JPS62163707A - 膜モジユ−ル汚染防止方法 - Google Patents
膜モジユ−ル汚染防止方法Info
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- JPS62163707A JPS62163707A JP561286A JP561286A JPS62163707A JP S62163707 A JPS62163707 A JP S62163707A JP 561286 A JP561286 A JP 561286A JP 561286 A JP561286 A JP 561286A JP S62163707 A JPS62163707 A JP S62163707A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はボイラ給水、塩水淡水化装置給水、超純水製造
等に用いる水処理装置の膜モジュール汚染防止方法に関
するものである。
等に用いる水処理装置の膜モジュール汚染防止方法に関
するものである。
（従来の技術）
逆浸透圧装置において、原水中の懸濁物質は膜面の目詰
りの原因となって分離性能に悪影響を与えるため、水質
管理が膜の耐久性を大きく左右する。従って予めその含
有量を測定してこれを凸準にして前処理としての凝集沈
澱、精密γ濾過等を適宜採用している。
りの原因となって分離性能に悪影響を与えるため、水質
管理が膜の耐久性を大きく左右する。従って予めその含
有量を測定してこれを凸準にして前処理としての凝集沈
澱、精密γ濾過等を適宜採用している。
海水淡水化の場合、ＹＲ澄な海水では懸濁物質はｌｎｗ
ｒ／７ｉ以下の場合が多く、特に前処理水は０．１ｍｇ
／１４以下となって、通常の濁度測定法では精度が劣り
信頬性に欠けるという問題があった。
ｒ／７ｉ以下の場合が多く、特に前処理水は０．１ｍｇ
／１４以下となって、通常の濁度測定法では精度が劣り
信頬性に欠けるという問題があった。
このため逆浸透圧の分野では前処理水水質の管理にメン
ブレンフィルターを使用した微少濁度の測定法が幾つか
提案され、その代表的方法はＡＳＴＭ＜ｏ、ｎｇｑｌｓ
２）に掲載されており、この方法はフィルターホルダー
に孔径０．４５μｍを有する直径４７１−のメンブレン
フィルターをセットし、ブースターポンプで３０ＰＳＩ
の圧力で試料水を最初５００龍１流して１濾過所要時間
ｔ１を記録し、試験開始したのち１５分経過後５ Ｑ
Ｑ ＋ｎ １２追加してその所要時間ｔ２をとり、次式
によってＳ Ｄ Ｉ （ＳｉｌｔＤｅｎｓｉｔｙ Ｉ
ｎｄｅｘ）を計算する。
ブレンフィルターを使用した微少濁度の測定法が幾つか
提案され、その代表的方法はＡＳＴＭ＜ｏ、ｎｇｑｌｓ
２）に掲載されており、この方法はフィルターホルダー
に孔径０．４５μｍを有する直径４７１−のメンブレン
フィルターをセットし、ブースターポンプで３０ＰＳＩ
の圧力で試料水を最初５００龍１流して１濾過所要時間
ｔ１を記録し、試験開始したのち１５分経過後５ Ｑ
Ｑ ＋ｎ １２追加してその所要時間ｔ２をとり、次式
によってＳ Ｄ Ｉ （ＳｉｌｔＤｅｎｓｉｔｙ Ｉ
ｎｄｅｘ）を計算する。
ｔｌ
（１−−） ｘ １ ０ ０
ＳＤＩ＝ □
ここでＴは清適開始よりのか適時間を示し、普通は１５
分である。よってＳＤＩはこの式より０〜６．７の間の
値をとり、濁度の大きい場合は５ＤＩ６．７となる。更
にはこの測定法の改良案が出願人より特願昭６０−２０
７４４７号として出願されている。
分である。よってＳＤＩはこの式より０〜６．７の間の
値をとり、濁度の大きい場合は５ＤＩ６．７となる。更
にはこの測定法の改良案が出願人より特願昭６０−２０
７４４７号として出願されている。
（発明が解決しようとする問題点）
水の濁りは単なる無機、有機物質の混入以外に、微生物
、細菌等の繁殖によるなどその原因は極めて複雑であり
、前述のとおり原水中に規定以上の懸濁物質が含まれる
と膜分離性能が低下するから、このような原水は膜モジ
ュールに入る前に濁度を検出してＳＤＩを規定値以下に
保つ手段を採用するよう、各膜メーカーではその取扱い
説明書で述べている。このＳＤＩの値は例えばデュポン
社では５ＤＩ３以下と定めている。
、細菌等の繁殖によるなどその原因は極めて複雑であり
、前述のとおり原水中に規定以上の懸濁物質が含まれる
と膜分離性能が低下するから、このような原水は膜モジ
ュールに入る前に濁度を検出してＳＤＩを規定値以下に
保つ手段を採用するよう、各膜メーカーではその取扱い
説明書で述べている。このＳＤＩの値は例えばデュポン
社では５ＤＩ３以下と定めている。
しかしながら膜モジュールに入る前の原水のＳＤＩを測
定する従来の方法では、膜モジュール内でバクテリア繁
殖等により汚染が生じても膜モジュール内汚染の早期発
見ができず、また膜モジュールを複数段直列に使用する
場合、１段目には確かに５ＤＩ３以下の原水が供給され
るが、２段目、３段目と後段はど濃縮されるので懸濁物
質も濃縮されてＳＤＩが３以上となり、かかるＳＤＩ測
定位置ではこれらの後段の汚染は早期に発見できず、汚
染は後段まで及び、この汚染が生しると膜モジュール出
入口の差圧が上昇し、さらに脱塩率、透過水量等の性能
低下が起る。そしてこれらの弊害が顕著になってからで
は汚染は可成り進行しており、洗浄による性能回復は不
可能になる場合がある。
定する従来の方法では、膜モジュール内でバクテリア繁
殖等により汚染が生じても膜モジュール内汚染の早期発
見ができず、また膜モジュールを複数段直列に使用する
場合、１段目には確かに５ＤＩ３以下の原水が供給され
るが、２段目、３段目と後段はど濃縮されるので懸濁物
質も濃縮されてＳＤＩが３以上となり、かかるＳＤＩ測
定位置ではこれらの後段の汚染は早期に発見できず、汚
染は後段まで及び、この汚染が生しると膜モジュール出
入口の差圧が上昇し、さらに脱塩率、透過水量等の性能
低下が起る。そしてこれらの弊害が顕著になってからで
は汚染は可成り進行しており、洗浄による性能回復は不
可能になる場合がある。
このように従来法においては、膜モジュール入口側の給
水のＳＤＩを測定していたから、膜モジュール内の汚染
が判断できないという問題があった。
水のＳＤＩを測定していたから、膜モジュール内の汚染
が判断できないという問題があった。
（問題を解決するための手段）
上記に鑑み、給水のＳＤＩの測定は従来のように給水入
口側のみで行うことは欠点が多いので、本発明はこれを
膜モジュールの排出水のＳＤＩを測定するように改めた
もので、その第１の発明は、水処理装置の膜モジュール
出口濃縮水の濁度を測定して給水の濁度と膜モジュール
の汚染度合とを同時に監視する膜モジュール汚染防止方
法であり、第２の発明は、水処理装置の膜モジュール入
口側給水の濁度と該膜モジュール出口濃縮水の濁度を測
定して、その測定値を比較演算することにより給水の濁
度と膜モジュールの汚染度合とを同時に監視する膜モジ
ュール汚染防止方法を要旨とするものである。
口側のみで行うことは欠点が多いので、本発明はこれを
膜モジュールの排出水のＳＤＩを測定するように改めた
もので、その第１の発明は、水処理装置の膜モジュール
出口濃縮水の濁度を測定して給水の濁度と膜モジュール
の汚染度合とを同時に監視する膜モジュール汚染防止方
法であり、第２の発明は、水処理装置の膜モジュール入
口側給水の濁度と該膜モジュール出口濃縮水の濁度を測
定して、その測定値を比較演算することにより給水の濁
度と膜モジュールの汚染度合とを同時に監視する膜モジ
ュール汚染防止方法を要旨とするものである。
（作用効果）
本発明においてはＳＤＩの測定を従来の膜モジュール入
口側に代って出口側濃縮水で測定したから、例えば１濾
過等の前処理が不十分で給水の濁度が高い場合に、その
濁度が監視できることは勿論のこと、たとえ人口側給水
の濁度が小さくても膜モジュール内でバクーテリアの繁
殖などによって膜モジュールが汚染された場合に、この
汚染の度合も同時に監視できる。従ってかかる高い濁度
の場合は、給水を膜モジュールに入る前に排棄するとか
、膜モジュールへの給水量を増大して流速をあげ膜面を
フラッシング洗浄するとか予め貯めた透過水で膜面をフ
ラッシング洗浄するとか、あるいは殺菌剤を導入して膜
面を清浄化するなどの、種々の処理が迅速に採用でき、
膜モジュールの使用期間を延長できる効果がある。
口側に代って出口側濃縮水で測定したから、例えば１濾
過等の前処理が不十分で給水の濁度が高い場合に、その
濁度が監視できることは勿論のこと、たとえ人口側給水
の濁度が小さくても膜モジュール内でバクーテリアの繁
殖などによって膜モジュールが汚染された場合に、この
汚染の度合も同時に監視できる。従ってかかる高い濁度
の場合は、給水を膜モジュールに入る前に排棄するとか
、膜モジュールへの給水量を増大して流速をあげ膜面を
フラッシング洗浄するとか予め貯めた透過水で膜面をフ
ラッシング洗浄するとか、あるいは殺菌剤を導入して膜
面を清浄化するなどの、種々の処理が迅速に採用でき、
膜モジュールの使用期間を延長できる効果がある。
また第２発明では、膜モジュール入口側給水の濁度と出
口側濃縮水の濁度を測定してその測定値を比較演算し、
給水の濁度と膜モジュールの汚染度合を同時に監視する
から、この比較値の差が予め設定した規定値を越えた場
合は、膜モジュール入口側濁度の測定と同時に膜モジュ
ール汚染度が監視でき、第１発明の場合と同様、給水を
排棄し、給水の流速をあげまたは予め貯留した透過水で
膜面をフラッシング洗浄し、あるいは殺菌剤を注入して
膜面をＩｎ浄に保つなどの処置が迅速にとれるばかりで
なく、膜モジュールを複数段１σ列に使用した場合、後
段に導入されるイ″ノ＝縮水が汚染された場合でも早期
に発見でき、第１発明の場合と同様、給水を排棄すると
かフラッシング洗浄を行うとか、殺菌剤の注入などの処
理によって膜モジュールを汚染から防止でき、従来の単
に給水のＳＤＩ測定値を規制した方法に比べて、膜モジ
ュールを長期間安定して使用でき、脱塩率、透過水量の
性能向上に効果がある。
口側濃縮水の濁度を測定してその測定値を比較演算し、
給水の濁度と膜モジュールの汚染度合を同時に監視する
から、この比較値の差が予め設定した規定値を越えた場
合は、膜モジュール入口側濁度の測定と同時に膜モジュ
ール汚染度が監視でき、第１発明の場合と同様、給水を
排棄し、給水の流速をあげまたは予め貯留した透過水で
膜面をフラッシング洗浄し、あるいは殺菌剤を注入して
膜面をＩｎ浄に保つなどの処置が迅速にとれるばかりで
なく、膜モジュールを複数段１σ列に使用した場合、後
段に導入されるイ″ノ＝縮水が汚染された場合でも早期
に発見でき、第１発明の場合と同様、給水を排棄すると
かフラッシング洗浄を行うとか、殺菌剤の注入などの処
理によって膜モジュールを汚染から防止でき、従来の単
に給水のＳＤＩ測定値を規制した方法に比べて、膜モジ
ュールを長期間安定して使用でき、脱塩率、透過水量の
性能向上に効果がある。
（実施例）
以下本発明を添付の図面を参照して説明する。
第１図において、原水は管１より導入されて、例えば精
密所遇器、凝集沈澱池等の前処理装置２に入って懸濁物
質は除去され、管３を経て高圧ポンプ４で加圧されたの
ち、膜モジュール５に入って透過され、透過水は管６か
ら取出され、濃縮水は管７から排出される。
密所遇器、凝集沈澱池等の前処理装置２に入って懸濁物
質は除去され、管３を経て高圧ポンプ４で加圧されたの
ち、膜モジュール５に入って透過され、透過水は管６か
ら取出され、濃縮水は管７から排出される。
ここで管７を流れる？！ｉ縮排水のＳＤＩは濁度計８で
測定し、一定値以上の濁度が検出されるとそのままでは
膜が目詰りを生ずるので、これを防ぐため信号が送られ
、調節弁９を開いて系外に放棄する。または膜モジュー
ル濃縮水排出管７に設けた３Ｊｉ１節弁ｌＯを開いて膜
面を通過する給水の流速をあげ、膜モジエールをフラッ
シング洗浄してもよい。
測定し、一定値以上の濁度が検出されるとそのままでは
膜が目詰りを生ずるので、これを防ぐため信号が送られ
、調節弁９を開いて系外に放棄する。または膜モジュー
ル濃縮水排出管７に設けた３Ｊｉ１節弁ｌＯを開いて膜
面を通過する給水の流速をあげ、膜モジエールをフラッ
シング洗浄してもよい。
第２図の実施例は膜モジュール５を透過水でフラッシン
グ洗浄する場合であって、通過水取出管６に設けたタン
ク１１に予め透過水を貯めておき、濁度計８の発する信
号によって弁１２を開いて給水は外部に排出し、ポンプ
１３を作動して透過水を管１４を経て管３に供給し、膜
モジュール５をフラッシング洗浄する。膜モジエールを
殺菌剤で清浄にする場合は、第３図のように塩素、次亜
塩素酸ソーダ等の殺菌剤をタンク１４からポンプ１５、
管Ｉ６を経て管３に導入する。
グ洗浄する場合であって、通過水取出管６に設けたタン
ク１１に予め透過水を貯めておき、濁度計８の発する信
号によって弁１２を開いて給水は外部に排出し、ポンプ
１３を作動して透過水を管１４を経て管３に供給し、膜
モジュール５をフラッシング洗浄する。膜モジエールを
殺菌剤で清浄にする場合は、第３図のように塩素、次亜
塩素酸ソーダ等の殺菌剤をタンク１４からポンプ１５、
管Ｉ６を経て管３に導入する。
第４．５．６図は第２発明の実施例であって、膜モジュ
ール濃縮水出口管７に設けた濁度計８の外に、給水入口
管３に濁度計１７を設けて、演算器１日で測定値を比較
演算し、比較値の差異が予め設定した規定値、例えば１
．５を越えたとき、信号を発して調節弁９を開いて給水
を系外に排出し、あるいは調節弁１０を開いて膜モジュ
ール通過給水の速度を増し、膜面をフラッシング洗浄し
膜モジュールを汚染から防止する。
ール濃縮水出口管７に設けた濁度計８の外に、給水入口
管３に濁度計１７を設けて、演算器１日で測定値を比較
演算し、比較値の差異が予め設定した規定値、例えば１
．５を越えたとき、信号を発して調節弁９を開いて給水
を系外に排出し、あるいは調節弁１０を開いて膜モジュ
ール通過給水の速度を増し、膜面をフラッシング洗浄し
膜モジュールを汚染から防止する。
また第５図のように透過水タンク１１を設けて予め透過
水を貯留しておき、演算器１８における比較値の差異が
例えば１．５以上になったとき弁１２を開いて給水は外
部に排出し、ポンプ１３を作動させ管１４より透過水を
管３に導入して膜モジュールをフラッシング洗浄する。
水を貯留しておき、演算器１８における比較値の差異が
例えば１．５以上になったとき弁１２を開いて給水は外
部に排出し、ポンプ１３を作動させ管１４より透過水を
管３に導入して膜モジュールをフラッシング洗浄する。
あるいは第６図のように殺菌剤タンク１４、ポンプ１５
、管１６を経て殺菌剤を導入して膜モジュールを清浄に
保つ。
、管１６を経て殺菌剤を導入して膜モジュールを清浄に
保つ。
このようにして本発明においては、従来の入口側のみで
濁度を測定した方法に代って膜モジュール７農縮水出口
管で濁度を測定して、更には入口側濁度と濃縮水出口側
濁度を比較演算して、給水入口側の濁度とともに膜モジ
ュールの汚染の度合を同時に覧視でき、この測定に基づ
いてｎ出したＳＤＩを４準にして膜モジュール汚染防止
の採用が可能となりその効果は多大である。本発明は逆
浸透圧装置に限らず微細孔を有するＵＦ膜などを用いる
水処理装置にも利用できることは勿論である。
濁度を測定した方法に代って膜モジュール７農縮水出口
管で濁度を測定して、更には入口側濁度と濃縮水出口側
濁度を比較演算して、給水入口側の濁度とともに膜モジ
ュールの汚染の度合を同時に覧視でき、この測定に基づ
いてｎ出したＳＤＩを４準にして膜モジュール汚染防止
の採用が可能となりその効果は多大である。本発明は逆
浸透圧装置に限らず微細孔を有するＵＦ膜などを用いる
水処理装置にも利用できることは勿論である。
図は本発明の実施例を示すもので、第１図、第２図、第
３図は第１発明のそれぞれ異なるフローシート、第４、
第５、第６図は第２発明のそれぞれ異なるフローシート
である。 ２・・・前処理装置、 ４・・・高圧ポンプ、５
・・・膜モジュール、 ６・・・通過水、７・・・濃
縮水、 ８・・・濁度計、９．１０．１２・
・・調節弁、 １１・・・透過水タンク、 １４・・・殺菌剤タンク
、１７・・・濁度計、 １８・・・演算器。 特許出廓人 株式会社笹倉８ｇ械製作所第１図 第４図 第５図 １８描算器
３図は第１発明のそれぞれ異なるフローシート、第４、
第５、第６図は第２発明のそれぞれ異なるフローシート
である。 ２・・・前処理装置、 ４・・・高圧ポンプ、５
・・・膜モジュール、 ６・・・通過水、７・・・濃
縮水、 ８・・・濁度計、９．１０．１２・
・・調節弁、 １１・・・透過水タンク、 １４・・・殺菌剤タンク
、１７・・・濁度計、 １８・・・演算器。 特許出廓人 株式会社笹倉８ｇ械製作所第１図 第４図 第５図 １８描算器
Claims (2)
- （１）水処理装置の膜モジュール出口濃縮水の濁度を測
定して給水の濁度と膜モジュールの汚染度合を同時に監
視することを特徴とする膜モジュール汚染防止方法。 - （２）水処理装置の膜モジュール入口側給水の濁度と該
膜モジュール出口濃縮水の濁度を測定して、その測定値
を比較演算することにより給水の濁度と膜モジュールの
汚染度合を同時に監視することを特徴とする膜モジュー
ル汚染防止方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP561286A JPS62163707A (ja) | 1986-01-13 | 1986-01-13 | 膜モジユ−ル汚染防止方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP561286A JPS62163707A (ja) | 1986-01-13 | 1986-01-13 | 膜モジユ−ル汚染防止方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62163707A true JPS62163707A (ja) | 1987-07-20 |
Family
ID=11616015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP561286A Pending JPS62163707A (ja) | 1986-01-13 | 1986-01-13 | 膜モジユ−ル汚染防止方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62163707A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004025109A (ja) * | 2002-06-27 | 2004-01-29 | Kurita Water Ind Ltd | 水処理方法及び水処理装置 |
| JP2006255670A (ja) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Kurita Water Ind Ltd | スパイラル型膜モジュール装置の目詰まり防止方法 |
| KR100659431B1 (ko) * | 1998-10-20 | 2006-12-18 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 조수 장치 및 조수 방법 |
| JP2007185577A (ja) * | 2006-01-12 | 2007-07-26 | Miura Co Ltd | 水処理システムの運転方法 |
| CN103076328A (zh) * | 2012-12-31 | 2013-05-01 | 深圳市广前电力有限公司 | 全膜水处理系统生物污染物的检测及控制方法 |
| WO2014109075A1 (ja) * | 2013-01-10 | 2014-07-17 | 株式会社 東芝 | 海水淡水化装置および海水淡水化装置の洗浄方法 |
| JP2021112689A (ja) * | 2020-01-16 | 2021-08-05 | 三菱ケミカルアクア・ソリューションズ株式会社 | 逆浸透膜の運転方法 |
-
1986
- 1986-01-13 JP JP561286A patent/JPS62163707A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100659431B1 (ko) * | 1998-10-20 | 2006-12-18 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 조수 장치 및 조수 방법 |
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| JP2014133214A (ja) * | 2013-01-10 | 2014-07-24 | Toshiba Corp | 海水淡水化装置および海水淡水化装置の洗浄方法 |
| JP2021112689A (ja) * | 2020-01-16 | 2021-08-05 | 三菱ケミカルアクア・ソリューションズ株式会社 | 逆浸透膜の運転方法 |
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