JPH06195258A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
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- JPH06195258A JPH06195258A JP4180215A JP18021592A JPH06195258A JP H06195258 A JPH06195258 A JP H06195258A JP 4180215 A JP4180215 A JP 4180215A JP 18021592 A JP18021592 A JP 18021592A JP H06195258 A JPH06195258 A JP H06195258A
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
- G11C16/102—External programming circuits, e.g. EPROM programmers; In-circuit programming or reprogramming; EPROM emulators
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
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- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
- G06F11/1068—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices in sector programmable memories, e.g. flash disk
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- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/74—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using duplex memories, i.e. using dual copies
Abstract
(57)【要約】
【目的】高速アクセス性と情報不揮発性とをともに備え
る単一装置構成の記憶装置を提供する。 【構成】揮発性RAM部2は記憶すべき情報を格納する
半導体メモリであり、中央制御部1を介して外部から高
速にアクセスできる。不揮発性RAM部3は情報を電気
的に書き換え可能で、かつ記憶保持のための電源供給が
不要な半導体メモリである。中央制御部1の退避/復旧
制御部5の制御により、メモリ相互アクセス制御部7を
起動し、揮発性RAMアクセス制御部6及び不揮発性R
AMアクセス制御部8を介して、揮発性RAM部2と不
揮発性RAM部3との間で記憶情報の退避/復旧を行
う。
る単一装置構成の記憶装置を提供する。 【構成】揮発性RAM部2は記憶すべき情報を格納する
半導体メモリであり、中央制御部1を介して外部から高
速にアクセスできる。不揮発性RAM部3は情報を電気
的に書き換え可能で、かつ記憶保持のための電源供給が
不要な半導体メモリである。中央制御部1の退避/復旧
制御部5の制御により、メモリ相互アクセス制御部7を
起動し、揮発性RAMアクセス制御部6及び不揮発性R
AMアクセス制御部8を介して、揮発性RAM部2と不
揮発性RAM部3との間で記憶情報の退避/復旧を行
う。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体記憶装置に関し、
特に情報処理装置の記憶装置に関する。
特に情報処理装置の記憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の記憶装置は、中央処理装
置とバス接続されたランダムアクセスメモリ(RAM)
から構成される主記憶装置と、磁気ディスク装置や磁気
テープ装置や光ディスク装置等の二次記憶装置の2種類
に分類される。一般的に主記憶装置は、中央処理装置か
ら直接アクセス可能で高速アクセス可能な揮発性ランダ
ムアクセスメモリで構成され、二次記憶装置は、磁気デ
ィスク装置や磁気テープ装置や光ディスク装置や電子デ
ィスク装置に代表される大容量及び不揮発性の特徴を有
し、主記憶装置と二次記憶装置は相互補間関係を持ち、
両者を用いてシステム構成をとる事が主流となってい
た。
置とバス接続されたランダムアクセスメモリ(RAM)
から構成される主記憶装置と、磁気ディスク装置や磁気
テープ装置や光ディスク装置等の二次記憶装置の2種類
に分類される。一般的に主記憶装置は、中央処理装置か
ら直接アクセス可能で高速アクセス可能な揮発性ランダ
ムアクセスメモリで構成され、二次記憶装置は、磁気デ
ィスク装置や磁気テープ装置や光ディスク装置や電子デ
ィスク装置に代表される大容量及び不揮発性の特徴を有
し、主記憶装置と二次記憶装置は相互補間関係を持ち、
両者を用いてシステム構成をとる事が主流となってい
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の記憶装
置は、主記憶装置では情報の不揮発対策が必要となる問
題があり、二次記憶装置において、磁気ディスク装置や
磁気テープ装置や光ディスク装置のように回転記憶媒体
を使用する記憶装置は、回転待ち時間やシーク時間やサ
ーチ時間がかかりアクセス速度が遅い欠点があり、電子
ディスク装置は、半導体メモリを用いてアクセス速度は
速いが、不揮発対策として大容量の電池を必要とし重量
及び容積が大きくなる欠点があり、長時間保持用に三次
記憶装置を必要とする等の欠点がある。
置は、主記憶装置では情報の不揮発対策が必要となる問
題があり、二次記憶装置において、磁気ディスク装置や
磁気テープ装置や光ディスク装置のように回転記憶媒体
を使用する記憶装置は、回転待ち時間やシーク時間やサ
ーチ時間がかかりアクセス速度が遅い欠点があり、電子
ディスク装置は、半導体メモリを用いてアクセス速度は
速いが、不揮発対策として大容量の電池を必要とし重量
及び容積が大きくなる欠点があり、長時間保持用に三次
記憶装置を必要とする等の欠点がある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体記憶装置
は、記憶すべき情報を格納するための外部装置からのラ
ンダムかつ高速なリード/ライトアクセスが可能な半導
体メモリである揮発性RAM部と;電源供給なしに保存
すべき情報を格納するための電気的に書き換え可能な半
導体メモリである不揮発性RAM部と;前記揮発性RA
M部へのリード/ライトアクセス制御を行う揮発性RA
Mアクセス制御手段と、前記不揮発性RAM部へのリー
ド/ライトアクセス制御を行なう不揮発性RAMアクセ
ス制御手段と、前記揮発性RAM部及び不揮発性RAM
部相互間のコピー制御を行なうメモリ相互アクセス制御
手段と、前記外部装置との接続制御を行なう外部インタ
フェース手段と、退避指示により前記メモリ相互アクセ
ス制御手段を制御して前記揮発性RAM部に格納されて
いる情報を前記不揮発性RAM部にコピーする退避制御
手段と、復旧指示により前記メモリ相互アクセス制御手
段を制御して前記不揮発性RAM部に格納されている情
報を前記揮発性RAM部にコピーする復旧制御手段とを
持つ中央制御部とを備えている。
は、記憶すべき情報を格納するための外部装置からのラ
ンダムかつ高速なリード/ライトアクセスが可能な半導
体メモリである揮発性RAM部と;電源供給なしに保存
すべき情報を格納するための電気的に書き換え可能な半
導体メモリである不揮発性RAM部と;前記揮発性RA
M部へのリード/ライトアクセス制御を行う揮発性RA
Mアクセス制御手段と、前記不揮発性RAM部へのリー
ド/ライトアクセス制御を行なう不揮発性RAMアクセ
ス制御手段と、前記揮発性RAM部及び不揮発性RAM
部相互間のコピー制御を行なうメモリ相互アクセス制御
手段と、前記外部装置との接続制御を行なう外部インタ
フェース手段と、退避指示により前記メモリ相互アクセ
ス制御手段を制御して前記揮発性RAM部に格納されて
いる情報を前記不揮発性RAM部にコピーする退避制御
手段と、復旧指示により前記メモリ相互アクセス制御手
段を制御して前記不揮発性RAM部に格納されている情
報を前記揮発性RAM部にコピーする復旧制御手段とを
持つ中央制御部とを備えている。
【0005】また、上記構成において、前記揮発性RA
Mアクセス制御手段が、前記揮発性RAM部に対するラ
イトアクセス時にはエラーチェッキング・コレクティン
グ情報であるECC情報の付加を行ない、リードアクセ
ス時にはこのECC情報によるエラー検出及び訂正を行
ない、外部からのRAMアクセスの無い時に前記揮発性
RAM部の情報を順次読みだしてそのECC情報による
エラー検出及び訂正をするパトロールリード機能の制御
を行ない、前記不揮発性RAMアクセス制御手段が、前
記不揮発性RAM部に対するライトアクセス時にはエラ
ーチェッキング・コレクティング情報であるECC情報
の付加を行い、リードアクセス時にはこのECC情報に
よるエラー検出及び訂正を行なう構成とするこができ
る。
Mアクセス制御手段が、前記揮発性RAM部に対するラ
イトアクセス時にはエラーチェッキング・コレクティン
グ情報であるECC情報の付加を行ない、リードアクセ
ス時にはこのECC情報によるエラー検出及び訂正を行
ない、外部からのRAMアクセスの無い時に前記揮発性
RAM部の情報を順次読みだしてそのECC情報による
エラー検出及び訂正をするパトロールリード機能の制御
を行ない、前記不揮発性RAMアクセス制御手段が、前
記不揮発性RAM部に対するライトアクセス時にはエラ
ーチェッキング・コレクティング情報であるECC情報
の付加を行い、リードアクセス時にはこのECC情報に
よるエラー検出及び訂正を行なう構成とするこができ
る。
【0006】
【実施例】次に、本発明につて図面を参照して説明す
る。
る。
【0007】図1は本発明の一実施例のブロック構成図
であり、(a)は半導体装置全体の、(b)は中央制御
部1の構成を示す。揮発性RAM(ランダム・アクセス
・メモリ)部2は高速アクセス可能な半導体メモリであ
り、不揮発性RAM部3は電気的に書き換え可能でかつ
記憶保持のため電源供給を必要としない半導体メモリで
ある。外部装置から記憶すべき情報を格納する場合に、
中央制御部1の中の外部インタフェース部4を介して該
装置に記憶すべき情報と書き込み指示を伝達し、中央制
御部1はこの情報を揮発性RAMアクセス制御部6に引
き渡し、揮発性RAMアクセス制御部6はこの情報にエ
ラーチェッキング&コレクティング(ECC)情報の付
加を行ない、これらの情報を揮発性RAM部2へ書き込
む。外部装置から記憶情報を読み出す場合に、中央制御
部1の中の外部インタフェース部4を介して該装置に読
みだし指示を伝達し、中央制御部1はこの指示情報を揮
発性RAMアクセス制御部6に引き渡し、揮発性RAM
アクセス制御部6はこの指示情報に基づき該当情報を揮
発性RAM部2から読みだし、エラーチェッキング&コ
レクティング(ECC)情報によるエラー検出及び訂正
を行ない、指示された情報を外部インタフェース部4へ
渡し、外部インタフェース部4から外部装置に情報伝達
を行なう。また、これらの外部から揮発性RAMアクス
時の外部アクセス情報経路9を図2(a)に示す。
であり、(a)は半導体装置全体の、(b)は中央制御
部1の構成を示す。揮発性RAM(ランダム・アクセス
・メモリ)部2は高速アクセス可能な半導体メモリであ
り、不揮発性RAM部3は電気的に書き換え可能でかつ
記憶保持のため電源供給を必要としない半導体メモリで
ある。外部装置から記憶すべき情報を格納する場合に、
中央制御部1の中の外部インタフェース部4を介して該
装置に記憶すべき情報と書き込み指示を伝達し、中央制
御部1はこの情報を揮発性RAMアクセス制御部6に引
き渡し、揮発性RAMアクセス制御部6はこの情報にエ
ラーチェッキング&コレクティング(ECC)情報の付
加を行ない、これらの情報を揮発性RAM部2へ書き込
む。外部装置から記憶情報を読み出す場合に、中央制御
部1の中の外部インタフェース部4を介して該装置に読
みだし指示を伝達し、中央制御部1はこの指示情報を揮
発性RAMアクセス制御部6に引き渡し、揮発性RAM
アクセス制御部6はこの指示情報に基づき該当情報を揮
発性RAM部2から読みだし、エラーチェッキング&コ
レクティング(ECC)情報によるエラー検出及び訂正
を行ない、指示された情報を外部インタフェース部4へ
渡し、外部インタフェース部4から外部装置に情報伝達
を行なう。また、これらの外部から揮発性RAMアクス
時の外部アクセス情報経路9を図2(a)に示す。
【0008】図2(b)は、不揮発性RAM部3に格納
されている情報を揮発性RAM部2にコピーする復旧処
理情報経路10を示し、該装置において復旧処理を行な
う場合は、復旧指示により退避/復旧制御部5がメモリ
相互アクセス制御部7に対し、不揮発性RAM部3に格
納されている情報を揮発性RAM部2にコピーする復旧
処理を指示し、メモリ相互アクセス制御部7は不揮発性
RAMアクセス制御部8に読み出し要求を行ない、不揮
発性RAM部3に格納されている情報を受け取り、この
情報を揮発性RAMアクセス制御部6に書き込み要求を
行ない、揮発性RAM部2に書き込み処理させることで
復旧処理を行なう。
されている情報を揮発性RAM部2にコピーする復旧処
理情報経路10を示し、該装置において復旧処理を行な
う場合は、復旧指示により退避/復旧制御部5がメモリ
相互アクセス制御部7に対し、不揮発性RAM部3に格
納されている情報を揮発性RAM部2にコピーする復旧
処理を指示し、メモリ相互アクセス制御部7は不揮発性
RAMアクセス制御部8に読み出し要求を行ない、不揮
発性RAM部3に格納されている情報を受け取り、この
情報を揮発性RAMアクセス制御部6に書き込み要求を
行ない、揮発性RAM部2に書き込み処理させることで
復旧処理を行なう。
【0009】図2(c)は、揮発性RAM部2に格納さ
れている情報を不揮発性RAMA部3にコピーする退避
処理情報経路11を示し、該装置において退避処理を行
なう場合は、退避指示により退避/復旧制御部5がメモ
リ相互アクセス制御部7に対し、揮発性RAM部2に格
納されている情報を不揮発性RAM部3にコピーする退
避処理を指示し、メモリ相互アクセス制御部7は揮発性
RAMアクセス制御部6に読み出し要求を行ない、揮発
性RAM部2に格納されている情報を受け取り、この情
報を不揮発性RAMアクセス制御部8に書き込み要求を
行ない、不揮発性RAM部3に書き込み処理させること
で退避処理を行なう。
れている情報を不揮発性RAMA部3にコピーする退避
処理情報経路11を示し、該装置において退避処理を行
なう場合は、退避指示により退避/復旧制御部5がメモ
リ相互アクセス制御部7に対し、揮発性RAM部2に格
納されている情報を不揮発性RAM部3にコピーする退
避処理を指示し、メモリ相互アクセス制御部7は揮発性
RAMアクセス制御部6に読み出し要求を行ない、揮発
性RAM部2に格納されている情報を受け取り、この情
報を不揮発性RAMアクセス制御部8に書き込み要求を
行ない、不揮発性RAM部3に書き込み処理させること
で退避処理を行なう。
【0010】外部からのRAMアクセスが無くかつ退避
/復旧処理も無い時に、揮発性RAMアクセス制御部6
はパトロールリード機能の制御を行なう。パトロールリ
ード機能は、揮発性RAM部2の情報を順次読みだして
そのECC情報によりエラー検出及び訂正する機能であ
る。
/復旧処理も無い時に、揮発性RAMアクセス制御部6
はパトロールリード機能の制御を行なう。パトロールリ
ード機能は、揮発性RAM部2の情報を順次読みだして
そのECC情報によりエラー検出及び訂正する機能であ
る。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、揮発性R
AMの高速アクセスが可能で主記憶装置として使用可能
であり、不揮発性RAMに情報の退避格納を行なう事で
二次記憶装置として使用可能である。二次記憶装置とし
て使用した場合にも主記憶と同程度の高速アクセスがで
きシステム性能の向上が可能であり、従来の二次記憶装
置が回転待ち時間やシーク時間等の遅れから退避/復旧
処理に長時間必要とするのに対し、退避制御機能と復旧
制御機能を使用して情報の退避/復旧を半導体メモリア
クセス速度で行なうので、退避/復旧処理が短時間で可
能となる等の効果がある。
AMの高速アクセスが可能で主記憶装置として使用可能
であり、不揮発性RAMに情報の退避格納を行なう事で
二次記憶装置として使用可能である。二次記憶装置とし
て使用した場合にも主記憶と同程度の高速アクセスがで
きシステム性能の向上が可能であり、従来の二次記憶装
置が回転待ち時間やシーク時間等の遅れから退避/復旧
処理に長時間必要とするのに対し、退避制御機能と復旧
制御機能を使用して情報の退避/復旧を半導体メモリア
クセス速度で行なうので、退避/復旧処理が短時間で可
能となる等の効果がある。
【図1】本発明の一実施例のブロック図である。
【図2】(a)は外部アクセス情報経路、(b)は復旧
処理情報経路、(c)は退避処理情報経路を示す図であ
る。
処理情報経路、(c)は退避処理情報経路を示す図であ
る。
1 中央制御部 2 揮発性RAM部 3 不揮発性RAM部 4 外部インタフェース部 5 退避/復旧制御部 6 揮発性RAMアクセス制御部 7 メモリ相互アクセス制御部 8 不揮発性RAMアクセス制御部 9 外部アクセス情報経路 10 復旧処理情報経路 11 退避処理情報経路
Claims (2)
- 【請求項1】 記憶すべき情報を格納するための外部装
置からのランダムかつ高速なリード/ライトアクセスが
可能な半導体メモリである揮発性RAM部と;電源供給
なしに保存すべき情報を格納するための電気的に書き換
え可能な半導体メモリである不揮発性RAM部と;前記
揮発性RAM部へのリード/ライトアクセス制御を行う
揮発性RAMアクセス制御手段と、前記不揮発性RAM
部へのリード/ライトアクセス制御を行なう不揮発性R
AMアクセス制御手段と、前記揮発性RAM部及び不揮
発性RAM部相互間のコピー制御を行なうメモリ相互ア
クセス制御手段と、前記外部装置との接続制御を行なう
外部インタフェース手段と、退避指示により前記メモリ
相互アクセス制御手段を制御して前記揮発性RAM部に
格納されている情報を前記不揮発性RAM部にコピーす
る退避制御手段と、復旧指示により前記メモリ相互アク
セス制御手段を制御して前記不揮発性RAM部に格納さ
れている情報を前記揮発性RAM部にコピーする復旧制
御手段とを持つ中央制御部とを備えたことを特徴とする
半導体記憶装置。 - 【請求項2】 前記揮発性RAMアクセス制御手段が、
前記揮発性RAM部に対するライトアクセス時にはエラ
ーチェッキング・コレクティング情報であるECC情報
の付加を行ない、リードアクセス時にはこのECC情報
によるエラー検出及び訂正を行ない、外部からのRAM
アクセスの無い時に前記揮発性RAM部の情報を順次読
みだしてそのECC情報によるエラー検出及び訂正をす
るパトロールリード機能の制御を行ない、前記不揮発性
RAMアクセス制御手段が、前記不揮発性RAM部に対
するライトアクセス時にはエラーチェッキング・コレク
ティング情報であるECC情報の付加を行い、リードア
クセス時にはこのECC情報によるエラー検出及び訂正
を行なうことを特徴とする請求項1記載の半導体記憶装
置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4180215A JPH06195258A (ja) | 1992-07-08 | 1992-07-08 | 半導体記憶装置 |
US08/087,282 US5412612A (en) | 1992-07-08 | 1993-07-08 | Semiconductor storage apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4180215A JPH06195258A (ja) | 1992-07-08 | 1992-07-08 | 半導体記憶装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06195258A true JPH06195258A (ja) | 1994-07-15 |
Family
ID=16079418
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4180215A Pending JPH06195258A (ja) | 1992-07-08 | 1992-07-08 | 半導体記憶装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5412612A (ja) |
JP (1) | JPH06195258A (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004102781A (ja) * | 2002-09-11 | 2004-04-02 | Hitachi Ltd | メモリシステム |
JP2007115013A (ja) * | 2005-10-20 | 2007-05-10 | Fujitsu Ltd | メモリシステムおよびメモリシステムの動作方法 |
JP2007242049A (ja) * | 2007-05-21 | 2007-09-20 | Renesas Technology Corp | メモリモジュール |
KR100884157B1 (ko) * | 2001-06-20 | 2009-02-17 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 반도체 장치 |
US7554830B2 (en) | 2001-06-11 | 2009-06-30 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor device with non-volatile memory and random access memory |
KR100958767B1 (ko) * | 2001-06-11 | 2010-05-18 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 메모리 모듈 |
JP2010225161A (ja) * | 2010-04-13 | 2010-10-07 | Renesas Electronics Corp | 半導体記憶装置 |
JP2011108286A (ja) * | 2001-02-28 | 2011-06-02 | Spansion Llc | メモリ装置 |
JP2011192299A (ja) * | 2011-05-20 | 2011-09-29 | Renesas Electronics Corp | メモリモジュールとコントローラ |
US8130581B2 (en) | 2005-07-21 | 2012-03-06 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor memory device |
US8581919B2 (en) | 2009-03-20 | 2013-11-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Display controllers including memory controllers |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07153286A (ja) * | 1993-11-30 | 1995-06-16 | Sony Corp | 半導体不揮発性記憶装置 |
JP2669365B2 (ja) * | 1994-11-24 | 1997-10-27 | 日本電気株式会社 | 書換え可能なromファイル装置 |
US8171203B2 (en) * | 1995-07-31 | 2012-05-01 | Micron Technology, Inc. | Faster write operations to nonvolatile memory using FSInfo sector manipulation |
US6418506B1 (en) * | 1996-12-31 | 2002-07-09 | Intel Corporation | Integrated circuit memory and method for transferring data using a volatile memory to buffer data for a nonvolatile memory array |
US6163480A (en) * | 1997-12-29 | 2000-12-19 | Honeywell International Inc. | Memory with high integrity memory cells |
DE19819205A1 (de) | 1998-04-29 | 1999-11-04 | Siemens Ag | Datenhaltungssystem für persistente Daten |
US6691205B2 (en) * | 2001-03-05 | 2004-02-10 | M-Systems Flash Disk Pioneers Ltd. | Method for using RAM buffers with simultaneous accesses in flash based storage systems |
JP2003015954A (ja) * | 2001-06-28 | 2003-01-17 | Sharp Corp | 半導体記憶装置および情報機器、半導体記憶装置のアクセス期間設定方法 |
US9311673B2 (en) * | 2002-06-05 | 2016-04-12 | Nasdaq, Inc. | Security transaction matching |
US7315951B2 (en) * | 2003-10-27 | 2008-01-01 | Nortel Networks Corporation | High speed non-volatile electronic memory configuration |
US7177782B2 (en) * | 2004-06-18 | 2007-02-13 | Lenovo (Singapore) Pte. Ltd. | Methods and arrangements for capturing runtime information |
DE602004003583T2 (de) * | 2004-10-04 | 2007-11-22 | Research In Motion Ltd., Waterloo | System und Verfahren zum Datensichern bei Stromausfall |
JP4097649B2 (ja) * | 2004-12-09 | 2008-06-11 | ファナック株式会社 | 数値制御装置 |
KR100609623B1 (ko) * | 2005-02-16 | 2006-08-08 | 삼성전자주식회사 | 내부 메모리 디바이스간의 직접적 데이터 이동이 가능한 복합 메모리 칩 및 데이터 이동방법 |
US7716411B2 (en) * | 2006-06-07 | 2010-05-11 | Microsoft Corporation | Hybrid memory device with single interface |
US8966181B2 (en) * | 2008-12-11 | 2015-02-24 | Seagate Technology Llc | Memory hierarchy with non-volatile filter and victim caches |
EP2273373A1 (en) * | 2009-07-02 | 2011-01-12 | Vodafone Holding GmbH | Storing of frequently modified data in an IC card |
US10262365B2 (en) | 2012-04-16 | 2019-04-16 | Nasdaq Technology Ab | Method and a computerized exchange system for processing trade orders |
US8812744B1 (en) | 2013-03-14 | 2014-08-19 | Microsoft Corporation | Assigning priorities to data for hybrid drives |
US9626126B2 (en) | 2013-04-24 | 2017-04-18 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Power saving mode hybrid drive access management |
US9946495B2 (en) | 2013-04-25 | 2018-04-17 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Dirty data management for hybrid drives |
KR20150062646A (ko) * | 2013-11-29 | 2015-06-08 | 삼성전자주식회사 | 전자 시스템 및 이의 동작 방법 |
US10001947B1 (en) * | 2015-05-08 | 2018-06-19 | American Megatrends, Inc. | Systems, methods and devices for performing efficient patrol read operations in a storage system |
KR20170110808A (ko) * | 2016-03-24 | 2017-10-12 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 데이터 저장 장치를 포함하는 데이터 처리 시스템 |
US10831381B2 (en) | 2016-03-29 | 2020-11-10 | International Business Machines Corporation | Hierarchies of credential and access control sharing between DSN memories |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57208696A (en) * | 1981-06-16 | 1982-12-21 | Fujitsu Ltd | Diagnosing system of storage device |
JPH02299044A (ja) * | 1989-05-12 | 1990-12-11 | Hitachi Koki Co Ltd | 書替可能不揮発性メモリの制御方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4686652A (en) * | 1985-11-25 | 1987-08-11 | Rockwell International Corporation | Non-volatile RAM cell with single high voltage precharge |
JPS62256296A (ja) * | 1986-04-30 | 1987-11-07 | Fujitsu Ltd | 半導体不揮発性記憶装置 |
JPH0291749A (ja) * | 1988-09-29 | 1990-03-30 | Toshiba Corp | 不揮発型半導体メモリ装置 |
US4965828A (en) * | 1989-04-05 | 1990-10-23 | Quadri Corporation | Non-volatile semiconductor memory with SCRAM hold cycle prior to SCRAM-to-E2 PROM backup transfer |
US5197026A (en) * | 1989-04-13 | 1993-03-23 | Microchip Technology Incorporated | Transparent EEPROM backup of DRAM memories |
CA2010122A1 (en) * | 1989-06-21 | 1990-12-21 | Makoto Sakamoto | Integrated circuit including programmable circuit |
-
1992
- 1992-07-08 JP JP4180215A patent/JPH06195258A/ja active Pending
-
1993
- 1993-07-08 US US08/087,282 patent/US5412612A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57208696A (en) * | 1981-06-16 | 1982-12-21 | Fujitsu Ltd | Diagnosing system of storage device |
JPH02299044A (ja) * | 1989-05-12 | 1990-12-11 | Hitachi Koki Co Ltd | 書替可能不揮発性メモリの制御方法 |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011108286A (ja) * | 2001-02-28 | 2011-06-02 | Spansion Llc | メモリ装置 |
US7554830B2 (en) | 2001-06-11 | 2009-06-30 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor device with non-volatile memory and random access memory |
US7872895B2 (en) | 2001-06-11 | 2011-01-18 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device with non-volatile memory and random access memory |
US8432716B2 (en) | 2001-06-11 | 2013-04-30 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device with non-volatile memory and random access memory |
KR100990299B1 (ko) * | 2001-06-11 | 2010-10-26 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 컨트롤러 |
KR100924407B1 (ko) * | 2001-06-11 | 2009-10-29 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 반도체 장치 및 메모리 모듈 |
KR100924408B1 (ko) * | 2001-06-11 | 2009-10-29 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 반도체 장치 |
KR100958767B1 (ko) * | 2001-06-11 | 2010-05-18 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 메모리 모듈 |
KR100884157B1 (ko) * | 2001-06-20 | 2009-02-17 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 반도체 장치 |
JP2004102781A (ja) * | 2002-09-11 | 2004-04-02 | Hitachi Ltd | メモリシステム |
JP4499982B2 (ja) * | 2002-09-11 | 2010-07-14 | 株式会社日立製作所 | メモリシステム |
US8130581B2 (en) | 2005-07-21 | 2012-03-06 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor memory device |
JP2007115013A (ja) * | 2005-10-20 | 2007-05-10 | Fujitsu Ltd | メモリシステムおよびメモリシステムの動作方法 |
JP2007242049A (ja) * | 2007-05-21 | 2007-09-20 | Renesas Technology Corp | メモリモジュール |
US8581919B2 (en) | 2009-03-20 | 2013-11-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Display controllers including memory controllers |
JP2010225161A (ja) * | 2010-04-13 | 2010-10-07 | Renesas Electronics Corp | 半導体記憶装置 |
JP2011192299A (ja) * | 2011-05-20 | 2011-09-29 | Renesas Electronics Corp | メモリモジュールとコントローラ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5412612A (en) | 1995-05-02 |
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