JPH06347474A - 加速度センサ - Google Patents

加速度センサ

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JPH06347474A
JPH06347474A JP16315893A JP16315893A JPH06347474A JP H06347474 A JPH06347474 A JP H06347474A JP 16315893 A JP16315893 A JP 16315893A JP 16315893 A JP16315893 A JP 16315893A JP H06347474 A JPH06347474 A JP H06347474A
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acceleration sensor
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義宏 小中
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泰宏 根来
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    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0808Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate
    • G01P2015/0811Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate for one single degree of freedom of movement of the mass
    • G01P2015/0817Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate for one single degree of freedom of movement of the mass for pivoting movement of the mass, e.g. in-plane pendulum

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 加速度センサを製造するときの洗浄,乾燥工
程で、可動電極が固定電極に張り付いたり、分離不可能
に密着してしまう不良事故を防止する。 【構成】 各固定部22の固定電極22A側から質量部
27の可動電極27A側に向けて突出する各突起部23
と、質量部27の可動電極27A側から各固定部22の
固定電極22A側に向けて突出する突起部28とを形成
する。洗浄,乾燥工程で固定部22と質量部27間に水
が介在しても、先の尖った各突起部23,28が互いに
相手方の電極表面に当接して微小隙間を確保でき、この
微小隙間から水を逃がし、固定電極22Aに可動電極2
7Aが張り付いたり、乾燥工程で固定部22と質量部2
7が分離不可能に密着してしまうのを防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば車両等の加速度
を検出するのに好適に用いられる加速度センサに関し、
特に製造時の歩留りを向上できるようにした加速度セン
サに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、車両等の加速度や回転方向を検
出するのに用いられる加速度センサは、絶縁基板上に固
定電極と、該固定電極に対向するように配設された可動
電極とを有し、加速度が加えられたときにこの可動電極
と固定電極との離間寸法が加速度に応じて変化するのを
静電容量の変化として検出するもので、従来例えば図1
0ないし図17に示すような加速度センサが知られてい
る。
【0003】まず、図10ないし図12において、1は
従来技術による加速度センサを示し、該加速度センサ1
は凹部2Aが形成された絶縁基板としてのガラス基板2
と、該ガラス基板2上で凹部2Aを挟むように設けられ
た一対の固定部3,3と、該各固定部3間に設けられた
可動部4とから大略構成されている。
【0004】ここで、前記各固定部3、可動電極4は後
述する単一の低抵抗のシリコンウエハ10からエッチン
グ加工により分離して形成されるため、それぞれが導電
性を有している。そして、凹部2Aを挟んだ一対の固定
部3の対向端面は固定電極3Aとして、該各固定部3と
一体に形成されている。
【0005】また、前記可動部4は基端側にガラス基板
2上に固着されて固定端となる支持部5が形成され、該
支持部5の先端側には梁6と、該梁6を介して変位可能
な自由端となる質量部7とが形成されている。ここで、
前記可動部4も固定部3と同一のシリコンウエハ10か
ら形成されるために導電性を有しており、質量部7は各
固定電極3A側の対向端面が可動電極7A,7Aとして
質量部7と一体に形成されている。そして、このように
形成される質量部7は、前記ガラス基板2の凹部2Aの
上側に位置し、各固定部3間で矢示A方向に変位可能な
状態で支持部5と梁6によって支持されている。
【0006】次に、図13ないし図17により、従来技
術による加速度センサ1の製造方法について述べる。
【0007】図13中、10はシリコン板としてのシリ
コンウエハを示し、該シリコンウエハ10は表裏(一側
及び他側)面が(110)面となり、例えば低抵抗
(0.01〜0.02Ωcm)の、直径約7.5〜15
cm,厚さ約300μmの程度の円板状に形成されてい
る。
【0008】11は絶縁基板としてのガラス基板を示
し、該ガラス基板11は前記シリコンウエハ10の大き
さと同径、またはそれ以上に大きく形成され、該ガラス
基板11の一側面にはフッ酸等によるガラスエッチング
(ガラスエッチング工程)を行い、矩形状の凹部11A
(2A),11A(2A)が形成されている。
【0009】次に、図14に示す接合工程では、前記シ
リコンウエハ10の他側面とガラス基板11の一側面と
を接合する。
【0010】次に、図15に示すパターニング工程で
は、シリコンウエハ10に各固定部3と質量部7を形成
するために、シリコンウエハ10の表面であって、各固
定部3と質量部7となる部分に、PCVD法(プラズマ
CVD法)を用いてSiN(またはSiO2)の数μm
の薄膜からなるマスク膜12,12,…を形成する。
【0011】そして、図16に示す第1のエッチング工
程では、シリコンウエハ10の一側面からKOH等によ
るウエットエッチングを行い、シリコンウエハ10を垂
直方向に加工し、各固定部3と質量部7を分離させる。
その後に、KOH等のエッチング液を除去するため純水
による洗浄工程を行い、その後にこの純水を乾燥させる
乾燥工程を行う。
【0012】さらに、図17に示す第2のエッチング工
程では、一側面からRIE(リアクティブイオンエッチ
ング)を行い、第1のエッチング工程で分離された各固
定部3と質量部7の一側面に残った各マスク膜12を除
去する。
【0013】かくして、図13ないし図17に示した製
造方法によってガラス基板11上に複数の加速度センサ
1を形成でき、図17の二点鎖線で示す位置(例えばチ
ップ角の大きさ)で切断すれば、一度に複数個の加速度
センサ1を製造することができる。
【0014】このようにして製造された加速度センサ1
は、図10に示す矢示A方向に外部から加速度が加わる
と、質量部7が梁6を介して変位し、該質量部7が左,
右の固定部3,3に対して接近または離間するので、こ
のときの離間寸法の変位を固定電極3Aと可動電極7A
間の静電容量の変化として外部の図示しない信号処理回
路に出力し、該信号処理回路ではこの静電容量の変化に
基づき加速度に応じた信号を出力する。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来技術では、固定部3と質量部7を分離形成する第1の
エッチング工程の後に、ガラス基板2やシリコンウエハ
10を純水により洗浄する洗浄工程と、これらを乾燥さ
せる乾燥工程が必要となる。ここで、洗浄工程の後に、
固定部3と質量部7の間に洗浄工程で用いた純水(水)
が残存すると、この水を介して固定部3に質量部7が張
り付き易くなり、また、乾燥工程で水の蒸発に伴い固定
部3と質量部7が接近し、該固定部3と質量部7とが分
離不可能に密着してしまうという問題がある。
【0016】このように固定部3と質量部7が密着して
しまうと、固定電極3Aと可動電極7Aが密着すること
になり、製品として使用できないため、加速度センサ1
の製造の歩留りが低下し、生産性を低下させてしまうと
いう問題がある。
【0017】本発明は上述した従来技術の問題に鑑みな
されたもので、本発明は洗浄工程,乾燥工程における不
良品の発生を防止でき、歩留りを向上できるようにした
加速度センサを提供することを目的とする。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明が採用する構成の特徴は、互いに対向するよ
うに固定部に形成した固定電極と可動部の質量部に形成
した可動電極との間に、少なくとも一方の電極側から他
方の電極側に向けて突出し、各電極間に微小隙間を確保
する突起部を形成したことにある。
【0019】
【作用】上記構成により、乾燥工程で、固定部の固定電
極と質量部の可動電極の間に水が介在しても、突起部に
よって各電極間に微小隙間が確保されるから、固定電極
に可動電極が張り付いたり、乾燥工程で各電極間の水の
蒸発に伴なって固定電極と可動電極が接近し、密着する
のを防止できる。
【0020】
【実施例】以下、本発明の実施例による加速度センサに
ついて、図1ないし図9に基づいて説明する。なお、実
施例では前述した従来技術と同一の構成要素に同一の符
号を付し、その説明を省略するものとする。
【0021】まず、図1ないし図7は本発明の第1の実
施例を示している。
【0022】図中、21は本実施例による加速度センサ
を示し、該加速度センサ21は従来技術による加速度セ
ンサ1とほぼ同様に、ガラス基板2と、該ガラス基板2
上に設けられた後述する一対の固定部22,22および
可動部24とから大略構成されている。
【0023】22,22は本実施例による固定部を示
し、該各固定部22は前述した従来技術の固定部3とほ
ぼ同様に、単一の低抵抗のシリコンウエハ10から可動
部24と共にエッチング加工によって形成され、該各固
定部22自体が導電性を有し、各固定部22の対向端面
が固定電極22Aとして一体形成されているものの、該
各固定部22には固定電極22Aと同一面に後述する突
起部23,23が一体形成されている。
【0024】23,23は前記各固定部22に突出形成
された突起部を示し、該突起部23は図2,図7に示す
如く、各固定部22の内側端面(固定電極22Aと同一
面)に離間して2個設けられ、各突起部23は一側から
他側に伸長して形成された断面三角形状の柱状部23A
と、該柱状部23Aの他側に位置して後述する質量部2
7側へ隆起する略三角錐状の隆起部23Bとから構成さ
れている。そして、各柱状部23Aおよび隆起部23B
は質量部27側に尖っているため、洗浄工程,乾燥工程
で質量部27がいずれか一方の固定部22側に大きく偏
り変位しても、各柱状部23Aまたは各隆起部23Bが
質量部27の一部に点接触して当接し、各電極間に微小
隙間を確保するようになっている。
【0025】24は本実施例による可動部を示し、該可
動部24は従来技術で述べた可動部4とほぼ同様に、支
持部25,梁26,質量部27とから一体形成され、該
可動部24は前記固定部22と同じ単一の低抵抗のシリ
コンウエハ10からエッチング加工して形成されてい
る。そして、前記質量部27自体は導電性を有し、質量
部27の各固定電極22A側の対向端面は可動電極27
A,27Aとして質量部27と一体形成されている。
【0026】28,28は前記質量部27の可動電極2
7Aと同一面から突出形成された他の突起部を示し、該
各突起部28は図2に示す如く、前述した固定部22の
突起部23とほぼ同様に柱状部28Aと隆起部28Bと
からなり、該各突起部28は前記各突起部23間に位置
して質量部27から固定部22側へ突出している。
【0027】ここで、前記各突起部23をエッチング加
工によって形成する方法について、図3ないし図7に基
づいて説明する。なお、前述した従来技術による加速度
センサ1の製造方法と同一の工程についての説明は省略
する。
【0028】まず、図3はパターニング工程を示し、こ
のパターニング工程では、シリコンウエハ10上に従来
技術で述べたようにSiN等のマスク膜29,29,…
を形成するものの、該各マスク膜29には、突起部23
を形成したい箇所に図4に示す如き四角形の凸部29A
を設けるようにしている。
【0029】そして、第1のエッチング工程でシリコン
ウエハ10の一側面からKOH等によるウエットエッチ
ングを行い、シリコンウエハ10を垂直方向に加工す
る。
【0030】このとき、従来技術で述べた通り、各固定
部22,質量部27の側面が(111)面となり、シリ
コンの異方性によってこの(111)面に垂直な方向に
はエッチングされない。
【0031】しかし、マスク膜29の凸部29Aの角隅
にはシリコンの他の面が現れるため、この面に対して図
5に示す如く(110)面よりも遅れて斜面を形成する
ようにエッチングされ、所定時間のエッチングを行え
ば、図6に示す如く、(111)面から突出するように
柱状部23Aと隆起部23Bとからなる突起部23が形
成される。
【0032】そして、第2のエッチング工程で一側面か
らRIE(リアクティブイオンエッチング)を行い、固
定部22の一側面に残ったマスク膜29を除去すれば、
図7に示す如く、固定部22の固定電極22Aと同一面
に突起部23が形成される。
【0033】なお、質量部27にも、各可動電極27A
と同一面に各突起部28が同様にして形成できる。
【0034】そして、従来技術で述べた通り、洗浄工
程、乾燥工程を経て加速度センサ21が製造される。
【0035】本実施例による加速度センサ21は以上の
如き構成を有するもので、その基本的な動作については
従来技術によるものと格別差異はない。
【0036】然るに、本実施例では、KOH等によるウ
エットエッチングを行ってシリコンウエハ10を一側面
から垂直方向に加工する際に、シリコンウエハ10上の
マスク膜29に四角形の凸部29Aを設け、固定部2
2,22と質量部27との間に、各固定部22側から質
量部27側に向けて突出する各突起部23と、質量部2
7側から各固定部22側に向けて突出する突起部28と
を形成したから、乾燥工程で固定部22の固定電極22
Aと質量部27の可動電極27Aの間に水が介在して
も、先の尖った各突起部23,28が互いに相手方の電
極表面に当接して微小隙間を確保することができ、この
微小隙間から水を逃がすことにより、固定電極22Aに
可動電極27Aが張り付いたり、乾燥工程で各電極22
A,27A間の水の蒸発に伴なって固定部22と質量部
27が接近し、これらが分離不可能に密着してしまうの
を防止できる。
【0037】従って、本発明によれば不良品の発生を防
止でき、歩留りを大幅に向上することができる。
【0038】次に、図8および図9は本発明の第2の実
施例を示し、本実施例の特徴は固定電極および可動電極
にくし状電極を用い、各電極の有効面積を大きくして検
出感度を向上させるようにしたことにある。
【0039】図8において、31は加速度センサ、32
は絶縁基板としてのガラス基板を示し、該ガラス基板3
2には矩形状の凹部32Aが形成され、該ガラス基板3
2上には単一の低抵抗のシリコンウエハからエッチング
加工することにより、後述する固定部33,33および
可動部35が互いに分離して形成されている。
【0040】33,33は一対の固定部を示し、該各固
定部33は前記ガラス基板32の左,右に離間して位置
し、それぞれ対向する内側面には薄板状の電極板34
A,34A,…が複数(例えば5枚)突出形成され、該
各電極板34Aは固定電極としての固定側くし状電極3
4,34をそれぞれ構成している。
【0041】35は可動部を示し、該可動部35は、前
記ガラス基板32の前,後に離間してガラス基板32に
固着された支持部36,36と、該各支持部36に梁3
7,37を介して支持され、前記各固定部33の間に配
設された質量部38と、該質量部38から左,右方向に
それぞれ突出形成された複数(例えば5枚)の薄板状の
電極板39A,39A,…を有する可動電極としての可
動側くし状電極39,39とから構成され、前記各梁3
7は質量部38を矢示B方向に変位可能に支持するよう
に薄板状に形成されている。そして、前記各可動側くし
状電極39の各電極板39Aは前記各固定側くし状電極
34の各電極板34Aと微小隙間を介して互いに対向す
るようになっている。
【0042】40,40,…は前記固定側くし状電極3
4を構成する各電極板34Aから対向する可動側くし状
電極39側の各電極板39Aに向けて突出形成された突
起部を示し、該各突起部40は前記第1の実施例で述べ
た各突起部23(28)と同様にエッチング加工によっ
て、各電極板34Aの側面から突出するように形成され
ている。
【0043】41,41,…は前記可動側くし状電極3
9を構成する各電極板39Aから対向する固定側くし状
電極34側の電極板34Aに向けて突出形成された突起
部を示し、該各突起部41は前記各突起部40と同様に
形成され、各突起部40の間に向けて突出形成されてい
る。
【0044】以上の如く構成される本実施例による加速
度センサ31においても前述した第1の実施例による加
速度センサ21と同様に、エッチング工程の後に洗浄工
程、乾燥工程等を経て製造されるもので、各電極板34
A,39Aに各突起部40,41を設けたことにより、
前記第1の実施例と同様の作用効果を奏することができ
る。特に本実施例の加速度センサ31では、加速度を可
動側くし状電極39および固定側くし状電極34の各電
極板39A,34Aの間の静電容量の変化として検出し
ており、該各電極板39A,34Aはそれぞれ電気的に
並列接続されているから、各電極板39A,34A間の
静電容量を大きな値とすることができ、全体の静電容量
の変化から加速度を検出するときに検出感度を高め、加
速度の検出精度を向上させることができる。
【0045】なお、前記第1の実施例では、各固定部2
2,質量部27を低抵抗のシリコンウエハ10から形成
することにより、固定電極22Aを固定部22に一体形
成し、可動電極27Aを可動部27に一体形成するもの
として述べたが、本発明はこれに限るものではなく、例
えば各固定部および質量部は高抵抗のシリコンウエハか
ら形成し、各固定部および質量部の対向端面に導電性を
付与する薄膜等を別途設け、固定電極および可動電極を
形成してもよい。
【0046】また、前記各実施例では、固定電極側と可
動電極側の双方に突起部を形成するものとして説明した
が、本発明はこれに限るものではなく、突起部は固定電
極側または可動電極側のいずれか一方に設けてもよい。
【0047】
【発明の効果】以上詳述した通り、本発明によれば、互
いに対向する固定電極と可動電極との間に、少なくとも
一方の電極側から他方の電極側に向けて突出し、各電極
間に微小隙間を確保する突起部を形成したから、加速度
センサの製造時において、洗浄工程の後に固定電極と可
動電極の間に水が介在した状態で乾燥を行っても、各電
極間に設けた突起部によって微小隙間が確保されるか
ら、この微小隙間から水を逃すことによって固定電極と
可動電極が密着するのを防止でき、不良品の発生を抑え
て歩留りを大幅に向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例による加速度センサを示
す斜視図である。
【図2】図1中の矢示II−II方向の要部拡大断面図であ
る。
【図3】パターニング工程により、シリコンウエハの一
側面にマスク膜を形成した状態を示す拡大断面図であ
る。
【図4】マスク膜を拡大して示す斜視図である。
【図5】第1のエッチング工程で固定部に突起部が形成
される過程を示す拡大斜視図である。
【図6】固定部に突起部が形成された状態を示す図5と
同様の拡大斜視図である。
【図7】第2のエッチング工程で固定部からマスク膜を
除去した状態を示す図5と同様の拡大斜視図である。
【図8】本発明の第2の実施例による加速度センサを上
からみた拡大平面図である。
【図9】図8中の要部拡大図である。
【図10】従来技術による加速度センサの全体を示す斜
視図である。
【図11】図10に示す加速度センサを上からみた拡大
図である。
【図12】図11中の矢示 XII−XII 方向断面図であ
る。
【図13】加速度センサを製造するシリコンウエハおよ
びガラス基板を示す縦断面図である。
【図14】接合工程により、シリコンウエハの一側面と
ガラス基板とを接合させた状態を示す縦断面図である。
【図15】パターニング工程により、シリコンウエハの
一側面にマスク膜を形成した状態を示す縦断面図であ
る。
【図16】第1のエッチング工程により、シリコンウエ
ハを固定部と質量部に分離した状態を示す縦断面図であ
る。
【図17】第2のエッチング工程により、固定部と質量
部の一側面からマスク膜を除去した状態を示す縦断面図
である。
【符号の説明】
21,31 加速度センサ 2,32 ガラス基板(絶縁基板) 2A,32A 凹部 10 シリコンウエハ(シリコン板) 22,33 固定部 22A 固定電極 23,28,40,41 突起部 23A,28A 柱状部 23B,28B 隆起部 24,35 可動部 25,36 支持部 26,37 梁 27 質量部 27A 可動電極 34 固定側くし状電極(固定電極) 38 質量部 39 可動側くし状電極(可動電極)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁基板と、該絶縁基板上に設けられ、
    シリコン板をエッチング加工することにより互いに分離
    して形成された固定部および可動部とを備え、該固定部
    には固定電極を一体に形成し、前記可動部は、絶縁基板
    上に固着された支持部と、梁を介して該支持部と連結さ
    れ、加速度が作用したときに該加速度に応じて変位する
    質量部と、該質量部に前記固定部に形成された固定電極
    との間で微小隙間を介して対向するように設けられ、該
    質量部の変位によって近接、離間する可動電極とから一
    体形成してなる加速度センサにおいて、互いに対向する
    前記固定電極と可動電極との間には、少なくとも一方の
    電極側から他方の電極側に向けて突出し、前記各電極間
    に微小隙間を確保する突起部を形成したことを特徴とす
    る加速度センサ。
  2. 【請求項2】 前記固定電極、可動電極は、前記固定
    部、質量部の対向端面にそれぞれ設けてなる請求項1に
    記載の加速度センサ。
  3. 【請求項3】 前記固定電極、可動電極は、前記固定
    部、質量部にそれぞれ突出して設けたくし状電極として
    なる請求項1記載の加速度センサ。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6048774A (en) * 1997-06-26 2000-04-11 Denso Corporation Method of manufacturing dynamic amount semiconductor sensor
US6065341A (en) * 1998-02-18 2000-05-23 Denso Corporation Semiconductor physical quantity sensor with stopper portion
US6105428A (en) * 1998-12-10 2000-08-22 Motorola, Inc. Sensor and method of use
US6199430B1 (en) 1997-06-17 2001-03-13 Denso Corporation Acceleration sensor with ring-shaped movable electrode
US6276207B1 (en) 1998-11-13 2001-08-21 Denso Corporation Semiconductor physical quantity sensor having movable portion and fixed portion confronted each other and method of manufacturing the same
US6388300B1 (en) 1999-01-25 2002-05-14 Denso Corporation Semiconductor physical quantity sensor and method of manufacturing the same
US6694814B2 (en) 2001-02-02 2004-02-24 Denso Corporation Dynamic sensor having capacitance varying according to dynamic force applied thereto
US8413507B2 (en) 2009-06-09 2013-04-09 Denso Corporation Semiconductor dynamic quantity sensor and method of manufacturing the same
US10457543B2 (en) 2015-01-30 2019-10-29 Sony Corporation Electrostatic actuator and switch

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6199430B1 (en) 1997-06-17 2001-03-13 Denso Corporation Acceleration sensor with ring-shaped movable electrode
US6048774A (en) * 1997-06-26 2000-04-11 Denso Corporation Method of manufacturing dynamic amount semiconductor sensor
US6065341A (en) * 1998-02-18 2000-05-23 Denso Corporation Semiconductor physical quantity sensor with stopper portion
DE19906046B4 (de) * 1998-02-18 2007-10-18 Denso Corp., Kariya Halbleitersensoren für eine physikalische Größe mit einem Stoppabschnitt
US6276207B1 (en) 1998-11-13 2001-08-21 Denso Corporation Semiconductor physical quantity sensor having movable portion and fixed portion confronted each other and method of manufacturing the same
US6105428A (en) * 1998-12-10 2000-08-22 Motorola, Inc. Sensor and method of use
US6318174B1 (en) 1998-12-10 2001-11-20 Motorola, Inc Sensor and method of use
US6388300B1 (en) 1999-01-25 2002-05-14 Denso Corporation Semiconductor physical quantity sensor and method of manufacturing the same
US6694814B2 (en) 2001-02-02 2004-02-24 Denso Corporation Dynamic sensor having capacitance varying according to dynamic force applied thereto
US8413507B2 (en) 2009-06-09 2013-04-09 Denso Corporation Semiconductor dynamic quantity sensor and method of manufacturing the same
US10457543B2 (en) 2015-01-30 2019-10-29 Sony Corporation Electrostatic actuator and switch

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