JPH06215156A

JPH06215156A - マルチトリガ測定装置

Info

Publication number: JPH06215156A
Application number: JP5005748A
Authority: JP
Inventors: Kazuyoshi Eura; 和義江浦
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1993-01-18
Filing date: 1993-01-18
Publication date: 1994-08-05

Abstract

(57)【要約】【目的】複数の外部イベントトリガ信号が発生した場
合でも、一定時間内で高速変化するそれぞれの外部信号
のデータを損失することなく測定することのできるマル
チトリガ測定装置を提供する。【構成】プロセス入力装置３１は、外部イベントトリ
ガ信号Ａ、Ｂと、外部信号Ｃとを入力する。バッファメ
モリＡ３２は外部イベントトリガ信号Ａとこれに伴う外
部信号Ｃを蓄え、バッファメモリＢ３３は外部イベント
トリガ信号Ｂとこれに伴う外部信号Ｃを蓄える。バッフ
ァメモリＡ３２、バッファメモリＢ３３に蓄えられたデ
ータは、それぞれメモリＡ編集処理部４２、メモリＢ編
集処理部４３によって編集され、バッファメモリＡ編集
データベース３５、バッファメモリＢ編集データベース
３６に収容される。バッファメモリＡ３２とバッファメ
モリＢ３３へのデータの収容処理、メモリＡ編集処理部
４２とメモリＢ編集処理部４３の起動処理は、マルチト
リガスキャン処理部４１によって行われる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、各種プラントにおける
計測および解析診断等に利用されるマルチトリガ測定装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、１つの外部イベントトリガ信
号の変化により、一定時間内に高速変化する現象の計測
信号（外部信号）を入力し、編集、記憶する測定装置、
いわゆるトリガ測定装置が知られている。

【０００３】一般に、このようなトリガ測定装置は、外
部信号が一定時間内に高速変化するため、測定装置内に
この外部信号を入力したままのデータ形式にて蓄えるバ
ッファメモリを備えている。そして、このバッファメモ
リのデータから、所定のフォーマットにデータを編集
し、その編集結果を表示することにより、オペレータに
測定データを提供する。

【０００４】以下、図面を参照してこのような従来のト
リガ測定装置の構成を説明する。なお、以下の説明で
は、便宜上、外部イベントトリガ信号の数は１個、外部
イベントトリガ信号発生から１０秒間で動作する１００
ポイントを外部信号とし、またプロセス入力装置の入力
周期は１ミリ秒とする。

【０００５】図３に示すように、トリガ測定装置１は、
プロセス入力装置１１、バッファメモリ１２、測定時間
監視用タイマ１３、バッファメモリ編集データベース１
４、ＣＲＴおよびキーボード等からなる入出力装置１
５、プリンタ１６、トリガスキャン処理部１７、メモリ
編集処理部１８、スキャンデータ出力処理部１９等を備
えている。

【０００６】上記プロセス入力装置１１は、外部イベン
トトリガ信号Ａを入力すると同時に、この外部イベント
トリガ信号Ａの変化にて高速で変化する複数の外部信号
Ｃを入力する装置である。このプロセス入力装置１１を
介して入力された外部イベントトリガ信号Ａと外部信号
Ｃは、バッファメモリ１２に入力される。

【０００７】このバッファメモリ１２は、図４に示すよ
うに構成されており、図中最上部に示すように、その先
頭にスキャンデータ更新指示のエリアがある。このエリ
アには、プロセス入力装置１１にて入力した全点のスキ
ャンデータをバッファメモリ１２に蓄えるか否かの指標
が格納される。すなわち、入力した外部信号を蓄える場
合は、スキャンデータ更新指示のエリアに、スキャンデ
ータ更新指示「要」の指標（例えば０）をセットし、蓄
えない場合は、スキャンデータ更新指示「否」の指標
（例えば１）をセットする。

【０００８】このエリアの次には、スキャンステータス
を格納するエリア、その次に外部信号を格納するための
入力エリアが設けられている。入力エリアは、プロセス
入力装置１１の全点の入力データを入力周期毎（ここで
は１ミリ秒毎）に時系列に後続へ蓄えていく方式となっ
ている。この入力エリアのサイズは、一定の時間内で変
化する複数の外部信号Ｃのデータ個数以上のサイズを有
するが、万一この入力エリアがオーバーフローした場合
は、入力エリアの先頭から再びプロセス入力装置１１の
スキャンデータを蓄えていく循環バッファ方式となって
いる。

【０００９】また、スキャンステータスには、プロセス
入力装置１１を含めた入力機能の健全性を示す指標であ
る正常コード、異常コードがセットされる。

【００１０】トリガスキャン処理部１７は、上記バッフ
ァメモリ１２を制御する。このトリガスキャン処理部１
７の機能は、大別して３つあり、外部イベントトリガ信
号Ａの検出と、この検出によりバッファメモリ１２にプ
ロセス入力装置１１のスキャンデータを蓄えるためのバ
ッファメモリを割り当てる機能と、外部イベントトリガ
信号発生から測定が完了するまでの測定時間を監視する
機能である。

【００１１】測定時間監視用タイマ１３は、測定時間を
カウントするものであり、トリガスキャン処理部１７か
ら測定時間の初期値（ここでは１０秒）がセットされ、
測定時間監視用タイマ１３自身で入力周期（ここでは１
ミリ秒）で減算し続け、０秒となるとトリガスキャン処
理部１７に通知する。

【００１２】メモリ編集処理部１８は、プロセス入力装
置１１を介して入力された外部信号Ｃのデータを蓄えて
いるバッファメモリ１２のデータから、所定のフォーマ
ットにデータを編集し、その編集結果をバッファメモリ
編集データベース１４に保存する。これらの処理により
求められた編集データは、オペレータが、外部イベント
トリガ信号の種別と外部信号Ｃのポイントを、入出力装
置１５から入力することにより、スキャンデータ出力処
理部１９にて、メモリ編集データベース１４から検索を
行い、プリンタ１６に出力する。

【００１３】次に、上述したトリガスキャン処理部１７
の処理について、さらに詳細に説明する。

【００１４】図５のフローチャートに示すように、トリ
ガスキャン処理部１７は、２つの事象を待ち構える処理
形態となっている。この事象とは、外部イベントトリガ
信号Ａの発生と、測定時間監視用タイマ１３のタイマー
切れである。

【００１５】なお、初期状態として、プロセス入力装置
１１からのスキャンデータは、バッファメモリ１２に更
新されていない状態にある。

【００１６】ここで、例えば、外部イベントトリガ信号
Ａが発生すると（１００）、外部イベントトリガ発生か
ら一定時間（ここでは１０秒）内に変化する外部信号Ｃ
をバッファメモリ１２に蓄えるために、バッファメモリ
１２内のデータ更新指示エリアに「１」をセットすると
ともに（１０１）、測定時間（ここでは１０秒）のカウ
ント値を測定時間監視用タイマ１３にセットする（１０
２）。

【００１７】これにより、測定時間監視用タイマ１３自
身で、このカウント値を入力周期（１ミリ秒）で減算し
始める。また、バッファメモリ１２内には、高速で変化
する外部信号Ｃのスキャンデータがバッファリングされ
始める。

【００１８】このバッファリングが継続されている間
に、測定時間監視用タイマ１３の内容が０となると、第
２の事象である測定時間監視用タイマ１３のタイマ切れ
が発生する。この事象は測定完了を意味しているため、
トリガスキャン処理部１７に通知される。

【００１９】この通知を受けたトリガスキャン処理部１
７は（１０３）、測定したデータを編集するため、バッ
ファメモリ１２のデータ更新指示エリアに「０」をセッ
トしてプロセス入力装置１１からの入力データのスキャ
ン停止を行う（１０４）。

【００２０】その後、バッファメモリ１２に蓄えられた
測定データを予め定められた編集フォーマットに編集す
るため、メモリー編集処理部１８に編集要求を行う（１
０５）。

【００２１】そして、この編集要求の後は、前述したよ
うにオペレータが、所定事項を入出力装置１５から入力
することにより、スキャンデータ出力処理部１９にて、
蓄えられたデータがメモリ編集データベース１４からプ
リンタ１６に出力される。

【００２２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来のトリガ測定装置では、例えば、原子力発電所に
おける制御棒挿入時間の時間計測において、ＳＲＩ（選
択制御棒挿入）と全制御棒挿入が連続して発生したよう
な場合、先に入力されているＳＲＩ時間測定データが消
滅してしまうという問題があった。

【００２３】本発明は、かかる従来の事情に対処してな
されたもので、複数の外部イベントトリガ信号が発生し
た場合でも、一定時間内で高速変化するそれぞれの外部
信号のデータを損失することなく測定することのできる
マルチトリガ測定装置を提供しようとするものである。

【００２４】

【課題を解決するための手段】すなわち、本発明のマル
チトリガ測定装置は、複数の独立した外部イベントトリ
ガ信号の変化により、一定時間内に高速変化する外部信
号を、前記外部イベントトリガ信号別に測定するマルチ
トリガ測定装置であって、前記複数の外部イベントトリ
ガ信号と、前記外部信号を入力する入力手段と、前記入
力手段を介して入力された前記外部信号を、前記外部イ
ベントトリガ信号に対応して蓄えるバッファメモリと、
前記バッファメモリに、前記外部イベントトリガ信号に
応じて前記入力手段を介して入力された前記外部信号を
割り当てるトリガスキャン処理手段と、前記バッファメ
モリに蓄えられた前記外部信号のデータを、編集する編
集手段と、前記編集手段によって編集されたデータを保
存する編集データ保存手段と、前記編集データ保存手段
内の所望のデータを出力する出力手段とを具備したこと
を特徴とする。

【００２５】

【作用】上記構成の本発明のマルチトリガ測定装置で
は、複数の外部イベントトリガ信号毎に、それぞれ外部
信号を蓄えるためのバッファメモリが設けられており、
トリガスキャン処理手段によって外部信号がこれらのバ
ッファメモリに割り当てられ、蓄えられる。

【００２６】したがって、複数の外部イベントトリガ信
号が発生した場合でも、一定時間内で高速変化するそれ
ぞれの外部信号のデータを損失することなく測定するこ
とができる。

【００２７】

【実施例】以下、本発明のマルチトリガ測定装置の詳細
を、一実施例について図面を参照して説明する。

【００２８】本実施例では、原子力発電所における制御
棒挿入時間の時間計測に適用した場合について説明す
る。原子力発電所では、原子炉に何らかの異常が発生し
た場合に、炉出力を急速に低下させるために制御棒の挿
入操作を行うが、この制御棒の挿入操作には２種類あ
る。１つは、任意の制御棒を挿入する選択制御棒挿入
（ＳＲＩ）であり、もう１つは、原子炉内の全ての制御
棒を挿入する全制御棒挿入である。このいずれの場合も
制御棒挿入時間は、約１０秒である。

【００２９】ここで、選択制御棒挿入操作で炉出力が、
ある一定レベルまで低下しなければ、続いて全制御棒挿
入が行われる可能性があるが、これらの２つの事象によ
る制御棒挿入時間を計測する時に、以下に示すようなマ
ルチトリガ測定が行われる。

【００３０】図１は、本発明の一実施例のマルチトリガ
測定装置の構成を示すもので、この実施例のマルチトリ
ガ測定装置３０は、プロセス入力装置３１、バッファメ
モリＡ３２、バッファメモリＢ３３、測定時間監視用タ
イマ３４、バッファメモリＡ編集データベース３５、バ
ッファメモリＢ編集データベース３６、入出力装置３
７、プリンタ３８、監視周期管理用タイマ３９、警報窓
４０、マルチトリガスキャン処理部４１、メモリＡ編集
処理部４２、メモリＢ編集処理部４３、スキャンデータ
出力処理部４４、監視処理部４５を備えている。

【００３１】上記プロセス入力装置３１は、外部イベン
トトリガ信号Ａ（全制御棒挿入）と、外部イベントトリ
ガ信号Ｂ（選択制御棒挿入）と、外部信号Ｃ（制御棒駆
動信号）とを入力するよう構成されている。また、バッ
ファメモリＡ３２は、プロセス入力装置３１によって入
力された外部イベントトリガ信号Ａとこれに伴う外部信
号Ｃを蓄え、バッファメモリＢ３３は、プロセス入力装
置３１によって入力された外部イベントトリガ信号Ｂと
これに伴う外部信号Ｃを蓄えるように構成されている。
これらのバッファメモリＡ３２およびバッファメモリＢ
３３は、トリガ毎の循環バッファ方式とされている。こ
のように、バッファメモリＡ３２およびバッファメモリ
Ｂ３３をトリガ毎の循環バッファ方式とすることによ
り、測定データの編集処理に影響を与えることなく、後
述するように測定機能の健全性をチェックしながら次の
イベントを待ち構えることができる。

【００３２】また、バッファメモリＡ３２およびバッフ
ァメモリＢ３３に蓄えられたデータは、それぞれメモリ
Ａ編集処理部４２、メモリＢ編集処理部４３によって編
集され、バッファメモリＡ編集データベース３５、バッ
ファメモリＢ編集データベース３６に収容されるよう構
成されており、バッファメモリＡ編集データベース３５
およびバッファメモリＢ編集データベース３６に収容さ
れたデータは、入出力装置３７からのオペレータ入力に
よって起動されたスキャンデータ出力処理部４４によ
り、入出力装置３７あるいはプリンタ３８に出力される
よう構成されている。

【００３３】なお、上記バッファメモリＡ３２とバッフ
ァメモリＢ３３へのデータの収容処理およびメモリＡ編
集処理部４２とメモリＢ編集処理部４３の起動処理等
は、後述するようにしてマルチトリガスキャン処理部４
１によって行われる。

【００３４】また、警報処理部４５は、バッファメモリ
Ａ３２あるいはバッファメモリＢ３３内にあるプロセス
入力装置３１を含めた入力機能の健全性を示すステータ
スをチェックすることにより、測定機能の健全性を常時
監視するよう構成されており、この警報処理部４５から
の測定不可の出力は、警報窓４０によってオペレータに
通知されるよう構成されている。さらに、監視周期管理
用タイマ３９は、警報処理部４５による測定機能の健全
性の監視周期を管理するためのものであり、この監視周
期管理用タイマ３９には、警報処理部４５から、測定機
能の健全性チェックの周期時間（ここでは１０ミリ秒）
がセットされ、自身で１ミリ秒周期で減算し続け、０秒
となった時点で警報処理部３９に対して測定機能の健全
性チェックの周期が到来したことを通知するよう構成さ
れている。

【００３５】次に、図２を参照してマルチトリガスキャ
ン部４１の処理手順について説明する。

【００３６】全制御棒挿入の事象（外部イベントトリガ
信号Ａ）が発生した場合（２００）、この時に、ＳＲＩ
の発生による制御棒駆動信号Ｃのデータをバッファメモ
リＢ３３にて測定中である可能性があるため、まず、マ
ルチトリガスキャン処理部４１にて、ＳＲＩの測定フラ
グの状態を見て、測定中か否かのチェックを行う（２０
１）。

【００３７】この時、測定中であれば、外部イベントト
リガ信号Ｂ（ＳＲＩ）の発生による制御棒駆動信号Ｃの
測定は完了となるので、マルチトリガスキャン処理部４
１は、バッファメモリＢ３３に対して、データスキャン
を停止する処理を行い、バッファメモリＢ３３に蓄えら
れたスキャンデータをバッファメモリＢ編集データベー
ス３６に保存するため、メモリＢ編集処理部４３に対し
て編集処理の要求を行う（２０２）。

【００３８】なお、この編集処理の要求をうけてメモリ
Ｂ編集処理部４３では、前述したような編集処理を行っ
た後、外部イベントトリガ信号Ｂ（ＳＲＩ）の発生によ
る測定が完了した事を示すＳＲＩの測定フラグをリセッ
トする。また、ＳＲＩの測定フラグが測定中でなけれ
ば、バッファメモリＢ３３にはスキャンデータがないた
め、マルチトリガスキャン処理部４１は、メモリＢ編集
処理部４３に対する編集処理の要求を行わない。

【００３９】次に、マルチトリガスキャン処理部４１
は、バッファメモリＡ３２に対して更新要の指標（例え
ば１）をセットすることにより、外部イベントトリガ信
号Ａ（全制御棒挿入）の発生に基づいて、制御棒駆動信
号Ｃを測定するための処理を行い（２０３）、全制御棒
挿入の測定フラグをセットして（２０４）、測定時間監
視用タイマ３４にデータスキャン時間（ここでは１０秒
間）をセットする（２０５）。

【００４０】以上の処理により、全制御棒挿入のイベン
トにより動作する制御棒駆動信号Ｃのデータが、バッフ
ァメモリＡ３２に逐次時系列に蓄えられていく。

【００４１】また、選択御棒挿入の事象（外部イベント
トリガ信号Ｂ）が発生した場合も（２２０）、同様にし
て、測定中か否かのチェックを行い（２２１）、測定中
であれば、バッファメモリＡ３２に対して、データスキ
ャンを停止する処理を行った後メモリＡ編集処理部４２
に対して編集処理の要求を行い（２２２）、制御棒駆動
信号Ｃを測定するための処理を行い（２２３）、ＳＲＩ
の測定フラグをセットして（２２４）、測定時間監視用
タイマ３４にデータスキャン時間（ここでは１０秒間）
をセットする（２１５）。

【００４２】このようにして測定を開始した後、データ
スキャン時間の経過により、測定時間監視用タイマ３４
のタイマー切れが起きると（２１０）、マルチトリガス
キャン処理部４１では、まず、どの外部イベントトリガ
信号に基づく制御棒駆動信号Ｃのデータスキャンの測定
完了であるかの判定を、測定フラグによって行う（２１
１）。

【００４３】そして、外部イベントトリガ信号Ａ（全制
御棒挿入）に基づくデータスキャンの測定完了の場合
は、バッファメモリＡ３２内のデータ更新指示に対して
データ更新否の指標（例えば０）をセットした後、メモ
リＡ編集処理部４２に対して編集処理の要求を行い（２
１２）、この後、いつ発生するか予測不可能な次のイベ
ントトリガ信号を待ち構えること、ならびに測定機能の
健全性をチェックするために、バッファメモリＢ３３に
プロセス入力装置３１のデータを常時蓄えるように設定
する（２１３）。

【００４４】これは、バッファメモリＢ３３のスキャン
データ更新指示に対して、データ更新要の指標（例えば
１）をセットすることによって行われる。また、編集処
理の要求をうけたメモリＡ編集処理部４２では、バッフ
ァメモリＡ３２内のデータの編集処理を行った後、外部
イベントトリガ信号Ａ（全制御棒挿入）に基づく測定を
行っていることを示す測定フラグをリセットし、測定完
了の状態とする。これにより、外部イベントトリガ信号
Ａ（全制御棒挿入）に基づく測定は完了し、オペレータ
にそれぞれの測定データの提供が可能となる。

【００４５】一方、外部イベントトリガ信号Ｂ（ＳＲ
Ｉ）に基づくデータスキャンの測定完了の場合も、同様
に、バッファメモリＢ３３内のデータ更新指示に対して
データ更新否の指標（例えば０）をセットした後、メモ
リＢ編集処理部４３に対して編集処理の要求を行い（２
１４）、この後、バッファメモリＡ３２にプロセス入力
装置３１のデータを常時蓄えるように設定する（２１
５）。

【００４６】次に、監視処理部４５の動作について説明
する。

【００４７】プロセス入力装置３１を含む入力機能の健
全性をチェックするための監視周期管理用タイマ３９の
タイマ切れが発生すると、監視処理部４５は、現在デー
タスキャンを行っているバッファメモリＡ３２またはバ
ッファメモリＢ３３のスキャンステータスをチェックす
る。この時、バッファメモリＡ３２またはバッファメモ
リＢ３３に異常ステータスがセットされていれば、監視
処理部４５は、警報窓４０に対して警報を発し、オペレ
ータに対して復旧要求を行う。そして、次の周期のスキ
ャン機能の健全性チェックのために、チェック周期（こ
こでは１０ミリ秒）を再び監視周期管理用タイマ３９に
セットする。

【００４８】以上のように、本実施例によれば、複数の
外部イベントトリガ信号が発生した場合でも、一定時間
内で高速変化するそれぞれの外部信号のデータを損失す
ることなく測定することができ、また、万が一、測定機
能に異常が発生した場合も、測定機能の健全性を常時チ
ェックすることができるので、測定チャンスを逃すこと
無く、所定の外部信号の測定を行うことができる。

【００４９】なお、以上の実施例では、外部イベントト
リガ信号が２つの場合について説明したが、外部イベン
トトリガ信号毎に、プロセス入力装置の入力点を追加す
るとともに、バッフアメモリエリアとメモリ編集処理と
バッフアメモリ編集データベースを個々に割り当てる事
によって、さらに多数の外部イベントトリガ信号に基づ
くマルチトリガ測定を行うことができる。

【００５０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明のマルチト
リガ測定装置によれば、複数の外部イベントトリガ信号
が発生した場合でも、一定時間内で高速変化するそれぞ
れの外部信号のデータを損失することなく測定すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例のマルチトリガ測定装置の構
成を示す図。

【図２】図１のマルチトリガ測定装置の動作を説明する
ための図。

【図３】従来の装置の構成を示す図。

【図４】バッファメモリの構成を示す図。

【図５】従来の装置の動作を説明するための図。

【符号の説明】

３０マルチトリガ測定装置３１プロセス入力装置３２バッファメモリＡ３３バッファメモリＢ３４測定時間監視用タイマ３５バッファメモリＡ編集データベース３６バッファメモリＢ編集データベース３７入出力装置３９監視周期管理用タイマ４１マルチトリガスキャン処理部４２メモリＡ編集処理部４３メモリＢ編集処理部４４スキャンデータ出力処理部４５監視処理部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の独立した外部イベントトリガ信号
の変化により、一定時間内に高速変化する外部信号を、
前記外部イベントトリガ信号別に測定するマルチトリガ
測定装置であって、前記複数の外部イベントトリガ信号と、前記外部信号を
入力する入力手段と、前記入力手段を介して入力された前記外部信号を、前記
外部イベントトリガ信号に対応して蓄えるバッファメモ
リと、前記バッファメモリに、前記外部イベントトリガ信号に
応じて前記入力手段を介して入力された前記外部信号を
割り当てるトリガスキャン処理手段と、前記バッファメモリに蓄えられた前記外部信号のデータ
を、編集する編集手段と、前記編集手段によって編集されたデータを保存する編集
データ保存手段と、前記編集データ保存手段内の所望のデータを出力する出
力手段とを具備したことを特徴とするマルチトリガ測定
装置。
【請求項２】請求項１記載のマルチトリガ測定装置に
おいて、前記バッファメモリに蓄えられたデータから、少なくと
も前記入力手段の機能の健全性を常時監視する警報処理
部を具備したことを特徴とするマルチトリガ測定装置。