JPH0622218Y2 - 半導体用プローブヘッド - Google Patents
半導体用プローブヘッドInfo
- Publication number
- JPH0622218Y2 JPH0622218Y2 JP1969289U JP1969289U JPH0622218Y2 JP H0622218 Y2 JPH0622218 Y2 JP H0622218Y2 JP 1969289 U JP1969289 U JP 1969289U JP 1969289 U JP1969289 U JP 1969289U JP H0622218 Y2 JPH0622218 Y2 JP H0622218Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- hole
- probe head
- needle guide
- needle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 47
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1969289U JPH0622218Y2 (ja) | 1989-02-22 | 1989-02-22 | 半導体用プローブヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1969289U JPH0622218Y2 (ja) | 1989-02-22 | 1989-02-22 | 半導体用プローブヘッド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02110876U JPH02110876U (en, 2012) | 1990-09-05 |
JPH0622218Y2 true JPH0622218Y2 (ja) | 1994-06-08 |
Family
ID=31235427
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1969289U Expired - Lifetime JPH0622218Y2 (ja) | 1989-02-22 | 1989-02-22 | 半導体用プローブヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0622218Y2 (en, 2012) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5344213B2 (ja) * | 2008-06-23 | 2013-11-20 | 横河電機株式会社 | プローブアクセサリ |
-
1989
- 1989-02-22 JP JP1969289U patent/JPH0622218Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02110876U (en, 2012) | 1990-09-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI681195B (zh) | 探針卡裝置及其調節式探針 | |
US3781681A (en) | Test probe apparatus | |
JP2799973B2 (ja) | 垂直作動式プローブカード | |
JPH0622218Y2 (ja) | 半導体用プローブヘッド | |
US4812745A (en) | Probe for testing electronic components | |
JP3190128B2 (ja) | 4端子抵抗測定用プローブヘッド | |
JP2003270267A (ja) | プローブユニット、プローブカード、測定装置及びプローブカードの製造方法 | |
JPH0346462Y2 (en, 2012) | ||
JP2000046870A (ja) | 端子接続装置 | |
JP4462732B2 (ja) | プローブヘッド | |
JPH0428067Y2 (en, 2012) | ||
JP2531043Y2 (ja) | プローブヘッドの先端構造 | |
JP2531042Y2 (ja) | プローブヘッド | |
JP2004061194A (ja) | コンタクトプローブ装置 | |
JPS62109334A (ja) | ウエハプロ−ビング装置 | |
JPH0548131Y2 (en, 2012) | ||
JPH11183520A (ja) | プローブ装置 | |
JPS62188976A (ja) | 回路基板検査機用コンタクトプロ−ブ | |
JPS5932929Y2 (ja) | 計測用接点装置 | |
JP2635054B2 (ja) | プロービングカード | |
JP3122949B2 (ja) | タッチセンサ | |
JPH04110667A (ja) | コンタクトプローブ | |
KR200227339Y1 (ko) | 반도체 측정장비 | |
JPH0350461Y2 (en, 2012) | ||
JPH01263572A (ja) | 半導体塔載基板試験装置 |