JPH06320157A

JPH06320157A - 浄水処理装置

Info

Publication number: JPH06320157A
Application number: JP11039093A
Authority: JP
Inventors: Kazuo Sekizawa; 一夫関沢
Original assignee: Sumitomo Heavy Industries Ltd
Current assignee: Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date: 1993-05-12
Filing date: 1993-05-12
Publication date: 1994-11-22
Anticipated expiration: 2015-04-04
Also published as: JP3028447B2

Abstract

(57)【要約】【目的】膜供給水の混入を迅速にかつ正確に検出するこ
とができる浄水処理装置を提供する。【構成】分離膜によって高圧側及び低圧側が分離された
膜モジュール１６を有し、該膜モジュール１６は、圧力
が加えられて供給された膜供給水を高圧側に受け、該膜
供給水の不純物を分離して低圧側から膜ろ過水を排出す
る。そして、膜モジュール１６の低圧側に濁度測定手段
が配設され、前記膜ろ過水の濁度を測定する。また、前
記膜モジュール１６の高圧側に濁質供給装置３０が配設
され、衛生上無害な濁質を膜供給水に添加する。濁質を
添加した分だけ膜供給水の濃度が高くなり、膜供給水の
濃度が高い状態で膜ろ過水の濁度が測定される。したが
って、破損検出濁度を高く設定することができ、膜ろ過
水に気泡が混入した場合などに濁度測定手段が誤動作す
るのを防止することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、膜ろ過技術を利用した
浄水処理装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、浄水処理を行う浄水処理装置にお
いては、原水を急速混和池に供給し、該急速混和池にお
いて凝集剤を投入して懸濁性物質、コロイド等を凝集さ
せた後、フロック形成池、沈澱（ちんでん）池、急速ろ
過池等を通して原水中の不純物を除去するようにしてい
る。

【０００３】ところが、前記急速混和池、フロック形成
池、沈澱池、急速ろ過池等の処理施設を設置するために
大きい敷地面積を必要とし、浄水処理装置が大型化して
しまうだけでなく、各処理施設の維持・管理が困難であ
り、コストが高くなってしまう。また、凝集剤などの薬
品を使用するため水質の管理が煩わしい。そこで、膜ろ
過技術を利用した浄水処理装置が提供されている。この
場合、膜モジュールを複数配設し、該膜モジュールに圧
力が加えられた原水を通すだけで原水中の不純物を除去
するようになっている。

【０００４】したがって、急速混和池、フロック形成
池、沈澱池、急速ろ過池等の処理施設が不要になり、敷
地面積を小さくすることができ、浄水処理装置を小型化
することができる。また、維持・管理が容易になり、コ
ストを低くすることができるだけでなく、自動運転も可
能となる。さらに、凝集剤などの薬品を使用しないた
め、水質の管理も容易になる。

【０００５】図２は従来の分離膜を使用した浄水処理装
置のブロック図である。図において、１１は原水を受け
て溜（た）める原水槽、１２は該原水槽１１から原水を
受け前処理を施す前処理設備、１３は前処理が終了した
原水を膜供給水として受け、また、浄水処理が終了して
不純物が濃縮された膜供給水を受けて溜める膜供給水
槽、１５は該膜供給水槽１３から膜供給水を受けて不純
物を分離する膜モジュール装置である。

【０００６】該膜モジュール装置１５は複数の膜モジュ
ール１６を並列に接続して形成され、膜供給水から不純
物を分離して膜ろ過水を排出する。そのため、膜供給水
は主ラインＬａを通って副ラインＬｂに分流され、該副
ラインＬｂを通って各膜モジュール１６に供給される。
膜ろ過水は副ラインＬｃを通って主ラインＬｄに合流し
排出され、一方、不純物が濃縮された膜供給水は還流ラ
インＬｅを通って前記膜供給水槽１３に還流され循環さ
せられる。

【０００７】また、１８は前記膜モジュール装置１５か
ら主ラインＬｄを介して排出された膜ろ過水を受けて溜
める膜ろ過水槽、１９は該膜ろ過水槽１８から膜ろ過水
を受け、塩素剤を投入して殺菌処理を施し、処理水とし
て排出する塩素混和池、２０は圧力を加えて膜供給水を
供給するためのポンプ、２１は膜ろ過水を排出するため
のポンプである。

【０００８】前記膜モジュール装置１５の各膜モジュー
ル１６は、円筒状又は箱状の容器の中に各種形状の分離
膜を収容して形成されており、該分離膜を形状で分類す
ると、シート状で平坦（へいたん）な平膜、ひも状で中
空の中空糸膜、径が大きい管状膜等がある。また、分離
膜を材質で分類すると、ポリスルホン、ポリプロピレ
ン、ポリエーテルスルホン等の合成高分子で形成された
有機膜と、アルミナ、アルミニウムシリケート、磁器質
等の無機系の素材で形成された無機膜がある。

【０００９】さらに、分離膜を機能で分類すると、大き
さが０．０１〜数ミクロン程度の懸濁性物質、コロイド
等の微粒子及び微生物を分離する精密ろ過膜、分子量が
数百〜数百万程度の高分子量物質から成る溶質及び粒子
を分離する限外ろ過膜、分子量が数十〜数千程度の低分
子量物質から成る溶質及び粒子を分離する逆浸透膜等が
ある。

【００１０】そして、前記分離膜の一方側（以下、「高
圧側」という。）に圧力が加えられた膜供給水を供給す
ると、分離膜によって不純物が分離され、分離膜の他方
側（以下、「低圧側」という。）において不純物が除去
された膜ろ過水を得ることができる。該膜ろ過水は膜モ
ジュール１６から排出され、一方、分離膜を通らない不
純物が濃縮された膜供給水は、前記膜供給水槽１３に還
流され循環させられる。なお、膜供給水を膜供給水槽１
３に還流することなく、そのまま排出することもでき
る。

【００１１】ところで、前記分離膜の厚さは有機膜の場
合０．１〔ｍｍ〕程度であり、無機膜の場合数ミリ程度
である。これに対して、前記分離膜において膜供給水に
加えられる圧力は、精密ろ過膜の場合２０〜２００〔ｋ
Ｐａ／ｃｍ²〕程度であり、限外ろ過膜の場合５０〜５
００〔ｋＰａ／ｃｍ²〕程度であってかなり高く、長時
間使用していると分離膜が破損してしまう。

【００１２】その場合、全く浄水処理が施されていない
膜供給水が低圧側に流出して、膜ろ過水内に混入してし
まう。そして、混入した膜供給水によって最終的な処理
水の濁度が水質基準を超えると、処理水の供給を停止
（断水）したり、配水池などを捨水して清掃しなければ
ならない。そこで、膜モジュール装置１５の低圧側の主
ラインＬｄに濁度測定手段を配設し、膜ろ過水槽１８に
供給される前の膜ろ過水の濁度を測定することによっ
て、膜供給水の混入を検出し、分離膜の破損を知るよう
になっている。

【００１３】図３は従来の浄水処理装置における濁度測
定装置を示す図である。図において、Ｌａ，Ｌｄは主ラ
イン、Ｌｂ，Ｌｃは副ライン、Ｌｅは還流ライン、１１
は原水槽、１３は膜供給水槽、１５は膜モジュール装
置、１６は膜モジュール、１８は膜ろ過水槽、２０，２
１はポンプ、２５は主ラインＬｄに配設された濁度計で
ある。

【００１４】前記膜モジュール装置１５の各膜モジュー
ル１６から排出された膜ろ過水は、副ラインＬｃを通っ
て主ラインＬｄに合流するが、該主ラインＬｄにおいて
濁度が測定される。そして、例えば、水質基準などによ
って規定された所定の濁度が膜ろ過水において測定され
ると、分離膜が破損した膜モジュール１６を取り替える
ようになっている。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の浄水処理装置においては、原水の段階で濁度が低い
場合、分離膜の破損により膜供給水が膜ろ過水に混入し
ても濁度の変化が少なく、混入する膜供給水の量がかな
り多くなるまで膜供給水の混入を検出することができな
い。

【００１６】また、濁度計２５には光センサが使用さ
れ、光の透過度によって濁度を測定するようになってい
るため、膜ろ過水に気泡などが混入すると、見掛け上の
濁度が高くなり、濁度計２５が誤動作してしまう。そし
て、膜モジュール１６の逆圧洗浄時などに圧損を測定
し、圧損の異常の有無によって分離膜の破損を検出する
こともできるが、圧損の異常は分離膜が破損した時以外
でも生じ得るため、膜供給水の混入を確実に検出するこ
とができない。

【００１７】本発明は、前記従来の浄水処理装置の問題
点を解決して、膜供給水の混入を迅速にかつ正確に検出
することができる浄水処理装置を提供することを目的と
する。

【００１８】

【課題を解決するための手段】そのために、本発明の浄
水処理装置においては、分離膜によって高圧側及び低圧
側が分離された膜モジュールが配設され、該膜モジュー
ルは、圧力が加えられて供給された膜供給水を高圧側に
受け、該膜供給水の不純物を分離して低圧側から膜ろ過
水を排出する。

【００１９】そして、膜モジュールの低圧側に濁度測定
手段が配設され、前記膜ろ過水の濁度を測定する。ま
た、前記膜モジュールの高圧側に濁質供給装置が配設さ
れ、衛生上無害な濁質を膜供給水に添加する。本発明の
他の浄水処理装置においては、分離膜によって高圧側及
び低圧側が分離された膜モジュールが複数配設されて膜
モジュール装置が形成される。前記膜モジュールは、圧
力が加えられて供給された膜供給水を高圧側に受け、該
膜供給水の不純物を分離して低圧側から膜ろ過水を排出
する。

【００２０】前記膜モジュール装置を、それぞれ少なく
とも一つの膜モジュールから成る複数のブロックに分割
し、膜モジュールの低圧側において各ブロックごとに膜
ろ過水をサンプリングする手段が配設される。そして、
濁度測定手段が、サンプリングされた膜ろ過水の濁度を
各ブロックごとに順次測定する。本発明の更に他の浄水
処理装置においては、前記膜モジュールの高圧側に濁質
供給装置が配設され、衛生上無害な濁質を膜供給水に添
加する。

【００２１】本発明の更に他の浄水処理装置において
は、前記膜モジュールの低圧側に配設され、前記濁度測
定手段が分離膜の破損を検出したとき、濁度測定手段か
らの信号によって該当するブロックのラインを閉鎖する
手段を有する。

【００２２】

【作用】本発明によれば、前記のように浄水処理装置
は、分離膜によって高圧側及び低圧側が分離された膜モ
ジュールを有し、該膜モジュールは、圧力が加えられて
供給された膜供給水を高圧側に受け、該膜供給水の不純
物を分離して低圧側から膜ろ過水を排出する。

【００２３】そして、膜モジュールの低圧側に濁度測定
手段が配設され、前記膜ろ過水の濁度を測定する。前記
膜モジュールの分離膜が破損し、膜供給水が流出して膜
ろ過水に混入しても、膜ろ過水の濁度を測定することに
よって、膜供給水の混入を検出し、分離膜の破損を知る
ことができる。また、前記膜モジュールの高圧側に濁質
供給装置が配設され、衛生上無害な濁質を膜供給水に添
加する。この場合、濁質を添加した分だけ膜供給水の濃
度が高くなり、膜供給水の濃度が高い状態で膜ろ過水の
濁度を測定することができる。

【００２４】本発明の他の浄水処理装置においては、分
離膜によって高圧側及び低圧側が分離された膜モジュー
ルが複数配設されて膜モジュール装置が形成される。前
記膜モジュールは、圧力が加えられて供給された膜供給
水を高圧側に受け、該膜供給水の不純物を分離して低圧
側から膜ろ過水を排出する。前記膜モジュール装置を、
それぞれ少なくとも一つの膜モジュールから成る複数の
ブロックに分割し、膜モジュールの低圧側において各ブ
ロックごとに膜ろ過水をサンプリングする手段が配設さ
れる。そして、濁度測定手段が、サンプリングされた膜
ろ過水の濁度を各ブロックごとに順次測定する。

【００２５】ある膜モジュールの分離膜が破損し膜ろ過
水に膜供給水が混入した場合、膜モジュールから排出さ
れた時点の膜ろ過水の濁度は高いが、その後、他の膜モ
ジュールから排出された膜ろ過水と混合されるため、膜
供給水は希釈されて濃度が低下してしまう。この場合、
他の膜モジュールから排出された膜ろ過水と混合される
前の段階で膜ろ過水をサンプリングするため、膜供給水
の濃度が高い状態で膜ろ過水の濁度を測定することがで
きる。

【００２６】本発明の更に他の浄水処理装置において
は、前記膜モジュールの高圧側に濁質供給装置が配設さ
れ、衛生上無害な濁質を膜供給水に添加する。この場
合、他の膜モジュールから排出された膜ろ過水と混合さ
れる前の段階で膜ろ過水をサンプリングするとともに、
濁質を添加した分だけ膜供給水の濃度が高くなるため、
膜供給水の濃度が高い状態で膜ろ過水の濁度を測定する
ことができる。

【００２７】本発明の更に他の浄水処理装置において
は、前記膜モジュールの低圧側に配設され、前記濁度測
定手段が分離膜の破損を検出したとき、濁度測定手段か
らの信号によって該当するブロックのラインを閉鎖する
手段を有する。この場合、他のブロックのラインは閉鎖
されない。

【００２８】

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら詳細に説明する。図１は本発明の実施例を示す浄
水処理装置のブロック図である。図において、１１は原
水を受けて溜める原水槽、１３は図示しない前処理設備
において前処理が終了した原水を膜供給水として受け、
また、浄水処理が終了して不純物が濃縮された膜供給水
を受けて溜める膜供給水槽、１５は該膜供給水槽１３か
ら膜供給水を受けて不純物を分離する膜モジュール装置
である。

【００２９】該膜モジュール装置１５は複数の膜モジュ
ール１６を並列に接続して形成され、膜供給水から不純
物を分離して膜ろ過水を排出する。前記膜モジュール装
置１５は、それぞれ少なくとも一つの膜モジュール１６
から成るｎ個（例えば、５〜１０個）のブロック１５ａ
〜１５ｎに分割される。前記膜供給水は主ラインＬａを
通って副ラインＬｂに分流され、該副ラインＬｂを通っ
て各膜モジュール１６に供給される。また、膜ろ過水は
副ラインＬｃを通って主ラインＬｄに合流し排出され、
一方、不純物が濃縮された膜供給水は還流ラインＬｅを
通って前記膜供給水槽１３に還流され循環させられる。
なお、該還流ラインＬｅには図示しない分離槽が配設さ
れていて、膜供給水中の不純物が多くなった場合に不純
物を分離して回収することができる。

【００３０】また、１８は前記膜モジュール装置１５か
ら主ラインＬｄを介して排出された膜ろ過水を受けて溜
める膜ろ過水槽であり、該膜ろ過水槽１８から排出され
た膜ろ過水は図示しない塩素混和池に供給されて殺菌処
理が施され、その後処理水として排出される。２０は圧
力を加えて膜供給水を供給するためのポンプ、２１は膜
ろ過水を排出するためのポンプである。

【００３１】前記膜モジュール装置１５の各膜モジュー
ル１６は、円筒状又は箱状の容器の中に各種形状の分離
膜を収容して形成されており、該分離膜を形状で分類す
ると、シート状で平坦な平膜、ひも状で中空の中空糸
膜、径が大きい管状膜等がある。また、分離膜を材質で
分類すると、ポリスルホン、ポリプロピレン、ポリエー
テルスルホン等の合成高分子で形成された有機膜と、ア
ルミナ、アルミニウムシリケート、磁器質等の無機系の
素材で形成された無機膜がある。

【００３２】さらに、分離膜を機能で分類すると、大き
さが０．０１〜数ミクロン程度の懸濁性物質、コロイド
等の微粒子及び微生物を分離する精密ろ過膜、分子量が
数百〜数百万程度の高分子量物質から成る溶質及び粒子
を分離する限外ろ過膜、分子量が数十〜数千程度の低分
子量物質から成る溶質及び粒子を分離する逆浸透膜等が
ある。

【００３３】そして、前記分離膜の高圧側に圧力が加え
られた膜供給水を供給すると、分離膜によって不純物が
分離され、分離膜の低圧側において不純物が除去された
膜ろ過水を得ることができる。該膜ろ過水は膜モジュー
ル１６から排出され、一方、分離膜を通らない不純物が
濃縮された膜供給水は、前記膜供給水槽１３に還流され
循環させられる。なお、膜供給水を膜供給水槽１３に還
流することなく、そのまま排出することもできる。

【００３４】ところで、前記分離膜の厚さは有機膜の場
合０．１〔ｍｍ〕程度であり、無機膜の場合数ミリ程度
である。これに対して、前記分離膜において膜供給水に
加えられる圧力は、精密ろ過膜の場合２０〜２００〔ｋ
Ｐａ／ｃｍ²〕程度であり、限外ろ過膜の場合５０〜５
００〔ｋＰａ／ｃｍ²〕程度であってかなり高く、長時
間使用していると分離膜が破損してしまう。

【００３５】その場合、全く浄水処理が施されていない
膜供給水が低圧側に流出して、膜ろ過水内に混入してし
まう。そこで、膜モジュール装置１５の低圧側の副ライ
ンＬｃに濁度測定手段を配設し、主ラインＬｄに供給さ
れる前の膜ろ過水の濁度を測定することによって、膜供
給水の混入を検出し、分離膜の破損を知るようになって
いる。

【００３６】そのため、各副ラインＬｃに濁度計ライン
Ｌｆを接続し、該濁度計ラインＬｆを一台の濁度計３１
に接続して、該濁度計３１によって膜ろ過水の濁度を測
定するようにしている。前記濁度計３１による濁度の測
定は、各ブロック１５ａ〜１５ｎごとに行われ、ｎ個の
監視系列が形成される。そのため、前記濁度計ラインＬ
ｆには、図示しない自動切換弁が配設され、該自動切換
弁によって各ブロック１５ａ〜１５ｎを切り換え、膜ろ
過水を順にサンプリングして濁度を測定する。

【００３７】この場合、各環視系列にアクセスして膜ろ
過水をサンプリングするための時間は１５秒〜１分程度
とされる。例えば、図に示すように５個の膜モジュール
１６で各ブロック１５ａ〜１５ｎを形成し、該ブロック
１５ａ〜１５ｎを５個並設して膜モジュール装置１５を
形成した場合、１個の環視系列についてのサンプリング
時間を３０秒に設定すると、一巡時間は２．５分とな
る。すなわち、いずれかの膜モジュール１６の分離膜が
破損した後、遅くとも３分以内には該当するブロック１
５ａ〜１５ｎの副ラインＬｃを閉鎖することができる。

【００３８】したがって、いずれかのブロック１５ａ〜
１５ｎにおいて膜モジュール１６の分離膜が破損して膜
供給水が膜ろ過水に混入しても、全体の浄水処理量に対
して極めて微少量であるため、水質基準の濁度を超える
ことはない。そのため、各副ラインＬｃに自動塞止（そ
くし）弁３３が配設され、前記濁度計３１からの信号に
よって遮断される。

【００３９】ところで、ある膜モジュール１６の分離膜
が破損し膜ろ過水に膜供給水が混入した場合、該膜モジ
ュール１６の副ラインＬｃに排出された時点の膜ろ過水
の濁度は高いが、主ラインＬｄに合流して他の膜モジュ
ール１６から排出された膜ろ過水と混合されると、膜供
給水は希釈されて濃度が低下してしまう。ところが、本
発明においては、主ラインＬｄに供給される前の段階で
濁度計ラインＬｆによって膜ろ過水をサンプリングし、
該膜ろ過水の濁度を前記濁度計３１によって測定するよ
うになっている。したがって、膜供給水の濃度が高い状
態で膜ろ過水の濁度を測定することができるため、濁度
計３１が分離膜の破損を検出する破損検出濁度を高く設
定することができ、膜ろ過水に気泡が混入した場合など
に濁度計３１が誤動作するのを防止することができる。

【００４０】また、膜モジュール装置１５の高圧側、例
えば膜供給水槽１３に濁質供給装置３０を接続し、膜供
給水槽１３内の膜供給水に衛生上無害な濁質を所定の濃
度になるように添加するようにしている。そして、前記
濁質としてはカオリン、ケイソウ土等が使用され、濃度
は２０〜２００〔ｍｇ／ｌ〕とする。該濁質は膜モジュ
ール装置１５の各膜モジュール１６から還流ラインＬｅ
を通って膜供給水槽１３に還流されるため、原則的には
追加する必要はない。

【００４１】このように前記濁質を膜供給水に添加する
ことによって、濁質の分だけ膜供給水の濃度を高くし、
膜モジュール１６の分離膜が破損したときの膜ろ過水の
濁度を高くすることができる。したがって、破損検出濁
度を高く設定することができ、膜ろ過水に気泡が混入し
た場合などに濁度計３１が誤動作するのを防止すること
ができる。

【００４２】本実施例においては、前記濁度計３１の破
損検出濁度は５〜１５度程度に設定される。こうするこ
とによって、自動塞止弁３３が遮断される時の膜供給水
の濃度が高くなるが、主ラインＬｄにおいては膜供給水
が他の膜モジュール１６からの膜ろ過水によって希釈さ
れ濃度が低くなるため、膜路ろ過水の濁度を水質基準の
限度以内に納めることができる。

【００４３】また、精密ろ過膜の場合、分離膜の孔の径
は０．０１〜数ミクロンであるのに対して、原水中の不
純物は大きさが１ミクロン以下のものが多く、前記分離
膜の孔に入って目詰まりを発生することがある。ところ
が、前記濁質としてカオリンやケイソウ土を使用した場
合、大きさが数ミクロン〜数十ミクロンであるため分離
膜の表面にケーク層を形成する。したがって、ボディフ
ィード効果によって目詰まりを軽減させることができ
る。

【００４４】なお、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、本発明の趣旨に基づいて種々変形すること
が可能であり、それらを本発明の範囲から排除するもの
ではない。

【００４５】

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば浄水処理装置は、分離膜によって高圧側及び低圧側
が分離された膜モジュールを有し、該膜モジュールは、
圧力が加えられて供給された膜供給水を高圧側に受け、
該膜供給水の不純物を分離して低圧側から膜ろ過水を排
出する。

【００４６】そして、膜モジュールの低圧側に濁度測定
手段が配設され、前記膜ろ過水の濁度を測定する。ま
た、前記膜モジュールの高圧側に濁質供給装置が配設さ
れ、衛生上無害な濁質を膜供給水に添加する。この場
合、濁質を添加した分だけ膜供給水の濃度が高くなり、
膜供給水の濃度が高い状態で膜ろ過水の濁度を測定する
ことができる。

【００４７】したがって、膜供給水が分離膜から流出し
た場合、迅速に膜供給水の混入を検出することができ
る。また、濁度測定手段が分離膜の破損を検出する破損
検出濁度を高く設定することができ、膜ろ過水に気泡が
混入した場合などに濁度測定手段が誤動作するのを防止
することができる。本発明の他の浄水処理装置において
は、分離膜によって高圧側及び低圧側が分離された膜モ
ジュールが複数配設されて膜モジュール装置が形成され
る。前記膜モジュールは、圧力が加えられて供給された
膜供給水を高圧側に受け、該膜供給水の不純物を分離し
て低圧側から膜ろ過水を排出する。

【００４８】前記膜モジュール装置を、それぞれ少なく
とも一つの膜モジュールから成る複数のブロックに分割
し、膜モジュールの低圧側において各ブロックごとに膜
ろ過水をサンプリングする手段が配設される。そして、
濁度測定手段が、サンプリングされた膜ろ過水の濁度を
各ブロックごとに順次測定する。この場合、他の膜モジ
ュールから排出された膜ろ過水と混合される前の段階で
膜ろ過水をサンプリングするため、膜供給水の濃度が高
い状態で膜ろ過水の濁度を測定することができる。

【００４９】したがって、膜供給水が分離膜から流出し
た場合、迅速に膜供給水の混入を検出することができ
る。また、濁度測定手段が分離膜の破損を検出する破損
検出濁度を高く設定することができ、膜ろ過水に気泡が
混入した場合などに濁度測定手段が誤動作するのを防止
することができる。本発明の更に他の浄水処理装置にお
いては、前記膜モジュールの高圧側に濁質供給装置が配
設され、衛生上無害な濁質を膜供給水に添加する。この
場合、他の膜モジュールから排出された膜ろ過水と混合
される前の段階で膜ろ過水をサンプリングするととも
に、濁質を添加した分だけ膜供給水の濃度が高くなるた
め、膜供給水の濃度が高い状態で膜ろ過水の濁度を測定
することができる。

【００５０】したがって、膜供給水が分離膜から流出し
た場合、迅速に膜供給水の混入を検出することができ
る。また、濁度測定手段が分離膜の破損を検出する破損
検出濁度を高く設定することができ、膜ろ過水に気泡が
混入した場合などに濁度測定手段が誤動作するのを防止
することができる。本発明の更に他の浄水処理装置にお
いては、前記膜モジュールの低圧側に配設され、前記濁
度測定手段が分離膜の破損を検出したとき、濁度測定手
段からの信号によって該当するブロックのラインを閉鎖
する手段を有する。したがって、他のブロックのライン
は閉鎖されていないので、浄水処理装置の運転を継続す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例を示す浄水処理装置のブロック
図である。

【図２】従来の分離膜を使用した浄水処理装置のブロッ
ク図である。

【図３】従来の浄水処理装置における濁度測定装置を示
す図である。

【符号の説明】

１５膜モジュール装置１５ａ〜１５ｎブロック１６膜モジュール３０濁質供給装置３１濁度計３３自動塞止弁Ｌｃ副ラインＬｆ濁度計ライン

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】（ａ）分離膜によって高圧側及び低圧側
が分離され、圧力が加えられて供給された膜供給水を高
圧側に受け、該膜供給水の不純物を分離して低圧側から
膜ろ過水を排出する膜モジュールと、（ｂ）該膜モジュ
ールの低圧側に配設され、膜ろ過水の濁度を測定する濁
度測定手段と、（ｃ）前記膜モジュールの高圧側に配設
され、衛生上無害な濁質を膜供給水に添加する濁質供給
装置を有することを特徴とする浄水処理装置。
【請求項２】（ａ）分離膜によって高圧側及び低圧側
が分離され、圧力が加えられて供給された膜供給水を高
圧側に受け、該膜供給水の不純物を分離して低圧側から
膜ろ過水を排出する膜モジュールを複数有する膜モジュ
ール装置と、（ｂ）該膜モジュール装置を、それぞれ少
なくとも一つの膜モジュールから成る複数のブロックに
分割し、膜モジュールの低圧側において各ブロックごと
に膜ろ過水をサンプリングする手段と、（ｃ）サンプリ
ングされた膜ろ過水の濁度を各ブロックごとに順次測定
する濁度測定手段を有することを特徴とする浄水処理装
置。
【請求項３】前記膜モジュールの高圧側に配設され、
衛生上無害な濁質を添加する濁質供給装置を有する請求
項２に記載の浄水処理装置。
【請求項４】前記膜モジュールの低圧側に配設され、
前記濁度測定手段が分離膜の破損を検出したとき、濁度
測定手段からの信号によって該当するブロックのライン
を閉鎖する手段を有する請求項２に記載の浄水処理装
置。