JPH06169149A - 基板修正装置及び方法 - Google Patents

基板修正装置及び方法

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JPH06169149A
JPH06169149A JP9338293A JP9338293A JPH06169149A JP H06169149 A JPH06169149 A JP H06169149A JP 9338293 A JP9338293 A JP 9338293A JP 9338293 A JP9338293 A JP 9338293A JP H06169149 A JPH06169149 A JP H06169149A
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cutter
cutting
pressing force
pattern
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Hidenori Sekiguchi
英紀 関口
Yuji Sakata
裕司 阪田
Fumio Tabata
文夫 田畑
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • B24B1/04Processes of grinding or polishing; Use of auxiliary equipment in connection with such processes subjecting the grinding or polishing tools, the abrading or polishing medium or work to vibration, e.g. grinding with ultrasonic frequency
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Abstract

(57)【要約】 【目的】プリント回路基板上の配線パターンを修正する
基板修正装置および方法に関し、基板の損傷を最小限に
止めながら効率的に、配線パターンを修正できる基板修
正装置および方法を提供することを目的とする。 【構成】超音波カッターを基板上の配線パターンに当接
させ、基板とカッターとを相対的に移動させて配線パタ
ーンを切削する際に、カッターの基板に対する押圧力を
検出し、これにもとづいて配線パターンの形状を求め、
前記配線パターンの形状に従って切削工程を制御してな
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般にプリント配線基板
の修正に関し、特にプリント配線基板上に形成された配
線パターンを修正する装置および方法に関する。
【0002】コンピュータを始めとする電子機器は、一
般にプリント配線基板を種々の素子間の配線に使ってい
る。プリント配線基板においては、一般にポリイミド等
の絶縁基板上に配線パターンが、導体層をスパッタある
いはメッキにより形成し、これをさらにエッチングする
工程により形成される。特に、今日の情報処理装置は、
小型化および高速化の要求に対応するために、高い素子
実装密度を提供することが要求されている。このため、
今日のプリント配線基板上に形成される配線パターンは
非常に微細なパターン密度を有する。また、スーパーコ
ンピュータのような特に高速動作が要求される装置で
は、配線パターンの長さを極小化するために多層配線基
板が使われている。
【0003】このような微細な配線パターンを基板上に
形成する場合には、露光工程やエッチング工程において
誤差が発生しやすく、このため、基板上の配線パターン
を修正する技術が必要である。特に、スーパーコンピュ
ータに使うような高実装密度の多層配線基板のような工
程数の多い基板においては、基板修正技術は歩留りを向
上させる上で必須である。
【0004】
【従来の技術】図32および図33(A),(B)は多
層配線基板の例を示す。ただし図32は基板斜視図を、
また図33(A),(B)は断面図を示す図32を参照
するに、多層配線基板は図示していないセラミック基板
上にスピンコーティングにより形成されたポリイミド層
10と、前記ポリイミド層10上に形成された第1層目
の配線パターン11aとを含み、図33(A)の断面図
に示すように配線パターン11aは第1層目のポリイミ
ド層間絶縁膜11bの下に埋められる。その際、層1
0,配線パターン11aおよび層間絶縁膜11bは基板
第1層構造11を構成する。
【0005】さらに、層間絶縁膜11bの上主面上には
第2層目の配線パターン12aが形成され、パターン1
2aを埋め込むように第2層目の層間絶縁膜12bが形
成される。こうして基板の第2層構造12が形成され、
その際図33(A)に示すように、層間絶縁膜11bに
はバイアホール131 が形成されて、第1層目の配線パ
ターン11aと第2層目の配線パターン12aを接続す
る。また、第2層目の層間絶縁膜12b中にもバイアホ
ール132 が形成され、バイアホール132 を介して第
2層目の配線パターンと前記層間絶縁膜12b上に形成
される第3層目の配線パターン14とが電気的に接続さ
れる。
【0006】ところで、層間絶縁膜11bあるいは12
bの厚さは20〜50μmと非常に薄いため、例えばピ
ンホール等の欠陥が図33(B)中符号15で示すよう
に発生した場合、本来被覆されているはずの配線パター
ンが露出してしまう場合が生じる。このような場合、層
間絶縁膜12b上に配線パターン14を形成するために
導体層を形成した場合、ピンホール15は導体で埋めら
れてしまい層12b上主面上に形成される配線パターン
14と第2層目の配線パターン12aとを短絡させる危
険がある。特に、高速の電子装置で使われる基板では、
配線相互の間隔が小さいため、短絡の危険は実質的なも
のとなる。また、同一の層内においても、露光工程ある
いはエッチング工程のわずかな誤差で配線パターン相互
の短絡が生じてしまう。
【0007】基板製造の歩留りを向上させ、電子装置の
コストを低下させるためには、このような短絡が生じて
いる基板を修正する技術が必要とされる。図34
(A),(B),図35(A),(B)および図36
(A),(B)はかかる基板上の配線パターンの修正の
例を示し、このうち図34(A),(B)は層間短絡の
修正例を、図35(A),(B)は層内短絡の修正例
を、また図36(A),(B)は電源パターンを避けて
多層基板中を貫通して延在するパターンの修正例を示
す。図34(A),(B)に示した例の場合には、図3
4(A)に示すピンホール15において短絡を生じてい
る配線パターン12aを、図34(B)に示すようにピ
ンホール15に接触している部分を切り離すことで修正
を行なう。また図35(A),(B)の場合には、図3
5(A)に示す短絡部16aを図35(B)に示すよう
に切断することで修正をおこなう。さらに、図36
(A),(B)の例では、図36(A)に示す多層配線
基板を構成する層中を貫通して延在するパターン12
a’と、それを絶縁領域12bを隔てて囲む電源パター
ン12aとの間の短絡部12xを、図36(B)に示す
ように切断・除去する。
【0008】従来は、かかる基板上の配線パターンの修
正は、熟練者が手作業で行なっていたが、今日の高速の
情報処理装置で使われるようなパターン密度の高い基板
ではパターンの幅が20〜50μm程度と狭いため、手
作業による修正は限界に近づいている。一方、かかる欠
陥部分を高出力レーザを使って切断する方法も提案され
ているが、かかる方法ではポリイミド絶縁膜の損傷の危
険があり、また照射量の設定が微妙であるために実際的
でない。
【0009】一方、この基板パターンの修正の問題を解
決する目的で、特開平3−57293は、超音波カッタ
ーを使って欠陥部分の配線パターンを切断する方法を提
案している。図37は上記公知例による欠陥パターンの
修正例を示し、図中先に説明した図と対応する部分には
同一の参照符号を付してある。
【0010】図37を参照するに、上記公知例では刃先
18cを有するカッター18が符号12xで示す欠陥パ
ターンの切断に使われ、刃先18cには励振部18aか
ら振動伝達部(ホーン)18bを介して超音波振動が供
給される。刃先18cを切断したいパターンに押しつけ
て、振動伝達部18b中に矢印で示した超音波振動の方
向と一致する方向Vに基板11,12を移動させること
により、欠陥パターン12xが切削・除去される。典型
的には、数十kHzの周波数の超音波をカッター18に
供給してその刃先に振幅が数μmないし数十μmの振幅
の超音波振動を印加する。
【0011】図38(A)は上記公知例の装置による基
板パターンの修正の例を示す。図38(A)を参照する
に、超音波カッター18の刃先18cがパターン12a
の上面に対して深さZ1 だけ下ろされ、この状態で基板
11,12を矢印Vの方向に移動させることにより、パ
ターン12aを深さZ1 だけ削る。この工程をパターン
12aが完全に除去されるまで繰り返す。上記公知例に
よれば、刃先18cの幅Bに対応する幅bでパターン1
2aを切削することができ、これにより基板製造の歩留
りを大きく向上させることができる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】上記公知例による方法
では、刃先18cの位置により切込み量が制御される。
一方、プリント基板には10μm以上の反りや凹凸が生
じることがあり、このような反りや凹凸が生じると、刃
先18cと基板との相対位置が変化してしまう。そのた
め、凹部では刃先18cの位置が高過ぎてパターン12
aを切断できず、また凸部ではパターン12aのみでな
く基板の絶縁膜11bまでも削ってしまう等の問題が生
じる。特に、図40(A)に示すように、バイアホール
131 に対応して上層の絶縁層12b上には凹部が形成
されやすいが、かかる凹部上に形成された欠陥パターン
14xを上記公知例の装置により削除しようとした場
合、上記公知例の装置では刃先18cを水平方向に移動
させることしかできないため、図40(B)に示すよう
に絶縁層12bを深く削ってしまうにもかかわらずパタ
ーン14xの一部が残ってしまう問題が生じる。さら
に、この残りをも除去しようとして切削を繰り返すと、
基板の損傷が大きくなってしまう。かかる基板の損傷の
問題は、特にスーパーコンピュータをはじめとする高速
の情報処理装置に使われる多層配線基板においては深刻
になる。
【0013】また、上記公知例では、図38(A)に示
すように、刃先18cを切込み量Z 1 だけ基板方向に進
めることにより、その切込み分Z1 だけパターンが削ら
れることを前提としている。ところが、超音波カッター
では、磨耗による刃先の変化、交換可能にしている刃先
18cを振動伝達部(ホーン)18bに取りつける際の
ネジ等の締めつけ方や振動伝達部18bに対する刃先1
8cの位置の変化、温度による刃先を伝わる超音波振動
の変化等により、切削量がばらつく。そのために、切削
量が小さい時には図38(A)に示すようにカッターを
1 だけ基板方向に進めてもパターンは深さZ1 は削ら
れず、それよりも少ない深さZ0 しか削られない場合が
生じる。このため、段階的な切込みによりカッターの位
置を基板表面よりも下方まで送り込んでも、図38
(C)に示すように削り残りが発生する。削り残りが発
生するのを抑えるためには、より深くまで段階的な切込
みを行なわなければならないが、そのために、基板の絶
縁層の損傷が大きくなってしまう。これを抑えるには、
一回分の切込み量Z1 を小さくすればよいが、そのよう
にするとパターン全体を切るまでの繰り返し回数が増加
することで、切断時間が多く必要になり、装置のスルー
プットが低下する。
【0014】また、上記公知例で示す導体路ブリッジや
正規の配線パターンでは、パターンの厚さが既知である
ので、一回分の切込み量Z1 に繰り返し回数を乗じた値
をパターンの厚さ以上に設定すればよい。しかし、短絡
欠陥部では、パターンの厚さが未知であり、その形状も
不明である。そのために、上記公知例では、例えば図3
9(A)に示すような最大の厚さのパターンでも切れる
ように、繰り返し回数を5回に設定している。しかし、
実際の図39(B)に示すような実際の欠陥部の場合に
は、2回の繰り返しで済むはずである。すなわち、図3
9(A)の場合には空を切る不要な繰り返しが3回も実
行され、効率が悪い。一般に上記公知例の装置では、表
面が複雑な形状をした基板上に形成された欠陥パターン
あるいは複雑な形状をした欠陥パターンを効率よく、し
かも基板の損傷を最小限に止めながら切削することがで
きない。
【0015】そこで、本発明は上記の課題を解決した、
新規で有用な基板パターン修正装置および方法を提供す
ることを概括的目的とする。
【0016】本発明のより具体的な目的は、基板上に形
成された欠陥パターンを効率よく、しかも基板の損傷を
最小限に止めながら切削することができる基板パターン
修正装置および方法を提供することにある。
【0017】
【課題を解決する手段】本発明は、上記の課題を、基板
を保持する保持手段と;前記基板の表面上に形成された
配線パターンに当接してこれを切削するカッターと;前
記カッターに対して前記保持手段が、前記基板表面に対
して平行な方向と垂直な方向に相対的に移動するよう
に、前記カッターおよび前記保持手段を相互に移動させ
る駆動手段と;前記カッターに対して超音波振動を供給
する励振手段とを備え、前記カッターと前記基板とを相
対的に移動させ、前記カッターにより基板上の配線パタ
ーンを切削することにより、基板上に形成された配線パ
ターンの欠陥を修正する基板修正装置において:前記カ
ッターの前記基板に対する押圧力を検出して前記押圧力
を表す出力信号を出力する検出手段と;前記出力信号を
供給され、前記出力信号に応じて前記駆動手段を制御し
て前記押圧力を制御する制御手段とを備えたことを特徴
とする基板修正装置により、または基板表面上に形成さ
れた配線パターンに、超音波振動を加振されたカッター
を押圧する押圧工程と;前記カッターを前記基板に対し
て移動させて、前記配線パターン中に含まれる欠陥を切
削する切削工程とよりなる配線パターン修正方法におい
て:前記押圧工程は、前記カッターの、前記基板表面に
対する押圧力を測定する測定工程を含み;前記切削工程
は、前記押圧力を所定値に設定する制御工程を含むこと
を特徴とする配線パターン修正方法により達成する。
【0018】
【作用】本発明の第1の特徴によれば、カッターと基板
の間の押圧力を検出して配線パターンを修正する構成に
より、プリント基板に反りや凹凸があって刃先と基板と
の相対位置が変化しても確実に刃先を基板に当接させる
ことが可能になり、パターン切断不良や基板の損傷の問
題を最小化することが可能になる。本発明の第2の特徴
によれば、カッターを移動させる際に同時にカッターの
押圧力を測定することにより、修正される欠陥パターン
の形状あるいは切削量をその場測定することが可能にな
り、欠陥パターンの形状あるいは超音波カッターの切削
ばらつきによらない最適な切削を行なうことが可能にな
る。本発明の第3の特徴によれば、切削量を極力抑える
ことをせず、また切削の繰り返しも必要なだけ行なうの
で、切削の効率が向上に、装置のスループットが向上す
る。本発明の第4の特徴によれば、カッターを基板表面
に当接させる場合においても、押圧力を測定しながらカ
ッターを基板に向かって移動させることにより、押圧力
を最短時間で必要な値に設定することができる。本発明
の第5の特徴によれば、前記検出手段としてカッターに
加わるトククを測定するトルクセンサを使うことによ
り、カッターおよびこれに協働するアームや検出手段自
体よりなる力学系の慣性を最小化でき、これに伴い、外
部からの振動等に起因するノイズが前記出力信号に混入
するのを最小化することが可能である。本発明の第6の
特徴によれば、本発明による基板修正装置を使って押圧
力を測定・制御することにより、バリのような、基板修
正に伴って副次的に発生する微小な欠陥を、押圧力をよ
り小さく設定することで効果的に除去することが可能に
なる。本発明の第7の特徴によれば、カッターを基板に
対して基板表面に平行な第1の方向に移動させる際に、
カッターに対して前記第1の方向に振動する第1の超音
波を印加すると同時に基板表面に平行で前記第1の方向
に直角な第2の方向に振動する第2の超音波を印加する
ことにより、前記カッターの幅よりも大きい幅でパター
ンを削除することが可能になる。また、本発明の第8の
特徴によれば、基板上に形成された所定サイズのパター
ンを切削することにより、カッターの刃先の状態に無関
係に押圧力と切削量との関係を表す切削条件を求めるこ
とが可能になり、切削条件に対応して押圧力を調整する
ことにより、最適な切削を実行することができる。
【0019】本発明のその他の特徴および目的は、以下
の実施例の説明より明らかとなろう。
【0020】
【実施例】図1(A),(B)は本発明の第1実施例に
よる基板修正装置21Aの構成を示し、このうち図1
(A)は全体的な構成を、また図1(B)は図1(A)
の装置で使われる力センサの構成を示す。
【0021】図1(A)を参照するに、装置21は基台
21A上に設けられ中心軸Cの回りで回動する回動ステ
ージ22aと、ステージ22a上に設けられY方向に移
動する移動ステージ22bと、さらにステージ22b上
に設けられX方向に移動する移動ステージ22cとより
なるステージ部22を有し、最上部ステージ22c上に
はプリント配線基板23が保持される。基台21Aは略
直立したピラー21Bを有し、ピラー21Bからはアー
ム部26が側方に延在する。アーム部26の先端部から
はアーム26aが延在し、アーム26aの先端には中心
軸Cに一致するように、顕微鏡27が取りつけられる。
【0022】さらに、アーム部26には、上下動機構2
6bが形成され、上下動機構26bにはカッター18が
後ほど説明する力検出機構25を介して上下方向(Z方
向)に移動自在に取りつけられる。カッター18には超
音波励振装置18aが取りつけられ、振動伝達部18b
を介して刃先18cに超音波エネルギーを供給する。図
37の装置と同様に、超音波はカッター18に延在方向
の振動を誘起するように供給され、刃先18cを基板2
3上の配線パターンに当接させて超音波振動の方向すな
わちカッター18の延在方向に基板23を移動させるこ
とにより、修正したい配線パターンが切削される。典型
的には周波数60kHzの超音波振動が超音波励振装置
18aから刃先18cに印加され、刃先最先端部は±2
〜5μmの振幅で振動する。
【0023】基板23を移動させるため、ステージ22
a〜22cには図示していないが駆動機構が設けられ
る。回転ステージ22aは基板上の配線パターンの切削
方向と前記移動方向を一致させるのに使われる。また、
上下動機構26bを駆動することにより、カッター18
が基板23に対して上下される。また、ステージ22a
〜22cおよび上下動機構26bを駆動するために、制
御装置28が設けられる。図1(A)では、簡単のため
ステージ22a〜22cが一括して駆動されるように示
してあるが、勿論個々のステージ22a〜22cが別々
に駆動される。典型的にはステージ22aは回転軸Cに
対して0.1°の分解能で90°のストロークにわたっ
て回動でき、一方ステージ22b,22cはXおよびY
方向にそれぞれ分解能1μmで300mmの範囲にわた
り移動可能である。
【0024】本実施例による基板修正装置では、超音波
カッター18が前記力検出機構25を介して上下動機構
26bに取りつけられ、力検出機構25は基板23から
カッター18の刃先18cに加わる力を検出する。力検
出機構25は検出した力に対応する出力信号を形成し、
これを制御装置28に供給する。そこで、図1(A)の
装置では、カッター18の刃先18cに加わる力に応じ
てX,YおよびZ方向の送りを制御することが可能にな
り、修正したいパターンの形状に対応した最適な制御が
可能になる。
【0025】図1(B)は図1(A)の装置で使われる
力検出機構25の例を示す。図1(B)を参照するに、
力検出機構25はカッター18が取りつけられたベース
30と、ベース30を力検出機構25のフレーム部25
aに懸架する板バネ31a〜31dとより構成され、バ
ネ31a〜31dは十字バネ機構を構成する。各板バネ
31a〜31dには歪みゲージ32が設けられ、このた
め力検出機構25はカッター18に加わるトルクを検出
するトルクセンサとして作用する。力検出機構25は刃
先22aの押圧力を0.1gfの精度で検出可能であ
る。
【0026】勿論、力検出機構25の構成は図1(B)
のものに限定されるものではなく、例えば図2(A)あ
るいは2(B)に示すものでもよい。
【0027】図2(A)の装置では、力検出機構25は
基台21A上に取りつけられた昇降機構26b’上に設
けられ、カッター22および超音波加振装置24の重量
を測定する。また、図2(B)の装置では、力検出機構
25はコイルバネにより構成され、カッター22に加わ
るトルクを測定する。このうち、図2(A)の構成はカ
ッター18の質量のため床からの振動を拾いやすく、こ
のため質量の影響を受けにくい図1(B)あるいは図2
(B)のトルクセンサの方が力検出機構25としてはよ
り適していると考えられる。また、トルクセンサを使う
ことにより、床振動等の並進振動が出力に現れるのが抑
止され、カッターの刃先に加わる押圧力のみがトルクと
して出力される。出力されたトルクは制御装置28で押
圧力に変換される。
【0028】図3は図1(A)の基板修正装置をつかっ
て基板23上の欠陥配線パターンを修正する場合の例を
示している。
【0029】図3を参照するに、ステップST1におい
て基板23上の欠陥配線パターンの位置を顕微鏡27で
確認し、前記欠陥パターンの位置にカッター18の刃先
18cが一致するようにステージ22a〜22cを移動
させる。例えば、ステージ22b,22cをXおよびY
方向に移動させて欠陥パターンの位置と刃先18cの位
置を一致させた後、ステージ22aを回転させて、欠陥
パターンの切削方向を超音波振動の方向に一致させる。
ついで、ステップST2において、制御装置28の制御
により、上下動機構26bを駆動してカッター18を下
降させ、基板23に近づける。その際、制御装置28は
ステップST3で力検出機構25の出力を監視し、刃先
18cが基板23上の欠陥配線パターンに当接したと判
定されると次のステップST4を実行する。ステップS
T4では、刃先18cの基板23に対する押圧力が所定
最適値に達するように、制御装置28がカッター18
を、力検出機構25の出力を監視しながら、上下動駆動
機構26bを介してさらに下降させる。あるいは、制御
装置28はカッター18を、刃先18cがパターンに当
接してからさらに所定最適量だけ下降させてもよい。
【0030】次にステップST5において超音波加振装
置24が作動され、ステップST6でステージ22を前
記超音波振動の方向に一致した所定方向に移動させなが
ら前記欠陥配線パターンを削除する。典型的には、ステ
ージ22従って基板23は約100μm/秒の速度で送
られる。
【0031】ステップST6の後、ステップST7にお
いて超音波加振装置24を停止させ、ステップST8で
制御装置28は上下動装置26bを上昇させカッター1
8を基板23から離す。さらに、ステップST9で他の
位置で修正を行なうか否かが判定され、YESであれば
ステップST1に戻って切削動作がくりかえされる。ま
た、同一位置で修正を繰り返すことも可能である。その
際、ステップST8では基板23が反っていても基板表
面に衝突しないようにカッター20を約0.1mm上昇
させる。
【0032】図3のプロセスでは、基板にそりや凹凸が
あって刃先18cと基板との相対位置が変化しても、刃
先18cと基板との接触を検出後刃先18cの押圧力を
一定に設定できるため、基板23の損傷を最小限に止め
ながら欠陥配線パターンを修正すること可能になる。
【0033】図4(A)〜(D)は上記修正プロセスを
二つの配線パターン12a1 と12a2 とが欠陥12x
により短絡されている場合に対して適用した場合を示
す。
【0034】図4(A)を参照するに、ステップST1
で刃先18cと修正したい欠陥パターン12xを、ステ
ージ22b,22cをX,Y方向に移動させることで合
わせ、ついでステージ22aを回転させて刃先18cに
加わる超音波振動の方向と、欠陥12xを切削したい方
向とを揃える。さらにステップST2〜ST5の工程で
刃先18cを欠陥パターン12xに当接させ超音波を加
振した状態で、ステップST6の工程でステージを超音
波振動の方向と一致した矢印Vの方向に送ることによ
り、図4(C)に示すようにパターン12xが削除さ
れ、パターン12a 1 と12a2 とが分離される。その
結果、図4(D)に示すように、基板23が絶縁領域1
2bにおいて削られて一様な深さの溝が形成され、これ
に伴い欠陥パターン12xが削除される。
【0035】図5は図1(A)の装置の変形例による装
置を示す。図示の装置では、上下動装置26bをXおよ
びY方向に移動させるステージ41が設けられ、カッタ
ー18の刃先18cを回転軸Cに対してずらすことによ
り、例えば図6(A),(B)に示すような円弧状の欠
陥パターン12xを効率よく削除することが可能にな
る。
【0036】図7は図5の装置により図6(A),
(B)の欠陥パターン12xを切削する場合の動作を示
すフローチャートである。図7中、図3のプロセス中の
ステップに対応する部分は同一の参照符号を付し、説明
を省略する。
【0037】図7を参照するに、ステップST1Aにお
いてステージ22aを駆動し、基板上における欠陥パタ
ーンの切削方向を超音波カッター18の切削方向に一致
させる。次に、ステップST1Bにおいて、切削したい
円弧の中心が中心軸Cに一致するようにステージ22
b,22cを駆動し、さらにステップST1Cにおいて
ステージ41を駆動して、カッター刃先18cを切削し
たい円弧の位置に移動させる。さらに、図3のステップ
ST2からST5に相当するステップを実行した後、ス
テップST6’においてステージ22aを駆動し、円弧
状に欠陥パターンを切削する。図7のプロセスのその他
の特徴は図3のものと同じであり、説明を省略する。
【0038】図8は本発明の第2実施例で使われる配線
パターンの修正装置の概略的構成を示す。図8は図1
(A)の装置に対応しており、従って対応する部分には
同一の参照符号を付してその説明を省略する。
【0039】図8を参照するに、制御装置28はソフト
ウェアあるいはハードウェアにより構成される当接検出
部281 を有し、当接検出部281 は力検出機構25か
ら出力されA/D変換器25bでデジタル信号に変換さ
れた出力信号を供給されてその変化を検出することによ
り、カッター刃先18cと基板23との当接を検出す
る。さらに、制御装置28は上下動機構26bからカッ
ター18aの実Z座標を供給されてこれをもとに目標Z
座標を設定する目標設定部282 と、前記目標Z座標と
前記実Z座標を供給されてこれらを比較する比較部28
3 と、比較部28 3 での比較結果に基づいて目標Z座標
を修正する補正部284 と、さらにホーン18bおよび
刃先18cをも含めた力検出機構25のバネ定数を求め
るバネ定数算出部285 とを含む。
【0040】以下、図9のフローチャートを参照しなが
ら本実施例の基板修正装置の動作を説明する。
【0041】図9を参照するに、図3のステップST1
に相当するステップST11で、修正したい基板上の欠
陥パターンがカッター18の切削位置に一致するように
ステージ22が駆動され、さらに続くステップST12
で上下動機構26bが駆動され、カッター18が下降を
始める。このように、ステップST12は図3のステッ
プST2に対応するが、本実施例では、ステップST1
2において目標設定部282 がカッター18の初期位置
に対応して目標Z座標Z0 を設定し、目標値Z 0 に向か
って上下動機構26bが高速で駆動される。その際、ス
テップST13で上下動機構26bの下降が継続してい
るか否かが判定され、もしも停止状態が検出されると異
常事態を示すフラグが立てられ動作が異常終了する。一
方、カッター18の下降が続いている場合には、ステッ
プST14でカッター刃先18cに加わる押圧力F1
監視され、さらにステップST15で押圧力F1 が所定
値F0 よりも小であるか否かが判定される。ステップS
T15の判定結果がYESであればカッター18はまだ
基板23あるいはその上の欠陥パターン12xに当接し
ておらず、ステップST13〜ST15のループがくり
かえされる。 一方ステップST15において押圧力F
1 が所定値F0 を越えたと判定されると、ステップST
16において、その時点でのカッター18のZ座標Z1
が求められ、さらにステップST17においてカッター
18のZ座標値Z1 および目標押圧力F3 に基づいてカ
ッター18の目標Z座標値Z2 が式 Z2 =Z1 +F3 /k により求められる。ステップST17でこのように目標
Z座標値Z2 が求まると、ステップST18で目標座標
値Z2 を目標にカッター18の下降が開始される。
【0042】ステップST18でカッター18の下降が
開始されると、ステップST19で下降が継続している
か否かが判定され、ステップST19はカッター18が
目標座標値Z2 に到達して停止するまで繰り返される。
カッター18が目標座標値Z 2 に到達すると、その状態
での押圧力F2 がステップST20で求められ、さらに
ステップST21で力F2 とF3 の差の絶対値が所定許
容値F4 よりも小であるか否かが判定され、小であれば
下降プロセスは終了する。一方ステップST21で力F
2 とF3 の差の絶対値が前記許容値F4 よりも大きい場
合には、次のステップST22において力F2 が力F3
よりも小であるか否かが判定される。力F2 が力F3
りも小である場合はカッター18の下降が不十分であ
り、このためステップST23で目標Z座標値Z2 が所
定微小量Z3 だけ増加されて再設定され、さらにステッ
プST24で上下動機構26bを再駆動し、ステップS
T19〜ST23を繰り返しながらカッター18を再設
定された目標Z座標値Z2 までさらに下降させる。一
方、ステップST22の判定の結果、力F2 が目標力F
3 よりも大であると判定された場合には、ステップST
25が実行され、目標Z座標値Z2 が所定微小量Z3
け減少されて再設定され、ステップST24により、再
設定された目標Z座標値Z2 を目標にカッターが上昇さ
せられる。
【0043】このようにして、カッター18が所望の押
圧力F3 を与えるZ座標値に設定されると、ステップS
T26で力座標値Z1 ,Z1 およびこれに対応する力F
1 ,F2 を使ってバネ定数kが式 k=(F2 −F1 )/(Z2 −Z1 ) により再設定され、ステップST27で切削が実行され
る。さらに、ステップST28でさらに次に修正される
べき欠陥が存在するか否かが判定され、NOであれば修
正動作は終了するが、YESであればステップST11
に動作が戻る。バネ定数kは刃先18cの状態が変化し
ない限り修正する必要はないが、一般に計数kは単に力
検出機構25のバネ定数のみならずホーン18bおよび
刃先18c、さらには上下動機構26bやアーム26の
バネ定数の効果も含んでおり、正確な値を前もって知る
ことがむづかしい。ステップST27のようなバネ定数
の更新プロセスを処理に含ませておくと、最初にステッ
プST17で概略的なバネ定数を与えておくだけで、カ
ッター18を基板23に当接させてその押圧力を変化さ
せることにより、図1(A)の装置全般の正確なバネ定
数を求めることが可能になる。
【0044】本発明の方法によれば、単にカッターを一
定の速度で降下させて所望の押圧力を確保した状態で停
止させる方法に比べて短時間に所望の押圧力に到達でき
る利点が得られる。単純に一定速度でカッターを所望の
押圧力が得られるまで降下させる場合には、静止する前
に降下速度を減速させないとカッターのオーバーシュー
トが発生し、このためカッターを一旦上方に戻し、再び
降下させるステップが必要になり、しかもこの繰り返し
を何回も行なわなければならない。本実施例による制御
方法では、カッターの降下をZ座標の目標値によって制
御し、しかもZ座標の目標値を力検出機構25で検出さ
れた押圧力にもとづいて修正するため、最短時間で必要
な押圧力を実現することが可能になる。さらに、図9の
実施例では、図3の実施例の場合と同様に、基板表面が
反っていたりあるいは修正したい欠陥パターンの高さが
変化する場合でも速やかにカッターの位置決めを行なう
ことができる利点を有している。さらに、図9に示す目
標位置を使ったカッター位置制御を行なうことにより、
常時力検出機構25の出力にもとづいてカッターのZ座
標位置を制御する場合よりもカッターの下降動作を安定
させることが可能である。常時力検出機構25の出力に
もとづいてカッター18のZ座標位置を制御する場合に
は、刃先が基板に接触していない場合、力検出機構25
の出力がゼロになり、上下動機構26bの動作が不安定
になりがちである。本実施例では、このような動作の不
安定性が生じることがないため、制御装置28にフィル
タや不感帯などの特殊な要素を挿入する必要がなくな
る。
【0045】図10は本発明の第3実施例による基板修
正装置の概略的構成を示す図である。
【0046】図10を参照するに、基板修正装置は図8
のものと同様な構成を有するが、制御装置28において
カッター18と基板23の当接を検出する当接検出部2
1のかわりにカッター18の下降速度の減速開始を判
定する減速開始判定部286が設けられる。
【0047】図11は図10の装置の動作を説明するフ
ローチャートであり、図9のフローチャートに対応する
部分は同様な符号を付してある。
【0048】図11を参照するに、ステップST11で
基板23上の欠陥パターン12xがカッター18に対し
て位置決めされた後、これに引き続くステップST12
1において上下動機構26bが一定速度で駆動され、カ
ッターが所定の速度で降下を開始する。さらに、ステッ
プST122で上下動機構26bのZ座標値Z1 が求め
られ、ステップST123で前記座標値Z1 が所定の異
常検出位置Z0 を越えたか否かが判定される。異常検出
位置Z0 が越えられた(YES)と判定されると、ステ
ップST124が実行され、上下動機構26bが停止さ
れ、異常を示すフラグが立って動作は終了する。
【0049】ステップST123の判定結果がNOであ
る場合には、ステップST125でカッター18に加わ
る押圧力F1 が求められ、さらにステップST126で
力F 1 が減速を開始する閾値F3 −kZ4 より小である
か否かが判定される。ただし、Z4 は減速を開始して停
止するまでに要するカッター18の下降量を表す。すな
わち、量kZ4 はカッター18が減速を開始してから停
止するまでに増加する押圧力の増分を表す。ステップS
T126での判定の結果、検出された押圧力F 1 が所望
押圧力F3 から前記増分kZ4 を差し引いた値よりも小
さかった場合には、カッター18の下降量は不十分であ
り、ステップST122からST126を繰り返しなが
ら上下動機構26bが引続き駆動される。
【0050】一方、ステップST126での判定の結果
力F1 が力F3 −kZ4 よりも大であると判定される
と、ステップST127が実行され、上下動装置26b
が減速される。さらにステップST128でその状態に
おけるZ座標位置Z2 が検出され、以後図9で説明した
ステップST20以降のプロセスが実行される。
【0051】本実施例によれば、カッター18の刃先1
8cが基板23に当接すると直ちにカッターの下降速度
が減速され、次いで図9の実施例と同様なプロセスによ
りカッターの押圧力を最適化することにより、効率的な
基板修正が可能である。図11のプロセスにおいて、ス
テップS121〜S128が減速開始判定部286 の動
作に対応する。
【0052】次に、本発明の第4実施例を図12を参照
しながら説明する。図12中、先に説明したプロセスに
対応するステップには同一の参照符号を付し、説明を省
略する。
【0053】図12を参照するに、ステップST1で基
板23上の欠陥パターンの位置をカッター18の位置に
対して一致させた後ステップST2からST4で上下動
機構26bが駆動され、カッター18が基板23に対し
て降下する。その際、カッター18にはまだ超音波振動
は加振されておらず、カッターの押圧力が所望の押圧力
1 よりも0.1〜0.2gfだけ小さい所定の押圧力
Frになるように設定される。これは、カッター18を
基板上に当接させて超音波を加振した場合、押圧力が超
音波を加振しない場合にくらべて増加するためである。
【0054】次いで、ステップST5で超音波振動がカ
ッター18に加振され、さらにステップST51におい
て押圧力F1 が入力される。先にも説明したように、押
圧力F1 は押圧力Frよりもわずかに大きい。さらに、
ステップST6でステージ22bあるいは22cが駆動
され、基板が所定方向、例えばX方向に一行程送られて
欠陥パターンが修正される。典型的には、基板23は速
度約100μm/秒にて送られる。ステップ6が開始さ
れた後、ステップST61でカッター18の刃先18c
に加わる押圧力Fが測定され、一行程中の最大値Fmが
求められる。さらに、ステップST62において、力F
mが前記所定値F1 よりも大きいか小さいかが判定さ
れ、大きい場合にはステップST6〜ステップST62
が繰り返し実行される。すなわち、基板を繰り返し切削
しながら押圧力の最大値Fmの変化を求め、Fmが前記
所定値F1 以下になると所望の修正が完了したとしてス
テップST7で超音波振動が停止される。勿論力Fmの
値は切削を繰り返す度に減少していく。
【0055】ステップST7で超音波振動を停止した
後、ステップST9で次の欠陥パターンが存在するか否
かが判定され、存在すればステップST1以降のプロセ
スがくりかえされる。
【0056】図13(A)〜(C)は上記図12のプロ
セスに従って欠陥パターン12xを切削する様子を示
す。
【0057】図13(A)を参照するに、矩形断面形状
を有する欠陥パターン12xに対してカッター18を一
行程走査することで、図中斜線で示すような断面形状の
パターンが得られるが、その際カッター18の刃先18
cに加わる押圧力は図13(B)のように変化する。こ
のような走査行程を繰り返した場合の押圧力の変化を図
13(C)に示す。本実施例では、かかる走査を4回繰
り返すことにより、力の最大値Fmが所定値F1 より小
さくなることがわかる。すなわち図示した例では、切削
を4行程繰り返すことでパターンの修正が完了したと判
定される。
【0058】本実施例による方法によれば、押圧力の変
化を測定し、その結果をもとに基板修正を繰り返し実行
するため、欠陥パターンが不規則な形状をしていても未
修正部が残らないように、しかも基板に対する損傷を最
小限に止めながら、修正を実行することが可能になる。
【0059】次に、基板への損傷をさらに最小化した基
板修正方法を図14(A)〜(C)を参照しながら説明
する。
【0060】図14(A)は前記図12のプロセスを図
13(A)に示す矩形断面形状を有する欠陥パターン1
2xに対して適用した場合を示す。また図14(B)は
不規則な形状を有するパターン12xに対してやはり図
12のプロセスを適用した場合を示す。図14(A),
(B)のいずれにおいても、欠陥パターンの厚さが大き
い部分では基板23の損傷部23xの深さは小さいのに
対し、欠陥パターンが薄い部分あるいは欠陥パターンの
周辺部において基板23の損傷部23xの深さが大きく
なる傾向があるのがわかる。
【0061】そこで、本実施例では、図12のプロセス
のうちステップST61で得られる押圧力の分布にもと
づいて欠陥パターンの形状変化を追跡し、基板に対する
損傷を増大させる余計な切削を行なわないようにする。
すなわち、図14(C)を参照するに、一回目の切削の
結果位置Xs1 からXe1 の範囲でカッター18の押圧
力が所定値F1 を上回った場合、2回目の切削は前記X
1 からXe1 の範囲でのみ実行する。次に、2回目の
切削の結果カッター18の押圧力が前記所定値F1 を位
置Xs2 〜Xe2 の範囲で上回っていたとすると、3回
目の切削は前記Xs2 からXe2 の範囲でのみ行なう。
さらに、3回目の切削で押圧力が位置Xs3 からXe3
の範囲で力F1 を上回っていた場合には4回目の切削を
前記位置Xs3 からXs4 の間でのみ実行する。
【0062】図15は上記図14(C)の動作を実行す
るためのプロセスを示すフローチャートである。図15
中、先に説明したステップは同一の参照符号を付してそ
の説明を省略する。
【0063】図15を参照するに、ステップST1で基
板23上の欠陥パターン12xの位置ををカッター18
の位置に合わせ、ステップST2からST4で上下動機
構26bを駆動してカッター18を押圧力が前記所定値
Frになるまで下降させる。次に、ステップST41に
おいて、ステージ22、たとえばステージ22cをX方
向に位置Xe(1)まで駆動し、ステップST5で超音
波振動を加振する。次いでステップST60でステージ
22cをX方向に位置Xs(1)まで移動させ、切削を
行なう。さらに、ステップST60でステージを移動さ
せながらステップST61でカッター18の刃先18c
に加わる押圧力の最大値Fmが求められ、同時に押圧力
が所定押圧力F1 と交差する位置Xs(2)およびXe
(2)が求められる。次にステップST7で超音波振動
の供給が停止され、ステップST62で押圧力Fmが押
圧力F1 よりも大きいか小さいかが判断される。力Fm
が力F1 より大きい場合は動作はステップST41に戻
り、ステップST41でステージ22cは位置Xe
(2)に移動される。さらにステップST5およびステ
ップST60において欠陥パターンの2回目の切削がな
された後ステップST61で次の位置Xe(3)および
Xs(3)が求められる。 一方、力Fmが力Fmより
小さくなる場合にはステップST8が実行されカッター
18が所定量上昇させられる。さらに、ステップST9
で修正すべき他の欠陥パターンが存在する場合ステップ
ST1以降が再び実行される。
【0064】次に、一様な電源パターン層や接地パター
ン層のような、面積が大きくパターン形状が明確に検出
できないようなパターンを切削する方法を、本発明の第
6実施例を示す図16のフローチャートを参照しながら
行なう。このような一様なパターンでは基準になる高さ
がないため、押圧力にもとづいて形状を求める図12あ
るいは24の方法は使えない。
【0065】そこで、本実施例においては、パターン表
面を基準にし、表面からの切削量が前記パターンの厚さ
を越えるまで切削を繰り返す。その際、カッター18の
バネ定数kをあらかじめ求めておき、切削を繰り返すこ
とによる押圧力の減少をもとに切削量を求める。その
際、切削の進行と共に押圧力が減少するため切削の進行
に伴って上下動機構26bを駆動し、必要な押圧力を確
保する。切削力は式 C=Z1 −Z2 +(F1 −F2 )/k で求められる。ただし、Z1 は切削前におけるカッター
18のZ座標位置を、またZ2 は切削後におけるカッタ
ー18のZ座標位置をあらわし、さらにF1 は切削前に
おける押圧力を、またF2 は切削前における押圧力を表
す。
【0066】図16を参照するに、ステップST1〜S
T4までは図15のプロセスと同様であり、ステップS
T4に引き続いてステップST5が実行されカッター1
8に超音波が供給される。本実施例ではステップST7
1で所望の押圧力F1 およびこれに対応するZ方向の座
標Z1 が保存され、ステップST72でステージ22c
をX方向に送ることにより欠陥パターンの切削がなされ
る。さらに、ステップST73では、切削時の押圧力F
2 とカッター18のZ座標位置Z2 から切削量Cが上記
の式より求められ、前記切削量Cがパターンの厚さTp
よりも小であるか否かが判定される。ステップST74
の判定結果がNOであれば、ステップST75が実行さ
れ上下動機構26bが駆動されてカッター18が微小量
だけ降下され、さらにステップST72以降のプロセス
が実行される。
【0067】一方ステップST74で切削量Cがパター
ン厚さに等しいかこれを越えたと判定された場合、ステ
ップST7が実行されて超音波振動の供給が停止され、
さらにステップST8でカッター18が所定量上昇され
る。さらに、ステップST9において、他の修正パター
ンの有無がチェックされ、有ればステップST1以降の
プロセスが繰り返される。
【0068】本発明による力検出機構を備えた基板修正
装置はまた、斜めになった基板上に形成されたパターン
を修正するのにも有用である。図17(A)〜(H)は
本発明の装置をかかる斜面を有する基板に対して適用し
た本発明の第7実施例を示す。
【0069】図17(A)〜(G)を参照するに、図1
7(A),(B)は基板が平坦な場合であり図15のプ
ロセスを拡張した場合に対応する。本実施例ではカッタ
ー18を超音波振動を供給しない状態で基板23に押し
つけ、さらに基板表面に平行に移動して図17(B)に
示すような押圧力の分布を得る。図17(B)に示す押
圧力の分布は欠陥パターンが基板上のどの部分に存在し
ているかを、基板を切削することなく知ることができ
る。そこで、実際の切削を図17(B)の位置X 2 から
3 にわたって実行することにより、欠陥パターン12
xを基板に加わる損傷を先に説明したどの実施例よりも
軽減しつつ切削・除去することが可能になる。
【0070】図17(C)〜(E)は本実施例の方法を
斜面を有する基板に対して適用した場合を示し、最初に
図17(C)に示すような平坦部から斜面部にわたって
延在する欠陥パターン12xに対してカッター18を超
音波エネルギを供給しない状態で当接させ、図17
(D)に示すような押圧力の分布を求める。次にカッタ
ー18を超音波で加振し、図17(C)の区間A〜Bに
対応する区間x2 〜x3 でカッター18を、図15の実
施例におけるステップST41〜ST62のプロセスに
従って走査する。その結果、まず図17(E)に示す区
間A1 〜B1 の範囲においてパターン12xの切削がな
され、次に区間A2 〜B2 の区間で切削がなされる。さ
らに、区間A3 〜B3 ,A4 〜B4 の区間で切削が順次
なされ、基板23の損傷を最小に止めながら、基板形状
に沿った欠陥パターンの切削が可能になる。図17
(E)において、位置B1 ,B2 ,B3 およびB4 は全
て図17(D)の位置x3 に対応する。図17(E)よ
りわかるように、本実施例による基板修正行程では基板
の損傷の深さDは略一定に維持される。
【0071】図17(F)〜(H)は欠陥パターン12
xが基板上の凹部ABCに形成されている例であって、
最初に超音波エネルギを加えない状態でカッター18を
欠陥パターン12xに当接させることにより、図3
(G)に示すように欠陥パターンに対応する押圧力が、
図17(F)の区間ABに対応する区間x2 〜x3 にお
いて検出される。ただし、位置Cは凹部の底の対応す
る。次に、先の図15のステップST41からST62
の工程を図17(F)の区間ACおよび区間BCについ
てそれぞれ実行することにより、図17(H)に示すよ
うにパターン12xは最初に区間A1 〜C1 の範囲で所
定深さDだけ切削され、次に区間A2 〜C2 の範囲でさ
らに所定深さDだけ切削される。図示の例ではさらに区
間A3 からC3の範囲でさらに所定深さDだけパターン
12xが切削される。その際、区間A11 、区間A2
2 および区間A3 3 の幅は図17(E)の場合と同
様に逐次減少し、その結果基板23は略一様な深さDで
基板に沿って切削され、欠陥パターン12xの左半分が
除去される。さらに、同様な工程を区間BCについて実
行し、欠陥パターン12xの右半分を除去する。
【0072】図18は図17(A)〜(H)の基板修正
を実行するためのフローチャートを示す。図18中、先
に説明したステップには対応する符号を付し、説明を省
略する。
【0073】図18を参照するに、ステップST1〜S
T4を実行してカッター18を押圧力Frで基板23に
当接させた後、ステップ41’において超音波エネルギ
を供給することなくステージを基板表面に平行に所定方
向に移動させ、ステップST42’で押圧力の変化を測
定する。さらに、ステップST43’において欠陥パタ
ーン12xの形状を押圧力の変化に基づいて判定し、パ
ターン12xが図17(A),(B)に示したように平
坦である場合には超音波エネルギをカッター18に印加
しながらステップST44’を実行し、図15のステッ
プST41〜ST62を繰り返すことにより欠陥パター
ンを削除する。一方、ステップ43’で欠陥パターン1
2xが平坦なパターンでなかった場合には、ステップ4
2’において欠陥パターン12xが図17(C)〜
(E)に示すように単なる斜面上に形成されているかそ
れとも図17(F)〜(H)に示されるように凹部上に
形成されているかが判定され、斜面上に形成されている
場合には超音波エネルギをカッター18に供給しながら
図15のステップST41〜62を図17(E)に示す
ように区間A1 〜B1 ,区間A2 〜B2 ,区間A3 〜B
3 ,区間A4 〜B4 について繰り返し手順で実行し、欠
陥パターンを切削・削除する。また、欠陥パターン12
xが凹部上に形成されている場合には、凹部が二つの斜
面に分割され、それぞれの斜面について図15のステッ
プST41からST61がステップST47’およびS
T28’に示すように実行される。
【0074】このように、本実施例ではあらかじめ欠陥
パターンの形状を、カッター18を超音波エネルギを供
給しない状態でパターンに当接させてその押圧力の変化
により求め、さらに求められた形状に応じて切削を繰り
返し実行することにより、例えば図40(A),(B)
で説明したような従来の技術の問題点を解決することが
できる。次に、本発明の第8実施例を図19(A)〜
(D)を参照しながら説明する。図37に示した従来の
超音波カッターを使った基板修正装置あるいは図1
(A),(B)に説明した本発明による基板修正装置に
おいては、欠陥パターンを切削した場合に縁にバリが生
じることがある。このようなバリは高さが10μm程度
に達する場合があり、このような場合には薄い多層基板
では異なった層間で短絡を生じてしまう可能性がある。
そこで、このようなバリが形成される可能性がある場合
には、一行程毎の切削量を少なくする等の対策が必要で
あったが、一行程の切削量を小さく設定すると基板修正
の際のスループットが低下してしまう問題があった。ま
た、バリのみを切削・除去しようとして縁部を超音波カ
ッターで切削しても配線パターン自体が切削されてしま
い、その際再びバリが生じてしまう問題点が生じる。
【0075】図1(A),(B)に示す本発明による基
板修正装置においては、カッター18の基板に対する押
圧力を力検出機構25により測定できるため、切削され
る配線パターンに応じて押圧力を変化させることによ
り、欠陥パターンを切削した後バリのみを選択的に、配
線パターンを実質的に損傷させることなく切削すること
が可能になる。
【0076】図19(A)〜(D)は図1(A),
(B)に示す本発明の第1実施例による基板修正装置を
使ったバリの除去を示す図、また図20はそのフローチ
ャートを示す。
【0077】図20を参照するに、ステップS1におい
てステージ22を動かしてカッター18の刃先18cを
図19(A)に示した欠陥パターン12xの手前の位置
(a)に合わせる。次に、ステップS2において、上下
動機構26bを動かして刃先18cを基板23に第1の
押圧力F1 で当接させる。さらに、ステップS3におい
てカッター18に超音波エネルギを供給し、ステージ2
2を駆動して基板23を刃先18cに対して第1の速度
1 で動かし、欠陥パターン12xを切削・除去する。
欠陥パターン12xが除去されたらステップS4におい
て上下動機構26bを駆動してカッター18の刃先18
aを基板23から離脱させる。かかる切削の結果、パタ
ーン12aの、欠陥パターン12xに隣接した部分には
バリ12yが形成される。
【0078】次に、ステップS5においてステージ22
を駆動して刃先18cを前記図19(B)の位置(a)
に隣接した、バリ12yに対応した位置(b)に移動さ
せ、さらにステップS6において上下動機構26bを駆
動し、刃先18cを基板23に前記第1の押圧力F1
りも小さい第2の押圧力F1 ’で当接させる。さらに、
ステップS7において、カッター18に超音波エネルギ
を供給し、刃先18cがパターン12aを通過するよう
に、ステージ22を前記第1の速度V1 よりも大きい第
2の速度V2 で駆動する。ステップS6により、パター
ン12aに形成されていたバリの一方が除去される。ス
テップS6につづいてステップS7が実行され、上下動
機構26bが駆動されてカッター18が上昇し、刃先1
8cが基板23から離脱する。
【0079】さらに、ステップS9において、ステージ
22を駆動して刃先18cを前記図19(B)の位置
(a)に隣接した、バリ12yに対応した位置(c)に
移動させ、さらにステップS10において上下動機構2
6bを駆動し、刃先18cを基板23に前記第1の押圧
力F1 よりも小さい第2の押圧力F1 ’で当接させる。
さらに、ステップS11において、カッター18に超音
波エネルギを供給し、刃先18cがパターン12aを通
過するように、ステージ22を前記第1の速度V 1 より
も大きい第2の速度V2 で駆動する。ステップS11に
より、パターン12aに形成されていたバリの一方が除
去される。ステップS11につづいてステップS12が
実行され、上下動機構26bが駆動されてカッター18
が上昇し、刃先18cが基板23から離脱する。
【0080】上記のプロセスにおいて、ステップS7あ
るいはS11ではカッターの基板にたいする押圧力が実
質的に小さく設定されるため、また刃先18cの移動も
高速で実行されるため、パターン12aの切削は実質的
に生じることがない。換言すると、本実施例によるプロ
セスにより、バリのみを、効率的にしかも正常な配線パ
ターンを損傷することなく除去することが可能になる。
【0081】図21(A)〜(D)は本発明の第9実施
例による基板修正装置およびこれを使った基板修正方法
を示す。
【0082】図23を参照するに、本実施例による基板
修正装置ではカッター18が力検出機構25および上下
動機構26bを介して、基台21A上に設けられたU字
型のフレーム21B’に取りつけられており、さらに、
同様な構成の別のカッター18’が別の力検出機構2
5’および上下動機構26b’を介して同じフレーム2
1Bに取りつけられている。その際、カッター18とカ
ッター18’は相互に対向するように取りつけられ、カ
ッター刃先18c’はカッター刃先18cの幅Wよりも
大きい幅W’を有する。幅Wは図23(B),(C)に
示すように切削したい欠陥パターン12xの幅に対応し
ているのに対し、幅W’は図23(D)に示すように、
バリ12yを含んだ幅を切削できるように設定される。
【0083】図21(B)〜(D)を参照するに、本発
明の装置では、図21(B)に示す欠陥パターン12x
を、図21(C)に示すようにカッター18の刃先18
c’を第1の押圧力F1 で押圧して第1の速度V1 で基
板を移動することにより切削・除去する。次に、図21
(D)に示すように、カッター18’の刃先18c’を
前記F1 よりも小さい第2の押圧力F1 ’で押圧し、前
記速度V1 よりも大きいV1 ’で基板を移動することに
より、バリ12yを除去する。本実施例によれば、バリ
12yを一回の走査で削除できるため、基板修正作業の
効率を向上させることが可能になる。
【0084】図22は本発明の第10実施例による基板
修正装置の構成を示す。
【0085】図22を参照するに、本実施例装置では、
フレーム21B’に上下動機構26bおよび力検出機構
25および回転検出機構24を介して懸垂されたカッタ
ー18を使用し、回動機構24はカッター18を力検出
機構25に対して回動自在に保持する。カッター18は
加振部18aと、振動伝達部18bと、刃先18c,1
8c’とにより構成され、振動伝達部18bは二股にわ
かれ、それぞれの先端に刃先を有している。その際、一
方の刃先18cは図21(C)に示した第1の幅Wを有
しまた他方の刃先18c’は図21(D)に示した第2
の幅W’を有する。
【0086】基板修正時には、先ず回動機構24が駆動
されて第1の刃先18cが基板23に当接され、欠陥パ
ターン12xが幅Wで切削される。その際、図21
(C)の場合と同様に押圧力を第1の押圧力F1 に設定
し、走査速度を第1の速度V1 に設定する。次に、回動
機構24を再び駆動して第1の刃先18c’を基板23
に当接させ、図21(D)の場合と同様に押圧力を第2
の押圧力F1 ’に設定し、第2の走査速度V1 ’でバリ
12yを切削・除去する。基板修正装置をこのように構
成することにより、基板上の欠陥パターンを効率的に修
正できる。
【0087】次に、本発明の第11実施例を図23のフ
ローチャートおよび図24(A)〜(C)を参照しなが
ら説明する。本実施例では図1の装置を使用することを
前提とするが、勿論これに限定されるものではない。本
実施例においては、所定幅Tのカッター18を幅方向に
繰り返し送ることにより、幅Tよりも大きい幅Wでパタ
ーンを削除する。
【0088】図23を参照するに、ステップS21にお
いてステージ22を駆動して基板23上の欠陥パターン
12xを所定の位置に移動させる。次に、ステップS2
2においてステージ41を駆動してカッター18を所定
の位置に移動させる。さらに、ステップS23におい
て、一回あたりのカッター18の幅方向へのプリセット
送り量D0 にもとづいて送りに必要な回数Nを求め、ス
テップS24で、一回当たりの送り量Dを求める。
【0089】次に、ステップS25でカッター18を動
かして図24(A)に示すようにパターン12aを幅T
で切削した後、ステップS26でカッター18を幅方向
(図示の例ではY方向)に送り量Dだけ移動させ、図2
4(B)に示す切削をおこなう。さらに、ステップ2
5,26を繰り返し、ステップS27で繰り返し回数が
N+1に達したと判定されると欠陥パターン12xの修
正が完了したと判定される。さらに、ステップS28で
他に修正を要する欠陥パターンが存在するか否かが判定
され、有ればステップS21以降のプロセスが繰り返さ
れる。
【0090】図25は本発明の第12実施例で使われる
基板修正装置の構成を示す図である。図中、先に説明し
た部分には同一の参照符号を付し、その説明を省略す
る。
【0091】図25を参照するに、本実施例では図5で
説明した装置を使用し、その際カッターステージ41を
幅方向に高速で振動させることにより、カッター18の
刃先の幅Tよりも大きい幅でパターンを切削する。。例
えば、切削がX方向になされる場合はステージ41をY
方向に高速で振動させる。この目的のため制御装置28
で制御される駆動装置26hが設けられ、装置26hは
ステージ41、従ってカッター18をY方向に例えば1
000μm/秒程度の速度で振動させる。ステージをY
方向に振動させる際の振幅は切削したい欠陥パターン1
2xの幅Wに対応して設定される。例えば、10μmの
幅Tを有する刃先18cを使って幅Wが25μmの欠陥
パターンを切削する場合は振幅Sは式 S=(W−T)/2 により、7.5μmと求められる。
【0092】また、Y方向への振動速度はX方向への送
り速度よりも十分に大きくなるように、例えばX方向へ
の送り速度の10倍程度に設定される。ただし、超音波
振動の速度よりは小さく設定される。そこで、X方向へ
の送り速度が100μm/秒程度であれば振動速度は約
1000μm/秒となる。先の振幅Sが7.5μmであ
る場合には、ステージ41およびカッター18はY方向
に約33Hzで振動されることになる。ステージ41は
このような高速の振動に追従できる応答特性を有してい
ることが必要であり、例えば圧電振動子により構成して
もよい。
【0093】図26は本実施例の装置を使って欠陥パタ
ーンを切削する場合の動作を示すフローチャートであ
る。
【0094】図26を参照するに、ステップS31でス
テージ22を駆動し、基板23上の欠陥パターン12x
を所定の切削位置に移動させる。次に、ステップS32
でカッター18を所定の位置に移動させて切削したい欠
陥パターンに一致させ、さらにステップS33でカッタ
ー刃先18cの幅Tと切削したいパターンの幅Wから、
前記振幅Sを求める。さらに、ステップS34でカッタ
ー18を振幅±Sで振動させながらパターン12xを切
削する。ステップS35で次に切削すべきパターンが存
在すればステップS31以降のプロセスが繰り返され
る。
【0095】図26のプロセスは図27(B),(C)
に示したようなパターン12xの切削にともなって形成
されたバリ12yを除去する場合にも有効である。バリ
を切削する場合には、先にパターン12xを幅Wで切削
した後、刃先18cをバリに対応する高さまで上昇さ
せ、さらに駆動装置26hから加えられる振幅SをW/
2に設定して刃先18cをもう一度X方向に通過させる
ことにより、バリ12yを除去することが可能である。
【0096】次に、本発明の第13実施例を図28およ
び29(A)〜(C)を参照しながら説明する。
【0097】始めに図29(A)を参照するに、幅Tの
刃先18cを有するカッター18を位置y1 に設定して
基板23をX方向に送ることにより、幅Tでパターン1
2aを切削する。その結果、領域(12x)1 が形成さ
れる。。次に図29(B)に示すようにカッター18を
Y方向に距離Dだけ離れた位置y2 に移動させ、基板2
3をX方向に移動させ幅Tでパターン12aを切削す
る。その結果、図29(B)に示すように領域(12
x)2 が形成され、領域(12x)1 と領域(12x)
2 との間には未切削領域が形成される。さらに、図29
(C)に示すようにカッター18を位置y3 に設定して
X方向に基板23を移動させ、カッターに超音波を印加
しない状態で刃先18cをY方向に前記距離Dに対応す
る振幅で振動させ、この状態で基板23をX方向に移動
させることにより、未切削領域を剥離・除去する。
【0098】図28を参照するに、最初にステップS4
1,42においてステージ22およびステージ41を、
切削したい欠陥パターン12xがカッターの刃先18c
に一致するように駆動し、次にステップS43で前記幅
Dは式 D=W−T によって求める。
【0099】さらに、ステップS44において振幅Sの
値が求められ、ステップS45でパターン12aが、領
域(12x)1 において刃先18cの幅Tにわたり切削
される。次に、ステップS46において刃先18cがY
方向に距離Dだけ移動され、ステップS47でパターン
12aが領域(12x)2 において幅Tにわたり切断さ
れる。さらに、ステップS48で刃先18cはY方向に
距離−Sだけ移動され、ステップS49において刃先1
8cを振幅±Sで振動させながら、領域(12x)1
領域(12x)2 の間の未切削領域を除去する。更にス
テップS49で次に切削するパターンの有無が判定され
る。
【0100】本実施例では、先にも説明したようにステ
ップS49の工程で超音波加振装置24により超音波エ
ネルギを印加する必要は必ずしもなく、印加する場合に
もそのパワーを減少させてよいことが実験的に見出され
た。またD<Tの関係が成立する場合には領域(12
x)1 と(12x)2 は重なるため、未切削領域が残る
ことはないが、このような場合でも、ステップS48の
工程は切屑を除去するのに有効である。
【0101】第11から第13実施例の方法によれば、
切削したい欠陥パターン12xの幅がカッターの刃先1
8cの幅より大きい場合でも、カッターを交換すること
なく迅速に切削できるため、基板修正工程の効率が大き
く向上する。また、切削したいパターンの幅に対応した
幅のカッターを用意することは容易でないが、本実施例
ではこれらの問題点を回避することができる。また、刃
先18cの精度もそれ程要求されず、多少磨耗した刃先
でも必要な精度の切削を実行することができる。これに
伴い装置のランニングコストを低下させることが可能で
ある。
【0102】次に、本発明の第14実施例を図30及び
図31を参照しながら説明する。このうち、図30は本
実施例で使われる基板修正装置の構成を示し、図31は
フローチャートを示す。図30中、先に説明した部分に
は同一の参照符号を付して説明を省略する。
【0103】本実施例は、基板修正装置を繰り返し使用
するうちに生じる刃先18cの状態の変化およびこれに
伴う切削特性の変化を検出し、それを補償するように切
削条件を調整する。図30を参照するに、本実施例では
基板23上に所定の形状および寸法を有する試験用パタ
ーン12tを設け、カッター18により試験用パターン
12tを切削する。さらに、切削された試験用パターン
12tを顕微鏡27で検査し、得られた顕微鏡画像を画
像処理装置270で処理した後、制御装置28で切削結
果の良否を判定する。さらに、切削結果が不良であれば
切削条件を調整する。この目的のため、顕微鏡27には
ビデオカメラが取りつけられている。
【0104】図31を参照するに、ステップS61で基
板23がステージ22を駆動することにより相互に移動
され、基板23上の試験用パターン12tがカッター1
8の刃先18cに合わされる。次に、ステップ61で所
定の切削条件で試験用パターン12xが切削され、ステ
ップ62で切削の結果が判定される。ステップ62では
顕微鏡27で得られたパターン12tの画像を画像処理
装置270で解析し、切削の幅,深さ,バリの大きさ、
切削面の荒れ具合等を求める。
【0105】ステップS63において、切削結果が良好
であれば調整は不要であり、図31のプロセスはステッ
プS64で終了するが、切削結果が不良であればステッ
プS65が実行され、押圧力,超音波エネルギ,送り速
度が変更される。一般に、ステップS63で切削の深さ
が不足であると判定された場合には、(1)超音波エネ
ルギを増加する,(2)押圧力を増加する,(3)送り
速度を減少させる等の調整が制御装置28内において、
上記の順序でなされる。逆に切削の深さが過大であった
場合には、(1)超音波エネルギを減少させる,(2)
押圧力を減少させる、(3)送り速度を増加させる等の
調整が上記の順序でなされる。さらに、切削の幅Tが測
定され、図23の実施例で説明したように、幅方向の送
りに必要な回数Nあるいは送り量Dが調整される。さら
に、バリの大きさが過大であった場合には、押圧力を減
らしたり超音波エネルギを減少させる等の調整を行な
う。
【0106】次にステップS67で調整の余地がまだ残
っている場合はステップS61以降のプロセスが繰り返
される。これに対して、調整の余地が残っていない場合
には、ステップS68で調整が失敗したことを示すフラ
グが立てられプロセスが終了する。
【0107】このように、本実施例によれば、常に刃先
の状態の変化に対応した切削状態の変化が求められ、こ
のため基板修正装置を常に最適な動作状態に維持するこ
とが可能になる。
【0108】
【発明の効果】本発明は、基板修正装置を、超音波カッ
ターの基板に対する押圧力を測定するように構成したこ
とにより、修正したい欠陥パターンの形状に応じた最適
な修正を、基板に対する損傷を最小限に止めながら実行
することが可能である。例えば、カッターの押圧力を測
定することにより、欠陥パターンの形状を求めることが
でき、修正プロセスの進行にともなって切削する範囲を
変化させて基板の損傷を最小化できる。また、基板表面
が傾斜していたりあるいは凹部上に欠陥パターンが形成
されている場合でも、基板形状に沿った切削が可能にな
る。また、パターン切削の結果バリが形成されているよ
うな場合でも、バリをパターンとは異なった切削条件
で、修正済みのパターンに損傷を与えることなく切削で
きる。また、刃先を横方向に振動させることにより、修
正したいパターンの幅よりも大きい幅で、しかも刃先を
交換することなく切削することが可能になる。また、所
定の形状の試験パターンを切削してその状態を検査する
ことにより、切削条件を刃先の状態に常時合致させてお
くことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A),(B)は本発明の第1実施例による基
板修正装置の構成を示す図である。
【図2】(A),(B)は図1(B)に示す力検出機構
の別の構成例を示す図である。
【図3】図1(A),(B)の装置の動作を説明すくフ
ローチャートである。
【図4】(A)〜(D)は図3のフローチャートによる
切削動作を示す図である。
【図5】図1(A),(B)の装置の変形例を示す図で
ある。
【図6】(A)〜(D)は図5の装置を使って行なう基
板修正例を示す図である。
【図7】図6(A)〜(D)の動作に対応した図5の装
置の動作を示すフローチャートである。
【図8】本発明の第2実施例による基板修正装置の構成
を示す図である。
【図9】図8の装置の動作を説明するフローチャートで
ある。
【図10】本発明の第3実施例による基板修正同地の構
成を示す図である。
【図11】図10の装置の動作を説明するフローチャー
トである。
【図12】本発明の第4実施例による基板修正動作を説
明するフローチャートである。
【図13】(A)〜(C)は図12のフローチャートに
従った基板修正プロセスを示す図である。
【図14】(A)〜(C)は本発明の第5実施例による
基板修正プロセスを示す図である。
【図15】図14(A)〜(C)のプロセスに対応する
フローチャートである。
【図16】本発明の第6実施例による基板修正プロセス
を示すフローチャートである。
【図17】(A)〜(H)は本発明の第7実施例による
基板修正プロセスを示す図である。
【図18】図17(A)〜(H)のプロセスに対応する
フローチャートである。
【図19】(A)〜(D)は本発明の第8実施例による
基板修正プロセスを示す図である。
【図20】図19(A)〜(D)のプロセスに対応した
フローチャートである。
【図21】(A)〜(D)は本発明の第9実施例による
基板修正装置およびプロセスを示す図である。
【図22】本発明の第10実施例による基板修正装置を
示す図である。
【図23】本発明の第11実施例による基板修正プロセ
スを示すフローチャートである。
【図24】(A)〜(C)は図23のフローチャートに
対応した基板修正プロセスを示す図である。
【図25】本発明の第12実施例による基板修正装置の
構成を示す図である。
【図26】図25の基板修正装置を使って行なう基板修
正プロセスを示すフローチャートである。
【図27】(A)〜(C)は図26のフローチャートに
対応する本発明の第12実施例による基板修正プロセス
を示す図である。
【図28】本発明の第13実施例による基板修正プロセ
スを示すフローチャートである。
【図29】(A)〜(C)は図28に対応した基板修正
プロセスを示す図である。
【図30】本発明の第14実施例による基板修正装置を
示す図である。
【図31】図28の装置を使った本発明の第14実施例
による基板修正プロセスを示すフローチャートである。
【図32】本発明が適用されるプリント配線基板の例を
示す図である。
【図33】(A),(B)は従来の多層配線基板の例を
示す断面図である。
【図34】(A),(B)は層内短絡を生じている欠陥
パターンの修正を示す図である。
【図35】(A),(B)は層内短絡を生じている欠陥
パターンの修正を示す図である。
【図36】(A),(B)は層間接続に使われるパター
ンの欠陥の修正を示す図である。
【図37】超音波カッターを使った従来の基板修正装置
の構成を示す図である。
【図38】(A)〜(C)は図37の装置を使った場合
に生じる問題点を説明する図である。
【図39】(A),(B)は図37の装置の別の問題点
を説明する図である。
【図40】(A),(B)は図37の装置のさらに別の
問題点を説明する図である。
【符号の説明】
10 絶縁層 11 第1層 11a 第1層配線パターン 12 第2層 12a 第2層配線パターン 12b 絶縁領域 12x,16a 欠陥パターン 131 ,132 バイアホール 14 配線パターン 15 ピンホール 18 カッター 18a 超音波加振装置 18b 振動伝達部(ホーン) 18c 刃先 21A 基台 21B ピラー 22 ステージ 22a 回動ステージ 22b Yステージ 22c Xステージ 22d X,Y,Z駆動装置 23 基板 24 回転機構 25,25’ 力検出機構 25a フレーム 25b A/D変換器 26 アーム部 26a アーム 26b,26b’ 上下動機構 26c Z駆動装置 26h 駆動装置 27 顕微鏡 28 制御装置 31 十字バネ 31a〜31d バネ 32,32a〜32d 歪みゲージ 41 カッターステージ 270 画像処理装置

Claims (33)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を保持する保持手段と;前記基板の
    表面上に形成された配線パターンに当接してこれを切削
    するカッターと;前記カッターに対して前記保持手段
    が、前記基板表面に対して平行な方向と垂直な方向に相
    対的に移動するように、前記カッターおよび前記保持手
    段を相互に移動させる駆動手段と;前記カッターに対し
    て超音波振動を供給する励振手段とを備え、前記カッタ
    ーと前記基板とを相対的に移動させ、前記カッターによ
    り基板上の配線パターンを切削することにより、基板上
    に形成された配線パターンの欠陥を修正する基板修正装
    置において:前記カッターの前記基板に対する押圧力を
    検出して前記押圧力を表す出力信号を出力する検出手段
    と;前記出力信号を供給され、前記出力信号に応じて前
    記駆動手段を制御して前記押圧力を制御する制御手段と
    を備えたことを特徴とする基板修正装置。
  2. 【請求項2】 前記検出手段は前記カッターに加わるト
    ルクを検出するトルクセンサよりなることを特徴とする
    請求項1記載の基板修正装置。
  3. 【請求項3】 前記トルクセンサは前記カッターを懸垂
    する十字バネ機構と、前記十字バネ機構を構成するバネ
    の各々に取りつけられてそのひずみを検出する歪みゲー
    ジとよりなることを特徴をする請求項1記載の基板修正
    装置。
  4. 【請求項4】 前記保持手段は基板を保持する主面を有
    し、基板を前記主面に平行で相互に直交する方向に移動
    させる機構と、前記主面に対して垂直な方向に回動させ
    る機構とを備えていることを特徴とする請求項3記載の
    基板修正装置。
  5. 【請求項5】 さらに、前記基板の表面上に形成された
    配線パターンに当接してこれを切削する第2のカッター
    を備え、前記第2のカッターは前記第1のカッターの刃
    先よりも幅の大きい刃先を備えていることを特徴とする
    請求項1記載の基板修正装置。
  6. 【請求項6】 前記第2のカッターの前記基板に対する
    押圧力を検出して前記押圧力を表す第2の出力信号を出
    力する第2の検出手段をさらに備えたことを特徴とする
    請求項5記載の基板修正装置。
  7. 【請求項7】 前記カッターは、第1の幅を有する第1
    の刃先と、前記第1の幅より大きい第2の幅を有する第
    2の刃先と、前記第1および第2の刃先が共通に接続さ
    れたカッターアームと、前記カッターアームを回動さ
    せ、前記第1および第2の刃先の一方が前記基板と選択
    的に当接させる駆動手段とを備えたことを特徴とする請
    求項1記載の基板修正装置。
  8. 【請求項8】 前記励振手段は前記超音波を、前記カッ
    ターが切削方向に振動するように印加し、さらに、基板
    修正装置は前記カッターを前記基板の主面に実質的に平
    行でかつ前記切削方向に直角な方向に振動させる第2の
    励振手段を備えたことを特徴とする請求項1記載の基板
    修正装置。
  9. 【請求項9】 前記第2の励振手段は、前記第1の励振
    手段が前記カッターに誘起する振動の速度よりも遅い速
    度で前記カッターに、前記切削方向に直角な方向の振動
    を誘起することを特徴とする請求項8記載の基板修正装
    置。
  10. 【請求項10】 前記第2の励振手段が前記カッターに
    誘起する振動の速度は、前記配線パターンを切削する際
    における前記カッターと前記基板との相対的な移動速度
    よりも大きいことを特徴とする請求項9記載の基板修正
    装置。
  11. 【請求項11】 前記制御手段は、前記押圧力を表す出
    力信号に基づいて、前記切削したい配線パターンの形状
    を測定する測定手段を備えていることを特徴とする請求
    項1記載の基板修正装置。
  12. 【請求項12】 前記制御手段は、前記前記検出手段の
    バネ定数に基づいて前記押圧力から前記形状を測定する
    ことを特徴とする請求項11記載の基板修正装置。
  13. 【請求項13】 前記制御手段は、前記駆動手段を前記
    基板の主面に垂直な方向に駆動して前記押圧力を制御す
    る押圧力制御手段を含み、前記押圧力制御手段は前記カ
    ッターと前記基板との当接を検出する接触検出手段と、
    前記接触検出手段が前記カッターと基板との接触を検出
    した場合に、所定の目標押圧力に対応した前記駆動手段
    の目標駆動量を求める目標設定手段と、前記駆動量が前
    記目標駆動量に達した場合に前記駆動手段の駆動を停止
    させる停止手段とを備えたことを特徴とする請求項1記
    載の基板修正装置。
  14. 【請求項14】 前記制御手段は、前記駆動手段を前記
    基板の主面に垂直な方向に駆動して前記押圧力を制御す
    る押圧力制御手段を含み、前記押圧力制御手段は前記カ
    ッターと前記基板との当接が検出された場合に前記基板
    に対するカッターの駆動速度を減速させる減速判定手段
    を備えたことを特徴をする請求項13記載の基板修正装
    置。
  15. 【請求項15】 基板主面上に形成された配線パターン
    に、超音波振動を加振されたカッターを押圧する押圧工
    程と;前記カッターと前記基板とを、前記基板主面に平
    行な方向に、前記カッターが前記基板に押圧された状態
    で相対的に移動させて、前記配線パターン中に含まれる
    欠陥を切削する切削工程とよりなる基板修正方法におい
    て:前記押圧工程は、前記カッターの、前記基板表面に
    対する押圧力を測定する測定工程を含み;前記切削工程
    は、前記押圧力を所定値に設定する制御工程を含むこと
    を特徴とする基板修正方法。
  16. 【請求項16】 前記押圧工程は、前記押圧力の測定結
    果にもとづいて前記カッターと基板との当接を検出する
    当接判定工程を含み、前記制御工程は前記当接工程で当
    接が検出された場合に前記押圧力を前記所定値に設定す
    ることを特徴とする請求項15記載の基板修正方法。
  17. 【請求項17】 前記切削工程は、前記基板を基板主面
    に対して実質的に垂直な仮想軸の回りで回動させる工程
    を含み、前記押圧工程は前記カッターを前記仮想軸から
    外れた位置で前記基板に押圧する工程を含み、前記切削
    工程は前記カッターが前記基板を前記仮想軸から外れた
    位置で押圧している状態で実行されることを特徴とする
    請求項16記載の基板修正方法。
  18. 【請求項18】 前記押圧工程は、前記カッターを担持
    するステージを前記基板の主面に向かって近づける工程
    と、前記カッターと前記基板との当接を検出する当接判
    定工程と、前記基板とカッターとの当接が検出された場
    合に前記ステージの、前記基板表面に垂直な方向への位
    置座標を求める工程と、前記位置座標と前記カッターの
    バネ定数とにもとづいて、前記カッターと前記基板との
    間に所望の押圧力が得られるステージの目標位置座標を
    求める工程と、前記目標位置座標にステージを移動させ
    る工程とを含むことを特徴とする請求項15記載の基板
    修正方法。
  19. 【請求項19】 前記押圧工程は、前記カッターを担持
    するステージを前記基板の主面に向かって所定の速度で
    近づける工程と、前記カッターと前記基板との当接を検
    出する当接判定工程と、前記基板とカッターとの当接が
    検出された場合に前記ステージの前記基板表面に対する
    速度を前記所定の速度から減速する工程を含むことを特
    徴とする請求項18記載の基板修正方法。
  20. 【請求項20】 前記押圧工程は、前記カッターを担持
    するステージを前記基板の主面に向かって近づける工程
    と、前記カッターと前記基板との当接を検出する当接判
    定工程と、前記基板とカッターとの当接が検出された場
    合に前記ステージの、前記基板表面に垂直な方向への位
    置座標を求める工程とを含み、前記切削工程は切削後に
    おける前記ステージの前記基板表面に垂直な方向への位
    置座標を求める工程と、前記切削後の位置座標から切削
    量を求める工程とを含み、前記切削量が所定値に達する
    まで前記切削工程を繰り返すことを特徴とする請求項1
    5記載の基板修正方法。
  21. 【請求項21】 前記切削工程は、前記カッターと前記
    基板とを、前記基板主面に平行な方向に、前記カッター
    が前記基板に押圧された状態で相対的に移動させる際
    に、前記カッターの押圧力の分布を測定し、前記押圧力
    の分布から前記配線パターンの形状を求める工程を含む
    ことを特徴とする請求項15記載の基板修正方法。
  22. 【請求項22】 前記押圧力の分布は最大押圧力の分布
    であることを特徴とする請求項21記載の基板修正方
    法。
  23. 【請求項23】 前記押圧力の分布の最大値が所定の押
    圧力以下になるまで前記切削工程を繰り返すことを特徴
    とする請求項21記載の基板修正方法。
  24. 【請求項24】 前記切削工程において、前記カッター
    と前記基板とを、前記基板主面に平行な方向に、前記カ
    ッターが前記基板に押圧された状態で相対的に移動させ
    る度に、前記押圧力の分布が所定の押圧力を越える範囲
    を検出し、検出された範囲で切削工程を繰り返すことを
    特徴とする請求項23記載の基板修正方法。
  25. 【請求項25】 さらに、超音波振動を印加しない状態
    で前記カッターを前記基板に当接させ、基板主面に沿っ
    て移動させながらカッターに加わる押圧力の分布を測定
    することにより、基板主面上に形成されている配線パタ
    ーンの形状を測定する工程を含むことを特徴とする請求
    項15記載の基板修正方法。
  26. 【請求項26】 前記切削工程は、配線パターンを第1
    の押圧力で切削する第1の工程と、前記第1の工程で形
    成されたバリを前記第1の押圧力よりも小さい第2の押
    圧力で切削する工程よりなることを特徴とする請求項1
    5記載の基板修正方法。
  27. 【請求項27】 前記第2の工程では、カッターを基板
    に対して、前記第1の工程におけるよりも高速で移動さ
    せることを特徴とする請求項26記載の基板修正方法。
  28. 【請求項28】 更に、前記カッターを前記基板の主面
    方向に平行に移動させて切削する際に一行程で配線パタ
    ーンが切削される幅と、所望の切削幅とに基づいて、前
    記所望の切削幅を達成するのに必要な切削工程の回数
    と、一行程毎に前記カッターを前記幅方向に移動させる
    移動量とを求める工程とを含み、前記切削工程は前記カ
    ッターを前記基板に対して相対的に移動させる工程を、
    一行程づつくりかえし実行することによりなされ、各行
    程は、前記カッターを前記幅方向に前記移動量だけ移動
    させて実行されることを特徴とする請求項15記載の基
    板修正方法。
  29. 【請求項29】 前記切削行程は、前記カッターを前記
    幅方向に振動させながら実行されることを特徴とする請
    求項15記載の基板修正方法。
  30. 【請求項30】 前記カッターは前記幅方向に、前記超
    音波振動の速度よりは小さいが前記カッターを前記基板
    に対して相対的に移動させる際の移動速度よりは大きい
    速度で振動されることを特徴とする請求項29記載の基
    板修正方法。
  31. 【請求項31】 前記カッターは前記幅方向に、配線パ
    ターンを切削したい切削したい幅に対応した振幅で振動
    されることを特徴とする請求項29記載の基板修正方
    法。
  32. 【請求項32】 更に、所定形状を有するパターンをカ
    ッターで切削する試験切削工程と、前記試験切削工程で
    切削されたパターンを検査する検査工程と、前記検査工
    程の結果にもとづいて切削条件を調整する工程とを含む
    ことを特徴とする請求項15記載の基板修正方法。
  33. 【請求項33】 前記切削条件の調整は、超音波振動の
    エネルギの調整、押圧力の調整、カッターの基板に対す
    る相対的な移動速度の調整の順序で実行されることを特
    徴とする請求項32記載の基板修正方法。
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