JPH1144764A - Ｘ線固体平面検出器及び多方向ｘ線透視撮影装置 - Google Patents
Ｘ線固体平面検出器及び多方向ｘ線透視撮影装置Info
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- JPH1144764A JPH1144764A JP9201640A JP20164097A JPH1144764A JP H1144764 A JPH1144764 A JP H1144764A JP 9201640 A JP9201640 A JP 9201640A JP 20164097 A JP20164097 A JP 20164097A JP H1144764 A JPH1144764 A JP H1144764A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ある系におけるＸ線曝射によるＸ線画像デー
タ収集と、他の系におけるＸ線画像読出とを並行し、高
速読出ができるＸ線固体平面検出器、及び同検出器を用
いた多方向Ｘ線透視撮影装置を提供する。 【解決手段】 Ｃアーム３に設けられた第１Ｘ線管球７
及び第１Ｘ線固体平面検出器１１と、Ωアーム５に設け
られた第２Ｘ線管球９及び第２Ｘ線固体平面検出器１３
とで２方向Ｘ線透視撮影装置１が構成される。一方の系
のＸ線管球７（９）からＸ線が曝射され、これに対応す
るＸ線固体平面検出器１１（１３）でＸ線画像の検出が
終了したときに、保持信号５１（５３）が出力され、続
いてＸ線画像が読み出される。保持信号５１（５３）が
出力中は、他系のＸ線管球９（７）からＸ線が曝射さ
れ、その散乱Ｘ線等ががＸ線固体平面検出器１１（１
３）に入射しても、保持中のＸ線画像データは影響を受
けずに読み出すことができる。
タ収集と、他の系におけるＸ線画像読出とを並行し、高
速読出ができるＸ線固体平面検出器、及び同検出器を用
いた多方向Ｘ線透視撮影装置を提供する。 【解決手段】 Ｃアーム３に設けられた第１Ｘ線管球７
及び第１Ｘ線固体平面検出器１１と、Ωアーム５に設け
られた第２Ｘ線管球９及び第２Ｘ線固体平面検出器１３
とで２方向Ｘ線透視撮影装置１が構成される。一方の系
のＸ線管球７（９）からＸ線が曝射され、これに対応す
るＸ線固体平面検出器１１（１３）でＸ線画像の検出が
終了したときに、保持信号５１（５３）が出力され、続
いてＸ線画像が読み出される。保持信号５１（５３）が
出力中は、他系のＸ線管球９（７）からＸ線が曝射さ
れ、その散乱Ｘ線等ががＸ線固体平面検出器１１（１
３）に入射しても、保持中のＸ線画像データは影響を受
けずに読み出すことができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、検出面に多数のＸ
線検出素子が配列され、入射したＸ線の強度分布を画像
信号に変換するＸ線固体平面検出器、及び同検出器を用
いた医用または産業用の多方向Ｘ線透視撮影装置に係
り、特に、他系の散乱Ｘ線の影響を除去し高品質な画像
を得る技術に関する。
線検出素子が配列され、入射したＸ線の強度分布を画像
信号に変換するＸ線固体平面検出器、及び同検出器を用
いた医用または産業用の多方向Ｘ線透視撮影装置に係
り、特に、他系の散乱Ｘ線の影響を除去し高品質な画像
を得る技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】３次元立体の内部構造を診断または検査
するために、多方向から被検体にＸ線を曝射して、異な
る角度から透視画像を収集したりＸ線撮影する多方向Ｘ
線透視撮影システムが知られている。特に、２方向の装
置はバイプレーンＸ線透視撮影装置と呼ばれ、循環器
や、頭・腹部血管の撮影に用いられている。
するために、多方向から被検体にＸ線を曝射して、異な
る角度から透視画像を収集したりＸ線撮影する多方向Ｘ
線透視撮影システムが知られている。特に、２方向の装
置はバイプレーンＸ線透視撮影装置と呼ばれ、循環器
や、頭・腹部血管の撮影に用いられている。
【０００３】例えば、従来のバイプレーンＸ線透視撮影
装置は、図８に要部外観図を示すように、２つのＸ線源
と、それぞれのＸ線源に対応したイメージインテンシフ
ァイヤ（以下、Ｉ．Ｉ．と略す）−ＴＶカメラ系を備え
て構成され、対応するＸ線源とＩ．Ｉ．とを結ぶ線は、
関心領域の内部で交わるように配置されている。
装置は、図８に要部外観図を示すように、２つのＸ線源
と、それぞれのＸ線源に対応したイメージインテンシフ
ァイヤ（以下、Ｉ．Ｉ．と略す）−ＴＶカメラ系を備え
て構成され、対応するＸ線源とＩ．Ｉ．とを結ぶ線は、
関心領域の内部で交わるように配置されている。
【０００４】Ｉ．Ｉ．は、図９にその模式断面図を示す
ように、入射Ｘ線を可視光の画像に変換する入力蛍光面
と、この可視光の画像の光の強度分布を光電子放出密度
分布に変換するとともに陰極電位が与えられる光電変換
膜と、光電変換膜から放出された電子ビームを加速する
加速電界を与える陽極と、電子ビームを出力蛍光面に集
束させる集束電極と、加速された電子ビームが入射して
再び光学像に変換される出力蛍光面とを備えている。そ
して出力蛍光面に形成された光学像は、入力蛍光面の光
学像より数千倍の輝度に増幅される。この輝度増幅され
た画像は、テレビカメラを通じてモニタ装置に映し出し
たり、画像記録装置に記録される。
ように、入射Ｘ線を可視光の画像に変換する入力蛍光面
と、この可視光の画像の光の強度分布を光電子放出密度
分布に変換するとともに陰極電位が与えられる光電変換
膜と、光電変換膜から放出された電子ビームを加速する
加速電界を与える陽極と、電子ビームを出力蛍光面に集
束させる集束電極と、加速された電子ビームが入射して
再び光学像に変換される出力蛍光面とを備えている。そ
して出力蛍光面に形成された光学像は、入力蛍光面の光
学像より数千倍の輝度に増幅される。この輝度増幅され
た画像は、テレビカメラを通じてモニタ装置に映し出し
たり、画像記録装置に記録される。
【０００５】このような多方向Ｘ線透視撮影装置におい
て、複数のＸ線管球から被検体に対して同時にＸ線を曝
射すると、散乱Ｘ線が互いに他のＩ．Ｉ．に入射して、
Ｘ線画像のＳ／Ｎ比低下を招く。
て、複数のＸ線管球から被検体に対して同時にＸ線を曝
射すると、散乱Ｘ線が互いに他のＩ．Ｉ．に入射して、
Ｘ線画像のＳ／Ｎ比低下を招く。
【０００６】このため、Ｉ．Ｉ．−ＴＶカメラ系を採用
した多方向Ｘ線透視撮影装置では、互いにタイミングを
ずらした交互のＸ線パルス照射として、ある系が透視ま
たは撮影中は、他の系のＩ．Ｉ．に供給される集束電圧
をＯＦＦまたは逆バイアスとして（Ｉ．Ｉ．ブランキン
グ機能と呼ばれている）散乱線による雑音を防止してい
る。
した多方向Ｘ線透視撮影装置では、互いにタイミングを
ずらした交互のＸ線パルス照射として、ある系が透視ま
たは撮影中は、他の系のＩ．Ｉ．に供給される集束電圧
をＯＦＦまたは逆バイアスとして（Ｉ．Ｉ．ブランキン
グ機能と呼ばれている）散乱線による雑音を防止してい
る。
【０００７】一方、半導体を利用したＸ線固体平面検出
器が米国特許：ＵＳＰ４６８９４８７（間接変換方式）
や、ＵＳＰ５３１９２０６（直接変換方式）により提案
されている。
器が米国特許：ＵＳＰ４６８９４８７（間接変換方式）
や、ＵＳＰ５３１９２０６（直接変換方式）により提案
されている。
【０００８】間接変換方式のＸ線固体平面検出器は、Ｘ
線の強度分布をヨウ化カリウム（ＣｓＩ）結晶などの蛍
光体により光の強度分布に変換し、この光を例えば図１
０の符号１４０に示すフォトダイオード・アレイ等の電
荷変換手段により画素毎の電荷に変換し、画素対応に設
けられた信号蓄積用容量（同図符号１４２）に蓄積した
後、読出手段により読み出される。
線の強度分布をヨウ化カリウム（ＣｓＩ）結晶などの蛍
光体により光の強度分布に変換し、この光を例えば図１
０の符号１４０に示すフォトダイオード・アレイ等の電
荷変換手段により画素毎の電荷に変換し、画素対応に設
けられた信号蓄積用容量（同図符号１４２）に蓄積した
後、読出手段により読み出される。
【０００９】直接変換方式のＸ線固体平面検出器は、例
えば、図１１、図１２に示すように、高電界下のセレン
（Ｓｅ）等の半導体である電荷変換手段へのＸ線の入射
が電子−正孔対を生成し、この電荷が画素毎に設けられ
た信号蓄積用容量に蓄積されて読出手段により読み出さ
れる。
えば、図１１、図１２に示すように、高電界下のセレン
（Ｓｅ）等の半導体である電荷変換手段へのＸ線の入射
が電子−正孔対を生成し、この電荷が画素毎に設けられ
た信号蓄積用容量に蓄積されて読出手段により読み出さ
れる。
【００１０】いずれの変換方式も読出手段はほぼ同様で
あり、例えば、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ・ＭＯＳトラ
ンジスタ）マトリックスと、チャージアンプ、マルチプ
レクサＡ／Ｄ変換器等によりディジタル信号として読み
出される。
あり、例えば、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ・ＭＯＳトラ
ンジスタ）マトリックスと、チャージアンプ、マルチプ
レクサＡ／Ｄ変換器等によりディジタル信号として読み
出される。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
Ｘ線固体平面検出器を用いて多方向Ｘ線透視撮影装置を
構成すると、Ｉ．Ｉ．系のようなブランキング機能が使
えないため、一つの系がＸ線曝射中に他の系が蓄積信号
を読み出すという曝射と読出のインターリーブができ
ず、高速読出すなわち繰り返し間隔の短い透視や撮影が
できないという問題点があった。
Ｘ線固体平面検出器を用いて多方向Ｘ線透視撮影装置を
構成すると、Ｉ．Ｉ．系のようなブランキング機能が使
えないため、一つの系がＸ線曝射中に他の系が蓄積信号
を読み出すという曝射と読出のインターリーブができ
ず、高速読出すなわち繰り返し間隔の短い透視や撮影が
できないという問題点があった。
【００１２】すなわち曝射と読出のインターリーブを行
うと、一つの系のＸ線曝射により発生した散乱Ｘ線が読
出中の他系の検出器へ入射し、この散乱Ｘ線により発生
した電荷が蓄積信号に雑音成分として重畳され、画像の
Ｓ／Ｎ比が低下してしまうという問題点があった。
うと、一つの系のＸ線曝射により発生した散乱Ｘ線が読
出中の他系の検出器へ入射し、この散乱Ｘ線により発生
した電荷が蓄積信号に雑音成分として重畳され、画像の
Ｓ／Ｎ比が低下してしまうという問題点があった。
【００１３】これを回避するために、信号読出が終了し
てから他方向のＸ線曝射を行う低速読み出し方法がある
が、曝射・読出サイクルが伸延し、方向毎に画像収集時
間のズレが生じて、血管造影等の高速に変化する被検体
の診断に有用でなくなってしまうため使えない。
てから他方向のＸ線曝射を行う低速読み出し方法がある
が、曝射・読出サイクルが伸延し、方向毎に画像収集時
間のズレが生じて、血管造影等の高速に変化する被検体
の診断に有用でなくなってしまうため使えない。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に以下の手段を用いる。すなわち請求項１に記載の発明
は、検出面に配列された複数の画素の各画素に対応して
設けられ、入射した電磁波を電荷に変換する複数の電荷
変換手段と、この各電荷変換手段に対応して設けられ、
該電荷変換手段により変換された電荷を蓄積する複数の
信号蓄積用容量と、この各信号蓄積用容量に対応して設
けられ、該信号蓄積用容量により蓄積された電荷の少な
くとも一部を一時保持する複数の電荷保持用容量と、こ
の各電荷保持用容量に対応して設けられ、前記信号蓄積
用容量と該電荷保持用容量とを任意に断続する複数のス
イッチング手段と、前記電荷保持用容量から各画素に対
応する電荷信号を読み出す信号読出手段と、を備えたこ
とを要旨とするＸ線固体平面検出器である。
に以下の手段を用いる。すなわち請求項１に記載の発明
は、検出面に配列された複数の画素の各画素に対応して
設けられ、入射した電磁波を電荷に変換する複数の電荷
変換手段と、この各電荷変換手段に対応して設けられ、
該電荷変換手段により変換された電荷を蓄積する複数の
信号蓄積用容量と、この各信号蓄積用容量に対応して設
けられ、該信号蓄積用容量により蓄積された電荷の少な
くとも一部を一時保持する複数の電荷保持用容量と、こ
の各電荷保持用容量に対応して設けられ、前記信号蓄積
用容量と該電荷保持用容量とを任意に断続する複数のス
イッチング手段と、前記電荷保持用容量から各画素に対
応する電荷信号を読み出す信号読出手段と、を備えたこ
とを要旨とするＸ線固体平面検出器である。
【００１５】また、請求項２に記載の発明は、検出面に
配列された複数の画素の各画素に対応して設けられ、入
射した電磁波を電荷に変換する複数の電荷変換手段と、
この各電荷変換手段に対応して設けられ、該電荷変換手
段により変換された電荷を蓄積する複数の信号蓄積用容
量と、この各信号蓄積用容量に対応して設けられ、前記
電荷変換手段から該信号蓄積用容量への電荷転送を任意
に断続する複数のスイッチング手段と、前記信号蓄積用
容量から各画素に対応する電荷信号を読み出す信号読出
手段と、を備えたことを要旨とするＸ線固体平面検出器
である。
配列された複数の画素の各画素に対応して設けられ、入
射した電磁波を電荷に変換する複数の電荷変換手段と、
この各電荷変換手段に対応して設けられ、該電荷変換手
段により変換された電荷を蓄積する複数の信号蓄積用容
量と、この各信号蓄積用容量に対応して設けられ、前記
電荷変換手段から該信号蓄積用容量への電荷転送を任意
に断続する複数のスイッチング手段と、前記信号蓄積用
容量から各画素に対応する電荷信号を読み出す信号読出
手段と、を備えたことを要旨とするＸ線固体平面検出器
である。
【００１６】また、請求項３に記載の発明は、請求項１
または請求項２に記載のＸ線固体平面検出器において、
前記複数のスイッチング手段のそれぞれは、薄膜トラン
ジスタであることを要旨とする。
または請求項２に記載のＸ線固体平面検出器において、
前記複数のスイッチング手段のそれぞれは、薄膜トラン
ジスタであることを要旨とする。
【００１７】また、請求項４に記載の発明は、検出面に
配列された複数の画素の各画素に対応して設けられ、入
射した電磁波を電荷に変換する複数の電荷変換手段と、
この各電荷変換手段に対応して設けられ、該電荷変換手
段により変換された電荷を蓄積する複数の信号蓄積用容
量と、該信号蓄積用容量から各画素に対応する電荷信号
を読み出す信号読出手段と、前記電荷変換手段に供給さ
れるバイアス電圧を任意に断続するバイアス電圧制御手
段と、を備えたことを要旨とするＸ線固体平面検出器で
ある。
配列された複数の画素の各画素に対応して設けられ、入
射した電磁波を電荷に変換する複数の電荷変換手段と、
この各電荷変換手段に対応して設けられ、該電荷変換手
段により変換された電荷を蓄積する複数の信号蓄積用容
量と、該信号蓄積用容量から各画素に対応する電荷信号
を読み出す信号読出手段と、前記電荷変換手段に供給さ
れるバイアス電圧を任意に断続するバイアス電圧制御手
段と、を備えたことを要旨とするＸ線固体平面検出器で
ある。
【００１８】また、請求項５に記載の発明は、複数のＸ
線発生手段と、これらのＸ線発生手段の各々に対応して
設けられた請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記
載の複数のＸ線固体平面検出器と、前記複数のＸ線発生
手段のいずれか１つがＸ線を発生する際に、残りのＸ線
発生手段にそれぞれ対応するＸ線固体平面検出器の検出
信号がこのＸ線の影響を受けないように制御する干渉防
止制御回路と、を備えたことを要旨とする多方向Ｘ線透
視撮影装置である。
線発生手段と、これらのＸ線発生手段の各々に対応して
設けられた請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記
載の複数のＸ線固体平面検出器と、前記複数のＸ線発生
手段のいずれか１つがＸ線を発生する際に、残りのＸ線
発生手段にそれぞれ対応するＸ線固体平面検出器の検出
信号がこのＸ線の影響を受けないように制御する干渉防
止制御回路と、を備えたことを要旨とする多方向Ｘ線透
視撮影装置である。
【００１９】［作用］上記構成の本発明によれば、Ｘ線
固体平面検出器に他のＸ線源からの散乱線が入射しても
信号電荷に変化が生じない状態を持たせることができ、
この検出器を用いた多方向Ｘ線透視撮影装置におけるブ
ランキング機能を実現し、ある方向からのＸ線曝射と他
の方向の検出器の信号電荷読出とを同時に実行する高速
読出ができるようになる。
固体平面検出器に他のＸ線源からの散乱線が入射しても
信号電荷に変化が生じない状態を持たせることができ、
この検出器を用いた多方向Ｘ線透視撮影装置におけるブ
ランキング機能を実現し、ある方向からのＸ線曝射と他
の方向の検出器の信号電荷読出とを同時に実行する高速
読出ができるようになる。
【００２０】
【発明の実施の形態】次に図面を参照して、本発明の実
施の形態を詳細に説明する。図１（ａ）は、本発明に係
る多方向Ｘ線透視撮影装置の実施形態としての２方向Ｘ
線透視撮影装置の要部外観図であり、同図（ｂ）は、回
路構成図である。
施の形態を詳細に説明する。図１（ａ）は、本発明に係
る多方向Ｘ線透視撮影装置の実施形態としての２方向Ｘ
線透視撮影装置の要部外観図であり、同図（ｂ）は、回
路構成図である。
【００２１】図１（ａ）によれば、２方向Ｘ線透視撮影
装置１は、床置きのＣアーム３と、天井走行のΩアーム
５と、図示されない寝台装置および制御装置とを備えて
構成されている。
装置１は、床置きのＣアーム３と、天井走行のΩアーム
５と、図示されない寝台装置および制御装置とを備えて
構成されている。
【００２２】Ｃアーム３の両端部には、第１のＸ線源で
ある第１Ｘ線管球７と、第１Ｘ線固体平面検出器（以
下、第１検出器と省略する）１１とが対向するように設
けられている。第１Ｘ線管球７から図示されない被検体
に向けて曝射されたＸ線は、第１検出器１１により検出
される。
ある第１Ｘ線管球７と、第１Ｘ線固体平面検出器（以
下、第１検出器と省略する）１１とが対向するように設
けられている。第１Ｘ線管球７から図示されない被検体
に向けて曝射されたＸ線は、第１検出器１１により検出
される。
【００２３】同様に、Ωアーム５の両端部には、第２の
Ｘ線源である第２Ｘ線管球９と、第２Ｘ線固体平面検出
器（以下、第２検出器と省略する）１３とが対向するよ
うに設けられている。第２Ｘ線管球９から被検体に向け
て曝射されたＸ線は、第２検出器１３により検出され
る。
Ｘ線源である第２Ｘ線管球９と、第２Ｘ線固体平面検出
器（以下、第２検出器と省略する）１３とが対向するよ
うに設けられている。第２Ｘ線管球９から被検体に向け
て曝射されたＸ線は、第２検出器１３により検出され
る。
【００２４】図１（ｂ）には、２方向Ｘ線透視撮影装置
１の概略回路構成が示されている。概略回路構成の観点
からみれば、２方向Ｘ線透視撮影装置１は、第１、第２
Ｘ線管球７、９と、管球駆動部１５と、第１、第２検出
器１１、１３と、検出器アダプタ１７、１９と、制御部
２１とを備えて構成されている。
１の概略回路構成が示されている。概略回路構成の観点
からみれば、２方向Ｘ線透視撮影装置１は、第１、第２
Ｘ線管球７、９と、管球駆動部１５と、第１、第２検出
器１１、１３と、検出器アダプタ１７、１９と、制御部
２１とを備えて構成されている。
【００２５】管球駆動部１５は、Ｘ線管球を駆動するた
めの電源装置を含み、制御部２１からの指示に従って、
それぞれ後述されるＸ線曝射タイミングで第１、第２Ｘ
線管球７、９から被検体に向けてパルスＸ線を曝射させ
る。
めの電源装置を含み、制御部２１からの指示に従って、
それぞれ後述されるＸ線曝射タイミングで第１、第２Ｘ
線管球７、９から被検体に向けてパルスＸ線を曝射させ
る。
【００２６】検出器アダプタ１７、１９は、それぞれ第
１、第２検出器１１、１３と、制御部２１とのインター
フェースをとり、これら検出器の制御を仲介するととも
に、検出器で検出されたＸ線画像を制御部２１へ送り出
すものである。
１、第２検出器１１、１３と、制御部２１とのインター
フェースをとり、これら検出器の制御を仲介するととも
に、検出器で検出されたＸ線画像を制御部２１へ送り出
すものである。
【００２７】制御部２１は、２方向Ｘ線透視撮影装置１
の全体制御および透視または撮影Ｘ線画像の処理、表示
および記憶を行うものであり、大容量磁気記憶装置（以
下、ＤＩＳＣと略す）２３、メモリ２５、ＣＰＵ２７、
ＣＲＴおよびキーボード（以下、ＫＢと略す）を備えた
コンソール２９、ネットワーク・インタフェース（以
下、Ｎ／Ｗ−Ｉ／Ｆと略す）３１、Ｃアーム制御部３
３、Ωアーム制御部３５、画像バス３７、及び制御バス
３９を備えて構成されている。
の全体制御および透視または撮影Ｘ線画像の処理、表示
および記憶を行うものであり、大容量磁気記憶装置（以
下、ＤＩＳＣと略す）２３、メモリ２５、ＣＰＵ２７、
ＣＲＴおよびキーボード（以下、ＫＢと略す）を備えた
コンソール２９、ネットワーク・インタフェース（以
下、Ｎ／Ｗ−Ｉ／Ｆと略す）３１、Ｃアーム制御部３
３、Ωアーム制御部３５、画像バス３７、及び制御バス
３９を備えて構成されている。
【００２８】ＣＰＵ２７は、制御部２１全体を制御する
とともに画像処理を行うプロセッサであり、ＤＩＳＣ２
３に記憶された処理プログラムをメモリ２５上に展開し
て実行することによりその機能を実現する。ＤＩＳＣ２
３は、ＣＰＵ２７の処理プログラムを格納するととも
に、多数の画像データを記憶することができる大容量記
憶装置である。
とともに画像処理を行うプロセッサであり、ＤＩＳＣ２
３に記憶された処理プログラムをメモリ２５上に展開し
て実行することによりその機能を実現する。ＤＩＳＣ２
３は、ＣＰＵ２７の処理プログラムを格納するととも
に、多数の画像データを記憶することができる大容量記
憶装置である。
【００２９】メモリ２５は、ＤＩＳＣ２３に記憶された
処理プログラムがその上に展開されて実行されるととも
に、検出器アダプタ１７、１９を介して得られた画像デ
ータまたはＤＩＳＣから読み出されたデータ等が展開さ
れ、これらのデータがＣＰＵ２７による処理を受ける。
処理プログラムがその上に展開されて実行されるととも
に、検出器アダプタ１７、１９を介して得られた画像デ
ータまたはＤＩＳＣから読み出されたデータ等が展開さ
れ、これらのデータがＣＰＵ２７による処理を受ける。
【００３０】コンソール２９は、オペレータから２方向
Ｘ線透視撮影装置１への指示入力のためのＫＢ、および
２方向Ｘ線透視撮影装置１からオペレータへの通知や、
各方向のＸ線画像を同時に表示できるＣＲＴを備えてい
る。
Ｘ線透視撮影装置１への指示入力のためのＫＢ、および
２方向Ｘ線透視撮影装置１からオペレータへの通知や、
各方向のＸ線画像を同時に表示できるＣＲＴを備えてい
る。
【００３１】Ｎ／Ｗ−Ｉ／Ｆ３１は、２方向Ｘ線透視撮
影装置１と病院内ＬＡＮ等のネットワークとの接続の為
のインタフェースであり、Ｘ線検査室から離れた画像ワ
ークステーションにおける画像診断や画像データベース
へ画像データを登録するために画像データを転送するこ
とができる。
影装置１と病院内ＬＡＮ等のネットワークとの接続の為
のインタフェースであり、Ｘ線検査室から離れた画像ワ
ークステーションにおける画像診断や画像データベース
へ画像データを登録するために画像データを転送するこ
とができる。
【００３２】Ｃアーム制御部３３およびΩアーム制御部
３５は、Ｃアーム３、Ωアーム５のそれぞれの可動部制
御およびＣアーム３とΩアーム５と間の干渉を未然に防
ぐ制御を行う。画像バス３７および制御バス３９は、そ
れぞれ画像データおよび制御情報の伝送のためのバスで
ある。
３５は、Ｃアーム３、Ωアーム５のそれぞれの可動部制
御およびＣアーム３とΩアーム５と間の干渉を未然に防
ぐ制御を行う。画像バス３７および制御バス３９は、そ
れぞれ画像データおよび制御情報の伝送のためのバスで
ある。
【００３３】［Ｘ線固体平面検出器の第１実施形態］次
に、図１の２方向Ｘ線透視撮影装置１に用いられるＸ線
固体平面検出器９、１１の第１実施の形態を説明する。
図２は、本発明に係るＸ線固体平面検出器の第１実施形
態を示す回路構成図である。このＸ線固体平面検出器
は、直接変換方式のＸ線固体平面検出器であり、例え
ば、それぞれ略正方形の２０００×２０００画素が正方
形に配列されている。
に、図１の２方向Ｘ線透視撮影装置１に用いられるＸ線
固体平面検出器９、１１の第１実施の形態を説明する。
図２は、本発明に係るＸ線固体平面検出器の第１実施形
態を示す回路構成図である。このＸ線固体平面検出器
は、直接変換方式のＸ線固体平面検出器であり、例え
ば、それぞれ略正方形の２０００×２０００画素が正方
形に配列されている。
【００３４】それぞれの画素は、入射したＸ線を電荷に
変換するセレンを用いたＸ線電荷変換膜Ｓｅと、このＸ
線電荷変換膜Ｓｅで変換された電荷を蓄積する信号蓄積
容量Ｃｓと、信号保持用容量Ｃｈと、信号蓄積容量Ｃｓ
及び信号保持用容量Ｃｈを任意に断続するためのスイッ
チ作用を行う第１のＴＦＴであるＴＦＴａと、信号保持
用容量Ｃｈから信号を読み出すスイッチ作用を行う第２
のＴＦＴであるＴＦＴｂとを備えて構成されている。
変換するセレンを用いたＸ線電荷変換膜Ｓｅと、このＸ
線電荷変換膜Ｓｅで変換された電荷を蓄積する信号蓄積
容量Ｃｓと、信号保持用容量Ｃｈと、信号蓄積容量Ｃｓ
及び信号保持用容量Ｃｈを任意に断続するためのスイッ
チ作用を行う第１のＴＦＴであるＴＦＴａと、信号保持
用容量Ｃｈから信号を読み出すスイッチ作用を行う第２
のＴＦＴであるＴＦＴｂとを備えて構成されている。
【００３５】なお、Ｘ線電荷変換膜Ｓｅは、各画素毎に
孤立したものでなく、図１１に示したようにＸ線固体平
面検出器の全面に一体として設けてもよい。Ｘ線電荷変
換膜Ｓｅの上面には、各画素共通の表面電極が設けら
れ、この表面電極は高圧電源の正極に接続されている。
高圧電源の負極は共通電位に接続（接地）されている。
Ｘ線電荷変換膜Ｓｅの下面の電極は、信号蓄積容量Ｃｓ
の一方の電極に接続され、信号蓄積容量Ｃｓの他方の電
極は接地されている。
孤立したものでなく、図１１に示したようにＸ線固体平
面検出器の全面に一体として設けてもよい。Ｘ線電荷変
換膜Ｓｅの上面には、各画素共通の表面電極が設けら
れ、この表面電極は高圧電源の正極に接続されている。
高圧電源の負極は共通電位に接続（接地）されている。
Ｘ線電荷変換膜Ｓｅの下面の電極は、信号蓄積容量Ｃｓ
の一方の電極に接続され、信号蓄積容量Ｃｓの他方の電
極は接地されている。
【００３６】また信号蓄積容量Ｃｓの一方の電極は、Ｔ
ＦＴａのドレインに接続され、ＴＦＴａのソースは信号
保持用容量Ｃｈの一方の電極に接続されている。信号保
持用容量Ｃｈの他方の電極は接地されている。ＴＦＴａ
のソースと信号保持用容量Ｃｈの電極との接続点にはＴ
ＦＴｂのドレインが接続され、ＴＦＴｂのソースはアン
プ、マルチプレクサを介して出力端子へ接続されてい
る。
ＦＴａのドレインに接続され、ＴＦＴａのソースは信号
保持用容量Ｃｈの一方の電極に接続されている。信号保
持用容量Ｃｈの他方の電極は接地されている。ＴＦＴａ
のソースと信号保持用容量Ｃｈの電極との接続点にはＴ
ＦＴｂのドレインが接続され、ＴＦＴｂのソースはアン
プ、マルチプレクサを介して出力端子へ接続されてい
る。
【００３７】以上の画素毎の構成要素のうち、ＴＦＴａ
と、信号保持用容量Ｃｈが本発明により追加された構成
要素であり、その他の構成要素は従来のＸ線固体平面検
出器と同様である。すなわち、ＴＦＴａと信号保持用容
量Ｃｈとを削除し、ＴＦＴｂを直接ＳｅとＣｓとの接続
点に接続すれば、従来の画素構成と同じとなる。
と、信号保持用容量Ｃｈが本発明により追加された構成
要素であり、その他の構成要素は従来のＸ線固体平面検
出器と同様である。すなわち、ＴＦＴａと信号保持用容
量Ｃｈとを削除し、ＴＦＴｂを直接ＳｅとＣｓとの接続
点に接続すれば、従来の画素構成と同じとなる。
【００３８】画素外の構成要素としては、水平方向の画
素ライン毎にＴＦＴｂを駆動する読み出し用のライン・
ドライバと、全画素のＴＦＴｂを同時に駆動して蓄積電
荷を放電（リセット）させるライン毎のリセット信号ド
ライブ用ＴＦＴｃと、全画素同時にＴＦＴａを導通させ
るためにＴＦＴａ同時駆動信号を増幅するＴＦＴｄとを
備えている。
素ライン毎にＴＦＴｂを駆動する読み出し用のライン・
ドライバと、全画素のＴＦＴｂを同時に駆動して蓄積電
荷を放電（リセット）させるライン毎のリセット信号ド
ライブ用ＴＦＴｃと、全画素同時にＴＦＴａを導通させ
るためにＴＦＴａ同時駆動信号を増幅するＴＦＴｄとを
備えている。
【００３９】次に、図３のタイムチャートを参照して、
本第１の実施形態のＸ線固体平面検出器を用いた２方向
Ｘ線透視撮影装置の動作を説明する。この２方向Ｘ線透
視撮影装置は、図３（ａ）、（ｂ）に示すように、第１
のＸ線管球７からの曝射（第１曝射）と、第２のＸ線管
球９からの曝射（第２曝射）が交互に行われるものであ
り、一方向の曝射後の検出器読出中に、他方向の曝射が
行われ、いわゆる高速読出が行われている。
本第１の実施形態のＸ線固体平面検出器を用いた２方向
Ｘ線透視撮影装置の動作を説明する。この２方向Ｘ線透
視撮影装置は、図３（ａ）、（ｂ）に示すように、第１
のＸ線管球７からの曝射（第１曝射）と、第２のＸ線管
球９からの曝射（第２曝射）が交互に行われるものであ
り、一方向の曝射後の検出器読出中に、他方向の曝射が
行われ、いわゆる高速読出が行われている。
【００４０】この装置における第１の系の動作に着目す
れば、それぞれステップＳ１からステップＳ４までの４
ステップの動作を繰り返す。まず、第１曝射中は、第１
検出器１１の各画素は、Ｘ線をＳｅで変換した電荷をＣ
ｓに蓄積する（ステップＳ１）。
れば、それぞれステップＳ１からステップＳ４までの４
ステップの動作を繰り返す。まず、第１曝射中は、第１
検出器１１の各画素は、Ｘ線をＳｅで変換した電荷をＣ
ｓに蓄積する（ステップＳ１）。
【００４１】次いで、第１曝射が終了すると、各画素の
ＴＦＴａを短時間だけ導通させてＣｓに蓄積された電荷
をＣｈに分配する（ステップＳ２）。この後ＴＦＴａを
再び非道通の状態に戻すことにより、ＣｓとＣｈとは絶
縁され、第２曝射による電荷がＣｓに蓄積されても、読
出待ちのＣｈに保持された電荷量には変化が生じること
はない。
ＴＦＴａを短時間だけ導通させてＣｓに蓄積された電荷
をＣｈに分配する（ステップＳ２）。この後ＴＦＴａを
再び非道通の状態に戻すことにより、ＣｓとＣｈとは絶
縁され、第２曝射による電荷がＣｓに蓄積されても、読
出待ちのＣｈに保持された電荷量には変化が生じること
はない。
【００４２】次いで、各ライン毎にラインドライバから
ＴＦＴｂを駆動し、読出アンプ、マルチプレクサを介し
て画素のＣｈに保持された電荷をチャージアンプおよび
マルチプレクサにより読出す（ステップＳ３）。この読
出は順次全ラインに対して行われるとともに、並行して
第２曝射が行われる。このとき、第２曝射による電荷が
Ｓｅに発生しＣｓに蓄積されても、ＴＦＴａがＯＦＦ状
態であるので、Ｃｈに蓄積された電荷に変化が生じるこ
とはなく、散乱Ｘ線の影響による画像のＳ／Ｎ比低下を
防止した鮮明なＸ線画像を得ることができる。
ＴＦＴｂを駆動し、読出アンプ、マルチプレクサを介し
て画素のＣｈに保持された電荷をチャージアンプおよび
マルチプレクサにより読出す（ステップＳ３）。この読
出は順次全ラインに対して行われるとともに、並行して
第２曝射が行われる。このとき、第２曝射による電荷が
Ｓｅに発生しＣｓに蓄積されても、ＴＦＴａがＯＦＦ状
態であるので、Ｃｈに蓄積された電荷に変化が生じるこ
とはなく、散乱Ｘ線の影響による画像のＳ／Ｎ比低下を
防止した鮮明なＸ線画像を得ることができる。
【００４３】次いで、第２曝射の散乱Ｘ線等による蓄積
電荷をリセットして次の第１曝射によるＸ線画像検出に
備えるため、ＴＦＴａとＴＦＴｂとを全画素同時にＯＮ
して電荷を吐き出す（ステップＳ４）。以上のステップ
Ｓ１からステップＳ４までの４ステップの動作を繰り返
すことにより、時間間隔の短い高速の透視ができること
になる。
電荷をリセットして次の第１曝射によるＸ線画像検出に
備えるため、ＴＦＴａとＴＦＴｂとを全画素同時にＯＮ
して電荷を吐き出す（ステップＳ４）。以上のステップ
Ｓ１からステップＳ４までの４ステップの動作を繰り返
すことにより、時間間隔の短い高速の透視ができること
になる。
【００４４】第２のＸ線固体平面検出器１３（第２検出
器）も第１検出器と同様の動作を半サイクル遅れたタイ
ミングで繰り返す。
器）も第１検出器と同様の動作を半サイクル遅れたタイ
ミングで繰り返す。
【００４５】［Ｘ線固体平面検出器の第２実施形態］次
に、図１の２方向Ｘ線透視撮影装置１に用いられるＸ線
固体平面検出器９、１１の第２実施の形態を説明する。
図４は、本発明に係るＸ線固体平面検出器の第２実施形
態を示す回路構成図である。このＸ線固体平面検出器
は、間接変換方式のＸ線固体平面検出器であり、Ｘ線の
空間分布を可視光線の空間分布に変換する蛍光体に密着
または近接して、例えば、それぞれ略正方形の２０００
×２０００画素が正方形に配列された可視光撮像装置が
配置されている。
に、図１の２方向Ｘ線透視撮影装置１に用いられるＸ線
固体平面検出器９、１１の第２実施の形態を説明する。
図４は、本発明に係るＸ線固体平面検出器の第２実施形
態を示す回路構成図である。このＸ線固体平面検出器
は、間接変換方式のＸ線固体平面検出器であり、Ｘ線の
空間分布を可視光線の空間分布に変換する蛍光体に密着
または近接して、例えば、それぞれ略正方形の２０００
×２０００画素が正方形に配列された可視光撮像装置が
配置されている。
【００４６】それぞれの画素は、入射した光線を電荷に
変換するフォトダイオードＰＤと、このフォトダイオー
ドＰＤで変換された電荷を蓄積する信号蓄積容量Ｃｓ
と、フォトダイオードＰＤと信号蓄積容量Ｃｓとの間を
任意に断続するためのスイッチ作用を行う第１のＴＦＴ
であるＴＦＴａと、信号蓄積容量Ｃｓから信号を読み出
すスイッチ作用を行う第２のＴＦＴであるＴＦＴｂとを
備えている。
変換するフォトダイオードＰＤと、このフォトダイオー
ドＰＤで変換された電荷を蓄積する信号蓄積容量Ｃｓ
と、フォトダイオードＰＤと信号蓄積容量Ｃｓとの間を
任意に断続するためのスイッチ作用を行う第１のＴＦＴ
であるＴＦＴａと、信号蓄積容量Ｃｓから信号を読み出
すスイッチ作用を行う第２のＴＦＴであるＴＦＴｂとを
備えている。
【００４７】ＰＤのアノードおよびＣｓの一方の電極は
ともにバイアス電源に接続され、ＰＤのカソードとＣｓ
の他方の電極とは、第１のＴＦＴであるＴＦＴａを介し
て接続されている。また、Ｃｓの他方の電極は、第２の
ＴＦＴであるＴＦＴｂのドレインに接続され、ＴＦＴｂ
のソースは、ＴＦＴｂのソースはアンプ、マルチプレク
サを介して出力端子へ接続されている。
ともにバイアス電源に接続され、ＰＤのカソードとＣｓ
の他方の電極とは、第１のＴＦＴであるＴＦＴａを介し
て接続されている。また、Ｃｓの他方の電極は、第２の
ＴＦＴであるＴＦＴｂのドレインに接続され、ＴＦＴｂ
のソースは、ＴＦＴｂのソースはアンプ、マルチプレク
サを介して出力端子へ接続されている。
【００４８】以上の画素毎の構成要素のうち、ＴＦＴａ
が本発明により追加された構成要素であり、その他の構
成要素は従来の間接型Ｘ線固体平面検出器と同様であ
る。すなわち、ＴＦＴａを削除し、ＰＤのアノードとＣ
ｓとを直接接続すれば、従来の画素構成と同じとなる。
が本発明により追加された構成要素であり、その他の構
成要素は従来の間接型Ｘ線固体平面検出器と同様であ
る。すなわち、ＴＦＴａを削除し、ＰＤのアノードとＣ
ｓとを直接接続すれば、従来の画素構成と同じとなる。
【００４９】画素外の構成要素としては、水平方向の画
素ライン毎にＴＦＴｂを駆動する読み出し用のライン・
ドライバと、全画素同時にＴＦＴａを導通させるために
ＴＦＴａ同時駆動信号を増幅するＴＦＴｄとを備えてい
る。
素ライン毎にＴＦＴｂを駆動する読み出し用のライン・
ドライバと、全画素同時にＴＦＴａを導通させるために
ＴＦＴａ同時駆動信号を増幅するＴＦＴｄとを備えてい
る。
【００５０】次に、図５のタイムチャートを参照して、
本第２の実施形態のＸ線固体平面検出器を用いた２方向
Ｘ線透視撮影装置の動作を説明する。
本第２の実施形態のＸ線固体平面検出器を用いた２方向
Ｘ線透視撮影装置の動作を説明する。
【００５１】この２方向Ｘ線透視撮影装置は、図５
（ａ）、（ｂ）に示すように、第１のＸ線管球７からの
曝射（第１曝射）と、第２のＸ線管球９からの曝射（第
２曝射）が交互に行われるものであり、一方向の曝射後
の検出器読出中に、他方向の曝射が行われ、いわゆる高
速読出が行われている。
（ａ）、（ｂ）に示すように、第１のＸ線管球７からの
曝射（第１曝射）と、第２のＸ線管球９からの曝射（第
２曝射）が交互に行われるものであり、一方向の曝射後
の検出器読出中に、他方向の曝射が行われ、いわゆる高
速読出が行われている。
【００５２】この装置における第１の系の動作に着目す
れば、それぞれステップＳ１からステップＳ３までの３
ステップの動作を繰り返す。
れば、それぞれステップＳ１からステップＳ３までの３
ステップの動作を繰り返す。
【００５３】まず、第１曝射中は、第１のＸ線固体平面
検出器１１（第１検出器）の各画素は、ＴＦＴａがＯＮ
状態であり、ＰＤで変換した電荷をＣｓに蓄積する（ス
テップＳ１）。
検出器１１（第１検出器）の各画素は、ＴＦＴａがＯＮ
状態であり、ＰＤで変換した電荷をＣｓに蓄積する（ス
テップＳ１）。
【００５４】次いで、第１曝射が終了すると、ＴＦＴａ
をＯＦＦとする（ステップＳ２）。次いで、各ライン毎
にラインドライバからＴＦＴｂを駆動し、読出アンプ、
マルチプレクサを介して各画素のＣｓに保持された電荷
を読出す（ステップＳ３）。この読出は順次全ラインに
対して行われるとともに、並行して第２曝射が行われ
る。このとき、ＴＦＴａがＯＦＦ状態であるので、第２
曝射による電荷がＰＤに発生しても塞き止められ、Ｃｓ
に蓄積されることがないので、散乱Ｘ線の影響による画
像のＳ／Ｎ比低下を防止した鮮明なＸ線画像を得ること
ができる。
をＯＦＦとする（ステップＳ２）。次いで、各ライン毎
にラインドライバからＴＦＴｂを駆動し、読出アンプ、
マルチプレクサを介して各画素のＣｓに保持された電荷
を読出す（ステップＳ３）。この読出は順次全ラインに
対して行われるとともに、並行して第２曝射が行われ
る。このとき、ＴＦＴａがＯＦＦ状態であるので、第２
曝射による電荷がＰＤに発生しても塞き止められ、Ｃｓ
に蓄積されることがないので、散乱Ｘ線の影響による画
像のＳ／Ｎ比低下を防止した鮮明なＸ線画像を得ること
ができる。
【００５５】以上のステップＳ１からステップＳ３まで
の３ステップの動作を繰り返すことにより、時間間隔の
短い高速の透視ができることになる。第２検出器１３も
第１検出器１１と同様の動作を半サイクル遅れたタイミ
ングで繰り返し、同様に、ＴＦＴａの塞き止め作用によ
り、第１曝射がＰＤに発生させる電荷がＣｓに蓄積され
ることを阻止できる。
の３ステップの動作を繰り返すことにより、時間間隔の
短い高速の透視ができることになる。第２検出器１３も
第１検出器１１と同様の動作を半サイクル遅れたタイミ
ングで繰り返し、同様に、ＴＦＴａの塞き止め作用によ
り、第１曝射がＰＤに発生させる電荷がＣｓに蓄積され
ることを阻止できる。
【００５６】［Ｘ線固体平面検出器の第３実施形態］次
に、図１の２方向Ｘ線透視撮影装置１に用いられるＸ線
固体平面検出器９、１１の第３実施の形態を説明する。
図６は、本発明に係るＸ線固体平面検出器の第３実施形
態を示す回路構成図である。このＸ線固体平面検出器
は、直接変換方式のＸ線固体平面検出器であり、例え
ば、それぞれ略正方形の２０００×２０００画素が正方
形に配列されている。
に、図１の２方向Ｘ線透視撮影装置１に用いられるＸ線
固体平面検出器９、１１の第３実施の形態を説明する。
図６は、本発明に係るＸ線固体平面検出器の第３実施形
態を示す回路構成図である。このＸ線固体平面検出器
は、直接変換方式のＸ線固体平面検出器であり、例え
ば、それぞれ略正方形の２０００×２０００画素が正方
形に配列されている。
【００５７】それぞれの画素は、入射したＸ線を電荷に
変換するセレンを用いたＸ線電荷変換膜Ｓｅと、このＸ
線電荷変換膜Ｓｅで変換された電荷を蓄積する信号蓄積
容量Ｃｓと、信号蓄積容量Ｃｓから信号を読み出すスイ
ッチ作用を行うＴＦＴであるＴＦＴｂとを備えて構成さ
れている。
変換するセレンを用いたＸ線電荷変換膜Ｓｅと、このＸ
線電荷変換膜Ｓｅで変換された電荷を蓄積する信号蓄積
容量Ｃｓと、信号蓄積容量Ｃｓから信号を読み出すスイ
ッチ作用を行うＴＦＴであるＴＦＴｂとを備えて構成さ
れている。
【００５８】なお、Ｘ線電荷変換膜Ｓｅは、各画素毎に
孤立したものでなく、図１１に示したようにＸ線固体平
面検出器の全面に一体として設けてもよい。Ｘ線電荷変
換膜Ｓｅの上面には、各画素共通の表面電極が設けら
れ、この表面電極は高圧電源の正極に接続されている。
高圧電源の負極は共通電位に接続（接地）されている。
Ｘ線電荷変換膜Ｓｅの下面の電極は、信号蓄積容量Ｃｓ
の一方の電極に接続され、信号蓄積容量Ｃｓの他方の電
極は接地されている。
孤立したものでなく、図１１に示したようにＸ線固体平
面検出器の全面に一体として設けてもよい。Ｘ線電荷変
換膜Ｓｅの上面には、各画素共通の表面電極が設けら
れ、この表面電極は高圧電源の正極に接続されている。
高圧電源の負極は共通電位に接続（接地）されている。
Ｘ線電荷変換膜Ｓｅの下面の電極は、信号蓄積容量Ｃｓ
の一方の電極に接続され、信号蓄積容量Ｃｓの他方の電
極は接地されている。
【００５９】また信号蓄積容量Ｃｓの一方の電極は、Ｔ
ＦＴｂのドレインが接続され、ＴＦＴｂのソースはアン
プ、マルチプレクサを介して出力端子へ接続されてい
る。以上の画素毎の構成要素は、従来のＸ線固体平面検
出器と同様である。
ＦＴｂのドレインが接続され、ＴＦＴｂのソースはアン
プ、マルチプレクサを介して出力端子へ接続されてい
る。以上の画素毎の構成要素は、従来のＸ線固体平面検
出器と同様である。
【００６０】画素外の構成要素としては、水平方向の画
素ライン毎にＴＦＴｂを駆動する読み出し用のライン・
ドライバと、カラム毎の画素が共通に接続される読出ア
ンプと、これらの読出アンプの出力を切り換えるマルチ
プレクサと、Ｓｅに正の直流高電圧を与えるバイアス電
源と、このバイアス電源をＯＮ／ＯＦＦするＴＦＴｅと
を備えている。ＴＦＴｅ以外は、従来のＸ線平面検出器
の構成と同様である。
素ライン毎にＴＦＴｂを駆動する読み出し用のライン・
ドライバと、カラム毎の画素が共通に接続される読出ア
ンプと、これらの読出アンプの出力を切り換えるマルチ
プレクサと、Ｓｅに正の直流高電圧を与えるバイアス電
源と、このバイアス電源をＯＮ／ＯＦＦするＴＦＴｅと
を備えている。ＴＦＴｅ以外は、従来のＸ線平面検出器
の構成と同様である。
【００６１】次に、図７のタイムチャートを参照して、
本第３の実施形態のＸ線固体平面検出器を用いた２方向
Ｘ線透視撮影装置の動作を説明する。
本第３の実施形態のＸ線固体平面検出器を用いた２方向
Ｘ線透視撮影装置の動作を説明する。
【００６２】この２方向Ｘ線透視撮影装置は、図７
（ａ）、（ｂ）に示すように、第１のＸ線管球７からの
曝射（第１曝射）と、第２のＸ線管球９からの曝射（第
２曝射）が交互に行われるものであり、一方向の曝射後
の検出器読出中に、他方向の曝射が行われ、いわゆる高
速読出が行われている。
（ａ）、（ｂ）に示すように、第１のＸ線管球７からの
曝射（第１曝射）と、第２のＸ線管球９からの曝射（第
２曝射）が交互に行われるものであり、一方向の曝射後
の検出器読出中に、他方向の曝射が行われ、いわゆる高
速読出が行われている。
【００６３】この装置における第１の系の動作に着目す
れば、それぞれステップＳ１からステップＳ４までの４
ステップの動作を繰り返す。
れば、それぞれステップＳ１からステップＳ４までの４
ステップの動作を繰り返す。
【００６４】まず、第１曝射中は、ＴＦＴｅがＯＮとな
り、第１のＸ線固体平面検出器１１（第１検出器）にバ
イアス電圧が印加され、その各画素は、Ｘ線をＳｅで変
換した電荷をＣｓに蓄積する（ステップＳ１）。次い
で、第１曝射が終了すると、ＴＦＴｅがＯＦＦとなり、
第１のＸ線固体平面検出器１１にはバイアス電圧が印加
されなくなる（ステップＳ２）。
り、第１のＸ線固体平面検出器１１（第１検出器）にバ
イアス電圧が印加され、その各画素は、Ｘ線をＳｅで変
換した電荷をＣｓに蓄積する（ステップＳ１）。次い
で、第１曝射が終了すると、ＴＦＴｅがＯＦＦとなり、
第１のＸ線固体平面検出器１１にはバイアス電圧が印加
されなくなる（ステップＳ２）。
【００６５】次いで、各ライン毎にラインドライバから
ＴＦＴｂを駆動し、読出アンプ、マルチプレクサを介し
て画素のＣｈに保持された電荷を読出す（ステップＳ
３）。この読出は順次全ラインに対して行われるととも
に、並行して第２曝射が行われる。このとき、Ｓｅには
バイアス電圧が印加されてないので、第２曝射による電
荷が生じることがないので、蓄積電荷が読出されるま
で、Ｃｓに蓄積された電荷量に変化が生じることはな
い。これにより、散乱Ｘ線の影響による画像のＳ／Ｎ比
低下を防止した鮮明なＸ線画像を得ることができる。
ＴＦＴｂを駆動し、読出アンプ、マルチプレクサを介し
て画素のＣｈに保持された電荷を読出す（ステップＳ
３）。この読出は順次全ラインに対して行われるととも
に、並行して第２曝射が行われる。このとき、Ｓｅには
バイアス電圧が印加されてないので、第２曝射による電
荷が生じることがないので、蓄積電荷が読出されるま
で、Ｃｓに蓄積された電荷量に変化が生じることはな
い。これにより、散乱Ｘ線の影響による画像のＳ／Ｎ比
低下を防止した鮮明なＸ線画像を得ることができる。
【００６６】以上のステップＳ１からステップＳ３まで
の３ステップの動作を繰り返すことにより、時間間隔の
短い高速の透視ができることになる。第２検出器１３も
第１検出器１１と同様の動作を半サイクル遅れたタイミ
ングで繰り返す。
の３ステップの動作を繰り返すことにより、時間間隔の
短い高速の透視ができることになる。第２検出器１３も
第１検出器１１と同様の動作を半サイクル遅れたタイミ
ングで繰り返す。
【００６７】以上の実施形態では、多方向Ｘ線透視撮影
装置の例として、２方向Ｘ線透視撮影装置について説明
したが、３方向以上の多方向Ｘ線透視撮影装置において
も、１つの系がＸ線曝射を行っている期間に他の系の収
集済みの画素値を散乱線等の影響を受けないように保持
しつつ読み出すことができるのは、明らかである。
装置の例として、２方向Ｘ線透視撮影装置について説明
したが、３方向以上の多方向Ｘ線透視撮影装置において
も、１つの系がＸ線曝射を行っている期間に他の系の収
集済みの画素値を散乱線等の影響を受けないように保持
しつつ読み出すことができるのは、明らかである。
【００６８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、Ｘ
線固体平面検出器を用いた多方向Ｘ線透視撮像装置にお
いて、一つの系がＸ線を曝射している間、残りの系の検
出器はその散乱線等の影響を受けずにＳ／Ｎが低下する
こと無く信号の読み出しを行うことができるため、複数
の方向からのＸ線画像の収集時間差が極めて小さい高速
な多方向透視または多方向撮影画像を得ることができる
という効果がある。特に立体的位置把握が必要な高速な
血管系のＸ線動画診断には非常に大きなメリットとな
る。
線固体平面検出器を用いた多方向Ｘ線透視撮像装置にお
いて、一つの系がＸ線を曝射している間、残りの系の検
出器はその散乱線等の影響を受けずにＳ／Ｎが低下する
こと無く信号の読み出しを行うことができるため、複数
の方向からのＸ線画像の収集時間差が極めて小さい高速
な多方向透視または多方向撮影画像を得ることができる
という効果がある。特に立体的位置把握が必要な高速な
血管系のＸ線動画診断には非常に大きなメリットとな
る。
【図１】本発明に係る２方向Ｘ線透視撮影装置の実施形
態を示す要部外観図（ａ）および概略回路構成図（ｂ）
である。
態を示す要部外観図（ａ）および概略回路構成図（ｂ）
である。
【図２】本発明に係るＸ線固体平面検出器の第１の実施
形態を示す回路図である。
形態を示す回路図である。
【図３】Ｘ線固体平面検出器の第１実施形態における動
作を説明するタイムチャートである。
作を説明するタイムチャートである。
【図４】本発明に係るＸ線固体平面検出器の第２の実施
形態を示す回路図である。
形態を示す回路図である。
【図５】Ｘ線固体平面検出器の第２実施形態における動
作を説明するタイムチャートである。
作を説明するタイムチャートである。
【図６】本発明に係るＸ線固体平面検出器の第３の実施
形態を示す回路図である。
形態を示す回路図である。
【図７】Ｘ線固体平面検出器の第３実施形態における動
作を説明するタイムチャートである。
作を説明するタイムチャートである。
【図８】従来の２方向Ｘ線透視撮影装置の要部構成を示
す外観図である。
す外観図である。
【図９】従来の多方向Ｘ線透視撮影装置に使用されるイ
メージインテンシファイア（Ｉ．Ｉ．）を説明する断面
図である。
メージインテンシファイア（Ｉ．Ｉ．）を説明する断面
図である。
【図１０】従来の間接型固体Ｘ線平面検出器に用いられ
る蛍光体を除く検出器の回路構成を示す回路図である。
る蛍光体を除く検出器の回路構成を示す回路図である。
【図１１】従来の直接型固体Ｘ線平面検出器の構成を示
す模式断面図である。
す模式断面図である。
【図１２】従来の直接型固体Ｘ線平面検出器の構成を示
す模式平面図である。
す模式平面図である。
１…２方向Ｘ線透視撮影装置、３…Ｃアーム、５…Ωア
ーム、７…第１Ｘ線管球、９…第２Ｘ線管球、１１…第
１Ｘ線固体平面検出器、１３…第２Ｘ線固体平面検出
器、１５…管球駆動部、１７、１９…検出器アダプタ、
２１…制御部、２３…ＤＩＳＣ、２５…メモリ、２７…
ＣＰＵ、２９…コンソール、３１…Ｎ／Ｗ−Ｉ／Ｆ、３
３…Ｃアーム制御部、３５…Ωアーム制御部、３７…画
像バス、３９…制御バス、５１、５３…保持信号。
ーム、７…第１Ｘ線管球、９…第２Ｘ線管球、１１…第
１Ｘ線固体平面検出器、１３…第２Ｘ線固体平面検出
器、１５…管球駆動部、１７、１９…検出器アダプタ、
２１…制御部、２３…ＤＩＳＣ、２５…メモリ、２７…
ＣＰＵ、２９…コンソール、３１…Ｎ／Ｗ−Ｉ／Ｆ、３
３…Ｃアーム制御部、３５…Ωアーム制御部、３７…画
像バス、３９…制御バス、５１、５３…保持信号。
Claims (5)
- 【請求項１】 検出面に配列された複数の画素の各画素
に対応して設けられ、入射した電磁波を電荷に変換する
複数の電荷変換手段と、 この各電荷変換手段に対応して設けられ、該電荷変換手
段により変換された電荷を蓄積する複数の信号蓄積用容
量と、 この各信号蓄積用容量に対応して設けられ、該信号蓄積
用容量により蓄積された電荷の少なくとも一部を一時保
持する複数の電荷保持用容量と、 この各電荷保持用容量に対応して設けられ、前記信号蓄
積用容量と該電荷保持用容量とを任意に断続する複数の
スイッチング手段と、 前記電荷保持用容量から各画素に対応する電荷信号を読
み出す信号読出手段と、 を備えたことを特徴とするＸ線固体平面検出器。 - 【請求項２】 検出面に配列された複数の画素の各画素
に対応して設けられ、入射した電磁波を電荷に変換する
複数の電荷変換手段と、 この各電荷変換手段に対応して設けられ、該電荷変換手
段により変換された電荷を蓄積する複数の信号蓄積用容
量と、 この各信号蓄積用容量に対応して設けられ、前記電荷変
換手段から該信号蓄積用容量への電荷転送を任意に断続
する複数のスイッチング手段と、 前記信号蓄積用容量から各画素に対応する電荷信号を読
み出す信号読出手段と、 を備えたことを特徴とするＸ線固体平面検出器。 - 【請求項３】 前記複数のスイッチング手段のそれぞれ
は、薄膜トランジスタであることを特徴とする請求項１
または請求項２に記載のＸ線固体平面検出器。 - 【請求項４】 検出面に配列された複数の画素の各画素
に対応して設けられ、入射した電磁波を電荷に変換する
複数の電荷変換手段と、 この各電荷変換手段に対応して設けられ、該電荷変換手
段により変換された電荷を蓄積する複数の信号蓄積用容
量と、 該信号蓄積用容量から各画素に対応する電荷信号を読み
出す信号読出手段と、 前記電荷変換手段に供給されるバイアス電圧を任意に断
続するバイアス電圧制御手段と、 を備えたことを特徴とするＸ線固体平面検出器。 - 【請求項５】 複数のＸ線発生手段と、 これらのＸ線発生手段の各々に対応して設けられた請求
項１ないし請求項４のいずれか１項に記載の複数のＸ線
固体平面検出器と、 前記複数のＸ線発生手段のいずれか１つがＸ線を発生す
る際に、残りのＸ線発生手段のそれぞれに対応するＸ線
固体平面検出器の検出信号がこのＸ線の影響を受けない
ように制御する干渉防止制御回路と、 を備えたことを特徴とする多方向Ｘ線透視撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20164097A JP3369441B2 (ja) | 1997-07-28 | 1997-07-28 | 多方向ｘ線透視撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20164097A JP3369441B2 (ja) | 1997-07-28 | 1997-07-28 | 多方向ｘ線透視撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1144764A true JPH1144764A (ja) | 1999-02-16 |
| JP3369441B2 JP3369441B2 (ja) | 2003-01-20 |
Family
ID=16444445
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20164097A Expired - Lifetime JP3369441B2 (ja) | 1997-07-28 | 1997-07-28 | 多方向ｘ線透視撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3369441B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003521715A (ja) * | 2000-02-02 | 2003-07-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | センサ及びセンサの動作方法 |
| JP2004000411A (ja) * | 2002-04-03 | 2004-01-08 | Canon Inc | 動画像表示方法、動画像処理方法、プログラム、コンピュータ可読記憶媒体、動画像表示装置、動画像処理装置、動画像表示システム、動画像処理システム、画像診断支援方法、及び画像診断支援システム |
| JP2005027913A (ja) * | 2003-07-07 | 2005-02-03 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮像装置 |
| JP2005118348A (ja) * | 2003-10-17 | 2005-05-12 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
| KR100864433B1 (ko) | 2008-03-03 | 2008-10-20 | 케이엠에이치 주식회사 | 엑스선 투시장치 |
| JP2013503325A (ja) * | 2009-08-28 | 2013-01-31 | パウル・シェラー・インスティトゥート | 単一光子分解のための積算形読み出しチップを有するｘ線検出器 |
-
1997
- 1997-07-28 JP JP20164097A patent/JP3369441B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003521715A (ja) * | 2000-02-02 | 2003-07-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | センサ及びセンサの動作方法 |
| JP2004000411A (ja) * | 2002-04-03 | 2004-01-08 | Canon Inc | 動画像表示方法、動画像処理方法、プログラム、コンピュータ可読記憶媒体、動画像表示装置、動画像処理装置、動画像表示システム、動画像処理システム、画像診断支援方法、及び画像診断支援システム |
| JP2005027913A (ja) * | 2003-07-07 | 2005-02-03 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮像装置 |
| JP2005118348A (ja) * | 2003-10-17 | 2005-05-12 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
| KR100864433B1 (ko) | 2008-03-03 | 2008-10-20 | 케이엠에이치 주식회사 | 엑스선 투시장치 |
| JP2013503325A (ja) * | 2009-08-28 | 2013-01-31 | パウル・シェラー・インスティトゥート | 単一光子分解のための積算形読み出しチップを有するｘ線検出器 |
| US9046614B2 (en) | 2009-08-28 | 2015-06-02 | Paul Scherrer Institut | X-ray detector with integrating readout chip for single photon resolution |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3369441B2 (ja) | 2003-01-20 |
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