JPH06195048A

JPH06195048A - 画素欠陥補償装置

Info

Publication number: JPH06195048A
Application number: JP9483493A
Authority: JP
Inventors: Masumitsu Ino; 益充猪野
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1992-11-09
Filing date: 1993-03-04
Publication date: 1994-07-15

Abstract

(57)【要約】【目的】アクティブマトリクス型表示装置にビデオ信
号を入力しマトリクス状の画素を順次駆動する時、内在
する欠陥画素に応じて入力すべきビデオ信号を予め調整
する為の画素欠陥補償装置を提供する。【構成】画素欠陥補償装置は記録ユニット１と同期回
路２と変調回路３とを有している。記録ユニット１には
対象となるアクティブマトリクス型表示装置４に内在す
る欠陥画素を個別に測定して得られた欠陥情報が記録さ
れている。同期回路２は与えられたビデオ信号に同期し
て記録ユニット１をアクセスし、逐次欠陥情報を読み出
す。変調回路３は読み出された欠陥情報に基き欠陥画素
に対応するビデオ信号成分を変調し、部分的に補償され
たビデオ信号をアクティブマトリクス型表示装置４に供
給する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は画素欠陥補償装置に関す
る。より詳しくは、アクティブマトリクス型液晶表示装
置に内在する画素欠陥を外部から電気的に補償する装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】最初に図１２を参照して、本発明の背景
を明らかにする為に、従来のアクティブマトリクス型液
晶表示装置の一般的な構成を簡潔に説明する。図１２は
アクティブマトリクス型液晶表示装置の１画素分に相当
する等価回路である。実際にはこの画素がマトリクス状
に配列して表示画面を構成する。画素は等価的に液晶容
量３０１と付加容量３０２の並列接続で表わされる。さ
らに液晶容量３０１を駆動する為にＴＦＴからなる画素
スイッチ３０３が設けられている。ＴＦＴに替えてＭＩ
Ｍ（ＭｅｔａｌＩｎｓｕｌａｔｏｒＭｅｔａｌ）等
の非線形素子を用いる事もある。ＴＦＴのゲート電極Ｇ
はゲート線３０４に接続されており線順次でゲート信号
の供給を受ける。ＴＦＴのソース電極Ｓは信号線３０５
に接続されておりビデオ信号の供給を受ける。なお本明
細書で言うビデオ信号は広義の意味で画像信号を表わし
ている。ＴＦＴのドレイン電極Ｄは液晶容量３０１に接
続されている。

【０００３】次に図１３を参照して従来のアクティブマ
トリクス型液晶表示装置の動作を簡潔に説明する。図１
３のグラフは縦軸に画素電位を表わし横軸に時間をとっ
てある。一般に、液晶表示装置は交流駆動され、例えば
前半フィールドで正極性のビデオ信号が印加され、後半
フィールドでは反転した負極性のビデオ信号が印加され
る。１つの画素に着目すると、ゲート信号の印加により
ＴＦＴが導通し、ビデオ信号が液晶容量３０１に供給さ
れ、画素電位が急激に立上る。その後、ゲート信号が解
除されＴＦＴが非導通状態になる。この為、画素電位は
１フィールド期間中サンプリングホールドされる。画素
に何ら欠陥のない場合には図示する様に略安定した正常
画素電位波形が得られる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】引き続き図１３を参照
して発明が解決しようとする課題を簡潔に説明する。ア
クティブマトリクス型液晶表示装置には無数の画素が集
積形成されており、ある確率で欠陥画素が内在してい
る。欠陥原因としては配線パタンの短絡や画素スイッチ
を構成するＴＦＴの電流リーク不良等が挙げられる。な
おＭＩＭ等の場合も電流リークが問題となる。配線パタ
ンの短絡欠陥は集束レーザビームを照射して短絡パタン
を切断し物理的に修復する事が可能である。しかしなが
ら、ＴＦＴやＭＩＭの電流リーク不良を物理的に修復す
る事は極めて困難である。図１３の欠陥画素電位波形に
示す様に、電流リーク不良があると保持期間中画素電位
が低下し表示品位を損なう。例えば、ノーマリホワイト
モードで画像表示を行なった場合、ＴＦＴの電流リーク
不良は輝点欠陥となって表われ画像品位を著しく損な
う。この為、従来許容個数以上の輝点欠陥を含む製品は
不良として廃棄され、製造歩留まりの改善を図る上で障
害となっていた。

【０００５】又、出荷段階で不良品を除去しても経時的
な劣化により特定のＴＦＴのリーク電流が増大し実使用
段階で輝点欠陥が発生する場合もある。この時には出荷
検査で対処する事はできないという課題がある。さらに
は、使用環境温度が上昇するとリーク電流が増大し輝点
欠陥が発生する場合もある。この時にも何ら有効な対策
が講じられていない。加えて、輝点欠陥の中にはあるフ
ィールド間隔を空けて間欠的に発現する特異なものも含
まれている。現在、この様な間欠的な輝点欠陥を救済す
る方法あるいはこれに対処する方法は講じられていな
い。

【０００６】なお、アクティブマトリクス型液晶表示装
置の不良対策が、従来から種々提案されている。以下、
参考の為列挙する。特開昭５７−３８４９８号公報には
マトリクス表示装置用テスト装置が開示されている。蓄
積電荷量の変化で画素の電流リーク量を判定する技術に
関するが、画素欠陥の補正を行なうものではない。特開
昭６３−２３８５７４号公報には液晶表示装置の欠陥検
出方法が開示されている。隣接信号線間の電流を計測し
短絡欠陥を調べるものであり、画素欠陥補正を行なうも
のではない。特開昭６０−９７３２２号公報には液晶マ
トリクスパネルが開示されており、１つの画素に画素ス
イッチを多数個設け画像品質を確保する事を目的として
いる。特開昭５５−３５３５７号公報には液晶駆動回路
が開示されている。外部的に画像コントラストを検出
し、その検出結果に応じてビデオ信号に補正をかける技
術である。画面全体の補正を目的としており、個々の欠
陥画素の修復とは関係しない。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上述した従来の技術の課
題に鑑み、本発明はアクティブマトリクス型液晶表示装
置の画素欠陥に起因する不良品を救済し以て製造歩留ま
りを改善する事を目的とする。又、経時的に発生する画
素欠陥、温度変化に伴ない発生する画素欠陥、間欠的に
発生する画素欠陥等を抑制しアクティブマトリクス型液
晶表示装置の品質並びに信頼性を改善する事を目的とす
る。かかる目的を達成する為に、外部から電気的に画素
欠陥を補償すると言う手段を講じた。即ち、アクティブ
マトリクス型表示装置にビデオ信号を入力しマトリクス
状の画素を順次駆動する時、内在する欠陥画素に応じて
転送すべきビデオ信号を予め調整する為の画素欠陥補償
装置を提供するものである。第一発明にかかる画素欠陥
補償装置は記録ユニットと同期回路と変調回路とを有し
ている。記録ユニットは、対象となるアクティブマトリ
クス型表示装置に内在する欠陥画素を個別に測定して得
られた欠陥情報が記録されている。同期回路は与えられ
たビデオ信号に同期して該記録ユニットをアクセスし、
逐次欠陥情報を読み出す。変調回路は読み出された欠陥
情報に基き欠陥画素に対応するビデオ信号成分を変調
し、部分的に補償されたビデオ信号を供給する。第一発
明の一態様によれば、前記記録ユニットは欠陥情報とし
て少なくとも電流リークに起因する欠陥画素の位置を示
すアドレスデータを記録している。一方、前記変調回路
はアドレスデータに対応するビデオ信号成分を所定の修
正レベルに変調するレベルシフタを備えており、当該欠
陥画素の電流リークを補う。このレベルシフタは固定の
修正レベルを用いて欠陥画素の電流リークを一律に補う
事ができる。他の態様によれば、前記記録ユニットは欠
陥画素の位置を示すアドレスデータに加えて、当該欠陥
画素の電流リーク量に応じたリーク補償データを記録し
ている。一方、前記変調回路は該アドレスデータに対応
するビデオ信号成分に該リーク補償データを加算する。

【０００８】第二発明にかかる画素欠陥補償装置は欠陥
検出ユニットと記録ユニットと中央演算ユニットとを備
えている。欠陥検出ユニットは経時的に発生する欠陥画
素を随時検出する。記録ユニットは該検出結果に基き欠
陥情報を随時記録する。中央演算ユニットは駆動時読み
出される欠陥情報に基き転送タイミングに同期してビデ
オ信号を修正し補償されたビデオ信号を供給する。第二
発明の一態様によれば、初期の欠陥画素に関する欠陥情
報を予め記録しておく追加の記録ユニットを含んでい
る。

【０００９】第三発明にかかる画素欠陥補償装置は記録
ユニットと温度検出ユニットと中央演算ユニットとを備
えている。記録ユニットは欠陥画素の位置を示すアドレ
スデータ及びその補正量を示す補正データを記録する。
温度検出ユニットはアクティブマトリクス型表示装置の
温度を検出する。中央演算ユニットは該温度検出結果に
基き補正データのレベル調節を行なうとともに調節され
た補正データに基きアドレスデータに従ってビデオ信号
を修正し補正されたビデオ信号を供給する。

【００１０】第四発明にかかる画素欠陥補償装置は記録
ユニットと中央演算ユニットとを備えている。記録ユニ
ットは欠陥画素の位置を示すアドレスデータ、その補正
量を示す補正データ及び欠陥が発現する周期的タイミン
グを示すインターバルデータを含む欠陥情報を記録して
いる。中央演算ユニットは駆動時読み出される欠陥情報
に基きアドレスデータ及びインターバルデータに応じた
周期的欠陥発現タイミングに同期して、補正データに従
いビデオ信号を修正する事により間欠的に補償されたビ
デオ信号を供給する。第四発明の一態様によれば、経時
的に発生する欠陥画素を随時検出する欠陥検出ユニット
と、該検出結果に基き欠陥情報を随時記録する追加の記
録ユニットを含んでいる。

【００１１】

【作用】第一発明によれば、欠陥画素の選択駆動タイミ
ングに合わせてビデオ信号の振幅変調を行ない、欠陥画
素の保持電位を見掛け上正常画素と同じ様にする事で画
素欠陥の修正を行なう。特に重要な点は、欠陥画素の位
置を表わすアドレスデータを予め書き込んだ記録ユニッ
トを使用し、該アドレスデータの読み出しと同期させて
ビデオ信号の振幅変調を行なう事である。変調方法とし
ては、例えばノーマリホワイトモードの場合、ビデオ信
号の振幅幅を一律に過大な修正レベルに上げ欠陥画素の
透過率を強制的に０％まで近づける。一般に、アクティ
ブマトリクス型表示装置においては、透過率が過大とな
る輝点欠陥に比べ透過率が過小となる滅点欠陥の方が画
像品質に悪影響を与えない。従って、上述した振幅変調
により輝点欠陥を滅点欠陥に変え、画像品質の低下を防
ぐ事ができる。さらには、より効果的な画素欠陥補償を
行なう為、欠陥画素のアドレスデータに加え電流リーク
量に応じたリーク補償データを出荷段階で記録ユニット
に書き込んでおく事もできる。このリーク補償データに
基きビデオ信号の振幅変調レベルを可変調整する。即
ち、欠陥画素の電流リークにより画素電位が減少する分
を補償して、正常画素の表示と変わらない様にする事が
できる。第二発明にかかる画素欠陥補償装置は欠陥検出
ユニットを内蔵しており、経時的に発生する欠陥画素を
随時検出する。この欠陥情報は記録ユニットに随時記録
される。記録された欠陥情報に基きビデオ信号を補償す
る事により経時的な劣化に起因する画素欠陥にも対処す
る事ができる。第三発明にかかる画素欠陥補償装置はア
クティブマトリクス型表示装置の温度を検出する温度検
出ユニットを内蔵している。この温度検出結果に基き補
正データを調節した後ビデオ信号を補償している。これ
により、環境温度の変化が生じても画素欠陥を抑制する
事ができる。第四発明にかかる画素欠陥補償装置では、
欠陥画素の位置を示すアドレスデータ、その補正量を示
す補正データに加えて欠陥が発現する周期的タイミング
を示すインターバルデータを記録ユニットに記録してい
る。このインターバルデータに従ってビデオ信号を補償
する事により間欠的に発生する画素欠陥に対処する事が
可能になる。

【００１２】

【実施例】以下図面を参照して本発明の好適な実施例を
詳細に説明する。図１は第一発明にかかる画素欠陥補償
装置の実施例を示すブロック図である。この画素欠陥補
償装置は記録ユニット１と同期回路２と変調回路３とを
有している。画素欠陥補償装置はアクティブマトリクス
型表示装置４にビデオ信号を入力しマトリクス状の画素
を順次駆動する時、内在する欠陥画素に応じて入力すべ
きビデオ信号を予め調整する為のものである。アクティ
ブマトリクス型表示装置４は、例えばマトリクス状に配
列された画素を有する。個々の画素には液晶容量とこれ
を駆動するＴＦＴからなる画素スイッチとが含まれてい
る。なお、本例では液晶を電気光学物質として用いてい
るが、他の材料を用いる事も可能である。又、ＴＦＴに
替えてＭＩＭ等を画素スイッチに用いても良い。記録ユ
ニット１には対象となるアクティブマトリクス型表示装
置４に内在する欠陥画素を個別に測定して得られた欠陥
情報が記録されている。同期回路２はカウンタを内蔵し
ており、制御信号の入力を受けビデオ信号に同期して記
録ユニット１をアクセスし、逐次欠陥情報を読み出す。
変調回路３は読み出された欠陥情報に基き欠陥画素に対
応するビデオ信号成分を変調し、部分的に補償されたビ
デオ信号をアクティブマトリクス型表示装置４に供給す
る。

【００１３】変調回路３は第一切り換えスイッチＳＷ１
を含んでいる。この切り換えスイッチＳＷ１は出力バッ
ファ５を介して記録ユニット１から読み出された欠陥情
報に応じて、ビデオ信号を遮断する。なお、ビデオ信号
はビデオ信号回路６を介して供給されている。変調回路
３はさらにレベルシフタ７を備えており、第二切り換え
スイッチＳＷ２を介して遮断されたビデオ信号成分を所
定の修正レベルに置換し、部分的に補償されたビデオ信
号をアクティブマトリクス型表示装置４に供給する。な
お、遮断されなかったビデオ信号の残りの成分は直接ア
クティブマトリクス型表示装置４に供給される。

【００１４】図２は上述した変調回路３の具体的な構成
例を示す回路図である。本例では第一切り換えスイッチ
ＳＷ１は一対のＰチャネルトランジスタＰＣＨ、Ｎチャ
ネルトランジスタＮＣＨからなるトランスミッションゲ
ート素子で構成されている。又、第二切り換えスイッチ
ＳＷ２も一対のＰチャネルトランジスタＰＣＨとＮチャ
ネルトランジスタＮＣＨとからなるトランスミッション
ゲート素子で構成されている。切り換えスイッチＳＷ１
の入力端子には元のビデオ信号が供給される一方、その
出力端子は直接アクティブマトリクス型表示装置に接続
されている。切り換えスイッチＳＷ１のＰチャネルトラ
ンジスタ側ゲート端子には欠陥情報が供給され、Ｎチャ
ネルトランジスタ側ゲート端子にはインバータ８を介し
てその反転情報が供給される。なお、本例では記録ユニ
ット１は欠陥情報として少なくとも電流リークに起因す
る欠陥画素の位置を示すアドレスデータを記録してい
る。一方第二切り換えスイッチＳＷ２の入力端子にはレ
ベルシフタ（図示せず）から固定の修正レベルを有する
補正信号が供給されており、出力端子は表示装置に接続
されている。又、第二切り換えスイッチＳＷ２のＰチャ
ネルトランジスタ側ゲート端子にはインバータ９を介し
て反転されたアドレスデータが印加されており、Ｎチャ
ネルトランジスタ側ゲート端子にはアドレスデータが直
接印加されている。なお、前述した様にアドレスデータ
の読み出しタイミングとビデオ信号の転送タイミングは
所定の制御信号に基き同期回路２により同期制御されて
いる。

【００１５】次に図３のタイミングチャートを参照し
て、図１及び図２に示した画素欠陥補償装置の動作を詳
細に説明する。なお、この例ではアクティブマトリクス
型液晶表示装置は所謂１フィールド駆動されており、フ
ィールド毎にビデオ信号が所定の基準レベルを中心とし
て反転される。かかる反転交流駆動を行なう事により液
晶の寿命劣化を防止できる。先ず（ａ）に示す様に、記
録ユニット１から逐次欠陥画素の位置を表わすアドレス
データが読み出される。本例では、簡単の為表示画面中
に１個の欠陥画素が含まれている場合を示しており、フ
ィールド毎に該当アドレスデータが読み出される。

【００１６】次に（ｂ）に示す様にレベルシフタ７の出
力端子からは補正信号が供給されている。この補正信号
は固定修正レベルＢを有しているとともに、その極性は
フィールド毎に反転する。

【００１７】一方（ｃ）に示す様に、切り換えスイッチ
ＳＷ１の入力端子には元のビデオ信号が供給されてい
る。このビデオ信号もフィールド毎に基準レベルを中心
として反転するとともに、その最大振幅はＡに設定され
ている。図示する様に、ビデオ信号は個々の画素に対応
した信号成分が時系列的に並んだ波形からなる。斜線で
示したビデオ信号成分が上述したアドレスデータに対応
している。前述した様にアドレスデータの読み出しタイ
ミングと当該斜線の付されたビデオ信号成分の転送タイ
ミングは互いに同期している。なお、斜線の付された信
号成分の幅は図の理解を容易にする為に誇張して示して
ある。図２に示した様に、アドレスデータが切り換えス
イッチＳＷ１のゲート端子に入力されると、トランスミ
ッションゲート素子が一次的に遮断状態となり斜線の付
されたビデオ信号成分は出力側から切り離される。アド
レスデータが解除すると、トランスミッションゲート素
子は再び導通状態となりもとのビデオ信号が直接出力側
に供給される。

【００１８】最後に（ｄ）に示す様に切り取られた信号
成分の部分に固定修正レベルの電圧が嵌め込まれ、補償
されたビデオ信号が得られる。即ち、アドレスデータが
読み出されるとレベルシフタ７に接続した第二切り換え
スイッチＳＷ２が導通し固定修正レベルＢを有する補正
信号が元のビデオ信号に変わって表示装置側に供給され
る。この固定修正レベルは欠陥画素の電流リークを補う
為に十分な電圧値を有している。

【００１９】図４のタイミングチャートは、同じく第一
発明にかかる画素欠陥補償装置の動作状態を表わしてい
る。但し、この例ではアクティブマトリクス型液晶表示
装置は所謂１Ｈ駆動されている。即ち、（ｃ）に示す様
にビデオ信号は所定の基準レベルを中心として、表示画
面の１ライン毎に極性が反転している。（ｂ）に示す様
に、ビデオ信号の極性反転に合わせて、補正信号の極性
も１ライン毎に反転している。さらに、（ａ）及び
（ｄ）に示す様に、アドレスデータの読み出しに同期し
て対応するビデオ信号成分が固定修正レベルに置き換え
られ、補償されたビデオ信号が得られる。この部分につ
いては図３に示したタイミングチャートと同様である。
なお、図を見易くする為、変調されたビデオ信号成分の
幅を誇張して表わしている。

【００２０】図５は、補償されたビデオ信号によって駆
動されるアクティブマトリクス型液晶表示装置の動作特
性を示すグラフである。縦軸に画素の透過率をとってあ
り、横軸に画素電位をとっている。この例はノーマリホ
ワイトモードであり、画素電位の上昇とともに透過率は
減少する。画素電位は、ビデオ信号の最大振幅値Ａに対
応して電位Ａまで上昇可能である。この時、透過率は略
０％であり液晶画素は黒点あるいは滅点となる。正常画
素では電流リークが殆どない為画素電位は１フィールド
期間中そのまま保持される。しかしながら、欠陥画素で
は電流リークにより保持電位が徐々に低下し透過率の変
化点Ｃを下回り透過率が上昇して所謂輝点欠陥となって
しまう。本発明では、この輝点欠陥を補償する為、欠陥
画素に対しては固定修正レベルＢまで画素電位を強制的
に高めている。電位Ｂは電位Ａに比べて十分なマージン
を有しており、電流リークが生じても透過率の変化点Ｃ
を下回らない様に設定されている。なお、上述の説明で
は電流リーク性の画素欠陥を例にしているが、本発明は
これに限られるものではなく配線パタンに起因する欠陥
画素に対しても適用可能である事は勿論である。

【００２１】図６は第一発明にかかる画素欠陥補償装置
の他の実施例を示すブロック図である。先の実施例が固
定修正レベルを用いて欠陥画素の電流リークを一律に補
正しているのに対し、この実施例では個々の欠陥画素の
電流リーク量に応じて修正レベルを可変調整し、より精
密な補償を行なっている。記録ユニット１１は欠陥情報
として欠陥画素の位置を示すアドレスデータに加えて、
当該欠陥画素の電流リーク量に応じたリーク補償データ
も記録している。一方、ビデオ信号回路１２は所望のビ
デオ信号を供給する。記録ユニット１１と液晶表示装置
１４にはカウンタを内蔵する同期回路１３が接続されて
おり、所定の制御信号に従って欠陥情報の読み出しタイ
ミングとビデオ信号の転送タイミングを同期させてい
る。

【００２２】ビデオ信号回路１２にはアナログデジタル
変換回路１５が接続されており、アナログのビデオ信号
を一旦デジタル化する。アナログデジタル変換回路１５
には加算器１７の一方の入力端子が接続されている。
又、加算器１７の他方の入力端子は記録ユニット１１に
接続されている。加算器１７はデジタル回路からなり、
デジタル化されたビデオ信号と記録ユニット１１から同
期的に読み出されたデジタルのリーク補償データを互い
に加算処理する。加算器１７の出力端子は、後段のデジ
タルアナログ変換回路１６に接続されており補償された
アナログのビデオ信号が得られる。この補償されたビデ
オ信号は反転回路１８を介して液晶表示装置１４に供給
される。以上の説明から明らかな様に本実施例において
は、欠陥画素の電流リーク量に応じて予め記録されたリ
ーク補償データをビデオ信号の該当部分に選択的に加
え、欠陥画素の電流リークによる実効電位減衰を補う様
にし、結果的に正常な画素の実効電位と等しくなる様に
合わせ込む。

【００２３】図７は、図６に示した実施例の変形例を表
わしている。基本的に同様の構成を有しており、対応す
る部分には対応する参照番号を付して理解を容易にして
いる。異なる点は、ビデオ信号回路１２が直接加算器１
７の一方の入力端子に接続しているとともに、記録ユニ
ット１１がデジタルアナログ変換回路１６を介して加算
器１７の他方の入力端子に接続している事である。従っ
て、本例では加算器１７はオペアンプを使用したアナロ
グ回路からなり、ビデオ信号とリーク補償データをアナ
ログ的に加算する。

【００２４】図８は図６あるいは図７に示した画素欠陥
補償装置によって駆動されるアクティブマトリクス型液
晶表示装置の動作特性を示すグラフである。ノーマリホ
ワイトモードの場合を示し、縦軸に透過率をとり横軸に
画素電位をとってある。ある液晶画素に振幅値Ａを有す
るビデオ信号成分が割り当てられたとすると、その透過
率はＣで表わされる。しかしながら、当該画素に電流リ
ーク欠陥があると、画素電位が減少する。その減少分が
Ｄであるとすると、Ｃの透過率に合わせる様に、画素電
位の減少分を見越して補償されたビデオ信号成分Ｂを与
え、画素の実効電位が正常な画素と等しい値となる様に
する。これにより、所望の透過率Ｃを欠陥画素において
も保持する事ができる。

【００２５】さらに理解を容易にする為、図９に補償さ
れた欠陥画素の電位特性カーブと正常画素の電位特性カ
ーブを示す。これから分かる様に、欠陥画素に対して
は、正常画素の電位より大きい値を持たせる事により、
画素の電流リーク分に対する電位マージンを予め加えて
おく。そして、この電位マージンは、本来の画像として
補償すべき実効電位が得られる様に、予め減衰量を見積
る事により得られる。

【００２６】参考の為図１０に欠陥画素検出装置を示
す。本装置は、記録ユニットに対して欠陥情報を予め書
き込む為に用いられる。本装置は光学的に欠陥情報を検
出している。この為ＣＣＤカメラ等の光学式画像検出装
置１０１を利用し、サンプルとなるアクティブマトリク
ス型液晶表示装置１０２の表示画面を撮像する。この
際、アクティブマトリクス型液晶表示装置１０２を裏面
側からバックライト１０３で照明しておく。光学式画像
検出装置１０１から出力された撮像情報は画像処理装置
１０４により画素毎に解析処理される。この時、アクテ
ィブマトリクス型液晶表示装置１０２はビデオ信号回路
１０５から所定のテスト用ビデオ信号の入力を受けると
ともに駆動回路１０６により駆動される。画像処理装置
１０４から出力された解析データは制御演算装置１０７
により演算処理され、欠陥画素の位置及び電流リーク量
を特定する。欠陥画素の位置については駆動回路１０６
からの信号に応じて特定され、電流リーク量については
ビデオ信号回路１０５からの出力により計算される。特
に、電流リーク量については、ビデオ信号の値によって
計算される画素透過率と、光学式画像検出装置１０１に
より実際に測定された画素透過率の差に基き間接的に計
算される。制御演算装置１０７の出力はデータ処理装置
１０８によりデータ処理され、所望のアドレスデータ及
びリーク補償データが得られる。アドレスデータは対応
する書き込み装置１０９により記録ユニット１１０に書
き込まれ、リーク補償データも対応する書き込み装置１
１１により記録ユニット１１０に書き込まれる。なお、
最初の実施例で説明した様に、アドレスデータのみに基
いて欠陥画素の補正を行なう場合にはリーク補償データ
を書き込む必要はない。記録ユニット１１０は、例えば
ＥＥＰＲＯＭ，ＥＰＲＯＭ，ＤＲＡＭ，ＳＲＡＭ，ヒュ
ーズＲＯＭ等から構成されている。製品出荷段階でアク
ティブマトリクス型液晶表示装置１０２と記録ユニット
１１０は互いに照合されセットとして組み合わされる。

【００２７】図１１は画素欠陥検出装置の他の例を示し
ている。本例は所謂電荷蓄積読み出し法を採用し、電気
的に電流リークに起因する欠陥画素を検出するものであ
る。サンプルとなる液晶表示装置２０１はアクティブマ
トリクス型であり、図示を容易にする為１画素分のみを
示してある。画素の液晶容量２０２及び付加容量２０３
にはＴＦＴ２０４が接続されている。ＴＦＴ２０４のソ
ース電極には、信号線２０５及びサンプリングスイッチ
２０６を介して端子線２０７が接続されている。サンプ
リングスイッチ２０６は水平走査回路２０８により順次
導通される。一方ＴＦＴ２０４のゲート電極にはゲート
線２０９を介して垂直走査回路２１０から順次ゲート信
号が供給される。これらの走査回路はカウンタを内蔵す
る同期回路２１１により制御される。

【００２８】端子線２０７には切り換えスイッチ２１２
の一方の端子を介して充電電位供給回路２１３が接続さ
れている。切り換えスイッチ２１２の他方の端子にはオ
ペアンプ２１４、積分回路２１５、処理回路２１６が順
に接続されている。記録ユニット２１７はデータ書き込
み装置２１８を介して処理回路２１６に接続されてい
る。記録ユニット２１７及びデータ書き込み装置２１８
は同期回路２１１により制御されている。

【００２９】先ず最初に、切り換えスイッチ２１２を充
電電位供給回路２１３側に接続し、充電電位供給回路２
１３から供給される所定の充電電流を順次個々の画素に
含まれる液晶容量２０２、付加容量２０３に供給する。
次に、所定の保持時間経過後切り換えスイッチ２１２を
オペアンプ２１４側に導通させ、端子線２０７を介して
個々の画素から放電電流を取り出す。この放電電流は画
素の電流リーク量が大きい程小さいものとなる。放電電
流はオペアンプ２１４により増幅された後積分回路２１
５により積分され、個々の画素に蓄積されていた電荷量
が検出できる。この電荷量は処理回路２１６によりアナ
ログ的に処理されリーク電流量が求められる。処理回路
２１６はさらにアナログデジタル変換回路を内蔵してお
り、対応するリーク補償データに変換されデータ書き込
み装置２１８に転送される。得られたリーク補償データ
は書き込み装置２１８により記録ユニット２１７に書き
込まれる。この時同時に、同期回路２１１の出力に基き
欠陥画素のアドレスデータも書き込まれる。なお、積分
回路２１５は画素毎の積分処理を行なう為逐次リセット
信号によりリセットされる。

【００３０】第一発明にかかる画素欠陥補償装置は定常
的な温度において発生する初期の欠陥画素の補正のみを
考慮している。その為、環境温度の変化やＴＦＴの電流
リークの経時的な変化には対応していない。従って、出
荷段階における検査で良品となっても長時間経過した後
あるいは環境温度が検査時に設定した温度と大きく異な
る場合には欠陥画素数が増大し画像品質の劣化が生じる
惧れもある。この点に鑑み、第二発明及び第三発明が考
案された。図１４は、第二発明及び第三発明にかかる画
素欠陥補償装置の実施例を示す模式的なブロック図であ
る。中央演算ユニット（ＣＰＵ）２１を中心とし、デー
タライン及び信号ラインを介して、第一記録ユニット２
２、第二記録ユニット２３、温度検出ユニット２４、欠
陥検出ユニット２５、入力／出力ユニット２６が接続さ
れている。中央演算ユニット２１の駆動制御部は液晶表
示装置２７にビデオ信号、同期信号、電源電圧等を供給
する。又欠陥検出ユニット２５は液晶表示装置２７と中
央演算ユニット２１の間に介在している。以下、個々の
ユニットについて説明を加える。

【００３１】第一記録ユニット２２は液晶表示装置２７
の初期的に計測された画素欠陥情報を記録してある。こ
の欠陥情報には欠陥画素のアドレスデータ及びリーク補
正データが含まれる。加えて、テーブルデータとして所
定の温度補正係数も記録されている。一方第二記録ユニ
ット２３は経時劣化により発生した欠陥画素のアドレス
データ及びリーク補正データを記録している。なお、こ
れら経時的に発生した欠陥情報は欠陥検出ユニット２５
により随時検出されるものである。温度検出ユニット２
４は液晶表示装置２７の温度を検出し、検出結果を中央
演算ユニット２１に入力する。入力／出力ユニット２６
は中央演算ユニット２１に制御信号を与え、且つ得られ
た演算結果を確認する為のものである。又、入力／出力
ユニット２６を介して中央演算ユニット２１に元のビデ
オ信号が供給される。

【００３２】図１５を参照して欠陥検出ユニット２５の
具体的な構成を詳細に説明する。本例は所謂電荷蓄積読
み出し法を採用し、電気的に電流リークに起因する欠陥
画素を検出するものである。検出対象となる液晶表示装
置２７はアクティブマトリクス型であり、図示を容易に
する為１画素分のみを示してある。画素の液晶容量２８
及び付加容量２９にはＴＦＴ３０が接続されている。Ｔ
ＦＴ３０のソース電極には、信号線３１及びサンプリン
グスイッチ３２を介して端子線３３が接続されている。
サンプリングスイッチ３２は水平走査回路３４により順
次導通される。一方ＴＦＴ３０のゲート電極にはゲート
線３５を介して垂直走査回路３６から順次ゲート信号が
供給される。これらの走査回路はカウンタを内蔵するＣ
ＰＵ２１により制御される。

【００３３】一方欠陥検出ユニット２５側では切り換え
スイッチ３７を介して充電電位供給回路４１が端子線３
３に接続されている。切り換えスイッチ３７の出力端子
にはオペアンプ３８、積分回路３９、処理回路４０が順
に接続されている。なお、処理回路４０の出力はＣＰＵ
２１を介して第二記録ユニット２３に接続されている。

【００３４】次に、図１６を参照して経時的に発生する
欠陥画素の検出方法を説明する。先ず最初に、液晶表示
装置２７を駆動させる前に、切り換えスイッチ３７を介
して端子線３３を欠陥検出ユニット２５の充電電位供給
回路４１側に接続する。ＣＰＵ２１は液晶表示装置２７
の水平走査回路３４及び垂直走査回路３６を制御し、順
次個々の画素に充電電流を分配していく。この際、個々
の画素の液晶容量２８及び付加容量２９を十分に充電す
るだけの電荷量と充電時間を確保する。その後、全ての
ＴＦＴ３０を非導通状態にして充電電荷を保持させる。
但し、欠陥画素については電流リークの為充電電荷が減
少していく。次に、切り換えスイッチ３７をオペアンプ
３８側にセットした後、水平走査回路３４及び垂直走査
回路３６を動作させ各ＴＦＴ３０を順次導通状態にして
いく。端子線３３を介して放電された電荷量はオペアン
プ３８を介して電圧波形に変換される。この波形を図１
６の（ａ）に示す。電流リークが大きい欠陥画素につい
ては電圧波形のピークが小さくなる。この電圧波形は後
段の積分回路３９を介して処理回路４０に導かれる。処
理回路４０はサンプルホールド回路を備えている。この
サンプルホールドされた電圧波形を図１６の（ｂ）に示
す。処理回路４０はさらにアナログデジタル変換回路を
内蔵しており、変換されたデジタルデータが中央演算ユ
ニット２１に転送される。このデジタルデータを図１６
の（ｃ）に示す。図から明らかな様に、欠陥画素に対応
するデータは他の部分より小さな値となっている。な
お、積分回路３９は画素毎の積分処理を行なう為逐次リ
セット信号によりリセットされる。中央演算ユニット２
１は画素毎にデータを比較し差分を求める。差分の大き
なデータを有する画素を欠陥画素と見做してそのアドレ
スデータを第二記録ユニット２３に書き込む。合わせ
て、差分をリーク補正データとして第二記録ユニット２
３に書き込む。中央演算ユニット２１は全ての画素につ
いてチェックした後、液晶表示装置２７を通常の表示状
態に移行させる。ここでは初期の欠陥情報が記録されて
いる第一記録ユニット２２と経時変化により発生した欠
陥情報を記録した第二記録ユニット２３とを参照しなが
らビデオ信号を補償する。補償されたビデオ信号は液晶
表示装置２７に供給される。このビデオ信号の補償方法
は第一発明と同様に行なわれる。

【００３５】次に、図１７を参照して温度検出ユニット
２４の具体例を説明する。本例では温度センサとして例
えば２ＳＣ４５８ＬＧ等のトランジスタＱを用いる。ト
ランジスタＱのベース／エミッタ間に二心シールド線５
１を介して定電流回路５２から一定の電流が供給され
る。ベース／エミッタ間の電圧Ｅｂｅは温度に応じて変
化する。この変化は加算回路５３により増幅される。そ
の出力端子に温度に比例した検出電圧ＥＯが得られる。
この検出電圧ＥＯは中央演算ユニットに転送される。な
お、検出電圧ＥＯはボリューム５４により零点調整され
る。例えば温度が０℃の時検出電圧ＥＯは０Ｖに設定さ
れる。

【００３６】引き続き温度補正方法について説明する。
中央演算ユニット２１は温度検出ユニット２４の検出結
果に基き第一記録ユニット２２に記録されている補正デ
ータのレベル調節を行なう。調節された補正データに基
きアドレスデータに従ってビデオ信号を修正し補償され
たビデオ信号を液晶表示装置２７に供給する。本例では
第一記録ユニット２２は欠陥アドレスデータやリーク補
正データに加えて温度補正係数をテーブルデータとして
保持している。温度検出結果にこの温度補正係数を乗算
して、その結果をリーク補正データに加算しレベル調節
を行なう。即ち、液晶表示装置の温度に比例してリーク
補正データを大きくし電流リークの増大を相殺する様に
している。なお、上述した温度検出動作及び経時的に発
生した欠陥画素の検出動作は入力／出力ユニット２６の
操作及び中央演算ユニット２１に組み込まれているシー
ケンスプログラムによって実行される。この様に、第二
発明及び第三発明によれば、経時変化により発生した電
流リーク性の画素欠陥が補正できるとともに、温度上昇
に伴なって増加する欠陥画素の個数も抑制する事ができ
る。

【００３７】図１８は、第二発明の効果を示したグラフ
であり、アクティブマトリクス型液晶表示装置を長時間
連続駆動した場合における欠陥画素の発生個数をプロッ
トしたものである。総画素数は１０万個である。グラフ
中黒角のプロットは第二発明にかかる画素欠陥補償装置
を用いて駆動した場合であり、白丸のプロットは第一発
明にかかる画素欠陥補償装置を用いて駆動した場合であ
る。グラフから明らかな様に、経時的に発生する画素欠
陥に対しても補償を行なった場合には、１０万時間動作
させた後でも画面上に欠陥画素は現われない。

【００３８】図１９は第三発明の効果を測定した結果を
示すグラフである。縦軸に画素欠陥数を表わし、横軸に
液晶表示パネルの温度を示している。測定対象となった
アクティブマトリクス型液晶表示装置は総画素数が１０
万個である。黒角のプロットは第三発明にかかる画素欠
陥補償装置を採用した場合であり、白丸のプロットは第
一発明にかかる画素欠陥補償装置を採用した場合であ
る。グラフから明らかな様に、温度補正を行なった場合
には液晶表示装置の温度が上昇しても画面上には欠陥画
素が現われない。

【００３９】最後に図２０ないし図２４を参照して第四
発明にかかる画素欠陥補償装置を説明する。この補償装
置は特に所定のフィールド間隔で間欠的に発生する画素
欠陥の補正を目的とする。先ず最初に第四発明の理解を
容易にする為、図２０を参照して間欠的に発生する画素
欠陥を説明する。画素６１は等価的に液晶容量６２と付
加容量６３の並列接続で表わされる。さらに液晶容量６
２を駆動する為にＴＦＴ６４が設けられている。ＴＦＴ
のゲート電極はゲート線６５に接続されており垂直走査
回路６６から線順次でゲート信号の供給を受ける。ＴＦ
Ｔ６４のソース電極は信号線６７に接続されており水平
駆動回路６８からビデオ信号の供給を受ける。ゲート信
号の印加によりＴＦＴ６４が導通し、ビデオ信号が液晶
容量６２に供給され、画素電位が急激に立ち上がる。そ
の後、ゲート信号が解除されＴＦＴ６４が非導通状態に
なる。この為、画素電位は１垂直走査期間（１フィール
ド期間）中サンプリングホールドされる。ＴＦＴ６４に
電流リーク欠陥のない場合には正常な画像表示が行なわ
れる。

【００４０】しかしながら、個々のＴＦＴの中には所定
のフィールド間隔毎にリーク電流が増大する欠陥が内在
している場合がある。例えば、図２１に示す様に正常な
状態ではＡで表わされるゲート電圧Ｖｇｓ／ドレイン電
流Ｉｄｓ特性を有している。ｎフィールド間隔毎に異常
状態が現われ、そのＶｇｓ／Ｉｄｓ特性はカーブＢで示
す様になる。この様に間欠的な異常の原因はＴＦＴのリ
ーク電流がフィールド毎に揺らぐ為である。特に、ＴＦ
Ｔの動作時に残留する電荷量が変化する為であると考え
られている。

【００４１】図２２はノーマリホワイトモードでアクテ
ィブマトリクス型液晶表示装置を全面黒色表示駆動した
場合における画素透過率の変化を表わしている。特に、
間欠的に電流リークが発生するＴＦＴに対応する画素に
ついて模式的に示したものである。図から明らかな様に
ｎフィールド毎に透過率が増大し輝点欠陥が表われる。
この一定の周期から外れたフィールドでは、輝点欠陥は
現われず正常な黒点表示となる。

【００４２】先に説明した第一発明では、常時発生する
欠陥画素の補正を対象としていたが、この第四発明では
間欠的な画素欠陥をも補正の対象とする。第四発明にか
かる画素欠陥補正装置の構成としては、例えば第二発明
及び第三発明と同様に図１４に示した回路を採用する事
ができる。即ち、図１４の第一記録ユニット２２に、欠
陥画素のアドレスデータ及び補正データに加えて、間欠
欠陥の発生周期を記録させている。この発生周期は例え
ば図２２に示す間欠欠陥の場合ｎとなる。図２３に具体
的な補正方法のタイミングチャートを示す。（ａ）はア
クティブマトリクス型液晶表示装置に内在する間欠欠陥
画素の透過率変化を示しており、何らの補正を施さなか
った場合にはｎフィールド毎に透過率が急激に増大し輝
点欠陥となる。（ｂ）は補正が加えられていないもとの
ビデオ信号の波形を示す。アクティブマトリクス型液晶
表示装置をテレビ画像と同期した形で駆動させる場合に
は、前述した様にフィールドという概念で画像の書き換
えを行なっている。一般に、液晶表示装置は交流駆動さ
れ、例えばあるフィールドで正極性のビデオ信号が印加
され、次のフィールドでは反転した負極性のビデオ信号
が印加される。（ｃ）は補正信号波形を表わしている。
ｎ番目のフィールドで画素欠陥が発生する為、これに同
期して補正信号を入力する。補正信号の極性はフィール
ド毎の極性反転に対応して設定される。なお、第ｎ番目
のフィールド以外のフィールドでは補正信号を入力せず
正常画素として取り扱う。この様な補正信号の選択的な
入力の為、記録ユニットに書き込まれた欠陥が発現する
周期タイミングを示すインターバルデータが利用され
る。本例ではインターバルデータとしてフィールド周期
を表わすｎが記録される。これに代えて、ｎ個分のフィ
ールドを１つの時間データとして記録装置に書き込む事
も可能である。あるいは、時間データとして絶対値を記
録する方法もある。しかしながら、時間データを利用す
る場合にはデータ量が増加する為、フィールド回数をイ
ンターバルデータとして書き込む方が有利である。フィ
ールド回数データは絶対的な時間データよりもデータ量
が小さくなる。

【００４３】図１４に示した第一記録ユニット２２にイ
ンターバルデータを書き込む為には、予め液晶表示装置
２７の欠陥発生フィールド周期を測定しておく必要があ
る。この為、例えば図１１に示した画素欠陥検出装置を
利用する事ができる。図２４を参照してその検出方法を
説明する。最初に個々の画素の液晶容量及び付加容量に
対して充電電流を流した後、１フィールド後の電荷を放
電電流として取り出しオペアンプで電流電圧変換する。
この操作をフィールド毎に繰り返す。この結果、間欠欠
陥画素に着目すると図２４の（ａ）に示す電圧波形が得
られる。即ち、第一フィールドでは正常な放電電流量が
得られる。以下、第二フィールドからｎ−１フィールド
まで同様に正常な放電電流量が得られる。しかしなが
ら、第ｎフィールドになるとＴＦＴに発生する間欠的な
電流リークにより放電電流量が減少する。（ａ）に示し
た電圧波形の各ピークは積分された後サンプルホールド
される。（ｂ）はサンプルホールドされた電圧波形を示
す。この電圧波形はアナログ／デジタル変換された後所
定の処理が施され（ｃ）に示す様にインターバルデータ
が計測される。この計測結果が記録ユニットに書き込ま
れる。

【００４４】上述した例では初期的な間欠欠陥を予め測
定し、製品の出荷段階で第１記録ユニット２２（図１
４）に書き込むものである。これに加えて、図１４の回
路構成を利用し、経時的に発生する間欠欠陥画素の補正
も行なう事が可能である。画像の表示駆動を行なう前に
中央演算ユニット２１を介して欠陥検出ユニット２５を
動作させ、液晶表示装置２７の間欠欠陥画素を検出す
る。中央演算ユニット２１は検出結果に基きインターバ
ルデータを算出して、該当欠陥画素のアドレスデータ及
び補正データとともにインターバルデータを第二記録ユ
ニット２３に書き込む。この後、通常の画像表示動作に
移行し、中央演算ユニット２１はアドレスデータ及びイ
ンターバルデータに応じた周期的欠陥発現タイミングに
同期して補正データに従いビデオ信号を修正する事によ
り、間欠的に補償されたビデオ信号を供給する。なお、
欠陥検出ユニット２５の検出動作は予め設定されたフィ
ールド回数Ｎまで行なわれる。従って、Ｎより小さい周
期ｎで発生する間欠欠陥については検出する事が可能で
ある。Ｎを超える周期で発生する間欠欠陥については実
用上の障害が少ない為補正を行なわない。

【００４５】最後に図２５は間欠欠陥補正の行なわれた
アクティブマトリクス型液晶表示装置の透過率変化を示
すグラフである。図２２に示した補正を行なわない場合
のグラフと比較すれば明らかな様に、ｎフィールド毎に
発生した透過率異常は略完全に抑制されている。

【００４６】

【発明の効果】以上説明した様に、第一発明によれば、
アクティブマトリクス型表示装置の画素スイッチ電流リ
ークに起因する画素欠陥を補正もしくは補償する事がで
き表示画像品質が改善できるという効果がある。又、ア
クティブマトリクス型液晶表示装置の完成段階で内在す
る欠陥画素を許容できるので、製品の良品率が向上する
という効果がある。さらに、本画素欠陥補償装置は外付
け型であり、内蔵させる必要がない為アクティブマトリ
クス型表示装置をコンパクトにできるという効果があ
る。又、第二発明によれば経時劣化後の画素欠陥も補正
可能である為長期に渡って良好な画像品質が保証できる
という効果がある。さらに、第三発明によればアクティ
ブマトリクス型表示装置の温度に追従して欠陥画素の補
正を行なう為、どの様な使用環境温度下でも画質の劣化
を抑制する事ができるという効果がある。加えて、第四
発明によれば常時発生する欠陥画素に加えて所定の周期
的タイミングで間欠的に発現する欠陥画素についても有
効な補正を行なう事ができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】第一発明にかかる画素欠陥補償装置の実施例を
示すブロック図である。

【図２】該実施例に含まれる変調回路の具体例を示す回
路図である。

【図３】該実施例の動作を説明する為のタイミングチャ
ートである。

【図４】同じく該実施例の動作を説明する為のタイミン
グチャートである。

【図５】アクティブマトリクス型液晶表示装置の透過率
／画素電位特性を示すグラフである。

【図６】第一発明にかかる画素欠陥補償装置の他の実施
例を示すブロック図である。

【図７】図６に示した実施例の変形例を示すブロック図
である。

【図８】アクティブマトリクス型液晶表示装置の透過率
／画素電位特性を示すグラフである。

【図９】同じくアクティブマトリクス型液晶表示装置の
画素電位特性を示す波形図である。

【図１０】欠陥画素検出装置の一例を示すブロック図で
ある。

【図１１】同じく欠陥画素検出装置の他の例を示すブロ
ック図である。

【図１２】従来のアクティブマトリクス型液晶表示装置
の一般的な構成を示す等価回路図である。

【図１３】アクティブマトリクス型液晶表示装置の画素
電位特性を示す波形図である。

【図１４】第二発明及び第三発明にかかる画素欠陥補償
装置の実施例を示すブロック図である。

【図１５】図１４に示した実施例に含まれる欠陥検出ユ
ニットの構成例を示す回路図である。

【図１６】図１５に示した欠陥検出ユニットの動作説明
用波形図である。

【図１７】図１４に示した温度検出ユニットの構成例を
示す回路図である。

【図１８】第二発明の効果を表わすグラフである。

【図１９】第三発明の効果を表わすグラフである。

【図２０】間欠欠陥画素を示す等価回路図である。

【図２１】ＴＦＴのゲート電圧／ドレイン電流特性を示
すグラフである。

【図２２】間欠欠陥画素の透過率変化を示すグラフであ
る。

【図２３】間欠欠陥画素の補正方法を示す波形図であ
る。

【図２４】間欠欠陥が発現する周期的タイミングを示す
インターバルデータの測定方法を示すタイミングチャー
トである。

【図２５】補正された間欠欠陥画素の透過率変化を示す
グラフである。

【符号の説明】

１記録ユニット２同期回路３変調回路４アクティブマトリクス型表示装置６ビデオ信号回路７レベルシフタ２１中央演算ユニット２２第一記録ユニット２３第二記録ユニット２４温度検出ユニット２５欠陥検出ユニット２６入力／出力ユニット２７液晶表示装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】アクティブマトリクス型表示装置にビデ
オ信号を入力しマトリクス状の画素を順次駆動する時、
内在する欠陥画素に応じて入力すべきビデオ信号を予め
調整する為の画素欠陥補償装置であって、記録ユニットと同期回路と変調回路とを有しており、前記記録ユニットは、対象となるアクティブマトリクス
型表示装置に内在する欠陥画素を個別に測定して得られ
た欠陥情報が記録されており、前記同期回路は、与えられた元のビデオ信号に同期して
該記録ユニットをアクセスし、逐次欠陥情報を読み出す
とともに、前記変調回路は、読み出された欠陥情報に基き欠陥画素
に対応するビデオ信号成分を変調し、部分的に補償され
たビデオ信号を供給するものである画素欠陥補償装置。
【請求項２】前記記録ユニットは、欠陥情報として少
なくとも電流リークに起因する欠陥画素の位置を示すア
ドレスデータを記録しており、前記変調回路は、アドレスデータに対応するビデオ信号
成分を所定の修正レベルに変調するレベルシフタを備え
ており、当該欠陥画素の電流リークを補う様にした請求
項１記載の画素欠陥補償装置。
【請求項３】前記レベルシフタは、固定の修正レベル
を用いて欠陥画素の電流リークを補う様にした請求項２
記載の画素欠陥補償装置。
【請求項４】前記記録ユニットは、欠陥画素の位置を
示すアドレスデータに加えて当該欠陥画素の電流リーク
量に応じたリーク補償データを記録しており、前記変調回路は、該アドレスデータに対応するビデオ信
号成分に該リーク補償データを加算するものである請求
項１記載の画素欠陥補償装置。
【請求項５】アクティブマトリクス型表示装置にビデ
オ信号を入力しマトリクス状の画素を順次駆動する時、
内在する欠陥画素に応じて転送すべきビデオ信号を予め
調整する為の画素欠陥補償装置であって、経時的に発生する欠陥画素を随時検出する欠陥検出ユニ
ットと、該検出結果に基き欠陥情報を随時記録する記録
ユニットと、駆動時読み出される欠陥情報に基き転送タ
イミングに同期してビデオ信号を修正し補償されたビデ
オ信号を供給する中央演算ユニットとを備えた画素欠陥
補償装置。
【請求項６】初期の欠陥画素に関する欠陥情報を予め
記録しておく追加の記録ユニットを含む請求項５記載の
画素欠陥補償装置。
【請求項７】アクティブマトリクス型表示装置にビデ
オ信号を入力しマトリクス状の画素を順次駆動する時、
内在する欠陥画素に応じて転送すべきビデオ信号を予め
調整する為の画素欠陥補償装置であって、欠陥画素の位置を示すアドレスデータ及びその補正量を
示す補正データを記録する記録ユニットと、アクティブ
マトリクス型表示装置の温度を検出する温度検出ユニッ
トと、該検出結果に基き補正データのレベル調節を行な
うとともに調節された補正データに基きアドレスデータ
に従ってビデオ信号を修正し補償されたビデオ信号を供
給する中央演算ユニットとを備えた画素欠陥補償装置。
【請求項８】アクティブマトリクス型表示装置にビデ
オ信号を入力しマトリクス状の画素を順次駆動する時、
内在する欠陥画素に応じて転送すべきビデオ信号を予め
調整する為の画素欠陥補償装置であって、欠陥画素の位置を示すアドレスデータ、その補正量を示
す補正データ及び欠陥が発現する周期的タイミングを示
すインターバルデータを含む欠陥情報を記録する記録ユ
ニットと、駆動時読み出される欠陥情報に基きアドレス
データ及びインターバルデータに応じた周期的欠陥発現
タイミングに同期して補正データに従いビデオ信号を修
正することにより間欠的に補償されたビデオ信号を供給
する中央演算ユニットとを備えた画素欠陥補償装置。
【請求項９】経時的に発生する欠陥画素を随時検出す
る欠陥検出ユニットと、該検出結果に基き欠陥情報を随
時記録する追加の記録ユニットを含む請求項８記載の画
素欠陥補償装置。