JPH1199146A - Ｘ線断層撮影装置 - Google Patents
Ｘ線断層撮影装置Info
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- JPH1199146A JPH1199146A JP9263466A JP26346697A JPH1199146A JP H1199146 A JPH1199146 A JP H1199146A JP 9263466 A JP9263466 A JP 9263466A JP 26346697 A JP26346697 A JP 26346697A JP H1199146 A JPH1199146 A JP H1199146A
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 歪みのない断層像を得る。
【解決手段】 Ｘ線管５とフラットパネルＸ線検出器30
とを被検体６を挟んで対向配置し、両者を互に逆方向に
同期移動させる。フラットパネルＸ線検出器30は、被検
体透過Ｘ線を電荷として蓄積するＸ線検出部７と、蓄積
された電荷を読み出し電気信号に変換すると共にビデオ
・デジタル信号として出力するコントロール・ユニット
８とで構成されている。
とを被検体６を挟んで対向配置し、両者を互に逆方向に
同期移動させる。フラットパネルＸ線検出器30は、被検
体透過Ｘ線を電荷として蓄積するＸ線検出部７と、蓄積
された電荷を読み出し電気信号に変換すると共にビデオ
・デジタル信号として出力するコントロール・ユニット
８とで構成されている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線発生手段と撮
像手段とを被検体に対して移動させながら得た多数の透
過像を重ね合せることによってある深さの断層面の画像
のみを得るＸ線断層撮影装置に関し、特にデジタル断層
撮影装置に関する。
像手段とを被検体に対して移動させながら得た多数の透
過像を重ね合せることによってある深さの断層面の画像
のみを得るＸ線断層撮影装置に関し、特にデジタル断層
撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来よりＸ線管とＸ線フィルムとを揺動
桿で連結し、この揺動桿の支点を被検体の断層面に合せ
てこの揺動桿を揺動させながらＸ線曝射して、その各々
でのＸ線透過像を１枚のＸ線フィルムに多重露光して行
くことにより、断層面付近以外の画像をボケさせて断層
面の画像を得るＸ線断層撮影装置が知られており、整形
外科などの分野で多く利用されている。また、Ｘ線フィ
ルムの代りにＸ線イメージ・インテンシファイアとＴＶ
カメラとを組み合せてＸ線透過像を映像信号に変換し、
それをＡ／Ｄ変換してデジタル画像を得て、多数のデジ
タル画像の多重露光を電子的に行ないリアルタイムに表
示するようにしたデジタル断層撮影装置も知られてい
る。
桿で連結し、この揺動桿の支点を被検体の断層面に合せ
てこの揺動桿を揺動させながらＸ線曝射して、その各々
でのＸ線透過像を１枚のＸ線フィルムに多重露光して行
くことにより、断層面付近以外の画像をボケさせて断層
面の画像を得るＸ線断層撮影装置が知られており、整形
外科などの分野で多く利用されている。また、Ｘ線フィ
ルムの代りにＸ線イメージ・インテンシファイアとＴＶ
カメラとを組み合せてＸ線透過像を映像信号に変換し、
それをＡ／Ｄ変換してデジタル画像を得て、多数のデジ
タル画像の多重露光を電子的に行ないリアルタイムに表
示するようにしたデジタル断層撮影装置も知られてい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
デジタル断層撮影装置では、Ｘ線イメージ・インテンシ
ファイア（Ｉ．Ｉ）を使用することから、Ｘ線透過像を
可視像に変換し、変換された可視像を電子像に変換する
Ｉ．Ｉの入力面が球面状であることから像歪みが避けら
れず、歪み補正等を必要とすると共に、装置が大型化す
るという問題がある。
デジタル断層撮影装置では、Ｘ線イメージ・インテンシ
ファイア（Ｉ．Ｉ）を使用することから、Ｘ線透過像を
可視像に変換し、変換された可視像を電子像に変換する
Ｉ．Ｉの入力面が球面状であることから像歪みが避けら
れず、歪み補正等を必要とすると共に、装置が大型化す
るという問題がある。
【０００４】本発明は、上記に鑑み、像歪みのない分解
像の優れた断層像が得られると共に、装置を小型、軽量
化できるＸ線断層撮影装置を提供することを目的とす
る。
像の優れた断層像が得られると共に、装置を小型、軽量
化できるＸ線断層撮影装置を提供することを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のＸ線断層撮影装置においては、撮像手段
を透過Ｘ線像を電荷として蓄積する平面状のＸ線検出部
と、蓄積された電荷を読み出して電気信号に変換する信
号変換部と、読み出された電気信号をデジタル信号に変
換するＡ／Ｄ変換部とよりなるフラットパネルＸ線検出
器としたことを特徴としている。
めに、本発明のＸ線断層撮影装置においては、撮像手段
を透過Ｘ線像を電荷として蓄積する平面状のＸ線検出部
と、蓄積された電荷を読み出して電気信号に変換する信
号変換部と、読み出された電気信号をデジタル信号に変
換するＡ／Ｄ変換部とよりなるフラットパネルＸ線検出
器としたことを特徴としている。
【０００６】また、Ｘ線発生手段によるＸ線曝射に関連
してフラットパネルＸ線検出器の電荷蓄積動作と蓄積さ
れた電荷の読み出しを制御する制御手段を備えている。
してフラットパネルＸ線検出器の電荷蓄積動作と蓄積さ
れた電荷の読み出しを制御する制御手段を備えている。
【０００７】このような構成によれば、Ｘ線透過像はフ
ラットパネルＸ線検出器で撮像され、それのＸ線検出部
は平面で像歪みを生じないので、従来のＩ．ＩとＴＶカ
メラとの組み合わせよりなる撮像手段のように歪み補正
を要しない。
ラットパネルＸ線検出器で撮像され、それのＸ線検出部
は平面で像歪みを生じないので、従来のＩ．ＩとＴＶカ
メラとの組み合わせよりなる撮像手段のように歪み補正
を要しない。
【０００８】また、制御手段は、Ｘ線曝射に関連してフ
ラットパネルＸ線検出器の電荷蓄積動作と蓄積された電
荷の読み出しを制御する。すなわち、制御手段は、Ｘ線
発生手段によるＸ線曝射に先立ってフラットパネルＸ線
検出器に電荷蓄積開始信号を与え、Ｘ線曝射の遮断と同
時に電荷蓄積終了信号を与えてＸ線曝射中（撮影中）の
Ｘ線透過像を電荷として蓄積する。また、制御手段は、
Ｘ線曝射の遮断と同時に蓄積された電荷の読み出しを指
令し、読み出された電気信号はＡ／Ｄ変換器でデジタル
信号に変換され、デジタル信号はＣＲＴ等の表示手段に
供給することにより、ＣＲＴ表示画面に高分解能の断層
像として表示される。
ラットパネルＸ線検出器の電荷蓄積動作と蓄積された電
荷の読み出しを制御する。すなわち、制御手段は、Ｘ線
発生手段によるＸ線曝射に先立ってフラットパネルＸ線
検出器に電荷蓄積開始信号を与え、Ｘ線曝射の遮断と同
時に電荷蓄積終了信号を与えてＸ線曝射中（撮影中）の
Ｘ線透過像を電荷として蓄積する。また、制御手段は、
Ｘ線曝射の遮断と同時に蓄積された電荷の読み出しを指
令し、読み出された電気信号はＡ／Ｄ変換器でデジタル
信号に変換され、デジタル信号はＣＲＴ等の表示手段に
供給することにより、ＣＲＴ表示画面に高分解能の断層
像として表示される。
【０００９】
【実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実施例を
説明する。図１は実施例に係る概略構成を示すブロック
図で、１は断層撮影台で、被検体６を載置する寝台２
と、被検体６を挟んで対向配置されたＸ線管（Ｘ線発生
手段）５と、図示しない保護ケース内に収容されたＸ線
検出部７とコントロール・ユニット（以下Ｃ．Ｕ．とい
う）８よりなるフラットパネルＸ線検出器30とよりな
り、Ｘ線管５とフラットパネルＸ線検出器30とは揺動桿
13で連結されて断層面上の１点を中心に互に逆方向に平
行移動するように構成されている。
説明する。図１は実施例に係る概略構成を示すブロック
図で、１は断層撮影台で、被検体６を載置する寝台２
と、被検体６を挟んで対向配置されたＸ線管（Ｘ線発生
手段）５と、図示しない保護ケース内に収容されたＸ線
検出部７とコントロール・ユニット（以下Ｃ．Ｕ．とい
う）８よりなるフラットパネルＸ線検出器30とよりな
り、Ｘ線管５とフラットパネルＸ線検出器30とは揺動桿
13で連結されて断層面上の１点を中心に互に逆方向に平
行移動するように構成されている。
【００１０】11は断層撮影台１を制御する断層撮影台制
御器で、撮影時にＸ線管５とフラットパネルＸ線検出器
30の移動を制御すると共に、Ｘ線制御器44およびデジタ
ル・ラジオグラフィー装置（以下ＤＲ装置という）41へ
送るＸ線曝射信号43のタイミングも制御している。３は
撮影条件設定器であり、ここで設定された撮影条件にて
Ｘ線制御器44、高圧発生器４を経て高圧がＸ線管５に印
加されＸ線が曝射される。
御器で、撮影時にＸ線管５とフラットパネルＸ線検出器
30の移動を制御すると共に、Ｘ線制御器44およびデジタ
ル・ラジオグラフィー装置（以下ＤＲ装置という）41へ
送るＸ線曝射信号43のタイミングも制御している。３は
撮影条件設定器であり、ここで設定された撮影条件にて
Ｘ線制御器44、高圧発生器４を経て高圧がＸ線管５に印
加されＸ線が曝射される。
【００１１】フラットパネルＸ線検出器30は全体として
は２次元の平面状の形をしており、図２に示すように、
Ｘ線検出部７は被検体を透過したＸ線を電荷に変換する
Ｘ線検出物質層71と、この電荷を読み出し電気信号に変
換するＴＦＴトランジスタ72とよりなり、これらは半導
体分野の薄膜技術でもってガラス基板73上に形成され
る。また、Ｃ．Ｕ．８は、ＴＦＴトランジスタ72で変換
された電気信号を増幅するアンプ81、アンプ81の出力を
デジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器82、Ｘ線検出物質
層71により変換された電荷をＴＦＴトランジスタ72によ
り読み出すタイミングの制御やＡ／Ｄ変換器82のタイミ
ング制御を行なう制御回路83、制御回路83で制御されＡ
／Ｄ変換器82により変換されたデジタル信号に垂直同期
信号等を付け加えてデジタル・ビデオ信号を出力する加
算器84とで構成され、このＣ．Ｕ．８とＸ線検出部７と
は保護ケースに収容されている。
は２次元の平面状の形をしており、図２に示すように、
Ｘ線検出部７は被検体を透過したＸ線を電荷に変換する
Ｘ線検出物質層71と、この電荷を読み出し電気信号に変
換するＴＦＴトランジスタ72とよりなり、これらは半導
体分野の薄膜技術でもってガラス基板73上に形成され
る。また、Ｃ．Ｕ．８は、ＴＦＴトランジスタ72で変換
された電気信号を増幅するアンプ81、アンプ81の出力を
デジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器82、Ｘ線検出物質
層71により変換された電荷をＴＦＴトランジスタ72によ
り読み出すタイミングの制御やＡ／Ｄ変換器82のタイミ
ング制御を行なう制御回路83、制御回路83で制御されＡ
／Ｄ変換器82により変換されたデジタル信号に垂直同期
信号等を付け加えてデジタル・ビデオ信号を出力する加
算器84とで構成され、このＣ．Ｕ．８とＸ線検出部７と
は保護ケースに収容されている。
【００１２】このフラットパネルＸ線検出器30には、直
接変換方式と間接変換方式とがあり、直接変換方式のＸ
線検出器では、Ｘ線検出物質層が図３（ａ）に示すよう
に光導電体膜（例えばアモルファス・セレン膜、Ｃｄ
（Ｚｎ）Ｔｅ膜）とされ、入射Ｘ線はアモルファス・セ
レン膜でそのエネルギーを放出し、電子と正孔のペアー
に変換され、電荷は外部印加電圧により移動し、ＴＦＴ
の電荷収集電極を通してコンデンサに蓄積され、ＴＦＴ
の読み出し回路により読み出され、デジタル・ビデオ信
号として出力される。
接変換方式と間接変換方式とがあり、直接変換方式のＸ
線検出器では、Ｘ線検出物質層が図３（ａ）に示すよう
に光導電体膜（例えばアモルファス・セレン膜、Ｃｄ
（Ｚｎ）Ｔｅ膜）とされ、入射Ｘ線はアモルファス・セ
レン膜でそのエネルギーを放出し、電子と正孔のペアー
に変換され、電荷は外部印加電圧により移動し、ＴＦＴ
の電荷収集電極を通してコンデンサに蓄積され、ＴＦＴ
の読み出し回路により読み出され、デジタル・ビデオ信
号として出力される。
【００１３】また、間接方式のＸ線検出器では、図４
（ａ）に示すようにＸ線検出物質層がヨウ化セシウム
（ＣｓＩ）層とされ、入射Ｘ線はＣｓＩ層でそのエネル
ギーを放出し、蛍光に変換され、発光はＣｓＩの柱状結
晶構造でＴＦＴ上のフォトダイオードに導びかれ、フォ
トダイオードで光から電荷への変換がなされ、電荷はコ
ンデンサに蓄積され、ＴＦＴの読み出し回路により読み
出され、デジタル・ビデオ信号として出力される。
（ａ）に示すようにＸ線検出物質層がヨウ化セシウム
（ＣｓＩ）層とされ、入射Ｘ線はＣｓＩ層でそのエネル
ギーを放出し、蛍光に変換され、発光はＣｓＩの柱状結
晶構造でＴＦＴ上のフォトダイオードに導びかれ、フォ
トダイオードで光から電荷への変換がなされ、電荷はコ
ンデンサに蓄積され、ＴＦＴの読み出し回路により読み
出され、デジタル・ビデオ信号として出力される。
【００１４】図１にもどって、フラットパネルＸ線検出
器30のＣ．Ｕ．８より出力されるデジタル・ビデオ信号
はＤＲ装置41へ送られ、ＤＲ装置41のＩＣメモリ40に記
録される。ＤＲ装置41には表示用のモニター22も接続さ
れている。またＣ．Ｕ．８に電荷蓄積信号を送る電荷蓄
積制御回路９が含まれている。
器30のＣ．Ｕ．８より出力されるデジタル・ビデオ信号
はＤＲ装置41へ送られ、ＤＲ装置41のＩＣメモリ40に記
録される。ＤＲ装置41には表示用のモニター22も接続さ
れている。またＣ．Ｕ．８に電荷蓄積信号を送る電荷蓄
積制御回路９が含まれている。
【００１５】つぎに、図１の各部の波形を示す図５のタ
イミングケートを参照して実施例に係る装置の動作を説
明する。なお、図５は、わかりやすくするためにテレビ
の垂直同期信号と関連させて表示しており、図中、
（イ）はＣ．Ｕ．８から出力される垂直同期信号、
（ロ）は断層撮影台制御器11から出力されるＸ線曝射信
号、（ハ）は電荷蓄積制御回路９から出力される電荷蓄
積信号、（ニ）はＣ．Ｕ．８から出力されるビデオ信
号、（ホ）はＤＲ装置41から出力されるビデオ信号であ
る。
イミングケートを参照して実施例に係る装置の動作を説
明する。なお、図５は、わかりやすくするためにテレビ
の垂直同期信号と関連させて表示しており、図中、
（イ）はＣ．Ｕ．８から出力される垂直同期信号、
（ロ）は断層撮影台制御器11から出力されるＸ線曝射信
号、（ハ）は電荷蓄積制御回路９から出力される電荷蓄
積信号、（ニ）はＣ．Ｕ．８から出力されるビデオ信
号、（ホ）はＤＲ装置41から出力されるビデオ信号であ
る。
【００１６】電荷蓄積制御回路９から出力される電荷蓄
積信号は通常オフ状態となっていて、フラットパネルＸ
線検出器30のＸ線検出物質層71からの電荷は常に電気信
号に変換されＣ．Ｕ．８からビデオ信号が出力されてい
る（図５のａの時点）。Ｘ−ＲＡＹスイッチ19が押され
ると断層撮影台制御器11の制御で、図示しない撮影準備
信号が出力されＸ線管５の陽極が回転し始めると共にフ
ィラメントが加熱される。また、電荷蓄積制御回路９か
ら出力される電荷蓄積信号がオン状態となって、電気信
号への変換が止まり、Ｃ．Ｕ．８から出力されるビデオ
信号は黒レベルになる（図５のｂの時点）。
積信号は通常オフ状態となっていて、フラットパネルＸ
線検出器30のＸ線検出物質層71からの電荷は常に電気信
号に変換されＣ．Ｕ．８からビデオ信号が出力されてい
る（図５のａの時点）。Ｘ−ＲＡＹスイッチ19が押され
ると断層撮影台制御器11の制御で、図示しない撮影準備
信号が出力されＸ線管５の陽極が回転し始めると共にフ
ィラメントが加熱される。また、電荷蓄積制御回路９か
ら出力される電荷蓄積信号がオン状態となって、電気信
号への変換が止まり、Ｃ．Ｕ．８から出力されるビデオ
信号は黒レベルになる（図５のｂの時点）。
【００１７】所定時間後、断層撮影台１のフラットパネ
ルＸ線検出器30とＸ線管５が対向して図１の位置から点
線矢印方向に移動し始める。同時に、Ｘ線曝射信号43が
Ｘ線制御器44に出力され、撮影条件設定器３に設定され
た撮影条件にて高圧発生器４から高圧がＸ線管５に印加
されＸ線が被検体６に照射され始める（図５のｃの時
点）。
ルＸ線検出器30とＸ線管５が対向して図１の位置から点
線矢印方向に移動し始める。同時に、Ｘ線曝射信号43が
Ｘ線制御器44に出力され、撮影条件設定器３に設定され
た撮影条件にて高圧発生器４から高圧がＸ線管５に印加
されＸ線が被検体６に照射され始める（図５のｃの時
点）。
【００１８】前述のごとく被検体６を透過した透過Ｘ線
がフラットパネルＸ線検出器30のＸ線検出物質層71によ
り電荷に変換される。電荷蓄積信号によりＴＦＴトラン
ジスタにて電気信号に変換されないため電荷は蓄積され
ていく。断層撮影台１の断層撮影動作が終了してフラッ
トパネルＸ線検出器30とＸ線管５が停止する。同時に断
層撮影台制御器11からのＸ線曝射信号43がオフになり、
Ｘ線が止まる。このとき、被検体のＸ線断層像がフラッ
トパネルＸ線検出器のＸ線検出物質層71に電荷として蓄
積されることになる（図５のｄの時点）。
がフラットパネルＸ線検出器30のＸ線検出物質層71によ
り電荷に変換される。電荷蓄積信号によりＴＦＴトラン
ジスタにて電気信号に変換されないため電荷は蓄積され
ていく。断層撮影台１の断層撮影動作が終了してフラッ
トパネルＸ線検出器30とＸ線管５が停止する。同時に断
層撮影台制御器11からのＸ線曝射信号43がオフになり、
Ｘ線が止まる。このとき、被検体のＸ線断層像がフラッ
トパネルＸ線検出器のＸ線検出物質層71に電荷として蓄
積されることになる（図５のｄの時点）。
【００１９】電荷蓄積制御回路９は、Ｘ線曝射信号43が
オフから次の垂直同期信号に同期して最低１フレームの
期間間電荷蓄積信号をオフする（図５のｅの時点から時
点ｆの期間）。フラットパネルＸ線検出器30のＸ線検出
物質層71の電荷が電気信号に変換されＣ．Ｕ．８からビ
デオ信号が出力される。Ｃ．Ｕ．８から出力されるビデ
オ信号をＤＲ装置41でＩＣメモリ40に記憶すると同時に
これをリアルタイムでモニター22に表示する。モニター
22には、次の撮影までＩＣメモリ40に記憶された画像が
表示され続ける。 これにより、断層撮影のＸ線デジタ
ル画像を観察することができる。
オフから次の垂直同期信号に同期して最低１フレームの
期間間電荷蓄積信号をオフする（図５のｅの時点から時
点ｆの期間）。フラットパネルＸ線検出器30のＸ線検出
物質層71の電荷が電気信号に変換されＣ．Ｕ．８からビ
デオ信号が出力される。Ｃ．Ｕ．８から出力されるビデ
オ信号をＤＲ装置41でＩＣメモリ40に記憶すると同時に
これをリアルタイムでモニター22に表示する。モニター
22には、次の撮影までＩＣメモリ40に記憶された画像が
表示され続ける。 これにより、断層撮影のＸ線デジタ
ル画像を観察することができる。
【００２０】
１）記憶媒体は、磁気ディスク等でもよい。 ２）断層軌道は、円、渦巻き、グローバル断層など他の
断層装置等でもよい。
断層装置等でもよい。
【００２１】３）Ｘ線曝射中も電荷蓄積信号をオフと
し、フラットパネルＸ線検出器よりビデオ信号が常に出
力される状態とし、記憶媒体上で加算蓄積するようにし
てもよい。 ４）Ｘ線管とフラットパネルＸ線検出器にそれぞれの移
動機構を設け、両者が互いに逆方向に同期移動するよう
にしてもよい。 ５）フラットパネルＸ線検出器からのデジタル・ビデオ
信号を画像強調等の画像処理を行なって後に記憶媒体に
記憶させるようにしてもよい。
し、フラットパネルＸ線検出器よりビデオ信号が常に出
力される状態とし、記憶媒体上で加算蓄積するようにし
てもよい。 ４）Ｘ線管とフラットパネルＸ線検出器にそれぞれの移
動機構を設け、両者が互いに逆方向に同期移動するよう
にしてもよい。 ５）フラットパネルＸ線検出器からのデジタル・ビデオ
信号を画像強調等の画像処理を行なって後に記憶媒体に
記憶させるようにしてもよい。
【００２２】
【発明の効果】本発明によれば、撮像手段としてフラッ
トパネルＸ線検出器を用いるので歪みのないデジタル断
層画像が得られ、また、フラットパネルＸ線検出器は、
従来のフィルムカセッテとほぼ同等の厚みであるので、
装置を小型、軽量化できると共にＸ線管等の移動駆動機
構を小容量化できる。また、Ｘ線のオフと同時に前記電
荷蓄積指令をオフにし撮像面であるＸ線検出部に蓄積さ
れた電荷を読み出すようにすれば、Ｘ線曝射期間とＣ．
Ｕ．の垂直同期信号とを同期させることなしにＸ線曝射
が行なえる。
トパネルＸ線検出器を用いるので歪みのないデジタル断
層画像が得られ、また、フラットパネルＸ線検出器は、
従来のフィルムカセッテとほぼ同等の厚みであるので、
装置を小型、軽量化できると共にＸ線管等の移動駆動機
構を小容量化できる。また、Ｘ線のオフと同時に前記電
荷蓄積指令をオフにし撮像面であるＸ線検出部に蓄積さ
れた電荷を読み出すようにすれば、Ｘ線曝射期間とＣ．
Ｕ．の垂直同期信号とを同期させることなしにＸ線曝射
が行なえる。
【図１】本発明の一実施例に係るＸ線断層撮影装置の概
略構成を示すブロック図である。
略構成を示すブロック図である。
【図２】フラットパネルＸ線検出器の構成を示す模式図
である。
である。
【図３】直接変換方式のフラットパネルＸ線検出器のＸ
線検出部の構成（ａ）と電荷読み出し部の構成（ｂ）を
示す模式図である。
線検出部の構成（ａ）と電荷読み出し部の構成（ｂ）を
示す模式図である。
【図４】間接変換方式のフラットパネルＸ線検出器のＸ
線検出部の構成（ａ）と電荷読み出し部の構成（ｂ）を
示す模式図である。
線検出部の構成（ａ）と電荷読み出し部の構成（ｂ）を
示す模式図である。
【図５】図１の各部の波形を示すタイムチャートであ
る。
る。
１：断層撮影台 ２：寝台 ３：撮影条件設定器 ４：高圧発生器 ５：Ｘ線管 ６：被検体 ７：Ｘ線検出部（71…Ｘ線検出物質層 72…ＴＦＴト
ランジスタ 73…ガラス基板） ８：コントロール・ユニット（Ｃ．Ｕ．）（81…アンプ
82…Ａ／Ｄ変換器 83…制御回路 84…加算器） ９：電荷蓄積制御回路 11：断層撮影台
制御器 19：Ｘ−ＲＡＹスイッチ 22：モニター 30：フラットパネルＸ線検出器 40：ＩＣメモリ 41：デジタル・ラジオグラフィー装置（ＤＲ装置） 43：Ｘ線曝射信号 44：Ｘ線制御器
ランジスタ 73…ガラス基板） ８：コントロール・ユニット（Ｃ．Ｕ．）（81…アンプ
82…Ａ／Ｄ変換器 83…制御回路 84…加算器） ９：電荷蓄積制御回路 11：断層撮影台
制御器 19：Ｘ−ＲＡＹスイッチ 22：モニター 30：フラットパネルＸ線検出器 40：ＩＣメモリ 41：デジタル・ラジオグラフィー装置（ＤＲ装置） 43：Ｘ線曝射信号 44：Ｘ線制御器
Claims (2)
- 【請求項１】 被検体を挟んで対向配置するＸ線発生手
段と、撮像手段とを互いに反対方向に同期移動させ移動
中心部位の断層面の画像を得る断層撮影装置であって、
前記撮像手段が被検体透過Ｘ線を電荷として蓄積する平
面状のＸ線検出部と、蓄積された電荷を読み出し電気信
号に変換する信号変換部と、読み出された電気信号をデ
ジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部とよりなるフラット
パネルＸ線検出器であることを特徴とするＸ線断層撮影
装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載のＸ線断層撮影装置であ
って、前記Ｘ線発生手段によるＸ線曝射に関連して、前
記フラットパネルＸ線検出器に、電荷の蓄積の開始と終
了の制御信号と蓄積された電荷の読み出しの制御信号を
与える制御手段を備えることを特徴とするＸ線断層撮影
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9263466A JPH1199146A (ja) | 1997-09-29 | 1997-09-29 | Ｘ線断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9263466A JPH1199146A (ja) | 1997-09-29 | 1997-09-29 | Ｘ線断層撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1199146A true JPH1199146A (ja) | 1999-04-13 |
Family
ID=17389910
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9263466A Pending JPH1199146A (ja) | 1997-09-29 | 1997-09-29 | Ｘ線断層撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1199146A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1426009A1 (en) * | 2002-11-26 | 2004-06-09 | Canon Kabushiki Kaisha | X-ray-tomographic imaging apparatus and method with non-destructive read-out solid-state image pickup device |
| JP2006006387A (ja) * | 2004-06-22 | 2006-01-12 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 |
| JPWO2009075172A1 (ja) * | 2007-12-10 | 2011-04-28 | コニカミノルタエムジー株式会社 | Ｘ線画像撮影システム |
| CN103126695A (zh) * | 2011-11-25 | 2013-06-05 | 富士胶片株式会社 | 放射线照相图像检测器及其控制方法 |
-
1997
- 1997-09-29 JP JP9263466A patent/JPH1199146A/ja active Pending
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| US6973160B2 (en) | 2002-11-26 | 2005-12-06 | Canon Kabushiki Kaisha | X-ray-tomographic imaging apparatus, X-ray-tomographic imaging method, and program |
| US7139364B2 (en) | 2002-11-26 | 2006-11-21 | Canon Kabushiki Kaisha | X-ray-tomographic imaging apparatus, X-ray-tomographic imaging method, and program |
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| JP4581504B2 (ja) * | 2004-06-22 | 2010-11-17 | 株式会社島津製作所 | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 |
| JPWO2009075172A1 (ja) * | 2007-12-10 | 2011-04-28 | コニカミノルタエムジー株式会社 | Ｘ線画像撮影システム |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040527 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061122 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061128 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070320 |