JPH0623975Y2 - 実装基板検査用の基板受け治具 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、実装基板の回路動作を検査する装置の基台上
に固定的に定置される実装基板の受け治具に関し、更に
詳しくは、検査される実装基板と同じ既製の非実装基板
そのものを治具本体として、該本体の既に穿設されてい
る所定の孔に支柱を介して検査用ピンを立設固装した基
板受け治具に関するものである。

〔従来の技術〕

電子素子を実装したプリント基板の回路動作の検査装置
において、その基板検査用ピンプレートはアクリル樹脂
等の樹脂板を用い、これに穿孔して検査用ピンを立設固
装しているのが一般的である。

〔考案が解決しようとする問題点〕

ところで、このような樹脂板による基板検査用ピンプレ
ートでは、実装基板を下針方式によって受けるために強
度面から相当程度の肉厚が必要で、かかる厚さの樹脂板
に検査用ピンを挿着するための細孔を穿設するには相当
の熟練と技能を要し、また相当の時間も要してコスト的
にも高くなるという問題点があった。

すなわち、相当の熟練がないと、穿孔時において細いド
リルはアクリル樹脂板に曲がって入ってしまうために孔
は垂直とならずに曲ってしまい、その結果、ピンが挿着
不能となる等の問題点があった。

本考案は、このような従来の問題点に鑑みなされたもの
で、その目的とするところは、基板検査用ピンプレート
に相当する治具本体そのものを、検査される実装基板と
同じパターンを走らせた既製の非実装基板として、その
パターンにおける検査する一カ所と適合する基板の既設
の孔を利用することによって、換言すれば、電子素子を
実装する前のパターンを走らせた既製基板をそのまま基
板検査用ピンプレートとして用いることによって、熟練
を要せずして正確に、かつ速やかに穿孔（拡開）するこ
とができると共に、回路変更等をした場合において、そ
れの試作の段階で簡単に回路動作の検査ができる実装基
板検査用の基板受け治具を提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

この目的のため、本考案は、実装基板の回路動作を検査
する装置１００の基台１０１上に固定的に定置される治
具であって、治具本体１０としての検査される実装基板
１０２と同じ既製の非実装基板の所定の孔１２′の位置
に、支柱１３がその脚体１７を治具本体１０の下面に突
出させて立設固装されると共に、該支柱１３における支
柱体１４の中心縦孔１５内には、スリーブ２２と該スリ
ーブ２２内に弾装のスプリング２３を介して進退可能に
連結されたプローブピン２４を有し、かつ前記検査装置
１００と電気的接続される検査用ピン２１における前記
スリーブ２２が同心状に挿着された構成を特徴とするも
のである。

〔実施例〕

以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明する。

第１図は本考案に係る基板受け治具の一例での一部を断
面して示す拡大部分図、第２図は治具本体としての既製
基板の一例を示す裏面図である。

同図において、治具本体１０は、回路動作を検査する実
装基板と同じ非実装の基板、換言すれば、パターン１１
を走らせ、かつ電子素子の挿着孔１２が穿設されている
既製基板であって、該治具本体１０（プリント基板）の
所定の孔１２′、すなわち、穿設されている多数の孔１
２のうち実装基板の下面パターンに○印等で示された検
査用ピンとの接触位置と同じ位置に穿設されている孔１
２′には、該孔１２′を所定の径に拡開穿孔して支柱１
３が立設固装されている。

支柱１３は、中心縦孔１５とネジ孔１６を有する中空支
柱体１４と、該支柱体１４のネジ孔１６と螺合するネジ
部１８と、該ネジ部１８と一体に延設された支柱体１４
の外径と同径の脚部１９を有する脚体１７を含み、治具
本体１０の下面側より孔１２′を介して脚体１７のネジ
部１８を治具本体１０の上面に立設の支柱体１４のネジ
孔１６に螺着して固装されている。

なお、本実施例では、支柱１３は支柱体１４と脚体１７
とのネジ着式としたが、これに限定されず、支柱体と脚
体のいずれかに突起部を設けてこれの圧入式としてもよ
いことは勿論である。

いずれにしても、支柱１３は取り外しを必要としないも
のであるから、支柱体を治具本体１０の上面に、脚体を
下面にそれぞれ突出させて同心状に立設固着すればよ
い。

また、支柱１３は、絶縁材の外、金属材をもって構成し
てもよい。これは、パターン１１には一本の検査用ピン
を立設すればよいところから、それの挿着孔は１カ所で
よく、したがって、絶縁の必要がないからである。

本実施例のように、支柱１３を金属材、好ましくは真鍮
で構成した場合には、検査装置１００と電気的接続され
る配線２０は治具本体１０の下面側の支柱脚体１７より
取り、また、絶縁材で構成した場合には、特に図示しな
いが、後述の検査用ピンから配線を取る。

支柱１３に同心状に取り付けられた検査用ピン２１は、
スリーブ２２と該スリーブ２２内に弾装のスプリング２
３およびスプリング２３を介してスリーブ２２内に進退
可能に挿着されたプローブピン２４を含み、該検査用ピ
ン２１は前記した如く、そのスリーブ２２を支柱体１４
の縦孔１５内に抜け出ないように挿着して取り付けられ
ている。

本案の基板受け治具は以上の構成であって、これの実際
上の使用は、本案基板受け治具を検査装置１００の基台
１０１にその支柱脚体１７を載せて定置させ、配線２０
を検査装置１００と電気的接続した後、電子素子を実装
した基板１０２を上方より水平に落し入れて、実装基板
１０２の電子素子のリード端子１０３をプローブピン２
４に電気的接触させ、回路動作の検査を行う。

治具本体１０としての既製基板は薄板であるが、該基板
（治具本体１０）は、その支柱１３の各脚体１７が下面
に突出しているためにこれら脚体１７にて支持され、か
つ基板１０１がしっかりとしているため、実装基板１０
２を上方よりプローブピン２４に押し付けても基板が反
るということはない。

なお、ＩＣやＬＳＩの回路動作を検査する場合には、特
に図示しないが、中空支柱体１４のかわりにブロックを
治具本体１０の上面に脚体１７で固装し、該ブロックに
ＩＣまたはＬＳＩ端子と適合する孔を穿設して、該孔に
検査用ピン２１を挿着するように構成することも可能で
ある。

〔考案の効果〕

しかして、本考案によれば、検査される実装基板と同じ
基板であって、電子素子を実装する前のパターンを走ら
せた既製基板をそのまま治具本体として用い、かつ検査
用ピンを立設するための孔は、新規に穿つことなく、既
に穿設されている孔のうち、パターンにおける検査する
１カ所と適合する孔を所定の孔径に拡開させるだけでよ
いから、従来のようなドリルが曲って入り、ピンの挿着
が不能となるという不都合は皆無となり、熟練を要せず
して正確に、かつ速やかに穿孔（拡開）することができ
るものである。

また、検査する実装基板と同じ非実装の既製基板そのも
のを治具本体として用いるものであるから、基板受け治
具の内製化ができ、回路変更等をした場合において、そ
れの試作の段階で簡単に回路動作の検査ができる等の多
大の効果を有する。

【図面の簡単な説明】

図面は本考案の一実施例を示したもので、第１図は本案
基板受け治具の一例での一部を断面して示す拡大部分
図、第２図は治具本体としての既製基板の一例を示す裏
面図、第３図は使用状態を示す概略説明図である。 １０……治具本体 １２′……孔 １３……支柱 １４……支柱体 １５……縦孔 １７……脚体 ２１……検査用ピン ２２……スリーブ ２３……スプリング ２４……プローブピン １００……検査装置 １０１……基台

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】実装基板の回路動作を検査する装置の基台
   上に固定的に定置される治具であって、治具本体として
   の検査される実装基板と同じ既製の非実装基板の所定の
   孔の位置に、支柱がその脚体を治具本体の下面に突出さ
   せて立設固装されると共に、該支柱における支柱体の中
   心縦孔内には、スリーブと該スリーブ内に弾装のスプリ
   ングを介して進退可能に連結されたプローブピンを有
   し、かつ前記検査装置と電気的接続される検査用ピンに
   おける前記スリーブが同心状に挿着された構成を特徴と
   する実装基板検査用の基板受け治具。