JPH06309436A - Ｑｆｐ型ｉｃ用ｉｃソケットの位置検出方法 - Google Patents
Ｑｆｐ型ｉｃ用ｉｃソケットの位置検出方法Info
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- JPH06309436A JPH06309436A JP12056793A JP12056793A JPH06309436A JP H06309436 A JPH06309436 A JP H06309436A JP 12056793 A JP12056793 A JP 12056793A JP 12056793 A JP12056793 A JP 12056793A JP H06309436 A JPH06309436 A JP H06309436A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＱＦＰ型ＩＣ１をＩＣソケット３に接触さ
せ、ＱＦＰ型ＩＣ１を電気試験する装置において、ＩＣ
ソケット３の位置を高精度に検出する。 【構成】 画像処理用カメラ４ＡはＩＣソケット３の撮
像データは画像処理部５に入力する。画像処理部５はＩ
Ｃソケット３の４隅に直交する接触子３Ｃの各重心座標
Ｇをのメモリ６Ａに格納する。演算手段６Ｂはメモリ６
Ａを読み込み、対向する各重心座標Ｇを結ぶ４線分Ｌ１
〜Ｌ４を算出し、４線分の４交点座標Ｃｉ〜Ｃｌを算出
し、対向する４交点座標を結ぶ２線分Ｌ５・Ｌ６を算出
し、２線分Ｌ５・Ｌ６の交点座標Ｃｏを算出し、線分Ｌ
１〜Ｌ４の少なくとも１つをＩＣソケットの傾きとし、
交点座標ＣｏをＩＣソケットの中心座標として位置検出
する。
せ、ＱＦＰ型ＩＣ１を電気試験する装置において、ＩＣ
ソケット３の位置を高精度に検出する。 【構成】 画像処理用カメラ４ＡはＩＣソケット３の撮
像データは画像処理部５に入力する。画像処理部５はＩ
Ｃソケット３の４隅に直交する接触子３Ｃの各重心座標
Ｇをのメモリ６Ａに格納する。演算手段６Ｂはメモリ６
Ａを読み込み、対向する各重心座標Ｇを結ぶ４線分Ｌ１
〜Ｌ４を算出し、４線分の４交点座標Ｃｉ〜Ｃｌを算出
し、対向する４交点座標を結ぶ２線分Ｌ５・Ｌ６を算出
し、２線分Ｌ５・Ｌ６の交点座標Ｃｏを算出し、線分Ｌ
１〜Ｌ４の少なくとも１つをＩＣソケットの傾きとし、
交点座標ＣｏをＩＣソケットの中心座標として位置検出
する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＱＦＰ型ＩＣを搬送
してＩＣソケットに接触させる場合に、ＩＣソケットの
接触子を画像認識し、ＩＣソケットの傾きと中心位置を
求める方法についてのものである。この発明が利用され
る装置には例えば、オートハンドラがあり、ＩＣソケッ
トはＩＣテスタに接続され、ＩＣが電気試験される。
してＩＣソケットに接触させる場合に、ＩＣソケットの
接触子を画像認識し、ＩＣソケットの傾きと中心位置を
求める方法についてのものである。この発明が利用され
る装置には例えば、オートハンドラがあり、ＩＣソケッ
トはＩＣテスタに接続され、ＩＣが電気試験される。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術による接触・位置決め装
置の構成を図３により説明する。図３の１はＱＦＰ型Ｉ
Ｃ、２はハンド、３はＩＣソケット、４Ａと４Ｂは画像
処理用カメラ、５は画像処理部、６と７は位置検出部、
８Ａは演算部、８Ｂは機構動作制御部である。
置の構成を図３により説明する。図３の１はＱＦＰ型Ｉ
Ｃ、２はハンド、３はＩＣソケット、４Ａと４Ｂは画像
処理用カメラ、５は画像処理部、６と７は位置検出部、
８Ａは演算部、８Ｂは機構動作制御部である。
【０００３】図３では、Ｘステージ１Ｘ上にＹステージ
１Ｙが搭載され、Ｙステージ１Ｙにはモータ２Ａとシリ
ンダ１１と画像処理用カメラ４Ａが配置される。テーブ
ル１２には、ＩＣソケット３と画像処理用カメラ４Ｂと
位置決め台１０が配置される。
１Ｙが搭載され、Ｙステージ１Ｙにはモータ２Ａとシリ
ンダ１１と画像処理用カメラ４Ａが配置される。テーブ
ル１２には、ＩＣソケット３と画像処理用カメラ４Ｂと
位置決め台１０が配置される。
【０００４】モータＭｘが回転すると、モータＭｘと連
結するボールねじは回転を直進運動に変換し、Ｘステー
ジ１ＸはＸ軸方向に移動する。モータＭｙが回転する
と、モータＭｙと連結するボールねじは回転を直進運動
に変換し、Ｙステージ１ＹはＹ軸方向に移動する。
結するボールねじは回転を直進運動に変換し、Ｘステー
ジ１ＸはＸ軸方向に移動する。モータＭｙが回転する
と、モータＭｙと連結するボールねじは回転を直進運動
に変換し、Ｙステージ１ＹはＹ軸方向に移動する。
【０００５】画像処理用カメラ４Ａ・４Ｂは画像処理部
５に接続される。画像処理部５は位置算出部７と位置算
出部６に接続する。位置算出部６・７は演算部８Ａに接
続し、演算部８Ａは機構動作制御部８Ｂに接続する。機
構動作制御部８Ｂはモータ２ＡとモータＭｘとモータＭ
ｙに接続する。制御部２１は位置算出部６・７と演算部
８Ａと機構動作制御部８Ｂで構成される。
５に接続される。画像処理部５は位置算出部７と位置算
出部６に接続する。位置算出部６・７は演算部８Ａに接
続し、演算部８Ａは機構動作制御部８Ｂに接続する。機
構動作制御部８Ｂはモータ２ＡとモータＭｘとモータＭ
ｙに接続する。制御部２１は位置算出部６・７と演算部
８Ａと機構動作制御部８Ｂで構成される。
【０００６】図４は図３の要部断面拡大図である。図４
では、モータ２Ａにはハンド２が取り付けられ、ハンド
２の先端に吸着パッド２Ｂをもち、吸着パッド２ＢはＱ
ＦＰ型ＩＣ１を吸着または脱着する。モータ２Ａは、Ｘ
Ｙ平面上でハンド２を微小角度θ分回転させる。シリン
ダ１１のピストンロッドはハンド２と連結してハンド２
を上下動させる。また、テーブル１２に保持されたＩＣ
ソケット３はＩＣテスタ３０に接続され、ＩＣテスタ３
０はＩＣソケット３に接触するＱＦＰ型ＩＣ１を電気試
験する。
では、モータ２Ａにはハンド２が取り付けられ、ハンド
２の先端に吸着パッド２Ｂをもち、吸着パッド２ＢはＱ
ＦＰ型ＩＣ１を吸着または脱着する。モータ２Ａは、Ｘ
Ｙ平面上でハンド２を微小角度θ分回転させる。シリン
ダ１１のピストンロッドはハンド２と連結してハンド２
を上下動させる。また、テーブル１２に保持されたＩＣ
ソケット３はＩＣテスタ３０に接続され、ＩＣテスタ３
０はＩＣソケット３に接触するＱＦＰ型ＩＣ１を電気試
験する。
【０００７】次に、図３の作用を説明する。図３の位置
決め台１０は、図示されないハンドによって搬送された
ＱＦＰ型ＩＣ１をＩＣソケット３に接触させるのに先立
ち、位置決めするためのものである。位置決め台１０は
ＱＦＰ型ＩＣ１の外形に合わせ、外形よりわずかに大き
な凹部が形成され、ＱＦＰ型ＩＣ１が入り易い構造にな
っている。なお、位置決め台１０と同様なものが実願平
4-66261号の明細書に記載されている。
決め台１０は、図示されないハンドによって搬送された
ＱＦＰ型ＩＣ１をＩＣソケット３に接触させるのに先立
ち、位置決めするためのものである。位置決め台１０は
ＱＦＰ型ＩＣ１の外形に合わせ、外形よりわずかに大き
な凹部が形成され、ＱＦＰ型ＩＣ１が入り易い構造にな
っている。なお、位置決め台１０と同様なものが実願平
4-66261号の明細書に記載されている。
【０００８】画像処理用カメラ４Ａはテーブル１２に取
り付けられたＩＣソケット３を上から画像認識するため
のものであり、画像処理用カメラ４Ｂはハンド２に吸着
されたＱＦＰ型ＩＣ１を下から画像認識するためのもの
である。
り付けられたＩＣソケット３を上から画像認識するため
のものであり、画像処理用カメラ４Ｂはハンド２に吸着
されたＱＦＰ型ＩＣ１を下から画像認識するためのもの
である。
【０００９】図５は図３のＩＣソケット３の拡大平面図
である。ＩＣソケット３は図５に示されるように、対角
線上に円筒形のマーク３Ａが圧入されている。マーク３
Ａは接触子３Ｃとの位置関係を画像処理用カメラ４Ａで
認識するためのものであり、マーク３Ａの地色は、ＩＣ
ソケット３の地色と画像処理用カメラ４Ａで識別できる
程度に変えてある。画像処理用カメラ４Ａでマーク３Ａ
を認識し、画像処理データからＩＣソケット３の中心を
算出することができる。なお、図５の接触子３Ｂは図４
のＩＣテスタ３０と接続されている。
である。ＩＣソケット３は図５に示されるように、対角
線上に円筒形のマーク３Ａが圧入されている。マーク３
Ａは接触子３Ｃとの位置関係を画像処理用カメラ４Ａで
認識するためのものであり、マーク３Ａの地色は、ＩＣ
ソケット３の地色と画像処理用カメラ４Ａで識別できる
程度に変えてある。画像処理用カメラ４Ａでマーク３Ａ
を認識し、画像処理データからＩＣソケット３の中心を
算出することができる。なお、図５の接触子３Ｂは図４
のＩＣテスタ３０と接続されている。
【００１０】次に、図３の動作を図６のフローチャート
により説明する。ステップ２０１では、画像処理用カメ
ラ４ＡがＩＣソケット３上に移動し、ステップ２０２で
は画像処理用カメラ４ＡでＩＣソケット３のマーク３Ａ
を認識し、ＩＣソケット３の中心を算出する。
により説明する。ステップ２０１では、画像処理用カメ
ラ４ＡがＩＣソケット３上に移動し、ステップ２０２で
は画像処理用カメラ４ＡでＩＣソケット３のマーク３Ａ
を認識し、ＩＣソケット３の中心を算出する。
【００１１】ステップ２０３ではハンド２を位置決め台
１０上に移動させ、ステップ２０４ではハンド２が降下
し、位置決め台１０に置かれたＱＦＰ型ＩＣ１を吸着す
る。ステップ２０５では、ハンド２はＱＦＰ型ＩＣ１を
吸着した状態で、画像処理用カメラ４Ｂ上に移動する。
１０上に移動させ、ステップ２０４ではハンド２が降下
し、位置決め台１０に置かれたＱＦＰ型ＩＣ１を吸着す
る。ステップ２０５では、ハンド２はＱＦＰ型ＩＣ１を
吸着した状態で、画像処理用カメラ４Ｂ上に移動する。
【００１２】ステップ２０６では、画像処理用カメラ４
ＢはＱＦＰ型ＩＣ１を撮像し、ＱＦＰ型ＩＣ１の重心Ｇ
と、モータ２Ａの回転角度θを算出する。ステップ２０
７では、ステップ２０２で得られたＩＣソケット３の中
心と、ステップ２０７で得られたＱＦＰ型ＩＣ１の重心
Ｇが一致するようＸステージ１Ｘ、Ｙステージ１Ｙを移
動させ、更に、ＩＣソケット３とＱＦＰ型ＩＣ１の回転
角度が一致するまで、ハンド２を回転する。
ＢはＱＦＰ型ＩＣ１を撮像し、ＱＦＰ型ＩＣ１の重心Ｇ
と、モータ２Ａの回転角度θを算出する。ステップ２０
７では、ステップ２０２で得られたＩＣソケット３の中
心と、ステップ２０７で得られたＱＦＰ型ＩＣ１の重心
Ｇが一致するようＸステージ１Ｘ、Ｙステージ１Ｙを移
動させ、更に、ＩＣソケット３とＱＦＰ型ＩＣ１の回転
角度が一致するまで、ハンド２を回転する。
【００１３】ステップ２０８では、シリンダ１１でハン
ド２を降下し、ＱＦＰ型ＩＣ１をＩＣソケット３に接触
させ、一連の動作を終了する。
ド２を降下し、ＱＦＰ型ＩＣ１をＩＣソケット３に接触
させ、一連の動作を終了する。
【００１４】次に、図３の制御系を説明する。図３で
は、画像処理用カメラ４ＡでＩＣソケット３を撮像した
第１の映像は画像処理部５に送出され、画像処理部５は
第１の映像を第１の映像データに変換して位置算出部６
に送出する。位置算出部６は第１の映像データからＩＣ
ソケット３の中心と傾きを算出し、第１の位置データと
して格納する。
は、画像処理用カメラ４ＡでＩＣソケット３を撮像した
第１の映像は画像処理部５に送出され、画像処理部５は
第１の映像を第１の映像データに変換して位置算出部６
に送出する。位置算出部６は第１の映像データからＩＣ
ソケット３の中心と傾きを算出し、第１の位置データと
して格納する。
【００１５】画像処理用カメラ４ＢでＱＦＰ型ＩＣ１を
撮像した第２の映像は画像処理部５に送出され、画像処
理部５は第２の映像を第２の映像データに変換して位置
算出部７に送出する。位置算出部７は第２の映像データ
からＱＦＰ型ＩＣ１の中心と傾きを算出し、第２の位置
データとして格納する。
撮像した第２の映像は画像処理部５に送出され、画像処
理部５は第２の映像を第２の映像データに変換して位置
算出部７に送出する。位置算出部７は第２の映像データ
からＱＦＰ型ＩＣ１の中心と傾きを算出し、第２の位置
データとして格納する。
【００１６】演算部８Ａは位置算出部６からＩＣソケッ
ト３の第１の位置データを読み込み、位置算出部７から
ＱＦＰ型ＩＣ１の第２の位置データを読み込み、第１の
位置データと第２の位置データを比較演算し、補正デー
タを機構動作制御部８Ｂに送出する。
ト３の第１の位置データを読み込み、位置算出部７から
ＱＦＰ型ＩＣ１の第２の位置データを読み込み、第１の
位置データと第２の位置データを比較演算し、補正デー
タを機構動作制御部８Ｂに送出する。
【００１７】機構動作制御部８Ｂは前記補正データか
ら、モータ２Ａ・Ｍｘ・Ｍｙの回転数を指令する。モー
タ２Ａ・Ｍｘ・Ｍｙに例えば、パルスモータを使用した
場合は補正に必要な駆動パルス数をモータ２Ａ・Ｍｘ・
Ｍｙに与え、ハンド２のＸＹ座標および回転角度θを決
定する。
ら、モータ２Ａ・Ｍｘ・Ｍｙの回転数を指令する。モー
タ２Ａ・Ｍｘ・Ｍｙに例えば、パルスモータを使用した
場合は補正に必要な駆動パルス数をモータ２Ａ・Ｍｘ・
Ｍｙに与え、ハンド２のＸＹ座標および回転角度θを決
定する。
【００１８】図７は図３の位置算出部６の要部構成図で
あり、位置算出部６はメモリ６Ａと演算手段６Ｂとメモ
リ６Ｃで構成される。図７の構成によるＩＣソケット３
の位置検出方法を図８のフローチャートにより説明す
る。
あり、位置算出部６はメモリ６Ａと演算手段６Ｂとメモ
リ６Ｃで構成される。図７の構成によるＩＣソケット３
の位置検出方法を図８のフローチャートにより説明す
る。
【００１９】ステップ３０１では、ＩＣソケット３上に
ある画像処理用カメラ４ＡでＩＣソケット３の映像を画
像処理部５に取り込む。ステップ３０２では、画像処理
部５では取り込まれた映像データの中からマーク３Ａの
位置を認識する。ステップ３０３では、第１のマーク３
Ａと第２のマーク３Ａのそれぞれの中心位置座標をメモ
リ６Ａに転送する。
ある画像処理用カメラ４ＡでＩＣソケット３の映像を画
像処理部５に取り込む。ステップ３０２では、画像処理
部５では取り込まれた映像データの中からマーク３Ａの
位置を認識する。ステップ３０３では、第１のマーク３
Ａと第２のマーク３Ａのそれぞれの中心位置座標をメモ
リ６Ａに転送する。
【００２０】ステップ３０４では、演算手段９Ｂはメモ
リ６Ａに格納されたマーク３Ａの中心位置座標の中点位
置座標を算出し、第１のデータとする。ステップ３０５
では、第１のマーク３Ａと第２のマーク３Ａの中点位置
座標を結んだ線分の傾きを求め、第２のデータとする。
ステップ３０６では、前記第１のデータと前記第２のデ
ータをＩＣソケット３の中心位置およびＩＣソケット３
の傾きとしてメモリ６Ｃに記憶する
リ６Ａに格納されたマーク３Ａの中心位置座標の中点位
置座標を算出し、第１のデータとする。ステップ３０５
では、第１のマーク３Ａと第２のマーク３Ａの中点位置
座標を結んだ線分の傾きを求め、第２のデータとする。
ステップ３０６では、前記第１のデータと前記第２のデ
ータをＩＣソケット３の中心位置およびＩＣソケット３
の傾きとしてメモリ６Ｃに記憶する
【００２１】
【発明が解決しようとする課題】ＱＦＰ型ＩＣは、多ピ
ン化、狭ピッチ化の傾向が強くなっている。したがっ
て、ＱＦＰ型ＩＣとＩＣソケットを位置合わせする場合
に、より精密な位置合わせが求められる。従来のＩＣソ
ケットの位置検出方法では、ＩＣソケット位置検出用マ
ーク３Ａの組立精度が 0.1mmであるため、機械総合精度
として 0.1mmより位置検出の精度を上げることは不可能
である。この発明は、より高精度にＩＣソケットの位置
を検出する方法を提供することを目的とする。る。
ン化、狭ピッチ化の傾向が強くなっている。したがっ
て、ＱＦＰ型ＩＣとＩＣソケットを位置合わせする場合
に、より精密な位置合わせが求められる。従来のＩＣソ
ケットの位置検出方法では、ＩＣソケット位置検出用マ
ーク３Ａの組立精度が 0.1mmであるため、機械総合精度
として 0.1mmより位置検出の精度を上げることは不可能
である。この発明は、より高精度にＩＣソケットの位置
を検出する方法を提供することを目的とする。る。
【００２２】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明では、画像処理用カメラ４ＡはＩＣソケッ
ト３を撮像し、ＩＣソケット３の撮像データは画像処理
部５に入力され、画像処理部５はＱＦＰ型ＩＣ１のリー
ドに接触するＩＣソケット３の接触子３Ｃの中からＩＣ
ソケット３の４隅に直交する接触子３Ｃの各重心座標Ｇ
を算出して、前記各重心座標Ｇをメモリ６Ａに格納し、
接触子３Ｃの第１辺の両端の重心座標ＧをＧａ・Ｇｂと
し、接触子３Ｃの第２辺の両端の重心座標ＧをＧｃ・Ｇ
ｄとし、接触子３Ｃの第３辺の両端の重心座標ＧをＧｅ
・Ｇｆとし、接触子３Ｃの第４辺の両端の重心座標Ｇを
Ｇｇ・Ｇｈとし、演算手段６Ｂは第１のステップで、メ
モリ６Ａから前記各重心座標Ｇを読み込み、演算手段６
Ｂは第２のステップで、重心座標Ｇａと重心座標Ｇｆを
結ぶ線分Ｌ１と、重心座標Ｇｂと重心座標Ｇｅを結ぶ線
分Ｌ２と、重心座標Ｇｃと重心座標Ｇｈを結ぶ線分Ｌ３
と、重心座標Ｇｄと重心座標Ｇｇを結ぶ線分Ｌ４を算出
し、演算手段６Ｂは第３のステップで、線分Ｌ１と線分
Ｌ３の交点座標Ｃｉと、線分Ｌ３と線分Ｌ２の交点座標
Ｃｊと、線分Ｌ２と線分Ｌ４の交点座標Ｃｋと、線分Ｌ
４と線分Ｌ４の交点座標Ｃｌとを算出し、演算手段６Ｂ
は第４のステップで、交点座標Ｃｉと交点座標Ｃｋを結
ぶ線分Ｌ５と、交点座標Ｃｊと交点座標Ｃｌを結ぶ線分
Ｌ６を算出し、演算手段６Ｂは第５のステップで、線分
Ｌ５と線分Ｌ６の交点座標Ｃｏを算出し、演算手段６Ｂ
は第６のステップで、線分Ｌ１のデータＤ１とし、交点
座標ＣｏをデータＤ２として、データＤ１とデータＤ２
をメモリ６Ｃに格納し、データＤ１を基準となるＸＹ座
標でのＩＣソケット３の傾きとし、データＤ２を基準と
なるＸＹ座標でのＩＣソケット３の中心座標としてＩＣ
ソケット３の位置を検出する。
め、この発明では、画像処理用カメラ４ＡはＩＣソケッ
ト３を撮像し、ＩＣソケット３の撮像データは画像処理
部５に入力され、画像処理部５はＱＦＰ型ＩＣ１のリー
ドに接触するＩＣソケット３の接触子３Ｃの中からＩＣ
ソケット３の４隅に直交する接触子３Ｃの各重心座標Ｇ
を算出して、前記各重心座標Ｇをメモリ６Ａに格納し、
接触子３Ｃの第１辺の両端の重心座標ＧをＧａ・Ｇｂと
し、接触子３Ｃの第２辺の両端の重心座標ＧをＧｃ・Ｇ
ｄとし、接触子３Ｃの第３辺の両端の重心座標ＧをＧｅ
・Ｇｆとし、接触子３Ｃの第４辺の両端の重心座標Ｇを
Ｇｇ・Ｇｈとし、演算手段６Ｂは第１のステップで、メ
モリ６Ａから前記各重心座標Ｇを読み込み、演算手段６
Ｂは第２のステップで、重心座標Ｇａと重心座標Ｇｆを
結ぶ線分Ｌ１と、重心座標Ｇｂと重心座標Ｇｅを結ぶ線
分Ｌ２と、重心座標Ｇｃと重心座標Ｇｈを結ぶ線分Ｌ３
と、重心座標Ｇｄと重心座標Ｇｇを結ぶ線分Ｌ４を算出
し、演算手段６Ｂは第３のステップで、線分Ｌ１と線分
Ｌ３の交点座標Ｃｉと、線分Ｌ３と線分Ｌ２の交点座標
Ｃｊと、線分Ｌ２と線分Ｌ４の交点座標Ｃｋと、線分Ｌ
４と線分Ｌ４の交点座標Ｃｌとを算出し、演算手段６Ｂ
は第４のステップで、交点座標Ｃｉと交点座標Ｃｋを結
ぶ線分Ｌ５と、交点座標Ｃｊと交点座標Ｃｌを結ぶ線分
Ｌ６を算出し、演算手段６Ｂは第５のステップで、線分
Ｌ５と線分Ｌ６の交点座標Ｃｏを算出し、演算手段６Ｂ
は第６のステップで、線分Ｌ１のデータＤ１とし、交点
座標ＣｏをデータＤ２として、データＤ１とデータＤ２
をメモリ６Ｃに格納し、データＤ１を基準となるＸＹ座
標でのＩＣソケット３の傾きとし、データＤ２を基準と
なるＸＹ座標でのＩＣソケット３の中心座標としてＩＣ
ソケット３の位置を検出する。
【００２３】
【作用】次に、この発明によるＩＣソケット３の位置検
出方法を図１と図２により説明する。図１は画像処理用
カメラ４Ａで撮像されるＩＣソケット３の撮像である。
図１アのＧａ〜ＧｈはＩＣソケット３の４隅に直交する
接触子３Ｃの各重心座標Ｇである。図１イのＬ１〜Ｌ４
は対向する各重心座標Ｇを結ぶ線分であり、Ｃｉ〜Ｃｌ
は線分Ｌ１〜Ｌ４の交点座標である。図１ウのＬ５は交
点座標Ｃｉと交点座標Ｃｋを結ぶ線分であり、Ｌ６は交
点座標Ｃｊと交点座標Ｃｋを結ぶ線分である。またＣｏ
は線分Ｌ５と線分Ｌ６の交点座標である。
出方法を図１と図２により説明する。図１は画像処理用
カメラ４Ａで撮像されるＩＣソケット３の撮像である。
図１アのＧａ〜ＧｈはＩＣソケット３の４隅に直交する
接触子３Ｃの各重心座標Ｇである。図１イのＬ１〜Ｌ４
は対向する各重心座標Ｇを結ぶ線分であり、Ｃｉ〜Ｃｌ
は線分Ｌ１〜Ｌ４の交点座標である。図１ウのＬ５は交
点座標Ｃｉと交点座標Ｃｋを結ぶ線分であり、Ｌ６は交
点座標Ｃｊと交点座標Ｃｋを結ぶ線分である。またＣｏ
は線分Ｌ５と線分Ｌ６の交点座標である。
【００２４】次に、この発明によるＩＣソケットの位置
検出手順を図２のフローチャートにより説明する。図２
のステップ１０１では、ＩＣソケット３上にある画像処
理用カメラ４ＡでＩＣソケット３の映像を画像処理部５
に取り込む。ステップ１０２では、画像処理部５はＱＦ
Ｐ型ＩＣ１のリードに接触するＩＣソケット３の接触子
３Ｃの中からＩＣソケット３の４隅に直交する接触子３
Ｃの各重心座標Ｇを算出する。ステップ１０３では、前
記各重心座標Ｇをメモリ６Ａに格納する。
検出手順を図２のフローチャートにより説明する。図２
のステップ１０１では、ＩＣソケット３上にある画像処
理用カメラ４ＡでＩＣソケット３の映像を画像処理部５
に取り込む。ステップ１０２では、画像処理部５はＱＦ
Ｐ型ＩＣ１のリードに接触するＩＣソケット３の接触子
３Ｃの中からＩＣソケット３の４隅に直交する接触子３
Ｃの各重心座標Ｇを算出する。ステップ１０３では、前
記各重心座標Ｇをメモリ６Ａに格納する。
【００２５】ステップ１０４では、演算手段６Ｂはメモ
リ６Ａから前記各重心座標Ｇを読み込む。ステップ１０
５では演算手段６Ｂは重心座標Ｇａと重心座標Ｇｆを結
ぶ線分Ｌ１と、重心座標Ｇｂと重心座標Ｇｅを結ぶ線分
Ｌ２と、重心座標Ｇｃと重心座標Ｇｈを結ぶ線分Ｌ３
と、重心座標Ｇｄと重心座標Ｇｇを結ぶ線分Ｌ４を算出
する。
リ６Ａから前記各重心座標Ｇを読み込む。ステップ１０
５では演算手段６Ｂは重心座標Ｇａと重心座標Ｇｆを結
ぶ線分Ｌ１と、重心座標Ｇｂと重心座標Ｇｅを結ぶ線分
Ｌ２と、重心座標Ｇｃと重心座標Ｇｈを結ぶ線分Ｌ３
と、重心座標Ｇｄと重心座標Ｇｇを結ぶ線分Ｌ４を算出
する。
【００２６】ステップ１０６では、演算手段６Ｂは線分
Ｌ１と線分Ｌ３の交点座標Ｃｉと、線分Ｌ３と線分Ｌ２
の交点座標Ｃｊと、線分Ｌ２と線分Ｌ４の交点座標Ｃｋ
と、線分Ｌ４と線分Ｌ４の交点座標Ｃｌとを算出する。
Ｌ１と線分Ｌ３の交点座標Ｃｉと、線分Ｌ３と線分Ｌ２
の交点座標Ｃｊと、線分Ｌ２と線分Ｌ４の交点座標Ｃｋ
と、線分Ｌ４と線分Ｌ４の交点座標Ｃｌとを算出する。
【００２７】ステップ１０７では、演算手段６Ｂは交点
座標Ｃｉと交点座標Ｃｋを結ぶ線分Ｌ５と、交点座標Ｃ
ｊと交点座標Ｃｌを結ぶ線分Ｌ６を算出し、ステップ１
０８では、演算手段６Ｂは線分Ｌ５と線分Ｌ６の交点座
標Ｃｏを算出する。
座標Ｃｉと交点座標Ｃｋを結ぶ線分Ｌ５と、交点座標Ｃ
ｊと交点座標Ｃｌを結ぶ線分Ｌ６を算出し、ステップ１
０８では、演算手段６Ｂは線分Ｌ５と線分Ｌ６の交点座
標Ｃｏを算出する。
【００２８】ステップ１０９では、演算手段６Ｂは線分
Ｌ１のデータをＤ１とし、交点座標ＣｏをデータをＤ２
として、データＤ１とデータＤ２をメモリ６Ｃに格納
し、一連の手順を終了する。
Ｌ１のデータをＤ１とし、交点座標ＣｏをデータをＤ２
として、データＤ１とデータＤ２をメモリ６Ｃに格納
し、一連の手順を終了する。
【００２９】図２の手順で得られたメモリ６Ｃのデータ
Ｄ１を基準となるＸＹ座標でのＩＣソケット３の傾きと
し、データＤ２を基準となるＸＹ座標でのＩＣソケット
３の中心座標としてＩＣソケット３の位置を検出する。
この方法によれば、ＩＣソケット位置を0.01mmの精度で
認識することができる。
Ｄ１を基準となるＸＹ座標でのＩＣソケット３の傾きと
し、データＤ２を基準となるＸＹ座標でのＩＣソケット
３の中心座標としてＩＣソケット３の位置を検出する。
この方法によれば、ＩＣソケット位置を0.01mmの精度で
認識することができる。
【００３０】
【発明の効果】この発明は、画像処理用カメラでＩＣソ
ケットの映像を画像処理部に取り込み、画像処理部はＱ
ＦＰ型ＩＣのリードに接触するＩＣソケットの接触子の
中からＩＣソケットの４隅に直交する接触子の各重心座
標を算出し、演算手段で対向する各重心座標Ｇを結ぶ第
１の４線分を算出し、第１の４線分の第１の４交点座標
を算出し、対向する第１の４交点座標を結ぶ第２の２線
分を算出し、第２の２線分の第２の交点座標を算出し、
第１の線分を少なくとも１つをＩＣソケットの傾きと
し、第２の交点座標をＩＣソケットの中心座標として位
置検出するので、より高精度にＩＣソケットの位置を検
出できる。
ケットの映像を画像処理部に取り込み、画像処理部はＱ
ＦＰ型ＩＣのリードに接触するＩＣソケットの接触子の
中からＩＣソケットの４隅に直交する接触子の各重心座
標を算出し、演算手段で対向する各重心座標Ｇを結ぶ第
１の４線分を算出し、第１の４線分の第１の４交点座標
を算出し、対向する第１の４交点座標を結ぶ第２の２線
分を算出し、第２の２線分の第２の交点座標を算出し、
第１の線分を少なくとも１つをＩＣソケットの傾きと
し、第２の交点座標をＩＣソケットの中心座標として位
置検出するので、より高精度にＩＣソケットの位置を検
出できる。
【図１】この発明による画像処理用カメラ４Ａで撮像さ
れるＩＣソケット３の撮像である。
れるＩＣソケット３の撮像である。
【図２】この発明によるＩＣソケットの位置検出手順を
しめすフローチャートである。
しめすフローチャートである。
【図３】従来技術による接触・位置決め装置の構成図で
ある。
ある。
【図４】図３の要部断面拡大図である。
【図５】図３のＩＣソケット３の拡大平面図である。
【図６】図３の動作をしめすフローチャートである。
【図７】図３の位置算出部６の要部構成図である。
【図８】図７の構成によるＩＣソケット３の従来の位置
検出方法をしめすフローチャートである。
検出方法をしめすフローチャートである。
１ ＱＦＰ型ＩＣ ２ ハンド ３ ＩＣソケット ３Ｃ 接触子 ４Ａ 画像処理用カメラ ５ 画像処理部 ６Ａ メモリ ６Ｂ 演算手段 ６Ｃ メモリ １０ 位置決め台
Claims (1)
- 【請求項１】 位置決め台に置かれたＱＦＰ型ＩＣ(1)
をハンド(2) で吸着し、ＩＣソケット(3) 上に搬送し、
ＱＦＰ型ＩＣ(1) をＩＣソケット(3) に接触させ、ＱＦ
Ｐ型ＩＣ(1) を電気試験する装置において、 画像処理用カメラ(4A)はＩＣソケット(3) を撮像し、 ＩＣソケット(3) の撮像データは画像処理部(5) に入力
され、 画像処理部(5) はＱＦＰ型ＩＣ(1) のリードに接触する
ＩＣソケット(3) の接触子(3C)の中からＩＣソケット
(3) の４隅に直交する接触子(3C)の各重心座標Ｇを算出
して、前記各重心座標Ｇを第１のメモリ(6A)に格納し、 接触子(3C)の第１辺の両端の重心座標ＧをＧａ・Ｇｂと
し、 接触子(3C)の第２辺の両端の重心座標ＧをＧｃ・Ｇｄと
し、 接触子(3C)の第３辺の両端の重心座標ＧをＧｅ・Ｇｆと
し、 接触子(3C)の第４辺の両端の重心座標ＧをＧｇ・Ｇｈと
し、 演算手段(6B)は第１のステップで、第１のメモリ(6A)か
ら前記各重心座標Ｇを読み込み、 演算手段(6B)は第２のステップで、重心座標Ｇａと重心
座標Ｇｆを結ぶ第１の線分Ｌ１と、重心座標Ｇｂと重心
座標Ｇｅを結ぶ第２の線分Ｌ２と、重心座標Ｇｃと重心
座標Ｇｈを結ぶ第３の線分Ｌ３と、重心座標Ｇｄと重心
座標Ｇｇを結ぶ第４の線分Ｌ４を算出し、 演算手段(6B)は第３のステップで、第１の線分Ｌ１と第
３の線分Ｌ３の交点座標Ｃｉと、第３の線分Ｌ３と第２
の線分Ｌ２の交点座標Ｃｊと、第２の線分Ｌ２と第４の
線分Ｌ４の交点座標Ｃｋと、第４の線分Ｌ４と第１の線
分Ｌ１の交点座標Ｃｌとを算出し、 演算手段(6B)は第４のステップで、交点座標Ｃｉと交点
座標Ｃｋを結ぶ第５の線分Ｌ５と、交点座標Ｃｊと交点
座標Ｃｌを結ぶ第６の線分Ｌ６を算出し、 演算手段(6B)は第５のステップで、第５の線分Ｌ５と第
６の線分Ｌ６の交点座標Ｃｏを算出し、 演算手段(6B)は第６のステップで、第１の線分Ｌ１の第
１のデータＤ１とし、交点座標Ｃｏを第２のデータＤ２
として、第１のデータＤ１と第２のデータＤ２を第２の
メモリ(6C)に格納し、 第１のデータＤ１を基準となるＸＹ座標でのＩＣソケッ
ト(3) の傾きとし、第２のデータＤ２を基準となるＸＹ
座標でのＩＣソケット(3) の中心座標としてＩＣソケッ
ト(3) の位置を検出することを特徴とするＱＦＰ型ＩＣ
用ＩＣソケットの位置検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12056793A JPH06309436A (ja) | 1993-04-23 | 1993-04-23 | Ｑｆｐ型ｉｃ用ｉｃソケットの位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12056793A JPH06309436A (ja) | 1993-04-23 | 1993-04-23 | Ｑｆｐ型ｉｃ用ｉｃソケットの位置検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06309436A true JPH06309436A (ja) | 1994-11-04 |
Family
ID=14789507
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12056793A Pending JPH06309436A (ja) | 1993-04-23 | 1993-04-23 | Ｑｆｐ型ｉｃ用ｉｃソケットの位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06309436A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003023430A1 (fr) * | 2001-09-10 | 2003-03-20 | Yamaha Motor Co., Ltd. | Dispositif de test de composant |
| WO2004106945A3 (ja) * | 2003-05-30 | 2005-02-17 | Advantest Corp | 電子部品試験装置 |
| WO2004106944A3 (ja) * | 2003-05-30 | 2005-02-17 | Advantest Corp | 電子部品試験装置 |
-
1993
- 1993-04-23 JP JP12056793A patent/JPH06309436A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003023430A1 (fr) * | 2001-09-10 | 2003-03-20 | Yamaha Motor Co., Ltd. | Dispositif de test de composant |
| WO2004106945A3 (ja) * | 2003-05-30 | 2005-02-17 | Advantest Corp | 電子部品試験装置 |
| WO2004106944A3 (ja) * | 2003-05-30 | 2005-02-17 | Advantest Corp | 電子部品試験装置 |
| KR100751842B1 (ko) * | 2003-05-30 | 2007-08-24 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 전자부품 시험장치 |
| KR100815490B1 (ko) * | 2003-05-30 | 2008-03-24 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 전자부품 시험장치 |
| US7511522B2 (en) | 2003-05-30 | 2009-03-31 | Advantest Corporation | Electronic device test apparatus |
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