JPH0623977Y2 - プローブカード - Google Patents
プローブカードInfo
- Publication number
- JPH0623977Y2 JPH0623977Y2 JP20128387U JP20128387U JPH0623977Y2 JP H0623977 Y2 JPH0623977 Y2 JP H0623977Y2 JP 20128387 U JP20128387 U JP 20128387U JP 20128387 U JP20128387 U JP 20128387U JP H0623977 Y2 JPH0623977 Y2 JP H0623977Y2
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- JP
- Japan
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- probe
- movable plate
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- card
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- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20128387U JPH0623977Y2 (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | プローブカード |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20128387U JPH0623977Y2 (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | プローブカード |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01104571U JPH01104571U (US20110009641A1-20110113-C00256.png) | 1989-07-14 |
JPH0623977Y2 true JPH0623977Y2 (ja) | 1994-06-22 |
Family
ID=31491653
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20128387U Expired - Lifetime JPH0623977Y2 (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | プローブカード |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0623977Y2 (US20110009641A1-20110113-C00256.png) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2571516B2 (ja) * | 1993-05-20 | 1997-01-16 | フレッシュクエストコーポレーション | プローブカード |
-
1987
- 1987-12-29 JP JP20128387U patent/JPH0623977Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01104571U (US20110009641A1-20110113-C00256.png) | 1989-07-14 |
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