JPH06170301A - ディスペンサおよびそれを用いたポッティング装置 - Google Patents

ディスペンサおよびそれを用いたポッティング装置

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JPH06170301A
JPH06170301A JP32393292A JP32393292A JPH06170301A JP H06170301 A JPH06170301 A JP H06170301A JP 32393292 A JP32393292 A JP 32393292A JP 32393292 A JP32393292 A JP 32393292A JP H06170301 A JPH06170301 A JP H06170301A
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resin
discharge
dispenser
potting
syringe
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JP32393292A
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Osamu Ito
治 伊藤
Sotoshi Irie
外志 入江
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Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Hitachi Ltd
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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 樹脂の吐出量を定期的に計量し、この計量結
果に応じて吐出条件を自動補正して常に最適な所定量の
樹脂を供給することができるディスペンサおよびそれを
用いたポッティング装置を提供する。 【構成】 TAB方式によるTCPの半導体装置のポッ
ティング装置であって、キャリヤテープを搬送するテー
プ搬送系1と、樹脂を吐出して封止する樹脂封止部2
と、樹脂の吐出量を計量する樹脂量計量制御部3と、封
止樹脂を硬化させる樹脂硬化部4とから構成されてい
る。そして、樹脂量計量制御部3は、シリンジ11の近
傍に設置される電子計量秤18と、樹脂10の吐出条件
を制御する制御部20とから構成され、電子計量秤18
により任意のサイクルで計量皿19に吐出された樹脂1
0の吐出量が計量され、この計量結果に基づいて制御部
20により樹脂10の吐出条件が制御されるようになっ
ている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ディスペンサに関し、
特に半導体装置の製造設備におけるTAB(Tape Autom
ated Bonding)方式によるポッティング装置において、
定期的な樹脂の吐出量の計量に応じた吐出条件の自動補
正によって精密な樹脂の供給が可能とされるディスペン
サおよびそれを用いたポッティング装置に適用して有効
な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、電子部品の軽薄短小化が進む中
で、たとえばTAB方式によるTCP(Tape Carrier P
ackage)の半導体装置においても小型化が成されている
が、このような小型TCPでは、封止樹脂の幅、厚さな
どのばらつきが問題となっており、この原因としてはシ
リンジ内の樹脂の水頭差の変化、樹脂の粘度変化などが
挙げられる。
【0003】そこで、樹脂の吐出量を制御することが必
要となり、たとえば装置を停止させた後に、樹脂の吐出
量を計量してオペレータが設定条件を変更する方法、ま
たは樹脂の広がり性を検査用TV(Television)カメラで
検査し、この検査結果に応じて滴下条件を変更する方法
などにより、随時、樹脂の吐出条件が制御されている。
【0004】たとえば、オペレータが吐出条件を変更す
る場合には、予め設定した数のICの樹脂封止が終わる
度に装置を停止させ、ノズルからの樹脂の吐出量を計量
して、誤差のあるときにはオペレータが試行錯誤してデ
ィスペンサの設定条件の変更を行い、これによって常に
最適な状態で樹脂の吐出が行われる。
【0005】一方、検査用TVカメラによる方法では、
まず供給リールから引き出されたTCPをフォトセンサ
で検査し、半導体チップが所定の位置に搭載されている
ことを確認した後、シリンジの下方に半導体チップが搬
送された時にシリンジから樹脂を滴下する。この滴下す
る樹脂の量はディスペンサにより制御されており、予め
設定された量の樹脂がノズルの先端から半導体チップ上
と周辺のテープ上に滴下される。
【0006】次に、ベーク炉内に搬入する直前に、半導
体チップ上の樹脂の広がり性を検査用TVカメラで検査
し、この検査結果が制御部に送られて予め制御部に設定
されている最適状態と比較され、これによって常に最適
な状態に樹脂の滴下条件が変更されるようになってい
る。
【0007】なお、このようなTVカメラを用いる技術
としては、たとえば特開平2−278841号公報に記
載される半導体装置用樹脂封止装置などが挙げられる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記のよう
な従来技術において、たとえばオペレータによる変更方
法では、装置を停止させて、オペレータが樹脂の吐出量
を計測し、誤差がある場合には、ディスペンサの設定条
件の変更を試行錯誤して行うため、作業能率が低く、装
置の稼働率が大幅に低下するという問題がある。
【0009】一方、検査用TVカメラによる方式におい
ても、次のような問題がある。
【0010】(1).半導体チップ上と周辺のテープ上に滴
下された樹脂の広がりは、表面だけではなく、裏面にま
でおよぶため、TVカメラによる検査方式では樹脂量の
正確な把握が不可能であり、良品、不良品の判定が正し
く行えない。
【0011】(2).透明度の高い樹脂を使用する場合、T
Vカメラによるセンシングが技術的に難しい。
【0012】従って、従来の方法では、オペレータによ
る作業性、検査の信頼性の面において問題があり、特に
封止樹脂の幅、厚さの寸法管理が要求される小型TCP
には良好に適用できないという問題がある。
【0013】そこで、本発明の目的は、特にTAB方式
によるTCPの半導体装置において、樹脂の吐出量を定
期的に計量し、この計量結果に応じて吐出条件を自動補
正して常に最適な所定量の樹脂を供給することができる
ディスペンサおよびそれを用いたポッティング装置を提
供することにある。
【0014】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0015】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【0016】すなわち、本発明のディスペンサは、シリ
ンジのノズル先端から吐出物を吐出するディスペンサで
あって、シリンジの近傍に設置される重量計測手段と、
この重量計測手段とディスペンサを制御するマイクロコ
ンピュータ内蔵の制御部とを備えるものである。
【0017】また、本発明のポッティング装置は、前記
ディスペンサをTAB方式のポッティング装置に用いる
ものである。
【0018】この場合に、前記ポッティング装置を、ボ
ンディングからポッティングまでの半導体製造一貫装置
に用い、ボンディングのツールクリーニング動作と同期
させて樹脂の吐出量を計量するようにしたものである。
【0019】また、前記樹脂の吐出量の計量と、撮像手
段による樹脂広がり量の検査方式とを併用して樹脂の吐
出条件を制御するようにしたものである。
【0020】さらに、前記ポッティング装置を長時間停
止させる場合に、シリンジを重量計測手段の計量皿上に
待避させ、このシリンジのノズルからの液だれを防止
し、かつノズルをクリーニングするようにしたものであ
る。
【0021】
【作用】前記したディスペンサおよびそれを用いたポッ
ティング装置によれば、重量計測手段および制御部が備
えられることにより、重量計測手段により任意のサイク
ルで吐出物の吐出量を計量し、制御部によりこの計量結
果に基づいて吐出物の吐出条件を制御することができ
る。
【0022】特に、ポッティング装置においては、予め
設定した数の半導体装置の樹脂封止を終わる度に、ノズ
ルを自動的に重量計測手段の計量皿上に移動して樹脂の
吐出を行い、この吐出された樹脂を自動的に計量し、こ
の計量結果を制御部に送って予め設定されている最適重
量と比較し、この比較結果に応じてディスペンサの吐出
条件を制御した後に自動的に樹脂封止動作に復帰させる
か、または最適重量を外れた場合に封止動作を中断させ
ることができる。
【0023】すなわち、比較結果に基づいて、たとえば
最適重量との間で所定範囲以上の誤差がある場合には、
ディスペンサの樹脂の吐出時間または吐出圧力などの滴
下条件を変更し、常に最適な吐出量が得られるように制
御することができる。
【0024】この場合に、ボンディングからポッティン
グまでの半導体製造一貫装置において、ボンディングの
ツールクリーニング動作に樹脂の吐出量の計量が同期し
て行われることにより、ポッティング処理を効率良く行
うことによって半導体製造一貫工程の作業効率を向上さ
せることができる。
【0025】また、樹脂の吐出量の計量と、撮像手段に
よる樹脂広がり量の検査方式とが併用されることによ
り、吐出量を精度良く検出することによって検査の信頼
性を向上させることができる。
【0026】さらに、ポッティング装置の停止時間中に
ノズルからの液だれが防止され、かつノズルがクリーニ
ングされることにより、樹脂の吐出を安定させて樹脂封
止の信頼性を向上させることができる。
【0027】
【実施例】図1は本発明の一実施例であるポッティング
装置を示す概略構成図、図2は本実施例のポッティング
装置におけるシリンジ駆動部を示す構成図、図3は本実
施例のポッティング装置において、半導体装置の樹脂封
止状態の要部を示す断面図である。
【0028】まず、図1により本実施例のポッティング
装置の構成を説明する。
【0029】本実施例のポッティング装置は、たとえば
TAB方式によるTCPの半導体装置のポッティング装
置とされ、キャリヤテープをローダ側からアンローダ側
へ搬送するテープ搬送系1と、樹脂を吐出して封止する
樹脂封止部2と、定期的に樹脂の吐出量を計量する樹脂
量計量制御部3と、封止状態において樹脂を硬化させる
樹脂硬化部4とから構成されている。
【0030】テープ搬送系1は、ローダ側のキャリヤテ
ープ5の供給リール6、所定の張力を加えるテンション
リール7、キャリヤテープ5を搬送するスプロケットホ
イール8およびアンローダ側の巻取りリール9から構成
されている。
【0031】そして、供給リール6に巻かれたキャリヤ
テープ5が、スプロケットホイール8の回転によりテン
ションリール7を介して一定の張力を保って、巻取りリ
ール9に巻き取られる構造になっている。
【0032】樹脂封止部2は、樹脂(吐出物)10を貯
溜するシリンジ11と、このシリンジ11の先端に装着
されるノズル12と、樹脂10の吐出量を制御するエア
ー圧力と吐出時間による吐出条件を設定するディスペン
サ13と、キャリヤテープ5への半導体チップの搭載位
置を検査するフォトセンサ14とから構成されている。
【0033】そして、封止前にフォトセンサ14により
半導体チップの搭載の有無が確認され、ディスペンサ1
3の吐出条件が半導体装置の種類などに応じて設定さ
れ、シリンジ11のノズル12の先端から一定の樹脂が
吐出されるようになっている。
【0034】また、樹脂封止部2のシリンジ11は、図
2に示すように位置調整可能な取付け具15を介して上
下駆動機構16に連結され、さらにこの上下駆動機構1
6がX−Yテーブル17上に搭載され、シリンジ11の
ノズル12の先端が任意の軌跡で動作される構造となっ
ている。
【0035】樹脂量計量制御部3は、シリンジ11の近
傍に設置され、精密な計量測定を行う電子計量秤(重量
計測手段)18と、この電子計量秤18の計量皿19
と、電子計量秤18とディスペンサ13を制御するマイ
クロコンピュータを内蔵し、樹脂10の吐出条件を制御
する制御部20とから構成されている。
【0036】そして、電子計量秤18により任意のサイ
クルで計量皿19に吐出された樹脂10の吐出量が計量
され、この計量結果に基づいて制御部20により樹脂1
0の吐出条件が制御されるようになっている。
【0037】樹脂硬化部4は、加熱処理を行うプリベー
ク炉21の内部に、回転可能な2対の反転リール22
と、この反転リール22により搬送されるキャリヤテー
プ5の下側にヒータ23が設けられている。
【0038】そして、反転リール22の回転によってキ
ャリヤテープ5が反転しながら搬送され、この搬送中に
おいて封止された樹脂10が乾燥および硬化されて所定
の硬度に形成されるようになっている。
【0039】以上のように構成されるポッティング装置
は、たとえば図3に示すように、キャリヤテープ5に被
着されたインナーリード24に半導体チップ25がボン
ディングされ、さらにこの半導体チップ25と周辺のキ
ャリヤテープ5上に樹脂10が滴下されるTCPの半導
体装置に用いられる。
【0040】次に、本実施例の作用について説明する。
【0041】まず、供給リール6にセットされた半導体
チップ25の接合済みのキャリヤテープ5を、テンショ
ンリール7により一定の張力を加えながらスプロケット
ホイール8の回転により一定ピッチで樹脂封止位置に送
る。
【0042】そして、封止前に、フォトセンサ14で半
導体チップ25が所定の位置に搭載されているかを確認
し、所定の位置に搭載されている場合には、シリンジ1
1の下方に半導体チップ25が搬送されてきた時にノズ
ル12の先端から樹脂10を滴下する。
【0043】この場合に、滴下する樹脂10の量はディ
スペンサ13により制御されており、予め設定された量
の樹脂10がノズル12の先端から半導体チップ25上
と周辺のインナーリード24上に、上下駆動機構16お
よびX−Yテーブル17の駆動により所定の軌跡を描い
て滴下される。
【0044】また、ディスペンサ13の吐出樹脂量の制
御は、たとえば吐出エアーの圧力を一定(たとえば0.5
〜1.0Kg/cm2 ) に保ち、最適な樹脂10の吐出量
が得られるように吐出時間を選定する方法が取られてい
る。
【0045】さらに、樹脂封止が完了したキャリヤテー
プ5をプリベーク炉21に入れ、反転リール22の回転
によってキャリヤテープ5を搬送しながらヒータ23に
より樹脂10を加熱し、所定の硬度に硬化させた後にア
ンローダ側の巻取りリール9に巻き取る。
【0046】以上のような樹脂封止処理が、供給リール
6に巻かれたキャリヤテープ5の全ての半導体チップ2
5、さらに新たなキャリアテープ5上の半導体チップ2
5について繰り返される。
【0047】この場合に、シリンジ11内における樹脂
10の水頭差、粘度変化などにより、封止樹脂の幅、厚
さなどを決定する樹脂10の吐出量が変化するという問
題がある。たとえば、シリンジ11内の樹脂10の貯溜
量が少なくなると、水頭差の影響が出てノズル12の先
端から吐出される樹脂10の量も減少する。
【0048】そこで、本実施例では、シリンジ11の近
傍に設置される電子計量秤18を用い、任意に設定した
数量の半導体チップ25の樹脂封止が終わる毎に、シリ
ンジ11を計量皿19の上方に自動的に移動させ、ノズ
ル12の先端から樹脂10を吐出させて計量する。
【0049】さらに、樹脂10の計量結果を制御部20
に送り、予め記憶されている最適重量と比較し、この比
較結果に基づいて制御信号をディスペンサ13に送り、
吐出条件である吐出時間(または吐出圧力)を最適値に
変更する。
【0050】このように、常に最適な吐出量が得られる
ように吐出条件を変更した後、自動的にシリンジ11を
樹脂封止位置に復帰させて樹脂封止処理を継続する。
【0051】なお、計量皿19には吐出された樹脂10
が溜っていくが、1サイクル毎に自動的に計量値がリセ
ットされ、正確な計量測定が可能である。さらに、計量
皿19は、所定の数量の半導体チップ25の樹脂封止が
終わると交換または洗浄される。
【0052】従って、本実施例のポッティング装置によ
れば、樹脂封止部2の近傍に、電子計量秤18、計量皿
19および制御部20から構成される樹脂量計量制御部
3が設けられることにより、任意のサイクルで樹脂10
の吐出量を自動的に計量し、この計量結果に基づいて樹
脂10の吐出条件を自動的に制御することができるの
で、従来のような封止された樹脂10の幅、厚さなどの
不良およびばらつきを低減し、常に最適な吐出量による
樹脂封止処理が可能となり、その上自動制御によって作
業効率を向上させることができる。
【0053】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0054】たとえば、本実施例のポッティング装置に
ついては、定期的に樹脂10の吐出量を計量して吐出条
件を制御する場合について説明したが、本発明は前記実
施例に限定されるものではなく、他の機能を追加するこ
とによってより一層の効果を得ることができる。
【0055】すなわち、本実施例のポッティング装置
を、ボンディングからポッティングまでの半導体製造一
貫装置に適用し、ボンディングのツールクリーニング動
作に同期させて樹脂の吐出量の計量を行うことにより、
半導体製造一貫工程において、ポッティング処理を効率
良く行うことができる。
【0056】また、樹脂の吐出量の計量の他に、TVカ
メラなどの撮像手段による樹脂広がり量の検査方式を併
用することにより、吐出量を精度良く検出して検査の信
頼性を向上させることができる。
【0057】さらに、ポッティング装置を長時間停止さ
せる場合には、電子計量秤の計量皿をノズルからの液だ
れ防止に用いたり、またこの停止時間中にノズルをクリ
ーニングすることにより、樹脂の吐出を安定させて樹脂
封止の信頼性を向上させることができる。
【0058】以上の説明では、主として本発明者によっ
てなされた発明をその利用分野であるTAB方式による
TCPの半導体装置のポッティング装置に適用した場合
について説明したが、これに限定されるものではなく、
たとえば樹脂の他にクリーム半田、接着剤などの吐出物
をシリンジのノズル先端から吐出するディスペンサを用
いる他の装置についても広く適用可能である。
【0059】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【0060】(1).シリンジの近傍に設置される重量計測
手段と、この重量計測手段とディスペンサを制御するマ
イクロコンピュータ内蔵の制御部とを備えることによ
り、任意のサイクルで吐出物の吐出量を重量計測手段に
より計量し、この計量結果に基づいて制御部により吐出
物の吐出条件を制御することができるので、吐出物の種
類、吐出物の貯溜量変動などに影響されることなく、定
期的に吐出物の吐出条件を自動的に補正し、これによっ
て常に最適な吐出量による吐出物の吐出が可能となる。
【0061】(2).特にディスペンサをTAB方式のポッ
ティング装置に適用した場合には、予め設定した数の半
導体装置の樹脂封止を終わる度に、自動的に吐出される
樹脂の計量値と最適重量とを比較し、この比較結果に応
じてディスペンサの吐出条件を制御して樹脂封止動作に
復帰させるか、または最適重量を外れた場合に封止動作
を中断させることができるので、樹脂の水頭差、粘度変
化などの影響に対しても、最適な吐出量への制御により
信頼性の高い樹脂封止が可能となる。
【0062】(3).ポッティング装置を、ボンディングか
らポッティングまでの半導体製造一貫装置に用いること
により、ボンディングのツールクリーニング動作と同期
させて樹脂の吐出量を計量することができるので、ポッ
ティング処理を効率良く行うことによって半導体製造一
貫工程の作業効率の向上が可能となる。
【0063】(4).樹脂の吐出量の計量と、撮像手段によ
る樹脂広がり量の検査方式とを併用することにより、樹
脂の吐出条件を精度良く制御することができるので、吐
出量を精度良く検出することによって検査の信頼性の向
上が可能となる。
【0064】(5).ポッティング装置を長時間停止させる
場合に、シリンジを重量計測手段の計量皿上に待避させ
ることにより、シリンジのノズルからの液だれを防止
し、かつノズルをクリーニングすることができるので、
樹脂の吐出を安定させて樹脂封止の信頼性の向上が可能
となる。
【0065】(6).前記(1) 〜(5) により、樹脂などの吐
出物による封止不良の発生を防止することができるの
で、製品歩留りの向上が可能とされるディスペンサおよ
びポッティング装置を得ることができる。
【0066】(7).前記(1) 〜(5) により、吐出量の計量
を自動的に制御することができるので、装置のスループ
ットの向上が可能とされるディスペンサおよびポッティ
ング装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるポッティング装置を示
す概略構成図である。
【図2】本実施例のポッティング装置におけるシリンジ
駆動部を示す構成図である。
【図3】本実施例のポッティング装置において、半導体
装置の樹脂封止状態の要部を示す断面図である。
【符号の説明】
1 テープ搬送系 2 樹脂封止部 3 樹脂量計量制御部 4 樹脂硬化部 5 キャリヤテープ 6 供給リール 7 テンションリール 8 スプロケットホイール 9 巻取りリール 10 樹脂(吐出物) 11 シリンジ 12 ノズル 13 ディスペンサ 14 フォトセンサ 15 取付け具 16 上下駆動機構 17 X−Yテーブル 18 電子計量秤(重量計測手段) 19 計量皿 20 制御部 21 プリベーク炉 22 反転リール 23 ヒータ 24 インナーリード 25 半導体チップ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 シリンジのノズル先端から吐出物を吐出
    するディスペンサであって、前記シリンジの近傍に設置
    される重量計測手段と、該重量計測手段と前記ディスペ
    ンサを制御するマイクロコンピュータ内蔵の制御部とを
    備え、任意のサイクルで前記吐出物の吐出量を前記重量
    計測手段により計量し、該計量結果に基づいて前記制御
    部により前記吐出物の吐出条件を制御することを特徴と
    するディスペンサ。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のディスペンサをTAB方
    式のポッティング装置に用い、予め設定した数の半導体
    装置の樹脂封止を終わる度に、前記ノズルを自動的に前
    記重量計測手段の計量皿上に移動して樹脂の吐出を行
    い、該吐出された樹脂を自動的に計量し、該計量結果を
    前記制御部に送って予め設定されている最適重量と比較
    し、該比較結果に応じて前記ディスペンサの吐出条件を
    制御した後に自動的に樹脂封止動作に復帰させるか、ま
    たは最適重量を外れた場合に封止動作を中断させること
    を特徴とするディスペンサを用いたポッティング装置。
  3. 【請求項3】 前記ポッティング装置を、ボンディング
    からポッティングまでの半導体製造一貫装置に用い、前
    記ボンディングのツールクリーニング動作と同期させて
    前記樹脂の吐出量を計量することを特徴とする請求項2
    記載のポッティング装置。
  4. 【請求項4】 前記樹脂の吐出量の計量と、撮像手段に
    よる樹脂広がり量の検査方式とを併用して前記樹脂の吐
    出条件を制御することを特徴とする請求項2記載のポッ
    ティング装置。
  5. 【請求項5】 前記ポッティング装置を長時間停止させ
    る場合に、前記シリンジを前記重量計測手段の計量皿上
    に待避させ、該シリンジのノズルからの液だれを防止
    し、かつ該ノズルをクリーニングすることを特徴とする
    請求項2記載のポッティング装置。
JP32393292A 1992-12-03 1992-12-03 ディスペンサおよびそれを用いたポッティング装置 Pending JPH06170301A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6955946B2 (en) 1995-10-13 2005-10-18 Nordson Corporation Flip chip underfill system and method
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