JPH0847491A - Ｘ線診断装置 - Google Patents
Ｘ線診断装置Info
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- JPH0847491A JPH0847491A JP7132583A JP13258395A JPH0847491A JP H0847491 A JPH0847491 A JP H0847491A JP 7132583 A JP7132583 A JP 7132583A JP 13258395 A JP13258395 A JP 13258395A JP H0847491 A JPH0847491 A JP H0847491A
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Landscapes
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 本発明は、読出し手段は画素情報を読出し状
態とする範囲を切替えることにより撮像素子の撮影範囲
を切替えると共に、この撮像範囲に連動して絞りを駆動
するものである。また、本発明は、高速低解像モード時
に近接する複数画素の画素情報をアナログ加算し、この
アナログ加算の結果をＡ／Ｄ変換器によりディジタル信
号に変換するものである。 【効果】 高解像の撮像素子で高速なフレームレートの
画像を撮影することができる。
態とする範囲を切替えることにより撮像素子の撮影範囲
を切替えると共に、この撮像範囲に連動して絞りを駆動
するものである。また、本発明は、高速低解像モード時
に近接する複数画素の画素情報をアナログ加算し、この
アナログ加算の結果をＡ／Ｄ変換器によりディジタル信
号に変換するものである。 【効果】 高解像の撮像素子で高速なフレームレートの
画像を撮影することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体を透過したＸ線
を基に被検体のＸ線像を可視化して診断に供するＸ線診
断装置に関するものである。
を基に被検体のＸ線像を可視化して診断に供するＸ線診
断装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、診断用Ｘ線映像技術としてディジ
タル画像収集及び処理法が種々開発され、診断能の向上
が図られている。ところで、被検体Ｘ線像の可視化にお
いて、撮影部位が心臓のように動きの早い場合、小視野
かつ高速撮影が望ましく、また、撮影部位が頭部のよう
に動きは少ないが高解像度を要求される部位にあって
は、広視野かつ拡大撮影が望ましい。さらに、撮影の位
置決めを行う際の透視モードにおいては、高速（３０Ｆ
Ｌ／sec 以上）、広視野かつ高感度であることが望まし
く、また、目的部位の撮影をする撮影モードにおいて
は、広ダイナミックレンジ（８０dB以上）、広視野かつ
高解像度であることが望ましい。しかしながら、従来装
置においては、広ダイナミックレンジ、広視野、高解像
度、高感度なる条件を全て満たすものではなく、撮影部
位及び透視モード，撮影モードに応じてＸ線像の適切な
る可視化を行うことができないのが現状である。
タル画像収集及び処理法が種々開発され、診断能の向上
が図られている。ところで、被検体Ｘ線像の可視化にお
いて、撮影部位が心臓のように動きの早い場合、小視野
かつ高速撮影が望ましく、また、撮影部位が頭部のよう
に動きは少ないが高解像度を要求される部位にあって
は、広視野かつ拡大撮影が望ましい。さらに、撮影の位
置決めを行う際の透視モードにおいては、高速（３０Ｆ
Ｌ／sec 以上）、広視野かつ高感度であることが望まし
く、また、目的部位の撮影をする撮影モードにおいて
は、広ダイナミックレンジ（８０dB以上）、広視野かつ
高解像度であることが望ましい。しかしながら、従来装
置においては、広ダイナミックレンジ、広視野、高解像
度、高感度なる条件を全て満たすものではなく、撮影部
位及び透視モード，撮影モードに応じてＸ線像の適切な
る可視化を行うことができないのが現状である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記事情に
鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、
撮影部位及び透視モード，撮影モードに応じてＸ線像の
適切なる可視化を行うことができるＸ線診断装置を提供
することにある。
鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、
撮影部位及び透視モード，撮影モードに応じてＸ線像の
適切なる可視化を行うことができるＸ線診断装置を提供
することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本願請求項１記載の発明は、Ｘ線を被検体に曝射するＸ
線発生手段と、Ｘ線の曝射範囲を決定する絞り手段と、
光を電荷信号に変換して蓄積する複数の画素をマトリク
ス状に配置した撮像手段と、前記画素に蓄積された電荷
の読出しをライン毎に制御するものであり、読出し状態
とするラインの範囲を切替える読出し手段と、前記撮影
手段の撮影範囲及び前記読出し手段を連動して制御する
手段を備えたことを特徴とするＸ線診断装置である。ま
た、本願請求項４記載の発明は、Ｘ線を被検体に曝射す
るＸ線発生手段と、撮像面上に結像されるＸ線像を画素
単位で撮像し、各画素の情報を出力する撮像手段と、前
記画素の情報を読出す読出し手段と、近接する画素の情
報をアナログ加算することにより、１画像当りの画像情
報の数を少なくするアナログ加算手段と、低速高解像モ
ード時には前記撮像手段の１画素に相当する画素情報を
ディジタル信号に変換し、高速高解像モード時には前記
アナログ加算手段により加算された複数画素の加算結果
をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、前記Ａ／
Ｄ変換器の出力に基づく画像を記憶する記憶手段と、前
記記憶手段に記憶された画像を表示する表示手段とを備
えたことを特徴とするＸ線診断装置である。
本願請求項１記載の発明は、Ｘ線を被検体に曝射するＸ
線発生手段と、Ｘ線の曝射範囲を決定する絞り手段と、
光を電荷信号に変換して蓄積する複数の画素をマトリク
ス状に配置した撮像手段と、前記画素に蓄積された電荷
の読出しをライン毎に制御するものであり、読出し状態
とするラインの範囲を切替える読出し手段と、前記撮影
手段の撮影範囲及び前記読出し手段を連動して制御する
手段を備えたことを特徴とするＸ線診断装置である。ま
た、本願請求項４記載の発明は、Ｘ線を被検体に曝射す
るＸ線発生手段と、撮像面上に結像されるＸ線像を画素
単位で撮像し、各画素の情報を出力する撮像手段と、前
記画素の情報を読出す読出し手段と、近接する画素の情
報をアナログ加算することにより、１画像当りの画像情
報の数を少なくするアナログ加算手段と、低速高解像モ
ード時には前記撮像手段の１画素に相当する画素情報を
ディジタル信号に変換し、高速高解像モード時には前記
アナログ加算手段により加算された複数画素の加算結果
をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、前記Ａ／
Ｄ変換器の出力に基づく画像を記憶する記憶手段と、前
記記憶手段に記憶された画像を表示する表示手段とを備
えたことを特徴とするＸ線診断装置である。
【０００５】
【作用】本願請求項１記載の発明は、読出し手段は画素
情報を読出し状態とする範囲を切替えることにより撮像
手段の撮像範囲を切替える。この撮像範囲と連動してＸ
線の曝射範囲を切替えることにより、不要領域へのＸ線
曝射を少なくすることができる。
情報を読出し状態とする範囲を切替えることにより撮像
手段の撮像範囲を切替える。この撮像範囲と連動してＸ
線の曝射範囲を切替えることにより、不要領域へのＸ線
曝射を少なくすることができる。
【０００６】本願請求項４記載の発明は、高速低解像モ
ード時に近接する複数画素の画素情報をアナログ加算す
ることにより、画素情報の数を少なくする。これによ
り、Ａ／Ｄ変換するデータの数を少なくすることができ
るため、Ａ／Ｄ変換器を安価に構成することができる。
ード時に近接する複数画素の画素情報をアナログ加算す
ることにより、画素情報の数を少なくする。これによ
り、Ａ／Ｄ変換するデータの数を少なくすることができ
るため、Ａ／Ｄ変換器を安価に構成することができる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明を実施例により具体的に説明す
る。第１図は本発明の一実施例たるＸ線診断装置のブロ
ック図である。同図ＸＴは被検体Ｐに向ってＸ線を曝射
するＸ線管、１は被検体Ｐを透過したＸ線を検出する検
出器である。この検出器１は被検体Ｐの透過Ｘ線情報を
画素単位で電気信号に変換して蓄積し、且つ、蓄積した
電気信号を画素単位で読み出し可能なものであり、被検
体Ｐを透過したＸ線を光に変換するシンチレータ（例え
ばCsＩ）２と、このシンチレータ２よりの光に応じて電
子を放出する光電体（例えばCs3 Sb) ３と、この光電体
３よりの電子を加速後に再び光に変換する螢光体（例え
ば（ZnCd)S) ５と、この螢光体５よりの光を電気信号に
変換して蓄積する２次元固体検出器６とを有して構成さ
れる。また、７は制御部であり透視モード，撮影モード
及び撮影部位に応じて前記検出器１の読み出しアドレス
を制御するものである。８はこの制御部７の制御によっ
て読み出された情報（電気信号）を積分する複数の積分
器より成る積分器群、９はこの積分器９の出力をディジ
タル信号に変換する複数のＡ／Ｄ（アナログ・ディジタ
ル）変換器より成るＡ／Ｄ変換器群、１０はこのＡ／Ｄ
変換器群９の出力を基に演算処理する演算部、１１はこ
の演算部１０の出力を記憶するメモリ、１２はこのメモ
リ１１の記憶内容を基に画像表示を行うモニタである。
ここに、前記２次元固体検出器６は、例えばその等価回
路を第２図に示すように、ダイオード１３ａとコンデン
サ１３ｂとの並列回路（１画素に相当）が２０４８個×
２０４８個整然と２次元的に配列され、且つ、画並列回
毎に薄膜トランジスタを用いたスイッチ１３ｃが直列接
続されて成るものであり、読み出し信号Ｓ1 〜Ｓ2048で
スイッチ１３ｃをオンさせることにより各画素毎の情報
Ｉ1 〜Ｉ2048を読み出すことができる。例えばこの２次
元固体検出器６は大面積ガラス基板の上に、薄膜蒸着技
術とＩＣプロセス技術とを駆使して作成されるものであ
る。次に、２次元固体検出器，制御部，積分器及びＡ／
Ｄ変換器の接続関係を第３図を基に説明する。第３図は
２次元固体検出器，制御部，積分器及びＡ／Ｄ変換器の
接続関係を示すブロック図である。制御部７は例えばＲ
ＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ）７ａ，７ｂを有し
て成るものである。ＲＡＭ７ａはアドレスクロックＢX
の入力に応じて読み出し信号Ｓ1 〜Ｓ2048を２次元固体
検出器６に出力するように成っており、また、ＲＡＭ７
ｂはアドレスクロックＢＹ の入力に応じてスイッチ駆
動信号ＳＹ1 〜ＳＹ2048を積分スイッチ１４−１〜１４
−２０４８に出力するように成っている。この積分スイ
ッチ１４−１〜１４−２０４８は前記２次元固体検出器
６の出力端に直列接続されたものであり、トランジスタ
などが適用される。積分スイッチ１４−１〜１４−２０
４８を介して出力される情報Ｉ1 〜Ｉ2048はそれぞれ積
分器８−１〜８−２０４８に入力され、次いでＡ／Ｄ変
換器９−１〜９−２０４８に入力されるように成ってい
る。次に、演算部の構成について第４図を基に説明す
る。第４図は本実施例における演算部の構成を示すブロ
ック図である。この演算部１０は、Ａ／Ｄ変換器９−１
〜９−２０４８に対応して配置されたラッチ回路と、こ
のラッチ回路４個毎の出力を加算する加算手段１０ａ
と、各ラッチ回路の出力又は加算手段１０ａの出力を選
択して出力するセレクタ１０ｂとを有して成る。尚、第
４図においては、ラッチ回路１０−１〜１０−２０４８
中１０−１〜１０−４のみを示す。次に、以上のように
構成される実施例装置の作用について第５図及び第６図
をも参照しながら説明する。第５図及び第６図は本実施
例装置の動作タイミング図である。Ｘ線管ＸＴより曝射
され、かつ、被検体Ｐを透過したＸ線が検出器１のシン
チレータ２に入射すると、入射したＸ線に応じてシンチ
レータ２が発光し、この発光に応じて光電体３より電子
が放出される。放出された電子は空間部４で加速され、
螢光体５に到達する。すると、螢光体５が発光し、この
発光による情報が２次元固体検出器６に蓄積される。２
次元固体検出器６よりの情報の読み出しは次のように行
われる。 〈透視モード〉透視モードにおいては、撮影の位置決め
を行う関係上、高速，広視野かつ高感度であることが望
ましい。そこで、この透視モードには、２０４８×２０
４８マトリクス画像を１６ピクセル加算することにより
５１２×５１２マトリクス画像とし、これを３２フレー
ム／sec で収集する加算高速モード（ＳＵＭ−ＨＳ）が
適用される。（第５図参照）。ＲＡＭ７ａには、読み出
し信号Ｓ1 〜Ｓ4 ，Ｓ5〜Ｓ8 ，Ｓ9 〜Ｓ12，…の如
く、４個の信号毎に同時に高レベルとなるデータが書き
込まれ、また、ＲＡＭ７ｂには、スイッチ駆動信号ＳＹ
1 〜ＳＹ2048が同時に高レベルとなるデータが書き込ま
れるものとする。この書き込みはモード切り換え時など
に行う。アドレスクロックＢX の入力に応じて、読み出
し信号Ｓ1 〜Ｓ4 ，Ｓ5 〜Ｓ8 ，Ｓ9 〜Ｓ12，…毎に順
次高レベルになる。すると、２次元固体検出器６のマト
リクス上４列毎の情報読み出しが行われる。この時、Ｒ
ＡＭ７ｂの出力たるスイッチ駆動信号ＳＹ1 〜ＳＹ2048
が同時に高レベルとなることから、各行のうちＳ1 〜Ｓ
4 に対応する画素の情報がそれぞれ行毎に加算されて出
力される。そして、積分器群８により積分され、Ａ／Ｄ
変換器９によりディジタル信号に変換された後、演算部
１０に入力される。演算部１０では、入力されたデータ
を先ずラッチ回路１０−１〜１０−２０４８でラッチ
し、ラッチ回路４個毎に配置された加算手段１０ａによ
りラッチ回路４個毎の加算処理を行う。そして加算処理
結果はセレクタ１０ｂを介してメモリ１１内に書き込ま
れる。ラッチ回路のラッチは１００ms前後の速度で行
う。５１２個のデータを書き込む毎にメモリアドレス信
号がリセットされ、次々と５１２×５１２の画像が収集
される。本モードによれば、大画面の多数画素から成る
画像に対して近傍の数画素毎に加算処理することによ
り、画素数を減少させることができるので、１枚の画像
を構成する１画素の収集速度を不変とすることにより、
画素を減少した分だけ収集時間を高速化できる。また、
画素の加算処理を行うことにより、低線量下でも十分な
感度が得られ、良好な画質が得られる。 〈撮影モード〉撮影モードにおいては、被検体の目的部
位の撮影を行う関係上、広ダイナミックレンジ，広視野
かつ高解像度であることが望ましい。そこで、このモー
ドには、２０４８×２０４８のマトリックス画像を２フ
レーム／sec で収集する高解像低速モード（ＨＲ−Ｌ
Ｓ）が適用される。（第６図参照）。ＲＡＭ７ａには、
読み出し信号Ｓ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 ，…の如く、順次高レベ
ルとなるデータが書き込まれ、また、ＲＡＭ７ｂには、
スイッチ駆動信号ＳＹ1 〜ＳＹ2048が同時に高レベルと
なるデータが書き込まれるものとする。この書き込みは
モード切り換え時などに行う。アドレスクロックＢX の
入力に応じて、読み出し信号Ｓ1 〜Ｓ2048が順次高レベ
ルになり、２次元固体検出器６より画素毎の情報が読み
出される。読み出された情報は積分器群８により積分さ
れ、Ａ／Ｄ変換器群９によりディジタル信号に変換され
た後、演算部１０に入力される。演算部１０では、入力
されたデータをラッチ回路１０−１〜１０−２０４８で
ラッチする。そして、各ラッチ回路にラッチされたデー
タは１００ｍsec 前後の速度で読み出され、メモリ１１
内に書き込まれる。これにより、２枚／sec で２０４８
×２０４８のマトリクス画像が収集される。本モードに
よれば、画素数が細かく、高解像度の画像が得られ、ま
た、線量に応じた広ダイナミックレンジを確保できる。
撮影モードにおいて、例えば撮影の所望部位が心臓など
のように、小視野かつ高速撮影が要求される場合には、
次のように行う。２０４８×２０４８マトリクス画像中
の所望領域のみのを読み出すことにより、５１２×５１
２マトリクス画像を３０フレーム／sec で収集するもの
である。例えばＲＡＭ７ａには、読み出し信号Ｓ769 〜
Ｓ1280までが順次高レベルとなるデータが予め書き込ま
れ、また、ＲＡＭ７ｂには、スイッチ駆動信号ＳＹ769
〜ＳＹ1280が同時に高レベルとなるデータが予め書き込
まれるものとする。このデータの書き込みは、上記同様
モード切り換え時などに行う。アドレスクロックＢX の
入力に応じて、読み出し信号Ｓ769 〜Ｓ1280までが順次
高レベルとなり、これにより２次元固体検出器６より該
当する領域内の情報が順次読み出される。そして、アド
レスクロックＢY の入力に応じてスイッチ駆動信号ＳＹ
769 〜ＳＹ1280が同時に高レベルとなることから、積分
器群８、Ａ／Ｄ変換器群９及び演算部１０を介してメモ
リ１１に書き込まれているものは、５１２×５１２マト
リクス画像となる。しかも、５１２×５１２マトリクス
画像が３０フレーム／sec で収集できることから、小視
野かつ高速撮影が可能となる。この撮影モードにおいて
は撮影の所望部位以外のデータは不要となるので、この
不要領域の被検体部位にはＸ線が照射されないようにＸ
線ビームを規制するのが好ましい。Ｘ線ビームの規制は
例えば第７図に示すように、Ｘ線管ＸＴのＸ線曝射側に
配置されたＸ線スリット１５をＡ又はＢで示すように連
動制御することにより行われる。連動制御は次のように
行うことができる。Ｘ線管ＸＴと検出器１との間ＦＤＤ
の距離を、両者の機械的移動に追従して計数する距離メ
ータで測定する。Ｘ線スリット１５がＸ線管焦点位置か
らＤ1 の距離にあり、また、検出器１において５１２×
５１２なる領域の面積がＬ2 であれば、スリット開口幅
Ｗは次式によって求められるので、このＷに応じてＸ線
スリット１５を制御する。
る。第１図は本発明の一実施例たるＸ線診断装置のブロ
ック図である。同図ＸＴは被検体Ｐに向ってＸ線を曝射
するＸ線管、１は被検体Ｐを透過したＸ線を検出する検
出器である。この検出器１は被検体Ｐの透過Ｘ線情報を
画素単位で電気信号に変換して蓄積し、且つ、蓄積した
電気信号を画素単位で読み出し可能なものであり、被検
体Ｐを透過したＸ線を光に変換するシンチレータ（例え
ばCsＩ）２と、このシンチレータ２よりの光に応じて電
子を放出する光電体（例えばCs3 Sb) ３と、この光電体
３よりの電子を加速後に再び光に変換する螢光体（例え
ば（ZnCd)S) ５と、この螢光体５よりの光を電気信号に
変換して蓄積する２次元固体検出器６とを有して構成さ
れる。また、７は制御部であり透視モード，撮影モード
及び撮影部位に応じて前記検出器１の読み出しアドレス
を制御するものである。８はこの制御部７の制御によっ
て読み出された情報（電気信号）を積分する複数の積分
器より成る積分器群、９はこの積分器９の出力をディジ
タル信号に変換する複数のＡ／Ｄ（アナログ・ディジタ
ル）変換器より成るＡ／Ｄ変換器群、１０はこのＡ／Ｄ
変換器群９の出力を基に演算処理する演算部、１１はこ
の演算部１０の出力を記憶するメモリ、１２はこのメモ
リ１１の記憶内容を基に画像表示を行うモニタである。
ここに、前記２次元固体検出器６は、例えばその等価回
路を第２図に示すように、ダイオード１３ａとコンデン
サ１３ｂとの並列回路（１画素に相当）が２０４８個×
２０４８個整然と２次元的に配列され、且つ、画並列回
毎に薄膜トランジスタを用いたスイッチ１３ｃが直列接
続されて成るものであり、読み出し信号Ｓ1 〜Ｓ2048で
スイッチ１３ｃをオンさせることにより各画素毎の情報
Ｉ1 〜Ｉ2048を読み出すことができる。例えばこの２次
元固体検出器６は大面積ガラス基板の上に、薄膜蒸着技
術とＩＣプロセス技術とを駆使して作成されるものであ
る。次に、２次元固体検出器，制御部，積分器及びＡ／
Ｄ変換器の接続関係を第３図を基に説明する。第３図は
２次元固体検出器，制御部，積分器及びＡ／Ｄ変換器の
接続関係を示すブロック図である。制御部７は例えばＲ
ＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ）７ａ，７ｂを有し
て成るものである。ＲＡＭ７ａはアドレスクロックＢX
の入力に応じて読み出し信号Ｓ1 〜Ｓ2048を２次元固体
検出器６に出力するように成っており、また、ＲＡＭ７
ｂはアドレスクロックＢＹ の入力に応じてスイッチ駆
動信号ＳＹ1 〜ＳＹ2048を積分スイッチ１４−１〜１４
−２０４８に出力するように成っている。この積分スイ
ッチ１４−１〜１４−２０４８は前記２次元固体検出器
６の出力端に直列接続されたものであり、トランジスタ
などが適用される。積分スイッチ１４−１〜１４−２０
４８を介して出力される情報Ｉ1 〜Ｉ2048はそれぞれ積
分器８−１〜８−２０４８に入力され、次いでＡ／Ｄ変
換器９−１〜９−２０４８に入力されるように成ってい
る。次に、演算部の構成について第４図を基に説明す
る。第４図は本実施例における演算部の構成を示すブロ
ック図である。この演算部１０は、Ａ／Ｄ変換器９−１
〜９−２０４８に対応して配置されたラッチ回路と、こ
のラッチ回路４個毎の出力を加算する加算手段１０ａ
と、各ラッチ回路の出力又は加算手段１０ａの出力を選
択して出力するセレクタ１０ｂとを有して成る。尚、第
４図においては、ラッチ回路１０−１〜１０−２０４８
中１０−１〜１０−４のみを示す。次に、以上のように
構成される実施例装置の作用について第５図及び第６図
をも参照しながら説明する。第５図及び第６図は本実施
例装置の動作タイミング図である。Ｘ線管ＸＴより曝射
され、かつ、被検体Ｐを透過したＸ線が検出器１のシン
チレータ２に入射すると、入射したＸ線に応じてシンチ
レータ２が発光し、この発光に応じて光電体３より電子
が放出される。放出された電子は空間部４で加速され、
螢光体５に到達する。すると、螢光体５が発光し、この
発光による情報が２次元固体検出器６に蓄積される。２
次元固体検出器６よりの情報の読み出しは次のように行
われる。 〈透視モード〉透視モードにおいては、撮影の位置決め
を行う関係上、高速，広視野かつ高感度であることが望
ましい。そこで、この透視モードには、２０４８×２０
４８マトリクス画像を１６ピクセル加算することにより
５１２×５１２マトリクス画像とし、これを３２フレー
ム／sec で収集する加算高速モード（ＳＵＭ−ＨＳ）が
適用される。（第５図参照）。ＲＡＭ７ａには、読み出
し信号Ｓ1 〜Ｓ4 ，Ｓ5〜Ｓ8 ，Ｓ9 〜Ｓ12，…の如
く、４個の信号毎に同時に高レベルとなるデータが書き
込まれ、また、ＲＡＭ７ｂには、スイッチ駆動信号ＳＹ
1 〜ＳＹ2048が同時に高レベルとなるデータが書き込ま
れるものとする。この書き込みはモード切り換え時など
に行う。アドレスクロックＢX の入力に応じて、読み出
し信号Ｓ1 〜Ｓ4 ，Ｓ5 〜Ｓ8 ，Ｓ9 〜Ｓ12，…毎に順
次高レベルになる。すると、２次元固体検出器６のマト
リクス上４列毎の情報読み出しが行われる。この時、Ｒ
ＡＭ７ｂの出力たるスイッチ駆動信号ＳＹ1 〜ＳＹ2048
が同時に高レベルとなることから、各行のうちＳ1 〜Ｓ
4 に対応する画素の情報がそれぞれ行毎に加算されて出
力される。そして、積分器群８により積分され、Ａ／Ｄ
変換器９によりディジタル信号に変換された後、演算部
１０に入力される。演算部１０では、入力されたデータ
を先ずラッチ回路１０−１〜１０−２０４８でラッチ
し、ラッチ回路４個毎に配置された加算手段１０ａによ
りラッチ回路４個毎の加算処理を行う。そして加算処理
結果はセレクタ１０ｂを介してメモリ１１内に書き込ま
れる。ラッチ回路のラッチは１００ms前後の速度で行
う。５１２個のデータを書き込む毎にメモリアドレス信
号がリセットされ、次々と５１２×５１２の画像が収集
される。本モードによれば、大画面の多数画素から成る
画像に対して近傍の数画素毎に加算処理することによ
り、画素数を減少させることができるので、１枚の画像
を構成する１画素の収集速度を不変とすることにより、
画素を減少した分だけ収集時間を高速化できる。また、
画素の加算処理を行うことにより、低線量下でも十分な
感度が得られ、良好な画質が得られる。 〈撮影モード〉撮影モードにおいては、被検体の目的部
位の撮影を行う関係上、広ダイナミックレンジ，広視野
かつ高解像度であることが望ましい。そこで、このモー
ドには、２０４８×２０４８のマトリックス画像を２フ
レーム／sec で収集する高解像低速モード（ＨＲ−Ｌ
Ｓ）が適用される。（第６図参照）。ＲＡＭ７ａには、
読み出し信号Ｓ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 ，…の如く、順次高レベ
ルとなるデータが書き込まれ、また、ＲＡＭ７ｂには、
スイッチ駆動信号ＳＹ1 〜ＳＹ2048が同時に高レベルと
なるデータが書き込まれるものとする。この書き込みは
モード切り換え時などに行う。アドレスクロックＢX の
入力に応じて、読み出し信号Ｓ1 〜Ｓ2048が順次高レベ
ルになり、２次元固体検出器６より画素毎の情報が読み
出される。読み出された情報は積分器群８により積分さ
れ、Ａ／Ｄ変換器群９によりディジタル信号に変換され
た後、演算部１０に入力される。演算部１０では、入力
されたデータをラッチ回路１０−１〜１０−２０４８で
ラッチする。そして、各ラッチ回路にラッチされたデー
タは１００ｍsec 前後の速度で読み出され、メモリ１１
内に書き込まれる。これにより、２枚／sec で２０４８
×２０４８のマトリクス画像が収集される。本モードに
よれば、画素数が細かく、高解像度の画像が得られ、ま
た、線量に応じた広ダイナミックレンジを確保できる。
撮影モードにおいて、例えば撮影の所望部位が心臓など
のように、小視野かつ高速撮影が要求される場合には、
次のように行う。２０４８×２０４８マトリクス画像中
の所望領域のみのを読み出すことにより、５１２×５１
２マトリクス画像を３０フレーム／sec で収集するもの
である。例えばＲＡＭ７ａには、読み出し信号Ｓ769 〜
Ｓ1280までが順次高レベルとなるデータが予め書き込ま
れ、また、ＲＡＭ７ｂには、スイッチ駆動信号ＳＹ769
〜ＳＹ1280が同時に高レベルとなるデータが予め書き込
まれるものとする。このデータの書き込みは、上記同様
モード切り換え時などに行う。アドレスクロックＢX の
入力に応じて、読み出し信号Ｓ769 〜Ｓ1280までが順次
高レベルとなり、これにより２次元固体検出器６より該
当する領域内の情報が順次読み出される。そして、アド
レスクロックＢY の入力に応じてスイッチ駆動信号ＳＹ
769 〜ＳＹ1280が同時に高レベルとなることから、積分
器群８、Ａ／Ｄ変換器群９及び演算部１０を介してメモ
リ１１に書き込まれているものは、５１２×５１２マト
リクス画像となる。しかも、５１２×５１２マトリクス
画像が３０フレーム／sec で収集できることから、小視
野かつ高速撮影が可能となる。この撮影モードにおいて
は撮影の所望部位以外のデータは不要となるので、この
不要領域の被検体部位にはＸ線が照射されないようにＸ
線ビームを規制するのが好ましい。Ｘ線ビームの規制は
例えば第７図に示すように、Ｘ線管ＸＴのＸ線曝射側に
配置されたＸ線スリット１５をＡ又はＢで示すように連
動制御することにより行われる。連動制御は次のように
行うことができる。Ｘ線管ＸＴと検出器１との間ＦＤＤ
の距離を、両者の機械的移動に追従して計数する距離メ
ータで測定する。Ｘ線スリット１５がＸ線管焦点位置か
らＤ1 の距離にあり、また、検出器１において５１２×
５１２なる領域の面積がＬ2 であれば、スリット開口幅
Ｗは次式によって求められるので、このＷに応じてＸ線
スリット１５を制御する。
【０００８】
【数１】 尚、ＦＤＤの測定はレーザ光、超音波などを利用した距
離計測法を用いることができる。また、視野を５１２×
５１２に設定する前にスリット開口幅Ｗを決めるように
しても良い。例えば弱いＸ線を曝射しながら読み出し信
号Ｓ1024のみを高，低レベルに繰り返し、Ｙ方向にスリ
ットを絞って行く。この時スイッチ駆動信号ＳＹ769 及
びＳＹ1280は高レベルに設定しておく。そして、コンパ
レータによりＡ／Ｄ変換器の出力を“０”近傍の値と比
較すればスリットがこの２チャネルを横切った瞬間Ａ／
Ｄ変換器の出力は“０”となるので、これにより、Ｘ線
スリット１５の絞りを動かすモータを止めるようにすれ
ば良い。尚、Ｘ方向はＹ方向と同じに設定すれば良い。
このようにＸ線スリットを１５を制御してＸ線ビームを
規制することにより、不要領域へのＸ線照射を防ぐこと
ができる。このように本実施例装置にあっては、撮影部
位及び透視モード，撮影モードに応じてＸ線像の適切な
る可視化を行うことができる。
離計測法を用いることができる。また、視野を５１２×
５１２に設定する前にスリット開口幅Ｗを決めるように
しても良い。例えば弱いＸ線を曝射しながら読み出し信
号Ｓ1024のみを高，低レベルに繰り返し、Ｙ方向にスリ
ットを絞って行く。この時スイッチ駆動信号ＳＹ769 及
びＳＹ1280は高レベルに設定しておく。そして、コンパ
レータによりＡ／Ｄ変換器の出力を“０”近傍の値と比
較すればスリットがこの２チャネルを横切った瞬間Ａ／
Ｄ変換器の出力は“０”となるので、これにより、Ｘ線
スリット１５の絞りを動かすモータを止めるようにすれ
ば良い。尚、Ｘ方向はＹ方向と同じに設定すれば良い。
このようにＸ線スリットを１５を制御してＸ線ビームを
規制することにより、不要領域へのＸ線照射を防ぐこと
ができる。このように本実施例装置にあっては、撮影部
位及び透視モード，撮影モードに応じてＸ線像の適切な
る可視化を行うことができる。
【０００９】以上、本発明の実施例装置について説明し
たが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内で適宜に変形実施が可能であるの
はいうまでもない。例えば上記実施例ではＲＡＭを有し
て制御部７を構成したが、各モード毎に異なるデータを
記憶するＲＯＭ（リード・オンリ・メモリ）を有して構
成することもでき、また、シフトレジスタなどを有して
構成することも可能である。さらに、透視モードにおい
て、ＲＡＭの内容を４個おきに高レベルを出力するよう
にデータを書き込んでおけば、加算なしの５１２×５１
２マトリクス画像を得ることができる。この場合、欠損
画素を同一データあるいは近傍２点間の中間値で補間す
るのが好ましい。また、Ａ／Ｄ変換器群９の前段にアナ
ログ加算器を配置し、４個の積分器毎にその出力を加算
するようにしても良い。このようにすると、１台のＡ／
Ｄ変換器により順次切り換えてＡ／Ｄ変換することがで
きるのでハード的に有利となる。
たが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内で適宜に変形実施が可能であるの
はいうまでもない。例えば上記実施例ではＲＡＭを有し
て制御部７を構成したが、各モード毎に異なるデータを
記憶するＲＯＭ（リード・オンリ・メモリ）を有して構
成することもでき、また、シフトレジスタなどを有して
構成することも可能である。さらに、透視モードにおい
て、ＲＡＭの内容を４個おきに高レベルを出力するよう
にデータを書き込んでおけば、加算なしの５１２×５１
２マトリクス画像を得ることができる。この場合、欠損
画素を同一データあるいは近傍２点間の中間値で補間す
るのが好ましい。また、Ａ／Ｄ変換器群９の前段にアナ
ログ加算器を配置し、４個の積分器毎にその出力を加算
するようにしても良い。このようにすると、１台のＡ／
Ｄ変換器により順次切り換えてＡ／Ｄ変換することがで
きるのでハード的に有利となる。
【００１０】
【発明の効果】本願請求項１記載の発明によれば、読出
し手段は画素情報を読出し状態とする範囲を切替えるこ
とができるので、画素情報の読出し範囲を狭くすること
により高解像の撮像素子で高速なフレームレートの画像
を撮影をすることができる。また、この撮像範囲に連動
して絞りを駆動するので、不要領域へのＸ線曝射を少な
くすることができる。
し手段は画素情報を読出し状態とする範囲を切替えるこ
とができるので、画素情報の読出し範囲を狭くすること
により高解像の撮像素子で高速なフレームレートの画像
を撮影をすることができる。また、この撮像範囲に連動
して絞りを駆動するので、不要領域へのＸ線曝射を少な
くすることができる。
【００１１】本願請求項４記載の発明によれば、高速低
解像モード時に近接する複数画素の画素情報をアナログ
加算することによりＡ／Ｄ変換するデータの数を少なく
するため、安価なＡ／Ｄ変換器により高解像の撮像素子
で高速なフレームレートの画像を撮影することができ
る。
解像モード時に近接する複数画素の画素情報をアナログ
加算することによりＡ／Ｄ変換するデータの数を少なく
するため、安価なＡ／Ｄ変換器により高解像の撮像素子
で高速なフレームレートの画像を撮影することができ
る。
【図１】本発明の一実施例たるＸ線診断装置のブロック
図である。
図である。
【図２】本実施例装置における２次元固体検出器の等価
回路図である。
回路図である。
【図３】本実施例装置における２次元固体検出器，積分
器及びＡ／Ｄ変換器の接続関係を示すブロック図であ
る。
器及びＡ／Ｄ変換器の接続関係を示すブロック図であ
る。
【図４】本実施例装置における演算部の構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図５】本実施例装置の動作タイミング図である。
【図６】本実施例装置の動作タイミング図である。
【図７】本実施例装置におけるＸ線スリットの制御を説
明するための説明図である。
明するための説明図である。
１ 検出器、 ７ 制御部 １０ａ 加算手段 Ｐ 被検体。
Claims (4)
- 【請求項１】Ｘ線を被検体に曝射するＸ線発生手段と、 Ｘ線の曝射範囲を決定する絞り手段と、 光を電荷信号に変換して蓄積する複数の画素をマトリク
ス状に配置した撮像手段と、 前記画素に蓄積された電荷の読出しをライン毎に制御す
るものであり、読出し状態とするラインの範囲を切替え
る読出し手段と、 前記撮影手段の撮影範囲及び前記読出し手段を連動して
制御する手段を備えたことを特徴とするＸ線診断装置。 - 【請求項２】前記制御する手段は、前記Ｘ線の曝射範囲
と前記撮影手段の撮影範囲が一致するように制御するも
のであることを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装
置。 - 【請求項３】前記読出し手段は、フレームレートが速く
なった時に読出し状態とするラインの範囲を狭くするも
のであることを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装
置。 - 【請求項４】Ｘ線を被検体に曝射するＸ線発生手段と、 撮像面上に結像されるＸ線像を画素単位で撮像し、各画
素の情報を出力する撮像手段と、 前記画素の情報を読出す読出し手段と、 近接する画素の情報をアナログ加算することにより、１
画像当りの画像情報の数を少なくするアナログ加算手段
と、 低速高解像モード時には前記撮像手段の１画素に相当す
る画素情報をディジタル信号に変換し、高速高解像モー
ド時には前記アナログ加算手段により加算された複数画
素の加算結果をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器
と、 前記Ａ／Ｄ変換器の出力に基づく画像を記憶する記憶手
段と、 前記記憶手段に記憶された画像を表示する表示手段とを
備えたことを特徴とするＸ線診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7132583A JP2716949B2 (ja) | 1995-05-08 | 1995-05-08 | Ｘ線診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7132583A JP2716949B2 (ja) | 1995-05-08 | 1995-05-08 | Ｘ線診断装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60140559A Division JPH0628658B2 (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | Ｘ線診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0847491A true JPH0847491A (ja) | 1996-02-20 |
| JP2716949B2 JP2716949B2 (ja) | 1998-02-18 |
Family
ID=15084736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7132583A Expired - Lifetime JP2716949B2 (ja) | 1995-05-08 | 1995-05-08 | Ｘ線診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2716949B2 (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11197138A (ja) * | 1998-01-09 | 1999-07-27 | Canon Inc | 放射線画像撮影装置 |
| JP2001149353A (ja) * | 1999-11-26 | 2001-06-05 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線撮影装置 |
| JP2007101529A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-04-19 | Shimadzu Corp | Ｘ線検査装置 |
| JP2008529659A (ja) * | 2005-02-14 | 2008-08-07 | バリアン・メディカル・システムズ・テクノロジーズ・インコーポレイテッド | 複式モードの平面パネルｘ線撮像システム |
| EP2015106A2 (en) | 2007-07-09 | 2009-01-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging-control apparatus and method of controlling same |
| US7541594B2 (en) | 2005-11-30 | 2009-06-02 | Shimadzu Corporation | Image sensor, and imaging apparatus using the same |
| US8144206B2 (en) | 2006-02-17 | 2012-03-27 | Panasonic Corporation | Imaging apparatus adapted to perform normal imaging and high-speed imaging |
| JP2013258767A (ja) * | 2013-09-03 | 2013-12-26 | Canon Inc | 撮影制御装置及びその制御方法、撮影装置、並びに、プログラム |
| US10436723B2 (en) | 2014-06-05 | 2019-10-08 | Rigaku Corporation | X-ray diffractometer with multilayer reflection-type monochromator |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8550709B2 (en) | 2009-11-09 | 2013-10-08 | Fujifilm Corporation | Imaging area specifying apparatus, radiographic system, imaging area specifying method, radiographic apparatus, and imaging table |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60103876A (ja) * | 1983-11-11 | 1985-06-08 | Hitachi Ltd | ディジタル放射線像撮影装置 |
| JPS60120347A (ja) * | 1983-12-02 | 1985-06-27 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像情報記録読取方法および装置 |
-
1995
- 1995-05-08 JP JP7132583A patent/JP2716949B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60103876A (ja) * | 1983-11-11 | 1985-06-08 | Hitachi Ltd | ディジタル放射線像撮影装置 |
| JPS60120347A (ja) * | 1983-12-02 | 1985-06-27 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像情報記録読取方法および装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH11197138A (ja) * | 1998-01-09 | 1999-07-27 | Canon Inc | 放射線画像撮影装置 |
| JP2001149353A (ja) * | 1999-11-26 | 2001-06-05 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線撮影装置 |
| JP2008529659A (ja) * | 2005-02-14 | 2008-08-07 | バリアン・メディカル・システムズ・テクノロジーズ・インコーポレイテッド | 複式モードの平面パネルｘ線撮像システム |
| JP2007101529A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-04-19 | Shimadzu Corp | Ｘ線検査装置 |
| US7541594B2 (en) | 2005-11-30 | 2009-06-02 | Shimadzu Corporation | Image sensor, and imaging apparatus using the same |
| US8144206B2 (en) | 2006-02-17 | 2012-03-27 | Panasonic Corporation | Imaging apparatus adapted to perform normal imaging and high-speed imaging |
| EP2015106A2 (en) | 2007-07-09 | 2009-01-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging-control apparatus and method of controlling same |
| JP2009017484A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Canon Inc | 撮影制御装置及びその制御方法、並びに、プログラム |
| US7554070B2 (en) | 2007-07-09 | 2009-06-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging-control apparatus and method of controlling same |
| JP2013258767A (ja) * | 2013-09-03 | 2013-12-26 | Canon Inc | 撮影制御装置及びその制御方法、撮影装置、並びに、プログラム |
| US10436723B2 (en) | 2014-06-05 | 2019-10-08 | Rigaku Corporation | X-ray diffractometer with multilayer reflection-type monochromator |
| EP3147654B1 (en) * | 2014-06-05 | 2023-05-17 | Rigaku Corporation | X-ray diffractometer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2716949B2 (ja) | 1998-02-18 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |