JPH06311981A - X線撮像装置 - Google Patents

X線撮像装置

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Publication number
JPH06311981A
JPH06311981A JP5128277A JP12827793A JPH06311981A JP H06311981 A JPH06311981 A JP H06311981A JP 5128277 A JP5128277 A JP 5128277A JP 12827793 A JP12827793 A JP 12827793A JP H06311981 A JPH06311981 A JP H06311981A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
image pickup
pickup device
solid
intensifier
Prior art date
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Pending
Application number
JP5128277A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Saito
正弘 斎藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP5128277A priority Critical patent/JPH06311981A/ja
Publication of JPH06311981A publication Critical patent/JPH06311981A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 固体撮像素子のエレメント数を増大させずに
画像の空間分解能を向上させる。 【構成】 画像メモリ6はCCD撮像装置4の画素数に
対して、水平・垂直方向とも2倍のアドレスを備えてお
り、コントローラ8の制御の下、偏向コイル3によりイ
メージインテンシファイア2の出力画像全体をフィール
ドごとにCCD撮像装置4の水平・垂直方向に、画素幅
の半分だけずらし、ずらした位置に対応するアドレスに
各画素の信号を格納した上で画像モニター装置7によっ
て表示する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、医療の診断などの分
野において使用されるX線撮像装置に関し、とくにX線
イメージインテンシファイア及びこれと組み合わされた
ビデオカメラを用いたX線テレビジョンシステムにより
TVモニター装置の画面にX線透視画像等を表示させる
X線撮像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、X線テレビジョンシステムを
用いてTVモニター装置の画面にX線透視画像等を表示
させるX線撮像装置では、ビデオカメラとして撮像管が
用いられている。この場合、出力画像の空間分解能は撮
像管の電子ビーム直径で決まり、ビーム直径を小さくす
ることにより高解像度の画像が得られる。
【0003】一方、ビデオカメラとしてCCDなどの固
体撮像素子を用いたものもある。このように固体撮像素
子を用いると、小型・軽量化が容易になり、その支持フ
レームなども簡易なもので良くなるので、全体として製
造コストの削減ができるなどの利点がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ビデオ
カメラとして固体撮像素子を用いる場合、撮像エレメン
トの大きさが直接画素の大きさに対応し、そのためエレ
メント数で画像の分解能が決まり、エレメント数を増や
さなければ撮像管よりも高い空間分解能を得ることは困
難である、という問題がある。
【0005】この発明は、上記に鑑み、撮像装置の固体
撮像素子のエレメント数を増大させずに簡易に画像の空
間分解能を高めることができるように改善したX線撮像
装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明によるX線撮像装置では、被写体に向けて
X線を照射し、その被写体を透過したX線をイメージイ
ンテンシファイアに入射させて可視光の画像を得、この
画像を固体撮像素子を用いた撮像装置により映像信号に
変換する場合、フィールドごとに、イメージインテンシ
ファイアの出力画像を、固体撮像素子に対して少なくと
も一方向に、固体撮像素子の各画素幅の半分ほどずらす
ことが特徴となっている。
【0007】
【作用】イメージインテンシファイアの出力画像を、フ
ィールドごとに、固体撮像素子に対して少なくとも一方
向に、固体撮像素子の各画素幅の半分ほどずらすと、固
体撮像素子の各画素に対応するエレメントは、イメージ
インテンシファイア出力画像の、フィールドごとに画素
幅の半分ほど違う位置の画素信号を、出力するようにな
る。そのため、エレメント数は同じでも、そのずらした
方向での画像の空間分解能を実効的に2倍に向上させる
ことができる。
【0008】
【実施例】以下、この発明の好ましい一実施例について
図面を参照しながら詳細に説明する。図1に示すよう
に、X線管1からイメージインテンシファイア2に向け
てX線が照射される。このX線管1とイメージインテン
シファイア2との間には図示しない被写体(人体)が挿
入され、この被写体を透過したX線がイメージインテン
シファイア2に入射するようにされる。このイメージイ
ンテンシファイア2には偏向コイル3が設けられてい
て、出力画像の全体が水平・垂直方向にずらされるよう
になっている。
【0009】イメージインテンシファイア2の出力画像
はCCDを撮像素子として用いたCCD撮像装置4によ
り映像信号に変換される。すなわち、コントローラ8に
よって撮像装置4の撮像素子の各エレメントが走査され
て各画素の信号が順次読み出される。この映像信号はア
ンプ5を経て画像メモリ6に送られ、各画素に対応した
アドレスに格納される。
【0010】ここで、撮像装置4の画素が水平方向に
4、垂直方向に3であるとする。すなわち、撮像装置4
におけるCCDの各エレメントは図2に示すようにA〜
Lの12個となっているものとする。これに対して、画
像メモリ6にはそれぞれ2倍、つまり図3で示すように
8×6(水平×垂直)のマトリクスで表わされるアドレ
スを持たされている。
【0011】コントローラ8は、CCD撮像装置4の出
力映像信号の1フィールド(たとえば1/60秒)ごと
に、つまり全画素に対する1回の走査ごとに、イメージ
インテンシファイア2の出力画像全体がずれるように偏
向コイル3を制御する。すなわち、この実施例では、図
2に示すように、イメージインテンシファイア2の出力
像が撮像装置4のA〜Lの各エレメントに対して、第1
フィールドで点線21の位置となり、第2フィールドで
水平方向(x方向)にずれた位置(1点鎖線22で示す
位置)となり、第3フィールドで垂直方向(y方向)に
ずれた位置(2点鎖線23で示す位置)となり、第4フ
ィールドで水平方向、垂直方向ともずれた位置(3点鎖
線24で示す位置)となり、これが繰り返される。そし
て、イメージインテンシファイア2の出力像のずれ量
は、画素幅の半分としている。
【0012】エレメントAから得られた画素信号は、第
1フィールドで、図3に示すように画像メモリ6におい
てA1のアドレスに格納され、第2、第3、第4フィー
ルドではそれぞれA2、A3、A4に格納される。他の
エレメントB〜Lでも同様である。この書き込み制御は
コントローラ8により行なわれる。
【0013】この場合、エレメントAに着目すれば、第
1フィールドでは出力像の左上部分を中心にした領域の
画素信号を得、第2フィールドでは右上部分を中心にし
た領域の画素信号を、第3フィールドでは左下部分を中
心にした領域の画素信号を、第4フィールドでは右下部
分を中心にした領域の画素信号を、それぞれ得ることに
なる。そしてこの位置関係がメモリ6上でも維持され
る。この画像メモリ6の各アドレス内容がコントローラ
8の制御の下に読み出されて画像モニター装置7に送ら
れて表示される。そのため、CCD撮像装置4の画素が
4×3でしかないにもかかわらず、画像モニター装置7
では8×6のマトリクスの画像を表示し、画像の空間分
解能が水平、垂直ともに2倍、つまり4倍に向上してい
る。これにより、CCD撮像装置4のエレメント数を実
効的に4倍に増やしたこととなる。
【0014】なお、上記では映像信号を一旦画像メモリ
6に蓄積した上で画像モニター装置7に送って表示する
ようにしているが、点線で示すように映像信号を画像メ
モリ6に送らずに直接に画像モニター装置7に送るよう
にしてもよい。この場合、画像モニター装置7の偏向コ
イル(図示しない)をコントローラ8により制御し、イ
メージインテンシファイア2の出力像のずれに対応して
同じ量だけ表示画像をフィールドごとにずらす。この場
合、人間の目の残像効果を利用することにより画像メモ
リ6を省略したのである。
【0015】イメージインテンシファイア2の出力像を
フィールドごとにずらす量を画素幅の半分よりもさらに
小さいものとし、4フィールドよりも多数のフィールド
で1画面を構成するようにすることも考えられるが、上
記のようにサンプリング定理から画素幅の半分程度が妥
当である。上記の実施例では水平および垂直方向にずら
しているが、その一方の方向にのみずらすようにすれば
その方向での空間分解能が向上するので、用途によって
はそれで十分な場合も考えられる。また固体撮像素子と
してはCCD以外にも使用可能である。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように、この発明のX線撮
像装置によれば、固体撮像素子のエレメント数を実効的
に増大させて、出力画像の空間分解能を向上させること
ができる。そのため、画素数の少ない安価な固体撮像素
子を用いても、高空間分解能の画像が得られ、コストパ
フォーマンスを高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例のブロック図。
【図2】イメージインテンシファイアの出力像と撮像素
子との位置関係を示す図。
【図3】画像メモリの各アドレス内容を示す図。
【符号の説明】
1 X線管 2 イメージインテンシファイア 3 偏向コイル 4 CCD撮像装置 5 アンプ 6 画像メモリ 7 画像モニター装置 8 コントローラ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被写体に向けてX線を照射するX線照射
    器と、被写体を透過したX線による画像を可視光の画像
    に変換するイメージインテンシファイアと、該可視光の
    画像を映像信号に変換する固体撮像素子を用いた撮像装
    置と、上記イメージインテンシファイアの出力画像をフ
    ィールドごとに上記固体撮像素子に対して少なくとも一
    方向に、固体撮像素子の各画素幅の半分ほどずらす偏向
    器とを備えることを特徴とするX線撮像装置。
JP5128277A 1993-04-30 1993-04-30 X線撮像装置 Pending JPH06311981A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5128277A JPH06311981A (ja) 1993-04-30 1993-04-30 X線撮像装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5128277A JPH06311981A (ja) 1993-04-30 1993-04-30 X線撮像装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06311981A true JPH06311981A (ja) 1994-11-08

Family

ID=14980851

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5128277A Pending JPH06311981A (ja) 1993-04-30 1993-04-30 X線撮像装置

Country Status (1)

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JP (1) JPH06311981A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6876722B2 (en) 2000-04-06 2005-04-05 Hamamatsu Photonics K.K. X-ray inspection system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6876722B2 (en) 2000-04-06 2005-04-05 Hamamatsu Photonics K.K. X-ray inspection system
US7356117B2 (en) 2000-04-06 2008-04-08 Hamamatsu Photonics K.K. X-ray inspection system

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