
ーであり、これを変化させると、酸素濃度分布が不均一
になる可能性がある。
また、シリコン融液の液面位置を変化させると結晶直径
を計測している測定器との距離が変化するので、精度の
高い直径制御を行うには何らかの補正が必要である。
そこで、本発明の目的は、引き上げているシリコン単結
晶やルツボの回転速度、あるいはルツボ内のシリコン融
液の液面位置を変化させることなしに、シリコン単結晶
中の酸素濃度を良好に制御することができるシリコン単
結晶の引上げ装置を提供することにある。
本発明の他の目的は、高精度に直径制御されたシリコン
単結晶が容易に得られるシリコン単結晶の引上げ装置を
提供することにある。
[問題点を解決するための手段] この発明のシリコン単結晶の引上げ装置は、ルツボと、
前記ルツボの周囲に固定されたヒーターとを備え、前記
ヒーターにより前記ルツボを加熱して前記ルツボ内にシ
リコン融液を生成し、そのシリコン融液よりシリコン単
結晶を引き上げるシリコン単結晶の引上げ装置におい
て、中心軸を上下方向に向けて前記ルツボと前記ヒータ
ーとの間に配置された上下動可能な断熱筒を備えてお
り、シリコン単結晶の引上げ工程中の前記断熱筒の移動
は、前記断熱筒の上端が常に前記ルツボ内のシリコン融
液の液面より下方にあるように制御され、それによっ
て、前記シリコン融液の底部の温度がその液面付近の温
度よりも低い温度分布を得るようにしたことを特徴とす
る。
[作用] この発明のシリコン単結晶の引上げ装置では、断熱筒に
より、シリコン単結晶の引上げ工程中、制御シリコン融
液の底部の温度がその液面付近の温度よりも低い温度分
布に保たれる。この温度分布は、断熱筒の上下動を制御
することにより任意に調整可能である。
このため、シリコン融液の液面付近の温度を断熱筒がな
い場合とほぼ同様に保ちながら、ルツボ底部およびその
近傍でのシリコン融液とルツボ形成材料との反応を制御
することが可能となる。よって、シリコン単結晶中の酸
素濃度を良好に制御することができる。
また、断熱筒によりシリコン単結晶中の酸素濃度が制御
されるので、引上げ工程中に、引き上げているシリコン
単結晶やルツボの回転速度、あるいはルツボ内のシリコ
ン融液の液面位置を変化させる必要がない。このため、
高精度に直径制御されたシリコン単結晶が容易に得られ
る。
[実施例] 以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて説明する。
第2図は本発明に係るシリコン単結晶引上げ装置の要部
の説明図で、第1図のものと同一のものは、同一符号で
示す。
カーボンヒーター3の内側にカーボンルツボ4があり、
カーボンルツボ4の内側に石英ルツボ5があつて、シリ
コン多結晶を溶融し、その溶融物6を種結晶により上方
に引上げ、シリコン単結晶7をつくる。
なお8はカーボンルツボ4のルツボ軸で、カーボンルツ
ボ4と石英ルツボ5を回転させる回転軸である。
本発明はルツボ4、5の回転速度およびシリコン融液の
液面位置を変えずに、シリコン融液と石英ルツボの反応
速度を制御するものであり、断熱筒9を設けたものであ
る。
断熱筒9は窒化アルミニウム等の熱伝導性が悪い材料で
製作され、該断熱筒9はカーボンヒーター3の内側、す
なわちカーボンヒーター3とカーボンルツボ4との間に
介在される。そして、図示してないが上下動を行う機構
に接続されている。また断熱筒9はヒーター発熱長の1/
3の長さ位が良く、ヒーター3発熱部の最下部と断熱筒
9の上端が一致する位置を下限とし、ヒーター3発熱部
の最下部と断熱筒9の下端が一致する位置を上限とする
ようにすると良いものであるが、断熱筒の大きさにはこ
だわらない。
第2図に示す装置を製作し、以下の条件で試験を行なっ
た。
直径16インチの石英ルツボに35kgのポリシリコンと
チヤージし、直径5インチのシリコン単結晶を育成し
た。
この時の駆動条件として結晶回転速度を15rpm、ルツボ
回転速度8rpmとし、一定にした。そして断熱筒はヒー
ター発熱長の1/3の長さとし、断熱筒の移動範囲はヒー
ター発熱部最下部と断熱筒上端が一致する位置を下限と
し、ヒーター発熱部最下部と断熱筒下端が一致する位置
を上限としたところ、第3図に示すような結果を得た。
本発明の装置により製造したシリコン単結晶は酸素濃度
が1.35〜1.4(1018atmos/cm3)であるのに対し、従来
の装置(第1図参照)により製造したシリコン単結晶は
酸素濃度が1.32〜1.55(1018atmos/cm3)の範囲であ
り、酸素濃度の変動が本発明の装置によるものよりも大
きかった。
〔発明の効果〕
本発明のシリコン単結晶引上げ装置では、引き上げてい
るシリコン単結晶やルツボの回転速度、あるいはルツボ
内のシリコン融液の液面位置を変化させることなしに、
シリコン単結晶中の酸素濃度を良好に制御することがで
きる。
また、高精度に直径制御されたシリコン単結晶が容易に
得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の装置の説明図、第2図は本発明の要部の
断面説明図、第3図は従来の装置を使用して製造したシ
リコン単結晶と本発明に係る装置を使用して製造したシ
リコン単結晶の酸素濃度を示すグラフである。 3……カーボンヒーター、4……カーボンルツボ 5……石英ルツボ、6……溶融物 7……シリコン単結晶、8……ルツボ軸 9……断熱筒
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 福村 和夫 山形県西置賜郡小国町大字小国町378番地 東芝セラミツクス株式会社小国製造所内 (56)参考文献 特開 昭55−126597(JP,A) 特開 昭56−92191(JP,A) 実開 昭59−83977(JP,U)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ルツボと、前記ルツボの周囲に固定された
    ヒーターとを備え、前記ヒーターにより前記ルツボを加
    熱して前記ルツボ内にシリコン融液を生成し、そのシリ
    コン融液よりシリコン単結晶を引き上げるシリコン単結
    晶の引上げ装置において、 中心軸を上下方向に向けて前記ルツボと前記ヒーターと
    の間に配置された上下動可能な断熱筒を備えており、 シリコン単結晶の引上げ工程中の前記断熱筒の移動は、
    前記断熱筒の上端が常に前記ルツボ内のシリコン融液の
    液面より下方にあるように制御され、それによって、前
    記シリコン融液の底部の温度がその液面付近の温度より
    も低い温度分布を得るようにしたことを特徴とするシリ
    コン単結晶の引上げ装置。
JP61043667A 1986-02-28 1986-02-28 シリコン単結晶の引上げ装置 Expired - Lifetime JPH0639353B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61043667A JPH0639353B2 (ja) 1986-02-28 1986-02-28 シリコン単結晶の引上げ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61043667A JPH0639353B2 (ja) 1986-02-28 1986-02-28 シリコン単結晶の引上げ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62202892A JPS62202892A (ja) 1987-09-07
JPH0639353B2 true JPH0639353B2 (ja) 1994-05-25

Family

ID=12670199

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61043667A Expired - Lifetime JPH0639353B2 (ja) 1986-02-28 1986-02-28 シリコン単結晶の引上げ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0639353B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0633235B2 (ja) * 1989-04-05 1994-05-02 新日本製鐵株式会社 酸化膜耐圧特性の優れたシリコン単結晶及びその製造方法
JP2705832B2 (ja) * 1989-08-25 1998-01-28 三菱マテリアル株式会社 単結晶引き上げ装置
JP2631045B2 (ja) * 1991-06-03 1997-07-16 コマツ電子金属株式会社 単結晶製造装置
JP2640315B2 (ja) * 1993-03-22 1997-08-13 住友シチックス株式会社 シリコン単結晶の製造方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55126597A (en) * 1979-03-23 1980-09-30 Nec Corp Single crystal growing method

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62202892A (ja) 1987-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4203951A (en) Apparatus for growing single crystals from melt with additional feeding of comminuted charge
JPH0676274B2 (ja) シリコン単結晶の製造装置
EP0400995B1 (en) Single crystal pulling apparatus and method
US5584930A (en) Method for measuring the diameter of a single crystal ingot
JPH0639353B2 (ja) シリコン単結晶の引上げ装置
JPH10167892A (ja) シリコン単結晶の引き上げ方法
JPH09175889A (ja) 単結晶引き上げ装置
JPH09227273A (ja) 連続チャージ法によるシリコン単結晶の製造方法
JPH0774116B2 (ja) Si単結晶中の酸素濃度調整方法およびその装置
JPH10167881A (ja) 半導体単結晶の引き上げ方法
JP2681115B2 (ja) 単結晶製造方法
JP3123155B2 (ja) 単結晶引上装置
JPS5930795A (ja) 単結晶引上装置
JPH08259379A (ja) 融液中の対流場を制御した単結晶育成方法
JP2717175B2 (ja) 単結晶育成法及びその装置
JPH06183877A (ja) 単結晶育成装置
US20050211157A1 (en) Process control system for controlling a crystal-growing apparatus
JPH08133886A (ja) 単結晶の製造方法
JPH02116695A (ja) 単結晶の製造方法
JPH05221781A (ja) 単結晶引上装置
JPH09315887A (ja) 単結晶の製造方法及びそれに用いられる単結晶製造装置
JPS6117489A (ja) シリコン単結晶の製造方法
JPH01160893A (ja) シリコン単結晶中の酸素濃度制御方法
JP2717685B2 (ja) チョクラルスキー法による結晶育成の方法及び装置
JPH04300281A (ja) 酸化物単結晶の製造方法