JPH06258281A - イオン伝導体デバイスの製造方法 - Google Patents
イオン伝導体デバイスの製造方法Info
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- JPH06258281A JPH06258281A JP5075160A JP7516093A JPH06258281A JP H06258281 A JPH06258281 A JP H06258281A JP 5075160 A JP5075160 A JP 5075160A JP 7516093 A JP7516093 A JP 7516093A JP H06258281 A JPH06258281 A JP H06258281A
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Abstract
り優れた素子特性を実現できるイオン伝導体デバイスの
製造方法を提供することを目的とする。 【構成】 絶縁性基板1上に印刷法によりPtアノード
電極2を形成し、アノード電極2が形成された側から有
機樹脂3を含浸させる表面処理を行った後、その上にス
パッタ法によりイオン伝導体薄膜4を形成し、更に印刷
法によりPtカソード電極5を形成して、焼成を行う。
これにより、Ptアノード電極2,カソード電極5およ
びイオン伝導体薄膜4を焼結させると同時に、有機樹脂
3を分解ガス化して消失させて、アノード電極/イオン
伝導体薄膜/カソード電極の良好な接合構造を得る。
Description
伝導体デバイスに係り、特に薄膜イオン伝導体を用いる
デバイスの製造方法に関する。
した酸化ジルコニウム、即ちジルコニア−イットリア
(ZrO2 −Y2 O3 )をイオン伝導体(固体電解質)
として用いたセラミック酸素センサが知られている。バ
ルク型のセラミック酸素センサでは、ZrO2 −Y2 O
3 イオン伝導体バルクをプレス成形,焼成により得て、
これに触媒作用を有するポーラスなPt電極を、厚膜技
術即ちPtペーストの印刷,焼成により形成している。
産化等のために、ZrO2 −Y2 O3 イオン伝導体およ
び電極を蒸着やスパッタ等のドライプロセスによる薄膜
技術を用いて形成する薄膜型のセラミック酸素センサも
提案されている。特にイオン伝導体を薄膜技術により形
成すると、薄いイオン伝導体が再現性よく得られ、これ
により優れたイオン伝導性が得られる。イオン伝導体膜
を薄くすることは酸素センサの作動温度を低くする上で
有効である。
素センサのPt電極は酸素ガスが拡散透過できるポーラ
ス電極であることが必要である。Pt電極をイオン伝導
体膜と同様にスパッタ等の薄膜技術により形成すると、
ポーラス化が難しく緻密な膜となってしまい、必要な電
極能力が得られなくなる。
たもので、厚膜電極と薄膜イオン伝導体の組合わせによ
り優れた素子特性を実現できるイオン伝導体デバイスの
製造方法を提供することを目的とする。
体デバイスの製造方法は、第1に、絶縁性基板上に印刷
法により厚膜電極を形成する工程と、前記厚膜電極が形
成された基板上にドライプロセスによりイオン伝導体薄
膜を形成する工程と、前記イオン伝導体薄膜および厚膜
電極を焼成する熱処理工程とを備えたことを特徴として
いる。
方法は、第2に、絶縁性基板上に印刷法により厚膜電極
を形成する工程と、前記厚膜電極を高分解点材料により
表面処理する工程と、表面処理された前記厚膜電極上に
ドライプロセスによりイオン伝導体薄膜を形成する工程
と、前記イオン伝導体薄膜および厚膜電極を焼結させる
と同時に前記高分解点材料を分解消失させる熱処理工程
とを備えたことを特徴としている。
方法は、第3に、絶縁性基板上に高分解点有機材料のモ
ノマーまたは過剰のポリマーを添加したペーストを用い
て印刷法により厚膜電極を形成する工程と、厚膜電極が
形成された基板上にドライプロセスによりイオン伝導体
薄膜を形成する工程と、前記イオン伝導体薄膜および厚
膜電極を焼結させると同時に前記高分解点有機材料を分
解消失させる熱処理工程とを備えたことを特徴としてい
る。
薄膜イオン伝導体の組合わせによって、良好な電極能力
を維持して作動温度の低い優れたイオン伝導体デバイス
を得ることができる。
ーラスな厚膜電極に表面処理を施した後、この上にイオ
ン伝導体薄膜を形成している。ここで表面処理は例え
ば、有機樹脂の含浸,塗布、カーボン砥粒による研磨等
であって、これによりポーラスな厚膜電極の空隙を埋め
て電極面の緻密化,平滑化ができ、この上に良質のイオ
ン伝導体薄膜を形成することができる。イオン伝導体薄
膜形成後に適当な焼成温度で熱処理すれば、イオン伝導
体薄膜および厚膜電極の焼結と同時に、表面処理に用い
た高分解点材料を分解消失させ、イオン伝導体薄膜とポ
ーラスな厚膜電極の良好な接合を得ることができる。こ
れにより、作動温度の低い優れたイオン伝導体デバイス
を得ることができる。
ーが入っているが、第3の発明では電極ペーストに予め
高分解点材料のモノマーまたは過剰のポリマーを添加し
たものを用いて厚膜電極を印刷形成する。これにより、
緻密な厚膜電極を得て、この上に良質のイオン伝導体薄
膜の形成を可能としている。そしてイオン伝導体薄膜を
形成した後に焼成してポリマーを分解消失させることに
より、ポーラスな厚膜電極とイオン伝導体薄膜の良好な
接合を得ることができる。
した実施例につき図面を参照して説明する。図1(a) 〜
(e) は、一実施例の酸素センサの製造工程を示す断面図
である。図1(a) に示すように、気体透過性の絶縁性基
板1上にまず、Ptペーストを用いて厚膜アノード電極
2をスクリーン印刷によりパターン形成し乾燥させる。
絶縁性基板1はこの実施例では、3mm角,厚み0.14
mmのステアタイトである。アノード電極2は厚み数μm
とする。この段階でアノード電極2はまだ焼結されてい
ない。なおこの実施例ではPtペーストには、酸化ビス
マス等の焼結活性剤を含有するものを用いる。これによ
り、比較的低い焼成温度で優れた接合特性を得ることが
できる。
ン伝導体薄膜を形成するための表面処理として、図1
(b) に示すように、高分解点材料である有機樹脂3を含
浸させる。例えばこの有機樹脂3は、アクリル系のモノ
マーに反応開始剤として過酸化ベンゾイルを1wt%添加
したものである。有機樹脂含浸後、例えば100℃,1
0分の熱処理でこの有機樹脂を硬化させる。或いは紫外
線照射による光硬化でもよい。
のZrO2 −Y2 O3 からなるイオン伝導体薄膜4をス
パッタ法により形成する。予め有機樹脂の含浸,硬化と
いう表面処理を行っている結果、ポーラスなアノード電
極2の内部空隙が埋められており、薄く良質のイオン伝
導体薄膜4が形成される。続いて、図1(d) に示すよう
に、再度Ptペーストのスクリーン印刷法により厚膜カ
ソード電極5を形成する。その後約1000℃,10分
の条件で焼成する。この焼成により、イオン伝導体薄膜
4,アノード電極2およびカソード電極5の焼結が行わ
れると同時に、アノード電極2の表面から含浸させ硬化
させた内部のアクリル系ポリマーは分解ガス化して消失
し、ポーラスなアノード電極2とイオン伝導体薄膜3の
間は良好に接合する。
ク粉をブレンドした結晶化ガラス材を用いて結晶化ガラ
ス封止層6をスクリーン印刷し、更にその上にPtヒー
タ7をスクリーン印刷した後焼成して、酸素センサ素子
を完成する。なおこの実施例の場合、アノード電極/イ
オン伝導体薄膜/カソード電極の基本素子構造ができた
後更に、結晶化ガラス層6およびPtヒータ7の印刷,
焼成を行っている。従ってこの場合、基本素子構造がで
きた段階での焼成工程は省略して、最後に一括して焼成
工程を行うことも可能である。
流式セラミック酸素センサの平面透視図とそのA―A′
断面図である。絶縁性基板1上にほぼ全面にわたってP
tアノード電極2が形成され、この上にZrO2 −8mol
% Y2 O3 なる組成のイオン伝導体薄膜4が形成され、
更にこの上に円形パターンのPtカソード電極5が形成
されている。Ptカソード電極5が形成された面はガラ
ス封止層6により覆われ、この上にリング状パターンを
なすPtヒータ7が配設されている。
端子部8は、イオン伝導体薄膜4およびガラス封止層6
をこの部分には形成しないようにパターン形成して、露
出させている。同様にカソード電極5から連続的に導出
される端子部9も、この部分にガラス封止層6がかから
ないようにガラス封止層6をパターン形成して、露出さ
せている。ヒータ7の端子部10,11は、この実施例
ではガラス封止層6上のアノード,カソードの端子部
8,9とは反対側の辺に導出されている。
めには、ガス拡散律速性が必要である。この実施例にお
いては、ガラス封止層6で覆われていないカソード電極
端子部9からガラス封止層6で覆われたカソード電極5
まで連続的にポーラスなPt厚膜であるから、このポー
ラスなPt厚膜が、図1(a) に矢印で示すように、酸素
ガスを拡散律速性をもってカソードに供給する気体拡散
層となっている。またアノード電極2で発生する酸素ガ
スは、気体透過性の絶縁性基板1を通して排出される。
を200℃で評価した電圧−電流特性である。図3から
明らかなように、非常にクリアな限界電流特性が得られ
ている。従来のセラミック酸素センサの作動温度は約4
50℃であり、これに比べてこの実施例では明らかに低
温作動型となっている。またこの実施例の素子は応答
性,熱的安定性および長期信頼性にも優れていることが
確認された。
極上にスパッタ法等により良好なイオン伝導体薄膜を形
成するための厚膜電極の表面処理法には、上記実施例の
他種々の方法がある。この点に着目して、本発明の他の
実施例を以下に説明する。なお以下の実施例において、
先の実施例と対応する部分には先の実施例と同一符号を
付して、詳細な説明は省略する。
式酸素センサの製造工程を示す断面図である。先の実施
例と同様に図4(a) に示すように、絶縁性基板1にPt
アノード電極2をスクリーン印刷し乾燥させて形成した
後、図4(b) に示すようにこの実施例では、基板全体に
有機樹脂3を含浸させる。続いて、図4(c) に示すよう
にアノード電極2の表面を機械研磨して、平滑化する。
これにより、アノード電極2は有機樹脂3により表面が
緻密化,平滑化される同時に、空隙が埋め込まれてアノ
ード電極金属の研磨面が露出した状態が得られる。その
様子を、図5に模式的に示す。
体薄膜4をスパッタ法により形成し、更にその上に図4
(e) に示すようにPtカソード電極5をスクリーン印刷
法により形成する。この状態で先の実施例と同様に焼成
を行う。これにより、アノード電極2,カソード電極5
およびイオン伝導体薄膜4の焼結がなされ、同時に有機
樹脂3が分解ガス化して消失し、アノード/イオン伝導
体/カソードの良好なサンドイッチ接合構造体が得られ
る。
ス封止層6でカソード電極5上を覆い、この上にPtヒ
ータ7を形成する。この実施例によっても、先の実施例
と同様に低温作動型の良好な限界電流特性を示す酸素セ
ンサが得られる。
なく厚膜電極の表面処理を行う実施例である。図6(a)
に示すように、絶縁性基板1上にPtアノード電極2を
スクリーン印刷法により形成し乾燥させる。その後、図
6(b) に示すように、アノード電極2の表面をカーボン
砥粒を用いて機械研磨して平滑化する。この機械研磨に
よって、ポーラスなアノード電極2の空隙にはカーボン
が充填されて、図5と同様に緻密,平滑でかつアノード
電極金属が露出した表面状態が得られる。
導体薄膜4をスパッタ法により形成し、更にその上に図
6(d) に示すようにPtカソード電極5をスクリーン印
刷により形成する。この状態で先の実施例と同様に焼成
を行う。これにより、アノード電極2,カソード電極5
およびイオン伝導体薄膜4の焼結がなされ、同時にアノ
ード電極2に充填されていたカーボンが分解ガス化して
消失し、アノード/イオン伝導体/カソードの良好なサ
ンドイッチ接合構造体が得られる。
ス封止層6でカソード電極5上を覆い、この上にPtヒ
ータ7を形成する。この実施例によっても、先の実施例
と同様に低温作動型の良好な限界電流特性を示す酸素セ
ンサが得られる。
限界電流式酸素センサの製造工程である。図7(a) に示
すように、絶縁性基板1にPtペーストの印刷によりア
ノード電極2を形成した後、図7(b) に示すように有機
樹脂層20を印刷法によりオーバーコートする。有機樹
脂層20は具体的には、メチルセルロースをブチルカル
ビトールアセテートとターピネオール溶剤で溶解させた
ペーストを用いて形成する。有機樹脂層20は印刷後乾
燥させる。
化した後、図7(c) に示すようにイオン伝導体薄膜4を
スパッタにより形成する。続いてPtペーストの印刷に
よりカソード電極5をパターン形成し、焼成を行う。こ
れにより、有機樹脂層20は分解消失し、アノード電極
2,イオン伝導体薄膜4およびカソード電極5は焼結さ
れ、図7(d) に示すように、アノード/イオン伝導体/
カソードの良好なサンドイッチ接合構造体が得られる。
ス封止層6でカソード電極5上を覆い、この上にPtヒ
ータ7を形成する。この実施例によっても、先の実施例
と同様に低温作動型の良好な限界電流特性を示す酸素セ
ンサが得られる。
リーン印刷工程の後に、良質の薄膜形成のために有機樹
脂の含浸,研磨,オーバーコート等の表面処理工程を入
れたが、格別な表面処理工程を入れることなく良好な薄
膜形成を行うこともできる。そのためには、厚膜電極用
のPtペーストに工夫を加える。具体的には、厚膜電極
を形成するPtペーストとして、Ptパウダーに予め高
分解点有機材料のモノマー、または過剰のポリマーを添
加したものを用いる。その様な実施例を次に説明する。
限界電流式酸素センサの製造工程である。この実施例で
は、Ptペーストにメタアクリレートのモノマーと反応
開始剤として過酸化ベンゾイルを添加したものを用い
る。これら添加物は全体の約1wt%となるように調合す
る。この様なPtペーストを用いてまず、図8(a) に示
すように、絶縁性基板1上にPtアノード電極2をスク
リーン印刷し乾燥させて形成する。その後100℃程度
の加熱処理または紫外線照射により、アノード電極2内
のモノマーをポリマー化させる。これにより、ポリマー
によって空隙が埋められた状態のアノード電極2が得ら
れる。
電極2上にイオン伝導体薄膜4をスパッタ法により形成
する。続いて図8(c) に示すように、イオン伝導体薄膜
4上にPtカソード電極5をスクリーン印刷により形成
する。この実施例では、このときもアノード電極形成に
用いたと同じモノマー入りのPtペーストを用い、した
がって印刷,乾燥の後に、熱処理または紫外線照射によ
りこれをポリマー化する。その後、先の実施例と同様に
焼成を行う。これにより、アノード電極2,カソード電
極5およびイオン伝導体薄膜4の焼結がなされ、同時に
アノード電極2,カソード電極5に充填されていたポリ
マーが分解ガス化して消失する。
ス封止層6でカソード電極5上を覆い、この上にPtヒ
ータ7を形成する。この実施例によっても、先の実施例
と同様に低温作動型の良好な限界電流特性を示す酸素セ
ンサが得られる。またこの実施例の場合、Ptペースト
の工夫により、これまでの実施例のように印刷後格別の
表面処理を行うことなく緻密な表面を出すことができ、
工程が簡単化される。
予めポリマーを添加したPtペーストを用いることがで
きる。通常Ptペーストにはポリマーが添加されている
が、この実施例の場合通常のペーストに比べて過剰のポ
リマーが添加される。具体的には、ポリマーとしてメチ
ルセルロースを用い、これと溶剤としてのブチルカルビ
トールアセテートとターピネオールを用いてペースト化
を行う。この様なPtペーストを用いて、図8の実施例
とほぼ同様の工程で酸素センサを形成する。この実施例
によっても、優れた限界電流特性を示す素子が得られ
る。
ド電極の間にイオン伝導体薄膜が挟まれるサンドイッチ
構造の酸素センサを説明した。本発明はこの構造に限定
される訳ではない。例えば、図9(a) (b) は別の実施例
の酸素センサ構造を示す平面図とそのA―A′断面図で
ある。この実施例では、絶縁性基板1上に、Ptアノー
ド電極2とPtカソード電極5が所定間隔をおいて櫛歯
パターンをもって配設され、これらを覆うようにイオン
伝導体薄膜4が形成されている。イオン伝導体薄膜4上
は結晶化ガラス封止層6により覆われている。
ーラスなアノード電極2,カソード電極4とこれらの上
に形成されるイオン伝導体薄膜4との接合特性を良好に
するために、上の各実施例と同様の方法を採用すること
ができ、これにより同様の効果を得ることができる。更
に本発明は、酸素センサに限られず、同様の厚膜電極/
イオン伝導体薄膜構造を有する各種センサや燃料電池等
他のイオン伝導体デバイスに適用することが可能であ
る。
膜技術によるイオン伝導体薄膜と厚膜技術による電極の
組み合わせを利用して、ポーラスな厚膜電極上への良質
のイオン伝導体薄膜の形成を可能とし、もって作動温度
の低い優れた特性を示す信頼性の高いイオン伝導体デバ
イスを得ることができる。
サの製造工程を示す断面図である。
を示す平面図と断面図である。
を示す図である。
造工程を示す断面図である。
断面図である。
造工程を示す断面図である。
造工程を示す断面図である。
造工程を示す断面図である。
造を示す平面図と断面図である。
脂、4…イオン伝導体薄膜、5…Ptカソード電極、6
…結晶化ガラス封止層、7…Ptヒータ、8,9,1
0,11…端子部、20…有機樹脂層。
Claims (3)
- 【請求項1】 絶縁性基板上に印刷法により厚膜電極を
形成する工程と、 前記厚膜電極が形成された基板上にドライプロセスによ
りイオン伝導体薄膜を形成する工程と、 前記イオン伝導体薄膜および厚膜電極を焼成する熱処理
工程と、を備えたことを特徴とするイオン伝導体デバイ
スの製造方法。 - 【請求項2】 絶縁性基板上に印刷法により厚膜電極を
形成する工程と、 前記厚膜電極を高分解点材料により表面処理する工程
と、 表面処理された前記厚膜電極上にドライプロセスにより
イオン伝導体薄膜を形成する工程と、 前記イオン伝導体薄膜および厚膜電極を焼結させると同
時に前記高分解点材料を分解消失させる熱処理工程と、
を備えたことを特徴とするイオン伝導体デバイスの製造
方法。 - 【請求項3】 絶縁性基板上に高分解点有機材料のモノ
マーまたは過剰のポリマーを添加したペーストを用いて
印刷法により厚膜電極を形成する工程と、 前記厚膜電極が形成された基板上にドライプロセスによ
りイオン伝導体薄膜を形成する工程と、 前記イオン伝導体膜および厚膜電極を焼結させると同時
に前記高分解点有機材料を分解消失させる熱処理工程
と、を備えたことを特徴とするイオン伝導体デバイスの
製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5075160A JP2521875B2 (ja) | 1993-03-09 | 1993-03-09 | イオン伝導体デバイスの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5075160A JP2521875B2 (ja) | 1993-03-09 | 1993-03-09 | イオン伝導体デバイスの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06258281A true JPH06258281A (ja) | 1994-09-16 |
JP2521875B2 JP2521875B2 (ja) | 1996-08-07 |
Family
ID=13568181
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5075160A Expired - Fee Related JP2521875B2 (ja) | 1993-03-09 | 1993-03-09 | イオン伝導体デバイスの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2521875B2 (ja) |
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WO2007102369A1 (ja) | 2006-03-07 | 2007-09-13 | Kyocera Corporation | セラミック部材の製造方法、並びにセラミック部材、ガスセンサ素子、燃料電池素子、積層型圧電素子、噴射装置、及び燃料噴射システム |
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- 1993-03-09 JP JP5075160A patent/JP2521875B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2521875B2 (ja) | 1996-08-07 |
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