JPH06294802A - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】構成が簡単であるとともに高速な分析を行うこ
とが可能な自動分析装置を提供することにある。 【構成】希釈管１６にサンプルを分注するサンプルプロ
−ブ７を備え、このサンプルプロ−ブ７をサンプルプロ
−ブ洗浄槽１７で洗浄する自動分析装置１において、希
釈管１６とサンプルプロ−ブ洗浄槽１７を一体化し互い
に連通させた希釈・洗浄部４を備えた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば、サンプル（試
料）を吸引・吐出するサンプルプロ−ブを自動洗浄しな
がら繰返し使用する自動分析装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、自動分析装置には、サンプル
（試料）を吸引・吐出するサンプルプロ−ブを自動洗浄
しながら繰返し使用するタイプのものがある。この種の
自動分析装置においては、試料と希釈液とが分注される
容器（希釈管）と、サンプルプロ−ブを洗浄するための
容器（サンプルプロ−ブ洗浄槽）とが備えられており、
サンプルプロ−ブはこれらの容器の間を往復する。

【０００３】また、この他のタイプの分析装置が特開昭
６０−２６３８５０号公報に示されている。この分析装
置においては、試料の測定が終った後に、試料液吸引ノ
ズル（サンプルプロ−ブ）が筒状容器（プロ−ブ洗浄
槽）に収納され、筒状容器に洗浄液が供給される。そし
て、筒状容器に供給された洗浄液によって試料液吸引ノ
ズルの主に外面が洗浄される。さらに、試料液吸引ノズ
ルの内面の洗浄の際には、試料液吸引ノズルが筒状容器
内の洗浄液を吸引し、洗浄液が試料液吸引ノズルの中で
流動しながら付着試料を除去する。

【０００４】試料液吸引ノズルの洗浄の際、洗浄液の供
給は、余分な洗浄液を筒状容器からオ−バ−フロ−させ
ながら続けられる。そして、オ−バ−フロ−した洗浄液
は、廃液として所定の容器に回収される。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な従来の分析装置には以下のような不具合がある。

【０００６】すなわち、サンプルプロ−ブが試料希釈用
の容器と洗浄用の容器との間を往復移動するので、往復
移動のための機構が必要である。したがって、自動分析
装置の構成が複雑になる。さらに、構成が複雑であるの
で、分析装置が大型且つ高価であるとともに、故障が生
じ易い。また、サンプルプロ−ブを容器間で往復させめ
の時間を要するので、分析の高速化が困難である。

【０００７】本発明の目的とするところは、構成が簡単
であるとともに高速な分析を行うことが可能な自動分析
装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段および作用】上記目的を達
成するために本発明は、希釈用容器に試料を分注するサ
ンプルプロ−ブを備え、このサンプルプロ−ブをサンプ
ルプロ−ブ洗浄用容器で洗浄する自動分析装置におい
て、希釈用容器とサンプルプロ−ブ洗浄用容器を一体化
し互いに連通させた希釈・洗浄部を備えたことにある。

【０００９】こうすることによって本発明は、自動分析
装置の構成を簡単化するとともに、高速な分析を行える
ようにしたことにある。

【００１０】

【実施例】以下、本発明の各実施例を図１〜図８に基づ
いて説明する。

【００１１】図１〜図４は本発明の第１実施例を示して
おり、図１中の符号１は自動分析装置である。この自動
分析装置１には、分注部２、サンプルラック搬送部３、
希釈・洗浄部４、及び、電極測定部５が備えられてい
る。

【００１２】これらのうち分注部２はサンプルプロ−ブ
ア−ム２ａを備えている。サンプルプロ−ブア−ム２ａ
は、図２中に示すように回転軸６によって支持されてお
り、一端を中心として水平に矢印双方に回動する。ま
た、サンプルプロ−ブア−ム２ａは昇降機構に連結され
ており、自在に昇降する。ここで、回動及び昇降のため
の手段には一般的な種々のものを採用できるので、ここ
では昇降機構の図示及び説明は省略する。

【００１３】サンプルプロ−ブア−ム２ａには先細のサ
ンプルプロ−ブ７が設けられており、サンプルプロ−ブ
７はサンプルプロ−ブア−ム２ａの先端から下向きに垂
設されている。サンプルプロ−ブ７にはサンプルシリン
ジ８が接続されている。さらに、サンプルシリンジ８に
は、希釈液シリンジ９と希釈液容器１０とが三方電磁弁
１１を介して接続されている。そして、希釈液容器１０
には希釈液１２が収容されている。ここで、サンプルシ
リンジ８と希釈液シリンジ９の各ストロ−ク量は、図示
せぬ制御部によって、それぞれ所望の容量が得られるよ
うに駆動制御されている。

【００１４】サンプルラック搬送部３には、サンプルラ
ック１３…（２つのみ図示）が供給されており、各サン
プルラック１３には複数のサンプル容器１４…が一列に
保持されている。さらに、各サンプル容器１４は、血
液、尿等の所定のサンプル（試料）を収容している。サ
ンプルラック搬送部３はサンプルラック１３…を、矢印
Ａ、Ａで示すよう所定の方向にピッチ送りする。そし
て、各サンプル容器１４…は、サンプリング位置１５で
順次一旦停止させられる。

【００１５】希釈・洗浄部４には、希釈用容器としての
希釈管１６、洗浄用容器としてのサンプルプロ−ブ洗浄
槽（以下、洗浄槽と称する）１７、及び、廃液ポット部
１８が備えられている。希釈管１６と廃液ポット部１８
とはともに上部を開放している。希釈管１６は廃液ポッ
ト部１８の内側に同心的に収容されており、廃液ポット
部１８は希釈管１６を覆い隠している。さらに、廃液ポ
ット部１８の底部には廃液ノズル１９が接続されてお
り、廃液ポット部１８はこの廃液ノズル１９を介してポ
ンプ２０に接続されている。また、廃液ポット部１８と
ポンプ２０との間には廃液容器２１が設けられている。

【００１６】図２中に示すように、希釈管１６の内壁は
四つの傾斜した曲面による傾斜部を構成しており、希釈
管１６の内側空間は下方へいくほど細くなっている。曲
面の曲率や個数は、必要に応じて適宜変更してよい。希
釈管１６の内側空間の奥部では洗浄槽１７が開口してお
り、希釈管１６及び洗浄槽１７の空間は互いに連通して
いる。なお、傾斜部の形状は、円形状に凹んでいても、
星型に角ばっていてもよく（図５（ｂ））、場合によっ
ては、細かな筋状の起伏を形成して滑り抵抗を増加させ
てもよい。

【００１７】つまり、希釈管１６と洗浄槽１７とは一体
に形成されており、洗浄槽１７は希釈管１６の底部に同
心的に位置している。さらに、希釈管１６の内側空間と
洗浄槽１７の内側空間とは連続している。そして、洗浄
槽１７の容積は希釈管１６の容積に比べて小さい。

【００１８】希釈管１６にはステッピングモ−タ２２が
連結されており、ステッピングモ−タ２２の回転力は、
ギア部２３や伝達軸２４を介して希釈管１６に伝達され
る。伝達軸２４は希釈管１６の下端に同心的に連結され
ており、ステッピングモ−タ２２の駆動に伴って希釈管
１６が回転する。なお、伝達軸２４は廃液ノズル１９を
貫通しており、廃液ノズル１９と伝達軸２４との間は廃
液の漏れが生じないよう適宜のシ−リング構造になって
いる。

【００１９】洗浄槽１７の底部には、二方電磁弁２５及
び伝達軸２４を介して検液吸引ノズル２６が接続されて
いる。即ち、伝達軸２４は点線で示したように管状の中
空を形成して、２６ａのベアリングにより、検液吸引ノ
ズル２６ｂと接続している。さらに、この検液吸引ノズ
ル２６は、図１中に示すようにポンプ２０に導かれてい
る。

【００２０】二方電磁弁２５とポンプ２０との間には前
記電極測定部５が設けられている。さらに、検液吸引ノ
ズル２６には三方電磁弁２８を介して内部標準液容器２
９が接続されており、三方電磁弁２８の位置は二方電磁
弁２５と電極測定部５との間の部位に設定されている。
また、電極測定部５には、比較外筒液を収容した比較外
筒液容器３０が接続されている。

【００２１】つぎに、上述の自動分析装置１の作用を説
明する。

【００２２】まず、サンプルプロ−ブア−ム２ａは回転
軸６を中心として水平に回動し、サンプルプロ−ブ７を
サンプルラック搬送部３の側へ移動させる。サンプルプ
ロ−ブ７はサンプリング位置１５で停止し、この位置に
在るサンプル容器１４ａからサンプルを所定量吸引す
る。サンプルプロ−ブ７には所定量の希釈液が予め吸引
されており、サンプルプロ−ブ７（及びサンプルプロ−
ブ７の配管）内には希釈液とサンプルとが保持されてい
る。

【００２３】この後、サンプルプロ−ブ７は希釈・洗浄
部４の側へ移動し、希釈管１６の中心で停止する。さら
に、サンプルプロ−ブ７は希釈管１６の中に下降し、希
釈管１６にサンプルを吐出する。サンプルプロ−ブ７に
は予め希釈液が吸引されているので、サンプルと希釈液
とは検液（サンプルと希釈液との混合液）として吐出さ
れる。また、吐出の際のサンプルプロ−ブ７の高さは、
希釈管１６に吐出された検液にサンプルプロ−ブ７の先
端が２〜３mm程度触れるよう吐出量に応じて設定されて
いる。そして、吐出の後、サンプルプロ−ブ７は上点ま
で上昇する。

【００２４】つぎに、ステッピングモ−タ２２が駆動さ
れ、希釈管１６は一方向もしくは両方向に短い周期で回
転する。そして、希釈管１６の回転に伴って、希釈管１
６の中の検液が撹拌される。このとき、比較的弱い遠心
力で検液が希釈管１６内壁の傾斜部を流動しながら充分
に混和される。なお、撹拌が充分に行われるために、検
液の水位は少なくとも洗浄槽１７より高くなるように洗
浄槽間のサイズを調整するのが好ましい。

【００２５】撹拌された検液はポンプ２０によって必要
量吸引され、二方電磁弁２５（開状態）、検液吸引ノズ
ル２６、及び、三方電磁弁２８（開状態）を経て電極測
定部５に到達する。電極測定部５では到達した検液に対
して所定の測定（後述する）が行われる。そして、電極
測定部５を経た検液は廃液容器２１に回収される。

【００２６】必要量の検液が吸引された後、直ちにステ
ッピングモ−タ２２が駆動され、希釈管１６が高速回転
させられる。そして、希釈管１６の回転に伴う遠心力を
利用して検液が希釈管１６の外に飛ばされ、廃液ポット
部１８が飛ばされた検液を受ける。希釈管１６の回転は
希釈管１６が空になるまで続けられる。

【００２７】空状態になった希釈管１６に対して、サン
プルプロ−ブ７が希釈液を吐出する。このときの希釈液
の吐出量は、洗浄槽１７を希釈液で満たすのに十分な程
度に設定されている。さらに、サンプルプロ−ブ７の高
さは、洗浄槽１７に吐出された検液にサンプルプロ−ブ
７の先端が２〜３mm程度触れるよう設定されている。つ
まり、サンプルプロ−ブ７の先端が希釈液に浸されて、
サンプルプロ−ブ７が希釈液によって洗浄される。この
後、サンプルプロ−ブ７は上点まで上昇する。

【００２８】洗浄槽１７内の希釈液の排出の際には、検
液の排出の場合と同様にステッピングモ−タ２２が希釈
管１６を高速回転させ、遠心力を利用して希釈液が廃液
ポット部１８に飛ばされる。検液吸引ノズル２６が伝達
軸２４の中に導かれているので、希釈管１６は、検液吸
引ノズル２６に邪魔されることなく、円滑に回転する。

【００２９】このとき、ステッピングモ−タ２０の回転
速度は、希釈管１６の内壁の傾斜部の形状や回転機構、
検液の性状等に応じて、適宜決定できる。

【００３０】電極測定部５によって行われる検液の測定
には、電解質の分析のための一般的な種々の方法を採用
することが可能である。例えば、内部標準液と外部標準
液を測定し、その時の電極電位とイオン濃度との関係を
求め、Na、Ｋ、Clの検量線設定係数Ｓ(SLOPE) 値を算出
し、これを基準として検液が測定される。Ｓ値は濃度差
のある二種以上の既知濃度から求めることが可能であ
る。内部標準液は基準電位を決め、比較外筒液は測定電
位差を安定させるために用いられる。

【００３１】また、図示しないが、電極測定部５の測定
結果を表すアナログ信号は、 LOGアンプとＡ／Ｄ変換器
を経てデジタル信号として出力される。三方電磁弁２８
により、検液と内部標準液及び比較外筒液とがポンプ２
０によって交互に電解質測定部５に吸引され、双方の電
位差からアナログ信号−デジタル信号と変換され、出力
される。サンプルプロ−ブ７の回転・上下動作、希釈管
１６の回転、サンプルシリンジ８や希釈液シリンジ９の
動作、各電磁弁１１、２５、２８の開閉、及び、ポンプ
２０の動作等は、予め設定された動作制御プログラムに
基づいて実行される。

【００３２】すなわち、上述のような自動分析装置１に
おいては、希釈・洗浄部４が備えられ、希釈管１６と洗
浄槽１７と一体に形成されており、サンプルの希釈とサ
ンプルプロ−ブ７の洗浄とが一箇所で行われる。したが
って、従来のように希釈用の容器と洗浄用の容とを別々
に備えたものに比べて、サンプルプロ−ブ７を希釈管と
洗浄槽との間で往復移動させるための機構が不要にな
り、装置の構成が簡略化される。そして、自動分析装置
１の小型化及び低価格化が可能であるとともに、故障が
生じ難くなる。

【００３３】また、サンプルプロ−ブ７を希釈用の容器
と洗浄用の容器との間で往復させる必要がないので、サ
ンプルプロ−ブ７の移動量が少なく、分析の高速化が可
能になる。

【００３４】なお、本発明は上述の実施例に限定される
ものではなく、要旨を逸脱しない範囲で種々に変形する
ことが可能である。

【００３５】例えば、希釈管１６の形状は、洗浄槽１７
が一体化され、遠心力を利用して液体を外側へ排出案内
できると共に、回転による撹拌が促進し得る程度の曲面
等の起伏を有していれば、適宜設計変更しても構わな
い。

【００３６】又、希釈管１６を回転させる構造以外に
も、例えば図６に示すように、希釈管１６を複数の方向
に連続的に傾倒させることによっても、液面上昇による
液体の排出を行える。この際、希釈管１６を自転させず
に、傾けたまま円軌道に沿って首振り運動させてもよ
い。

【００３７】つまり、図６においては、希釈管１６と伝
達軸２４の構成及び主な作用は前述の実施例のものと同
様であるが、伝達軸２４が、廃液ノズル１９との接続部
を支点として、偏心ギヤ３７の外周側に首振り運動可能
に取り付けられている。また、偏心ギヤ３７の回転中心
軸は、移動ア−ム３６に回転自在に支持されている。移
動ア−ム３６が矢印Ｂ方向に進退することにより、偏心
ギヤ３７をモ−タ２２に対して接離させる。偏心ギヤ３
７は移動ア−ム３６によって、モ−タ２２との接続が可
能なポジション、及び、希釈管１６が鉛直方向に正立す
るポジションに位置決めされる。正立ポジションでは、
廃液ポ−ト部１８の上部開口と希釈管１６の上部開口と
が一致するので、前述したような分注工程が実施され
る。さらに、伝達軸２４の下端は下方に開放している。
さらに、偏心ギヤ３７の下方には液受け３８が位置して
いる。そして、希釈管１６の正立ポジションにて二方電
磁弁２５が開放されると、真下で開口した液受け３８へ
検液が落下する。

【００３８】つぎに、本発明の第２実施例を図７及び図
８に基づいて説明する。なお、第１実施例と同様の部分
については同一番号を付し、その説明は省略する。

【００３９】図７及び図８は本発明の第２実施例を示し
ており、図７中の符号３１は自動分析装置である。この
自動分析装置３１においては、第１実施例の廃液ポット
部１８が省略されるともに、検液−廃液吸引ノズル３２
が備えられている。この検液−廃液吸引ノズル３２の一
端側は二方電磁弁２５を介して洗浄槽１７に接続されて
おり、他端側は電極測定部２６の側に導かれている。ま
た、検液−廃液吸引ノズル３２の途中の部位には三方電
磁弁３３が設けられており、検液−廃液吸引ノズル３２
は三方電磁弁３３及び廃液ノズル３４を介してポンプ３
５に接続されている。

【００４０】この自動分析装置３１においては、サンプ
ルプロ−ブア−ム２ａが回転軸６を中心に、サンプリン
グ位置１５と希釈管１６との間を自由に移動する。サン
プルプロ−ブ７はサンプリング位置１５に在るサンプル
容器１４ａからサンプルを吸引し、これを希釈管１６に
吐出する。このとき、サンプルプロ−ブ７には予め希釈
液が充填されているので、同時に希釈液も希釈管１６に
吐出される。

【００４１】この際、サンプルプロ−ブ７は希釈管１６
の中心で止まり、希釈管１６中に下降する。サンプルプ
ロ−ブ７の高さは、希釈管１６に吐出された検液（サン
プルと希釈液の混合液）に２〜３mm程度触れるよう設定
されている。

【００４２】希釈管１６はステッピングモ−タ２２によ
って回転駆動され、一方向もしくは両方向に短い周期で
回転する。この結果、希釈管１６内の検液が撹拌され
る。

【００４３】必要量の検液がポンプ２０によって吸引さ
れ、二方電磁弁２５（開状態）、検液吸引・排出ノズル
３２、及び、三方電磁弁２３、２８を経て電極測定部５
に到達する。そして、電極測定部５により測定された検
液は、ポンプ２０を経て廃液容器２１に回収される。

【００４４】検液が吸引された後、直ちに希釈管１６内
では、希釈管１６の洗浄のためにサンプルプロ−ブ７が
希釈液を吐出する。希釈液が吐出されている間、ステッ
ピングモ−タ２２が希釈管１６をゆっくりと回転させて
いる。これは、できる限り少ない量の希釈液によって希
釈管１６を洗浄するためである。

【００４５】つまり、希釈管１６を回転させれば、回転
に伴って希釈液の液面が動き、希釈液の液面が遠心力を
利用して上昇する。このように希釈液の水位が幾分上昇
するので、希釈管１６が停止している場合に比べて、希
釈液の量を減らしても希釈管１６を同程度の高さまで洗
浄することが出来る。なお、希釈液の吐出量は、希釈管
１６に吐出された検液の高さより、希釈液の水位が幾ら
か高ければよい。

【００４６】希釈管１６の洗浄後、希釈液はポンプ３５
によって吸引され、二方電磁弁２５（開状態）検液−廃
液吸引ノズル３２、三方電磁弁３３、廃液ノズル３４、
及び、ポンプ３５を経て廃液容器２１に回収される。こ
の結果、希釈管１６が空になる。

【００４７】また、空状態になった希釈管１６では、サ
ンプルプロ−ブ７から再び希釈液が吐出される。このと
きの吐出量は、洗浄槽１７を満たすのに十分な程度でよ
い。この後、サンプルプロ−ブ７が上点から下降し、サ
ンプルプロ−ブ７の先端が洗浄に十分な程度（２〜３mm
程度）が検液に浸されて洗浄される。

【００４８】さらに、洗浄槽１７内の希釈液は、希釈管
１６の洗浄の際の希釈液と同様の経路をたどり、廃液容
器２１に回収される。

【００４９】このような自動分析装置３１によっても、
第１実施例と同様に構成の簡略化及び分析の高速化が可
能になる。

【００５０】つぎに、本発明の第３実施例を図９及び図
１０に基づいて説明する。なお、前述の各実施例と同様
の部分については同一番号を付し、その説明は省略す
る。

【００５１】図９及び図１０は本発明の第３実施例を示
しており、図９中の符号４１は自動分析装置である。こ
の自動分析装置４１においては、第１及び第２の二つの
分注部４２、４３が備えられている。第１の分注部４２
はサンプルや希釈液の分注に利用され、第２の分注部４
３はイオン交換水の分注に利用される。第２の分注部４
３には、イオン交換水プロ−ブ４４やプロ−ブア−ム４
５等が備えられており、交換水プロ−ブ４４は、三方電
磁弁４６を介してイオン交換水シリンジ４７やイオン交
換水容器４８に接続されている。

【００５２】この自動分析装置４１においては、第１の
分注部４２のサンプルプロ−ブア−ム７が回転軸６を中
心として、サンプリング位置１５と希釈管１６との間を
自由に移動する。サンプルプロ−ブ７はサンプリング位
置１５に在るサンプル容器１４ａからサンプルを吸引
し、これを希釈管１６に吐出する。このとき、サンプル
プロ−ブ７には予め希釈液が充填されているので、同時
に希釈液も希釈管１６に吐出される。

【００５３】この際、サンプルプロ−ブ７は希釈管１６
の上方で止まり、希釈管１６中に下降する。サンプルプ
ロ−ブ７の高さは、希釈管１６に吐出された検液（サン
プルと希釈液の混合液）に２〜３mm程度触れるよう設定
されている。

【００５４】希釈管１６はステッピングモ−タ２２によ
って回転駆動され、一方向もしくは両方向に短い周期で
回転する。この結果、希釈管１６内の検液が撹拌され
る。

【００５５】必要量の検液がポンプ２０によって吸引さ
れ、二方電磁弁２５（開状態）、検液吸引・排出ノズル
３２、及び、三方電磁弁２３、２８を経て電極測定部５
に到達する。そして、電極測定部５により測定された検
液は、ポンプ２０を経て廃液容器２１に回収される。

【００５６】検液が吸引された後、直ちに希釈管１６内
では、希釈管１６の洗浄のために、イオン交換水プロ−
ブ４４がイオン交換水を吐出する。このときの吐出量
は、検液の吐出量よりも幾分多ければよい。また、イオ
ン交換水プロ−ブ４４が必ずしも希釈管１６の中心に在
る必要はなく、中心から多少外れていても構わない。こ
れに伴い、イオン交換水プロ−ブ４４を、予めサンプル
プロ−ブ７と衝突しない位置に固設しておけば、イオン
交換水プロ−ブ４４の水平回動動作は必ずしも必要では
ないので、本実施例では水平回動動作のため機構を省略
しても構わない。

【００５７】希釈管１６に吐出されたイオン交換水は、
直ちにポンプ３５によって吸引され、二方電磁弁２５
（開状態）検液−廃液吸引ノズル３２、三方電磁弁３
３、廃液ノズル３４、及び、ポンプ３５を経て廃液容器
２１に回収される。この結果、希釈管１６が空になる。

【００５８】空状態になった希釈管１６では、イオン交
換水プロ−ブ４４から再びイオン交換水が吐出される。
このときの吐出量は、洗浄槽１７を満たすのに十分な程
度でよい。この後、第１の分注部４２のサンプルプロ−
ブ７が上点から下降し、サンプルプロ−ブ７の先端が洗
浄に十分な程度（２〜３mm程度）イオン交換水に浸され
て洗浄される。

【００５９】さらに、洗浄槽１７内のイオン交換水は、
希釈管１６の洗浄の際の希釈液と同様の経路をたどり、
廃液容器２１に回収される。

【００６０】このような自動分析装置４１によっても、
第１実施例と同様に構成の簡略化及び分析の高速化が可
能になる。

【００６１】本発明は、上述した実施例に限定されず、
種々の変更が可能である。例えば、上述した実施例では
イオン濃度を測定する分析で説明したが、比色分析等の
他の種々の分析にも同様に適用できる。又、サンプルプ
ロ−ブ以外にも、試薬を希釈したり、発色反応を実行す
るように、他のプロ−ブを作動させる構成としてもよ
い。

【００６２】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、希釈用容
器に試料を分注するサンプルプロ−ブを備え、このサン
プルプロ−ブをサンプルプロ−ブ洗浄用容器で洗浄する
自動分析装置において、希釈用容器とサンプルプロ−ブ
洗浄用容器を一体化し互いに連通させた希釈・洗浄部を
備えたことにある。

【００６３】したがって本発明は、自動分析装置の構成
を簡単化するとともに、高速な分析を行えるという効果
がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例を示す構成図。

【図２】本発明の第１実施例の希釈・洗浄部及びその周
辺部を示す構成図。

【図３】本発明の第１実施例のサンプルプロ−ブ及びそ
の周辺部を示す構成図。

【図４】サンプルプロ−ブが希釈管の中に下降した状態
を示す斜視図。

【図５】（ａ）は希釈管の平面図、（ｂ）は希釈管の変
形例を示す平面図。

【図６】変形例を示す構成図。

【図７】本発明の第２実施例を示す構成図。

【図８】本発明の第２実施例の希釈・洗浄部及びその周
辺部を示す構成図。

【図９】本発明の第３実施例を示す構成図。

【図１０】本発明の第３実施例の両分注部及びその周辺
部を示す構成図。

【符号の説明】

１…自動分析装置、４…希釈・洗浄部、７…サンプルプ
ロ−ブ、１６…希釈管（希釈用容器）、１７…サンプル
プロ−ブ洗浄槽（サンプルプロ−ブ洗浄用容器）。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 希釈用容器に試料を分注するサンプルプ
   ロ−ブを備え、このサンプルプロ−ブをサンプルプロ−
   ブ洗浄用容器で洗浄する自動分析装置において、上記希
   釈用容器と上記サンプルプロ−ブ洗浄用容器を一体化し
   互いに連通させた希釈・洗浄部を備えたことを特徴とす
   る自動分析装置。